JPH04317352A - ウェーハ表面異物検査装置の校正用ウェーハの作成方法 - Google Patents

ウェーハ表面異物検査装置の校正用ウェーハの作成方法

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JPH04317352A
JPH04317352A JP3084892A JP8489291A JPH04317352A JP H04317352 A JPH04317352 A JP H04317352A JP 3084892 A JP3084892 A JP 3084892A JP 8489291 A JP8489291 A JP 8489291A JP H04317352 A JPH04317352 A JP H04317352A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
standard
particle solution
calibration
particles
Prior art date
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Pending
Application number
JP3084892A
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English (en)
Inventor
Atsushi Hirai
敦 平井
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NEC Yamagata Ltd
Original Assignee
NEC Yamagata Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はウェーハ表面異物検査装
置の校正用ウェーハの作成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のウェーハ表面異物検査装置の校正
用ウェーハは、標準粒子と、アルコールと、噴霧器とウ
ェーハを用いて作成されている。以下その作成方法につ
いて説明する。
【0003】図2に示すように、支持台4に立て掛けた
ウェーハ3上に、標準粒子をアルコールで10〜30万
倍に希釈した標準粒子溶液2を噴霧器5を用いて吹き付
け、ウェーハ3に標準粒子を付着させる。標準粒子とし
ては、粒径として0.1μm〜10μmのものが用いら
れる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のウェー
ハ表面異物検査装置の校正用ウェーハの作成方法では、
噴霧器で標準粒子を付着させている為、ウェーハ全面に
標準粒子が付着してしまい、ウェーハ表面異物検査装置
で一枚の校正用ウェーハを定期的に測定する場合、異物
カウント数の増加が認められても、増加の原因がウェー
ハ表面異物検査装置の異常によるものなのか、校正用ウ
ェーハが汚れた為に標準粒子以外の異物が付着した為な
のかを判断するのが困難であった。
【0005】また、付着させる標準粒子数を調節するの
が困難であり、更に、1枚当り100個以下程度の少数
の標準粒子を付着させることが困難であるという問題点
があった。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のウェーハ表面異
物検査装置の校正用ウェーハの作成方法は、標準粒子溶
液をピペットでウェーハ上に滴下するものである。
【0007】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明する
。図1は本発明の一実施例を説明するためのウェーハ及
びピペットの斜視図である。
【0008】まずビーカー等を用い標準粒子をアルコー
ルで約10〜30万倍に希釈した標準粒子溶液2を作り
、この標準粒子溶液2をピレット1に充填し、ウェーハ
3に滴下する。滴下された標準粒子溶液2はウェーハ3
上に円状に広がる。希釈液であるアルコールは数秒程度
で蒸発するため、標準粒子は標準粒子溶液2を滴下した
部分に円状に分布して付着する。
【0009】標準粒子溶液2の滴下量により、付着させ
る標準粒子数を調節することができるため、100個以
下の標準粒子の付着も容易である。
【0010】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ピペット
によりウェーハの一部に標準粒子を付着させるため、ウ
ェーハ表面異物検査装置で校正用ウェーハを定期的に測
定する時に、異物カウント数の増加が認められても、付
着している異物の分布により、校正用ウェーハが汚れた
のか、ウェーハ表面異物検査装置の異常かどうかが容易
に判断できるという効果を有する。また、標準粒子溶液
をピペットで滴下するので、100個以下程度の小数の
標準粒子を容易に付着させることができるという効果も
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を説明するためのピペットと
ウェーハの斜視図。
【図2】従来の校正用ウェーハの作成方法を説明するた
めのウェーハと噴霧器の斜視図。
【符号の説明】
1    ピペット 2    標準粒子溶液 3    ウェーハ 4    支持台 5    噴霧器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  アルコールで希釈した標準粒子溶液を
    ピペットを用いてウェーハ上に滴下することを特徴とす
    るウェーハ表面異物検査装置の校正用ウェーハの作成方
    法。
JP3084892A 1991-04-17 1991-04-17 ウェーハ表面異物検査装置の校正用ウェーハの作成方法 Pending JPH04317352A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11209107B2 (en) 2017-07-28 2021-12-28 ASC Engineered Solutions, LLC Pre-assembled coupling assembly with cap

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