JPS62198767A - 光方式電圧測定装置 - Google Patents

光方式電圧測定装置

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JPS62198767A
JPS62198767A JP61042212A JP4221286A JPS62198767A JP S62198767 A JPS62198767 A JP S62198767A JP 61042212 A JP61042212 A JP 61042212A JP 4221286 A JP4221286 A JP 4221286A JP S62198767 A JPS62198767 A JP S62198767A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
voltage measuring
light
measured
voltage
Prior art date
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Pending
Application number
JP61042212A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Toda
戸田 和郎
Sumiko Morizaki
森崎 澄子
Osamu Kamata
修 鎌田
Satoshi Ishizuka
石塚 訓
Koichi Kanayama
光一 金山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はひとつの光フアイバ信号伝送路内に光強度変調
型の光方式電圧測定部を複数直列に配置し、印加電圧の
加減算を可能とした光方式電圧測定装置に関するもので
ある。
従来の技術 送配電系での電圧測定の場合、複数点の電圧を測定しそ
の和、差などの演算を行って利用する場合が多い。従来
はこの測定点の数だけ光方式電圧測定器を備え、各測定
器からの電気信号で演算処理していた。
また第2図は、ひとつの光信号伝送路中に複数のボッケ
ル効果をもつ電気光学結晶を連続的に配置し光学的に加
減算を行う方法での従来の光方式電圧測定装置の構成図
である。(特開昭θ〇−102566号) 第2図において、発光ダイオード等からなる発光部1か
ら放射された光は光ファイバ2を介して集光レンズ3に
より平行光になり、偏光子4に入射する。偏光子4をで
た光は直線偏光となり、さらにに波長板6を通過するこ
とにより円偏光となる。2波長板5から出だ円偏光はB
112Sio2o。
LiNbO3などから成る電気光学結晶6a、θb。
6Cを順に通過する。ここで電気光学結晶6a。
6b、ecKld、それぞれ被測定電圧v1.v2゜v
3を印加する。円偏光は、これらの電気光学結晶6a、
6b、6cにおいて電圧に比例した位相変調を受け、楕
円偏光になる。この楕円偏光は、検光子7により、直角
2成分のベクトル光に分離され、光量信号p、C,pア
となり、それぞれ集光レンズ8,9によって集光され光
ファイバ10.11を介して受光素子12.13に導び
かれる。受光素子12.13としては例えばフォトダイ
オードなどが使われるC光量信号P工、Pアは、ここで
電気信号に変換され、検出回路14でその変調度mを検
出し印加電圧値を求める。
いま、電気光学結晶6a、6b、6cにおける位相変化
をそれぞれδ1.δ2.δ3とすると、次のようになる
■1−=:δ1          ・・・・・・・・
・(1)V 2 ■δ2         ・・・・・
・・・・(2)v3■δ3         ・・・・
・・・・・(3)ここで電気光学結晶6a、6b、6c
の感度が等しいものとすると、電気光学結晶6cを通過
した後の位相差δは、 δ=δ1+δ2+δ5=K(V1+V2+V3)−−−
−・−(4)但しに:定数 となる。そして、検光子7によって分離される光量信号
px、pアは入射光量をPinとするとP、= a P
in (1+sinδ)          ・−・−
・−(5)P y= a Pin (1−sinδ)・
・−・−(6)但しα:ロス係数 となる。ここでsinδは変調度mと等しく検出回路1
4で、 岬δ (δ舛0) の演算を行うことにより変調度mが求められる。
変調度mは位相差δが小さい場合位相差δと等しいので
、(4)式より印加電圧v1.v2.v3の和に比例し
た値が求められることが解かる。
発明が解決しようとする問題点 従来の第2図に示すような構成では光の位相情報を外乱
の影響を得ることなく各々の電気光学結晶間を伝達する
必要があるため、各々の電気光学結晶間の情報伝達は空
間で行われ、同じ光路中に各々の電気光学結晶を配置す
る必要があり電圧測定点の空間的な位置に制限があった
。電気光学結晶の電圧印加電極を長くすることで解決で
きるが、光方式電圧測定が有効とされているような送配
電系の高電圧の測定では絶縁の点で問題であった。
また測定点の数だけ複数の光方式電圧測定器を配置して
、各測定器の出力を電気的に演算処理する構成では多く
の光方式電圧測定器が必要となっていた。
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、一台の
光方式電圧測定装置で、電圧測定点の空間的な位置に制
限されることなく複数の測定電圧の加減算を可能とした
特に三相交流の零相電圧測定に適した光方式電圧測定装
置を提供することを自熱L 1 イ1ハ人− 問題点を解決するための手段 本発明は上記問題点を解決するために、ポッケルス効果
を有する電気光学結晶、偏光子、検光子およびに波長板
からなる印加電圧に比例して光の強度変調を行う光方式
電圧測定部と、発光部と、光信号を伝送する光ファイバ
と、前記光方式電圧測定部の変調信号光を電気信号に変
換する光受信部を備え、前記光方式電圧測定部は測定電
圧の数だけそれぞれ前記光ファイバを介して直列に配置
され、前記複数の光方式電圧測定部に各々に印加される
測定電圧を光学的に加減算するものである。
作  用 本発明は上記した構成により、各々の光方式電圧測定部
で(1+m)  の光強度変調を行うことにより測定電
圧を光学的に加減算するものであり、各々の光方式電圧
測定部は光ファイバで結ばれているため電圧測定点の空
間的な位置による制限もなく、それぞれの電圧測定点間
の絶縁も保たれる。
実施例 第1図は本発明の一実施例を説明するための光方式電圧
測定装置の構成図である。16a、16b。
16Cは集光レンズ3a、3b、3c、偏光子4a、4
b、4c、%波長板5 a + 5 b + 5 c 
s電気光学結晶6a 、sb 、6c、検光子7a、7
b。
7c、集光レンズ8a、8b、8cからなる光方式電圧
測定部である。電気光学結晶6a、6b。
6Cには従来例と同様に被測定電圧v1.v2.v3が
印加されており、位相差δ1.δ2.δ3とは式(1)
(2) 、 (3)の関係が成立しているものとする。
発光部1から放射された光は光ファイバ2を介して光方
式電圧測定部15aに入射し、入射光量Pinは光方式
電圧測定部15aで(1+sinδ1)の光強度変調を
受け、その変調信号光は光ファイバ16を介して光方式
電圧測定部15bに入射され(1+sinδ2)の光強
度変調を受け、二重の光強度変調を受けた変調信号光は
光ファイバ17を介して光方式電圧測定部j5cに入射
され、さらに(1+癲δ2)の光強度変調を受は最終的
に光ファイバ18からの出射光量Pou tは次式のよ
うになる。
Pout = a Pin (1+Sinδ )・(1
+S1口δ )・(1+sinδ3)・・・・・・(8
) 但しα:ロス係数 ここでsinδ1 =m、 、 Sinδ2 ”” I
n2 、511232m3 と置くと Pout=αPfn(1+m1)(1+m2)(1+m
3)=aPin(1+(ml、+m2+m2)+(m、
m2+m2m3千m3m1)十m1m2m3〕= a 
Pin (1+M)               、
−−−=((1)となる。被測定電圧が交流である場合
、変調度Mも交流となシ、光受信部19で交流信号a 
Pin Mと直流信号αPinに分離し、 の演算を行うことによる変調度Mを算出する。
式(9)の第2項は被測定電圧V4.V2.V3の和に
関する項であり、第3項、第4項は誤差の項となる。変
調度1?11 、 !112 * !II3と被測定電
圧v1.v2゜■3とが直線性誤差1チ以内の関係に保
たれるのは、変調度n11 、 !1f12 + In
3が約0.26以下(位相差δ1.δ2.δ3が約14
°以下)の場合であり、被測定電圧V1.V2.V3の
和は、変調度1!11 + In2 +m3の値に応じ
た第3項、第4項の誤差を含んで検出できることになる
また被測定電圧V1.V2.V3が三相の交流電圧であ
る場合はm1=m2 ’:m3(==m )であシ、式
(9)は次式のようになる。
Pout=αPin(1+m5ina+t )11 (
1+m5in(ωt+−))・・・・・・α力 三相交流での零相電圧測定では三相のうちの異状相の変
調度mの変化Δmを検出することが必要とされている。
異状の無い場合は、式(ロ)のように印加電圧の和第2
項は0となる。三相交流のある一相が変調度(m+Δm
)になる異状が発生した場合式〇っは Pout =a Pin(1+Δm5ina+t −(
−i+−Δmam+Δm m m * COS 2ωt
)−−(m’+Δm*m”)sin3ωt)・・・・・
・α力 となり、光受信部19で交流信号と直流信号に分離し、
弐〇〇と同様の演算を行いさらにcos2ωt。
5ln3ωt の項をローパスフィルタでカットするこ
とにより、三相交流の異状に関与するΔm5inωtの
項のみを検出できる。
発明の効果 以上述べてきたように本発明の構成によれば、複数の光
方式電圧測定部は互いに光ファイバで結ばれており被測
定電圧点の空間的な位置による制限もなく、それぞれの
被測定電圧点間の絶縁も保たれ、複数の被測定電圧を光
学的に加減算することが可能な光方式電圧測定装置を実
現できる0
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における光方式電圧測定装置
の概略構成図、第2図は従来の光方式電圧測定装置の構
成図である。 1・・・・・・発光部、2,10,11.16,17゜
18・・・・・・光ファイバ、6・・・・・・電気光学
結晶、15・・・・・・光方式電圧測定部、14・・・
・・・検出回路、19・・・・・・光受信部。 /−一一発光部 2. /6. I’7.18−−一尤7アイノ(3、B
−−一乗光レンズ 7一 検光子 ts−一光方式電元−7’1足邦 /−−一宛光部 z、 to、 tt −−一光ファイバ3.87デーー
ー墓光レンズ 6−近気光学緒晶 7−検光子

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ポッケルス効果を有する電気光学結晶、偏光子、
    検光子および1/4波長板からなる印加電圧に比例して
    光の強度変調を行う光方式電圧測定部と、発光部と、光
    信号を伝送する光ファイバと、前記光方式電圧測定部の
    変調信号を電気信号に変換する光受信部を備え、前記光
    方式電圧測定部は測定電圧の数だけそれぞれが前記光フ
    ァイバを介して直列に配置され、前記複数の光方式電圧
    測定部に各々独立に印加される測定電圧を光学的に加減
    算することを特徴とする光方式電圧測定装置。
  2. (2)測定電圧は三相交流電圧であることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の光方式電圧測定装置。
JP61042212A 1986-02-27 1986-02-27 光方式電圧測定装置 Pending JPS62198767A (ja)

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JP61042212A JPS62198767A (ja) 1986-02-27 1986-02-27 光方式電圧測定装置

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