JPH04332839A - 振動試験装置 - Google Patents

振動試験装置

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JPH04332839A
JPH04332839A JP3104179A JP10417991A JPH04332839A JP H04332839 A JPH04332839 A JP H04332839A JP 3104179 A JP3104179 A JP 3104179A JP 10417991 A JP10417991 A JP 10417991A JP H04332839 A JPH04332839 A JP H04332839A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vibration
test
test specimen
jig
vibrates
Prior art date
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Pending
Application number
JP3104179A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadashi Yokogawa
横川 忠
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP3104179A priority Critical patent/JPH04332839A/ja
Publication of JPH04332839A publication Critical patent/JPH04332839A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子機器等に一定の振
動を与えて、その影響を調べる振動試験装置に関するも
のである。
【0002】電子機器等の振動に対する影響を調べるた
め、振動試験装置によって一定量の振動を与える振動試
験が行われているが、電子機器等の試験体に対してXY
Z軸の3方向の振動を与える必要があるため、試験作業
の工数が多く試験時間がかかる。従って、工数が少なく
、容易に試験することのできる振動試験装置が求められ
ている。
【0003】
【従来の技術】従来、振動試験装置は、図4(a)ない
し(c)に示すように、振動基台30に設けられた上下
振動可能な加振軸310に立方体状の試験体取り付け治
具20を固定して形成されていた。
【0004】そして、電子機器等の試験体1を加振して
振動試験を行うには、図4(a)に示すように、治具2
0の上面部210に試験体1を粘着テープ等で巻き付け
て固定し、加振軸310を上下振動させることにより、
試験体1のX軸方向を加振する。次いで、図4(b)に
示すように、試験体1を治具20の上面部210より取
り外し、治具20の側面部220に試験体1のY軸方向
が加振軸の方向となるように固定し直して加振する。同
様にして、図4(c)に示すように、試験体1のZ軸方
向が加振軸方向となるように固定し直して加振し、XY
Z軸の3方向成分の加振をそれぞれの方向ごとに加振し
ていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
振動試験装置では、試験体の固定方向を変えなければな
らないために余分な時間を要し、試験の作業効率が悪い
という欠点があった。また、XYZ軸の各方向成分毎に
加振するため、電子機器の実際の使用状況における複合
的な振動による影響とは必ずしも試験結果が合致しない
という欠点があった。
【0006】従って、本発明は試験体の固定方向を変え
る作業工程をなくして、作業を容易にし、かつ実際の使
用状況に合った試験結果を得ることのできる振動試験装
置の提供を目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明を実施例に対応す
る図1ないし図3に基づいて説明すると、試験体1を一
定方向に取り付ける治具2と、前記治具2を加振する加
振軸3とよりなる振動試験装置において、前記加振軸3
がその軸方向に上下振動するとともに、軸方向まわりに
正逆回転振動する。さらに、前記治具2は試験体1を傾
斜状に取り付ける傾斜取り付け部21を有して、試験体
1を加振軸3の軸方向に対して傾斜状態にして加振する
ように形成されている。
【0008】
【作用】上記構成に基づき、本発明においては、治具2
の傾斜取り付け部21に試験体1を傾斜状に取り付けた
状態で、加振軸3を上下振動させることにより、加振軸
3の軸方向の振動成分を試験体1の直角方向のY方向と
Z方向の成分に分割して加振し、さらに加振軸3の軸方
向回りの正逆回転振動により、試験体1のYZ面に対し
て、直角なX方向についての加振を行うことができる。
【0009】従って、1回の振動試験で試験体の取り付
け位置を移動させたりすることなく、全方向の加振を行
うことができ、しかも全方向について同時に加振する複
合的な振動を与えることにより、実際の使用状況におけ
る複合的な振動に近い試験を行うことができる。
【0010】
【実施例】以下、本発明の望ましい実施例を添付図面に
基づいて詳細に説明する。
【0011】図1は、本発明の実施例を示す斜視図であ
り、基台部4に加振軸3が突出状に設けられ、加振軸3
の上面には、直方体状の治具2が固定されている。
【0012】治具2は、加振軸3に固定される固定板部
22の上方に格子状の試験体支持部23を形成している
【0013】そして、試験体支持部23の上部横桟の一
部を切り欠いて、格子状の支持部23の内部にかけて試
験体1を傾斜状に取り付けることのできる傾斜取り付け
部21を形成している。
【0014】加振軸3は、基台部4に設けられた駆動機
構(図示せず)によって、矢印Aで示す加振軸3の軸方
向の上下振動と、矢印Bで示す軸方向回りの正逆回転振
動とを同時に加振するようになっている。
【0015】図2および図3は、試験体1の取り付け状
態を示すもので、図2は側面図、図3は平面図である。 試験体1は図において直方体で示しているが電子機器、
基板ユニット、あるいは半導体装置などを示すものであ
る。
【0016】そして、試験体1は図2に示すように、加
振軸3の垂直な軸方向に対して試験体1のY軸が角度A
の傾きをもって取り付けられるもので、治具2の傾斜取
り付け部21の切り欠き部より格子状の支持部23内に
試験体1のYZ面が嵌入した状態で取り付けられる。
【0017】なお、試験体1と治具2の固定は、治具2
の格子状支持部23に適宜補助材等を介し、試験体1を
粘着テープ等で固定すれば良く、また別途他の固定具を
用いるものでも良い。
【0018】上記のように、本発明の振動試験装置によ
り、固定された試験体1を加振すると、加振軸3の上下
方向振動により、加振方向に対し角度Aだけ傾斜した状
態の試験体1のY軸方向およびZ軸方向が加振軸3の振
動の分力として加振されることになる。さらに、加振軸
3は垂直な軸の回りに正逆回転振動してその回転の接線
方向に配置された試験体1のX軸方向を加振することに
より、XYZ軸の加振を同時に行う。
【0019】なお、XYZ軸各方向の加振力を略同一に
するためには、試験体1の傾斜角Aを45゜とし、加振
軸3の上下振動と正逆回転振動の加振力の比をルート2
対1となるように設定すれば良い。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように、本発明においては
、試験体の取り付け位置を移動させることなく一度の振
動試験で試験体のXYZ方向を同時に加振することがで
き、試験時間を短縮して、作業効率を向上することがで
きる。また、XYZ方向を同時に加振する複合的な振動
によって、実際の使用状態に合った試験結果を得ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例を示す斜視図である。
【図2】試験体の取り付け状態を示す側面図である。
【図3】試験体の取り付け状態を示す平面図である。
【図4】従来例を示す説明図であり、(a)はX方向の
加振状態、(b)はY方向の加振状態、(C)はZ方向
の加振状態である。
【符号の説明】
1  試験体 2  治具 21  傾斜取り付け部 3  加振軸

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】試験体(1)を一定位置に固定する治具(
    2)と、前記治具(2)に振動を加える加振軸(3)と
    よりなる振動試験装置において、前記加振軸(3)は軸
    方向に上下振動すると同時に、軸方向まわりに正逆回転
    振動可能に形成され、かつ前記治具(2)には、前記加
    振軸(3)の軸方向に対して試験体(1)を傾斜状に固
    定する傾斜取り付け部(21)を設けてなることを特徴
    とする振動試験装置。
JP3104179A 1991-05-09 1991-05-09 振動試験装置 Pending JPH04332839A (ja)

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JP3104179A JPH04332839A (ja) 1991-05-09 1991-05-09 振動試験装置

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JP3104179A JPH04332839A (ja) 1991-05-09 1991-05-09 振動試験装置

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JPH04332839A true JPH04332839A (ja) 1992-11-19

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ID=14373789

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JP3104179A Pending JPH04332839A (ja) 1991-05-09 1991-05-09 振動試験装置

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102338687A (zh) * 2011-08-03 2012-02-01 上海华碧检测技术有限公司 一种振动试验辅助件及其用于振动试验的方法
CN104977146A (zh) * 2015-06-24 2015-10-14 株洲南车时代电气股份有限公司 一种变频器用振动试验夹具
CN105588696A (zh) * 2014-11-14 2016-05-18 中国航空工业第六一八研究所 一种用于单轴振动矢量分解的工装
WO2017122770A1 (ja) * 2016-01-15 2017-07-20 国際計測器株式会社 加振装置及び動電型アクチュエータ

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US10942085B2 (en) 2016-01-15 2021-03-09 Kokusai Keisokuki Kabushiki Kaisha Oscillation device with counter balancer
US11898944B2 (en) 2016-01-15 2024-02-13 Kokusai Keisokuki Kabushiki Kaisha Oscillation device with a vibrating table that houses an oscillated object
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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19991026