JPH04317359A - 集積回路用パッケージ - Google Patents
集積回路用パッケージInfo
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- JPH04317359A JPH04317359A JP3083942A JP8394291A JPH04317359A JP H04317359 A JPH04317359 A JP H04317359A JP 3083942 A JP3083942 A JP 3083942A JP 8394291 A JP8394291 A JP 8394291A JP H04317359 A JPH04317359 A JP H04317359A
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- JP
- Japan
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- conductor
- integrated circuit
- insulating substrate
- layer
- insulating
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/60—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
- H10W70/62—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers characterised by their interconnections
- H10W70/63—Vias, e.g. via plugs
- H10W70/635—Through-vias
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W44/00—Electrical arrangements for controlling or matching impedance
- H10W44/20—Electrical arrangements for controlling or matching impedance at high-frequency [HF] or radio frequency [RF]
- H10W44/203—Electrical connections
- H10W44/209—Vertical interconnections, e.g. vias
- H10W44/212—Coaxial feed-throughs in substrates
-
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/072—Connecting or disconnecting of bump connectors
- H10W72/07251—Connecting or disconnecting of bump connectors characterised by changes in properties of the bump connectors during connecting
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/20—Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
Landscapes
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、搭載される集積回路の
信号を導体柱によって取り出す集積回路用パッケージに
関する。
信号を導体柱によって取り出す集積回路用パッケージに
関する。
【0002】
【従来の技術】近年、集積回路用パッケージの絶縁基板
は、搭載される集積回路の高速高密度化および小型化な
どにより、各導体柱のピッチを狭くする要求がある。
は、搭載される集積回路の高速高密度化および小型化な
どにより、各導体柱のピッチを狭くする要求がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】そして、導体柱のピッ
チを狭くすると、隣あう導体柱間でクロストークノイズ
が発生するため、導体柱の高密度化が困難であった。ま
た、各導体柱のインピーダンスがばらついてしまうため
、信号の反射ノイズが発生し、信号の伝送特性が悪くな
る問題点を有していた。
チを狭くすると、隣あう導体柱間でクロストークノイズ
が発生するため、導体柱の高密度化が困難であった。ま
た、各導体柱のインピーダンスがばらついてしまうため
、信号の反射ノイズが発生し、信号の伝送特性が悪くな
る問題点を有していた。
【0004】
【発明の目的】本発明は、上記の事情に鑑みてなされた
もので、その目的は、導体柱を高密度化し、かつ導体柱
間のクロストークノイズを低減でき、インピーダンスの
整合が可能な集積回路用パッケージの提供にある。
もので、その目的は、導体柱を高密度化し、かつ導体柱
間のクロストークノイズを低減でき、インピーダンスの
整合が可能な集積回路用パッケージの提供にある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の集積回路用パッ
ケージは、次の技術的手段を採用する。集積回路用パッ
ケージは、薄い板状の絶縁基板と、この絶縁基板を貫通
する多数の導体柱とを備える。そして、前記絶縁基板の
導体柱が配される少なくとも一部の穴は、穴の内周にメ
タライズ層を備えるとともに、このメタライズ層の内周
には、メタライズ層と導体柱とを絶縁する絶縁層を備え
る。ここで、絶縁基板は単層でも多層でも良く、内部に
導体層を含んでいても良い。
ケージは、次の技術的手段を採用する。集積回路用パッ
ケージは、薄い板状の絶縁基板と、この絶縁基板を貫通
する多数の導体柱とを備える。そして、前記絶縁基板の
導体柱が配される少なくとも一部の穴は、穴の内周にメ
タライズ層を備えるとともに、このメタライズ層の内周
には、メタライズ層と導体柱とを絶縁する絶縁層を備え
る。ここで、絶縁基板は単層でも多層でも良く、内部に
導体層を含んでいても良い。
【0006】
【発明の作用】上記構成よりなる集積回路用パッケージ
は、導体柱の周囲に絶縁層を介してメタライズ層を備え
る。この結果、導体柱がグランド用のメタライズ層によ
って完全にシールドされる。
は、導体柱の周囲に絶縁層を介してメタライズ層を備え
る。この結果、導体柱がグランド用のメタライズ層によ
って完全にシールドされる。
【0007】
【発明の効果】本発明の集積回路用パッケージは、上記
の作用で示したように、導体柱がメタライズ層によって
完全にシールドされた同軸構造となるため、導体柱の間
隔を狭めて導体柱を高密度化しても、従来技術に比較し
てクロストークノイズを低減することができる。さらに
、各導体柱の特性インピーダンスの整合が図れるため、
信号の反射ノイズが低減でき、信号の伝達特性を良くで
きる。また、導体柱が信号ではなく、電源として用いら
れていてもシールド効果がある。
の作用で示したように、導体柱がメタライズ層によって
完全にシールドされた同軸構造となるため、導体柱の間
隔を狭めて導体柱を高密度化しても、従来技術に比較し
てクロストークノイズを低減することができる。さらに
、各導体柱の特性インピーダンスの整合が図れるため、
信号の反射ノイズが低減でき、信号の伝達特性を良くで
きる。また、導体柱が信号ではなく、電源として用いら
れていてもシールド効果がある。
【0008】
【実施例】次に、本発明の集積回路用パッケージを、図
に示す一実施例に基づき説明する。
に示す一実施例に基づき説明する。
【0009】〔実施例の構成〕図1は集積回路用パッケ
ージの要部断面図を示し、図2は集積回路用パッケージ
の概略断面図を示す。集積回路用パッケージ1は、セラ
ミック製の絶縁基板2と、この絶縁基板2を貫通するよ
う多数設けられた導体柱3とを備える。集積回路用パッ
ケージ1の一方の面には、信号引回し用の配線がポリイ
ミド層4を介して2、3層形成されている。そして、こ
のポリイミド層4の表面に集積回路であるフリップチッ
プ5が搭載される。なお、フリップチップ5が搭載され
た後は、絶縁基板2の周縁に封止キャップ(図示しない
)を固着し、フリップチップ5を封止するものである。
ージの要部断面図を示し、図2は集積回路用パッケージ
の概略断面図を示す。集積回路用パッケージ1は、セラ
ミック製の絶縁基板2と、この絶縁基板2を貫通するよ
う多数設けられた導体柱3とを備える。集積回路用パッ
ケージ1の一方の面には、信号引回し用の配線がポリイ
ミド層4を介して2、3層形成されている。そして、こ
のポリイミド層4の表面に集積回路であるフリップチッ
プ5が搭載される。なお、フリップチップ5が搭載され
た後は、絶縁基板2の周縁に封止キャップ(図示しない
)を固着し、フリップチップ5を封止するものである。
【0010】絶縁基板2と導体柱3について、説明する
。絶縁基板2は、AlN、Al2 O3 、ムライト、
ガラスセラミック、結晶化ガラス、Si3 N4 等の
セラミック材料で、厚さが0.5〜2mm程に設けられ
ている。導体柱3の配される絶縁基板2の穴2aの内周
には、シールド用のメタライズ層6と、このメタライズ
層6と導体柱3とを絶縁する絶縁層7とが設けられてい
る。そして、各メタライズ層6は、絶縁基板2のバンプ
8が形成される側の面に形成された導電層9、また絶縁
基板2の内部に形成された導電層(図示せず)によって
電気的に接続されている。なお、この導電層9は図示し
ない部分でグランド接続される。また、導電層9の表面
には、絶縁被膜10が形成されている。この絶縁被膜1
0は、例えばポリイミド樹脂で、導体柱3の端部が露出
するように設けられている。そして、各導体柱3の端部
には、マザーボードの電極に電気的に接続されるバンプ
8が形成されている。
。絶縁基板2は、AlN、Al2 O3 、ムライト、
ガラスセラミック、結晶化ガラス、Si3 N4 等の
セラミック材料で、厚さが0.5〜2mm程に設けられ
ている。導体柱3の配される絶縁基板2の穴2aの内周
には、シールド用のメタライズ層6と、このメタライズ
層6と導体柱3とを絶縁する絶縁層7とが設けられてい
る。そして、各メタライズ層6は、絶縁基板2のバンプ
8が形成される側の面に形成された導電層9、また絶縁
基板2の内部に形成された導電層(図示せず)によって
電気的に接続されている。なお、この導電層9は図示し
ない部分でグランド接続される。また、導電層9の表面
には、絶縁被膜10が形成されている。この絶縁被膜1
0は、例えばポリイミド樹脂で、導体柱3の端部が露出
するように設けられている。そして、各導体柱3の端部
には、マザーボードの電極に電気的に接続されるバンプ
8が形成されている。
【0011】次に、絶縁基板2の製造方法を、簡単に説
明する。まず、AlN、Al2 O3 、ムライト等に
よって薄板状のグリーンシートを形成し、炉によって焼
結して厚さが0.5〜2mm程のセラミック焼結体(絶
縁基板2)を得る。次に、焼結体に導体柱3が配される
貫通した穴2a(内径0.1 〜0.2 mm程)を、
レーザ加工技術等によって多数形成する。なお、導体柱
3のピッチは、0.25〜0.40mmほどと大変間隔
が狭められている。 続いて、各穴2aの内周にスパッタ技術、メッキ技術あ
るいは蒸着技術を用いて、Al、Cuなどによって厚さ
10μm以下(5μm程度)のメタライズ層6を形成す
る(なお、ガラスセラミック、結晶化ガラス等の低温焼
結セラミックを使用するときは、融点の低いAu、Ag
、Cu等を使用する)。そして、形成されたメタライズ
層6の内周に、ポリイミド、ガラスペースト、Si02
CVD膜などを用いて、厚さ10〜20μm程の絶縁
層7を形成する。そして、絶縁層7の内部に、スパッタ
リングとメッキ技術とにより、あるいは溶融メタル注入
技術によって、Al、Cu、Agなどを充填し、導体柱
3を形成する。
明する。まず、AlN、Al2 O3 、ムライト等に
よって薄板状のグリーンシートを形成し、炉によって焼
結して厚さが0.5〜2mm程のセラミック焼結体(絶
縁基板2)を得る。次に、焼結体に導体柱3が配される
貫通した穴2a(内径0.1 〜0.2 mm程)を、
レーザ加工技術等によって多数形成する。なお、導体柱
3のピッチは、0.25〜0.40mmほどと大変間隔
が狭められている。 続いて、各穴2aの内周にスパッタ技術、メッキ技術あ
るいは蒸着技術を用いて、Al、Cuなどによって厚さ
10μm以下(5μm程度)のメタライズ層6を形成す
る(なお、ガラスセラミック、結晶化ガラス等の低温焼
結セラミックを使用するときは、融点の低いAu、Ag
、Cu等を使用する)。そして、形成されたメタライズ
層6の内周に、ポリイミド、ガラスペースト、Si02
CVD膜などを用いて、厚さ10〜20μm程の絶縁
層7を形成する。そして、絶縁層7の内部に、スパッタ
リングとメッキ技術とにより、あるいは溶融メタル注入
技術によって、Al、Cu、Agなどを充填し、導体柱
3を形成する。
【0012】その後、周知の技術によって絶縁基板2の
一方の面に導電層9を形成するとともに、絶縁被膜10
を形成し、各導体柱3の端部にバンプ8を形成する。
一方の面に導電層9を形成するとともに、絶縁被膜10
を形成し、各導体柱3の端部にバンプ8を形成する。
【0013】次に、導体柱のピッチと、クロストークノ
イズとの関係を、図3のグラフに示す。基板厚さは1.
2mmである。図中の実線Aは本実施例を示し、実線B
は何等シールド対策を施していない、絶縁基板中の導体
柱のピッチを狭めただけの従来技術を示す。なお、この
測定は、TRD法によって直接測定したものである。
イズとの関係を、図3のグラフに示す。基板厚さは1.
2mmである。図中の実線Aは本実施例を示し、実線B
は何等シールド対策を施していない、絶縁基板中の導体
柱のピッチを狭めただけの従来技術を示す。なお、この
測定は、TRD法によって直接測定したものである。
【0014】〔実施例の効果〕図3のグラフに示される
ように、本実施例の集積回路用パッケージ1は、導体柱
3のピッチを狭めた場合、従来技術に比較して大幅にク
ロストークノイズが低減できる。
ように、本実施例の集積回路用パッケージ1は、導体柱
3のピッチを狭めた場合、従来技術に比較して大幅にク
ロストークノイズが低減できる。
【0015】また、導体柱3は、絶縁層7を介したメタ
ライズ層6によって覆われ、導体柱3がメタライズ層6
によって完全にシールドされた同軸構造となる。このた
め、特性インピーダンスは、周知の計算式によって、あ
るいはシュミレーションによって求められる。つまり、
導体柱3の特性インピーダンスの整合を図ることができ
るため、信号の反射ノイズが低減でき、信号の伝達特性
に優れた集積回路用パッケージ1を得ることができる。
ライズ層6によって覆われ、導体柱3がメタライズ層6
によって完全にシールドされた同軸構造となる。このた
め、特性インピーダンスは、周知の計算式によって、あ
るいはシュミレーションによって求められる。つまり、
導体柱3の特性インピーダンスの整合を図ることができ
るため、信号の反射ノイズが低減でき、信号の伝達特性
に優れた集積回路用パッケージ1を得ることができる。
【0016】なお、導体柱3のピッチを狭めても、シー
ルド効果を保つことができるため、導体柱3を高密度化
することができ、結果的に集積回路用パッケージ1を軽
量、小型化できる。
ルド効果を保つことができるため、導体柱3を高密度化
することができ、結果的に集積回路用パッケージ1を軽
量、小型化できる。
【0017】
【変形例】本実施例では、メタル層の内周に絶縁層を形
成して、その内側に導体柱を形成した例を示したが、例
えば導体柱をピン状に別体で形成し、その導体柱の周囲
に絶縁層をコートし、この絶縁層をコートした導体柱を
、メタライズ層が形成された絶縁基板の穴へ挿入し、キ
ュアーもしくは焼付けによって導体柱や絶縁層を設けて
も良い。
成して、その内側に導体柱を形成した例を示したが、例
えば導体柱をピン状に別体で形成し、その導体柱の周囲
に絶縁層をコートし、この絶縁層をコートした導体柱を
、メタライズ層が形成された絶縁基板の穴へ挿入し、キ
ュアーもしくは焼付けによって導体柱や絶縁層を設けて
も良い。
【0018】絶縁基板の穴開けをレーザ技術に行う例を
示したが、セラミック焼結前にドリル加工、パンチング
加工により行っても良い。
示したが、セラミック焼結前にドリル加工、パンチング
加工により行っても良い。
【0019】絶縁基板にバンプを設けた例を示したが、
ピンを接合したPGAパッケージに本発明を適用しても
良い。
ピンを接合したPGAパッケージに本発明を適用しても
良い。
【0020】搭載される集積回路の一例としてフリップ
チップを例に示したが、TAB、ワイヤボンディングで
結線される集積回路を搭載する集積回路用パッケージに
本発明を適用しても良い。
チップを例に示したが、TAB、ワイヤボンディングで
結線される集積回路を搭載する集積回路用パッケージに
本発明を適用しても良い。
【図面の簡単な説明】
【図1】集積回路用パッケージの要部断面図である。
【図2】集積回路用パッケージの概略断面図である。
【図3】導体柱とクロストークノイズとの関係を示した
グラフである。
グラフである。
1 集積回路用パッケージ
2 絶縁基板
2a 導体柱が配される穴
3 導体柱
6 メタライズ層
7 絶縁層
Claims (1)
- 【請求項1】 薄い板状の絶縁基板と、この絶縁基板
を貫通する多数の導体柱とを備える集積回路用パッケー
ジにおいて、前記絶縁基板の導体柱が配される少なくと
も一部の穴は、穴の内周にメタライズ層を備えるととも
に、このメタライズ層の内周には、メタライズ層と導体
柱とを絶縁する絶縁層を備えることを特徴とする集積回
路用パッケージ。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3083942A JP3004071B2 (ja) | 1991-04-16 | 1991-04-16 | 集積回路用パッケージ |
| US07/868,568 US5286926A (en) | 1991-04-16 | 1992-04-15 | Integrated circuit package and process for producing same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3083942A JP3004071B2 (ja) | 1991-04-16 | 1991-04-16 | 集積回路用パッケージ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04317359A true JPH04317359A (ja) | 1992-11-09 |
| JP3004071B2 JP3004071B2 (ja) | 2000-01-31 |
Family
ID=13816642
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3083942A Expired - Fee Related JP3004071B2 (ja) | 1991-04-16 | 1991-04-16 | 集積回路用パッケージ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5286926A (ja) |
| JP (1) | JP3004071B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2002043468A (ja) * | 2000-07-27 | 2002-02-08 | Fujitsu Ltd | 表裏導通基板及びその製造方法 |
| JP2007027451A (ja) * | 2005-07-19 | 2007-02-01 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 回路基板及びその製造方法 |
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Families Citing this family (59)
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