JPH0431747A - 紫外線吸収検出器 - Google Patents
紫外線吸収検出器Info
- Publication number
- JPH0431747A JPH0431747A JP13529590A JP13529590A JPH0431747A JP H0431747 A JPH0431747 A JP H0431747A JP 13529590 A JP13529590 A JP 13529590A JP 13529590 A JP13529590 A JP 13529590A JP H0431747 A JPH0431747 A JP H0431747A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- filter
- concave mirror
- sample
- zero
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- Pending
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、高速液体クロマトグラフ等の検出器として使
用されフローセル内を流れる試料に紫外線を照射し該紫
外線の減少量から前記試料中の被測定成分を検出する紫
外線吸収検出器に関する。
用されフローセル内を流れる試料に紫外線を照射し該紫
外線の減少量から前記試料中の被測定成分を検出する紫
外線吸収検出器に関する。
〈従来の技術〉
第３図は、紫外線吸収検出器の一般的な構成説明図であ
り、図中、１は光源、２，４．６は凹面鏡、３は入射ス
リット、５は回折格子、７はハーフミラ−１８，１１は
出射スリット、９はフローセル、１０はサンプル光セン
サー、１２は比較光センサーである。このような構成か
らなる従来の紫外線吸収検出器において、光源１から照
射された光は凹面鏡２で反射されて入射スリット３に集
光される。また、入射スリット３を通った光は、凹面鏡
４で反射されて平行光となり回折格子５によって種々の
波長の光に分光される。このようにして分光された凹面
鏡６に入射した平行光のうち特定波長の光は、凹面鏡６
の焦点付近に配設されている出射スリット８とフローセ
ル９を通り、サンプル光センサー１０で検出される。ま
た、凹面鏡６に入射した平行光の一部は、ハーフミラ−
７で反射されてのち出射スリット１１を通り、比較光セ
ンサー１２で検出される。
り、図中、１は光源、２，４．６は凹面鏡、３は入射ス
リット、５は回折格子、７はハーフミラ−１８，１１は
出射スリット、９はフローセル、１０はサンプル光セン
サー、１２は比較光センサーである。このような構成か
らなる従来の紫外線吸収検出器において、光源１から照
射された光は凹面鏡２で反射されて入射スリット３に集
光される。また、入射スリット３を通った光は、凹面鏡
４で反射されて平行光となり回折格子５によって種々の
波長の光に分光される。このようにして分光された凹面
鏡６に入射した平行光のうち特定波長の光は、凹面鏡６
の焦点付近に配設されている出射スリット８とフローセ
ル９を通り、サンプル光センサー１０で検出される。ま
た、凹面鏡６に入射した平行光の一部は、ハーフミラ−
７で反射されてのち出射スリット１１を通り、比較光セ
ンサー１２で検出される。
この状態で、回折格子用のモータ１３を駆動させて回折
格子５の向きを変化させると、所望の波長を有する光を
サンプル光や比較光として取り出すことができるように
なる。
格子５の向きを変化させると、所望の波長を有する光を
サンプル光や比較光として取り出すことができるように
なる。
然るに、上述のようにして所望の光を正確に正確に取出
すためには、波長のゼロ位１（いわゆるゼロ次光の位置
）を正確に決定しておく必要がある。このため、従来は
、ゼロ次光の最大点をサンプル光側で見つけ出してゼロ
位置と設定していた。
すためには、波長のゼロ位１（いわゆるゼロ次光の位置
）を正確に決定しておく必要がある。このため、従来は
、ゼロ次光の最大点をサンプル光側で見つけ出してゼロ
位置と設定していた。
しかし、ゼロ次光の光量が大きく、その、ｔまではゼロ
次光を正確に計測できない欠点があった。そこで、従来
は、このようなゼロ次光の光量を計測可能なところまで
減少できるフィルムを使用していた。
次光を正確に計測できない欠点があった。そこで、従来
は、このようなゼロ次光の光量を計測可能なところまで
減少できるフィルムを使用していた。
即ち、第３図は第３図のフローセル部分の詳細説明図で
あり、図中、第３図と同一記号は同一意味を持たせて使
用しここでの重複説明は省略する。
あり、図中、第３図と同一記号は同一意味を持たせて使
用しここでの重複説明は省略する。
また、１４は試料が流れるフローセル９の側面に例えば
両面テープなどで張付けられているゼロ校正用のフィル
ムである。第３図において、凹面鏡６で反射された平行
光のうち特定波長の光は、その焦点付近に配設されてい
る出射スリット８とフローセル９を通り、サンプル光セ
ンサー１０で検出されるようになっており、ゼロ次光の
光量が大きくそのままではゼロ次光を正確に計測できな
いため、ゼロ次光の光量を計測可能なところまで減少で
きるフィルム１４を使用していた。
両面テープなどで張付けられているゼロ校正用のフィル
ムである。第３図において、凹面鏡６で反射された平行
光のうち特定波長の光は、その焦点付近に配設されてい
る出射スリット８とフローセル９を通り、サンプル光セ
ンサー１０で検出されるようになっており、ゼロ次光の
光量が大きくそのままではゼロ次光を正確に計測できな
いため、ゼロ次光の光量を計測可能なところまで減少で
きるフィルム１４を使用していた。
〈発明が解決しようとする問題点〉
然しながら、上記従来例においては、ゼロ校正用のフィ
ルムが必要であって次のような欠点を有していた。即ち
、■ゼロ校正用フィルムを常時保管しておく必要がある
。■紫外線吸収検出器のゼロ校正時にフローセルの取外
しをしなければならない。■ゼロ校正用フィルムが光学
系の中で剥がれてしまうことがある。
ルムが必要であって次のような欠点を有していた。即ち
、■ゼロ校正用フィルムを常時保管しておく必要がある
。■紫外線吸収検出器のゼロ校正時にフローセルの取外
しをしなければならない。■ゼロ校正用フィルムが光学
系の中で剥がれてしまうことがある。
本発明は、かかる状況に鑑みてなされものであり、その
課題は、紫外線吸収検出器のゼロ校正時にフローセルを
わざわざ取外したりする必要のない紫外線吸収検出器を
提供することにある。
課題は、紫外線吸収検出器のゼロ校正時にフローセルを
わざわざ取外したりする必要のない紫外線吸収検出器を
提供することにある。
く課題を解決するための手段〉
本発明は、フローセル内を流れる試料に紫外線を照射し
該紫外線の減少量から前記試料中の被測定成分を検出す
る紫外線吸収検出器において、光源から照射された光が
第１凹面鏡で反射されて入射スリットに集光され、該入
射スリットを通った光が第３凹面鏡を通って平行光とな
り回折格子によって種々の波長の光に分光されて後、′
第３凹面鏡に入射した平行光のうち特定波長の光を、前
記第３凹面鏡の焦点付近に配設されている出射スリット
と前記フローセルを通して、サンプル光センサーで検出
するように構成すると共に、ゼロ校正用のフィルタと、
２次光カットフィルタと、これらフィルタを回転させる
フィルタ用モータを前記フローセルに紫外線を照射する
光学系内に設け、ゼロ校正用フィルタが前記第１凹面鏡
と入射スリットの間に配設されるようにしたことにある
。
該紫外線の減少量から前記試料中の被測定成分を検出す
る紫外線吸収検出器において、光源から照射された光が
第１凹面鏡で反射されて入射スリットに集光され、該入
射スリットを通った光が第３凹面鏡を通って平行光とな
り回折格子によって種々の波長の光に分光されて後、′
第３凹面鏡に入射した平行光のうち特定波長の光を、前
記第３凹面鏡の焦点付近に配設されている出射スリット
と前記フローセルを通して、サンプル光センサーで検出
するように構成すると共に、ゼロ校正用のフィルタと、
２次光カットフィルタと、これらフィルタを回転させる
フィルタ用モータを前記フローセルに紫外線を照射する
光学系内に設け、ゼロ校正用フィルタが前記第１凹面鏡
と入射スリットの間に配設されるようにしたことにある
。
〈実施例〉
以下、本発明について図を用いて詳細に説明する。第１
図は本発明実施例の要部構成説明図であり、図中、第３
図と同一記号は同一意味を持たせて使用しここでの重複
説明は省略する。また、１５ａはゼロ校正用のフィルタ
、１５ｂは２次光カットフィルタ、１６はフィルタ１５
ａ、１５ｂを回転させるフィルタ用モータである。
図は本発明実施例の要部構成説明図であり、図中、第３
図と同一記号は同一意味を持たせて使用しここでの重複
説明は省略する。また、１５ａはゼロ校正用のフィルタ
、１５ｂは２次光カットフィルタ、１６はフィルタ１５
ａ、１５ｂを回転させるフィルタ用モータである。
このような構成からなる本発明の実施例において、最初
、フィルタ用モータ１６が駆動してゼロ校正用フィルタ
１５ａが凹面鏡４と入射スリット３の間に配設される。
、フィルタ用モータ１６が駆動してゼロ校正用フィルタ
１５ａが凹面鏡４と入射スリット３の間に配設される。
この状態で、光源１から照射された光は凹面鏡２で反射
されて後、ゼロ校正用フィルタ１５ａによって減衰させ
られて入射スリット３に集光される。また、入射スリッ
ト３を通った光は、凹面鏡４を通って平行光となり回折
格子５によって種々の波長の光に分光される。このよう
にして分光された凹面鏡６に入射した平行光のうち特定
波長の光は、その焦点付近に配設されている出射スリッ
ト８とフローセル９を通り、サンプル光センサー１０で
検出される。また、凹面鏡６に入射した平行光の一部は
、ハーフミラ−７で反射されてのち出射スリット１１を
通り、比較光センサー１２で検出される。このようにし
てサンプル光センサー１０で検出された検出信号に基い
てゼロ校正が行われる。
されて後、ゼロ校正用フィルタ１５ａによって減衰させ
られて入射スリット３に集光される。また、入射スリッ
ト３を通った光は、凹面鏡４を通って平行光となり回折
格子５によって種々の波長の光に分光される。このよう
にして分光された凹面鏡６に入射した平行光のうち特定
波長の光は、その焦点付近に配設されている出射スリッ
ト８とフローセル９を通り、サンプル光センサー１０で
検出される。また、凹面鏡６に入射した平行光の一部は
、ハーフミラ−７で反射されてのち出射スリット１１を
通り、比較光センサー１２で検出される。このようにし
てサンプル光センサー１０で検出された検出信号に基い
てゼロ校正が行われる。
次に、再びフィルタ用モータ１６が駆動し測定波長に応
じて２次光カットフィルタ１５ｂを凹面ｆｉ４と入射ス
リット３の間に配設したり、フィルターを一切配設しな
かったりする。このような状態で、光源１から照射され
た光は凹面鏡２で反射されてのち入射スリット３に集光
される。また、入射スリット３を通った光は、凹面鏡４
を通って平行光となり回折格子５によって種々の波長の
光に分光される。このようにして分光された凹面鏡６に
入射した平行光のうち特定波長の光は、その焦点付近に
配設されている出射スリット８とフロセル９を通り、サ
ンプル光センサー１０で検出される。また、凹面鏡６に
入射した平行光の一部は、ハーフミラ−７で反射されて
のち出射スリット１１を通り、比較光センサー１２で検
出される。
じて２次光カットフィルタ１５ｂを凹面ｆｉ４と入射ス
リット３の間に配設したり、フィルターを一切配設しな
かったりする。このような状態で、光源１から照射され
た光は凹面鏡２で反射されてのち入射スリット３に集光
される。また、入射スリット３を通った光は、凹面鏡４
を通って平行光となり回折格子５によって種々の波長の
光に分光される。このようにして分光された凹面鏡６に
入射した平行光のうち特定波長の光は、その焦点付近に
配設されている出射スリット８とフロセル９を通り、サ
ンプル光センサー１０で検出される。また、凹面鏡６に
入射した平行光の一部は、ハーフミラ−７で反射されて
のち出射スリット１１を通り、比較光センサー１２で検
出される。
このようにしてサンプル光センサー１０で検出された検
出信号と比較光センサー１２で検出された検出信号の差
などからフローセル９内を流れる試料に含まれている被
測定成分濃度などが求められる。
出信号と比較光センサー１２で検出された検出信号の差
などからフローセル９内を流れる試料に含まれている被
測定成分濃度などが求められる。
尚、本発明は上述の実施例に限定されることなく種々の
変形が可能であり、例えば次の■や■のようにしても良
いものとする。■ゼロ校正用フィルタ１５ａを配設する
位置を入射スリット３と凹面鏡４の間に限定せず光源１
とサンプル光センサー１０の間のいずれかの位置とする
。■ゼロ校正用フィルタ１５ａを動かすのは必ずしもモ
ータである必要はなくソレノイド等であっても良い。
変形が可能であり、例えば次の■や■のようにしても良
いものとする。■ゼロ校正用フィルタ１５ａを配設する
位置を入射スリット３と凹面鏡４の間に限定せず光源１
とサンプル光センサー１０の間のいずれかの位置とする
。■ゼロ校正用フィルタ１５ａを動かすのは必ずしもモ
ータである必要はなくソレノイド等であっても良い。
〈発明の効果〉
以上詳しく説明したように、本発明は、フローセル内を
流れる試料に紫外線を照射し該紫外線の減少量から前記
試料中の被測定成分を検出する紫外線吸収検出器におい
て、光源から照射された光が第１凹面鏡で反射されて入
射スリットに集光され、該入射スリットを通った光が第
３凹面鏡を通って平行光となり回折格子によって種々の
波長の光に分光されて後、第３凹面鏡に入射した平行光
のうち特定波長の光を、前記第３凹面鏡の焦点付近に配
設されている出射スリットと前記フローセルを通して、
サンプル光センサーで検出するように構成すると共に、
ゼロ校正用のフィルタと、２次光カットフィルタと、こ
れらフィルタを回転させるフィルタ用モータを前記フロ
ーセルに紫外線を照射する光学系内に設け、ゼロ校正用
フィルタが前記第１凹面鏡と入射スリットの間に配設さ
れるように構成した。
流れる試料に紫外線を照射し該紫外線の減少量から前記
試料中の被測定成分を検出する紫外線吸収検出器におい
て、光源から照射された光が第１凹面鏡で反射されて入
射スリットに集光され、該入射スリットを通った光が第
３凹面鏡を通って平行光となり回折格子によって種々の
波長の光に分光されて後、第３凹面鏡に入射した平行光
のうち特定波長の光を、前記第３凹面鏡の焦点付近に配
設されている出射スリットと前記フローセルを通して、
サンプル光センサーで検出するように構成すると共に、
ゼロ校正用のフィルタと、２次光カットフィルタと、こ
れらフィルタを回転させるフィルタ用モータを前記フロ
ーセルに紫外線を照射する光学系内に設け、ゼロ校正用
フィルタが前記第１凹面鏡と入射スリットの間に配設さ
れるように構成した。
このため、次の■〜■のような効果が得られる。
■ゼロ校正用フィルタ１５ａがフィルタモータ１６で駆
動させられるため、前記従来例のように手動でゼロ校正
用フィルタ１５ａを取付ける必要がなくなった。
動させられるため、前記従来例のように手動でゼロ校正
用フィルタ１５ａを取付ける必要がなくなった。
■ゼロ校正用フィルタが紫外線吸収検出器の光学系内に
内臓されるため、前記従来例のようにゼロ校正用フィル
タを別に保管する必要がない。
内臓されるため、前記従来例のようにゼロ校正用フィル
タを別に保管する必要がない。
■紫外線吸収検出器のゼロ校正時に、フローセルの取外
しや取付けを行なう必要がない。
しや取付けを行なう必要がない。
第１図は本発明実施例の構成説明図、第３図は従来例の
構成説明図、第３図は第３図のフローセル部分の詳細説
明図である。 １・・・光源、２，４．６・・・凹面鏡、３・・・入射
スリット、５・・・回折格子、７・・・ハーフミラ−１
８，１１・・・出射スリット、９・・・フローセル、１
０・・・サンプル光センサ１２・・・比較光センサ １５ａ・・・ゼロ校正用のフィルタ、 １５ｂ・・・２次光カットフィルタ、 １６・・・フィルタ用モータ
構成説明図、第３図は第３図のフローセル部分の詳細説
明図である。 １・・・光源、２，４．６・・・凹面鏡、３・・・入射
スリット、５・・・回折格子、７・・・ハーフミラ−１
８，１１・・・出射スリット、９・・・フローセル、１
０・・・サンプル光センサ１２・・・比較光センサ １５ａ・・・ゼロ校正用のフィルタ、 １５ｂ・・・２次光カットフィルタ、 １６・・・フィルタ用モータ
Claims (1)
- フローセル内を流れる試料に紫外線を照射し該紫外線
の減少量から前記試料中の被測定成分を検出する紫外線
吸収検出器において、光源から照射された光が第１凹面
鏡で反射されて入射スリットに集光され、該入射スリッ
トを通った光が第３凹面鏡を通つて平行光となり回折格
子によって種々の波長の光に分光されて後、第３凹面鏡
に入射して平行となった光のうち特定波長の光を、前記
第３凹面鏡の焦点付近に配設されている出射スリットと
前記フローセルを通して、サンプル光センサーで検出す
るように構成すると共に、ゼロ校正用のフィルタと、２
次光カットフィルタと、これらフィルタを回転させるフ
ィルタ用モータとを設け、前記ゼロ校正用フィルタが前
記第１凹面鏡と入射スリットの間に配設されるように構
成したことを特徴とする紫外線吸収検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13529590A JPH0431747A (ja) | 1990-05-28 | 1990-05-28 | 紫外線吸収検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13529590A JPH0431747A (ja) | 1990-05-28 | 1990-05-28 | 紫外線吸収検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0431747A true JPH0431747A (ja) | 1992-02-03 |
Family
ID=15148362
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13529590A Pending JPH0431747A (ja) | 1990-05-28 | 1990-05-28 | 紫外線吸収検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0431747A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007240181A (ja) * | 2006-03-06 | 2007-09-20 | Hitachi High-Tech Science Systems Corp | 医用分析装置 |
| WO2020148878A1 (ja) * | 2019-01-17 | 2020-07-23 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ用吸光度検出器および基準位置検出方法 |
-
1990
- 1990-05-28 JP JP13529590A patent/JPH0431747A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007240181A (ja) * | 2006-03-06 | 2007-09-20 | Hitachi High-Tech Science Systems Corp | 医用分析装置 |
| WO2020148878A1 (ja) * | 2019-01-17 | 2020-07-23 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ用吸光度検出器および基準位置検出方法 |
| CN113302489A (zh) * | 2019-01-17 | 2021-08-24 | 株式会社岛津制作所 | 色谱仪用吸光度检测器及基准位置检测方法 |
| JPWO2020148878A1 (ja) * | 2019-01-17 | 2021-10-14 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ用吸光度検出器および基準位置検出方法 |
| CN113302489B (zh) * | 2019-01-17 | 2024-01-23 | 株式会社岛津制作所 | 色谱仪用吸光度检测器及基准位置检测方法 |
| US11933772B2 (en) | 2019-01-17 | 2024-03-19 | Shimadzu Corporation | Absorbance detector for chromatograph and reference position detection method |
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