JPH0432968B2 - - Google Patents
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- JPH0432968B2 JPH0432968B2 JP59098534A JP9853484A JPH0432968B2 JP H0432968 B2 JPH0432968 B2 JP H0432968B2 JP 59098534 A JP59098534 A JP 59098534A JP 9853484 A JP9853484 A JP 9853484A JP H0432968 B2 JPH0432968 B2 JP H0432968B2
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- measurement
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/02—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation
- G01D3/022—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation having an ideal characteristic, map or correction data stored in a digital memory
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Technology Law (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
発明の背景
Ａ 技術分野
本発明は温度測定などに使用できる測定情報処
理装置に関するものであり、特に検出手段より入
力される測定情報を検出素子の特性に従つて補正
処理する測定情報処理装置に関するものである。
理装置に関するものであり、特に検出手段より入
力される測定情報を検出素子の特性に従つて補正
処理する測定情報処理装置に関するものである。
Ｂ 先行技術との問題点
測定情報を処理する処理装置は被測定部の測定
情報を検出する必要がある。例えば生体の温度を
検出する場合、温度検出用素子としてサーミスタ
を使用することが多い。しかしながら、この種の
検出素子は測定値／出力特性の値（例えば温度抵
抗値特性等）にばらつきがあり、そのままで使用
すれば計測誤差を生じ、正確な計測は不可能であ
る。
情報を検出する必要がある。例えば生体の温度を
検出する場合、温度検出用素子としてサーミスタ
を使用することが多い。しかしながら、この種の
検出素子は測定値／出力特性の値（例えば温度抵
抗値特性等）にばらつきがあり、そのままで使用
すれば計測誤差を生じ、正確な計測は不可能であ
る。
検出素子の特性値にばらつきがある場合には、
特性値によつて選別を行い特性値のバラツキによ
る計測誤差が許容範囲内にあるもののみを用い他
のものは捨て去るか、特性値のばらつきを補正す
る目的で検出素子に他の部品を付加して調整を行
う等によつて計測用プローブの出力特性を均一化
して互換性を持たせ、温度計測を行なつている。
しかし、前者の場合には歩留りが悪くなり、計測
用プローブの価格が高くなる。また、後者の場合
には他の部品を付加し、調整を施すのに困難を伴
う場合が多い。
特性値によつて選別を行い特性値のバラツキによ
る計測誤差が許容範囲内にあるもののみを用い他
のものは捨て去るか、特性値のばらつきを補正す
る目的で検出素子に他の部品を付加して調整を行
う等によつて計測用プローブの出力特性を均一化
して互換性を持たせ、温度計測を行なつている。
しかし、前者の場合には歩留りが悪くなり、計測
用プローブの価格が高くなる。また、後者の場合
には他の部品を付加し、調整を施すのに困難を伴
う場合が多い。
更に、プローブの特性に対応して特性値の補正
情報をプローブ上に補償コードで記録し、このコ
ードを読んでデジタルスイツチでマイクロコンピ
ユータに入力して、特性値を補償するもの（特開
昭59−40113）や、プローブ側のメモリにプロー
ブの特性に対応して補償データを記憶しておき、
この補償データを電気的に読みとつて、測定回路
上で特性値を補償するもの（特開昭58−127119）
がある。
情報をプローブ上に補償コードで記録し、このコ
ードを読んでデジタルスイツチでマイクロコンピ
ユータに入力して、特性値を補償するもの（特開
昭59−40113）や、プローブ側のメモリにプロー
ブの特性に対応して補償データを記憶しておき、
この補償データを電気的に読みとつて、測定回路
上で特性値を補償するもの（特開昭58−127119）
がある。
しかしながら、前者はデジタルスイツチによる
入力であるため操作性に問題があり、一方後者は
コネクタピンによる電気的な読みだしであるた
め、接触不良による補償ミスが測定ミスにつなが
つたり、経年変化も常に問題となつてきた。特
に、医用検査装置などに使用されると、コネクタ
部分に触れる液体の塩分濃度は生理食塩水程度の
濃度を持つているので、含まれている塩分がコネ
クタピンの電気的導通性を害し、接触不良の大き
な原因となつていた。
入力であるため操作性に問題があり、一方後者は
コネクタピンによる電気的な読みだしであるた
め、接触不良による補償ミスが測定ミスにつなが
つたり、経年変化も常に問題となつてきた。特
に、医用検査装置などに使用されると、コネクタ
部分に触れる液体の塩分濃度は生理食塩水程度の
濃度を持つているので、含まれている塩分がコネ
クタピンの電気的導通性を害し、接触不良の大き
な原因となつていた。
発明の目的
本発明の目的は、プローブを接続するだけで、
測定情報を検出する検出素子の特性情報のバラツ
キに対応して、安定して測定情報を補正処理する
測定情報処理装置を提案することにある。
測定情報を検出する検出素子の特性情報のバラツ
キに対応して、安定して測定情報を補正処理する
測定情報処理装置を提案することにある。
本願発明の目的は、検出素子と、該検出素子が
検出した情報を電気信号として出力する出力端子
と、前記検出素子の特性に対応するコード情報を
磁気的に保持する磁気情報保持手段と、前記出力
手段と保持手段との間にあつて、前記両手段を磁
気的に絶縁する絶縁手段とを含むプローブと、 該プローブの被装着部を有する検出情報処理部
であつて、前記プローブが装着されたときに前記
出力端子と電気的に結合される入力端子と、前記
保持手段が保持する前記コード情報を磁気的に読
み取る位置に置かれる磁気情報読取手段と、該磁
気情報読取手段が読み取つた前記コード情報に対
応した補正情報に基づいて、前記電気信号による
情報を補正する補正手段とを含む検出情報処理部
と、 を備えることを特徴とする測定情報処理装置によ
つて達成される。
検出した情報を電気信号として出力する出力端子
と、前記検出素子の特性に対応するコード情報を
磁気的に保持する磁気情報保持手段と、前記出力
手段と保持手段との間にあつて、前記両手段を磁
気的に絶縁する絶縁手段とを含むプローブと、 該プローブの被装着部を有する検出情報処理部
であつて、前記プローブが装着されたときに前記
出力端子と電気的に結合される入力端子と、前記
保持手段が保持する前記コード情報を磁気的に読
み取る位置に置かれる磁気情報読取手段と、該磁
気情報読取手段が読み取つた前記コード情報に対
応した補正情報に基づいて、前記電気信号による
情報を補正する補正手段とを含む検出情報処理部
と、 を備えることを特徴とする測定情報処理装置によ
つて達成される。
そして好適な態様に従えば、前記補正手段は、
前記コード情報に各々が対応する複数の補正テー
ブルを有し、該補正テーブルに基づいて前記電気
信号による情報を補正することを特徴とする。
前記コード情報に各々が対応する複数の補正テー
ブルを有し、該補正テーブルに基づいて前記電気
信号による情報を補正することを特徴とする。
発明の具体的説明
以下、図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。
る。
第１図は本発明の一実施例の全体構成を示すブ
ロツク図、第２図は同じく回路図である。
ロツク図、第２図は同じく回路図である。
本発明は前述したように、測定情報を処理する
処理装置であつて、温度計測カテーテル２などの
検出手段からの測定情報の入力部として機能する
コネクタ１３、測定部の特性情報入力手段である
磁気検出素子１２と、入力された特性情報に従つ
て処理を実行する処理手段３０から成るものであ
るが、説明の便宜上、検出手段から順次説明をす
る。
処理装置であつて、温度計測カテーテル２などの
検出手段からの測定情報の入力部として機能する
コネクタ１３、測定部の特性情報入力手段である
磁気検出素子１２と、入力された特性情報に従つ
て処理を実行する処理手段３０から成るものであ
るが、説明の便宜上、検出手段から順次説明をす
る。
第３図は本発明の一実施例に適用する温度計測
カテーテルとその接続部の構造を示す図である。
図中、１はカテーテル接続部であり、磁化されず
絶縁性を持つ物質、例えばプラスチツク等よりな
る。２は温度計測カテーテル、３はサーミスタよ
りなる温度検出用素子、４は温度検出用素子３と
接続ピン５とを接続するリード線、５は接続ピ
ン、６は磁石、７は磁石６を収納するための凹部
である。
カテーテルとその接続部の構造を示す図である。
図中、１はカテーテル接続部であり、磁化されず
絶縁性を持つ物質、例えばプラスチツク等よりな
る。２は温度計測カテーテル、３はサーミスタよ
りなる温度検出用素子、４は温度検出用素子３と
接続ピン５とを接続するリード線、５は接続ピ
ン、６は磁石、７は磁石６を収納するための凹部
である。
また第４図に第３図に示すカテーテル接続部１
と対をなす接続部の構造を示す。図中１１は第１
図のカテーテル接続部１と対をなす接続部、１２
は凹部７に配設された磁石６の磁気を検出する磁
気検出素子、１３は第３図の接続ピン５の接続ソ
ケツト、１４はリード線である。また１５は計測
信号を処理する信号処理装置である。
と対をなす接続部の構造を示す。図中１１は第１
図のカテーテル接続部１と対をなす接続部、１２
は凹部７に配設された磁石６の磁気を検出する磁
気検出素子、１３は第３図の接続ピン５の接続ソ
ケツト、１４はリード線である。また１５は計測
信号を処理する信号処理装置である。
使用に際しては、接続部１の空洞内に接続部１
１を挿入し、接続ピン５とソケツト１３とを接続
すると共に磁石６の有無を磁気検出素子１２で検
出する様両者を結合する。
１を挿入し、接続ピン５とソケツト１３とを接続
すると共に磁石６の有無を磁気検出素子１２で検
出する様両者を結合する。
温度計測カテーテル２に内蔵された温度検出用
素子３によつて生体内の温度情報が電気信号に変
換され、リード線４によつて接続ピン５へ電気信
号が伝えられる。しかしこの電気信号の値は温度
検出用素子３の種類、製造上のばらつき等によつ
て同一ではない。
素子３によつて生体内の温度情報が電気信号に変
換され、リード線４によつて接続ピン５へ電気信
号が伝えられる。しかしこの電気信号の値は温度
検出用素子３の種類、製造上のばらつき等によつ
て同一ではない。
接続部１には磁石６が配設できるように凹部７
が設けられており、この凹部７の中に磁石６があ
るかないかの２種類の状態が作られることにな
る。そして凹部７がＮ個設けられている場合に
は、その状態が2N通り作られることになる。この
ため凹部７に重み付けを行うことにり2Nのコード
化した値が得られる。
が設けられており、この凹部７の中に磁石６があ
るかないかの２種類の状態が作られることにな
る。そして凹部７がＮ個設けられている場合に
は、その状態が2N通り作られることになる。この
ため凹部７に重み付けを行うことにり2Nのコード
化した値が得られる。
上述の温度検出用素子３ののばらつきが既に判
明している場合にはそのばらつきの分布を計測の
許容誤差で分割して何通りかに分類することが可
能である。その分類に従つて、検出用素子３の特
性値を前述した凹部７中の磁石６の有無によつて
作られる状態と対応付けることができる。
明している場合にはそのばらつきの分布を計測の
許容誤差で分割して何通りかに分類することが可
能である。その分類に従つて、検出用素子３の特
性値を前述した凹部７中の磁石６の有無によつて
作られる状態と対応付けることができる。
その際分類した数がＡ通りであつたとすると、
Ｎ≧log2Aにする凹部の数を設ければ良く、磁石
も最大Ｎ個あれば良い。そして凹部の数と同数の
接続部１１に配置された磁気検出素子１２によつ
てその状態を検知し、信号処理装置へリード線１
４を介して伝えられ、同時に接続ソケツト１３を
介して伝えられる温度検出用素子３の電気信号に
対する補正が信号処理装置１５によつて、適宜の
方法で行なわれるので、温度検出用素子３の特性
値にばらつきがある場合にも温度計測カテーテル
が互換性を持つ。
Ｎ≧log2Aにする凹部の数を設ければ良く、磁石
も最大Ｎ個あれば良い。そして凹部の数と同数の
接続部１１に配置された磁気検出素子１２によつ
てその状態を検知し、信号処理装置へリード線１
４を介して伝えられ、同時に接続ソケツト１３を
介して伝えられる温度検出用素子３の電気信号に
対する補正が信号処理装置１５によつて、適宜の
方法で行なわれるので、温度検出用素子３の特性
値にばらつきがある場合にも温度計測カテーテル
が互換性を持つ。
この凹部の磁石の配設は上述の温度検出用素子
３の分類に対応した凹部７の上部開口部より磁石
６を配置し、この凹部７上面より全面を覆うカバ
ーを接着する。又は凹部７の下部開口部より磁石
６を配置し、下部全面を覆うカバーを接着する様
にしてもよい。凹部７に重み付けを行ない磁石６
の有無により記号化して得られた値を上述の分類
した温度検出用素子３の特性値のばらつきと対応
付けた例を第５図に示す。
３の分類に対応した凹部７の上部開口部より磁石
６を配置し、この凹部７上面より全面を覆うカバ
ーを接着する。又は凹部７の下部開口部より磁石
６を配置し、下部全面を覆うカバーを接着する様
にしてもよい。凹部７に重み付けを行ない磁石６
の有無により記号化して得られた値を上述の分類
した温度検出用素子３の特性値のばらつきと対応
付けた例を第５図に示す。
図中２０は温度検出用素子の特性分布であり、
２１は計測の許容誤差で分割した分割例を示す。
例えば特性値44〜46にある温度検出用素子の場合
には、磁石６はコード化された値で７となる様に
配設される。以上の説明では検出素子として温度
計測に用いるサーミスタを使用した例について述
べたが、温度や歪の測定等、用途の全く異なる検
出素子に対しても同様に扱うことが可能であり、
多くの種類の検出素子に対して互換性を特つ。
２１は計測の許容誤差で分割した分割例を示す。
例えば特性値44〜46にある温度検出用素子の場合
には、磁石６はコード化された値で７となる様に
配設される。以上の説明では検出素子として温度
計測に用いるサーミスタを使用した例について述
べたが、温度や歪の測定等、用途の全く異なる検
出素子に対しても同様に扱うことが可能であり、
多くの種類の検出素子に対して互換性を特つ。
尚、磁気検出素子１２としてホール素子、リー
ドスイツチ、磁気抵抗素子等が挙げられ、信号処
理装置１５による補正法として四則演算による演
算処理、表化した対応処理等が挙げられる。
ドスイツチ、磁気抵抗素子等が挙げられ、信号処
理装置１５による補正法として四則演算による演
算処理、表化した対応処理等が挙げられる。
また磁石６の代わりにフエライト等の磁性体を
配設し、プローブの外観が完成してから着磁させ
てもよい。この様にすることにより製造工程上非
常に簡単となる。
配設し、プローブの外観が完成してから着磁させ
てもよい。この様にすることにより製造工程上非
常に簡単となる。
次に以上の構成より成る計測用プローブを用い
て温度計測を行なう信号処理装置１５を第１図及
び第２図を参照して説明する。
て温度計測を行なう信号処理装置１５を第１図及
び第２図を参照して説明する。
第５図は信号処理装置のブロツク図であり、カ
テーテル接続部１、及び接続部１１はコネクタと
して機能し、また接続部１１は信号処理装置１５
の筐体の外部に臨むように設けられている。信号
処理装置１５には特定の温度に従属したサーミス
タの抵抗値を求める抵抗値測定回路３２、回路３
２が求めた抵抗値をデイジタル値に変換するＡ／
Ｄ変換器３４を含む。
テーテル接続部１、及び接続部１１はコネクタと
して機能し、また接続部１１は信号処理装置１５
の筐体の外部に臨むように設けられている。信号
処理装置１５には特定の温度に従属したサーミス
タの抵抗値を求める抵抗値測定回路３２、回路３
２が求めた抵抗値をデイジタル値に変換するＡ／
Ｄ変換器３４を含む。
磁気検出素子１２が検出した温度検出素子の特
性値はデコーダ３６に与えられる。デコーダ３６
のデコード出力はROM３８の読み出しアドレス
としてROM３８に与えられる。ROM３８には
予め温度検出用プローブの種別、特性値等に応じ
た補正値が記憶されており、指定されたアドレス
のROMのデータがマイクロプロセツサへ読み出
される。マイクロプロセツサ４０は実施例に従つ
た処理手順を格納するROM、処理経過結果を記
憶するRAMを内部に備え、Ａ／Ｄ変換器３４か
らデイジタル化された温度情報を読み込み、補正
用ROM３８から読み込んだ補正データに基づき
マイクロプロセツサ４０が補正演算を行い、求め
た温度情報を表示記録部４２に出力する。
性値はデコーダ３６に与えられる。デコーダ３６
のデコード出力はROM３８の読み出しアドレス
としてROM３８に与えられる。ROM３８には
予め温度検出用プローブの種別、特性値等に応じ
た補正値が記憶されており、指定されたアドレス
のROMのデータがマイクロプロセツサへ読み出
される。マイクロプロセツサ４０は実施例に従つ
た処理手順を格納するROM、処理経過結果を記
憶するRAMを内部に備え、Ａ／Ｄ変換器３４か
らデイジタル化された温度情報を読み込み、補正
用ROM３８から読み込んだ補正データに基づき
マイクロプロセツサ４０が補正演算を行い、求め
た温度情報を表示記録部４２に出力する。
また、この信号処理装置１５はアナログ回路に
よつても実現可能であり、この具体例を第２図に
示す。第７図は磁気検出素子１２が検出した温度
検出素子３の特性をデコーダ３６でデコードし、
リニアライズ調整信号４４、０点調整信号４６、
ゲイン調整信号４８を求める。リニアライズ調整
信号４４は、リニアライズ調整スイツチ４４Ｓに
与えられ、信号４４にHIGH２はLOWレベルに
よつて、非反転増巾回路５２の（＋）側入力とソ
ケツト１３を結ぶ信号線５０に調整抵抗R1又は
R2を択一的に接続し、温度計測カテーテルの直
線性のばらつきを補正する。０点調整信号４６は
０点調整スイツチ４６Ｓに与えられ、信号４６の
HIGH又はLOWレベルに従つて基準電源５１の
電圧を抵抗R3・R4又はR3・R5に分圧して非反転
増巾回路５４に０点調整電圧を与える。これによ
り、基準温度における温度検出素子抵抗値のバラ
ツキが補償される。ゲイン調整信号４８は、ゲイ
ン調整スイツチ４８Ｓに与えられ、信号４８の
HIGH又はLOWレベルに従つてゲイン調整抵抗
R7・R8のいずれかを両増巾回路５２，５４間に
接続し、温度検出素子の感温特性のバラツキを補
償する。こうして両増巾回路５２，５４の各出力
は、更に差動増幅回路５３に与えられ、その出力
端子５５から温度計測カテーテルの正規化された
出力電圧が得られる。
よつても実現可能であり、この具体例を第２図に
示す。第７図は磁気検出素子１２が検出した温度
検出素子３の特性をデコーダ３６でデコードし、
リニアライズ調整信号４４、０点調整信号４６、
ゲイン調整信号４８を求める。リニアライズ調整
信号４４は、リニアライズ調整スイツチ４４Ｓに
与えられ、信号４４にHIGH２はLOWレベルに
よつて、非反転増巾回路５２の（＋）側入力とソ
ケツト１３を結ぶ信号線５０に調整抵抗R1又は
R2を択一的に接続し、温度計測カテーテルの直
線性のばらつきを補正する。０点調整信号４６は
０点調整スイツチ４６Ｓに与えられ、信号４６の
HIGH又はLOWレベルに従つて基準電源５１の
電圧を抵抗R3・R4又はR3・R5に分圧して非反転
増巾回路５４に０点調整電圧を与える。これによ
り、基準温度における温度検出素子抵抗値のバラ
ツキが補償される。ゲイン調整信号４８は、ゲイ
ン調整スイツチ４８Ｓに与えられ、信号４８の
HIGH又はLOWレベルに従つてゲイン調整抵抗
R7・R8のいずれかを両増巾回路５２，５４間に
接続し、温度検出素子の感温特性のバラツキを補
償する。こうして両増巾回路５２，５４の各出力
は、更に差動増幅回路５３に与えられ、その出力
端子５５から温度計測カテーテルの正規化された
出力電圧が得られる。
発明の効果
以上述べたように本発明によれば、プローブを
接続するだけで、測定情報を検出する検出素子の
特性情報のバラツキに対応して、安定して測定情
報を補正処理する測定情報処理装置を提供でき
る。
接続するだけで、測定情報を検出する検出素子の
特性情報のバラツキに対応して、安定して測定情
報を補正処理する測定情報処理装置を提供でき
る。
すなわち、測定部から特定部の特性を示す信号
が処理装置に与えられるため処理装置は特性に応
じた処理が機械的に可能であり、人手を介さない
ため処理にエラーが混入することがない。
が処理装置に与えられるため処理装置は特性に応
じた処理が機械的に可能であり、人手を介さない
ため処理にエラーが混入することがない。
また、種々の特性を有する検出素子を使用する
ことが可能なので、本発明によれば、測定部の歩
留まりの向上と、互換性の向上を図ることができ
る。
ことが可能なので、本発明によれば、測定部の歩
留まりの向上と、互換性の向上を図ることができ
る。
また、測定情報と測定部の特性値が一体に処理
装置に与えられるため、測定部の変更と変換が自
在に行なえる他、変更、変換に伴なうエラーの発
生を防止できる。
装置に与えられるため、測定部の変更と変換が自
在に行なえる他、変更、変換に伴なうエラーの発
生を防止できる。
更に、磁気的な読みだしであるため、接触不良
による補償ミスが無く、経年変化も問題とならな
い。特に、医用検査装置などに使用されると、コ
ネクタ部分に触れる液体の塩分濃度は生理食塩水
程度の濃度を持つているので、磁気的な読み取り
は導通性を害されることなく、接触不良の大きな
原因を取り除いた。
による補償ミスが無く、経年変化も問題とならな
い。特に、医用検査装置などに使用されると、コ
ネクタ部分に触れる液体の塩分濃度は生理食塩水
程度の濃度を持つているので、磁気的な読み取り
は導通性を害されることなく、接触不良の大きな
原因を取り除いた。
第１図は本発明の一実施例のブロツク図、第２
図は本発明の一実施例の回路図、第３図は本発明
の一実施例に用いる温度計測用カテーテルの測温
部の構造を説明するための斜視図、第４図は第１
図に示した温度計測用カテーテルと信号処理装置
とを接続する接続部の構造を説明するための斜視
図、第５図は温度検出用素子の特性分布と、計測
の許容誤差との関係を示すグラフ図である。 図中、１……カテーテル接続部、２……温度計
測カテーテル、３……温度検出用素子、４，１４
……リード線、５……接続ピン、６……磁石、７
……凹部、１１……カテーテル接続部１と対をな
す接続部、１２……磁気検出素子、１３……接続
ソケツト、３６……デコーダ、４４……リニアラ
イズ調整信号、４６……０点調整信号、４８……
ゲイン調整信号である。
図は本発明の一実施例の回路図、第３図は本発明
の一実施例に用いる温度計測用カテーテルの測温
部の構造を説明するための斜視図、第４図は第１
図に示した温度計測用カテーテルと信号処理装置
とを接続する接続部の構造を説明するための斜視
図、第５図は温度検出用素子の特性分布と、計測
の許容誤差との関係を示すグラフ図である。 図中、１……カテーテル接続部、２……温度計
測カテーテル、３……温度検出用素子、４，１４
……リード線、５……接続ピン、６……磁石、７
……凹部、１１……カテーテル接続部１と対をな
す接続部、１２……磁気検出素子、１３……接続
ソケツト、３６……デコーダ、４４……リニアラ
イズ調整信号、４６……０点調整信号、４８……
ゲイン調整信号である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 検出素子と、該検出素子が検出した情報を電
気信号として出力する出力端子と、前記検出素子
の特性に対応するコード情報を磁気的に保持する
磁気情報保持手段と、前記出力手段と保持手段と
の間にあつて、前記両手段を磁気的に絶縁する絶
縁手段とを含むプローブと、 該プローブの被装着部を有する検出情報処理部
であつて、前記プローブが装着されたときに前記
出力端子と電気的に結合される入力端子と、前記
保持手段が保持する前記コード情報を磁気的に読
み取る位置に置かれる磁気情報読取手段と、該磁
気情報読取手段が読み取つた前記コード情報に対
応した補正情報に基づいて、前記電気信号による
情報を補正する補正手段とを含む検出情報処理部
と、 を備えることを特徴とする測定情報処理装置。 ２ 前記補正手段は、前記コード情報に各々が対
応する複数の補正テーブルを有し、該補正テーブ
ルに基づいて前記電気信号による情報を補正する
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の測
定情報処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59098534A JPS60243510A (ja) | 1984-05-18 | 1984-05-18 | 測定情報処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59098534A JPS60243510A (ja) | 1984-05-18 | 1984-05-18 | 測定情報処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60243510A JPS60243510A (ja) | 1985-12-03 |
| JPH0432968B2 true JPH0432968B2 (ja) | 1992-06-01 |
Family
ID=14222342
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59098534A Granted JPS60243510A (ja) | 1984-05-18 | 1984-05-18 | 測定情報処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60243510A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPS62263412A (ja) * | 1986-05-09 | 1987-11-16 | Shimizu Constr Co Ltd | 計測処理システム |
| JPS62197033U (ja) * | 1986-06-05 | 1987-12-15 | ||
| JP2582160B2 (ja) * | 1989-07-20 | 1997-02-19 | 株式会社日立製作所 | センサ装置 |
| JP2540147Y2 (ja) * | 1991-11-22 | 1997-07-02 | 理化工業株式会社 | センサの補正装置 |
| JP3032513U (ja) * | 1996-06-14 | 1996-12-24 | 柴田科学器械工業株式会社 | 熱線風速計 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3276673D1 (en) * | 1981-11-10 | 1987-08-06 | Sentron V O F | Catheter sensor and memory unit |
| JPS5940113A (ja) * | 1982-08-30 | 1984-03-05 | Hino Motors Ltd | センサ−の誤差補償方法 |
-
1984
- 1984-05-18 JP JP59098534A patent/JPS60243510A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60243510A (ja) | 1985-12-03 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |