JPH0432728A - コヒーレント光選択分光方法及び装置 - Google Patents

コヒーレント光選択分光方法及び装置

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JPH0432728A
JPH0432728A JP13951790A JP13951790A JPH0432728A JP H0432728 A JPH0432728 A JP H0432728A JP 13951790 A JP13951790 A JP 13951790A JP 13951790 A JP13951790 A JP 13951790A JP H0432728 A JPH0432728 A JP H0432728A
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JP
Japan
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light
lens
pinhole
optical system
slit
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JP13951790A
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English (en)
Inventor
Toshiyuki Nagoshi
利之 名越
Tsutomu Ichimura
市村 勉
Fumio Inaba
稲場 文男
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Japan Science and Technology Agency
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Research Development Corp of Japan
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はコヒーレント光選択分光装置に関するものであ
る。
〔従来の技術〕
従来より、物質の分析手段として用いられている光の吸
収スペクトルを測定する分光光度計や螢光スペクトルを
測定する螢光光度計の基本構成部に使われており、発光
スペクトル等の測定にも用いられている分光器は広く知
られている。
このような従来の分光測定装置を第11図、第12図に
より説明する。
第11図において、発光体lからの光をスリット2によ
り線光源と見做せるようにして抽出し、スリット2の位
置を前側焦点とするレンズ系L1により線光源からの光
を平行光の束とし、レンズ系Llの後側焦点位置に置い
たスリット4およびスリット4を焦点面とするレンズL
2でスリットの各点光源から放射された光の直進成分(
平面波)の光束の束のみを抽出し、回折格子5に入射さ
せる。そして、回折格子5によって生ずる干渉光をレン
ズL3で検出器7に結像して検出すると、平面波に含ま
れる各波長成分が回折格子の出射側において角度分散し
、分光測定することかできる。
第12図は、カセグレイン光学系を使用して線光源と見
なせるスリット2からの光を集光して光量をかせぐよう
にしたものであり、他の構成は第11図の場合と同じで
ある。
ここで、第11図、第12図は透過型の回折格子の例を
示しであるか、反射型の回折格子の場合、回折格子5を
反射型とし、レンズL3と検出器7をレンズL2側に配
置して分光測光する。また、レズLl、L2.L3は反
射鏡も使用されている。
[発明か解決しようとする課題〕 ところで、従来の分光測定装置は、発光体1からの光を
スリットで抽出し、スリットを透過した光が点光源の集
まりの線光源と見なせる状態にして行っていた。これは
、光源が大きさを持つと光源の異なる位置から出射され
る異なる波長成分を同一波長成分として分光器で検出し
てしまう可能性があり、正確に波長分散することかでき
ないという考え方に基づくものである。そのため、従来
理想的分解能を求めるどきは第11図に示すように、無
限小の開口をもつスリット2て点光源か線状に並んだも
のとし、レンズ系L1、スリブ1〜4、レンズL2で直
進成分(光軸方向に進む平面波)の光束の束のみを得る
ようにしていた。しかし、このような従来の方式では光
源を無限小幅として扱うために光量が非常に少なくなっ
てしまうという問題があり、スリット幅を拡げて分解能
を犠牲にして光量をかせぐか、スリット幅を一定にした
場合は、いかに入射立体角を大きくするかか課題であっ
た。そのため、第11図では大口径のレンズを用いて受
光角を大きくし、また、第12図においてはカセグレイ
ン受光系を用いて入射立体角を大きくして光量をかせぐ
ようにしていた。このような従来の入射立体角を大きく
して光量をかせぐ方法は、分光する発光体が点光源とみ
なせるようなものや、入射スリットとほぼ同じ線光源の
場合には適している。
しかしながら、発光体が面発光のように大きな場合、分
光に利用されるのは入射スリットと同じ部分だけで、そ
の他は捨てていることになる。
本発明はこのような点に鑑みてなされたもので、発光ス
ペクトルが全域でほぼ同じとみなせる面発光に適したも
ので、分光のための入射光量を飛躍的に増加させ、単位
面積当たりのエネルギを高密度化することができるコヒ
ーレント光選択分光装置を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、試料からの光を光学系に通してフラウンホー
ファ回折像を形成し、該フラウンホーファ回折像の0次
成分の一部または全部を、あるいは0次成分と同じ幅の
スリット状成分の一部または全部を抽出し、分光測定す
ることを特徴としている。
〔作用〕 本発明は面発光体のような試料からの光のフラウンホー
ファ回折像の0次成分を抽出すれば光軸に平行な直進成
分を得ることができることを利用し、レンズ系により生
じたフラウンホーファ回折像のO次成分を、あるいは0
次成分と同じ幅のスリット状成分の一部または全部を所
定の開口径を有するピンホールあるいはスリットで抽出
するようにしたものであり、従来のように対象を点光源
や線光源とすることかないので光■を飛躍的に増大させ
て分光することができる。そして、面発光体からの光を
大口径レンズで集光し、これを小径の光束に変換するこ
とにより一層単位面積当たりのエネルギを大きくして分
光することか可能となる。
〔実施例〕
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
先ず、第1図〜第3図により本発明の分光方法について
説明する。
第2図に示すようにレンズLOにコヒーレント光を入射
させるとその焦点距離fの位置ではフラウンホーファ回
折像が観測される。これはエアリ−ディスクと呼ばれる
ものであり、円形レンズを用いれば円形状の暗輪か形成
され、レンズ口径に対応した径を有する第1暗輪内の領
域、すなわち0次成分はもっとも明るい領域となり、こ
の第1暗輪の大きさの開口に平面波を入射させたことと
等しい波面を形成する。いま、円形レンズの開口径をD
r、焦点距離をf、第1暗輪の直径をD、波長をλとす
ると、 Dr て与えられる。
このことは、第3図(A)に示すようにレンズLOの焦
点位置に開口径りのピンホール板Pを配置し、レンズL
Oの光軸方向のコヒーレント光が入射したとすると、ピ
ンホール板Pの開口径から発散球面波Q2が放射され、
レンズLlで平面波S2となる。このことは、第3図(
B)のようにピンホールP側から平面波SOか入射した
ときに、ピンホールの開口を通った光は回折により球面
波成分を含んだ波Q2のように伝播し、レンズI71て
平面波S2に変換されることを意味している。
したかって、レンズL1の開口径、焦点距離、波長によ
り決まる(1)式のフラウンホーファ回折像の第1暗輪
の大きさ以下のピンホールを配置し、レンズLOて決ま
るフラウンホーファ回折像の第1暗輪のピンホール9の
大きさに合い、口径がレンズL lより大きいレンズを
用いることにより、発光面より放射される光束の中の平
面波成分Slを損失することなく、しかもレンズL1と
レンズL2の面積比分たけエネルギー密度を高く取り出
すことができる。さらに、ピンホールの代わりにピンホ
ールの大きさと同じ幅のスリットを回折格子溝方向に配
置することにより、スリットの高さ方向のエネルギーを
従来のようにかせげるため、入射光量を飛躍的に増加さ
せて分光測定することか可能である。
第1図はこのような考え方に基づく本発明のコヒーレン
ト光選択分光方法を説明するだめの図である。図中、S
は面発光体、LOはレンズ、Pはピンポール板、Ll、
L2はレンズ、Gは透過型回折格子、Dは検出器である
レンズL Oは受光口径の大きな凸レンズであり、ぞの
前方の任意位置に分光測定対象試料、例えば生物試料等
の面発光体Sを配置する。スリブl−板PはレンズLO
のほぼ焦点位置に配置され、スリン]・幅は前述の(1
)式を満足するものであり、レンズLOによるフラウン
ホーファ回折像の0次成分(直進成分)のスリット状に
並んだ光束のみを透過させることかできる大きさ(回折
限界)である。
なお、スリット幅は0次回折像の一部を透過させること
かできる大きさでもよい。L・ンズL1はピンホール位
置を焦点面とする口径の小さいレンズであり、レンズ■
、0とF値が同じ場合、レンズLOによりピンホール位
置に形成された0次成分を全て取り出して平面波を得る
ためのものである。
レンズLlの後方には透過型回折格子Gを配置し、回折
光をレンズL2で検出器り上に結像させるようにしてい
る。
このような構成において、面発光体Sからの光を受光]
」径の大きいレンズLOて集光し、ピンホール位置にフ
ラウンホーファ回折像を形成すると、ビンポール径は(
1j式を満足するようになっているのでフラウンホーフ
ァ回折像の0次回折像のみが透過し、レンズLlにより
平行光束に変換されて透過型回折格子Gに入射する。回
折格子Gでは波長に応じて出射角度が異なるので、この
回折光をレンズL2で検出器り上に結像すれば分光測定
することかできる。
二のように本発明においては、面光源からの直進成分を
受光口径の大きいレンズLOで集光し、回折限界までピ
ンホール径を拡げて直進成分を抽出するようにしている
ので、従来のように点光源や線光源からの光束を広角度
で検出する場合に比して大幅に光量を増やすことが可能
となる。なお、レンズLOの口径をLlの口径に比して
大きくし、F値を同じにしておくことにより両レンズの
面積比だけ回折格子Gへ入射する直進成分の単位面積当
たりのエネルギを大きくすることができる。
第4図はカセグレイン光学系を用いた本発明の他の実施
例を示す図である。
本実施例においては、図示しない面発光体からの光を開
口11を通してカセグレイン光学系10に取り込み、凸
面鏡13、凹面鏡12によりピンホール板Pの位置にフ
ラウンホーファ回折像を形成し、ピンホールにより直進
成分のみを抽出し、さらに凹面鏡16、凸面鏡17によ
り光束径を小さくして開口15より平面波として取り出
し、図示しない回折格子へ入射させるようにしている。
本実施例においても開口11で取り込んだ光束を開口1
5の径に変換することによりエネルギ密度を上げること
ができる。
第5図はカメラレンズを使用した他の実施例を示す図で
ある。
本実施例においては、大口径でF値の小さなカメラレン
ズ20により図示しない面発光体からの光を取込み、カ
メラレンズによるフラウンホーファ回折像の0次回折光
をピンホールにより抽出し、0次回折光を対物レンズ2
1て平面波に変換し、この平面波を反射型回折格子22
に入射させ、回折像を結像レンズ23で検出器24上に
結像させて分光測定を行っている。
また、第6図に示すように回折格子を透過型回折格子2
5として分光するようにしてもよい。
第7図はマイケルソン干渉計を用いて分光するようにし
た他の実施例を示す図である。
本実施例においては、ピンホールで抽出した直進成分を
レンズL1で平面波に変換してマイケルソン干渉計30
に入射させる。干渉計への入射光はハーフミラ−33で
二分され、一方は固定ミラー31で反射され、他方は可
動ミラー32で反射され、ハーフミラ−で合成されて検
出器34で検出される。可動ミラー32は連続的に動か
され、固定ミラー31と可動ミラー32て反射される光
の光路差が0〜1波長の間で変化するのに応して検出器
で検出される強度は周期的に変化し、この信号をフーリ
エ変換することにより各波長成分を求めることができる
第8図はマイケルソン干渉計を用いた他の実施例を示す
図である。
本実施例においては、マイケルソン干渉計42に対物レ
ンズ43を組み込んで一体化し、図示しない面発光体か
らの光をカメラレンズ41で取り込むようにしたもので
ある。
第9図はマイケルソン干渉計を使用した他の実施例を示
し、第8図における対物レンズ43の代わりにカセグレ
イン光学計45を使用した点か異なるのみで、他の構成
は同じである。
第10図は望遠鏡とマイケルソン干渉計を組み合わせた
他の実施例を示す図である。
本実施例においては望遠鏡51により面発光体Sからの
光を取込み、ピンホール位置にフラウンホーファ回折像
を形成するようにしたものである。
本実施例においては焦点距離が十分大きくなるので、直
進成分を抽出するピンホール径を大きくするか可能であ
る。
なお、上記実施例では回折格子、マイケルソン干渉計を
用いて分光する例について説明したか、この他プリズム
等の分散型分光方式、空間干渉型フーリエ分光方式等を
用いてもよいことは勿論である。
〔発明の効果〕
以上のように本発明によれば、ピンホールまたはスリッ
トによりフラウンホーファ回折像の0次成分、あるいは
O次成分の幅分のスリット像成分を抽出するようにした
ので、同じF値の二枚の集光レンズの口径比の違うもの
を用いることにより、試料から取り込む光束径を大きく
し、分光装置への入射光束径を小さくすることにより分
光エネルギを高密度化することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のコヒーレント光選択分光方法を説明す
るための図、第2図はフラウンホーファ回折像を説明す
るための図、第3図(A)はピンホールによる回折成分
の反射を説明するための図、第3図(B)はピンホール
に平面波入射をしたときの説明図、第4図はカセグレイ
ン光学系を用いた本発明の他の実施例を示す図、第5図
はカメラレンズを使用した他の実施例を示す図、第6図
は透過型回折格子を使用した実施例を示す図、第7図、
第8図、第9図、第1O図はマイケルソン干渉計を用い
た他の実施例を示す図、第11図、第12図は従来の分
光装置を説明するための図である。 S・・・面発光体、LO・・・レンズ、P・・・ピンホ
ール板、Ll、L2・・・レンズ、G・・・透過型回折
格子、D・・・検出器。 第6 図 (A) 第1 第2図 第4図 第5図 第10図 第11図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試料からの光を光学系に通してフラウンホーファ
    回折像を形成し、該フラウンホーファ回折像の0次成分
    の一部または全部を、あるいは0次成分と同じ幅のスリ
    ット状成分の一部または全部を抽出し、分光測定するこ
    とを特徴とするコヒーレント光選択分光方法。
  2. (2)試料からの光が入射される所定の口径を有する第
    1光学系と、第1光学系によるフラウンホーファ回折像
    の0次成分の一部または全部を、あるいは0次成分と同
    じ幅のスリット状成分の一部または全部を透過させる大
    きさの開口を有するピンホールあるいはスリットと、ピ
    ンホールあるいはスリットを前側焦点とする第2光学系
    と、第2光学系からの平面波が入射される分光器とを備
    え、ピンホールあるいはスリットからの回折光を選択し
    て分光することを特徴とするコヒーレント光選択分光装
    置。
  3. (3)請求項2記載の装置において、前記第1光学系は
    受光口径の大きなレンズからなるとともに、第2光学系
    は受光口径の小さなレンズからなり、第1光学系のF値
    が第2光学系のF値以下であり、第1光学系に入射され
    る試料からの光束を小束の光束に変換し、単位面積当た
    りのエネルギーを大きくして分光することを特徴とする
    コヒーレント光選択分光装置。
  4. (4)請求項2記載の装置において、分光器は透過型ま
    たは反射型回折格子を有することを特徴とするコヒーレ
    ント光選択分光装置。
  5. (5)請求項2記載の装置において、分光器はマイケル
    ソン干渉計を有することを特徴とするコヒーレント光選
    択分光装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016142522A (ja) * 2015-01-29 2016-08-08 国立大学法人 香川大学 分光特性測定装置
WO2019077932A1 (ja) * 2017-10-19 2019-04-25 コニカミノルタ株式会社 回折光除去スリット及びこれを用いた光学式検体検出システム
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016142522A (ja) * 2015-01-29 2016-08-08 国立大学法人 香川大学 分光特性測定装置
WO2019077932A1 (ja) * 2017-10-19 2019-04-25 コニカミノルタ株式会社 回折光除去スリット及びこれを用いた光学式検体検出システム
JPWO2019077932A1 (ja) * 2017-10-19 2020-11-05 コニカミノルタ株式会社 回折光除去スリット及びこれを用いた光学式検体検出システム
US11169090B2 (en) 2017-10-19 2021-11-09 Konica Minolta, Inc. Diffracted light removal slit and optical sample detection system using same
CN111060287A (zh) * 2019-11-22 2020-04-24 北京空间机电研究所 一种光栅光谱仪光学系统焦距和狭缝尺寸计算方法
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