JPH0433351A - Tab用テープキャリア - Google Patents
Tab用テープキャリアInfo
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- JPH0433351A JPH0433351A JP14031490A JP14031490A JPH0433351A JP H0433351 A JPH0433351 A JP H0433351A JP 14031490 A JP14031490 A JP 14031490A JP 14031490 A JP14031490 A JP 14031490A JP H0433351 A JPH0433351 A JP H0433351A
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- tape carrier
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- copper
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Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、パターン欠陥(パターンショート)の発生を
軽減したTAB用テープキャリア〈従来の技術〉 TAB用テープキャリアとして、例えば第1図に示すも
のがある。 一般に、TAB用テープキャリアは、厚さ
70〜125μm、幅35mm(あるいは、70,14
0mm等の幅)を有する有機ポリイミドフィルム、ガラ
スエポキシフィルム等の絶縁フィルム3に、パンチング
加工によりTC素子(図示せず)に対応するデバイスホ
ール3aおよび実装時にテーブキへ・リア本体を送り出
すためのパイロットポール3bを形成し、この絶縁フィ
ルム3に接着剤4を介して厚さ18〜35μmの圧延銅
箔あるいは電解銅箔等の銅′f32を貼り合わせた後、
ホトエツチングによって所定の配線パターンを施して成
る。
軽減したTAB用テープキャリア〈従来の技術〉 TAB用テープキャリアとして、例えば第1図に示すも
のがある。 一般に、TAB用テープキャリアは、厚さ
70〜125μm、幅35mm(あるいは、70,14
0mm等の幅)を有する有機ポリイミドフィルム、ガラ
スエポキシフィルム等の絶縁フィルム3に、パンチング
加工によりTC素子(図示せず)に対応するデバイスホ
ール3aおよび実装時にテーブキへ・リア本体を送り出
すためのパイロットポール3bを形成し、この絶縁フィ
ルム3に接着剤4を介して厚さ18〜35μmの圧延銅
箔あるいは電解銅箔等の銅′f32を貼り合わせた後、
ホトエツチングによって所定の配線パターンを施して成
る。
第2図は第1図における配線パターン部分の断面図を示
し、接着剤4を介して銅箔2と絶縁フィルム3が貼り合
わされて三層構造を形成しでいる。
し、接着剤4を介して銅箔2と絶縁フィルム3が貼り合
わされて三層構造を形成しでいる。
〈発明が解決しようとする課題〉
ここで圧延銅箔は、例えばファインパターンのTAB用
テープキャリアを作る場合に、圧延すじと銅のかぶり(
銅粉が表面に付着し押しのばされたものまたはおしこま
れたもの)が大きな問題となっている。
テープキャリアを作る場合に、圧延すじと銅のかぶり(
銅粉が表面に付着し押しのばされたものまたはおしこま
れたもの)が大きな問題となっている。
即ち、銅のかぶりは、銅粉の発生により、これがクリー
ンルーム内に飛散しホトレジストを塗布した表面に付着
してパターン欠陥の原因となるものである。
ンルーム内に飛散しホトレジストを塗布した表面に付着
してパターン欠陥の原因となるものである。
また圧延すしは、圧延ロールの回転すじがそのまま銅箔
の表面に転写されているもので、これにホトレジストイ
ンキが食いこみ、現像により除去されない部分が生じパ
ターンのつながり等の原因となるものである。 また、
圧延すしと直交する方向のパターンはエツチング断面が
ぎざぎざになる傾向があるが、これは圧延すしへのホト
レジストの食いこみが原因となっている。
の表面に転写されているもので、これにホトレジストイ
ンキが食いこみ、現像により除去されない部分が生じパ
ターンのつながり等の原因となるものである。 また、
圧延すしと直交する方向のパターンはエツチング断面が
ぎざぎざになる傾向があるが、これは圧延すしへのホト
レジストの食いこみが原因となっている。
本発明は、前記圧延すしや銅のかぶりによりて起こるパ
ターン欠陥(パターンショート)の発生を軽減したTA
B用テープキャリアを提供することを目的としている。
ターン欠陥(パターンショート)の発生を軽減したTA
B用テープキャリアを提供することを目的としている。
く課題を解決するための手段〉
上記目的を達成するために本発明によれば、圧延銅箔と
絶縁フィルムとを有してなるTABテープキャリアにお
いて、前記圧延銅箔の前記絶縁フィルムに接触しない側
の表面が湿式処理方法にて研磨処理を施したものである
ことを特徴とするTAB用テープキャリアが提供される
。
絶縁フィルムとを有してなるTABテープキャリアにお
いて、前記圧延銅箔の前記絶縁フィルムに接触しない側
の表面が湿式処理方法にて研磨処理を施したものである
ことを特徴とするTAB用テープキャリアが提供される
。
ここで、前記湿式処理方法は、化学的および/または機
械的研磨方法であるのが好ましい。
械的研磨方法であるのが好ましい。
また、前記機械的研磨方法は、水中ブラッシングが好ま
しい。
しい。
また、前記湿式IA埋の前段にて研磨ブラシ等によるブ
ラッシングを施したものであるのか好ましい。
ラッシングを施したものであるのか好ましい。
以下に本発明をさらに詳細に説明する。
本発明に用いる圧延銅箔は、無酸素銅、りん脱酸銅等の
純銅またはCu−Zn、Cu−5n等の銅合金の箔であ
る。 箔の厚さは限定しないが、通常18〜35μmの
ものが用いられる。
純銅またはCu−Zn、Cu−5n等の銅合金の箔であ
る。 箔の厚さは限定しないが、通常18〜35μmの
ものが用いられる。
本発明に用いる絶縁フィルムは限定せず通常の厚さ70
〜125μm、幅35.7o、140mm等の有機ポリ
イミドフィルム、ガラスエポキシフィルム等である。
〜125μm、幅35.7o、140mm等の有機ポリ
イミドフィルム、ガラスエポキシフィルム等である。
前記圧延銅箔と前記絶縁フィルムとをエポキシ系等の接
着剤で貼り合わせる。
着剤で貼り合わせる。
前記圧延銅箔の絶縁フィルムに接触する側の表面は、貼
り合わせる前に常法により粗化処理される。
り合わせる前に常法により粗化処理される。
前記圧延銅箔の絶縁フィルムに接触しない側の表面(第
2図で見て銅箔2の上面)は、湿式処理方法で研磨処理
を施す。 湿式処理方法としては、エツチング、電解研
磨等を代表的に挙げることができる。 また、化学的
研磨または機械的研磨、さらにはこれらを併用してもよ
い。 機械的研磨方法としては水中ブラッシングを代表
的に挙げることができる。
2図で見て銅箔2の上面)は、湿式処理方法で研磨処理
を施す。 湿式処理方法としては、エツチング、電解研
磨等を代表的に挙げることができる。 また、化学的
研磨または機械的研磨、さらにはこれらを併用してもよ
い。 機械的研磨方法としては水中ブラッシングを代表
的に挙げることができる。
このような研磨処理は前記絶縁フィルムに接触する側の
表面に施す粗化処理の前段で行うようにすれば、コスト
アップにならないので好ましい。
表面に施す粗化処理の前段で行うようにすれば、コスト
アップにならないので好ましい。
上記のように圧延銅箔の表面を研磨処理することにより
圧延すじや銅のかぶりが除去され、パターン欠陥(パタ
ーンショート)の発生の少いTAB用テープキャリアと
することができる。
圧延すじや銅のかぶりが除去され、パターン欠陥(パタ
ーンショート)の発生の少いTAB用テープキャリアと
することができる。
〈実施例〉
以下に本発明を実施例に基づき具体的に説明する。
(実施例1)
表面粗さが、圧延方向0,03μm、これと直交する方
向0.06μmの圧延銅箔(35μm厚X26.4mm
幅)の片面を前記両方向共に表面粗さが0.01μmに
なるように化学研磨した。
向0.06μmの圧延銅箔(35μm厚X26.4mm
幅)の片面を前記両方向共に表面粗さが0.01μmに
なるように化学研磨した。
層液の組成と条件は下記のとおりとした。
硫酸 150g/u
過酸化水素 30g/u
光沢添加剤 1.0g/J2
(アミン系添加剤十
アルコール系異面活性剤)
H2O,安定剤 0. 5g/It
(アミン系キレート化剤)
温度 35℃
時間 1.0分
エツチング深さ(銅箔減少目標) 2μmすなわち、
圧延すじを完全に除去し、かつ表面かぶり等を除去する
ために2.0μmのエツチング深さ(35μm−33μ
m厚まで)とした。
圧延すじを完全に除去し、かつ表面かぶり等を除去する
ために2.0μmのエツチング深さ(35μm−33μ
m厚まで)とした。
この銅箔の他の片面を平均粗さ0.4μmまで交流電解
法により粗化して、これをTAB用テープキャリアの試
作に用いた。
法により粗化して、これをTAB用テープキャリアの試
作に用いた。
比較のために、前記の研磨処理をしない銅箔を用いて同
時に試作をおこなった。
時に試作をおこなった。
TAB用テープキャリアは下記の仕様で試作した。
絶縁フィルム:ポリイミドフィルム
0、 075mmx35mm
接着剤:エポキシ系
ビン数:200ピン
インナーリードピッチ:100μm
(パターン幅50μm1パターン間幅50μm)
TAB用テープキャリアの評価は次に示す外観について
実施した。
実施した。
外観:実施例、比較例とも200ピンTABを500個
試作し、200ピンTAB1個について1ピンでもパタ
ーンショートがあればパターンショート発生1個とした
。
試作し、200ピンTAB1個について1ピンでもパタ
ーンショートがあればパターンショート発生1個とした
。
ここでパターンショートとは、第3図に示すようなパタ
ーンつながり5である。 第4図に示すような銅箔2の
粗化面(第4図で見て下面)の銅が接着剤4に食いこむ
ことによる根のこりショート(銅のこり)6は、パター
ンショート5と異るので区別しカウントしていない。
ーンつながり5である。 第4図に示すような銅箔2の
粗化面(第4図で見て下面)の銅が接着剤4に食いこむ
ことによる根のこりショート(銅のこり)6は、パター
ンショート5と異るので区別しカウントしていない。
評価結果を表1に示した。
パターンショートは本発明により著しく低下した。 実
施例1ではホトレジストインキにネガタイプを使ったた
め、ホトレジストインキ上に銅粉が付着した場合はその
部分に光が当らないので現像時その部分はホトレジスト
が残り、パターンショートの原因となる。 これに対
しホトレジストインキにポジタイプを使った場合には逆
なので、銅粉の付着した部分はピンホールとなる。
施例1ではホトレジストインキにネガタイプを使ったた
め、ホトレジストインキ上に銅粉が付着した場合はその
部分に光が当らないので現像時その部分はホトレジスト
が残り、パターンショートの原因となる。 これに対
しホトレジストインキにポジタイプを使った場合には逆
なので、銅粉の付着した部分はピンホールとなる。
表 1
〈発明の効果〉
本発明は以上説明したように構成されているので、本発
明のTAB用テープキャリアはパターンショートの発生
が少い。
明のTAB用テープキャリアはパターンショートの発生
が少い。
また、銅箔表面の研磨処理は、粗化処理の前段でインラ
インで行うことかできるので、コストアップを回避でき
る。
インで行うことかできるので、コストアップを回避でき
る。
第1図は、TAB用テープキャリアの平面図である。
第2図は、第1図におけるパターン部分の断面図である
。 第3図は、パターンショートを説明するための斜視図で
ある。 第4図は、根のこりショートを説明するための斜視図で
ある。 符号の説明 1・・・TAB用テープキャリア、 2・・・銅箔、 3・・・絶縁フィルム、 3a・・・デバイスホール、 3b・・・パイロットホール、 4・・・接着剤、 5・・・パターンショート部(パターンつなかり )
、 6・・・根のこり(銅のこり)ショート郡代 理 人
。 第3図は、パターンショートを説明するための斜視図で
ある。 第4図は、根のこりショートを説明するための斜視図で
ある。 符号の説明 1・・・TAB用テープキャリア、 2・・・銅箔、 3・・・絶縁フィルム、 3a・・・デバイスホール、 3b・・・パイロットホール、 4・・・接着剤、 5・・・パターンショート部(パターンつなかり )
、 6・・・根のこり(銅のこり)ショート郡代 理 人
Claims (2)
- (1)圧延銅箔と絶縁フィルムとを有してなるTABテ
ープキャリアにおいて、前記圧延銅箔の前記絶縁フィル
ムに接触しない側の表面が湿式処理方法にて研磨処理を
施したものであることを特徴とするTAB用テープキャ
リア。 - (2)前記湿式処理方法は、化学的および/または機械
的研磨方法である請求項1記載のTAB用テープキャリ
ア。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2140314A JP2527076B2 (ja) | 1990-05-30 | 1990-05-30 | Tab用テ―プキャリア |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2140314A JP2527076B2 (ja) | 1990-05-30 | 1990-05-30 | Tab用テ―プキャリア |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0433351A true JPH0433351A (ja) | 1992-02-04 |
| JP2527076B2 JP2527076B2 (ja) | 1996-08-21 |
Family
ID=15265924
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2140314A Expired - Lifetime JP2527076B2 (ja) | 1990-05-30 | 1990-05-30 | Tab用テ―プキャリア |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2527076B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009125040A (ja) * | 2007-11-27 | 2009-06-11 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 植物用ハウス |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52124865A (en) * | 1976-04-13 | 1977-10-20 | Sharp Corp | Semiconductor device |
| JPS62200796A (ja) * | 1986-02-27 | 1987-09-04 | イビデン株式会社 | 極薄銅張積層板の製造方法 |
| JPS6426175A (en) * | 1986-12-26 | 1989-01-27 | Toshiba Corp | Test data preparing system for logic integrated circuit |
| JPH0282546A (ja) * | 1988-09-19 | 1990-03-23 | Sharp Corp | フィルムキャリア基板 |
-
1990
- 1990-05-30 JP JP2140314A patent/JP2527076B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52124865A (en) * | 1976-04-13 | 1977-10-20 | Sharp Corp | Semiconductor device |
| JPS62200796A (ja) * | 1986-02-27 | 1987-09-04 | イビデン株式会社 | 極薄銅張積層板の製造方法 |
| JPS6426175A (en) * | 1986-12-26 | 1989-01-27 | Toshiba Corp | Test data preparing system for logic integrated circuit |
| JPH0282546A (ja) * | 1988-09-19 | 1990-03-23 | Sharp Corp | フィルムキャリア基板 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009125040A (ja) * | 2007-11-27 | 2009-06-11 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 植物用ハウス |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2527076B2 (ja) | 1996-08-21 |
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