JPH0432989B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0432989B2 JPH0432989B2 JP58211362A JP21136283A JPH0432989B2 JP H0432989 B2 JPH0432989 B2 JP H0432989B2 JP 58211362 A JP58211362 A JP 58211362A JP 21136283 A JP21136283 A JP 21136283A JP H0432989 B2 JPH0432989 B2 JP H0432989B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical
- voltage
- electro
- measuring device
- voltage measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、光方式電圧測定装置に係り、特に、
系統保護等に使用するのに好適な加減算機能をも
つ光方式電圧測定装置に関するものである。
系統保護等に使用するのに好適な加減算機能をも
つ光方式電圧測定装置に関するものである。
最近、光を応用した電圧、電流測定が急速に進
みつつある。そして、これらの測定結果は、単な
る値の表示ということから一歩進んで、系統保護
の参照信号として利用されることが多くなつてい
る。
みつつある。そして、これらの測定結果は、単な
る値の表示ということから一歩進んで、系統保護
の参照信号として利用されることが多くなつてい
る。
例えば、トランスの一次巻線や二次巻線の焼損
を防ぐためのリレーを作動させる参照信号として
用いる場合がある。このような系統保護において
は、１点の電圧測定ではなく、複数点の電圧を測
定し、その波形の和あるいは差等をとつて参照信
号としている。
を防ぐためのリレーを作動させる参照信号として
用いる場合がある。このような系統保護において
は、１点の電圧測定ではなく、複数点の電圧を測
定し、その波形の和あるいは差等をとつて参照信
号としている。
従来、この種の演算は、複数点に光方式電圧測
定器を配置して、各測定器からの出力を演算器に
入力し、電気的に行なつていた。そのため、多点
の和を求める場合、多くの光方式電圧測定器が必
要になるほか、演算器も必要になるなど面倒な点
が多かつた。そして特に問題だつたのは、測定器
の数が増加するほど較正や保守点検に手間がかか
り、精度の維持が困難になることである。従つて
そこに用いる電気光学素子や検光子の数をできる
だけ減らすことが望ましい。
定器を配置して、各測定器からの出力を演算器に
入力し、電気的に行なつていた。そのため、多点
の和を求める場合、多くの光方式電圧測定器が必
要になるほか、演算器も必要になるなど面倒な点
が多かつた。そして特に問題だつたのは、測定器
の数が増加するほど較正や保守点検に手間がかか
り、精度の維持が困難になることである。従つて
そこに用いる電気光学素子や検光子の数をできる
だけ減らすことが望ましい。
本発明の目的は、１台の電圧測定装置で複数点
の電圧を測定しそれら電圧の波形の和または差等
を演算可能な光方式電圧測定装置を提供すること
である。
の電圧を測定しそれら電圧の波形の和または差等
を演算可能な光方式電圧測定装置を提供すること
である。
本発明の特徴は、光方式電圧測定装置におい
て、電気光学素子を被測定電圧の数だけ複数かつ
連続的に配置し、各々の電気光学素子にそれぞれ
独立に被測定電圧を印加し加減算を可能にしたと
ころにある。
て、電気光学素子を被測定電圧の数だけ複数かつ
連続的に配置し、各々の電気光学素子にそれぞれ
独立に被測定電圧を印加し加減算を可能にしたと
ころにある。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明
する。第１図において、発光ダイオード等からな
る発光部１から放射された光は、光フアイバ２を
介して集光レンズ３により平行光になり、偏光子
４に入射する。偏光子４をでた光は直線偏光とな
り、さらに1/4波長板５を通過することにより、
円偏光となる。
する。第１図において、発光ダイオード等からな
る発光部１から放射された光は、光フアイバ２を
介して集光レンズ３により平行光になり、偏光子
４に入射する。偏光子４をでた光は直線偏光とな
り、さらに1/4波長板５を通過することにより、
円偏光となる。
1/4波長板５から出た円偏光は、ビスマスシリ
コンオキサイドなどからなる電気光学素子６Ａ，
６Ｂ，６Ｃを順に通過する。電気光学素子６Ａ，
６Ｂ，６Ｃには、それぞれ被測定電圧V1、V2、
V3を印加する。これらの電圧は例えば、変圧器
の１次、２次、３次電圧などである。円偏光は、
これらの電気光学素子６Ａ，６Ｂ，６Ｃにおい
て、各電気光学素子に印加されたV1、V2、V3の
電圧に比例した位相変調を受け、楕円偏光にな
る。この楕円偏光は検光子７により、直角２成分
のベクトル光に分光される。分光はそれぞれ集光
レンズ８，９によつて集光され、光量信号Px、
Prとなり、光フアイバ１０，１１を介して受光素
子１２，１３に導びかれる。受光素子１２，１３
としては例えばフオトダイオードなどが使われ
る。光量信号Px、Prは、ここで電気信号に再変
換され、検出回路１４がその変調度Ｍから印加電
圧値を求める。
コンオキサイドなどからなる電気光学素子６Ａ，
６Ｂ，６Ｃを順に通過する。電気光学素子６Ａ，
６Ｂ，６Ｃには、それぞれ被測定電圧V1、V2、
V3を印加する。これらの電圧は例えば、変圧器
の１次、２次、３次電圧などである。円偏光は、
これらの電気光学素子６Ａ，６Ｂ，６Ｃにおい
て、各電気光学素子に印加されたV1、V2、V3の
電圧に比例した位相変調を受け、楕円偏光にな
る。この楕円偏光は検光子７により、直角２成分
のベクトル光に分光される。分光はそれぞれ集光
レンズ８，９によつて集光され、光量信号Px、
Prとなり、光フアイバ１０，１１を介して受光素
子１２，１３に導びかれる。受光素子１２，１３
としては例えばフオトダイオードなどが使われ
る。光量信号Px、Prは、ここで電気信号に再変
換され、検出回路１４がその変調度Ｍから印加電
圧値を求める。
いま、電気光学素子６Ａ，６Ｂ，６Ｃにおける
変調度を、それぞれM1、M2、M3とすると、次
のようになる。
変調度を、それぞれM1、M2、M3とすると、次
のようになる。
M1＝KV1 ……(1)
M2＝KV2 ……(2)
M3＝KV3 ……(3)
ここでＫ：定数
そして、検出回路において求められる変調度Ｍ
は Ｍ＝M1＋M2＋M3 ……(4) であるから、(1)〜(4)式から Ｍ＝Ｋ（V1＋V2＋V3） ……(5) となる。結局、変調度Ｍを求めることによつて、
印加電圧V1、V2、V3の和を求めることができ
る。もちろん、この場合の和は、各電圧の位相も
含めての和である。
は Ｍ＝M1＋M2＋M3 ……(4) であるから、(1)〜(4)式から Ｍ＝Ｋ（V1＋V2＋V3） ……(5) となる。結局、変調度Ｍを求めることによつて、
印加電圧V1、V2、V3の和を求めることができ
る。もちろん、この場合の和は、各電圧の位相も
含めての和である。
したがつて、第２図に示すように、V1、V2、
V3の和としてのΣVが求められる。このΣVを使
用して、系統保護の参照信号を作成することがで
きる。
V3の和としてのΣVが求められる。このΣVを使
用して、系統保護の参照信号を作成することがで
きる。
この際、参照信号としては加算のほか減算され
る場合もある。この場合は、例えば電気光学素子
６Ａを例にとると、第３図のように構成される。
第３図において、光は縦方向に通過する。連動ス
イツチ２０が，２０Ａ，２０Ｂの端子に接続され
ている場合、第１図に対して、V1は−V1となり
減算となる。連動スイツチ２０が，２０Ｃ，２０
Ｄにある場合は第１図と同じであるから加算、２
０Ｅ，２０Ｆにある場合は、V1＝０となり、オ
ープンであるから無視される。最後の場合同様に
V2＝０とすれば、従来とまつたく同様な１チヤ
ンネル電圧測定装置としても使用できる。
る場合もある。この場合は、例えば電気光学素子
６Ａを例にとると、第３図のように構成される。
第３図において、光は縦方向に通過する。連動ス
イツチ２０が，２０Ａ，２０Ｂの端子に接続され
ている場合、第１図に対して、V1は−V1となり
減算となる。連動スイツチ２０が，２０Ｃ，２０
Ｄにある場合は第１図と同じであるから加算、２
０Ｅ，２０Ｆにある場合は、V1＝０となり、オ
ープンであるから無視される。最後の場合同様に
V2＝０とすれば、従来とまつたく同様な１チヤ
ンネル電圧測定装置としても使用できる。
第４図は、各電気光学素子６Ａ，６Ｂ，６Ｃの
電圧印加方向の厚さD1、D2、D3を変えた場合を
示し、この場合の変調度Ｍは、次式で表わされ
る。
電圧印加方向の厚さD1、D2、D3を変えた場合を
示し、この場合の変調度Ｍは、次式で表わされ
る。
Ｍ＝K1V1＋K2V2＋K3V3 ……(6)
ここでK1、K2、K3：定数
K1、K2、K3は、厚さD1、D2、D3によつてコ
ントロールでき、この場合は、各電気光学素子に
印加される電圧V1、V2、V3に任意の倍率を乗じ
て、その和を求めることができる。
ントロールでき、この場合は、各電気光学素子に
印加される電圧V1、V2、V3に任意の倍率を乗じ
て、その和を求めることができる。
本発明の上記実施例には次のように有利な点が
多い。
多い。
(1) 電気光学素子６Ａ，６Ｂ，６Ｃを連続的に並
べて、被測定電圧を印加することにより、１台
の光学系で加減算ができ、従来被測定電圧毎に
必要だつた光学部品の数すなわち発光ダイオー
ド１，フオトダイオド１２，１３、偏光子４、
１／４波長板５、検光子７等の数が大幅に減少す
るから、精度の維持や保守点検が容易である。
べて、被測定電圧を印加することにより、１台
の光学系で加減算ができ、従来被測定電圧毎に
必要だつた光学部品の数すなわち発光ダイオー
ド１，フオトダイオド１２，１３、偏光子４、
１／４波長板５、検光子７等の数が大幅に減少す
るから、精度の維持や保守点検が容易である。
(2) 検出回路１４の出力がすでに加減算の結果に
対応しており、演算回路が不要になる。
対応しており、演算回路が不要になる。
(3) 連動スイツチ２０の切り換えだけで、加減算
が自由に変更でき、簡単である。
が自由に変更でき、簡単である。
(4) 光学的に加減算するため、電磁誘導や雑音の
影響がない。
影響がない。
本発明によれば、複数個の電気光学素子を連続
的に配置し、その各々の電気光学素子にそれぞれ
独立に被測定電圧を印加することにより、ただ１
台の電圧測定器で、多数点の電圧の加減算が精度
よくできる光方式電圧測定装置が得られる。
的に配置し、その各々の電気光学素子にそれぞれ
独立に被測定電圧を印加することにより、ただ１
台の電圧測定器で、多数点の電圧の加減算が精度
よくできる光方式電圧測定装置が得られる。
第１図は本発明の一実施例を示す構成図、第２
図は第１図の実施例で得られる波形を示す図、第
３図は減算を行なう場合の電気光学素子の配線
図、第４図は加算時の乗数を変更する場合の電気
光学素子の構成図である。 １……発光部、２……光フアイバ、３……集光
レンズ、４……偏光子、５……1/4波長板、６Ａ，
６Ｂ，６Ｃ……電気光学素子、７……検光子、
８，９……集光レンズ、１０，１１……光フアイ
バ、１２，１３……受光素子、１４……検出回
路。
図は第１図の実施例で得られる波形を示す図、第
３図は減算を行なう場合の電気光学素子の配線
図、第４図は加算時の乗数を変更する場合の電気
光学素子の構成図である。 １……発光部、２……光フアイバ、３……集光
レンズ、４……偏光子、５……1/4波長板、６Ａ，
６Ｂ，６Ｃ……電気光学素子、７……検光子、
８，９……集光レンズ、１０，１１……光フアイ
バ、１２，１３……受光素子、１４……検出回
路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 印加電圧に応じて透過光を位相変調する電気
光学素子と、電気光学素子の透過光を直角２成分
の光信号に分光する検光子と、検光子の出力光を
電気信号に再変換して印加電圧に比例した電気信
号を発生する検出回路とを備えた光方式電圧測定
装置において、 前記電気光学素子が、前記透過光の光軸に沿つ
て被測定電圧の数だけ連続的に配置され被測定電
圧を加算または減算方向に印加するための端子を
それぞれ独立に備えた複数の電気光学素子からな
ることを特徴とする光方式電圧測定装置。 ２ 特許請求の範囲第１項に記載の光方式電圧測
定装置において、 前記各々の電気光学素子が、電圧加算と電圧減
算との演算方式に応じて電圧の印加方向を切換え
る手段を備えたことを特徴とする光方式電圧測定
装置。 ３ 特許請求の範囲第１項または第２項に記載の
光方式電圧測定装置において、 前記各々の電気光学素子の電圧印加方向の厚さ
が異なることを特徴とする光方式電圧測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58211362A JPS60102566A (ja) | 1983-11-10 | 1983-11-10 | 光方式電圧測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58211362A JPS60102566A (ja) | 1983-11-10 | 1983-11-10 | 光方式電圧測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60102566A JPS60102566A (ja) | 1985-06-06 |
| JPH0432989B2 true JPH0432989B2 (ja) | 1992-06-01 |
Family
ID=16604710
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58211362A Granted JPS60102566A (ja) | 1983-11-10 | 1983-11-10 | 光方式電圧測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60102566A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0668509B2 (ja) * | 1985-08-07 | 1994-08-31 | 日本碍子株式会社 | 三相電線路の零相検電装置 |
-
1983
- 1983-11-10 JP JP58211362A patent/JPS60102566A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60102566A (ja) | 1985-06-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0088419B1 (en) | Apparatus for optically measuring a current | |
| EP0210716B1 (en) | Drift compensation technique for a magneto-optic current sensor | |
| JPS62297716A (ja) | 物理量の大きさを測定する方法及び装置 | |
| RU2086988C1 (ru) | Волоконно-оптическое устройство для измерения силы электрического тока | |
| DE19601727C1 (de) | Optisches Meßverfahren und optische Meßanordnung zum Messen eines magnetischen Wechselfeldes mit erweitertem Meßbereich und guter Linearität | |
| KR100310374B1 (ko) | 패러데이 효과를 이용해서 2개의 반대방향 광신호로전류를측정하기위한방법및장치 | |
| US6208129B1 (en) | Optical method and arrangement for measuring a periodic value having at least one frequency component | |
| JPH03259753A (ja) | 光方式直流電圧変成器 | |
| JPH0432989B2 (ja) | ||
| DE19544778A1 (de) | Verfahren und Anordnung zum Messen einer Meßgröße, insbesondere eines elektrischen Stromes, mit hoher Meßauflösung | |
| JP3137468B2 (ja) | 光学素子を用いた電気信号の測定装置 | |
| KR100307639B1 (ko) | 다 파장 광원을 이용한 전류/온도 측정 광 센서 및 그 방법 | |
| JP2705543B2 (ja) | 磁界強度の測定方法およびこれを用いた光磁界センサ | |
| JPS59669A (ja) | 光フアイバ磁界センサ | |
| RU2786621C1 (ru) | Измеритель тока оптический двухканальный для высоковольтных сетей | |
| RU2767166C1 (ru) | Измеритель тока оптический интерференционный | |
| RU2819134C1 (ru) | Измеритель тока оптический многоканальный для высоковольтных сетей | |
| JPH055755A (ja) | 光変成器 | |
| SU1092417A2 (ru) | Оптико-электронный трансформатор напр жени | |
| JPS59670A (ja) | 光フアイバ磁界センサ | |
| JP3011244B2 (ja) | 光応用直流電流変成器 | |
| JPS59159076A (ja) | 光学式磁界センサ | |
| JP3041637B2 (ja) | 光応用直流電流変成器 | |
| JPS62198767A (ja) | 光方式電圧測定装置 | |
| JPH02143173A (ja) | 光学式直流変成器 |