JPH0433015A - 座標入力手段 - Google Patents
座標入力手段Info
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- JPH0433015A JPH0433015A JP2134659A JP13465990A JPH0433015A JP H0433015 A JPH0433015 A JP H0433015A JP 2134659 A JP2134659 A JP 2134659A JP 13465990 A JP13465990 A JP 13465990A JP H0433015 A JPH0433015 A JP H0433015A
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- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
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- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 6
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 3
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- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、抵抗膜上の電位を検出して座標読み取りを行
う座標入力手段に関し、筆圧によって変化する接触抵抗
値を計測する手段に関する。
う座標入力手段に関し、筆圧によって変化する接触抵抗
値を計測する手段に関する。
[従来の技術]
従来の座標入力手段に関しては、筆記するベンの先に、
筆圧を計測するための、バネによって支持された変位部
を持つ変位測定手段を設け、該変位測定手段の出力等に
よって筆圧を計測していた。
筆圧を計測するための、バネによって支持された変位部
を持つ変位測定手段を設け、該変位測定手段の出力等に
よって筆圧を計測していた。
[発明が解決しようとする課題1
しかしながら、従来の技術では、
■筆圧測定用の特殊な筆記具を用意する必要がある、
■通常の筆記具のサイズに筆圧測定手段を内蔵させねば
ならず、筆記具のコストアップ、筆記具の重量増加を招
く、 ■前記筆圧測定手段からの測定値を転送、または記憶さ
せるためのデータ転送手段またはデータ記憶手段を筆記
具に内蔵させねばならず、コストアップ、重量増加を招
くと共に、転送手段を有線によるものとした場合、使用
感が損なわれる、等の課題を有する。
ならず、筆記具のコストアップ、筆記具の重量増加を招
く、 ■前記筆圧測定手段からの測定値を転送、または記憶さ
せるためのデータ転送手段またはデータ記憶手段を筆記
具に内蔵させねばならず、コストアップ、重量増加を招
くと共に、転送手段を有線によるものとした場合、使用
感が損なわれる、等の課題を有する。
本発明はこのような課題を解決するもので、その目的と
するところは、特別な簀記用具無しに、筆圧によって変
化する抵抗値を計測する座標入力手段を提供するところ
にある。
するところは、特別な簀記用具無しに、筆圧によって変
化する抵抗値を計測する座標入力手段を提供するところ
にある。
[課題を解決するための手段]
上記課題を解決するため、本発明の座標入力手段では、
a)電位レベルを他の回路に監視させ、また高゛低2レ
ベルの電圧を印加させるための2つ以上の電極をもった
。対向する2枚の抵抗膜と、b)対向した抵抗膜上に、
低レベル・高レベルの2種類の電圧を前記電極に印加す
る手段と、C)前記電極を、前記2種類の電圧の双方か
ら切断し、高インピーダンスとする手段と、d)アナロ
グ/デジタル変換手段とを持ち、e)片側の抵抗膜のあ
る一方の電極に高レベルの電圧、もう一方の電極に低レ
ベルの電圧を印加し前記抵抗膜上に電圧勾配を生じさせ
、前記抵抗膜に対向する抵抗膜を高インピーダンスとし
、抵抗膜上のある点に応力が加わった場合、たわみによ
って接触した部分の電位を、高インピーダンスにした抵
抗膜の電極からアナログ/デジタル変換手段によって読
み取り、その値によって接触位置を数値化する座標入力
手段に於て、 f)座標値読み取り前に、前記2枚の抵抗膜双方に高ま
たは、低レベルのみの電圧を印加し、直後に座標値読み
取りを行う0次に前記2枚の抵抗膜双方に前記レベル以
外のもう一方の電圧を印加し、直後に座標値読み取りを
行い、さきに読み取った値と、あとに読み取った値とを
用いて、前記接触した部分の接触抵抗の抵抗値を計測す
ることを特徴としている。
ベルの電圧を印加させるための2つ以上の電極をもった
。対向する2枚の抵抗膜と、b)対向した抵抗膜上に、
低レベル・高レベルの2種類の電圧を前記電極に印加す
る手段と、C)前記電極を、前記2種類の電圧の双方か
ら切断し、高インピーダンスとする手段と、d)アナロ
グ/デジタル変換手段とを持ち、e)片側の抵抗膜のあ
る一方の電極に高レベルの電圧、もう一方の電極に低レ
ベルの電圧を印加し前記抵抗膜上に電圧勾配を生じさせ
、前記抵抗膜に対向する抵抗膜を高インピーダンスとし
、抵抗膜上のある点に応力が加わった場合、たわみによ
って接触した部分の電位を、高インピーダンスにした抵
抗膜の電極からアナログ/デジタル変換手段によって読
み取り、その値によって接触位置を数値化する座標入力
手段に於て、 f)座標値読み取り前に、前記2枚の抵抗膜双方に高ま
たは、低レベルのみの電圧を印加し、直後に座標値読み
取りを行う0次に前記2枚の抵抗膜双方に前記レベル以
外のもう一方の電圧を印加し、直後に座標値読み取りを
行い、さきに読み取った値と、あとに読み取った値とを
用いて、前記接触した部分の接触抵抗の抵抗値を計測す
ることを特徴としている。
[作 用]
本発明は以上の構成を有することにより、抵抗期間及び
アナログ/デジタル変換器の入力容量への充電後、座標
値読み取りを行った場合と、放電後に座標値読み取りを
行った場合では、接触抵抗が高いと、時定数が長くなり
、前記2つの読み取り値に大きな差が発生することを利
用し、接触抵抗の抵抗値が計測できる。
アナログ/デジタル変換器の入力容量への充電後、座標
値読み取りを行った場合と、放電後に座標値読み取りを
行った場合では、接触抵抗が高いと、時定数が長くなり
、前記2つの読み取り値に大きな差が発生することを利
用し、接触抵抗の抵抗値が計測できる。
〔実 施 例1
以下、本発明について実施例に基づいて詳細に説明する
。第1図は本発明の座標入力手段を実現した一実施例の
回路図である。
。第1図は本発明の座標入力手段を実現した一実施例の
回路図である。
図中1は、−点に2方向の応力を加えると、弾性変形す
る板材の下側に均一な抵抗膜を形成し、さらにY方向の
両端に前記抵抗膜から集電するための高レベル電圧印加
電極(図中3、以後Y生電極と呼ぶ)と低レベル電圧印
加電極(図中4、以後Y−電極と呼ぶ)を形成した板(
以後、上抵抗板と呼ぶ)である。図中2は板材の上側に
均一な抵抗膜を形成し、さらにX方向の両端に前記抵抗
膜から集電するための高レベル電圧印加電極(図中6、
以後X生電極と呼ぶ)と低レベル電圧印加電極(図中5
、以後X−電極と呼ぶ)を形成した板(以後、下爪抗板
と呼ぶ)である。
る板材の下側に均一な抵抗膜を形成し、さらにY方向の
両端に前記抵抗膜から集電するための高レベル電圧印加
電極(図中3、以後Y生電極と呼ぶ)と低レベル電圧印
加電極(図中4、以後Y−電極と呼ぶ)を形成した板(
以後、上抵抗板と呼ぶ)である。図中2は板材の上側に
均一な抵抗膜を形成し、さらにX方向の両端に前記抵抗
膜から集電するための高レベル電圧印加電極(図中6、
以後X生電極と呼ぶ)と低レベル電圧印加電極(図中5
、以後X−電極と呼ぶ)を形成した板(以後、下爪抗板
と呼ぶ)である。
図中7.8はエミッタ端子に高レベル電圧を接続したP
NP hランジスタロ1、Q2、図中9.10はエミッ
タ端子に低レベル電圧を接続したNPNI−ランジスタ
Q3、Q4である。各トランジスタはプログラマブルコ
ントローラ部(図中21、以後PCUと略す)の制御出
力(図中11.12.13.14)によって遮断状態(
以後OFFと呼ぶ)または飽和状態(以後ONと呼ぶ)
の何れかの状態となるように動作する。Y生電極はQl
、X生電極はQ2、Y−電極はQ3、X−W極はQ4の
、各々コレクタ端子に接続される。各トランジスタがO
Nとなったときに、該トランジスタのエミッタ端子に接
続されているレベルの電圧が各電極に印加されることに
なり、また各トランジスタがOFFとなったときには前
記レベルの電圧から遮断される。
NP hランジスタロ1、Q2、図中9.10はエミッ
タ端子に低レベル電圧を接続したNPNI−ランジスタ
Q3、Q4である。各トランジスタはプログラマブルコ
ントローラ部(図中21、以後PCUと略す)の制御出
力(図中11.12.13.14)によって遮断状態(
以後OFFと呼ぶ)または飽和状態(以後ONと呼ぶ)
の何れかの状態となるように動作する。Y生電極はQl
、X生電極はQ2、Y−電極はQ3、X−W極はQ4の
、各々コレクタ端子に接続される。各トランジスタがO
Nとなったときに、該トランジスタのエミッタ端子に接
続されているレベルの電圧が各電極に印加されることに
なり、また各トランジスタがOFFとなったときには前
記レベルの電圧から遮断される。
図中15.16はアナログスイッチSWI、8w2であ
り、各々PCUからの制御出力(図中17.18)によ
って制御される。SWl、SW2は正抵抗板、下爪抗板
の電位を選択的にアナログ/デジタル変換器(図中19
)の入力に導通させるものである。また該アナログ/デ
ジタル変換器の入力インピーダンスは抵抗板の抵抗、ま
たは抵抗板間の接触抵抗に比して十分大きく、SWI、
SW2の導通によっては、前記抵抗板の電位は変化しな
い。
り、各々PCUからの制御出力(図中17.18)によ
って制御される。SWl、SW2は正抵抗板、下爪抗板
の電位を選択的にアナログ/デジタル変換器(図中19
)の入力に導通させるものである。また該アナログ/デ
ジタル変換器の入力インピーダンスは抵抗板の抵抗、ま
たは抵抗板間の接触抵抗に比して十分大きく、SWI、
SW2の導通によっては、前記抵抗板の電位は変化しな
い。
図中20はアナログ/デジタル変換器とPCUのインタ
ーフェースであり、PCUは該インターフェースを介し
て数値に変換された前記電位を読みだし、またアナログ
/デジタル変換器の動作停止・開始等の制御を行う。
ーフェースであり、PCUは該インターフェースを介し
て数値に変換された前記電位を読みだし、またアナログ
/デジタル変換器の動作停止・開始等の制御を行う。
図中22はPCUと他の機器等とのインターフェースで
あり、PCTJは該インターフェースを通しで座標デー
タを出力する。
あり、PCTJは該インターフェースを通しで座標デー
タを出力する。
以下PCUが行う制御手順を第2.3.4区のフローチ
ャートに従って説明する。
ャートに従って説明する。
第2図は本発明の座標入力手段の制御手順の概要である
。まずX座標を読み込み(ステップ1)、xの値がエラ
ーかどうか判断しくステップ2)エラーならば再びX座
標の読み込みにいく。
。まずX座標を読み込み(ステップ1)、xの値がエラ
ーかどうか判断しくステップ2)エラーならば再びX座
標の読み込みにいく。
正常な値であれば、次にY座標を読み込み(ステップ3
)、Yの値がエラーかどうか判断しくステップ4)エラ
ーならば再びX座標の読み込みから再開する。正常な値
であれば、X座標読み取り時に測定された接触抵抗値R
xとY座標読み取り時に測定された接触抵抗値Ryの平
均値をRに保存しくステップ5)、座標値(X、Y)及
び、接触抵抗の平均fly! Hの出力を行う(ステッ
プ6)。以後この動作を繰り返す。
)、Yの値がエラーかどうか判断しくステップ4)エラ
ーならば再びX座標の読み込みから再開する。正常な値
であれば、X座標読み取り時に測定された接触抵抗値R
xとY座標読み取り時に測定された接触抵抗値Ryの平
均値をRに保存しくステップ5)、座標値(X、Y)及
び、接触抵抗の平均fly! Hの出力を行う(ステッ
プ6)。以後この動作を繰り返す。
第3図はX座標読み込み手順のフローチャートである。
Ql・Q2をOFF、Q3・Q4をONにして上下抵抗
板の電荷を放出し、電位を低レベル電圧とする(ステッ
プ6)。Q2・Q4をONにして下爪抗板に電流を流し
電圧勾配を生じさせ、Ql・02をOFFにして正抵抗
板を各電圧より遮断する(又テップ7)、アナログ/デ
ジタル変換を開始する(ステップ8)。正抵抗板に応力
がかかり、下爪抗板とある一点で接触していると、正抵
抗板の電位は、接触点を介して徐々に電荷を蓄積しなが
ら、接触点の電位へ落ち看いて行く。ある一定時間(以
後TOと呼ぶ)待って(ステップ14)、アナログ/デ
ジタル変換器の変換値を読みだし、変数W1に格納する
(ステップ15)。次に01・Q2をON、Q3・Q4
をOFFにして上下抵抗板に電荷を蓄積し、電位を高レ
ベル電圧とする(ステップ6)。ステップ7〜9の手順
をそのまま繰り返しくステップ12〜14)、読みだし
たアナログ/デジタル変換器の変換値を変数W2に格納
する(ステップ15)。
板の電荷を放出し、電位を低レベル電圧とする(ステッ
プ6)。Q2・Q4をONにして下爪抗板に電流を流し
電圧勾配を生じさせ、Ql・02をOFFにして正抵抗
板を各電圧より遮断する(又テップ7)、アナログ/デ
ジタル変換を開始する(ステップ8)。正抵抗板に応力
がかかり、下爪抗板とある一点で接触していると、正抵
抗板の電位は、接触点を介して徐々に電荷を蓄積しなが
ら、接触点の電位へ落ち看いて行く。ある一定時間(以
後TOと呼ぶ)待って(ステップ14)、アナログ/デ
ジタル変換器の変換値を読みだし、変数W1に格納する
(ステップ15)。次に01・Q2をON、Q3・Q4
をOFFにして上下抵抗板に電荷を蓄積し、電位を高レ
ベル電圧とする(ステップ6)。ステップ7〜9の手順
をそのまま繰り返しくステップ12〜14)、読みだし
たアナログ/デジタル変換器の変換値を変数W2に格納
する(ステップ15)。
格納されたWl、W2の値の差をしきい値と比較しくス
テップ16)以上であれば、上下抵抗板の接触抵抗が高
く不安定な状態として、変数Xにエラー値を格納しくス
テップ19)、Lきい値より小さければ変数Xには、W
lとW2より、後記する式(3)により算出される値を
、また変数Rヶには式(4)によって算出される値を格
納する(ステップ18)。以上の手順でX座標読み込み
は行われる。
テップ16)以上であれば、上下抵抗板の接触抵抗が高
く不安定な状態として、変数Xにエラー値を格納しくス
テップ19)、Lきい値より小さければ変数Xには、W
lとW2より、後記する式(3)により算出される値を
、また変数Rヶには式(4)によって算出される値を格
納する(ステップ18)。以上の手順でX座標読み込み
は行われる。
第4区はY座標読み込み手順のフローチャー1・である
が、第3図に於てXをYに、R,をRYに読み替え、Q
lと02、Q3と04、SWIとSW2をそれぞれそっ
くり交換したものである。
が、第3図に於てXをYに、R,をRYに読み替え、Q
lと02、Q3と04、SWIとSW2をそれぞれそっ
くり交換したものである。
第5図は、第3図のX座標読み込み手順に於ける正抵抗
板の電位の変化の一例を図中37の曲線によって図示し
たものである。図中26の時点、がステップ6、図中2
7の時点がステップ7、図中28の時点がステップ10
、図中29の時点、がステップ11.図中30の時点が
ステップ12、図中31の時点がステップ15に対応す
る。また図中25がアナログ/デジタル変換器の変換値
が格納されたWlの値、図中23がアナログ/デジタル
変換器の変換値が格納されたW2の値、図中24がWl
、、W2より後述する式(3)に従って算出されたXの
値を示している。
板の電位の変化の一例を図中37の曲線によって図示し
たものである。図中26の時点、がステップ6、図中2
7の時点がステップ7、図中28の時点がステップ10
、図中29の時点、がステップ11.図中30の時点が
ステップ12、図中31の時点がステップ15に対応す
る。また図中25がアナログ/デジタル変換器の変換値
が格納されたWlの値、図中23がアナログ/デジタル
変換器の変換値が格納されたW2の値、図中24がWl
、、W2より後述する式(3)に従って算出されたXの
値を示している。
第6図は正損抗板に応力を印加する入力加重と、上下抵
抗板の接触抵抗の関係の一例を図中38の曲線によって
図示したものである。接触抵抗値から、前記関係によっ
て印加された入力加重を算出することができる。
抗板の接触抵抗の関係の一例を図中38の曲線によって
図示したものである。接触抵抗値から、前記関係によっ
て印加された入力加重を算出することができる。
第7図は、本発明の座標入力手段の各構成部を等価的な
電気素子に置き変えた回路図である。図中32はX生電
極に高レベル電圧、X−電極に低レベル電圧を与えた下
爪抗板を示す等価抵抗、図中33は接触抵抗の等価抵抗
、図中34はY生電極、Y−電極を高・低レベル電圧よ
り遮断した正損抗板を示す等価抵抗、図中36はアナロ
グ/デジタル変換器の入力容量、上下抵抗板間の容量の
総和を等価的に示す等価コンデンサ、図中36は電圧の
観測点を示す電圧計のシンボルである。第6図に示すよ
うに、接触抵抗は入力加重によって大きく変化する。−
回の座標読み取りを行う時間中、入力加重が小さいが安
定している場合、以下の手段により高精度な真の座標値
の推定が可能である。
電気素子に置き変えた回路図である。図中32はX生電
極に高レベル電圧、X−電極に低レベル電圧を与えた下
爪抗板を示す等価抵抗、図中33は接触抵抗の等価抵抗
、図中34はY生電極、Y−電極を高・低レベル電圧よ
り遮断した正損抗板を示す等価抵抗、図中36はアナロ
グ/デジタル変換器の入力容量、上下抵抗板間の容量の
総和を等価的に示す等価コンデンサ、図中36は電圧の
観測点を示す電圧計のシンボルである。第6図に示すよ
うに、接触抵抗は入力加重によって大きく変化する。−
回の座標読み取りを行う時間中、入力加重が小さいが安
定している場合、以下の手段により高精度な真の座標値
の推定が可能である。
真の座標値をXとすると、まず前記W1、W2は
W1=X−[1−exp(−To/C1R+R51)]
・ ・ ・ (1)W2=(vH−Xi・ex
p(−To?C(R+Rs))+X ・・・(2)と
なる。ここで■8は高レベル電圧の値、Cは前記等価コ
ンデンサの容量、Rは前記接触抵抗、Rsは抵抗膜上の
接触位置から電極までの抵抗である。前記(1)、(2
)式より X=WIVH/fVH+W1−W2+ −
−・(3)となる。前記Rsは接触位置に比例するため
、抵抗膜の単位距離当りの抵抗値ρを用いて、Rs=ρ
・X ・・・ (5)と書ける。従っ
て接触抵抗Rは、 2−MI R=To・C11n V’−9・X
・ ・ ・ (4)vH となる。
・ ・ ・ (1)W2=(vH−Xi・ex
p(−To?C(R+Rs))+X ・・・(2)と
なる。ここで■8は高レベル電圧の値、Cは前記等価コ
ンデンサの容量、Rは前記接触抵抗、Rsは抵抗膜上の
接触位置から電極までの抵抗である。前記(1)、(2
)式より X=WIVH/fVH+W1−W2+ −
−・(3)となる。前記Rsは接触位置に比例するため
、抵抗膜の単位距離当りの抵抗値ρを用いて、Rs=ρ
・X ・・・ (5)と書ける。従っ
て接触抵抗Rは、 2−MI R=To・C11n V’−9・X
・ ・ ・ (4)vH となる。
第8図は本実施例にかかる座標入力装置を応用した描画
入力装置である6図中40は本実施例にかかる座標入力
装置、図中41は前記座標入力装置により、入力された
座標及び接触抵抗値を、対応する表示位置に接触抵抗値
の逆数に比例する直径を持つ円図形を表示させることに
より確認を行う図形表示手段であり、図中42は他の機
器に対して、前記図形表示手段よりデータを転送するた
めのデータ転送手段である。第9図(a)は前記描画入
力装置を用いて、筆圧をかえて点を2点描画した例であ
る。図中43は弱い筆圧で入力した点、図中44は強い
筆圧で入力した点である。また第2図(b)は漢字「−
」を入力した例である。
入力装置である6図中40は本実施例にかかる座標入力
装置、図中41は前記座標入力装置により、入力された
座標及び接触抵抗値を、対応する表示位置に接触抵抗値
の逆数に比例する直径を持つ円図形を表示させることに
より確認を行う図形表示手段であり、図中42は他の機
器に対して、前記図形表示手段よりデータを転送するた
めのデータ転送手段である。第9図(a)は前記描画入
力装置を用いて、筆圧をかえて点を2点描画した例であ
る。図中43は弱い筆圧で入力した点、図中44は強い
筆圧で入力した点である。また第2図(b)は漢字「−
」を入力した例である。
[発明の効果]
以上、述べたように本発明の座標入力手段を用いること
により、筆圧によって変化する接触抵抗を座標値と共に
実時間で計測できる座標人力装置を全くコストアップす
ることなしに実現できる。
により、筆圧によって変化する接触抵抗を座標値と共に
実時間で計測できる座標人力装置を全くコストアップす
ることなしに実現できる。
また、特別な筆圧検出機構を必要としないことから、例
えば描画システムのように筆致を筆圧に代表させ、デジ
タルデータとして蓄積するシステムに前記座標入力手段
を用いた場合、使用者は実際の筆記具の使用感に近い感
覚で描画をデジタルデータとして入力することが出来る
。
えば描画システムのように筆致を筆圧に代表させ、デジ
タルデータとして蓄積するシステムに前記座標入力手段
を用いた場合、使用者は実際の筆記具の使用感に近い感
覚で描画をデジタルデータとして入力することが出来る
。
第1図は、本発明の一実施例の座標入力手段のハードウ
ェアを示す回路図。 第2図は、本発明の一実施例の座標入力手段の制御手順
の概要を示すフローチャート・第3図は1本発明の一実
施例の座標入力手段のX座標値読み込み手順を示すフロ
ーチャート。 第4図は、本発明の一実施例の座標入力手段のY座標値
読み込み手順を示すフローチャート。 第5図は、第3図のX座標読み込み手順に於ける正損抗
板の電位の変化の一例を示す図。 第6図は、正損抗板に応力をErl加する入力加重と、
上下抵抗板の接触抵抗の関係の一例を示す図。 第7図は、本発明の一実施例の座標入力手段の各構成部
を等測的な電気素子に置き換えた回路図。 第8図は、本発明の一実施例の座標入力手段を応用した
描画装置を示す図。 第9図は、本発明の一実施例の座標入力手段を応用した
描画装置を用いた描画例を示す図。 ・正損抗板 ・下爪抗板 ・Y生電極 ・Y−電極 ・X−電極 ・X生電極 ・NPNI−ランジスクQI NPN l−ランジスタQ2 PNPトランジスタQ3 1 O・ 11. 15 ・ 16 ・ 17、 l 9 ・ 20 ・ 21 ・ ・ 22 ・ 23 ・ 24 ・ 25 ・ 27 ・ 28 ・ 29 ・ PNP トランジスタQ4 3.14 トランジスタの制御出力 アナログスイッチSWI アナログスイッチSW2 アナログスイッチの制御出力 アナログ/デジタル変換器 PCUとアナログ/デジタル変 換器間のインターフェース ・プログラマブルコントローラ部 (PCU) ・PCUと外部機器のインタ フェース Wlの値 WlとW2の平均値 W2の値 ステップ6時点 ステップ7時点 ステップ10時点 ステップ11時点 3 o ・ 31 ・ 32 ・ 35 ・ ・ 37 ・ ・ 38 ・ 40 ・ 41 ・ 42 ・ 43 ・ 44 ・ ・ステップ12時点 ・ステップ15時点 ・下爪抗板を示す等価抵抗 接触抵抗を示す等価抵抗 ・正損抗板を示す等価抵抗 ・アナログ/デジタル変換器の入 力容量、上下抵抗板間容量の総 和を示す等価コンデンサ ・正損抗板の電位の観測点を示す 電圧計 X座標読み込み手順に於ける上 抵抗板の電位の変化を示す曲線 ・正損抗板に応力を印加する入力 加重と、上下抵抗板の接触抵抗 の関係を示す曲線 ・座標入力装置 ・図形表示装置 ・データ転送手段 ・弱い筆圧で入力した点 ・強い筆圧で入力した点 第2図 第5図 入力荷重 第7図 第8図
ェアを示す回路図。 第2図は、本発明の一実施例の座標入力手段の制御手順
の概要を示すフローチャート・第3図は1本発明の一実
施例の座標入力手段のX座標値読み込み手順を示すフロ
ーチャート。 第4図は、本発明の一実施例の座標入力手段のY座標値
読み込み手順を示すフローチャート。 第5図は、第3図のX座標読み込み手順に於ける正損抗
板の電位の変化の一例を示す図。 第6図は、正損抗板に応力をErl加する入力加重と、
上下抵抗板の接触抵抗の関係の一例を示す図。 第7図は、本発明の一実施例の座標入力手段の各構成部
を等測的な電気素子に置き換えた回路図。 第8図は、本発明の一実施例の座標入力手段を応用した
描画装置を示す図。 第9図は、本発明の一実施例の座標入力手段を応用した
描画装置を用いた描画例を示す図。 ・正損抗板 ・下爪抗板 ・Y生電極 ・Y−電極 ・X−電極 ・X生電極 ・NPNI−ランジスクQI NPN l−ランジスタQ2 PNPトランジスタQ3 1 O・ 11. 15 ・ 16 ・ 17、 l 9 ・ 20 ・ 21 ・ ・ 22 ・ 23 ・ 24 ・ 25 ・ 27 ・ 28 ・ 29 ・ PNP トランジスタQ4 3.14 トランジスタの制御出力 アナログスイッチSWI アナログスイッチSW2 アナログスイッチの制御出力 アナログ/デジタル変換器 PCUとアナログ/デジタル変 換器間のインターフェース ・プログラマブルコントローラ部 (PCU) ・PCUと外部機器のインタ フェース Wlの値 WlとW2の平均値 W2の値 ステップ6時点 ステップ7時点 ステップ10時点 ステップ11時点 3 o ・ 31 ・ 32 ・ 35 ・ ・ 37 ・ ・ 38 ・ 40 ・ 41 ・ 42 ・ 43 ・ 44 ・ ・ステップ12時点 ・ステップ15時点 ・下爪抗板を示す等価抵抗 接触抵抗を示す等価抵抗 ・正損抗板を示す等価抵抗 ・アナログ/デジタル変換器の入 力容量、上下抵抗板間容量の総 和を示す等価コンデンサ ・正損抗板の電位の観測点を示す 電圧計 X座標読み込み手順に於ける上 抵抗板の電位の変化を示す曲線 ・正損抗板に応力を印加する入力 加重と、上下抵抗板の接触抵抗 の関係を示す曲線 ・座標入力装置 ・図形表示装置 ・データ転送手段 ・弱い筆圧で入力した点 ・強い筆圧で入力した点 第2図 第5図 入力荷重 第7図 第8図
Claims (1)
- (1) a)電位レベルを他の回路に監視させ、また高・低2レ
ベルの電圧を印加させるための2つ以上の電極をもった
、対向する2枚の抵抗膜と、 b)対向した抵抗膜上に、低レベル・高レベルの2種類
の電圧を前記電極に印加する手段と、c)前記電極を、
前記2種類の電圧の双方から切断し、高インピーダンス
とする手段と、 d)アナログ/デジタル変換手段とを持ち、e)片側の
抵抗膜のある一方の電極に高レベルの電圧、もう一方の
電極に低レベルの電圧を印加し前記抵抗膜上に電圧勾配
を生じさせ、前記抵抗膜に対向する抵抗膜を高インピー
ダンスとし、抵抗膜上のある点に応力が加わった場合、
たわみによつて接触した部分の電位を、高インピーダン
スにした抵抗膜の電極からアナログ/デジタル変換手段
によって読み取り、その値によって接触位置を数値化す
る座標入力手段に於て、 f)座標値読み取り前に、前記2枚の抵抗膜双方に高ま
たは、低レベルのみの電圧を印加し、直後に座標値読み
取りを行う、次に前記2枚の抵抗膜双方に前記レベル以
外のもう一方の電圧を印加し、直後に座標値読み取りを
行い、さきに読み取った値と、あとに読み取った値とを
用いて、前記接触した部分の接触抵抗の抵抗値を計測す
ることを特徴とする座標入力手段。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2134659A JPH0433015A (ja) | 1990-05-24 | 1990-05-24 | 座標入力手段 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2134659A JPH0433015A (ja) | 1990-05-24 | 1990-05-24 | 座標入力手段 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0433015A true JPH0433015A (ja) | 1992-02-04 |
Family
ID=15133556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2134659A Pending JPH0433015A (ja) | 1990-05-24 | 1990-05-24 | 座標入力手段 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0433015A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5455574A (en) * | 1992-02-27 | 1995-10-03 | Gunze Limited | Touch panel device including resistance material and position detecting unit |
| US5496974A (en) * | 1993-05-11 | 1996-03-05 | Gunze Limited | Apparatus for detecting the coordinate position of a contact point on touch panel |
-
1990
- 1990-05-24 JP JP2134659A patent/JPH0433015A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5455574A (en) * | 1992-02-27 | 1995-10-03 | Gunze Limited | Touch panel device including resistance material and position detecting unit |
| US5496974A (en) * | 1993-05-11 | 1996-03-05 | Gunze Limited | Apparatus for detecting the coordinate position of a contact point on touch panel |
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