JPH04340478A - 接触抵抗測定装置および接触抵抗測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、接触抵抗測定装置およ
び接触抵抗測定方法に関するものであり、さらに詳しく
言えば、リレー固有の動作時間を測定して、該リレーの
接触抵抗を測定する装置およびその方法に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】ここで、従来の測定装置につき図６を参
照しつつ説明をする。

【０００３】図６は従来例に係る接触抵抗測定装置の構
成図を示している。

【０００４】該接触抵抗測定装置は、例えば、リレード
ライブ電圧発生回路３１，スキャナ３２ａ，接触抵抗測
定回路３２ｂ，測定値表示回路３２ｃ及び制御回路３４
からなっているものである。リレードライブ電圧発生回
路３１によってリレー３５に駆動電圧が供給され、スキ
ャナ３２ａによって該リレー３５の測定接点の選択がさ
れ、接触抵抗測定回路３２ｂによって該リレー３５の接
触抵抗が計測され、測定値表示回路３２ｃによって接触
抵抗の測定結果が外部に表示され、制御回路３４によっ
てリレードライブ電圧発生回路３１，スキャナ３２ａ，
接触抵抗測定回路３２ｂ及び測定値表示回路３２ｃの入
出力が制御される。以上の動作によりリレー３５の接触
抵抗を測定する。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで従来の接触抵
抗の測定方法においては、各リレー機種ごとに待ち時間
Ｔｃを最大のものに合せて一定の値が設定されていた。 待ち時間Ｔｃについては後述する。

【０００６】これにより、従来の方法によると、測定時
間が長くなり、精度の高い測定ができない等といった問
題が生じる。

【０００７】従来の方法によって生じる問題点を図７を
参照しながら説明する。

【０００８】図７は従来例に係る問題点の説明図であっ
て、（Ａ）〜（Ｄ）は何れも横軸方向は時間を示し、右
方向を正にとっている。（Ａ）はリレードライブ電圧発
生回路３１によって発生されるパルス状のリレードライ
ブ電圧であって、図のパルスのハイレベルのところで電
圧が供給され、ローレベルのところでは電圧が遮断され
ることを示す。

【０００９】又、（Ｂ）は被測定接点のどちら側に接極
子３５ｓがあるかということを示す。すなわち、リレー
３５の接極子３５ｓは図のパルスのハイレベルのところ
でメーク接点３５ｍ側にあり、ローレベルのところでは
ブレーク接点３５ｂ側にあることを示す。なお、Ｉｎｓ
は、接点との衝突による振動の為に接極子３５ｓが不安
定な状態にあることを示す。

【００１０】更に、（Ｃ）、（Ｄ）は制御回路３４から
発せられる測定許可信号を示し、図のパルスのハイレベ
ルのところのみで接点抵抗を測定し、ローレベルのとこ
ろでは接点抵抗を測定しないということを示す。

【００１１】ここで、（Ｃ）は待ち時間Ｔｃがリレーの
動作時間ｔよりも大きい場合、（Ｄ）は待ち時間Ｔｃが
リレーの動作時間ｔよりも小さい場合の測定許可信号を
それぞれ示す。

【００１２】まず、待ち時間Ｔｃがリレーの動作時間ｔ
よりも長い場合（図７）において、（Ｃ）を（Ｂ）と見
比べると、（Ｃ）に示すように、動作時間ｔと待ち時間
Ｔｃの差が無駄な時間ＬＴとして出る。この測定は複数
回繰り返して行う為、無駄な時間ＬＴの和が大きく、結
果として測定時間が長くなるという問題が生じる。

【００１３】また、待ち時間Ｔｃがリレーの動作時間ｔ
よりも短い場合（図７）において、（Ｄ）を（Ｂ）と見
比べると、（Ｄ）に示すように、バウンス時間ＢＴが測
定時間の範囲に入ってしまっている為、接極子が振動し
て不安定な状態で測定が開始されてしまい、本来の値よ
り高い測定抵抗値が求まり、精度の高い測定ができない
といった問題が生じる。

【００１４】前記の問題は各リレー機種ごとに待ち時間
Ｔｃを一定にとったことが原因となっている。

【００１５】本発明は、かかる従来例の問題に鑑みて創
作されたものであり、各被測定対象の固有の動作時間を
測定し、該動作時間に対応して待ち時間を設定すること
により、従来に比して高速かつ高精度な接触抵抗の測定
をすることが可能となる接触抵抗測定装置および接触抵
抗測定方法の提供を目的とする。

【００１６】

【課題を解決するための手段】本発明の接触抵抗測定装
置は、図１に示すように被測定対象５に駆動電圧を供給
する電圧発生手段１と、該被測定対象５の接触抵抗を計
測する第１の計測手段２と、該被測定対象５の固有の動
作時間を計測する第２の計測手段３と、該電圧発生手段
１，第１の計測手段２および第２の計測手段３の入出力
を制御する制御手段４を具備することを特徴とする。

【００１７】また、本発明の接触抵抗測定方法は、被測
定対象５の接触抵抗を測定する方法であって、被測定対
象５に駆動電圧の供給／遮断をする供給／遮断処理をし
、該供給／遮断処理に基づいて該被測定対象５の固有の
動作時間を計測する第１の計測処理をし、該第１の計測
処理と供給／遮断処理とに基づいて被測定対象５の接触
抵抗を計測する第２の計測処理をすることを特徴とし、
上記目的を達成する。

【００１８】

【作用】本発明の接触抵抗測定装置によれば、図１に示
すように電圧発生手段１，第１の計測手段２，第２の計
測手段３及び制御手段４が具備され、電圧発生手段１に
より被測定対象５が駆動電圧を供給され、第１の計測手
段２により該被測定対象５が接触抵抗を計測される。さ
らに、第２の計測手段３により該被測定対象５が固有の
動作時間を計測され、制御手段４によって該電圧発生手
段１，第１の計測手段２および第２の計測手段３の入出
力が制御される。

【００１９】前記被測定対象５の固有の動作時間を計測
することから、該動作時間に基づいて前記被測定対象５
の固有の待ち時間の演算処理が可能となり、該待ち時間
に基づいて前記被測定対象５の固有の測定開始信号を発
生することが可能となる。

【００２０】また、本発明の接触抵抗測定方法によれば
、図２のフローチャートに示すように、ステップＰ１で
供給／遮断処理によって被測定対象５が駆動電圧の供給
／遮断をされ、ステップＰ２で該供給／遮断処理に基づ
いて該被測定対象５の固有の動作時間が計測され（第１
の計測処理）、ステップＰ３で該第１の計測処理と供給
／遮断処理とに基づいて被測定対象５の接触抵抗が計測
されている（第２の計測処理）。

【００２１】このため、機種ごとに一定した待ち時間Ｔ
ｃをとる従来例と比べて、各々の被測定対象５の固有の
動作時間を計測することにより、該被測定対象５の固有
の待ち時間が設定でき、該待ち時間に基づいた測定がで
きる。

【００２２】これにより、測定時間のロスが少なく、ま
た、常に安定した状態での測定ができるので、従来に比
して精度の高い測定値を得ることが可能となる。

【００２３】

【実施例】次に、図を参照しながら本発明の実施例につ
いて説明する。

【００２４】本発明の実施例に係る接触抵抗測定装置は
、図３に示すように、リレードライブ電圧発生回路２１
，スキャナ２２ａ，接触抵抗測定回路２２ｂ，測定結果
出力回路２２ｃ，動作時間測定回路２３ａ，測定開始信
号発生回路２３ｂ及び制御回路２４から成っている。

【００２５】すなわち、リレードライブ電圧発生回路２
１は、電圧発生手段１の一実施例であり、試料であるリ
レー２５に電圧を供給／遮断し、リレーを動作させるも
のである。

【００２６】また、スキャナ２２ａ、接触抵抗測定回路
２２ｂ、測定結果出力回路２２ｃは第１の計測手段２の
一実施例であり、リレー２５の接触抵抗を計測するもの
である。すなわち、スキャナ２２ａはリレーの二接点の
うち、いずれの接点の接触抵抗を計測するかを選択する
ものであり、接触抵抗測定回路２２ｂはリレー２５の接
触抵抗を計測するものである。また、測定結果出力回路
２２ｃは得られた測定結果を外部に出力するものである
。

【００２７】更に、動作時間測定回路２３ａ、測定開始
信号発生回路２３ｂは第２の計測手段３の一実施例であ
り、前記リレー２５の固有の動作時間を計測するもので
ある。すなわち、動作時間測定回路２３ａは前記リレー
２５の固有の動作時間を計測するものであり、測定開始
信号発生回路２３ｂは該動作時間に基づいて測定開始の
合図たる信号を発生するものである。

【００２８】また、制御回路２４は、制御手段４の一実
施例であり、リレードライブ電圧発生回路２１，スキャ
ナ２２ａ，接触抵抗測定回路２２ｂ，測定結果出力回路
２２ｃ，動作時間測定回路２３ａ及び測定開始信号発生
回路２３ｂの入出力を制御するものである。

【００２９】なお、本発明の実施例においては、従来例
と異なって、動作時間測定回路２３ａ、測定開始信号発
生回路２３ｂが存在すること、また、該動作時間測定回
路２３ａ、測定開始信号発生回路２３ｂが前記リレー２
５の固有の動作時間を測定すること等を特徴とする。

【００３０】図６は、本発明の実施例に係る接触抵抗測
定方法の補足説明図であって、当該装置の動作説明図で
ある。図６（Ａ）〜（Ｅ）は何れも横軸方向は時間を示
し、右方向を正にとっている。

【００３１】（Ａ）はリレードライブ電圧発生回路２１
によって発生されるパルス状のリレードライブ電圧であ
って、図のパルスのハイレベルのところで電圧が供給さ
れ、ローレベルのところでは電圧が遮断される。

【００３２】又、（Ｂ）は被測定接点のどちら側に接極
子２５ｓがあるかということを示す接点状態である。す
なわち、リレー２５の接極子２５ｓは図のパルスのハイ
レベルのところでメーク接点２５ｍ側にあり、ローレベ
ルのところではブレーク接点２５ｂ側にある。

【００３３】更に、（Ｃ）は動作時間測定回路２３ａの
動作を示し、図のパルスのハイレベルの範囲のみで動作
時間の測定を行い、他の部分では測定を行わない。

【００３４】また、（Ｄ）は測定開始信号発生回路２３
ｂから発せられる測定許可信号である。

【００３５】さらに、（Ｅ）は接触抵抗測定回路２２ｂ
が接触抵抗の測定をいつ行うかを示したものであり、図
のパルスのハイレベルの範囲のみで動作時間の測定を行
い、他の部分では測定を行わない。

【００３６】当該装置の機能は、例えば、図３にみられ
るように、まずスキャナ２２ａが接点選択信号Ｓ１によ
ってメーク接点２５ｍを測定する側に切り替わり、駆動
電圧供給／遮断信号Ｓ２を受けた前記リレードライブ電
圧発生回路２１によって前記リレー２５に電圧が供給さ
れるのと並行して、動作時間計測開始信号Ｓ３を受けた
前記動作時間測定回路２３ａによって前記リレー２５の
オン動作における固有の動作時間Ｔｏｐが計測される。

【００３７】次に、接点選択信号Ｓ１によってスキャナ
２２ａがブレーク接点２５ｂを測定する側に切り替わり
、駆動電圧供給／遮断信号Ｓ２を受けた前記リレードラ
イブ電圧発生回路２１によって前記リレー２５の電圧が
遮断されるのと並行して、動作時間計測開始信号Ｓ３を
受けた前記動作時間測定回路２３ａによって前記リレー
２５のオフ動作における固有の動作時間Ｔｒｅｌが計測
される。

【００３８】次いで、伝達信号Ｓ４によって測定開始信
号発生回路２３ｂに動作時間のデータＴｏｐ、Ｔｒｅｌ
が出力され、該測定開始信号発生回路２３ｂは該データ
Ｔｏｐ、Ｔｒｅｌにバウンス時間のバラツキを考慮した
値である付加時間αを加える演算処理を行い、その結果
得られる値Ｔｏｐ＋α、Ｔｒｅｌ＋αを待ち時間として
設定する。なお、本発明での待ち時間Ｔｏｐ＋α、Ｔｒ
ｅｌ＋αについては後述し、本発明での動作時間にはバ
ウンス時間も含まれる。

【００３９】更に、接点選択信号Ｓ１によって再びスキ
ャナ２２ａがメーク接点２５ｍを測定する側に切り替わ
り、駆動電圧供給／遮断信号Ｓ２を受けたリレードライ
ブ電圧発生回路２１が電圧をリレー２５に供給開始する
のと同時に測定開始信号発生回路２３ｂが供給開始から
の経過時間の測定を開始する。該経過時間が丁度オン動
作の待ち時間Ｔｏｐ＋αになった時点で該測定開始信号
発生回路２３ｂが接触抵抗測定回路２２ｂに接触抵抗測
定許可信号Ｓ５を出力し、該信号と、接触抵抗測定を促
す信号Ｓ６との二信号が共に該接触抵抗測定回路２２ｂ
に入力した時点で、該接触抵抗測定回路２２ｂが前記リ
レー２５のメーク接点２５ｍ側の接触抵抗の計測を行い
、出力信号Ｓ７によって測定値のデータを該接触抵抗測
定回路２２ｂが測定値表示回路２２ｃに出力し、該測定
値表示回路２２ｃが外部に測定結果を表示する。

【００４０】その後、接点選択信号Ｓ１によって再びス
キャナ２２ａがブレーク接点２５ｂを測定する側に切り
替わり、駆動電圧供給／遮断信号Ｓ２を受けたリレード
ライブ電圧発生回路２１がリレー２５の電圧の遮断を開
始するのと同時に測定開始信号発生回路２３ｂが遮断開
始からの経過時間の測定を開始する。該経過時間が丁度
オフ動作の待ち時間Ｔｒｅｌ＋αになった時点で該測定
開始信号発生回路２３ｂが接触抵抗測定回路２２ｂに接
触抵抗測定許可信号Ｓ５を出力し、該信号と、接触抵抗
測定を促す信号Ｓ６との二信号が共に該接触抵抗測定回
路２２ｂに入力した時点で、該接触抵抗測定回路２２ｂ
が前記リレー２５のブレーク接点２５ｂ側の接触抵抗の
計測を行い、出力信号Ｓ７によって測定値のデータが該
接触抵抗測定回路２２ｂから測定値表示回路２２ｃに出
力され、該測定値表示回路２２ｃが外部に測定結果を表
示する。

【００４１】以上の過程までで、前記リレー２５の固有
の動作時間を計測でき、該動作時間に基づいて前記リレ
ー２５の固有の待ち時間の演算処理が可能となり、該待
ち時間に基づいて測定開始信号Ｓ５を発生することが可
能となる。

【００４２】次に、本発明の実施例に係る接触抵抗測定
方法について当該装置の動作を補足しながら説明をする
。

【００４３】図４は本発明の実施例に係る接触抵抗測定
方法のフローチャート（その１，２）であって、図５は
本発明の実施例に係る接触抵抗測定方法の補足説明図を
示している。

【００４４】例えば、図４のフローチャートにおいて、
まず、ステップＰ１でスキャナ２２ａをメーク接点２５
ｍ側にセットする。

【００４５】次に、ステップＰ２でリレー２５にリレー
ドライブ電圧を供給する（図５のｒ１）。この際、図５
のｒ２に示すように接極子２５ｓがブレーク接点２５ｂ
側からメーク接点２５ｍ側に移動するが、リレードライ
ブ電圧の供給を開始してからしばらくの間は接極子２５
ｓが接点との衝突により振動しており、不安定な状態な
ので、リレードライブ電圧が供給されても、すぐに接触
抵抗の測定はできない。

【００４６】そこで、該ステップＰ２と並行して、ステ
ップＰ３で該リレー２５のオン動作時の動作時間Ｔｏｐ
の測定処理をする。この際、図５のｒ３に示すように、
リレードライブ電圧発生回路２１がリレードライブ電圧
を供給するのと同時に動作時間測定回路２３ａは動作時
間Ｔｏｐの測定を開始し、接極子２５ｓが安定な状態に
なったときに該動作時間Ｔｏｐの測定を終了する。

【００４７】なお、本発明においては、上述したように
前記振動によって生じるバウンス時間ＢＴを含めた時間
をリレー２５の動作時間として定義している。該動作時
間Ｔｏｐは以後、オン動作時の待ち時間を設定する際の
基準値となる。

【００４８】次いで、ステップＰ４でスキャナ２２ａを
ブレーク接点２５ｂ側に切り替える。

【００４９】その後、ステップＰ５で供給されていたリ
レードライブ電圧を遮断する（図５のｒ４）のと並行し
てステップＰ６で該リレー２５のオフ動作時の動作時間
Ｔｒｅｌの測定処理をする（図５のｒ５））。この際、
図５のｒ５にみられるように、電圧を遮断するのと同時
に動作時間測定回路２３ａは動作時間Ｔｒｅｌの測定を
開始し、接極子２５ｓが安定な状態になったときに該動
作時間Ｔｒｅｌの測定を終了する。該動作時間Ｔｒｅｌ
は以後、オフ動作時の待ち時間を設定する際の基準値と
なる。

【００５０】更に、ステップＰ７で接触抵抗測定の際の
待ち時間を設定する。この際、動作時間に、バウンス時
間のばらつきを考慮した付加時間αを加えるという演算
処理を行い、得られた値Ｔｏｐ＋α、Ｔｒｅｌ＋αをそ
れぞれオン動作時、オフ動作時の待ち時間として測定開
始信号発生回路２３ｂに設定する。

【００５１】次いで、ステップＰ８でスキャナ２２ａを
メーク接点２５ｍ側に切り替える。

【００５２】その後、ステップＰ９で再びリレードライ
ブ電圧を供給する（図５のｒ６）のと並行して、ステッ
プＰ１０で該電圧供給開始からの経過時間の測定処理を
行う。この際、リレードライブ電圧を供給するのと同時
に測定開始信号発生回路２３ｂが供給開始からの経過時
間を測定し始め、該経過時間がオン動作の動作時間Ｔｏ
ｐに付加時間αを加えたオン動作の待ち時間Ｔｏｐ＋α
になった時点で次のステップに移る。

【００５３】ステップＰ１１で接触抵抗測定開始信号Ｓ
５を発生し（図５のｒ７）、ステップＰ１２でメーク接
点２５ｍ側の接触抵抗の測定処理をする（図５のｒ８）
。これにより、メーク接点２５ｍ側の接触抵抗の測定値
が得られる。この際、従来例と異なり、接触抵抗測定回
路２２ｂは制御回路２４から出力される接触抵抗測定を
命ずる信号Ｓ６と前記接触抵抗測定開始信号Ｓ５が同時
に入力された時点で初めて接触抵抗の測定を開始する。 従来例では待ち時間Ｔ１を一律に設定していたことによ
り、制御回路から出力される接触抵抗測定を命ずる信号
のみで接触抵抗の測定処理を開始していた。

【００５４】更に、ステップＰ１３で前記接触抵抗の測
定値を外部に表示する。

【００５５】次に、ステップＰ１４で再びスキャナ２２
ａをブレーク接点２５ｂ側に切り替える。

【００５６】次いで、ステップＰ１５で再びリレードラ
イブ電圧を遮断する（図５のｒ９）のと並行して、ステ
ップＰ１６で該電圧遮断開始からの経過時間の測定処理
を行う。この際、電圧を遮断するのと同時に測定開始信
号発生回路２３ｂが遮断開始からの経過時間を測定し始
め、該経過時間がオフ動作の動作時間Ｔｒｅｌに付加時
間αを加えたオフ動作の待ち時間Ｔｒｅｌ＋αになった
時点で次のステップに移る。

【００５７】ステップＰ１７（図５のｒ１０）に示すよ
うに、該測定開始信号発生回路２３ｂから接触抵抗の測
定許可を与える接触抵抗測定開始信号が出力され、ステ
ップＰ１８でメーク接点２５ｍ側と同様にブレーク接点
２５ｂ側の接触抵抗の測定処理をする（図５のｒ１１）
。これにより、ブレーク接点２５ｂ側の接触抵抗の測定
値が得られる。この際の従来例との測定開始時期の相違
点はメーク接点２５ｍ側に述べたとおりである。

【００５８】更に、ステップＰ１９で前記接触抵抗の測
定値を外部に表示する。

【００５９】以上の過程により、１個のリレー２５のメ
ーク接点２５ｍ、ブレーク接点２５ｂの接触抵抗の測定
が１回終了する。１回だけの測定では信頼性に乏しいの
で、上記過程を数回（５回程度）繰り返して行い、１個
のリレー２５の接触抵抗の測定を終了する。

【００６０】このため、各々異なる固有の動作時間を有
するリレーについて、該動作時間を個別に測定すること
により、待ち時間を一律に設定していた従来例に比して
、待ち時間Ｔｃを動作時間ｔ以上にとることによって測
定時間を必要以上に費やすことや、待ち時間Ｔｃを動作
時間ｔ以下にとることによって不安定な状態で接触抵抗
の測定を行うことなど（図６参照）が極力抑止できる。 これにより、測定時間のロスが少なくて済み、また常に
安定した状態での測定ができるので、従来に比して精度
の高い測定値を得ることが可能となる。

【００６１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の接触抵抗
測定装置によれば、電圧発生手段，第１の計測手段，第
２の計測手段及び制御手段が具備され、該第２の計測手
段が被測定対象の固有の動作時間を計測している。

【００６２】このため、被測定対象の各々について固有
の動作時間を計測することから、該動作時間に基づいて
該被測定対象の固有の待ち時間の演算処理が可能となり
、該待ち時間に基づいて該被測定対象の固有の測定開始
信号を発生することが可能となる。

【００６３】また、本発明の接触抵抗測定方法によれば
、被測定対象の固有の動作時間を測定でき、該動作時間
に基づいて被測定対象の各々について適切な待ち時間を
設定することが可能となる。このことで、様々な固有の
動作時間を有する複数の被測定対象に対しても、従来に
比して必要以上に測定時間を費やすことなく、また接極
子が安定な状態で測定されてより信頼性の高い測定値を
得たりすることにより、従来に比して高速かつ高精度な
接触抵抗の測定が可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る接触抵抗測定装置の原理図である
。

【図２】本発明に係る接触抵抗測定方法のフローチャー
トである。

【図３】本発明の実施例に係る接触抵抗測定装置の構成
図である。

【図４】本発明の実施例に係る接触抵抗測定方法のフロ
ーチャート（その１）である。

【図５】本発明の実施例に係る接触抵抗測定方法のフロ
ーチャート（その２）である。

【図６】本発明の実施例に係る接触抵抗測定方法の補足
説明図である。

【図７】従来例に係る接触抵抗測定装置の構成図である
。

【図８】従来例に係る問題点の説明図である。

【符号の説明】

１…電圧発生手段、 ２…第１の計測手段、 ３…第２の計測手段、 ４…制御手段、 ５…被測定対象。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被測定対象（５）に駆動電圧を供給する電
   圧発生手段（１）と、該被測定対象（５）の接触抵抗を
   計測する第１の計測手段（２）と、該被測定対象（５）
   の固有の動作時間を計測する第２の計測手段（３）と、
   該電圧発生手段（１），第１の計測手段（２）および第
   ２の計測手段（３）の入出力を制御する制御手段（４）
   を具備することを特徴とする接触抵抗測定装置。
2. 【請求項２】被測定対象（５）の接触抵抗を測定する方
   法であって、被測定対象（５）に駆動電圧の供給／遮断
   をする供給／遮断処理をし、該供給／遮断処理に基づい
   て該被測定対象（５）の固有の動作時間を計測する第１
   の計測処理をし、該第１の計測処理と供給／遮断処理と
   に基づいて被測定対象（５）の接触抵抗を計測する第２
   の計測処理をすることを特徴とする接触抵抗測定方法。