JPH0432979B2 - - Google Patents
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- JPH0432979B2 JPH0432979B2 JP59253926A JP25392684A JPH0432979B2 JP H0432979 B2 JPH0432979 B2 JP H0432979B2 JP 59253926 A JP59253926 A JP 59253926A JP 25392684 A JP25392684 A JP 25392684A JP H0432979 B2 JPH0432979 B2 JP H0432979B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
- G01N1/44—Sample treatment involving radiation, e.g. heat
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/2202—Preparing specimens therefor
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は分析すべき試料とフラツクス、例えば
四ホウ酸リチウムの混合物を連続測定秤の秤量皿
に供給する自動投入方法に関するもので、このよ
うにして得られた供給混合物はるつぼ中で融解さ
れ冷却後リチウムガラス内の固溶体または「ビー
ズ」を形成し、次いでこれは例えばX線螢光分光
計により分析される。本発明はまた上記混合物を
供給し、分析するための機械に関するものであ
る。
四ホウ酸リチウムの混合物を連続測定秤の秤量皿
に供給する自動投入方法に関するもので、このよ
うにして得られた供給混合物はるつぼ中で融解さ
れ冷却後リチウムガラス内の固溶体または「ビー
ズ」を形成し、次いでこれは例えばX線螢光分光
計により分析される。本発明はまた上記混合物を
供給し、分析するための機械に関するものであ
る。
固溶体またはビーズ技術はセメント工業および
鉄鋼工業においてよく知られている。
鉄鋼工業においてよく知られている。
融解に使用されるるつぼは、例えばヨーロツパ
特許出願第0042327号(IRSIDによる出願)で知
られており、この特許出願明細書には白金るつぼ
およびガラス質炭素(vitreous carbon)るつぼ
が記載されており:試料およびフラツクスの混合
物からビーズを自動的に製造するための誘導炉は
例えばIRSIDによる公開されたフランス国特許出
願第2381303号およびその追加出願第2428834号の
証明書から知られている。
特許出願第0042327号(IRSIDによる出願)で知
られており、この特許出願明細書には白金るつぼ
およびガラス質炭素(vitreous carbon)るつぼ
が記載されており:試料およびフラツクスの混合
物からビーズを自動的に製造するための誘導炉は
例えばIRSIDによる公開されたフランス国特許出
願第2381303号およびその追加出願第2428834号の
証明書から知られている。
「ビーズ製造」機械および「分光計」もまたよ
く知られており、例えば出願人による商標名
「PERL′X−2」および「PW1600/10」として
市場で入手し得る。
く知られており、例えば出願人による商標名
「PERL′X−2」および「PW1600/10」として
市場で入手し得る。
最近まで、試料およびフラツクス混合物は既知
の電子試料混合物秤により手動で秤量され、混合
物のるつぼへの移送およびビーズの分光計への移
送は手動で行われているが:最近の傾向は、フラ
ンス国特許出願第2485733号にみられる如く、特
にセメント工業においては、最大限まで種々の操
作を自動化することである。
の電子試料混合物秤により手動で秤量され、混合
物のるつぼへの移送およびビーズの分光計への移
送は手動で行われているが:最近の傾向は、フラ
ンス国特許出願第2485733号にみられる如く、特
にセメント工業においては、最大限まで種々の操
作を自動化することである。
この最後に挙げた出願の明細書には、自動試料
調製装置が記載されており;この装置は試料およ
びフラツクス物質を連続的に受入れる秤量機械お
よびこの秤量機械からるつぼを誘導炉に連続的に
移送するためのマニプレーターアームを備えてい
る。
調製装置が記載されており;この装置は試料およ
びフラツクス物質を連続的に受入れる秤量機械お
よびこの秤量機械からるつぼを誘導炉に連続的に
移送するためのマニプレーターアームを備えてい
る。
これは、試料がフラツクスより粘着性であり試
料が容器壁に粘着する傾向があり、またるつぼが
極めて高価であるのでるつぼ「チエイン
(chain)」は高価な解決策である。
料が容器壁に粘着する傾向があり、またるつぼが
極めて高価であるのでるつぼ「チエイン
(chain)」は高価な解決策である。
本発明の目的はこれ等の問題を軽減することに
ある。
ある。
この目的のため本発明の自動サンプリング方法
は秤量皿の自動供給を次の段階で行ない: (a) フラツクスを目標重量FC1まで供給し、 (b) 試料物質を所定の目標重量ECまで供給し、 (c) フラツクスを目標重量FC2まで供給し、但し
比FC1+FC2/ECは所定目標値RFECに等しく、 目標重量FC1はフラツクスの全目標重量の4/5 に等しく、即ちFC1=4/5×RFECであり、 上記3段階を、試料物質が上記秤量皿と接触し
ないようにフラツクスおよび試料物質夫々の安息
角を最適に使用するように選定することを特徴と
する。
は秤量皿の自動供給を次の段階で行ない: (a) フラツクスを目標重量FC1まで供給し、 (b) 試料物質を所定の目標重量ECまで供給し、 (c) フラツクスを目標重量FC2まで供給し、但し
比FC1+FC2/ECは所定目標値RFECに等しく、 目標重量FC1はフラツクスの全目標重量の4/5 に等しく、即ちFC1=4/5×RFECであり、 上記3段階を、試料物質が上記秤量皿と接触し
ないようにフラツクスおよび試料物質夫々の安息
角を最適に使用するように選定することを特徴と
する。
このことにより秤量操作がるつぼの価格より著
しく安い1個の秤量皿で行なうことが可能であ
る。
しく安い1個の秤量皿で行なうことが可能であ
る。
上記方法は、秤量皿の内容物を、例えば誘導炉
のるつぼ内に直接注入することができる利点を有
し、上記るつぼはガラス質素素でつくられるのが
適当で;この方法で本発明の方法を具体化する自
動機械は唯1個の秤量皿と1個のるつぼを備え、
これは機械を工業規模で使用する場合著しい節約
であることを示す。
のるつぼ内に直接注入することができる利点を有
し、上記るつぼはガラス質素素でつくられるのが
適当で;この方法で本発明の方法を具体化する自
動機械は唯1個の秤量皿と1個のるつぼを備え、
これは機械を工業規模で使用する場合著しい節約
であることを示す。
次に本発明を図面につき説明する。
第1図は秤量皿を示すもので、皿は本発明によ
り夫々の安息角を最適に用いるように3段階で充
満されている。
り夫々の安息角を最適に用いるように3段階で充
満されている。
第1段階(a)において、皿NPにむしろ「流体」
物質である四ホウ酸リチウムの安息角に従つて表
面AAが僅かに傾斜するフラツクスAの層を収容
し;第2段階(b)において、皿NPに分析すべき試
料物質Bの層を負荷し、その表面(BB)ほその
ベースが秤量皿NPの側壁と接触しないように僅
かにとがらせ:第3段階(d)において、皿NPに、
試料層Bと軽量皿と壁との間に沈降し、得られた
混合物が所望値になるようにフラツクス層Aの重
量を補う補充物であるフラツクスDの層を負荷す
る。
物質である四ホウ酸リチウムの安息角に従つて表
面AAが僅かに傾斜するフラツクスAの層を収容
し;第2段階(b)において、皿NPに分析すべき試
料物質Bの層を負荷し、その表面(BB)ほその
ベースが秤量皿NPの側壁と接触しないように僅
かにとがらせ:第3段階(d)において、皿NPに、
試料層Bと軽量皿と壁との間に沈降し、得られた
混合物が所望値になるようにフラツクス層Aの重
量を補う補充物であるフラツクスDの層を負荷す
る。
秤量皿にバイブレーターおよびチユートを備え
た3個のホツパーから供給し;皿を電子プログラ
ム可能な連続秤のプラツトホームに置き、その読
みによりバイブレーターの作用を制御し;種々の
供給装置はオートメーシヨンの技術に精通してい
る者によく知られているので図示してないが、秤
は例えばメトレツト(METLET)から入手する
ことができまたセントバーネイ(Ste
BERNAY)から関連するバイブレーターを入手
することができ;例えば秤は0.01gの精度で重量
を連続的に測定する秤を選定するのがよく、バイ
ブレーターのスイツチを切つた場合即ち皿の内容
物が安定した場合0.001gの測定精度が得られる。
た3個のホツパーから供給し;皿を電子プログラ
ム可能な連続秤のプラツトホームに置き、その読
みによりバイブレーターの作用を制御し;種々の
供給装置はオートメーシヨンの技術に精通してい
る者によく知られているので図示してないが、秤
は例えばメトレツト(METLET)から入手する
ことができまたセントバーネイ(Ste
BERNAY)から関連するバイブレーターを入手
することができ;例えば秤は0.01gの精度で重量
を連続的に測定する秤を選定するのがよく、バイ
ブレーターのスイツチを切つた場合即ち皿の内容
物が安定した場合0.001gの測定精度が得られる。
プログラム可能な秤の製造業者により与えられ
る指示に従つて系をプログラムした後、これによ
り次のことが得られる: (a) フラツクス層Aに対しては目標重量FC1に極
めて近い真の重量;フラツクスバイブレーター
のスイツチを切つた場合FR1について0.001g
の精度で評価が得られ、測定値はメモリーに記
憶され; (b) 試料層Bに対しては目標重量ECに極めて近
い真の重量ER;試料バイブレーターのスイツ
チを切つた場合、ERについて0.001gの精度で
評価が得られ、この数値ERが記憶され、また
補充フラツクスの目標重量FC2を計算するため
フラツクスの所望全重量、または目標重量を計
算するのに使用され、この際FR1の値を考慮
し; (d) フラツクス層Cに対して再びフラツクスバイ
ブレーターのスイツチを入れて上述の如く計算
された目標重量FC2にできるだけ近い間のフラ
ツクス重量FR2を得る。
る指示に従つて系をプログラムした後、これによ
り次のことが得られる: (a) フラツクス層Aに対しては目標重量FC1に極
めて近い真の重量;フラツクスバイブレーター
のスイツチを切つた場合FR1について0.001g
の精度で評価が得られ、測定値はメモリーに記
憶され; (b) 試料層Bに対しては目標重量ECに極めて近
い真の重量ER;試料バイブレーターのスイツ
チを切つた場合、ERについて0.001gの精度で
評価が得られ、この数値ERが記憶され、また
補充フラツクスの目標重量FC2を計算するため
フラツクスの所望全重量、または目標重量を計
算するのに使用され、この際FR1の値を考慮
し; (d) フラツクス層Cに対して再びフラツクスバイ
ブレーターのスイツチを入れて上述の如く計算
された目標重量FC2にできるだけ近い間のフラ
ツクス重量FR2を得る。
安息角の最適使用をするために次式
FC1=4/5×(FC1+FC2)
で表わされる比を用いるのが好ましい。
混合物の必要とされる所定重量および割合(供
給量)に従うよう皿の最終内容物を点検し;最終
内容物が正しい場合には、供給をやめ;そうでな
い場合には供給を中止し、秤量皿を空にし、新し
い供給操作を開始し;例えば粒径が大き過ぎる場
合のように、成分の一つが過剰であることによつ
てのみ供給操作は正しくなるが、これは対応する
バイブレーターが重量の不足を直ちに補償するか
らである。
給量)に従うよう皿の最終内容物を点検し;最終
内容物が正しい場合には、供給をやめ;そうでな
い場合には供給を中止し、秤量皿を空にし、新し
い供給操作を開始し;例えば粒径が大き過ぎる場
合のように、成分の一つが過剰であることによつ
てのみ供給操作は正しくなるが、これは対応する
バイブレーターが重量の不足を直ちに補償するか
らである。
比FR1+FR2/ER=RFEOは、例えば3〜15の範
囲の値から選ばれる目標値RFECにできるだけ近
くあるべきで;必要とされる精度は±0.1%〜±
2%で;これらのパラメータの選定は試料の性質
および工業の種類、即ちセメント工業、鉄鋼工業
等に左右される。
くあるべきで;必要とされる精度は±0.1%〜±
2%で;これらのパラメータの選定は試料の性質
および工業の種類、即ちセメント工業、鉄鋼工業
等に左右される。
供給精度を改善するために、段階(b)おかび段階
(d)を2段階にわけるのが有利である。即ち段階(b)
については、 (b′) 目標重量ECの一部分、例えば1/3に等しい 目標重量EC1を得るための試料物質の高速供
給、 (c) EC1部分の補充物に等しい目標重量EC2、即
ち例えば目標重量ECの2/3を得るための試料物 質の低速供給、 段階(d)については、 (d′) 目標重量FC2の一部分、例えば3/4に等しい 目標重量FC21を得るためのフラツクスの高速
供給、この際段階(a)の供給速度は段階(d′)の
高速に等しく、 (e) FC21部分の補充物に等しい目標重量FC22、
例えば目標重量FC2の1/4を得るためのフラツ クスの低速供給。
(d)を2段階にわけるのが有利である。即ち段階(b)
については、 (b′) 目標重量ECの一部分、例えば1/3に等しい 目標重量EC1を得るための試料物質の高速供
給、 (c) EC1部分の補充物に等しい目標重量EC2、即
ち例えば目標重量ECの2/3を得るための試料物 質の低速供給、 段階(d)については、 (d′) 目標重量FC2の一部分、例えば3/4に等しい 目標重量FC21を得るためのフラツクスの高速
供給、この際段階(a)の供給速度は段階(d′)の
高速に等しく、 (e) FC21部分の補充物に等しい目標重量FC22、
例えば目標重量FC2の1/4を得るためのフラツ クスの低速供給。
この方法で時間の損失なく且つ正確に供給が行
われ、連続測定秤の制御下でバイブレーター速度
の変化が得られ;上記のまたは他の製造業者から
二段速度バイブレーターが入手される。
われ、連続測定秤の制御下でバイブレーター速度
の変化が得られ;上記のまたは他の製造業者から
二段速度バイブレーターが入手される。
上記操作は、オートメーシヨンの技術分野の技
術者によりよく知られているので、記載も図示も
しないがプログラム可能な自動制御装置により制
御される。
術者によりよく知られているので、記載も図示も
しないがプログラム可能な自動制御装置により制
御される。
この自動制御装置は普通連続電子秤およびバイ
ブレーターに接続することができる。
ブレーターに接続することができる。
これ等の方法を使用する機械においては、1個
だけのるつぼが必要で、これは著しい節約であ
り、秤量皿の内容物をるつぼに注入するためハン
ドルPを備えたマニブレーターを使用し、アセン
ブリイを前記プログラム可能な自動制御装置によ
り制御される作動器により作動させ;必要とされ
る種々の構成部品は、例えばハンドルについては
ニユー・マト・コンパニーのカタログ中に、作動
器およびソレノイドについてはCPOACコンパニ
ーのカタログ中に見出すことができ、従つて第2
図に示すように、秤量皿マニプレーターアーム
(MA−NP)が秤量皿NPをその秤量位置1から
図示せぬ自動制御装置の制御下でるつぼCの上方
の排出位置2に搬送し;るつぼCは工業的に使用
されている間実際には常に高温(約700℃)であ
るので、本発明においては内側を研磨した(例え
ば4μmのダイヤモンドにより)ステンレス鋼漏
斗ETを秤量皿とるつぼの間に配置して混合物を
るつぼ内に導くのが有利であり;これにより、る
つぼ内の乱流高温空気により混合物が吹きとばさ
れるのが防止され;漏斗ETをマニプレーターア
ーム(MA−NP)に、縦軸の周りを回転可能で
且つ垂直方向に移動可能であるように取付け;ソ
レノイドにより制御される垂直移動は、その際自
動制御装置により制御され、漏斗をるつぼまで下
げまたるつぼから上げ且つ漏斗を振盪して全混合
物を確実にるつぼ内に排出するが、これはまた
過の内部研磨により促進され;縦軸の周りの回転
により、アームが位置NP(1)にある場合に漏斗が
秤BAに損傷をあたえることはなく、次いで第3
図に示すように簡単なもどりばねにより漏斗を正
しい位置に実質的に戻し、混合物をるつぼ内に確
実に注入する。
だけのるつぼが必要で、これは著しい節約であ
り、秤量皿の内容物をるつぼに注入するためハン
ドルPを備えたマニブレーターを使用し、アセン
ブリイを前記プログラム可能な自動制御装置によ
り制御される作動器により作動させ;必要とされ
る種々の構成部品は、例えばハンドルについては
ニユー・マト・コンパニーのカタログ中に、作動
器およびソレノイドについてはCPOACコンパニ
ーのカタログ中に見出すことができ、従つて第2
図に示すように、秤量皿マニプレーターアーム
(MA−NP)が秤量皿NPをその秤量位置1から
図示せぬ自動制御装置の制御下でるつぼCの上方
の排出位置2に搬送し;るつぼCは工業的に使用
されている間実際には常に高温(約700℃)であ
るので、本発明においては内側を研磨した(例え
ば4μmのダイヤモンドにより)ステンレス鋼漏
斗ETを秤量皿とるつぼの間に配置して混合物を
るつぼ内に導くのが有利であり;これにより、る
つぼ内の乱流高温空気により混合物が吹きとばさ
れるのが防止され;漏斗ETをマニプレーターア
ーム(MA−NP)に、縦軸の周りを回転可能で
且つ垂直方向に移動可能であるように取付け;ソ
レノイドにより制御される垂直移動は、その際自
動制御装置により制御され、漏斗をるつぼまで下
げまたるつぼから上げ且つ漏斗を振盪して全混合
物を確実にるつぼ内に排出するが、これはまた
過の内部研磨により促進され;縦軸の周りの回転
により、アームが位置NP(1)にある場合に漏斗が
秤BAに損傷をあたえることはなく、次いで第3
図に示すように簡単なもどりばねにより漏斗を正
しい位置に実質的に戻し、混合物をるつぼ内に確
実に注入する。
第2図に示すように、るつぼは、るつぼに混合
物を充填するため開けねばならず、休止時には閉
めなければならない蓋を備えるのが適当であり;
蓋は第2図および第3図に示すピンERの制御下
で開けられ、ピンは蓋COを、第4図に示すよう
に蓋の突出部BEと協働して作動させ;この際蓋
はその水平軸AYHの周りを回転し;融解操作中
前記特許出願に記載してある如く、るつぼの振動
の結果自動的に閉まる。
物を充填するため開けねばならず、休止時には閉
めなければならない蓋を備えるのが適当であり;
蓋は第2図および第3図に示すピンERの制御下
で開けられ、ピンは蓋COを、第4図に示すよう
に蓋の突出部BEと協働して作動させ;この際蓋
はその水平軸AYHの周りを回転し;融解操作中
前記特許出願に記載してある如く、るつぼの振動
の結果自動的に閉まる。
るつぼはガスの逃散を容易にするため煙突状部
分CHを有するのが適当で;蓋に課せられる必要
条件にかんがみ白金と例えば10%のロジウムの合
金を用いて蓋が純白金でつくられた場合より変形
に対する抵抗が大であることを確保するのが有利
である。
分CHを有するのが適当で;蓋に課せられる必要
条件にかんがみ白金と例えば10%のロジウムの合
金を用いて蓋が純白金でつくられた場合より変形
に対する抵抗が大であることを確保するのが有利
である。
自動操作の充分な利点を得るために、第5図の
コンベヤ−ベルト形の既知装置(MA−FS)を
含む移送装置を使用して「ビーズ製造」機械Fか
ら融解し冷却した後得られたビーズを分光計S、
例えば出願人が市販している「PW1600/10」形
の分光計に搬送するのが有利であり;このように
秤BA、ビーズ像機械Fおよび分光計Sを備え、
マニプレーターアーム(MA−NP)およびコン
ベヤベルト(MA−FS)の如き搬送装置を併設
する配置は、十分自動的配置であり、種々の操作
の結果、特に重量または供給量および分析結果を
受け入れ、処理し、記憶するための伝達手段MT
を備えたコンピユータ(CA)により同期させら
れ、制御され;これ等の操作のための所定のパラ
メータはキーボード(CLA)により発せられ、
結果はプリンター(I)または表示スクリーンに
より見られるようにされ;また結果は分析される
生成物の製造を自動的に制御するために利用され
る。
コンベヤ−ベルト形の既知装置(MA−FS)を
含む移送装置を使用して「ビーズ製造」機械Fか
ら融解し冷却した後得られたビーズを分光計S、
例えば出願人が市販している「PW1600/10」形
の分光計に搬送するのが有利であり;このように
秤BA、ビーズ像機械Fおよび分光計Sを備え、
マニプレーターアーム(MA−NP)およびコン
ベヤベルト(MA−FS)の如き搬送装置を併設
する配置は、十分自動的配置であり、種々の操作
の結果、特に重量または供給量および分析結果を
受け入れ、処理し、記憶するための伝達手段MT
を備えたコンピユータ(CA)により同期させら
れ、制御され;これ等の操作のための所定のパラ
メータはキーボード(CLA)により発せられ、
結果はプリンター(I)または表示スクリーンに
より見られるようにされ;また結果は分析される
生成物の製造を自動的に制御するために利用され
る。
このようにして得られる自動機械(第5図)に
おいて、全連続操作は約11分かかり;この時間は
特に、5個の可能な秤プログラム、6個の可能な
計算プログラム、分光計の60個の測定プログラム
から行われる選定に左右され;分光計により行わ
れる分析は、比較的短い時間を要し、従つて分光
計を他の操作に使用することを可能にしこれによ
りこの装置の最適使用を確保するために秤量およ
び融解操作中コンピユータが分光計をブロツクし
ないのが有利である。
おいて、全連続操作は約11分かかり;この時間は
特に、5個の可能な秤プログラム、6個の可能な
計算プログラム、分光計の60個の測定プログラム
から行われる選定に左右され;分光計により行わ
れる分析は、比較的短い時間を要し、従つて分光
計を他の操作に使用することを可能にしこれによ
りこの装置の最適使用を確保するために秤量およ
び融解操作中コンピユータが分光計をブロツクし
ないのが有利である。
第1図は秤量皿の断面図、第2図は秤量皿マニ
プレーターの配置図、第3図はマニプレーターの
一部分の平面図、第4図はるつぼの蓋の斜視図、
第5図は本発明の方法に用いる機械の系統図であ
る。
プレーターの配置図、第3図はマニプレーターの
一部分の平面図、第4図はるつぼの蓋の斜視図、
第5図は本発明の方法に用いる機械の系統図であ
る。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 分析すべき試料および四ホウ酸リチウムのよ
うなフラツクスの混合物を連続測定秤の秤量皿に
供給し、このようにして得られた供給混合物をる
つぼ中で融解して冷却後リチウムガラス内の固溶
体またはビーズを形成し、次いでこれを例えばX
線螢光分光計により分析する際の上記混合物の自
動供給方法において、 秤量皿への自動供給を次の段階で行い: (a) フラツクスを目標重量FC1まで供給し、 (b) 試料物質を所定の目標重量ECまで供給し、 (c) フラツクスを目標重量FC2まで供給し、但し
比FC1+FC2/ECは所定の目標値RFECに等しく、 目標重量FC1はフラツクスの全目標重量の4/5 に等しく、即ちFC1=4/5×RFEC×ECであ り、 上記3段階を、試料物質が上記秤量皿と接触し
ないようにフラツクスおよび試料物質夫々の安息
角を最適に使用するように選定することを特徴と
する自動試料供給方法。 2 連続秤量系が、所定の許容公差を考慮して、
試料物質またはフラツクスの重量が過大であるこ
とを測定した場合進行中の供給操作を自動的に中
止する特許請求の範囲第1項記載の方法。 3 段階(b)を次の2段階 (b′) 目標重量ECの一部分、例えば1/3に等しい 目標重量EC1を得るための試料物質の高速供
給、 (c) EC1部分の補充物に等しい目標重量EC2、即
ち目標重量ECの例えば2/3を得るための試料物 質の低速供給、 に分割し、 段階(d)を次の2段階 (d′) 目標重量FC2の一部分、例えば3/4に等しい 目標重量FC21を得るためのフラツクスの高速
供給、この際段階(a)の供給速度は段階(d′)の
高速に等しく、 (e) 供給が所定供給公差に応じて一層正確に行わ
れるように、FC21部分の補充物に等しい目標
重量FC22例えば目標重量FC2の1/4を得るため の低速供給 に分割し、上記公差は例えば所定の目標値RFEC
を得られた値RFEOとの比較を通して表わす特許
請求の範囲第1項または第2項記載の方法。 4 段階(c)または段階(e)における供給が過剰の場
合、秤量皿の全内容物を排出することにより供給
を中止して新しい供給操作を再開する特許請求の
範囲第3項記載の方法。 5 分析すべき試料および四ホウ酸リチウムのよ
うなフラツクスの混合物を連続測定秤の秤量皿に
供給し、このようにして得られた供給混合物をる
つぼ中で融解して冷却後リチウムガラス内の固溶
体またはビーズを形成し、次いでこれを例えばX
線螢光分光計により分析する方法に用いる、連続
秤量系と、バイブレーターおよびシユートを備え
るフラツクス供給ホツパーと、バイブレーターお
よびシユートを備える試料供給ホツパーと、秤量
操作のための自動制御装置とを備えた試料物質と
そのフラツクスを供給するための自動供給装置に
おいて、 上記装置が、自動制御装置により制御される、
ハンドルを備えたマニプレーターにより操作され
る1個の秤量皿を備え、 フラツクスバイブレーターは2段速度バイブレ
ーターであり、 試料バイブレーターが2段速度バイブレーター
であり、 秤量操作用の自動制御装置が、プログラム可能
であつて次のパラメータ: 試料目標重量EC、例えば0.3g〜0.5g、目標重
量ECに対する真の試料重量の許容公差、例えば
±0.001gの範囲の値、比RFECの目標値、例え
ば3〜15、目標の比RFECと得られた比RFEOの
間の最高許容偏差、例えば±0.1%〜±2%の値 を選定する装置であることを特徴とする自動供給
装置。 6 るつぼおよび水平軸の周りを回転するるつぼ
蓋を備える既知の形の誘導炉を備え、更に第1
に、供給した混合物の入つた秤量皿をその秤量位
置からるつぼ上方の位置まで移送し、第2に、秤
量皿を傾け振つて供給した混合物を排出し、第3
に、秤量皿をその秤量位置に戻すためのマニプレ
ーターアームと称せられる移送装置を備え、ガラ
ス質炭素の1個のるつぼを使用し、るつぼの蓋は
好ましく白金と例えば10%ロジウムの合金から形
成し、蓋がガス排出用煙突および突出部を有し、
秤量皿のマニプレーターアームがピン形装置を有
し、これが試料皿が移送された際、蓋の上記突出
部と協働して、混合物が排出される前に、蓋を開
けるようにした特許請求の範囲第5項記載の装
置。 7 マニプレーターアームを備える可動アセンブ
リイが、るつぼの底部へ向つて混合物の流れを導
くため秤量皿とるつぼとの間に配置した内側の研
磨されたステンレス鋼漏斗用の動かし得る支持装
置を備え、このようにして前記混合物の融解熱に
より生ずるるつぼ内の乱流高温空気により混合物
が分散するのを防止し、上記漏斗の運動は秤量皿
の運動と類似し、但し、上記漏斗用の動かし得る
支持装置が、第1に漏斗を秤量操作中漏斗戻し装
置により水平に傾け、第2に漏斗をるつぼ内に垂
直に下げ、第3に秤量皿が傾いた後漏斗を垂直に
動かして供給した混合物のすべての粒子を漏斗か
らるつぼ内に落下させるための手段を有し、上記
操作すべてが自動制御装置により制御される特許
請求の範囲第6項記載の装置。 8 X線螢光分光計および各ビーズを炉の冷却用
容器から分光計に移送するための移送装置を備
え、更に、第1に供給装置の自動制御装置、第2
に供給された混合物を供給装置からるつぼに移送
するための装置、第3に誘導炉、第4にビーズを
炉の冷却用容器から分光計へ搬送する装置を同期
させ、制御するための伝達手段とコンピユータを
備え、すべての必要な情報を上記伝達手段を介し
て上記コンピユータに送つて処理し記憶し、所要
に応じて秤量および分析結果を校訂および/また
は表示する特許請求の範囲第7項記載の装置。 9 全連続操作が、ほぼ11分間であり、この間分
光計を単一回の比較的短い時間使用し、秤量およ
び融解操作中コンピユーターが分光計を他の目的
のため使用可能にする特許請求の範囲第8項記載
の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR8319290A FR2556095B1 (fr) | 1983-12-02 | 1983-12-02 | Procede automatique de dosage d'echantillon et machine automatique pour doser et analyser |
| FR8319290 | 1983-12-02 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60135845A JPS60135845A (ja) | 1985-07-19 |
| JPH0432979B2 true JPH0432979B2 (ja) | 1992-06-01 |
Family
ID=9294796
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59253926A Granted JPS60135845A (ja) | 1983-12-02 | 1984-11-30 | 自動試料供給方法および自動試料供給装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4680716A (ja) |
| EP (1) | EP0144109B1 (ja) |
| JP (1) | JPS60135845A (ja) |
| AU (1) | AU3608584A (ja) |
| DE (1) | DE3478718D1 (ja) |
| FR (1) | FR2556095B1 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4919342A (en) * | 1987-08-31 | 1990-04-24 | Ngk Insulators, Ltd. | Method of pretreating a sample for X-ray fluorescence analysis |
| US5115457A (en) * | 1990-10-01 | 1992-05-19 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Method of determining titanium dioxide content in paint |
| DE69632614T2 (de) * | 1995-03-14 | 2005-06-09 | Nippon Steel Corp. | Vorrichtung und Verfahren zum Beurteilen der Reinheit von Metall |
| US6108594A (en) * | 1998-05-29 | 2000-08-22 | Hughes Electronics Corporation | Autonomous attitude acquisition for a stellar inertial attitude determination system |
| AUPQ422299A0 (en) * | 1999-11-25 | 1999-12-16 | Bradshaw, Nicholas | Sample testing |
| AU782384B2 (en) * | 1999-11-25 | 2005-07-21 | Nicholas Bradshaw | Sample testing |
| US8403025B2 (en) * | 2011-08-30 | 2013-03-26 | Spex Sample Prep Llc | Preparation of inorganic samples by fusion |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4032390A (en) * | 1974-02-25 | 1977-06-28 | Corning Glass Works | Plural crystal pulling from a melt in an annular crucible heated on both inner and outer walls |
| US3961905A (en) * | 1974-02-25 | 1976-06-08 | Corning Glass Works | Crucible and heater assembly for crystal growth from a melt |
| US3972721A (en) * | 1974-03-01 | 1976-08-03 | Ppg Industries, Inc. | Thermally stable and crush resistant microporous glass catalyst supports and methods of making |
| GB1568817A (en) * | 1975-11-13 | 1980-06-04 | Sovitec Sa | Glass-former comp |
| FR2485733A1 (fr) * | 1980-06-27 | 1981-12-31 | Ciments Fs | Dispositif automatique de fabrication d'echantillons destines a l'analyse |
| FR2528454A1 (fr) * | 1982-06-11 | 1983-12-16 | Criceram | Creuset modifie pour la methode de cristallisation par goutte pendante |
| US4478676A (en) * | 1982-09-07 | 1984-10-23 | Litton Systems, Inc. | Method for decreasing radial temperature gradients of crystal growth melts utilizing radiant energy absorptive materials and crystal growth chambers comprising such materials |
| US4519092A (en) * | 1982-10-27 | 1985-05-21 | Albert Richard D | Scanning x-ray spectrometry method and apparatus |
| US4577338A (en) * | 1982-11-01 | 1986-03-18 | Xertex Corporation | X-Ray fluorescence spectrometer and method of calibrating the same |
-
1983
- 1983-12-02 FR FR8319290A patent/FR2556095B1/fr not_active Expired
-
1984
- 1984-11-28 DE DE8484201732T patent/DE3478718D1/de not_active Expired
- 1984-11-28 EP EP84201732A patent/EP0144109B1/fr not_active Expired
- 1984-11-29 US US06/676,448 patent/US4680716A/en not_active Expired - Fee Related
- 1984-11-30 JP JP59253926A patent/JPS60135845A/ja active Granted
- 1984-11-30 AU AU36085/84A patent/AU3608584A/en not_active Abandoned
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2556095A1 (fr) | 1985-06-07 |
| JPS60135845A (ja) | 1985-07-19 |
| FR2556095B1 (fr) | 1986-09-05 |
| EP0144109A1 (fr) | 1985-06-12 |
| AU3608584A (en) | 1985-06-06 |
| DE3478718D1 (en) | 1989-07-20 |
| EP0144109B1 (fr) | 1989-06-14 |
| US4680716A (en) | 1987-07-14 |
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