JPH04318422A - 共通制御式試験システム - Google Patents
共通制御式試験システムInfo
- Publication number
- JPH04318422A JPH04318422A JP3085664A JP8566491A JPH04318422A JP H04318422 A JPH04318422 A JP H04318422A JP 3085664 A JP3085664 A JP 3085664A JP 8566491 A JP8566491 A JP 8566491A JP H04318422 A JPH04318422 A JP H04318422A
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- Japan
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- products
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- Pending
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 100
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、共通制御式試験システ
ムに関し、特に複数の製品を同時に検査する試験システ
ムに関する。
ムに関し、特に複数の製品を同時に検査する試験システ
ムに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、製品の検査を行なう時の試験シス
テムとして、すべての試験項目を包含した試験機を準備
して、製品と試験機を１対１で接続して試験する方式が
ある。又、別方式として試験機能を分割して、機能別に
試験機を準備する方式もある。この場合、１つの製品は
、複数の試験機を順次渡って行き所定の試験機をすべて
通ったことにより試験が完了したことになる。この方式
では、更に自動化するために、試験機群と製品との間に
試験機を接続換えする為のスイッチを設け、更に製品と
試験機群とスイッチを制御するための共通的制御装置を
設ける方式に改善したものもある。つまり、複数の製品
をスイッチに接続し、共通制御装置がこのスイッチを切
り換えて試験を実行して行く。例えば、１つの製品に注
目すると試験機Ａ，試験機Ｂ…と各試験機の試験が完了
するごとに次々と試験機が変って行く。次の製品は、前
の製品が試験Ａが終えるのを待って試験Ａを実行するよ
うになっている。このようにして順次試験を進めて行く
。
テムとして、すべての試験項目を包含した試験機を準備
して、製品と試験機を１対１で接続して試験する方式が
ある。又、別方式として試験機能を分割して、機能別に
試験機を準備する方式もある。この場合、１つの製品は
、複数の試験機を順次渡って行き所定の試験機をすべて
通ったことにより試験が完了したことになる。この方式
では、更に自動化するために、試験機群と製品との間に
試験機を接続換えする為のスイッチを設け、更に製品と
試験機群とスイッチを制御するための共通的制御装置を
設ける方式に改善したものもある。つまり、複数の製品
をスイッチに接続し、共通制御装置がこのスイッチを切
り換えて試験を実行して行く。例えば、１つの製品に注
目すると試験機Ａ，試験機Ｂ…と各試験機の試験が完了
するごとに次々と試験機が変って行く。次の製品は、前
の製品が試験Ａが終えるのを待って試験Ａを実行するよ
うになっている。このようにして順次試験を進めて行く
。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の第一の
方式においては、製品と試験機が１対１で対応している
ので、作業は容易だが、試験効率が悪く、全体としてス
ループットが悪くなるという欠点がある。つまり、複数
機能を持っている試験機で、ある１時点を見ると、１試
験機能しか働らいておらず、他の機能は働らいていない
からである。これに対し、第二の方式では、この面で改
善されており、複数製品の同時試験ができる。更に自動
化されていると、作業も容易になる。しかし、この方式
でも各試験の実行時間が全く同じとはなり得ず、前の製
品の試験が終える迄、待ち時間が入ることになり、全体
としてのスループットにまだ不満が残る。
方式においては、製品と試験機が１対１で対応している
ので、作業は容易だが、試験効率が悪く、全体としてス
ループットが悪くなるという欠点がある。つまり、複数
機能を持っている試験機で、ある１時点を見ると、１試
験機能しか働らいておらず、他の機能は働らいていない
からである。これに対し、第二の方式では、この面で改
善されており、複数製品の同時試験ができる。更に自動
化されていると、作業も容易になる。しかし、この方式
でも各試験の実行時間が全く同じとはなり得ず、前の製
品の試験が終える迄、待ち時間が入ることになり、全体
としてのスループットにまだ不満が残る。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の共通制御式試験
システムは、製品の検査を行なう試験システムにおいて
、互いに異なる試験機能を有する複数の試験機と、複数
の製品のそれぞれと前記複数の試験機のそれぞれとの間
を任意の組合せで接続できるスイッチ機構と、前記複数
の試験機と前記スイッチ機構とを制御する共通制御装置
とを備え、前記共通制御装置が、前記複数の試験機ごと
に有する空き塞り状況の出力情報を識別し、空いている
前記試験機と前記複数の製品の一つとを前記スイッチ機
構を介して接続し、試験を実行する構成である。
システムは、製品の検査を行なう試験システムにおいて
、互いに異なる試験機能を有する複数の試験機と、複数
の製品のそれぞれと前記複数の試験機のそれぞれとの間
を任意の組合せで接続できるスイッチ機構と、前記複数
の試験機と前記スイッチ機構とを制御する共通制御装置
とを備え、前記共通制御装置が、前記複数の試験機ごと
に有する空き塞り状況の出力情報を識別し、空いている
前記試験機と前記複数の製品の一つとを前記スイッチ機
構を介して接続し、試験を実行する構成である。
【０００５】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明する
。
。
【０００６】図１は本発明の一実施例のシステム構成図
である。１Ａ，１Ｂは製品、つまり被試験対象品、２は
製品群と試験機群との間の接続を切り換えるスイッチ、
３Ａ〜３Ｃはそれぞれ機能の異なる試験機、４は製品を
制御する製品制御線、５は試験機及びスイッチを制御す
る試験機制御線、６は試験機の空き塞りを識別するため
の空塞識別線、７は試験実行を制御する共通制御装置で
ある。
である。１Ａ，１Ｂは製品、つまり被試験対象品、２は
製品群と試験機群との間の接続を切り換えるスイッチ、
３Ａ〜３Ｃはそれぞれ機能の異なる試験機、４は製品を
制御する製品制御線、５は試験機及びスイッチを制御す
る試験機制御線、６は試験機の空き塞りを識別するため
の空塞識別線、７は試験実行を制御する共通制御装置で
ある。
【０００７】次に動作を説明する。
【０００８】まず、製品１Ａ，１Ｂをスイッチ２に接続
する。これは、共通制御装置７に対する試験開始指示を
兼ねており、共通制御装置７は、空塞識別線６を介して
試験機３Ａ〜３Ｃの内の空き塞りを調べる。この時、全
試験機が空きであったとすると、例えば、製品１Ａと試
験機３Ａと、また製品１Ｂと試験機３Ｂとをスイッチ２
を介して接続する。その後は、製品制御線４及び試験機
制御線５により製品１Ａ，１Ｂと試験機３Ａ，３Ｂを制
御して試験を実行する。
する。これは、共通制御装置７に対する試験開始指示を
兼ねており、共通制御装置７は、空塞識別線６を介して
試験機３Ａ〜３Ｃの内の空き塞りを調べる。この時、全
試験機が空きであったとすると、例えば、製品１Ａと試
験機３Ａと、また製品１Ｂと試験機３Ｂとをスイッチ２
を介して接続する。その後は、製品制御線４及び試験機
制御線５により製品１Ａ，１Ｂと試験機３Ａ，３Ｂを制
御して試験を実行する。
【０００９】さらにその後、製品１Ａの試験が完了する
と、共通制御装置７は、製品１Ａと試験機３Ａとの間の
接続をスイッチ２を切断することにより切り離す。さら
に空塞識別線６により各試験機３Ａ〜３Ｃの空き塞りを
調査する。この時試験機３Ａと３Ｃが空いてきるのを知
り、かつ、製品１Ａがすでに試験機３Ａの試験を終えて
いるのを知っているので、残った試験機３Ｃと製品１Ａ
とをスイッチ２を介して接続し、次の試験を実行する。
と、共通制御装置７は、製品１Ａと試験機３Ａとの間の
接続をスイッチ２を切断することにより切り離す。さら
に空塞識別線６により各試験機３Ａ〜３Ｃの空き塞りを
調査する。この時試験機３Ａと３Ｃが空いてきるのを知
り、かつ、製品１Ａがすでに試験機３Ａの試験を終えて
いるのを知っているので、残った試験機３Ｃと製品１Ａ
とをスイッチ２を介して接続し、次の試験を実行する。
【００１０】この様にして例えば、製品１Ａが一通りの
試験を終えると、共通制御装置７は、プリントアウト又
は、製品の接続位置に対応したランプを点灯させる等に
より、試験終了を知らせる。この場合は、製品１Ｂはま
だ試験実行中であるが、製品１Ａのスイッチ２の接続位
置に、試験完了した製品を外し次の製品を接続すると、
又、最初から試験を始める。
試験を終えると、共通制御装置７は、プリントアウト又
は、製品の接続位置に対応したランプを点灯させる等に
より、試験終了を知らせる。この場合は、製品１Ｂはま
だ試験実行中であるが、製品１Ａのスイッチ２の接続位
置に、試験完了した製品を外し次の製品を接続すると、
又、最初から試験を始める。
【００１１】なお、本実施例では、空塞制御線６を試験
機制御線５と別に設けてあるが、試験機制御線５に空塞
制御情報を通しても同じことである。
機制御線５と別に設けてあるが、試験機制御線５に空塞
制御情報を通しても同じことである。
【００１２】更に、物理的スイッチを設けた構成で説明
してきたが、製品が自動ハンドラ等で試験機間を渡り歩
く方式としても、本発明の意図と変る所はない。
してきたが、製品が自動ハンドラ等で試験機間を渡り歩
く方式としても、本発明の意図と変る所はない。
【００１３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、試験機
を機能別に分割し、製品と試験機群との間にスイッチ機
能を設け、更に各試験機の空き塞り状態を確認しながら
、製品と試験機との接続替えを行なわせるようにしたの
で、１つの試験システムで複数の製品を同時に試験でき
、更に、製品が１つの試験終了後空いている試験機の内
の１つに接続されて次の試験を実行するので、次の試験
への移行の待ち時間が接続替えの時間のみになり、製品
検査全体のスループットが向上するという効果がある。
を機能別に分割し、製品と試験機群との間にスイッチ機
能を設け、更に各試験機の空き塞り状態を確認しながら
、製品と試験機との接続替えを行なわせるようにしたの
で、１つの試験システムで複数の製品を同時に試験でき
、更に、製品が１つの試験終了後空いている試験機の内
の１つに接続されて次の試験を実行するので、次の試験
への移行の待ち時間が接続替えの時間のみになり、製品
検査全体のスループットが向上するという効果がある。
【図１】本発明の一実施例のシステム構成図である。
１Ａ，１Ｂ 製品（被試験対象）２ 製品
群と試験機群との間を切り換えるスイッチ３Ａ〜３Ｃ
試験機 ４ 製品制御線 ５ 試験機制御線 ６ 試験機の空塞識別線 ７ 共通制御装置
群と試験機群との間を切り換えるスイッチ３Ａ〜３Ｃ
試験機 ４ 製品制御線 ５ 試験機制御線 ６ 試験機の空塞識別線 ７ 共通制御装置
Claims (1)
- 【請求項１】 製品の検査を行なう試験システムにお
いて、互いに異なる試験機能を有する複数の試験機と、
複数の製品のそれぞれと前記複数の試験機のそれぞれと
の間を任意の組合せで接続できるスイッチ機構と、前記
複数の試験機と前記スイッチ機構とを制御する共通制御
装置とを備え、前記共通制御装置が、前記複数の試験機
ごとに有する空き塞り状況の出力情報を識別し、空いて
いる前記試験機と前記複数の製品の一つとを前記スイッ
チ機構を介して接続し、試験を実行するようにしたこと
を特徴とする共通制御式試験システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3085664A JPH04318422A (ja) | 1991-04-18 | 1991-04-18 | 共通制御式試験システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3085664A JPH04318422A (ja) | 1991-04-18 | 1991-04-18 | 共通制御式試験システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04318422A true JPH04318422A (ja) | 1992-11-10 |
Family
ID=13865092
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3085664A Pending JPH04318422A (ja) | 1991-04-18 | 1991-04-18 | 共通制御式試験システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04318422A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007271590A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Eudyna Devices Inc | 試験システムおよびその制御方法 |
| JP2007292723A (ja) * | 2006-03-29 | 2007-11-08 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 自動試験システム |
| JP2010025589A (ja) * | 2008-07-15 | 2010-02-04 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 試験装置及び試験プログラム |
| JP2012149975A (ja) * | 2011-01-19 | 2012-08-09 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 測定試験装置および測定試験方法 |
-
1991
- 1991-04-18 JP JP3085664A patent/JPH04318422A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007292723A (ja) * | 2006-03-29 | 2007-11-08 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 自動試験システム |
| JP2007271590A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Eudyna Devices Inc | 試験システムおよびその制御方法 |
| JP2010025589A (ja) * | 2008-07-15 | 2010-02-04 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 試験装置及び試験プログラム |
| JP2012149975A (ja) * | 2011-01-19 | 2012-08-09 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 測定試験装置および測定試験方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19991005 |