JPH04318411A - 2つの媒体間の分離面の位置を定めるための装置及び方法 - Google Patents

2つの媒体間の分離面の位置を定めるための装置及び方法

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JPH04318411A
JPH04318411A JP4015298A JP1529892A JPH04318411A JP H04318411 A JPH04318411 A JP H04318411A JP 4015298 A JP4015298 A JP 4015298A JP 1529892 A JP1529892 A JP 1529892A JP H04318411 A JPH04318411 A JP H04318411A
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collimator
cycle
time base
support
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JP4015298A
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Floc H Christian M Le
クリスティアン・マルセル・ル・フロック
Pierre Sarrazin
ピエール・サラザン
Daniel M Babot
ダニエル・ミッシェル・バボ
Gilles G Peix
ジル・ジョルジュ・ペ
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Airbus Group SAS
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20066Measuring inelastic scatter of gamma rays, e.g. Compton effect

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コンプトン効果を用い
ることにより、密度が異なる2つの媒体を分ける平面の
位置を高精度に測定するための方法と装置に関するもの
である。また、本発明は、上記方法と装置を層の厚さを
測定するのに応用することに関するものである。
【0002】
【発明の背景】密度が異なる2つの媒体の間の分離面の
位置を測定するために、コンプトン効果を利用した手段
は従来からある。即ち、1989年1月、フィリップス
・フォルシュアングスラボラトリウム・ハンブルグ(P
hilips Forschungslaborato
rium Hamburg)発行、ジェー・コザネスキ
ー(J. Kosanetzky)、ジー・ハーディン
グ(G. Harding)、ケー・エイチ・フィッシ
ャー(K.H. Fisher)及びエー・マイヤー(
A. Meyer)著による「Compton bac
kscatter tomographyof low
 atomic number materials 
with the ComScan system」に
おいて、コンプトン効果を用いる原理は、X線又はガン
マ線を照射することにより物体上の断層撮影を行うため
の装置と共に、既に開示されている。尚、これらのX線
又はガンマ線は、物体の原子内の電子と相互作用により
、照射された物体の密度を表す全方向放射線を発生する
ものである。放射線の放射源は、実験下では物体を透過
する比較的細い線束を形成し、そこからのコンプトン効
果の放射線はレシーバーにより検出される。あるメカニ
ズムにより、装置を物体の表面に全体として直角に配置
し、放射線を透過させ、それにより、前記表面の下側の
深度に対する測定値を採取する。
【0003】しかしながら、このような装置は、複数の
放射源を用い、互いに関連される複数対の検出器を用い
るという問題点を有している。また、検出器は面積が大
きいにも拘わらず、どのような場合でも、その極く僅か
な部分しか用いられず、使用されない部分は電子検出シ
ステムにおいて暗騒音を生じさせ、更に、直接照射され
ない物体の体積部(ボリューム)でしばしば散乱を生ず
るコンプトン効果による放射を受ける。これらの相互干
渉する現象は、互いに共働して、測定の精度を制限する
【0004】本発明は、測定値の空間的解像度を改善し
て、密度の異なる2つの媒体の間の面の位置を定めるこ
とができる方法と装置を提供することにより上記問題点
を解決することを目的とする。
【0005】
【発明の概要】この目的を達成するために、本発明は、
密度の異なる2つの媒体の間の分離面に平行であり且つ
該分離面から一定の距離を置いて配置された基準面に対
する該分離面の位置を定めるための装置であって、前記
媒体が、エミッターからのX線又はガンマ線のビームに
より照射されるのに適し且つコンプトン効果により散乱
を生じさせるものであり、前記散乱がサポートにより支
持されたレシーバーにより検出され、該レシーバーが第
1の信号を発することで前記散乱に応答し、前記エミッ
ターが調整された強さでビームを放射するようになって
いることを特徴とする前記装置を提供する。
【0006】また、本発明の装置は、変位、測定及び演
算過程のシーケンスから成るサイクルに対して順次コマ
ンドを発するタイムベースを備えており、前記サイクル
における前記シーケンスが、前記基準面にほぼ直角な線
に沿って配置された一連の分析体積部に関連する測定に
対応するようになっている。
【0007】更に、本装置は、前記基準面にほぼ直角の
方向で該基準面に対して前記サポートの相対変位を制御
するための変位装置であり、タイムベースにより制御さ
れる前記変位装置を備えている。
【0008】また、本装置は、少なくとも1つのスロッ
トを有し前記サポートに固定された第1のコリメーター
を備えており、該第1のコリメーターは、前記スロット
を通過すると共に媒体間の検出対象の分離面に平行に延
びる細長い基本体積部の方向に導かれる基本ビームを形
成し、前記基本体積部は前記媒体により占有され得るも
のであり、前記第1のコリメーターは前記エミッターの
出口側に配置されている。
【0009】更にまた、本装置は、複数のスロットを有
し前記サポートに固定された第2のコリメーターを備え
ており、前記複数のスロットは前記基本体積部に向けら
れ、該スロットを通過する基本ビームが前記基本体積部
に集中するようになっており、第2のコリメーターは前
記レシーバーの検出器の前方に配置されている。
【0010】本装置では、前記サポート、前記エミッタ
ー、前記第1のコリメーター、前記第2のコリメーター
及び前記レシーバーは測定装置を構成し、前記基準面に
対する該測定装置の位置は前記サポートの位置と等しく
なっている。
【0011】また、本装置は、前記タイムベースの制御
下で時間に対して積分されるための積分器を備えており
、該積分器は、前記第1の信号を受信すると共に、前記
タイムベースにより画定される時間にわたっての前記第
1の信号の時間積分を表す第2の信号を形成するように
なっている。
【0012】更に、本装置は、前記タイムベースにより
制御される減算器を備えており、該減算器は、前記第2
の信号を受信すると共に、現サイクルにおける前記第2
の信号と前回のサイクルにおける第2の信号との間の差
を表す第3の信号を形成することで、前記第2の信号に
応答するようになっている。
【0013】更にまた、本装置は、前記タイムベースに
より制御される第1の演算手段を備えており、該第1の
演算手段は、前記第3の信号を受信すると共に、前記測
定装置と前記基準面との間の相対変位の距離に対する前
記第3の信号の導関数を表す第4の信号を形成すること
で、前記第3の信号に応答するようになっている。
【0014】また、本装置は、前記タイムベースにより
制御される第2の演算手段を備えており、該第2の演算
手段は、前記第4の信号を受信すると共に、前記第4の
信号と同じ符号を有する数を表す第5の信号であって、
その絶対値が、前記第4の信号から所定の正の数を減ず
ることにより得られる差が正である場合にはその差に等
しく、前記差が負又はゼロである場合にはゼロに等しい
前記第5の信号を形成することで、前記第4の信号に応
答するようになっている。
【0015】そして、本発明の装置は、前記タイムベー
スにより制御される第3の演算手段を備えており、該第
3の演算手段は、前記第5の信号を受信する第1の入力
部を有すると共に、前記基準面にほぼ直角な方向におい
て前記基準面に対して前記サポートを相対的に変位させ
るため、前記タイムベースにより発せられるコマンドを
受信する第2の入力部を有しており、且つ、該第3の演
算手段は、前記第5の信号を記憶し、前記第5の信号が
ゼロ又は前回のサイクルで形成された第5の信号の符号
と反対である場合には、常に、サイクルにおける前記シ
ーケンスの始めでの初期位置に対する測定装置の変位距
離を表す第6の信号を形成し、該変位距離は、前回のサ
イクルで算出されたゼロでなく同じ符号の第5の信号の
最新のシーケンスに関連する連続距離の重心の相対位置
に対応し、このようなシーケンスの各第5の信号の値は
、該第5の信号が発生されるサイクルにおいてその初期
位置から前記測定装置が見いだされる変位位置に加重し
、前記重心は隣合う2つの媒体間の分離面に配置される
ようになっている。尚、本明細書でいう「重心(bar
ycentre)」とは、ユークリッド空間で分布した
有限個の等質点系の質量をいうものである。
【0016】第2のコリメーターには複数のスロットが
設けられているので、前記基本体積部により後方散乱さ
れた最大数の光子が収集され、カウント時間が第2のコ
リメーターのスロットの数により除算され得るようにな
っていることは理解されよう。
【0017】更に、捕らえられた放射線の測定値が積分
され、そのためノイズを殆ど含まず、従って、測定値を
基礎にして行われる演算の精度を高めることができる。 このような演算は、その大きさに比例して行われる最新
の計測値を考慮して重心を算出することを含み、隣合う
媒体の間の分離面の位置を正確に定めることができる。
【0018】好ましくは、前記第1のコリメーターは複
数のスロットを有し、該スロットを通過する基本ビーム
が前記基本体積部で収束するようにするのが良い。
【0019】更に、本装置は、前記基準面に平行な方向
において媒体に対して前記測定装置を変位させるための
装置を備えることを特徴としている。これにより、測定
サイクルのシーケンスをシーケンス毎に自動的に実行す
ることが可能となる。
【0020】また、本発明の装置は、複数のスロットを
有するコリメーターを備えているので、それぞれが対応
のスロットを通過する基本ビームの全てが同じ共通体積
部に収束され、該基本ビームの寸法の一つが0.1mm
〜0.4mmの範囲内にあることを特徴とする。
【0021】その結果、2つの共通体積部の交差により
画成される基本体積部は0.1mm〜0.4mmの範囲
の2つの寸法を有し、よって、測定精度を向上させる。
【0022】本発明は、また、密度の異なる2つの媒体
の間の分離面に平行であり且つ該分離面から一定の距離
を置いて配置された基準面に対する該分離面の位置を定
めるための方法であって、前記媒体が、エミッターから
のX線又はガンマ線のビームにより照射されるのに適し
且つコンプトン効果により散乱を生じさせるものであり
、前記散乱がサポートにより支持されたレシーバーによ
り検出され、該レシーバーが第1の信号を発することで
前記散乱に応答するようになっており、前記基準面にほ
ぼ直角な線に沿って離間された一連の分析される体積部
に関連する測定に対応するサイクルのシーケンスから成
る前記方法を提供するものである。
【0023】前記各サイクルは、前記基準面にほぼ直角
な方向における該基準面に対する前記サポートの変位を
制御するための変位装置を制御する工程を有している。
【0024】また、前記各サイクルは、前記サポートに
固定されたエミッターから、調整された強さでX線又は
ガンマ線のビームを放射する工程を有している。
【0025】更に、前記各サイクルは、少なくとも1つ
のスロットを備える第1のコリメーターに前記ビームを
通過させることにより、該ビームに空間的にフィルター
をかける工程を有しており、前記第1のコリメーターは
前記サポートに固定され、前記スロットを通過する基本
ビームは、媒体間の検出対象の分離面に平行に延びる細
長い基本体積部の方向に導かれ、前記基本体積部は前記
媒体により占有され得るものであり、前記第1のコリメ
ーターは前記エミッターの出口側に配置されている。
【0026】更にまた、前記各サイクルは、複数のスロ
ットを備える第2のコリメーターに、前記基本体積部に
より放射されたコンプトン効果による放射線を通過させ
ることにより、該放射線に空間的にフィルターをかける
工程を有しており、前記第2のコリメーターは前記サポ
ートに固定され、前記複数のスロットは前記基本体積部
に向けられ、該スロットを通過する基本ビームが前記基
本体積部に集中するようになっており、前記第2のコリ
メーターは前記レシーバーの検出器の前方に配置されて
おり、前記サポート、前記エミッター、前記第1のコリ
メーター、前記第2のコリメーター及び前記レシーバー
は測定装置を構成し、前記基準面に対する該測定装置の
位置は前記サポートの位置と等しくなっている。
【0027】また、前記各サイクルは、タイムベースの
制御下で時間に対して積分を行うために積分器において
時間に対して前記第1の信号を積分する工程を有してお
り、該積分器は、前記第1の信号を受信すると共に、前
記タイムベースにより画定される時間にわたっての前記
第1の信号の時間積分を表す第2の信号を形成するよう
になっている。
【0028】更に、前記各サイクルは、前記タイムベー
スにより制御されると共に前記第2の信号を受信する減
算器において、現サイクルにおける前記第2の信号から
前回のサイクルにおける第2の信号を減じ、それにより
第3の信号を形成する工程を有している。
【0029】加えて、前記各サイクルは、前記タイムベ
ースにより制御されると共に前記第3の信号を受信する
第1の演算手段において、測定装置と基準面との間の相
対変位距離に対して前記第3の信号を微分し、それによ
り第4の信号を形成する工程を有している。
【0030】また、前記各サイクルは、前記タイムベー
スにより制御されると共に前記第4の信号を受信する第
2の演算手段においてある数を算出する工程を有してお
り、該数の符号は第4の信号の符号と一致し、その絶対
値が、前記第4の信号から所定の正の数を減ずることに
より得られる差が正である場合にはその差に等しく、前
記差が負又はゼロである場合にはゼロに等しいものとし
、それにより第5の信号を形成するようになっている。
【0031】更に、前記各サイクルは、前記タイムベー
スにより制御されると共に前記第5の信号を受信する第
1の入力部を有する第3の演算手段において第6の信号
を算出する工程を有しており、前記第3の演算手段は、
前記基準面にほぼ直角な方向において前記基準面に対し
て前記サポートを相対的に変位させるため、前記タイム
ベースにより発せられるコマンドを受信する第2の入力
部を有しており、且つ、該第3の演算手段は、前記第5
の信号を記憶し、前記第5の信号がゼロ又は前回のサイ
クルで形成された第5の信号の符号と反対である場合に
は前記第6の信号を発生し、該第6の信号は、サイクル
の前記シーケンスの始めでの初期位置に対する測定装置
の変位距離を表し、該変位距離は、前回のサイクルで算
出されたゼロでなく同じ符号の第5の信号の最新のシー
ケンスに関連する連続距離の重心の相対位置に対応し、
このようなシーケンスの各第5の信号の値は、該第5の
信号が発生されるサイクルにおいてその初期位置から前
記測定装置が見いだされる変位位置に加重し、前記重心
は隣合う2つの媒体間の分離面に配置されるようになっ
ている。
【0032】その結果、隣合う媒体を分離する面の位置
の算出は連続的測定値を考慮し、それにより、より精度
を向上させることができる。
【0033】また、第1のコリメーターには、前記基本
体積部に収束する複数の基本ビームが通過する複数のス
ロットが設けられている第1のコリメーターを使用する
のが有効である。
【0034】以下、図面に沿って本発明の実施例につい
て説明する。
【0035】
【実施例の詳細な説明】
図1において、符号1を付したエミッターEは安定化遮
蔽放射源により構成されており、このエミッター1はX
線又はガンマ線のビーム2を放射して複数のスロットを
有する第1のコリメーター3を通過させ、非常に細い入
射ビーム4を形成する。この入射ビーム4は複数の基本
ビームにより構成され、これらのビームは、基準面5と
して機能する前面を透過し、全体として符号6が付けら
れる分析されるべき互い隣合う媒体6a,6b,6c内
に照射される。これらの媒体は、それぞれ密度が異なっ
ており、分離面7によって互いに分離されている。
【0036】この実施例において、基準面5として用い
られる媒体6の一つの前面は、平面7に平行で平らであ
ると仮定される。この仮定が正しくない場合、他の面、
即ち、分離面から離れた面であって測定用の固定基準と
して機能し得る面を用いることができる。
【0037】コンプトン効果により拡散された放射線の
ビーム8は、複数のスロットを有する第2のコリメータ
ー9に到達し、第2のコリメーター9の後方に配置され
符号11が付けられたレシーバーRによって捕らえられ
る検出ビーム10のための許容立体角を画成する。2本
のビーム4,10は次のような態様で一点に集中されて
いる。即ち、これらのビーム4,10が交差して、前記
媒体6のひとつにより占められる基本体積部(elem
entary volume)12を画成し、そこから
のコンプトン効果放射がレシーバー11により捕らえら
れるようになっている。
【0038】機械的な調整を容易にし、安定性を確保す
るために、エミッター1、レシーバー11、及び2つの
コリメーター3,9は、共通の剛性のサポート13に固
定され、それにより測定装置14を構成している。前面
5の下側の色々な深さ及び位置をスキャニングできるよ
うにするために、この測定装置14は、分析される媒体
6に対して位置変更され、或は、媒体6が測定装置14
に対して位置変更される。
【0039】コンピューター20は、連続的な測定サイ
クルの順序を管理するタイムベース21を備え、各測定
サイクルは媒体6内の前記基本体積部12の所定位置に
関連している。タイムベース21は、測定装置14と媒
体6との間の相対的な変位を行うための変位装置22を
制御するが、この相対変位ないしは相対移動は、少なく
とも測定装置14と基準面5との間の距離を初期位置に
対して一定数の単位ユニットで変えて、測定サイクルの
前記シーケンスの一つを実施するように機能するステッ
プモータ23と、基準面5に直角な他の位置にある基本
体積部に関する測定サイクルの他のシーケンスを実施す
るために、前記基準面5に平行な一方向又は二方向(図
示しない)に沿って測定装置14を任意に変位させるよ
う機能するステップモータ23とによって行われる。
【0040】レシーバー11からの出力は、コンピュー
ター20内に配置され或は電気的ノイズの受信を防止す
るようにレシーバー11の近傍に配置された積分器24
に伝えられる。この積分器24は、レシーバー11によ
り捕らえられる光子の数を表す第1の信号を受信し、そ
の信号はタイムベース21の制御下、レシーバー11か
ら積分器24に伝えられる。積分器24は、タイムベー
ス21の制御の下で、コンピューター20内の減算器2
5に前記第1の信号の時間積分を表す第2の信号を伝え
る。この第2の信号は第1のターミナルB1にも伝えら
れるが、このターミナルB1によって、使用者は第2の
信号を直接得ることができ、解析下、基本容積部12に
より占められた媒体6の密度と共に変化する。減算器2
5はこの第2の信号を記憶し、それを基礎として、受信
された直後の第2の信号と、前のサイクル中に受信され
た第2の信号との差を表す第3の信号を発生させる。こ
の第3の信号はタイムベース21の制御の下で第1の演
算手段26に送られ、この演算手段26は、測定装置1
4が現サイクルの最初において移動される間の基本ステ
ップの数により前記第3の信号を割ることによって前記
基準面5の距離に対応する第3の信号の導関数を表す第
4の信号を提供するように機能する。このような割り算
過程は、測定装置14が別のサイクルにおいて異なるス
テップ数で移動されることができる場合のみに必要とさ
れることは明らかであろう。
【0041】前記第4の信号は、タイムベース21の制
御の下でコンピューター20の第2の演算手段27に伝
えられ、第4の信号と同じサインを有し、且つ、その絶
対値が次のいずれかに等しい第5の信号を生ずる。 (1)前記第4の信号から所定の正の数を減じることに
より得られる差(この減算による結果が正である場合に
限る)。 (2)上記結果が負又はゼロの場合、ゼロ。
【0042】この第5の信号は、第1の入力部からタイ
ムベース21の制御下でコンピューター20の第3の演
算手段28に送られる。また、第3の演算手段28は、
第2及び第3の入力部を有し、その各々を介して、タイ
ムベース21により変位装置22に与えられる基準面5
に直角な方向、及び、基準面5に平行な方向における変
位のための制御信号を受信する。この第3の演算手段2
8は第5の信号を記憶し、この第5の信号がゼロ、又は
、前のサイクルで発生された第5の信号に対して反対の
サインである場合に、サイクルシーケンスの始めにおけ
る初期位置からの測定装置14の変位距離を表す第6の
信号をターミナルB2に伝える。その変位距離は、前の
サイクルで算出された連続的なゼロでなく同じサインの
第5の信号の最も新しいシーケンスに対する連続的な距
離の重心の相対位置に一致する。このような各第5の信
号は、それが記憶されるサイクルにおける初期位置から
の測定装置14の変位距離を加重するために用いられる
【0043】前記重心は密度の異なる2つの媒体の間の
分離面7の位置を表すので、第6の信号は、密度の異な
る隣合う媒体間の分離面7の位置を表すことになる。
【0044】コンプトン効果により発せられる光子の数
を測定する場合の精度を高めるために、種々の手段が実
施される。
【0045】第1に、X線又はガンマ線の発生源は、調
整された強さの放射線を発する安定ソースであり、それ
によって、異なる瞬間で得られた結果を有効に比較する
ことができる。
【0046】第2に、図2に示すように、エミッター1
から発せられたビーム2の開きが、複数のスロットfi
(ここで、「i」は正の整数である)を有するコリメー
ター3を通過することで減じられる。各スロットは、ビ
ームの伝播方向において約200mmの深さを有し、ま
た、0.1mm〜0.4mmの範囲内にある幅Wと約6
mmの長さLから成る断面を有している。
【0047】各スロットfiは、放射線を遮断する金属
壁により境界が定められ、幅W方向に直角な壁面PWは
非常に薄い。尚、図面の明瞭化のために、W、L及びP
の相対的な寸法は正確ではない。また、各スロットfi
の深さPと幅Wとの間の比が非常に小さいので、長さL
に直角な平面PLにおいて各スロットfiからの基本ビ
ームfei(ここで、「i」は正の整数である)の開き
は非常に小さい。図において、2本の境界の放射線の各
々は、符号DLが付けられた軸線により示されている。 一方、スロットfiの幅Wに直角な平面PWにおいて、
ビームの開きは相当に大きい。これは、深さPに対する
長さLの比が、深さPに対する幅Wの比に比して大きい
からである。2本の境界の放射線の各々には、軸線DW
により符号が付されている。この結果、各基本ビームf
eiは、スロットfiの幅Wと同程度の非常に狭い幅の
断面を有し、一方、この断面の長さは相当に大きく、ス
ロットfiの長さLのオーダーである。
【0048】第1のコリメーター3への入射ビーム2と
、コリメーター3から発せられるビーム4との間の差に
一致する放射線の強度ロスは、スロットfiの幅W方向
に直角である大きな2つの平行な壁面PWにより吸収さ
れる放射線に相当する。
【0049】照射された媒体6内での全強度をより高く
するために、このようなスロットの数は、約30(i=
1〜30)となるように、幅W方向にそれらを積み重ね
ることによって増加され(図2には3つしか示していな
い)、これにより、エミッター1の出口開口から放出さ
れた線束の大部分をピックアップすることができ、従っ
て、準平行平面PWにほぼ平行に隣接する約30本の基
本ビームfeiを形成する。
【0050】これらのスロットfiの各々を通る基本ビ
ームfeiのビーム群がビーム4を発するコリメーター
3の面に平行な共通面S1に収束するような方向に、各
スロットfiは向けられている。面S1の幅WVはスロ
ットfiの幅Wの寸法に近く、その長さLVは長さLに
近い。 基本ビームfeiのビーム群は、前記面S1を含む第1
の共通体積部VC1を通る。
【0051】この体積部VC1は、スロットの長さLに
よって決定される長さを有する細長い形状である。
【0052】同様に、第2のコリメーター9は第1のコ
リメーター3と同様に形成され、それが受ける基本ビー
ムfeiのビーム群10は、そのスロットfiの各々を
経て伝えられた場合に、第2の体積部VC2を画成し、
これは、S1に対応し且つ該S1と交差する或はそこに
近い面S2を有する。これらの2つの体積部VC1,V
C2は共通の体積部を画成するが、この体積部は、小寸
法のほぼ菱形断面の上記基本体積部12であり、入射ビ
ーム4又はビーム10の長さ(スロットfiの長さLに
より決定される長さ)全体にわたり延びる長さを有して
いる。レシーバー11に対する入力部において、ビーム
10の断面積にほぼ等しい面積の検出器は、受光された
光子を電気信号に変換するが、この信号は、受けた光子
の数を表す前記第1の信号を構成する。
【0053】第1及び第2のコリメーター3,9は、各
スロットfiの出口断面が基準面5に平行に延びる長さ
Lを有するよう、配置されている。その結果、前記基本
体積部12の点の全ては前記基準面5からほぼ等しい距
離で配置される。尚、距離面5は、媒体6の一つの前面
に一致し、異なる密度の媒体間の被対象面7に平行であ
ると仮定されている。従って、基準面5から等距離に置
かれた前記基本体積部12の点の全ては実質的に同じ密
度であり、よって、互いに加算され得る同一の信号を発
する。
【0054】本システムは以下のように動作する。前記
基本体積部12が変位され、基準面5にほぼ直角に前記
媒体6を分離する面と交差するように、測定装置14は
、分析されるべき媒体6から前以て決められた距離にあ
る初期位置に配置される。
【0055】この後、コンピューター20はタイムベー
ス21を用いて、測定・演算サイクルのシーケンスを編
成する。各サイクルでは、基準面5及び前述したように
画定された初期位置に対する測定装置14の前以て決め
られた相対変位に関連される。尚、この相対変位は基準
面5、ひいては媒体6を分ける面7にほぼ直角な方向に
行われる。このようなサイクルを以下で説明する。
【0056】まず最初に、タイムベース21は第1の相
対変位コマンド(この実施例では前進コマンド)を発し
、基準面5に直角な方向の変位を制御する前進命令をス
テップモータ23に送ることにより、測定装置14を媒
体6に対して移動させる。
【0057】この後、タイムベース21が積分器24に
命令を発し、積分開始命令を構成する第2のコマンドを
積分器24に与えることで積分が開始される。次いで、
レシーバー11からの第1の信号が時間に対して積分さ
れる。更に、第3のコマンドが積分を停止し、このコマ
ンドは、一定時間経過後にタイムベース21によって積
分器24に伝えられ、それにより積分を停止するもので
ある。得られた積分信号は第2の信号を構成し、減算器
25に伝えられる。
【0058】次いで、タイムベース21が、減算器25
により受信される第3のコマンドを発し、減算器25は
、リード・ライトメモリーに前記第3の信号を記憶する
ことで、作動開始する。この後、減算器25は、受信直
後の第3の信号の値を、前回のサイクル中に受信した第
3の信号の値と共にメモリーから読み出す。そして、こ
の前回の値は受信直後の第3の信号から減算され(例え
ば、デジタル的に)、その減算値は、現サイクルの始め
に実施された変位の長さに対応する前記第3の信号の導
関数を表す第4の信号を構成する。この変位長さがサイ
クル毎に変わる場合、前記第3の信号は現サイクルの始
めにおける変位長さにより割り算され、それにより、変
位方向における測定長さに対応する前記第3の信号の導
関数を表す第4の信号を発生する。
【0059】この後、タイムベース21は、第2の演算
手段27により受信される第4のコマンドを発し、演算
手段27は第4の信号を受信して、前述した第5の信号
、即ち、第4の信号がしきい値を構成する前記正の所定
数を越えた場合のその超過量に対応する信号を発する。
【0060】次に、タイムベース21は、第3の演算手
段28に第5のコマンドを発し、前記第5の信号を記憶
すると共に、随時、重心(前述した)を算出する。かか
る場合、第3の演算手段28はターミナルB2に第6の
信号を伝えるが、この信号は、密度の異なる2つの媒体
を分ける面7の相対位置を表し、媒体を分ける面7に直
角な方向における媒体6に対する測定装置14の相対変
位の値の形で表されている。
【0061】絶対的な位置基準を得るために、第3の演
算手段28は、初期位置に対する測定装置14の変位を
基準面5(分離面7に対して平行で平らであるならば、
例えば、媒体6の前面)に対する変位に変換する。
【0062】測定装置14からのその距離が固定され、
2つのビーム4,8の三角測量法で求められる場合、基
本体積部12の初期位置も基準として用いられる。
【0063】他の方法は、基本体積部12を媒体6の前
面を貫通させることから成り、これにより、分離面7の
位置の次続の測定値に等しい正確度を得て、媒体6の前
面により構成される基準面5と測定装置14との間の距
離の測定誤差を防止することができる。
【0064】媒体間の種々の分離面7について測定され
る一連の位置は、前記分離面7の位置間の差を算出する
ことで、各媒体の正確な位置及び各媒体の厚さを推定す
るのに用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】コンプトン効果を用いる測定を基礎として、密
度の異なる2つの媒体を分離する面の位置を測定するた
めの装置を示すブロック図である。
【図2】本発明による複数のスロットを有するコリメー
ターを示す図である。
【符号の説明】
1    エミッター 2    ビーム 3    第1のコリメーター 4    入射ビーム 5    基準面 6    媒体 7    分離面 8    ビーム 9    第2のコリメーター 10    検出ビーム 11    レシーバー 12    基本体積部 13    サポート 14    測定装置 20    コンピューター 21    タイムベース 22    変位装置 23    ステップモータ 24    積分器 25    減算器 26    第1の演算手段 27    第2の演算手段 28    第3の演算手段

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  密度の異なる2つの媒体の間の分離面
    に平行であり且つ該分離面から一定の距離を置いて配置
    された基準面に対する該分離面の位置を定めるための装
    置であって、前記媒体が、エミッターからのX線又はガ
    ンマ線のビームにより照射されるのに適し且つコンプト
    ン効果により散乱を生じさせるものであり、前記散乱が
    サポートにより支持されたレシーバーにより検出され、
    該レシーバーが第1の信号を発することで前記散乱に応
    答し、前記エミッターが調整された強さでビームを放射
    するようになっている前記装置において、変位、測定及
    び演算過程のシーケンスから成るサイクルに対して順次
    コマンドを発するタイムベースを備えており、前記サイ
    クルにおける前記シーケンスが、前記基準面にほぼ直角
    な線に沿って配置された一連の分析体積部に関連する測
    定に対応するようになっており、前記基準面にほぼ直角
    の方向で該基準面に対して前記サポートの相対変位を制
    御するための変位装置であり、タイムベースにより制御
    される前記変位装置を備えており、少なくとも1つのス
    ロットを有し前記サポートに固定された第1のコリメー
    ターを備えており、該第1のコリメーターは、前記スロ
    ットを通過すると共に媒体間の検出対象の分離面に平行
    に延びる細長い基本体積部の方向に導かれる基本ビーム
    を形成し、前記基本体積部は前記媒体により占有され得
    るものであり、前記第1のコリメーターは前記エミッタ
    ーの出口側に配置されており、複数のスロットを有し前
    記サポートに固定された第2のコリメーターを備えてお
    り、前記複数のスロットは前記基本体積部に向けられ、
    該スロットを通過する基本ビームが前記基本体積部に集
    中するようになっており、前記第2のコリメーターは前
    記レシーバーの検出器の前方に配置されており、前記サ
    ポート、前記エミッター、前記第1のコリメーター、前
    記第2のコリメーター及び前記レシーバーは測定装置を
    構成し、前記基準面に対する該測定装置の位置は前記サ
    ポートの位置と等しくなっており、前記タイムベースの
    制御下で時間に対して積分されるための積分器を備えて
    おり、該積分器は、前記第1の信号を受信すると共に、
    前記タイムベースにより画定される時間にわたっての前
    記第1の信号の時間積分を表す第2の信号を形成するよ
    うになっており、前記タイムベースにより制御される減
    算器を備えており、該減算器は、前記第2の信号を受信
    すると共に、現サイクルにおける前記第2の信号と前回
    のサイクルにおける第2の信号との間の差を表す第3の
    信号を形成することで、前記第2の信号に応答するよう
    になっており、前記タイムベースにより制御される第1
    の演算手段を備えており、該第1の演算手段は、前記第
    3の信号を受信すると共に、前記測定装置と前記基準面
    との間の相対変位の距離に対する前記第3の信号の導関
    数を表す第4の信号を形成することで、前記第3の信号
    に応答するようになっており、前記タイムベースにより
    制御される第2の演算手段を備えており、該第2の演算
    手段は、前記第4の信号を受信すると共に、前記第4の
    信号と同じ符号を有する数を表す第5の信号であって、
    その絶対値が、前記第4の信号から所定の正の数を減ず
    ることにより得られる差が正である場合にはその差に等
    しく、前記差が負又はゼロである場合にはゼロに等しい
    前記第5の信号を形成することで、前記第4の信号に応
    答するようになっており、前記タイムベースにより制御
    される第3の演算手段を備えており、該第3の演算手段
    は、前記第5の信号を受信する第1の入力部を有すると
    共に、前記基準面にほぼ直角な方向において前記基準面
    に対して前記サポートを相対的に変位させるため、前記
    タイムベースにより発せられるコマンドを受信する第2
    の入力部を有しており、且つ、該第3の演算手段は、前
    記第5の信号を記憶し、前記第5の信号がゼロ又は前回
    のサイクルで形成された第5の信号の符号と反対である
    場合には、常に、サイクルにおける前記シーケンスの始
    めでの初期位置に対する測定装置の変位距離を表す第6
    の信号を形成し、該変位距離は、前回のサイクルで算出
    されたゼロでなく同じ符号の第5の信号の最新のシーケ
    ンスに関連する連続距離の重心の相対位置に対応し、こ
    のようなシーケンスの各第5の信号の値は、該第5の信
    号が発生されるサイクルにおいてその初期位置から前記
    測定装置が見いだされる変位位置に加重し、前記重心は
    隣合う2つの媒体間の分離面に配置されるようになって
    いる、2つの媒体間の分離面の位置を定めるための装置
  2. 【請求項2】  前記第1のコリメーターが複数のスロ
    ットを有し、該スロットを通過する基本ビームが前記基
    本体積部で収束するようになっている、請求項1記載の
    2つの媒体間の分離面の位置を定めるための装置。
  3. 【請求項3】  前記基準面に平行な方向において媒体
    に対して前記測定装置を変位させるための装置を備えて
    いる、請求項1記載の2つの媒体間の分離面の位置を定
    めるための装置。
  4. 【請求項4】  それぞれが対応のスロットを通過する
    基本ビームの全てが同じ共通体積部に収束され、該基本
    ビームの寸法の一つが0.1mmないし0.4mmの範
    囲内にある、請求項1記載の2つの媒体間の分離面の位
    置を定めるための装置。
  5. 【請求項5】  密度の異なる2つの媒体の間の分離面
    に平行であり且つ該分離面から一定の距離を置いて配置
    された基準面に対する該分離面の位置を定めるための方
    法であって、前記媒体が、エミッターからのX線又はガ
    ンマ線のビームにより照射されるのに適し且つコンプト
    ン効果により散乱を生じさせるものであり、前記散乱が
    サポートにより支持されたレシーバーにより検出され、
    該レシーバーが第1の信号を発することで前記散乱に応
    答するようになっており、前記基準面にほぼ直角な線に
    沿って離間された一連の分析される体積部に関連する測
    定に対応するサイクルのシーケンスから成る前記方法に
    おいて、前記各サイクルは、前記基準面にほぼ直角な方
    向における該基準面に対する前記サポートの変位を制御
    するための変位装置を制御する工程を有し、前記各サイ
    クルは、前記サポートに固定されたエミッターから、調
    整された強さでX線又はガンマ線のビームを放射する工
    程を有し、前記各サイクルは、少なくとも1つのスロッ
    トを備える第1のコリメーターに前記ビームを通過させ
    ることにより、該ビームに空間的にフィルターをかける
    工程を有しており、前記第1のコリメーターは前記サポ
    ートに固定され、前記スロットを通過する基本ビームは
    、媒体間の検出対象の分離面に平行に延びる細長い基本
    体積部の方向に導かれ、前記基本体積部は前記媒体によ
    り占有され得るものであり、前記第1のコリメーターは
    前記エミッターの出口側に配置されており、前記各サイ
    クルは、複数のスロットを備える第2のコリメーターに
    、前記基本体積部により放射されたコンプトン効果によ
    る放射線を通過させることにより、該放射線に空間的に
    フィルターをかける工程を有しており、前記第2のコリ
    メーターは前記サポートに固定され、前記複数のスロッ
    トは前記基本体積部に向けられ、該スロットを通過する
    基本ビームが前記基本体積部に集中するようになってお
    り、前記第2のコリメーターは前記レシーバーの検出器
    の前方に配置されており、前記サポート、前記エミッタ
    ー、前記第1のコリメーター、前記第2のコリメーター
    及び前記レシーバーは測定装置を構成し、前記基準面に
    対する該測定装置の位置は前記サポートの位置と等しく
    なっており、前記各サイクルは、タイムベースの制御下
    で時間に対して積分を行うために積分器において時間に
    対して前記第1の信号を積分する工程を有しており、該
    積分器は、前記第1の信号を受信すると共に、前記タイ
    ムベースにより画定される時間にわたっての前記第1の
    信号の時間積分を表す第2の信号を形成するようになっ
    ており、前記各サイクルは、前記タイムベースにより制
    御されると共に前記第2の信号を受信する減算器におい
    て、現サイクルにおける前記第2の信号から前回のサイ
    クルにおける第2の信号を減じ、それにより第3の信号
    を形成する工程を有し、前記各サイクルは、前記タイム
    ベースにより制御されると共に前記第3の信号を受信す
    る第1の演算手段において、測定装置と基準面との間の
    相対変位距離に対して前記第3の信号を微分し、それに
    より第4の信号を形成する工程を有し、前記各サイクル
    は、前記タイムベースにより制御されると共に前記第4
    の信号を受信する第2の演算手段においてある数を算出
    する工程を有しており、該数の符号は第4の信号の符号
    と一致し、その絶対値が、前記第4の信号から所定の正
    の数を減ずることにより得られる差が正である場合には
    その差に等しく、前記差が負又はゼロである場合にはゼ
    ロに等しいものとし、それにより第5の信号を形成する
    ようになっており、前記各サイクルは、前記タイムベー
    スにより制御されると共に前記第5の信号を受信する第
    1の入力部を有する第3の演算手段において第6の信号
    を算出する工程を有しており、前記第3の演算手段は、
    前記基準面にほぼ直角な方向において前記基準面に対し
    て前記サポートを相対的に変位させるため、前記タイム
    ベースにより発せられるコマンドを受信する第2の入力
    部を有しており、且つ、該第3の演算手段は、前記第5
    の信号を記憶し、前記第5の信号がゼロ又は前回のサイ
    クルで形成された第5の信号の符号と反対である場合に
    は前記第6の信号を発生し、該第6の信号は、サイクル
    の前記シーケンスの始めでの初期位置に対する測定装置
    の変位距離を表し、該変位距離は、前回のサイクルで算
    出されたゼロでなく同じ符号の第5の信号の最新のシー
    ケンスに関連する連続距離の重心の相対位置に対応し、
    このようなシーケンスの各第5の信号の値は、該第5の
    信号が発生されるサイクルにおいてその初期位置から前
    記測定装置が見いだされる変位位置に加重し、前記重心
    は隣合う2つの媒体間の分離面に配置されるようになっ
    ている、2つの媒体間の分離面の位置を定めるための方
    法。
  6. 【請求項6】  前記第1のコリメーターには、前記基
    本体積部に収束する複数の基本ビームが通過する複数の
    スロットが設けられている、請求項5記載の2つの媒体
    間の分離面の位置を定めるための方法。
JP4015298A 1991-01-30 1992-01-30 2つの媒体間の分離面の位置を定めるための装置及び方法 Pending JPH04318411A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002534698A (ja) * 1999-01-15 2002-10-15 ボルボ エアロ コーポレイション 電磁放射線による遮断物体の表面に対する細長形対象物の位置決定方法及び装置

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DK171492B1 (da) * 1994-06-20 1996-11-25 Wesser & Dueholm Fremgangsmåde til bestemmelse af densitetsprofil i et pladeformet materiale
US5666394A (en) * 1996-04-23 1997-09-09 Northrop Grumman Corporation Thickness measurement gauge
FI990153A0 (fi) * 1999-01-28 1999-01-28 Valtion Teknillinen Tiheysjakaumaltaan homogeenisen materiaalin/puuhakkeen kosteuden on-line mittausmenetelmä perustuen gammasäteilyn transmissioon ja materiaaliin paksuuden mittaukseen
RU2180439C2 (ru) * 2000-02-11 2002-03-10 Кумахов Мурадин Абубекирович Способ получения изображения внутренней структуры объекта с использованием рентгеновского излучения и устройство для его осуществления
US6421418B1 (en) 2000-08-15 2002-07-16 Northrop Grumman Corporation Method and system for detecting hidden edges
EP1258723A1 (en) * 2001-05-18 2002-11-20 Imal S.R.L. Non destructive process for continuously measuring the density profile of panels
RU2242776C2 (ru) * 2002-12-11 2004-12-20 Закрытое акционерное общество "Оптик" Дифракционная решетка и способ ее изготовления
NZ538649A (en) 2005-03-07 2006-10-27 Inst Geolog Nuclear Sciences Estimating strengths of wooden supports using gamma rays
ITMO20050341A1 (it) * 2005-12-23 2007-06-24 Imal Srl Apparecchiatura per la misura di densita' di manufatti, particolarmente di pannelli in materiale incoerente pressato, e metodo relativo

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4165460A (en) * 1977-11-04 1979-08-21 Nasa Coal-rock interface detector
FR2442042A1 (fr) * 1978-11-27 1980-06-20 Labo Electronique Physique Procede et appareil d'examen tomographique par exploration de milieux aux rayons x ou gamma
JPS57197410A (en) * 1981-05-29 1982-12-03 Rigaku Denki Kogyo Kk Measuring method of adhered amount of high polymer film on metallic plate
US5029337A (en) * 1989-01-19 1991-07-02 Tava Corporation Method for measuring coating thickness

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002534698A (ja) * 1999-01-15 2002-10-15 ボルボ エアロ コーポレイション 電磁放射線による遮断物体の表面に対する細長形対象物の位置決定方法及び装置

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Publication number Publication date
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DE69201497T2 (de) 1995-07-20

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