JPH04340449A - 表面検査装置 - Google Patents
表面検査装置Info
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- JPH04340449A JPH04340449A JP3111992A JP11199291A JPH04340449A JP H04340449 A JPH04340449 A JP H04340449A JP 3111992 A JP3111992 A JP 3111992A JP 11199291 A JP11199291 A JP 11199291A JP H04340449 A JPH04340449 A JP H04340449A
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,自動車パネル,プラス
チック板などの表面検査装置に関し,詳しくは,所定間
隔で搬送されてくる検査対象物を,その搬送路中で表面
の欠陥を検査する表面検査装置に関する。
チック板などの表面検査装置に関し,詳しくは,所定間
隔で搬送されてくる検査対象物を,その搬送路中で表面
の欠陥を検査する表面検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば自動車の外板などのように,表面
の僅かな欠陥が商品価値に大きな影響を与える製品では
,特にその表面検査が重視される。このような欠陥の発
見は,修正の労力やロス製品の発生によるコスト高など
を解消する意味からも,できるだけ早い段階で確実に実
行されることが重要である。そのため,表面検査装置を
製造工程のインラインに設けることが望まれている。 上記のような趣旨にもとづく表面欠陥検査装置が,特開
昭63−40842号公報として開示されている。図7
に示すように,検査対象物40に対して光源41から明
暗ストライプ模様の検査パターンを投影し,これをTV
カメラ42で撮影して,この画像情報を処理することに
より,検査対象物40の表面に凹凸の欠陥があったとき
のストライプ模様の歪みから欠陥を検出している。
の僅かな欠陥が商品価値に大きな影響を与える製品では
,特にその表面検査が重視される。このような欠陥の発
見は,修正の労力やロス製品の発生によるコスト高など
を解消する意味からも,できるだけ早い段階で確実に実
行されることが重要である。そのため,表面検査装置を
製造工程のインラインに設けることが望まれている。 上記のような趣旨にもとづく表面欠陥検査装置が,特開
昭63−40842号公報として開示されている。図7
に示すように,検査対象物40に対して光源41から明
暗ストライプ模様の検査パターンを投影し,これをTV
カメラ42で撮影して,この画像情報を処理することに
より,検査対象物40の表面に凹凸の欠陥があったとき
のストライプ模様の歪みから欠陥を検出している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来例に示した表
面検査装置を用いて,搬送路上に移動する検査対象物の
表面検査を実施するとき,搬送物の搬送速度が早いと,
検査対象物に投影される検査パターンを撮像したTVカ
メラの画像は,検査対象物の移動によるストライプ模様
の直線の振れを欠陥として誤検出する問題点があった。 本発明は上記問題点を解消するために,表面欠陥を光学
的に明暗強調して検出する逆反射スクリーンによる表面
検査方法を,速い速度で移動する検査対象物の表面欠陥
の検出に適用させることを目的とする。
面検査装置を用いて,搬送路上に移動する検査対象物の
表面検査を実施するとき,搬送物の搬送速度が早いと,
検査対象物に投影される検査パターンを撮像したTVカ
メラの画像は,検査対象物の移動によるストライプ模様
の直線の振れを欠陥として誤検出する問題点があった。 本発明は上記問題点を解消するために,表面欠陥を光学
的に明暗強調して検出する逆反射スクリーンによる表面
検査方法を,速い速度で移動する検査対象物の表面欠陥
の検出に適用させることを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明は,逆反射スクリーンと光源と検査対象物とを
,前記光源からの光が前記検査対象物で反射して前記逆
反射スクリーンに向かうような相対的位置に配置して,
検査対象物の表面を光源で照射したときの反射光を逆反
射スクリーンで検査対象物に戻し,検査対象物の表面で
再反射した光を,光源の近傍に配したカメラで捕えるこ
とにより,検査対象物表面の欠陥を光学的に明暗強調さ
れた画像として得る逆反射スクリーンによる表面検査装
置において,前記光路と直交する方向に所要搬送速度で
移動する搬送手段を設けて検査対象物を搬送すると共に
,前記搬送手段により移動する検査対象物の搬送位置を
検知するトリガー装置からの信号に応じて,前記光源を
瞬間発光させ,あるいは前記カメラを高速度カメラとし
て,検査対象物の分割静止画像を得ると共に,前記分割
静止画像の明暗信号から検査対象物の表面欠陥を検出す
るようにしたことを特徴とする表面検査装置として構成
されている。また,上記画像処理手段は,検査対象物を
撮影した各分割静止画像のデータを,予め撮像した標準
画像のデータで補正し,補正された明暗データを用いて
欠陥画像を抽出することができる。
の本発明は,逆反射スクリーンと光源と検査対象物とを
,前記光源からの光が前記検査対象物で反射して前記逆
反射スクリーンに向かうような相対的位置に配置して,
検査対象物の表面を光源で照射したときの反射光を逆反
射スクリーンで検査対象物に戻し,検査対象物の表面で
再反射した光を,光源の近傍に配したカメラで捕えるこ
とにより,検査対象物表面の欠陥を光学的に明暗強調さ
れた画像として得る逆反射スクリーンによる表面検査装
置において,前記光路と直交する方向に所要搬送速度で
移動する搬送手段を設けて検査対象物を搬送すると共に
,前記搬送手段により移動する検査対象物の搬送位置を
検知するトリガー装置からの信号に応じて,前記光源を
瞬間発光させ,あるいは前記カメラを高速度カメラとし
て,検査対象物の分割静止画像を得ると共に,前記分割
静止画像の明暗信号から検査対象物の表面欠陥を検出す
るようにしたことを特徴とする表面検査装置として構成
されている。また,上記画像処理手段は,検査対象物を
撮影した各分割静止画像のデータを,予め撮像した標準
画像のデータで補正し,補正された明暗データを用いて
欠陥画像を抽出することができる。
【0005】
【作用】上記構成による本発明によれば,指向性の強い
反射特性を有する逆反射スクリーンで検査対象物からの
反射光を再び検査対象物に戻し,検査対象物の表面で再
反射した光を光源の近傍に配したカメラで捕えると,検
査対象物表面の欠陥部分の凹凸変化を明暗変化に強調し
て捕えることができ,肉眼では検出できない小さな欠陥
をも検出することができる。この逆反射スクリーンによ
る表面検査装置を,搬送路上を速い速度で移動する検査
対象物の欠陥検出に適用するために,前記表面検査装置
における検査対象物の配置位置を,検査対象物が通過で
きるように搬送手段を構成し,搬送路の所定位置に検査
対象物が移動してきたときにトリガー装置により光源ま
たはカメラを作動させ,移動する検査対象物を静止画像
として捕えるようにしている。トリガー装置により光源
を作動させるときは,ストロボ光源による瞬間発光を用
い,また,カメラを作動させるときには,高速シャッタ
による瞬間撮像を用いて,移動する検査対象物を静止画
像として捕える。トリガー装置は検査対象物の移動方向
に少くとも1箇所のトリガーポイントを有し,各トリガ
ーポイントで検査対象物を撮像すると,移動する検査対
象物をトリガーポイントの数で分割された静止画像とし
て画像処理手段に蓄積することができる。前記画像処理
手段は,表面に欠陥のない検査対象物を同一位置で撮像
した標準画像を予め記憶しており,例えばこの標準画像
のグレーレベルaと各トリガーポイント毎の撮像画像の
グレーレベルbからなるa/bを各撮像画像に乗算して
撮像条件のばらつきを補正すると共に,標準画像から各
撮像画像を減算処理して欠陥による明暗変化を検出する
ことができる。前記画像処理を前記搬送手段上を所定間
隔で通過する検査対象物に対し順次実行すれば,移動す
る検査対象物を連続して表面検査することができる。
反射特性を有する逆反射スクリーンで検査対象物からの
反射光を再び検査対象物に戻し,検査対象物の表面で再
反射した光を光源の近傍に配したカメラで捕えると,検
査対象物表面の欠陥部分の凹凸変化を明暗変化に強調し
て捕えることができ,肉眼では検出できない小さな欠陥
をも検出することができる。この逆反射スクリーンによ
る表面検査装置を,搬送路上を速い速度で移動する検査
対象物の欠陥検出に適用するために,前記表面検査装置
における検査対象物の配置位置を,検査対象物が通過で
きるように搬送手段を構成し,搬送路の所定位置に検査
対象物が移動してきたときにトリガー装置により光源ま
たはカメラを作動させ,移動する検査対象物を静止画像
として捕えるようにしている。トリガー装置により光源
を作動させるときは,ストロボ光源による瞬間発光を用
い,また,カメラを作動させるときには,高速シャッタ
による瞬間撮像を用いて,移動する検査対象物を静止画
像として捕える。トリガー装置は検査対象物の移動方向
に少くとも1箇所のトリガーポイントを有し,各トリガ
ーポイントで検査対象物を撮像すると,移動する検査対
象物をトリガーポイントの数で分割された静止画像とし
て画像処理手段に蓄積することができる。前記画像処理
手段は,表面に欠陥のない検査対象物を同一位置で撮像
した標準画像を予め記憶しており,例えばこの標準画像
のグレーレベルaと各トリガーポイント毎の撮像画像の
グレーレベルbからなるa/bを各撮像画像に乗算して
撮像条件のばらつきを補正すると共に,標準画像から各
撮像画像を減算処理して欠陥による明暗変化を検出する
ことができる。前記画像処理を前記搬送手段上を所定間
隔で通過する検査対象物に対し順次実行すれば,移動す
る検査対象物を連続して表面検査することができる。
【0006】
【実施例】次に,具体的に本発明の一実施例について説
明する。トランスファーマシンから所定間隔で連続供出
されるパネルを,表面検査する場合への適用例である。 図1は実施例装置の構成を示す斜視図である。加工マシ
ン12から排出される検査対象物であるパネル13が搬
送コンベア6により次工程に搬送される途中に欠陥検出
装置10を配置している。パネル13が表面光沢に乏し
いものであるときには,図示するように搬送コンベア6
が前記欠陥検出装置10に入る前位置に配置された光沢
液塗布装置8により光沢液を噴霧して表面に均一な光沢
を与え,反射効率をよくする。光沢液塗布装置8には光
沢液を周囲に飛散させないための排気ダクト11,余分
な光沢液を振り落す揺動装置9が付属している。光沢液
を塗布されたパネル13は搬送コンベア6で送られて欠
陥検出装置10に入る。図2,図3に欠陥検出装置10
の構成を,平面図と側面図として示す。欠陥検出装置1
0は,逆反射スクリーンによる指向性の強い光反射によ
り検査表面の微細な欠陥部分をも明暗強調して検出する
もので,ストロボ光源2,逆反射スクリーン5,TVカ
メラ1で主構成される。図2,図3に示すように,スト
ロボ光源2からの光が搬送コンベア6上のパネル13の
表面で反射して,逆反射スクリーン5に向かうような相
対的位置に,それぞれが配置される。パネル13で反射
し逆反射スクリーン5に入ってきた光は,入射光軸とほ
ぼ同じ方向に反射し,再びパネル13の表面で反射して
,ストロボ光源2の近傍に配置されたTVカメラ1に捕
えられる。これによってパネル13の表面の凹凸変化が
光学的に強調された画像をTVカメラ1に捕えることが
でき,肉眼では判別できない表面の欠陥場所を発見する
ことができる。
明する。トランスファーマシンから所定間隔で連続供出
されるパネルを,表面検査する場合への適用例である。 図1は実施例装置の構成を示す斜視図である。加工マシ
ン12から排出される検査対象物であるパネル13が搬
送コンベア6により次工程に搬送される途中に欠陥検出
装置10を配置している。パネル13が表面光沢に乏し
いものであるときには,図示するように搬送コンベア6
が前記欠陥検出装置10に入る前位置に配置された光沢
液塗布装置8により光沢液を噴霧して表面に均一な光沢
を与え,反射効率をよくする。光沢液塗布装置8には光
沢液を周囲に飛散させないための排気ダクト11,余分
な光沢液を振り落す揺動装置9が付属している。光沢液
を塗布されたパネル13は搬送コンベア6で送られて欠
陥検出装置10に入る。図2,図3に欠陥検出装置10
の構成を,平面図と側面図として示す。欠陥検出装置1
0は,逆反射スクリーンによる指向性の強い光反射によ
り検査表面の微細な欠陥部分をも明暗強調して検出する
もので,ストロボ光源2,逆反射スクリーン5,TVカ
メラ1で主構成される。図2,図3に示すように,スト
ロボ光源2からの光が搬送コンベア6上のパネル13の
表面で反射して,逆反射スクリーン5に向かうような相
対的位置に,それぞれが配置される。パネル13で反射
し逆反射スクリーン5に入ってきた光は,入射光軸とほ
ぼ同じ方向に反射し,再びパネル13の表面で反射して
,ストロボ光源2の近傍に配置されたTVカメラ1に捕
えられる。これによってパネル13の表面の凹凸変化が
光学的に強調された画像をTVカメラ1に捕えることが
でき,肉眼では判別できない表面の欠陥場所を発見する
ことができる。
【0007】本発明の理解に供するため,逆反射スクリ
ーンによる表面欠陥の検出原理を図4,図5を用いて説
明する。図4は検査対象物33(パネル13に該当)の
表面に欠陥のない場合を示し,図5は欠陥のある場合を
示している。逆反射スクリーン30(5)は,その表面
にビーズ状の反射球34が密設されており,各反射球3
4は入射光に対し図示するような指向性の反射パターン
を有している。図4に示すように,表面に欠陥がない場
合,光源方向から来た光は,検査対象物33の表面で逆
反射スクリーン30の方向に反射する。光源の近傍に設
置されたカメラは,図中のカメラビューイング方向から
,検査対象物33の表面に向いており,逆反射スクリー
ン30からの反射光が,検査対象物33で再反射する光
を捕えている。いま検査対象物33表面のA,B,Cの
各点をカメラから見るとき,欠陥のない平面では,逆反
射スクリーン30の各反射球34の角度αで反射される
同じ強さの光を見ていることになり,カメラは濃淡変化
のない中間的な明るさをもった面として捕える。一方,
図5のように検査対象物33の表面に欠陥がある場合,
欠陥のないA点では前記と同様に逆反射スクリーン30
の反射球の角度αからの光を捕えるが,B点(カメラ側
から見て下り坂)では,反射角γの強い光を捕え,また
C点(カメラ側から見て上り坂)では,角度βの弱い光
を捕えることになる。従って,B点の下り坂では明るく
,C点の上り坂では暗く見えることになる。逆反射スク
リーン30の反射球34の反射パターンの指向性の幅は
,約±1度と鋭いため,欠陥の微妙な傾きでも,明暗の
変化両が激しく,欠陥の凹凸が強調されて観測されるこ
とになる。
ーンによる表面欠陥の検出原理を図4,図5を用いて説
明する。図4は検査対象物33(パネル13に該当)の
表面に欠陥のない場合を示し,図5は欠陥のある場合を
示している。逆反射スクリーン30(5)は,その表面
にビーズ状の反射球34が密設されており,各反射球3
4は入射光に対し図示するような指向性の反射パターン
を有している。図4に示すように,表面に欠陥がない場
合,光源方向から来た光は,検査対象物33の表面で逆
反射スクリーン30の方向に反射する。光源の近傍に設
置されたカメラは,図中のカメラビューイング方向から
,検査対象物33の表面に向いており,逆反射スクリー
ン30からの反射光が,検査対象物33で再反射する光
を捕えている。いま検査対象物33表面のA,B,Cの
各点をカメラから見るとき,欠陥のない平面では,逆反
射スクリーン30の各反射球34の角度αで反射される
同じ強さの光を見ていることになり,カメラは濃淡変化
のない中間的な明るさをもった面として捕える。一方,
図5のように検査対象物33の表面に欠陥がある場合,
欠陥のないA点では前記と同様に逆反射スクリーン30
の反射球の角度αからの光を捕えるが,B点(カメラ側
から見て下り坂)では,反射角γの強い光を捕え,また
C点(カメラ側から見て上り坂)では,角度βの弱い光
を捕えることになる。従って,B点の下り坂では明るく
,C点の上り坂では暗く見えることになる。逆反射スク
リーン30の反射球34の反射パターンの指向性の幅は
,約±1度と鋭いため,欠陥の微妙な傾きでも,明暗の
変化両が激しく,欠陥の凹凸が強調されて観測されるこ
とになる。
【0008】上記は検査対象物(パネル13)を静止さ
せた状態で欠陥検出する検出原理を説明したが,本実施
例は検査対象物が移動している状態,しかも速い速度で
搬送されている状態での逆反射スクリーンによる表面検
査である。このための欠陥検出装置10は,図2,図3
に示すように,ストロボ光源2,TVカメラ1と逆反射
スクリーン5が直線上に配置された検査光路の所定位置
に,搬送コンベア6を通して検査対象物であるパネル1
3が通過するように構成されている。この搬送コンベア
6が通る両サイドには,トリガー装置7が配置されてい
る。トリガー装置7は,例えば発光器と受光器とを対向
させた光センサをセンサ15として,トリガー信号を出
力してストロボ光源2およびTVカメラ1を作動させる
。搬送コンベア6に載置されて移動してくるパネル13
の所定部位をトリガー装置7のセンサ15で感知したと
き,トリガー装置7はストロボ光源2を発光させると共
にTVカメラ1を撮像作動させるので,ストロボ光源2
の瞬間光でパネル13を照射して,移動するパネル13
を静止状態にしてTVカメラ1で捕えることができる。 トリガー装置7のセンサ15は搬送コンベア6の移動方
向に列設されているので,パネル13の移動に伴って次
々と作動し,ストロボ光源2が発光してTVカメラ1は
移動するパネル13を静止画像に分割して撮像する。列
設された感知器15の間をパネル13が通過し終えたと
きには,パネル13を列設された感知器15の数だけに
分割された画像がTVカメラ1に接続された画像処理装
置3に取込まれている。画像処理装置3は取込んだ画像
を処理して,予め設定した検査基準にもとづく欠陥の合
否判定を行い,所定間隔で搬送されてくるパネル13の
表面検査を上記の説明のように実施する。次に,画像処
理装置3において実行される欠陥検出のための画像処理
の手順について説明する。図6にTVカメラ1が撮像し
たパネル13の分割静止画像から欠陥検出する画像処理
手順の手順をフローチャートとして示している。 1トリガー毎の撮像画像は必要に応じてステップ2で標
準画像とのグレイレベル補正が行われる。これはストロ
ボ光源2の光量レベルのばらつきによる撮像条件の違い
を均等にするための処理で,予め欠陥のない標準反射板
を撮像した標準画像のグレイレベル(平均明度)をaと
し,入力された被検査物の撮像画像のグレイレベル(平
均明度)をbとして,a/bを撮像画像に乗算処理して
補正される。次いで,ステップ3で標準画像から補正後
の撮像画像を減算処理して,撮像画像上に逆反射スクリ
ーンにより明暗強調された欠陥影像が抽出される。この
抽出された欠陥影像をステップ4で検査基準にもとずく
閾値により二値化を行う。ストロボ光源2の光量レベル
にばらつきがないような場合には,上記のような補正処
理は不要である。以上のステップ1からステップ4まで
の処理を,トリガー数の撮像画像について実施し,ステ
ップ5で欠陥影像の画素ブロックの有無を判定して,欠
陥影像の画素ブロックが有ったときには欠陥のあるパネ
ル13有りのアラームを発し,あるいは自動排除装置を
作動させて欠陥パネルを除外する。以上説明した表面検
査を,搬送コンベア6で順次送られてくるパネル13に
対し実施することで,生産工程のインラインで表面検査
を行うことができる。尚,上記トリガー装置7の出力信
号により作動するストロボ光源2を瞬間発光でない通常
光源として,代りに高速度シャッターを備えたTVカメ
ラ1を作動させても上記と同様の操作を行うことができ
る。また,検査対象物が小さなものであるときには,ト
リガー装置7のセンサ15の配置は1ヶ所として,1枚
の撮像画像について画像処理することができる。
せた状態で欠陥検出する検出原理を説明したが,本実施
例は検査対象物が移動している状態,しかも速い速度で
搬送されている状態での逆反射スクリーンによる表面検
査である。このための欠陥検出装置10は,図2,図3
に示すように,ストロボ光源2,TVカメラ1と逆反射
スクリーン5が直線上に配置された検査光路の所定位置
に,搬送コンベア6を通して検査対象物であるパネル1
3が通過するように構成されている。この搬送コンベア
6が通る両サイドには,トリガー装置7が配置されてい
る。トリガー装置7は,例えば発光器と受光器とを対向
させた光センサをセンサ15として,トリガー信号を出
力してストロボ光源2およびTVカメラ1を作動させる
。搬送コンベア6に載置されて移動してくるパネル13
の所定部位をトリガー装置7のセンサ15で感知したと
き,トリガー装置7はストロボ光源2を発光させると共
にTVカメラ1を撮像作動させるので,ストロボ光源2
の瞬間光でパネル13を照射して,移動するパネル13
を静止状態にしてTVカメラ1で捕えることができる。 トリガー装置7のセンサ15は搬送コンベア6の移動方
向に列設されているので,パネル13の移動に伴って次
々と作動し,ストロボ光源2が発光してTVカメラ1は
移動するパネル13を静止画像に分割して撮像する。列
設された感知器15の間をパネル13が通過し終えたと
きには,パネル13を列設された感知器15の数だけに
分割された画像がTVカメラ1に接続された画像処理装
置3に取込まれている。画像処理装置3は取込んだ画像
を処理して,予め設定した検査基準にもとづく欠陥の合
否判定を行い,所定間隔で搬送されてくるパネル13の
表面検査を上記の説明のように実施する。次に,画像処
理装置3において実行される欠陥検出のための画像処理
の手順について説明する。図6にTVカメラ1が撮像し
たパネル13の分割静止画像から欠陥検出する画像処理
手順の手順をフローチャートとして示している。 1トリガー毎の撮像画像は必要に応じてステップ2で標
準画像とのグレイレベル補正が行われる。これはストロ
ボ光源2の光量レベルのばらつきによる撮像条件の違い
を均等にするための処理で,予め欠陥のない標準反射板
を撮像した標準画像のグレイレベル(平均明度)をaと
し,入力された被検査物の撮像画像のグレイレベル(平
均明度)をbとして,a/bを撮像画像に乗算処理して
補正される。次いで,ステップ3で標準画像から補正後
の撮像画像を減算処理して,撮像画像上に逆反射スクリ
ーンにより明暗強調された欠陥影像が抽出される。この
抽出された欠陥影像をステップ4で検査基準にもとずく
閾値により二値化を行う。ストロボ光源2の光量レベル
にばらつきがないような場合には,上記のような補正処
理は不要である。以上のステップ1からステップ4まで
の処理を,トリガー数の撮像画像について実施し,ステ
ップ5で欠陥影像の画素ブロックの有無を判定して,欠
陥影像の画素ブロックが有ったときには欠陥のあるパネ
ル13有りのアラームを発し,あるいは自動排除装置を
作動させて欠陥パネルを除外する。以上説明した表面検
査を,搬送コンベア6で順次送られてくるパネル13に
対し実施することで,生産工程のインラインで表面検査
を行うことができる。尚,上記トリガー装置7の出力信
号により作動するストロボ光源2を瞬間発光でない通常
光源として,代りに高速度シャッターを備えたTVカメ
ラ1を作動させても上記と同様の操作を行うことができ
る。また,検査対象物が小さなものであるときには,ト
リガー装置7のセンサ15の配置は1ヶ所として,1枚
の撮像画像について画像処理することができる。
【0009】
【発明の効果】本発明は以上説明したように構成される
ので,逆反射スクリーンによる優れた欠陥検出の機能を
,速い速度で移動する検査対象物の表面検査に用いるこ
とができる。即ち,逆反射スクリーンによる表面検査装
置における検査対象物位置に,検査対象物を導入する搬
送路を配置することができ,また速い速度で移動する検
査対象物を分割静止画像として捕え,検査対象物を迅速
に表面検査することができる。従って,生産工程等にお
ける搬送ライン本装置を設置して,ライン上を搬送され
る検査対象物を静止させることなく表面検査することが
できる。このように移動する検査対象物の表面検査を自
動的に実施できるので,生産工程のインラインに設置す
れば,各加工工程に即応して早い段階で欠陥検出が可能
となり,欠陥修正の労力や完成後に欠陥検出されるロス
によるコスト高などを解消することができる。
ので,逆反射スクリーンによる優れた欠陥検出の機能を
,速い速度で移動する検査対象物の表面検査に用いるこ
とができる。即ち,逆反射スクリーンによる表面検査装
置における検査対象物位置に,検査対象物を導入する搬
送路を配置することができ,また速い速度で移動する検
査対象物を分割静止画像として捕え,検査対象物を迅速
に表面検査することができる。従って,生産工程等にお
ける搬送ライン本装置を設置して,ライン上を搬送され
る検査対象物を静止させることなく表面検査することが
できる。このように移動する検査対象物の表面検査を自
動的に実施できるので,生産工程のインラインに設置す
れば,各加工工程に即応して早い段階で欠陥検出が可能
となり,欠陥修正の労力や完成後に欠陥検出されるロス
によるコスト高などを解消することができる。
【図1】 実施例表面検査装置の斜視図。
【図2】 欠陥検出装置の平面構成図。
【図3】 欠陥検出装置の側面構成図。
【図4】 逆反射スクリーンによる表面検査装置の欠
陥検出原理を示す説明図。
陥検出原理を示す説明図。
【図5】 同じく検査表面に欠陥のある場合の欠陥検
出原理を示す説明図。
出原理を示す説明図。
【図6】 画像処理の手順を示すフローチャート。
【図7】 従来例装置の構成を示す模式図。
1…TVカメラ(カメラ)
2…ストロボ光源(光源)
3…画像処理装置
5…逆反射スクリーン
6…搬送コンベア(搬送手段)
7…トリガー装置
13…パネル(検査対象物)
Claims (2)
- 【請求項1】 逆反射スクリーンと光源と検査対象物
とを,前記光源からの光が前記検査対象物で反射して前
記逆反射スクリーンに向かうような相対的位置に配置し
て,検査対象物の表面を光源で照射したときの反射光を
逆反射スクリーンで検査対象物に戻し,検査対象物の表
面で再反射した光を,光源の近傍に配したカメラで捕え
ることにより,検査対象物表面の欠陥を光学的に明暗強
調された画像として得る逆反射スクリーンによる表面検
査装置において,前記光路と直交する方向に所要搬送速
度で移動する搬送手段を設けて検査対象物を搬送すると
共に,前記搬送手段により移動する検査対象物の搬送位
置を検知するトリガー装置からの信号に応じて,前記光
源を瞬間発光させ,あるいは前記カメラを高速度カメラ
として,検査対象物の分割静止画像を得ると共に,前記
分割静止画像の明暗信号から検査対象物の表面欠陥を検
出するようにしたことを特徴とする表面検査装置。 - 【請求項2】 検査対象物を撮像した少くとも1枚の
分割静止画像のデータを,予め撮像した標準画像のデー
タで補正し,補正された明暗データを用いて欠陥画像を
抽出する請求項1記載の表面検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3111992A JPH04340449A (ja) | 1991-05-16 | 1991-05-16 | 表面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3111992A JPH04340449A (ja) | 1991-05-16 | 1991-05-16 | 表面検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04340449A true JPH04340449A (ja) | 1992-11-26 |
Family
ID=14575235
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3111992A Pending JPH04340449A (ja) | 1991-05-16 | 1991-05-16 | 表面検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04340449A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005024431A (ja) * | 2003-07-03 | 2005-01-27 | Koyo Seiko Co Ltd | 外観検査装置 |
| JP2010127738A (ja) * | 2008-11-27 | 2010-06-10 | Toppan Printing Co Ltd | カラーフィルタ表面検査機 |
-
1991
- 1991-05-16 JP JP3111992A patent/JPH04340449A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005024431A (ja) * | 2003-07-03 | 2005-01-27 | Koyo Seiko Co Ltd | 外観検査装置 |
| JP2010127738A (ja) * | 2008-11-27 | 2010-06-10 | Toppan Printing Co Ltd | カラーフィルタ表面検査機 |
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