JPH0534277A - 紫外線吸収検出器 - Google Patents
紫外線吸収検出器Info
- Publication number
- JPH0534277A JPH0534277A JP3596391A JP3596391A JPH0534277A JP H0534277 A JPH0534277 A JP H0534277A JP 3596391 A JP3596391 A JP 3596391A JP 3596391 A JP3596391 A JP 3596391A JP H0534277 A JPH0534277 A JP H0534277A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- concave mirror
- slit
- sample
- mirror
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】サンプル光側と比較光側での波長のズレがなく
出力が安定しているような紫外線吸収検出器を提供す
る。 【構成】光源から照射された光が第１凹面鏡で反射され
て入射スリットに集光され、その入射スリットを通った
光が第２凹面鏡を通って平行光となり回折格子によって
種々の波長の光に分光されて後、第３凹面鏡に入射して
平行となった光のうち特定波長の光を、第３凹面鏡の焦
点付近に配設されている出射スリットとフロ―セルを通
し、光センサ―で検出して前記フロ―セル内を流れる試
料中の被測定成分を検出する紫外線吸収検出器におい
て、第３凹面鏡と出射スリットとの間にハ―フミラ―を
配設すると共に、該ハ―フミラ―を回転させるモ―タを
設けたもの。
出力が安定しているような紫外線吸収検出器を提供す
る。 【構成】光源から照射された光が第１凹面鏡で反射され
て入射スリットに集光され、その入射スリットを通った
光が第２凹面鏡を通って平行光となり回折格子によって
種々の波長の光に分光されて後、第３凹面鏡に入射して
平行となった光のうち特定波長の光を、第３凹面鏡の焦
点付近に配設されている出射スリットとフロ―セルを通
し、光センサ―で検出して前記フロ―セル内を流れる試
料中の被測定成分を検出する紫外線吸収検出器におい
て、第３凹面鏡と出射スリットとの間にハ―フミラ―を
配設すると共に、該ハ―フミラ―を回転させるモ―タを
設けたもの。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、紫外線吸収検出器に関
し、更に詳しくは、高速液体クロマトグラフ等の検出器
として使用されフロ―セル内を流れる試料に紫外線を照
射し該紫外線の減少量から前記試料中の被測定成分を検
出する紫外線吸収検出器に関する。
し、更に詳しくは、高速液体クロマトグラフ等の検出器
として使用されフロ―セル内を流れる試料に紫外線を照
射し該紫外線の減少量から前記試料中の被測定成分を検
出する紫外線吸収検出器に関する。
【０００２】
【従来の技術】第２図は、紫外線吸収検出器の一般的な
構成説明図であり、図中、１は光源、２，４，６は凹面
鏡、３は入射スリット、５は回折格子、７はハ―フミラ
―、８，１１は出射スリット、９はフロ―セル、１０は
サンプル光センサ―、１２は比較光センサ―である。こ
のような構成からなる従来の紫外線吸収検出器におい
て、光源１から照射された光は凹面鏡２で反射されて入
射スリット３に集光される。また、入射スリット３を通
った光は、凹面鏡４で反射されて平行光となり回折格子
５によって種々の波長の光に分光される。
構成説明図であり、図中、１は光源、２，４，６は凹面
鏡、３は入射スリット、５は回折格子、７はハ―フミラ
―、８，１１は出射スリット、９はフロ―セル、１０は
サンプル光センサ―、１２は比較光センサ―である。こ
のような構成からなる従来の紫外線吸収検出器におい
て、光源１から照射された光は凹面鏡２で反射されて入
射スリット３に集光される。また、入射スリット３を通
った光は、凹面鏡４で反射されて平行光となり回折格子
５によって種々の波長の光に分光される。
【０００３】このようにして分光された凹面鏡６に入射
した平行光のうち特定波長の光は、凹面鏡６の焦点付近
に配設されている出射スリット８とフロ―セル９を通
り、サンプル光センサ―１０で検出される。また、凹面
鏡６に入射した平行光の一部は、ハ―フミラ―７で反射
されてのち出射スリット１１を通り、比較光センサ―１
２で検出される。
した平行光のうち特定波長の光は、凹面鏡６の焦点付近
に配設されている出射スリット８とフロ―セル９を通
り、サンプル光センサ―１０で検出される。また、凹面
鏡６に入射した平行光の一部は、ハ―フミラ―７で反射
されてのち出射スリット１１を通り、比較光センサ―１
２で検出される。
【０００４】一方、フロ―セル９の中には試料が流され
ており、該試料の成分濃度に応じてサンプルの光強度が
変化する。このため、Ａ，Ｉ，Ｉo をそれぞれ吸光度，
サンプル光出力，比較光出力とするとき、下式（１）に
示すランベルト・ベアの法則に従って吸光度Ａの変化が
出力されるようになっている。 Ａ＝ｌＬｏｇ（Ｉo ／Ｉ）…………………（１）
ており、該試料の成分濃度に応じてサンプルの光強度が
変化する。このため、Ａ，Ｉ，Ｉo をそれぞれ吸光度，
サンプル光出力，比較光出力とするとき、下式（１）に
示すランベルト・ベアの法則に従って吸光度Ａの変化が
出力されるようになっている。 Ａ＝ｌＬｏｇ（Ｉo ／Ｉ）…………………（１）
【０００５】因みに、サンプル光出力Ｉが０．１％変化
すると、吸光度Ａは下式（２）に示すように −４．４
×１０-4だけ変化するようになる。 ΔＡ＝Ｌｏｇ（Ｉo ／Ｉ）−Ｌｏｇ｛Ｉo ／（０．９９９Ｉ）｝ ＝Ｌｏｇ（０．９９９） ＝−４．４×１０-4…………………………（２）
すると、吸光度Ａは下式（２）に示すように −４．４
×１０-4だけ変化するようになる。 ΔＡ＝Ｌｏｇ（Ｉo ／Ｉ）−Ｌｏｇ｛Ｉo ／（０．９９９Ｉ）｝ ＝Ｌｏｇ（０．９９９） ＝−４．４×１０-4…………………………（２）
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】然しながら、上記従来
例においては、光学系のゼロ点校正や波長校正は回折格
子５の角度を僅かに移動させてサンプル光側の出力だけ
を監視するようになっていた。このため、サンプル光側
と比較光側では観測している波長が異なり、検出器の出
力に悪影響を及ぼすという欠点があった。本発明は、か
かる従来例の欠点に鑑みてなされたものであり、その目
的は、サンプル光側と比較光側での波長のズレがなく出
力が安定している紫外線吸収検出器を提供することにあ
る。
例においては、光学系のゼロ点校正や波長校正は回折格
子５の角度を僅かに移動させてサンプル光側の出力だけ
を監視するようになっていた。このため、サンプル光側
と比較光側では観測している波長が異なり、検出器の出
力に悪影響を及ぼすという欠点があった。本発明は、か
かる従来例の欠点に鑑みてなされたものであり、その目
的は、サンプル光側と比較光側での波長のズレがなく出
力が安定している紫外線吸収検出器を提供することにあ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、光源から照射
された光が第１凹面鏡で反射されて入射スリットに集光
され、該入射スリットを通った光が第２凹面鏡を通って
平行光となり回折格子によって種々の波長の光に分光さ
れて後、第３凹面鏡に入射して平行となった光のうち特
定波長の光を、第３凹面鏡の焦点付近に配設されている
出射スリットとフロ―セルを通し、光センサ―で検出し
てフロ―セル内を流れる試料中の被測定成分を検出する
紫外線吸収検出器において、第３凹面鏡と出射スリット
との間にハ―フミラ―を配設すると共に、該ハ―フミラ
―を回転させるモ―タを設けることによって前記課題を
解決したものである。
された光が第１凹面鏡で反射されて入射スリットに集光
され、該入射スリットを通った光が第２凹面鏡を通って
平行光となり回折格子によって種々の波長の光に分光さ
れて後、第３凹面鏡に入射して平行となった光のうち特
定波長の光を、第３凹面鏡の焦点付近に配設されている
出射スリットとフロ―セルを通し、光センサ―で検出し
てフロ―セル内を流れる試料中の被測定成分を検出する
紫外線吸収検出器において、第３凹面鏡と出射スリット
との間にハ―フミラ―を配設すると共に、該ハ―フミラ
―を回転させるモ―タを設けることによって前記課題を
解決したものである。
【０００８】
【作用】本発明は次のように作用する。即ち、光学系の
ゼロ校正や波長校正において、先ず、回折格子を微小な
角度動かし、その時のサンプル光側のゼロ校正や波長校
正を行なう。次に、ビ―ムスプリッタ―を微小な角度動
かし、その時の比較光側の出力値を監視して比較光側の
ゼロ校正や波長校正を行なう。このようにサンプル光側
と比較光側の両方でゼロ校正や波長校正を行なうことに
より、両者の波長のズレはなくなる。
ゼロ校正や波長校正において、先ず、回折格子を微小な
角度動かし、その時のサンプル光側のゼロ校正や波長校
正を行なう。次に、ビ―ムスプリッタ―を微小な角度動
かし、その時の比較光側の出力値を監視して比較光側の
ゼロ校正や波長校正を行なう。このようにサンプル光側
と比較光側の両方でゼロ校正や波長校正を行なうことに
より、両者の波長のズレはなくなる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明について図を用いて詳細に説明
する。図１は本発明実施例を説明するための構成説明図
であり、図中、図２と同一記号は同一意味を持たせて使
用しここでの重複説明は省略する。また、１３´は回折
格子５を回転させるための第１モ―タ、１４はビ―ムス
プリッタ７を回転させるための第２モ―タである。
する。図１は本発明実施例を説明するための構成説明図
であり、図中、図２と同一記号は同一意味を持たせて使
用しここでの重複説明は省略する。また、１３´は回折
格子５を回転させるための第１モ―タ、１４はビ―ムス
プリッタ７を回転させるための第２モ―タである。
【００１０】このような構成からなる本発明の実施例に
おいて、光源１から照射された光は凹面鏡２で反射され
て入射スリット３に集光される。また、入射スリット３
を通った光は、凹面鏡４を通って平行光となり回折格子
５によって種々の波長の光に分光される。このようにし
て分光され凹面鏡６に入射した平行光のうち特定波長の
光は、その焦点に集光する。
おいて、光源１から照射された光は凹面鏡２で反射され
て入射スリット３に集光される。また、入射スリット３
を通った光は、凹面鏡４を通って平行光となり回折格子
５によって種々の波長の光に分光される。このようにし
て分光され凹面鏡６に入射した平行光のうち特定波長の
光は、その焦点に集光する。
【００１１】ここで、凹面鏡６は第１図に示すように第
１球面６ａ（凹面鏡６の中央部分）と第２球面６ｂ（凹
面鏡６の端部分）の２つの曲面を有しており、第１球面
６ａの焦点と第２球面６ｂの焦点は異なっている。この
ため、第１球面６ａで反射された光は、その焦点付近に
配設されている出射スリット８を通過して限定されたバ
ンド幅の光となってフロ―セル９を通り、サンプル光セ
ンサ―１０で検出される。
１球面６ａ（凹面鏡６の中央部分）と第２球面６ｂ（凹
面鏡６の端部分）の２つの曲面を有しており、第１球面
６ａの焦点と第２球面６ｂの焦点は異なっている。この
ため、第１球面６ａで反射された光は、その焦点付近に
配設されている出射スリット８を通過して限定されたバ
ンド幅の光となってフロ―セル９を通り、サンプル光セ
ンサ―１０で検出される。
【００１２】また、第２球面６ｂで反射された光は、そ
の焦点付近に配設されている比較光用出射スリット１１
を通り、限定されたバンド幅の光となってフロ―セル９
を通過し比較光センサ―１２で検出される。このように
して、サンプル光センサ―１０で検出された検出信号
（Ｉ）と比較光センサ―１２で検出された検出信号（Ｉ
o ）に基いて前記第（１）式に示したような演算が行わ
れ、フロ―セル９内を流れる流体の紫外線吸光度が検出
されるようになっている。
の焦点付近に配設されている比較光用出射スリット１１
を通り、限定されたバンド幅の光となってフロ―セル９
を通過し比較光センサ―１２で検出される。このように
して、サンプル光センサ―１０で検出された検出信号
（Ｉ）と比較光センサ―１２で検出された検出信号（Ｉ
o ）に基いて前記第（１）式に示したような演算が行わ
れ、フロ―セル９内を流れる流体の紫外線吸光度が検出
されるようになっている。
【００１３】即ち、光学系のゼロ校正や波長校正におい
て、先ず、回折格子５を微小な角度動かし、その時のサ
ンプル光側のゼロ校正や波長校正を行なう。次に、ビ―
ムスプリッタ―を微小な角度動かし、その時の比較光側
の出力値を監視して比較光側のゼロ校正や波長校正を行
なう。このようにサンプル光側と比較光側の両方でゼロ
校正や波長校正を行なうことにより、両者の波長のズレ
はなくなる。
て、先ず、回折格子５を微小な角度動かし、その時のサ
ンプル光側のゼロ校正や波長校正を行なう。次に、ビ―
ムスプリッタ―を微小な角度動かし、その時の比較光側
の出力値を監視して比較光側のゼロ校正や波長校正を行
なう。このようにサンプル光側と比較光側の両方でゼロ
校正や波長校正を行なうことにより、両者の波長のズレ
はなくなる。
【００１４】尚、本発明は第１図の実施例に限定される
ことなく種々の変形が可能であり、例えば次のやの
ようにしても良いものとする。紫外線吸収検出器だけ
でなく赤外線その他の光学系検出器に用いる。凹面鏡
の主軸を上下方向に平行でなく、焦点距離をずらすよう
にする。
ことなく種々の変形が可能であり、例えば次のやの
ようにしても良いものとする。紫外線吸収検出器だけ
でなく赤外線その他の光学系検出器に用いる。凹面鏡
の主軸を上下方向に平行でなく、焦点距離をずらすよう
にする。
【００１５】
【発明の効果】以上詳しく説明したような本発明によれ
ば、サンプル光側と比較光側での波長のズレがなく出力
が安定している紫外線吸収検出器が実現する。
ば、サンプル光側と比較光側での波長のズレがなく出力
が安定している紫外線吸収検出器が実現する。
【図１】本発明実施例の構成説明図である。
【図２】従来例の構成説明図である。 １ 光源 ２，４，６ 凹面鏡 ３ 入射スリット ５ 回折格子 ７ ハ―フミラ― ８，１１ 出射スリット ９ フロ―セル １０ サンプル光センサ― １２ 比較光センサ― １３，１４ モ―タ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】光源から照射された光が第１凹面鏡で反射
されて入射スリットに集光され、該入射スリットを通っ
た光が第２凹面鏡を通って平行光となり回折格子によっ
て種々の波長の光に分光されて後、第３凹面鏡に入射し
て平行となった光のうち特定波長の光を、前記第３凹面
鏡の焦点付近に配設されている出射スリットとフロ―セ
ルを通し、光センサ―で検出して前記フロ―セル内を流
れる試料中の被測定成分を検出する紫外線吸収検出器に
おいて、前記第３凹面鏡と出射スリットとの間にハ―フ
ミラ―を配設すると共に、該ハ―フミラ―を回転させる
モ―タを設けたことを特徴とする紫外線吸収検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3596391A JPH0534277A (ja) | 1991-03-01 | 1991-03-01 | 紫外線吸収検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3596391A JPH0534277A (ja) | 1991-03-01 | 1991-03-01 | 紫外線吸収検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0534277A true JPH0534277A (ja) | 1993-02-09 |
Family
ID=12456613
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3596391A Pending JPH0534277A (ja) | 1991-03-01 | 1991-03-01 | 紫外線吸収検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0534277A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5822063A (en) * | 1996-04-18 | 1998-10-13 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Apparatus for measuring magneto-optical effect |
-
1991
- 1991-03-01 JP JP3596391A patent/JPH0534277A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5822063A (en) * | 1996-04-18 | 1998-10-13 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Apparatus for measuring magneto-optical effect |
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