JPH04339341A - 光磁気ディスクの記録情報検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光磁気ディスクの記録
情報検査装置に係り、特にディスク上のトラッキング用
案内溝を有する領域及びトラッキング用案内溝を有しな
いＰＥＰ（Ｐｈａｓｅ−Ｅｎｃｏｄｅｄ　　Ｐａｒｔ）
領域双方を持つ光磁気ディスクの記録部の記録情報を検
査するための装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、光ディスクはコンパクトディスク
（ＣＤ）、レーザディスク（ＬＤ）或いはＣＤ−ＲＯＭ
等の情報記録媒体として急速に普及しつつある。

【０００３】これら光ディスクは、情報を記録する記録
膜に多くの種類が用いられ、さらに情報の記録にも種々
の記録方式が採用されている。従って、これら光ディス
クに対して、情報の記録、再生或いは消去等の処理を行
う際には、それぞれの光ディスクに適した光出力のレー
ザ光をパルス幅等を調整して照射する必要がある。その
ため光ディスク上には、情報の記録、再生或いは消去の
モード毎に記録膜、記録方式等の物理的情報が記録され
る。

【０００４】例えば、ＩＳＯ規格に準拠した１３０ｍｍ
光ディスクにおいては、光ディスクの最内周側と最外周
側とにそれぞれコントロールトラックを設けて、当該光
ディスクの物理的特性に関わる情報を記録するようにし
ている。

【０００５】このため、製造された光ディスクのコント
ロールトラックは全数量が検査されている。

【０００６】このコントロールトラックには、光ディス
クのユーザ領域の最外周側に設けられるＳＦＰ（Ｓｔａ
ｎｄａｒｄ　　Ｆｏｒｍａｔｔｅｄ　　Ｐａｒｔ）及び
最内周側に設けられるＰＥＰ（Ｐｈａｓｅ　　Ｅｎｃｏ
ｄｅｄ　　Ｐａｒｔ）とＳＦＰ（以下、この最内周側に
設けられるＳＦＰを内側ＳＦＰという）がある。

【０００７】光ディスクにおける内側ＳＦＰの検査にお
いては、まず光学ヘッドによってレーザ光を当該光ディ
スクのコントロールトラックのＰＥＰ上に導き、ＳＦＰ
を再生するための情報を得る。続いて、このＰＥＰの情
報に従って光学ヘッドの光出力等を調整すると共に、光
ディスクを回転駆動してＳＦＰの情報を読み取り、ユー
ザ領域において情報の記録、再生或いは消去を行うため
の情報を得る。

【０００８】このとき、ＳＦＰの情報はトラック上に記
録されているため、このＳＦＰ情報を読み取る際にはト
ラッキングサーボによって当該トラックに忠実に追従さ
せる。

【０００９】ＰＥＰ領域にはそのディスクの反射率、ラ
イトパワー、イレースパワー及びリードパワー等のデー
タが予め記録されており、この領域にはトラッキング用
案内溝が存在しない。そして、ディスクドライブ装置は
、ディスクの偏心を利用してフォーカスのみをかけてこ
のＰＥＰ領域の記録面を横断移動しつつその記録ピット
を読み取り、情報を得ていた。

【００１０】ところが、記録情報の読取りには問題ない
が、ディスク自体の検査を行おうとした場合には、トラ
ッキング用案内溝のないＰＥＰ領域では、その領域のど
の個所で得られた情報であるかを把握できない。

【００１１】このため、例えば検査対象がＰＥＰ領域の
一部で済むような場合でも、これを正確に把握するには
ＰＥＰ領域全体にわたる検査が要求されることになるが
、従来のディスクドライブ装置では、ディスクのＰＥＰ
領域全体の検査を確実かつ効率よく実行できないという
問題があった。

【００１２】

【発明の目的】本発明は、上記従来の課題に鑑みなされ
たものであり、トラッキング用案内溝を有する領域及び
有しない領域の双方を正確に検査可能な光ディスクの記
録情報検査装置を提供することを目的としている。

【００１３】

【発明の構成】上記目的を達成するため、本発明は、光
ディスクのトラッキング用案内溝に追随してトラッキン
グを行う第１のピックアップ（ＰＵ）と、該第１のピッ
クアップよりもディスクの中心に対して半径方向内側で
第１のピックアップと一体移動可能であり、かつ、ＰＥ
Ｐ領域の半径方向長さ以上の距離を隔てて配設された第
２のピックアップと、前記第１のピックアップ及び第２
のピックアップをそれぞれ駆動する第１の駆動回路及び
第２の駆動回路と、前記第１のピックアップからの検出
信号が供給されるトラックングエラー検出回路と、該ト
ラッキングエラー検出回路からの出力に応じて前記第１
のピックアップ駆動用電圧指令信号を発生すると共に該
駆動用電圧指令信号を前記第１及び第２の両駆動回路へ
供給する位相補償回路と、を含み第２のピックアップの
ディスクに対する偏心を除去しつつＰＥＰ全領域の検査
を実行可能としたことを特徴としている。

【００１４】また本発明の他の実施例は、光磁気ディス
クに光信号として記録された情報を検査するための記録
情報検査装置において、前記光磁気ディスクの案内溝に
追随してトラッキングを行い得る第１のピックアップと
、該第１のピックアップよりもディスク中心に対して半
径方向内側に配設されかつＰＥＰ領域の半径方向長さ以
上の距離を保持しつつ当該第１のピックアップと一体に
移動可能に構成されると共に、当該ディスクの案内溝に
追随してトラッキングを行い得る第２のピックアップと
、前記第１のピックアップ及び第２のピックアップをそ
れぞれ駆動する第１駆動回路及び第２の駆動回路と、前
記第１のピックアップ及び第２のピックアップからの検
出信号がそれぞれ供給される第１のトラッキングエラー
検出回路及び第２のトラッキングエラー検出回路と、該
第１のトラッキングエラー検出回路からの出力に応じて
前記第１のピックアップの駆動用電圧指令信号を発生す
ると共に該駆動用電圧指令信号を前記第１及び第２の両
駆動回路へ供給する第１の位相補償回路と、前記第２の
トラッキングエラー検出回路からの出力に応じて前記第
２のピックアップの駆動用電圧指令信号を発生すると共
に該駆動用電圧指令信号を前記第１及び第２の両駆動回
路へ供給する第２の位相補償回路と、前記第１のピック
アップがトラッキングを行うときには前記第１の位相補
償回路を第１及び第２の両駆動回路と接続し、第２のピ
ックアップがトラッキングを行うときには前記第２の位
相補償回路を第１及び第２の両駆動回路と接続するスイ
ッチ手段とを備えたことを特徴としている。

【００１５】更に本発明の他の実施例は、第１のピック
アップ及び第２のピックアップとの位置関係を調整する
調整電圧を発生する調整電圧発生回路を備えたことを特
徴としている。

【００１６】以下、図面に基づいて本発明の好適な実施
例を説明する。

【００１７】第１図に本発明の構成を示す。図において
、光磁気ディスク１０の半径方向にディスクトラッキン
グ制御用の第１のピックアップ１２とＰＥＰ領域検査用
の第２のピックアップ１４とが一体的に配設されている
。

【００１８】第１図におけるディスク１０及び第１、第
２の両ピックアップ１２、１４の要部平面図を第２図に
示す。両ピックアップ１２、１４の作用点間距離Ｌは、
ＰＥＰ領域のディスク径方向の長さより大きく設定され
ている。また、両ピックアップ１２、１４はフォーカス
サーボを行っており、ディスクの面振れに追従している
（図示せず）。

【００１９】再び第１図において、前記第１のピックア
ップ１２には、ＴＥ（トラッキングエラー）検出回路１
６及び位相補償回路１８（利得制御部も含む）が接続さ
れている。

【００２０】第１のピックアップ１２の出力信号は、Ｔ
Ｅ検出回路１６に入力し、該ＴＥ検出回路からのＴＥ検
出信号に応答して位相補償回路１８が正しいトラッキン
グを行わせるための指令信号を発生し、第１の駆動回路
２０へ駆動用電圧指令信号として供給する。

【００２１】第１の駆動回路２０は、この指令信号を受
けて第１のピックアップ１２を駆動し、所望のトラッキ
ング作用を得ることとなる。

【００２２】ここで、位相補償回路１８の出力は、図示
のように、ＰＥＰ領域検査用の第２のピックアップ１４
を駆動する第２の駆動回路２２へも入力されており、従
って両ピックアップ１２、１４は、常に同一電圧で一体
的に駆動されることとなる。

【００２３】この結果、第１のピックアップ１２により
ディスクのトラッキング用案内溝のある領域の検査を行
いつつ、これと同じ電圧を第２のピックアップ１４に印
加すれば、第２のピックアップ１４のディスクに対する
偏心分が除去されることになり、この第２のピックアッ
プ１４は本来トラッキング用案内溝のないＰＥＰ領域を
あたかもトラッキングしているかのような動作をもって
信号再生を行うこととなる。

【００２４】このようにして、光磁気ディスクのＰＥＰ
領域を含めた全領域を高精度に検査可能となる。

【００２５】次に、図３を参照して本発明に係る他の実
施例について説明する。

【００２６】同図において、図１とほぼ同一の構成部分
については同一の番号を付して詳細な説明を省略する。

【００２７】上述したように、図１に示す第１の実施例
は、ＰＥＰ領域が最内周側に設けられている、例えばＩ
ＳＯ規格準拠の１３０ｍｍ光ディスクの場合に、第１の
ピックアップ１２でトラッキング用案内溝（トラック）
のある領域のトラッキングを行うことで、第２のピック
アップ１４で、トラッキング用案内溝が設けられていな
いＰＥＰ領域をあたかもトラッキング用案内溝があるが
如くにＰＥＰ領域全体の検査を行うことができた。

【００２８】しかしながら、例えば５’／４’ディスク
は内周側に０番地があるのに対して３′／２’ディスク
は外周側に０番地があり、また、ＰＥＰ領域については
３′／２’ディスクにおいては特に定義はなく、外周側
に設定されている場合には上述した第１の実施例の検査
装置では検査を行うことはできなかった。

【００２９】また、第１のピックアップ１２と第２のピ
ックアップ１４との作用点間距離、すなわち光学ヘッド
間距離Ｌとディスクのトラックピッチとの誤差により第
２のピックアップ１４の位置がディスクによってばらつ
きが生じ、ＰＥＰ領域上の仮想トラック中心に設定でき
るとは限らないことから、再生品質及び繰返し精度の悪
化を招来する虞れがあった。

【００３０】即ち、以下に示す第２の実施例のＰＥＰ領
域検査装置は、このような課題を解決せんとするもので
ある。

【００３１】図３において、第１のピックアップ１２と
第２のピックアップ１４に付随する回路は共に同等の回
路構成とされ、さらにドライバ２０、２２に対しそれぞ
れ調整電圧発生回路２４、２６を設けている。

【００３２】以下、具体的に説明すると、第１のピック
アップ１２のトラックサーボ用制御電圧はスイッチＳＷ
１によりドライバ１及び２に供給され、第２のピックア
ップ１４のトラックサーボ用制御電圧はスイッチＳＷ２
によりドライバ２及び１に供給される。ただし、スイッ
チＳＷ１とスイッチＳＷ２とは、同時にオンすることは
ない。

【００３３】従って、スイッチＳＷ１をオンさせること
により第１のピックアップ１２がトラッキングを行い、
第２のピックアップ１４で内周側のＰＥＰ領域の検査を
行う。また、スイッチＳＷ２をオンさせることにより第
２のピックアップ１４がトラッキングを行い、第１のピ
ックアップ１２で外周側のＰＥＰ領域の検査を行う。

【００３４】このとき、第２のピックアップ１４で内周
側のＰＥＰ領域の検査を行うときには、第１のピックア
ップ１２でトラッキングを行いつつ、第２のピックアッ
プ１４の再生信号を観測しながら、調整電圧発生回路２
６の出力電圧を変化させ、その再生信号の振幅が最大に
なる点を求める。この位置が仮想トラック中心となる。 一方、第１のピックアップ１２で外周側のＰＥＰ領域の
検査を行うときには、第２のピックアップ１４でトラッ
キングを行いつつ、第１のピックアップ１２の再生信号
を観測しながら、調整電圧発生回路２４の出力電圧を変
化させ、同様にその再生信号の振幅を最大にする。

【００３５】上述したように、本実施例によれば、スイ
ッチＳＷ１とスイッチＳＷ２の切換えにより、ＰＥＰ領
域の位置が内周側、外周側に拘らず常にＰＥＰ領域の検
査を全領域に亘って、高精度に行うことができる。また
、第１のピックアップ１２と第２のピックアップ１４の
位置ずれをそれぞれ調整電圧発生回路２４、２６によっ
て、初期設定することによって、ＰＥＰ領域上仮想トラ
ック中心に第１のピックアップ１２と第２のピックアッ
プ１４のビームスポットを設定することができ、より高
精度な再生信号が得られ、また、繰返し精度の向上を計
ることができる。

【００３６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光磁気ディスクのトラッキング用案内溝のある領域を１
つのピックアップで追従して検査を行いつつ、これと、
同じ駆動電圧を一体的に移動するＰＥＰ領域検査用の他
のピックアップへ印加することにより、トラッキング用
案内溝のないＰＥＰ領域をあたかもトラッキングしてい
るかのような動作を後者のピックアップに行わせるよう
に構成したので、トラッキング用案内溝のある領域及び
ＰＥＰ領域全体の高精度な検査が実現される。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１図は本発明の一実施例の構成説明図。

【図２】第２図はピックアップの要部平面図である。

【図３】本発明に係る他の実施例のブロック図である。

【符号の説明】

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　光磁気ディスクに光信号として記録さ
   れた情報を検査するための装置において、前記光磁気デ
   ィスクの中心に対して半径方向外側に配設され、ディス
   クの案内溝に追随してトラッキングを行なう第１のピッ
   クアップと、該第１のピックアップよりもディスクの中
   心に対して半径方向内側で第１のピックアップと一体移
   動可能であり、かつＰＥＰ領域の半径方向長さ以上の距
   離を隔てて配設された第２のピックアップと、前記第１
   のピックアップ及び第２のピックアップをそれぞれ駆動
   する第１の駆動回路及び第２の駆動回路と、前記第１の
   ピックアップからの検出信号が供給されるトラッキング
   エラー検出回路と、該トラッキングエラー検出回路から
   の出力に応じて前記第１のピックアップ駆動用電圧指令
   信号を発生すると共に該駆動用電圧指令信号を前記第１
   及び第２の両駆動回路へ供給する位相補償回路と、を含
   み第２のピックアップのディスクに対する偏心を除去し
   つつＰＥＰ全領域の検査を実行可能としたことを特徴と
   する光磁気ディスクの記録情報検査装置。
2. 【請求項２】　　光磁気ディスクに光信号として記録さ
   れた情報を検査するための記録情報検査装置において、
   前記光磁気ディスクの案内溝に追随してトラッキングを
   行い得る第１のピックアップと、該第１のピックアップ
   よりもディスク中心に対して半径方向内側に配設されか
   つＰＥＰ領域の半径方向長さ以上の距離を保持しつつ当
   該第１のピックアップと一体に移動可能に構成されると
   共に、当該ディスクの案内溝に追随してトラッキングを
   行い得る第２のピックアップと、前記第１のピックアッ
   プ及び第２のピックアップをそれぞれ駆動する第１駆動
   回路及び第２の駆動回路と、前記第１のピックアップ及
   び第２のピックアップからの検出信号がそれぞれ供給さ
   れる第１のトラッキングエラー検出回路及び第２のトラ
   ッキングエラー検出回路と、該第１のトラッキングエラ
   ー検出回路からの出力に応じて前記第１のピックアップ
   の駆動用電圧指令信号を発生すると共に該駆動用電圧指
   令信号を前記第１及び第２の両駆動回路へ供給する第１
   の位相補償回路と、前記第２のトラッキングエラー検出
   回路からの出力に応じて前記第２のピックアップの駆動
   用電圧指令信号を発生すると共に該駆動用電圧指令信号
   を前記第１及び第２の両駆動回路へ供給する第２の位相
   補償回路と、前記第１のピックアップがトラッキングを
   行うときには前記第１の位相補償回路を第１及び第２の
   両駆動回路と接続し、第２のピックアップがトラッキン
   グを行うときには前記第２の位相補償回路を第１及び第
   ２の両駆動回路と接続するスイッチ手段とを備えたこと
   を特徴とする光磁気ディスクの記録情報検査装置。
3. 【請求項３】　　前記第１のピックアップ及び第２のピ
   ックアップとの位置関係を調整する調整電圧を発生する
   調整電圧発生回路を備えたことを特徴とする請求項１、
   ２記載の光磁気ディスクの記録情報検査装置。