JPH0434337A - Detecting apparatus for reflected amplitude image using heterodyne detection light-sensing system - Google Patents

Detecting apparatus for reflected amplitude image using heterodyne detection light-sensing system

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JPH0434337A
JPH0434337A JP13958690A JP13958690A JPH0434337A JP H0434337 A JPH0434337 A JP H0434337A JP 13958690 A JP13958690 A JP 13958690A JP 13958690 A JP13958690 A JP 13958690A JP H0434337 A JPH0434337 A JP H0434337A
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JP
Japan
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light
sample
coherent light
detection
amplitude image
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JP13958690A
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Japanese (ja)
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Fumio Inaba
稲場 文男
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
    • G01J9/04Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by beating two waves of a same source but of different frequency and measuring the phase shift of the lower frequency obtained

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
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Abstract

PURPOSE:To detect a reflected image of an object in a scattered object by applying a coherent light to a sample, by synthesizing the coherent light reflected from the sample and a reference coherent light and by determining an amplitude image of the sample from a beat component detected from the synthesized light. CONSTITUTION:A laser light outputted from a laser oscillator 11 is transformed by a beam transformer 12 and led to a beam splitter 14 through a lens 13. One laser light 1 split by the beam splitter 14 is applied to a sample S through a half mirror 15, e.g. a scattering body N. In the half mirror 15, the laser light reflected from the sample S and a local oscillation light Il are synthesized. This synthesized light is led to a zero dimension type heterodyne light-sensing element 20 through a polarizing plate 19. In the light-sensing element 20, accordingly, the beat component of the reflected light from the sample S and the local oscillation light Il is subjected to photoelectric conversion. By separating the beat component from an output signal of the light-sensing element 20 by a modulated component detecting element 21, the amplitude intensity of the reflected light from the sample S can be detected with excellent directivity.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、例えば試料から反射した光を散乱成分やイ
ンコヒーレント光信号から分離して振幅像を検出する装
置に係わり、特に、ヘテロダイン検波受光系を用いた反
射振幅像の検出装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a device for detecting an amplitude image by separating light reflected from a sample from scattered components and incoherent optical signals, for example. In particular, the present invention relates to a reflection amplitude image detection device using a heterodyne detection light receiving system.

(従来の技術) 例えば濃霧や排煙の中の物体や、内部を目視することが
できないような散乱物体が浮遊する水中の物体、あるい
は擦り硝子の向こう側の像等は肉眼では勿論、従来の結
像光学装置でもぼけた像となり、散乱が強くなった場合
、ぼけた像も結像しなくなってしまう。
(Prior art) For example, objects in dense fog or exhaust smoke, objects in water with scattered objects floating inside that cannot be seen visually, or images on the other side of frosted glass can be detected with the naked eye, as well as with conventional methods. Even the imaging optical device produces a blurred image, and if the scattering becomes strong, the blurred image will no longer be formed.

これは散乱物体がなければ肉眼やカメラで捕らえること
ができた像であっても、物体からの反射光が途中の散乱
物体により拡散されてしまい、物体各点からの反射光が
互いに他の点に影響してしまうためである。
This is because even if the image could be captured with the naked eye or a camera without a scattering object, the reflected light from the object is scattered by the scattering objects in the middle, and the reflected light from each point on the object is reflected from each other. This is because it affects the

このように、散乱物体の向こう側にある物体や、散乱物
体中に存在する物体の反射像は、従来用いられている結
像手段では像にすることは不可能であった。
In this way, it has been impossible to create an image of an object on the other side of the scattering object or a reflected image of an object existing within the scattering object using conventional imaging means.

(発明が解決しようとする課題) この発明は、上記従来のamを解決するものであり、そ
の目的とするところは、従来の結像手段では像として検
出できなかった散乱物体中の物体の反射像を検出するこ
とが可能なヘテロダイン検波受光系を用いた反射振幅像
の検出装置を提供しようとするものである。
(Problems to be Solved by the Invention) This invention solves the above-mentioned conventional am, and its purpose is to detect the reflection of an object in a scattering object, which cannot be detected as an image by conventional imaging means. The present invention aims to provide a reflection amplitude image detection device using a heterodyne detection light receiving system capable of detecting an image.

[発明の構成〕 (課題を解決するための手段) 上記課題を解決するため、第1の発明では、コヒーレン
ト光を発生し、このコヒーレント光を試料に照射する照
射手段と、前記コヒーレント光と周波数が相違する参照
コヒーレント光を生成する生成手段と、前記試料から反
射されるコヒーレント光と前記参照コヒーレント光とを
合成する合成手段と、この合成された光からビート成分
を検出する検出手段と、この検出手段によって検出され
たビート成分から試料の振幅像を求める信号処理手段と
を設けている。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) In order to solve the above problems, the first invention includes an irradiation means that generates coherent light and irradiates a sample with the coherent light, and a frequency difference between the coherent light and the frequency. a generating means for generating reference coherent light having different values; a synthesizing means for synthesizing the coherent light reflected from the sample and the reference coherent light; a detecting means for detecting a beat component from the synthesized light; A signal processing means is provided for obtaining an amplitude image of the sample from the beat component detected by the detection means.

この場合、前記合成手段は、試料から反射されるコヒー
レント光の光束の断面全体において前記参照コヒーレン
ト光を合成するようにしている。
In this case, the combining means combines the reference coherent light over the entire cross section of the beam of coherent light reflected from the sample.

また、前記試料は駆動手段によって1次元または2次元
方向に移動され、前記検出手段は0次元の光電変換手段
によって構成され、前記信号処理手段は前記光電変換手
段から出力されるビート成分より1次元または2次元の
振幅像を求めるようにしている。
Further, the sample is moved in a one-dimensional or two-dimensional direction by a driving means, the detecting means is constituted by a zero-dimensional photoelectric conversion means, and the signal processing means is configured to detect a one-dimensional beat component output from the photoelectric conversion means. Alternatively, a two-dimensional amplitude image is obtained.

さらに、前記照射手段によって発生されたコヒーレント
光は集光手段によって集光して試料に照射されている。
Further, the coherent light generated by the irradiation means is focused by a condensing means and irradiated onto the sample.

また、前記検出手段は複数の光電変換素子が1次元また
は2次元に配列された光電変換手段によって構成され、
前記信号処理手段は前記光電変換手段から出力されるビ
ート成分より1次元または2次元の振幅像を求めている
Further, the detection means is constituted by a photoelectric conversion means in which a plurality of photoelectric conversion elements are arranged one-dimensionally or two-dimensionally,
The signal processing means obtains a one-dimensional or two-dimensional amplitude image from the beat component output from the photoelectric conversion means.

さらに、前記生成手段は照射手段によって発生されたコ
ヒーレント光の周波数をシフトする変調手段によって構
成されている。
Further, the generating means is constituted by modulating means for shifting the frequency of the coherent light generated by the irradiating means.

さらに、この発明は前記試料の前面に試料から反射され
た光束を小領域毎に集光して前記検出手段に導く集光手
段を有している。
Furthermore, the present invention has a condensing means on the front surface of the sample, condensing the light beam reflected from the sample into small areas and guiding it to the detection means.

また、第2の発明は、コヒーレント光を発生する発生手
段と、この発生手段によって発生されたコヒーレント光
を試料に斜めに照射するMlのハーフミラ−手段と、こ
の第1のハーフミラ−手段を透過した光の周波数をシフ
トし、参照コヒーレント光を生成する生成手段と、前記
試料から反射された正反射光以外の光と前記参照コヒー
レント光とを合成する合成手段と、この合成手段によっ
て合成された光からビート成分を検出する検出手段と、
この検出手段によって検出されたビート成分から試料の
振幅像を求める信号処理手段とが設けられている。
The second invention also provides a generating means for generating coherent light, a half-mirror means of Ml for obliquely irradiating the sample with the coherent light generated by the generating means, and a light beam that passes through the first half-mirror means. a generating means for shifting the frequency of light to generate a reference coherent light; a synthesizing means for synthesizing the reference coherent light with light other than the specularly reflected light reflected from the sample; and light synthesized by the synthesizing means. detection means for detecting a beat component from the
A signal processing means for obtaining an amplitude image of the sample from the beat component detected by the detection means is provided.

この場合、前記参照コヒーレント光は1次元または2次
元方向に移動するミラー手段を介して前記合成手段に導
かれるようになっている。
In this case, the reference coherent light is guided to the combining means via mirror means that moves in one or two dimensions.

さらに、前記検出手段は複数の光電変換素子が1次元ま
たは2次元に配列された光電変換手段によって構成され
、前記信号処理手段は前記光電変換手段から出力される
ビート成分より1次元または2次元の振幅像を求めるよ
うになっている。
Furthermore, the detection means is constituted by a photoelectric conversion means in which a plurality of photoelectric conversion elements are arranged one-dimensionally or two-dimensionally, and the signal processing means detects a one-dimensional or two-dimensional signal from the beat component outputted from the photoelectric conversion means. It is designed to obtain an amplitude image.

さらに、第3の発明は、コヒーレント光を発生し、この
コヒーレント光を試料に照射する照射手段と、前記コヒ
ーレント光と周波数が相違する参照コヒーレント光を生
成する生成手段と、前記試料から反射されるコヒーレン
ト光をフーリエ変換するフーリエ変換手段と、前記参照
コヒーレント光を変換手段によってフーリエ変換された
光のスペクトル面に導き合成するハーフミラ−手段と、
この合成された光からビート成分を検出する検出手段と
、この検出手段によって検出されたビート成分から試料
の振幅像を求める信号処理手段とを有している。
Furthermore, a third invention includes: irradiation means for generating coherent light and irradiating the sample with the coherent light; generation means for generating reference coherent light having a different frequency from the coherent light; and a reference coherent light that is reflected from the sample. Fourier transform means for Fourier transforming coherent light; and half mirror means for guiding and synthesizing the reference coherent light into a spectral plane of light Fourier transformed by the transform means;
It has a detection means for detecting a beat component from this combined light, and a signal processing means for obtaining an amplitude image of the sample from the beat component detected by the detection means.

さらに、′M4の発明は、コヒーレント光を試料に照射
する照射手段と、前記コヒーレント光と周波数が相違す
る参照コヒーレント光を生成する生成手段と、前記試料
から反射されるコヒーレント光をフーリエ変換する第1
のフーリエ変換手段と、このスペクトル面における振幅
分布をさらにフーリエ変換する第2のフーリエ変換手段
と、この第2のフーリエ変換手段の変換面に前記参照コ
ヒーレント光を導き、フーリエ変換された光に合成する
ハーフミラ−手段と、この合成された光からビート成分
を検出する検出手段と、この検出手段によりて検出され
たビート成分から試料の振幅像を求める信号処理手段と
を有している。
Furthermore, the invention of 'M4 includes an irradiation means for irradiating a sample with coherent light, a generation means for generating a reference coherent light having a frequency different from that of the coherent light, and a generation means for Fourier transforming the coherent light reflected from the sample. 1
a Fourier transform means, a second Fourier transform means for further Fourier transforming the amplitude distribution in this spectral plane, and guiding the reference coherent light to the transform plane of the second Fourier transform means and combining it into Fourier transformed light. A detecting means detecting a beat component from the combined light, and a signal processing means detecting an amplitude image of the sample from the beat component detected by the detecting means.

第3、第4の発明において、前記検出手段は複数の光電
変換素子が1次元または2次元に配列された光電変換手
段によって構成され、前記信号処理手段は前記光電変換
手段から出力されるビート成分より1次元または2次元
の振幅像を求めるようになっている。
In the third and fourth inventions, the detection means is constituted by a photoelectric conversion means in which a plurality of photoelectric conversion elements are arranged one-dimensionally or two-dimensionally, and the signal processing means is a beat component output from the photoelectric conversion means. A more one-dimensional or two-dimensional amplitude image is obtained.

また、前記ハーフミラ−手段は参照コヒーレント光を変
換面の全面に導き、変換面の全面でフーリエ変換された
光に合成するようになっている。
Further, the half mirror means guides the reference coherent light onto the entire surface of the conversion surface, and combines it with the light that has been Fourier transformed on the entire surface of the conversion surface.

さらに、前記ハーフミラ−手段は1次元または2次元方
向に移動され、スペクトル面の一部で参照コヒーレント
光をフーリエ変換された光に合成する合成するようにな
っている。
Further, the half-mirror means is moved in one or two dimensions so as to combine the reference coherent light into the Fourier transformed light in a part of the spectral plane.

また、スペクトル面には空間フィルタが設けられ、前記
検出手段はこの空間フィルタを通過した合成光束を検出
するようになっている。
Further, a spatial filter is provided on the spectral plane, and the detection means detects the combined light flux that has passed through this spatial filter.

(作用) コヒーレントな光であるレーザ光を用いた光ヘテロダイ
ン検波受光系は、散乱したインコヒーレント光の中から
コヒーレント光を選択的に検出することができる特性を
有している。この発明は、ヘテロダイン検波受光系のこ
の特性を利用して物体から反射され、さらに散乱物体に
より散乱された光の中から、物体の反射振幅情報を有す
るコヒーレント光を抽出し、物体全体にわたりサンプリ
ングすれば、各点の物体反射像を得られることを利用す
るものである。
(Function) An optical heterodyne detection light receiving system using laser light, which is coherent light, has a characteristic of being able to selectively detect coherent light from scattered incoherent light. This invention utilizes this characteristic of the heterodyne detection light receiving system to extract coherent light having reflection amplitude information of the object from the light reflected from the object and further scattered by the scattering object, and to sample the entire object. For example, it makes use of the fact that an object reflection image of each point can be obtained.

特に、大きな物体で遠隔にあるものや、散乱物体のなか
の物体の反射像を得たい場合、さらに光が試料を透過し
ないが反射する場合、例えば裏面こ金属板があり、その
表面に散乱層と反射層かある試料の反射振幅像を散乱成
分やインコヒーレント光から分離して検出することを可
能としている。
In particular, when you want to obtain a reflected image of a large object that is far away, or an object that is inside a scattering object, or when light does not pass through the sample but is reflected, for example, there is a metal plate on the back side, and a scattering layer is formed on the surface. This makes it possible to separate the reflection amplitude image of a sample from scattered components and incoherent light and detect it.

すなわち、第1の発明によれば、試料に平行コヒーレン
ト光を照射し、試料からの反射光と参照コヒーレント光
とを合成して、合成光束断面における1次元または2次
元のビート成分を検出することにより、散乱成分、イン
コヒーレント光信号から分離して試料の振幅像を高精度
で検出することができる。
That is, according to the first invention, parallel coherent light is irradiated onto a sample, reflected light from the sample and reference coherent light are combined, and a one-dimensional or two-dimensional beat component in a cross section of the combined beam is detected. Accordingly, the amplitude image of the sample can be detected with high precision by separating it from the scattered components and the incoherent optical signal.

また、第2の発明によれば、試料に平行コヒーレント光
を斜めに照射し、試料からの反射される正反射光以外の
光と参照コヒーレント光とを合成して、合成光束断面に
おける1次元または2次元のビート成分を検出すること
により、表面の滑らかな試料から散乱成分、インコヒー
レント光信号を分離して振幅像を高精度で検出すること
ができる。
Further, according to the second invention, parallel coherent light is obliquely irradiated onto the sample, light other than the specularly reflected light reflected from the sample and reference coherent light are combined, and one-dimensional or By detecting two-dimensional beat components, it is possible to separate scattered components and incoherent optical signals from a sample with a smooth surface, and to detect an amplitude image with high precision.

さらに、第3の発明によれば、試料に平行コヒーレント
光を照射し、試料からの反射光の振幅分布をフーリエ変
換手段によってフーリエ変換し、そのスペクトル面にお
いて参照コヒーレント光と反射光とを合成して、スペク
トル面における1次元または2次元のビート成分を検出
することにより、散乱成分、インコヒーレント光信号か
ら分離して試料の振幅像を高精度で検出することができ
、さらに、検出される振幅像に画像処理を施してコント
ラストを向上することができる。
Furthermore, according to the third invention, the sample is irradiated with parallel coherent light, the amplitude distribution of the reflected light from the sample is Fourier transformed by the Fourier transform means, and the reference coherent light and the reflected light are combined on the spectral plane. By detecting the one-dimensional or two-dimensional beat component in the spectral plane, the amplitude image of the sample can be detected with high precision by separating it from the scattered component and the incoherent optical signal, and the detected amplitude Images can be subjected to image processing to improve contrast.

また、第4の発明によれば、試料に平行コヒーレント光
を照射し、試料からの反射光の振幅分布を第1のフーリ
エ変換手段によってフーリエ変換し、そのスペクトル面
における分布をさらに第2のフーリエ変換手段によって
フーリエ変換し、そのスペクトル面において参照コヒー
レント光と反射光とを合成し、そのスペクトル面におけ
る1次元または2次元のビート成分を検出することによ
り、散乱成分、インコヒーレント光信号から分離して試
料の振幅像を高精度で検出することができ、さらに、検
出される振幅像に画像処理を施してコントラストを向上
することができる。
Further, according to the fourth invention, the sample is irradiated with parallel coherent light, the amplitude distribution of the reflected light from the sample is Fourier transformed by the first Fourier transform means, and the distribution in the spectral plane is further transformed by the second Fourier transform means. The reference coherent light and the reflected light are combined in the spectral plane by Fourier transformation using the transformation means, and the one-dimensional or two-dimensional beat component in the spectral plane is detected, thereby separating it from the scattered component and the incoherent optical signal. The amplitude image of the sample can be detected with high accuracy, and the contrast can be improved by performing image processing on the detected amplitude image.

(実施例) 以下、この発明の実施例について図面を参照して説明す
る。
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to the drawings.

ヘテロダイン検波受光系において、検出器の受光面の径
(集光点でビートをとるときは、集光光学系の開口系)
をd、検出しようとする光の波長をλとすると、その角
度分解能は略d/λである。
In a heterodyne detection light receiving system, the diameter of the light receiving surface of the detector (when taking a beat at the focusing point, the aperture system of the focusing optical system)
Let d be the wavelength of the light to be detected, and λ be the wavelength of the light to be detected, then the angular resolution is approximately d/λ.

したがって、検出器の受光面の径dを検出しようとする
光の波長λに比較して十分に大きくすれば、高指向性光
学系を併用しなくとも、高指向性の受光系を構成するこ
とができる。その−例を第1図乃至第3図に示す。
Therefore, if the diameter d of the light-receiving surface of the detector is made sufficiently large compared to the wavelength λ of the light to be detected, a highly directional light-receiving system can be constructed without using a highly directional optical system. I can do it. Examples thereof are shown in FIGS. 1 to 3.

第1図は平面波単光束走査型の反射像検a装置を示すも
のである。同図において、レーザ発振器11は例えばA
rレーザ発振器によって構成されている。このレーザ発
振器11から出力されたレーザ光は、ビーム変換器12
によって所定の径に変換され、レンズ13を介してビー
ムスプリッタ14に導かれる。このビームスプリッタ1
4によって分割された一方のレーザ光Iはハーフミラ−
15、例えば散乱体Nを介して例えば半導体装置等の試
料Sに照射される。同図において、散乱体Nは説明の便
宜上、試料Sから離れた位置に示しているが、試料Sに
接している場合もある。
FIG. 1 shows a plane wave single beam scanning type reflection image inspection device. In the figure, the laser oscillator 11 is, for example, A
r laser oscillator. The laser beam output from this laser oscillator 11 is transmitted to a beam converter 12.
The beam is converted into a predetermined diameter by the lens 13 and guided to the beam splitter 14 via the lens 13. This beam splitter 1
One of the laser beams I divided by 4 is a half mirror.
15, the sample S, such as a semiconductor device, is irradiated via, for example, a scatterer N. In the figure, the scatterer N is shown at a position away from the sample S for convenience of explanation, but it may be in contact with the sample S in some cases.

一方、前記ビームスプリッタ14によって分割された他
方のレーザ光はミラー16を介して変調器17に導かれ
る。この変調器17は例えば超音波変調器によって構成
された所謂周波数シフタであり、この変調器17では変
調制御部17aの制御に基づいて、周波数が例えばI 
M Hzシフトされた局部発振光11が生成される。こ
の局部発振光11はミラー18を介して前記ハーフミラ
−15に導かれ、このハーフミラ−15において、試料
Sから反射されたレーザ光と局部発振光1gが合成され
る。この合成された光は偏光板19を介してO次元型ヘ
テロダイン受光部20に導かれる。したがって、この0
次元型ヘテロダイン受光部20では、試料Sからの反射
光と局部発振光IIIとのビート成分が光電変換される
。この0次元型ヘテロダイン受光部20の出力はビート
成分が直流成分に重畳された信号となっている。このビ
ート成分の強度は、試料Sによって反射された光の振幅
に比例するため、試料Sの照明領域内の平均振幅反射率
を求めることができる。これに対して、散乱体Nによっ
て散乱された光と局部発振光11を合成しても受光部2
0ではビート成分が生じず単に直流成分となる。このた
め、変調成分検出部21によって受光部20の出力信号
からビート成分を分離することにより、試料Sからの反
射光の振幅強度を良好な指向性によって検出することが
できる。この変調成分検出部21は前記変#制御部17
gによって変調器17と同期して動作されている。
On the other hand, the other laser beam split by the beam splitter 14 is guided to a modulator 17 via a mirror 16. This modulator 17 is, for example, a so-called frequency shifter constituted by an ultrasonic modulator, and in this modulator 17, the frequency is changed to, for example, I based on the control of the modulation control section 17a.
MHz-shifted local oscillation light 11 is generated. This locally oscillated light 11 is guided to the half mirror 15 via the mirror 18, and in this half mirror 15, the laser beam reflected from the sample S and the locally oscillated light 1g are combined. This combined light is guided to an O-dimensional heterodyne light receiving section 20 via a polarizing plate 19. Therefore, this 0
In the dimensional heterodyne light receiving section 20, the beat components of the reflected light from the sample S and the locally oscillated light III are photoelectrically converted. The output of this zero-dimensional heterodyne light receiving section 20 is a signal in which a beat component is superimposed on a DC component. Since the intensity of this beat component is proportional to the amplitude of the light reflected by the sample S, the average amplitude reflectance within the illuminated area of the sample S can be determined. On the other hand, even if the light scattered by the scatterer N and the local oscillation light 11 are combined, the light receiving section 2
At 0, no beat component occurs and only a DC component occurs. Therefore, by separating the beat component from the output signal of the light receiving section 20 by the modulation component detection section 21, the amplitude intensity of the reflected light from the sample S can be detected with good directivity. This modulation component detection section 21 is connected to the variable # control section 17.
g in synchronization with the modulator 17.

また、試料Sの1次元あるいは2次元的な振幅反射率分
布(試料の振幅像)を求めるには、駆動部22によって
試料Sを光軸と垂直な方向に1次元あるいは2次元的に
移動しながら上記のような検知を行えばよい。このよう
にして、試料Sを1次元あるいは2次元的に走査し、各
位置でのビート成分をデータ処理部23によって処理す
ることにより、試料Sの1次元あるいは2次元的な振幅
反射率分布を求めることができ、この振幅反射率分布を
表示部24で表示できる。データ処理部23としては、
通常のCT装置に使用されるものと同様の装置を適用で
きる。
In addition, in order to obtain a one-dimensional or two-dimensional amplitude reflectance distribution (amplitude image of the sample) of the sample S, the sample S is moved one-dimensionally or two-dimensionally in a direction perpendicular to the optical axis by the drive unit 22. However, the above detection may be performed. In this way, by scanning the sample S one-dimensionally or two-dimensionally and processing the beat components at each position by the data processing unit 23, the one-dimensional or two-dimensional amplitude reflectance distribution of the sample S is obtained. This amplitude reflectance distribution can be displayed on the display section 24. As the data processing section 23,
Devices similar to those used in normal CT devices can be applied.

上記実施例によれば、試料から反射した光と局部発振光
とのビート成分を抽出することにより、散乱成分、イン
コヒーレント光を除去して所要の試料の振幅像を高精度
で検出することができる。
According to the above embodiment, by extracting the beat component of the light reflected from the sample and the local oscillation light, it is possible to remove the scattered component and incoherent light and detect the desired amplitude image of the sample with high precision. can.

したがって、これを利用することにより、例えば半導体
装置に損傷を与えることなく、半導体装置のパターン等
を1次元方向あるいは2次元方向に検出することができ
る。
Therefore, by utilizing this, it is possible to detect a pattern of a semiconductor device in one-dimensional direction or two-dimensional direction, for example, without damaging the semiconductor device.

第2図は、この発明の第2の実施例を示すものであり、
第1図と同一部分には同一符号を付し、異なる部分につ
いてのみ説明する。
FIG. 2 shows a second embodiment of the invention,
The same parts as in FIG. 1 are given the same reference numerals, and only the different parts will be explained.

この実施例においては、ハーフミラ−15と散乱体Nの
相互間に集光レンズ25を設け、レーザ光を集光レンズ
25によって集光して試料Sに照射するものである。
In this embodiment, a condenser lens 25 is provided between the half mirror 15 and the scatterer N, and the laser beam is condensed by the condenser lens 25 and irradiated onto the sample S.

この実施例によれば、試料Sに照射されるレーザ光の径
を小さくすることができるため、第1の実施例に比べて
空間分解能を向上することができる。
According to this embodiment, the diameter of the laser beam irradiated onto the sample S can be made small, so that the spatial resolution can be improved compared to the first embodiment.

第3図は、この発明の第3の実施例を示すものであり、
平面波単光束走査型の反射像検出装置を示すものである
。第3図において第1図と同一部分には同一符号を付す
FIG. 3 shows a third embodiment of the invention,
This figure shows a plane wave single beam scanning reflected image detection device. In FIG. 3, the same parts as in FIG. 1 are given the same reference numerals.

同図において、レーザ発振器11から出力されたレーザ
光は、ビーム変換器12によって所定の径に変換される
。このビーム変換器12から出力されたレーザ光はビー
ムスプリッタ31、レンズ32.33を介して試料Sに
斜めに照射される。
In the figure, a laser beam output from a laser oscillator 11 is converted into a predetermined diameter by a beam converter 12. The laser light output from the beam converter 12 is obliquely irradiated onto the sample S via the beam splitter 31 and lenses 32 and 33.

この試料Sに照射されたレーザ光のうち正反射成分はミ
ラー34を介してトラップ35に導かれ、正反射成分以
外の光はハーフミラ−36、ピンホールP、偏光板19
を介して0次元型ヘテロダイン受光部20に導かれる。
Of the laser light irradiated on the sample S, the specularly reflected component is guided to the trap 35 via the mirror 34, and the light other than the specularly reflected component is directed to the half mirror 36, the pinhole P, and the polarizing plate 19.
The light is guided to the zero-dimensional heterodyne light receiving section 20 via the light receiving section 20.

正反射光を用いない理由は、試料Sの表面が滑らかな場
合、光の強度が強すぎ、色情報を得にくいためである。
The reason why specular reflection light is not used is that when the surface of the sample S is smooth, the intensity of the light is too strong and it is difficult to obtain color information.

一方、前記ビームスプリッタ31によって分割された他
方のレーザ光は変調器17に導かれ、この変調器17に
よって周波数がシフトされた局部発振光Illが生成さ
れる。この局部発振光IBはミラー37を介して前記ハ
ーフミラ−36に導かれ、正反射成分以外の光と合成さ
れる。前記ミラー37は駆動部38によって図示矢印方
向に移動され、前記ピンホールP1偏光板19および0
次元型ヘテロダイン受光部20は駆動部39によって、
前記ミラー37と同期して図示矢印方向に移動される。
On the other hand, the other laser beam split by the beam splitter 31 is guided to a modulator 17, and the modulator 17 generates local oscillation light Ill with a shifted frequency. This locally oscillated light IB is guided to the half mirror 36 via the mirror 37, and is combined with light other than the specularly reflected component. The mirror 37 is moved by the drive unit 38 in the direction of the arrow shown in the figure, and the pinhole P1 polarizing plate 19 and the pinhole P1 polarizing plate 19 and
The dimensional heterodyne light receiving section 20 is driven by the driving section 39.
It is moved in the direction of the arrow shown in the figure in synchronization with the mirror 37.

したがって、ミラー37および0次元型ヘテロダイン受
光部20の移動に応じて、試料Sの1次元的な振幅反射
率分布を求めることができる。なお、ミラー37および
受光部20等を2次元に移動すれば試料Sの2次元的な
振幅反射率分布を求めることができる。
Therefore, the one-dimensional amplitude reflectance distribution of the sample S can be determined according to the movement of the mirror 37 and the zero-dimensional heterodyne light receiving section 20. Note that by moving the mirror 37, the light receiving section 20, etc. two-dimensionally, the two-dimensional amplitude reflectance distribution of the sample S can be determined.

この実施例によっても上記実施例と同様の効果を得るこ
とができる。しかも、試料Sからの正反射光を用いない
ため、表面が滑らかな試料Sの振幅像を高精度に求める
ことができる。
This embodiment also provides the same effects as the above embodiment. Moreover, since the specularly reflected light from the sample S is not used, an amplitude image of the sample S with a smooth surface can be obtained with high precision.

上記のように、ヘテロダイン検波受光径を用い、試料S
を相対的に走査して、その1次元あるいは2次元的な振
幅像を検出することができるが、試料S1光学系のいず
れも移動することなく、試料Sの1次元的乃至2次元的
振幅像を検出することができる。
As mentioned above, using the heterodyne detection light receiving diameter, the sample S
It is possible to detect a one-dimensional or two-dimensional amplitude image of the sample S by scanning it relatively, but without moving any of the sample S1 optical systems, the one-dimensional or two-dimensional amplitude image of the sample S can be detected. can be detected.

第4図は、その−例を示すこの発明の第4の実施例を示
すものであり、要部のみを示すものである。
FIG. 4 shows a fourth embodiment of the present invention, showing only the main parts thereof.

図示せぬレーザ発振器から出力されたレーザ光重は図示
せぬビーム変換器によって試料Sの観測範囲以上にビー
ムの径が拡大されている。このレーザ光Iはハーフミラ
−41に導かれ、ハーフミラ−41によって反射された
レーザ光重は散乱体Nを介して試料Sに照射され、ハー
フミラ−41を透過した光はミラー42に導かれる。こ
のミラー42は駆動部43によって図示矢印方向に動作
され、レーザ光の周波数がシフトされる。この周波数が
シフトされたレーザ光は局部発振光19として、試料S
から反射されたレーザ光とともに、ハーフミラ−41を
介して受光部44に導かれる。
The diameter of the laser beam output from a laser oscillator (not shown) is expanded beyond the observation range of the sample S by a beam converter (not shown). This laser beam I is guided to the half mirror 41, the laser beam reflected by the half mirror 41 is irradiated onto the sample S via the scatterer N, and the light transmitted through the half mirror 41 is guided to the mirror 42. This mirror 42 is moved by a drive unit 43 in the direction of the arrow shown in the figure, and the frequency of the laser beam is shifted. This frequency-shifted laser light is used as local oscillation light 19 for the sample S.
The laser beam reflected from the laser beam is guided to the light receiving section 44 via the half mirror 41.

この受光部44は1次元または2次元ヘテロダイン受光
部であり、複数の単位検出素子Doが1次元方向または
2次元方向に配列されて構成されている。したがって、
各単位検出素子Doに入射する光は、その単位検出素子
DOに対応する試料Sの領域から反射された光と局部発
振光IIIの対応する部分の合成光であり、そのビート
成分は、試料Sのその領域の振幅反射率に比例するもの
である。この場合、受光部44と試料Sの相互距離が離
れるほど、単位検出素子による検出像のサンプリング面
積が大きくなる。また、単位検出素子Doの大きさを小
さくして密度を高めるとサンプリング面積が大きくなる
ばかりでなく、サンプリング面積がオーバーラツプする
ためオーバーラツプ文を考慮した像再現をする必要があ
る。
The light receiving section 44 is a one-dimensional or two-dimensional heterodyne light receiving section, and is configured by a plurality of unit detection elements Do arranged in a one-dimensional direction or a two-dimensional direction. therefore,
The light incident on each unit detection element Do is a composite light of the light reflected from the region of the sample S corresponding to the unit detection element DO and the corresponding portion of the local oscillation light III, and the beat component is the light reflected from the area of the sample S corresponding to the unit detection element DO. is proportional to the amplitude reflectance of that area. In this case, the greater the mutual distance between the light receiving section 44 and the sample S, the larger the sampling area of the detection image by the unit detection element. Furthermore, if the size of the unit detection element Do is reduced to increase the density, not only will the sampling area become larger, but also the sampling areas will overlap, so it is necessary to reproduce the image in consideration of the overlap pattern.

尚、受光部44としては、例えばCCDセンサが適用さ
れる。
Note that, as the light receiving section 44, for example, a CCD sensor is applied.

第5図は、この発明の第5の実施例を示すものであり、
第4図と同一部分には同一符号を付し、異なる部分につ
いてのみ説明する。
FIG. 5 shows a fifth embodiment of the invention,
The same parts as in FIG. 4 are given the same reference numerals, and only the different parts will be explained.

この実施例は、ハーフミラ−41と散乱体Nの相互間に
複数のマイクロレンズ51を設け、試料Sによって反射
された光をマイクロレンズ51によって空間的にサンプ
リングして各単位検出素子Doに導くようにしたもので
ある。この場合、マ参口レンズ51のそれぞれの放射光
が隣に入らないように吸収剤を塗布した中空管等で区切
れば、SN比を一層向上することができる。
In this embodiment, a plurality of microlenses 51 are provided between the half mirror 41 and the scatterer N, and the light reflected by the sample S is spatially sampled by the microlenses 51 and guided to each unit detection element Do. This is what I did. In this case, the signal-to-noise ratio can be further improved if the emitted light from each lens 51 is separated by a hollow tube coated with an absorbent so that it does not enter the adjacent lens.

尚、この場合、局部発振光Iflは図のように平面波の
まま単位検出素子Doに入射させたり、マもロレンズ5
1からの光と同様な球面波に変換して入射させてもよい
In this case, the local oscillation light Ifl may be made incident on the unit detection element Do as a plane wave as shown in the figure, or may be made to enter the unit detection element Do as a plane wave as shown in the figure.
It is also possible to convert the light into a spherical wave similar to the light from 1 and make it incident.

さらに、第4、第5の実施例においては、ミラー42を
駆動部43によって駆動することにより、局部発振光1
1を生成したが、これに限定されるものではない。
Furthermore, in the fourth and fifth embodiments, by driving the mirror 42 by the driving section 43, the local oscillation light 1
1, but it is not limited to this.

次に、1次元あるいは2次元の検出器をヘテロダイン検
波受光系により、散乱光が混入した試料の振幅像を検出
する装置について説明する。
Next, an apparatus for detecting an amplitude image of a sample mixed with scattered light using a one-dimensional or two-dimensional detector using a heterodyne detection light receiving system will be described.

第6図は、この発明の第6の実施例を示すものであり、
平面波多光束並列型の反射像検出装置を示すものである
。第6図において第1図、第4図と同一部分には同一符
号を付し、異なる部分についてのみ説明する。
FIG. 6 shows a sixth embodiment of the invention,
This figure shows a plane wave multiple beam parallel type reflected image detection device. In FIG. 6, the same parts as in FIGS. 1 and 4 are given the same reference numerals, and only the different parts will be explained.

第1の実施例では、レーザ光の径をビーム変換器12に
よって小さく絞り、試料Sに対してスポット状にレーザ
光を照射しているが、この実施例は、レーザ光の径をあ
る程度大きくし、試料Sに広範囲にレーザ光を照射する
ことにより、試料Sを移動することなく、試料Sの2次
元的な振幅反射率分布を求めるものである。
In the first embodiment, the diameter of the laser beam is narrowed to a small size by the beam converter 12, and the laser beam is irradiated onto the sample S in the form of a spot, but in this embodiment, the diameter of the laser beam is increased to a certain extent. , by irradiating the sample S with laser light over a wide range, the two-dimensional amplitude reflectance distribution of the sample S is determined without moving the sample S.

この場合、試料Sからの反射光、および局部発振光IM
は、偏光板19を介して1次元あるいは2次元型ヘテロ
ダインの受光部44に導かれる。
In this case, the reflected light from the sample S and the local oscillation light IM
is guided through a polarizing plate 19 to a light receiving section 44 of a one-dimensional or two-dimensional heterodyne.

受光部44の単位検出素子では、その大きさによって規
定される回折限界像(0次のフランフォーフッ回折像)
の大きさで入射光がサンプリングされ、試料Sの各サン
プリング領域の平均振幅反射率に比例するビート成分が
直流成分に重畳された信号が得られる。受光部44の出
力信号は、変調成分検出部21に供給され、この変調成
分検出部21によって各位置でのビート成分が分離され
、このビート成分がデータ処理部23によって処理され
ることにより、試料Sの2次元的な振幅反射率分布が求
められる。
In the unit detection element of the light receiving section 44, a diffraction limit image (zero-order Franfauf diffraction image) defined by its size
The incident light is sampled with a magnitude of , and a signal is obtained in which a beat component proportional to the average amplitude reflectance of each sampling region of the sample S is superimposed on a DC component. The output signal of the light receiving section 44 is supplied to the modulation component detection section 21, and the modulation component detection section 21 separates the beat component at each position, and this beat component is processed by the data processing section 23 to detect the sample. A two-dimensional amplitude reflectance distribution of S is obtained.

この実施例によれば、試料Sや受光部を移動することな
く、2次元の振幅像を検出することができる。
According to this embodiment, a two-dimensional amplitude image can be detected without moving the sample S or the light receiving section.

第7図は、この発明の第7の実施例を示すものであり、
拡大光学系を用いた振幅像の検出装置を示すものである
FIG. 7 shows a seventh embodiment of the invention,
This figure shows an amplitude image detection device using an enlarging optical system.

レーザ発振器11から出力されたレーザ光はビームスプ
リッタ71によって分割され、一方は、ビーム拡大器7
2、散乱体Nを介して試料Sに照射される。前記ビーム
スプリッタ71によって分割された他方のレーザ光はミ
ラー73によって反射され、この反射光はビームスプリ
ッタ71において、ビーム拡大器71を介して導かれた
試料Sからの反射光と合成される。この合成光は変調器
17、偏光板19を介して受光部44に供給され、この
受光部44によってビート成分が検出される。
The laser light output from the laser oscillator 11 is split by a beam splitter 71, and one is split by a beam expander 7.
2. The sample S is irradiated via the scatterer N. The other laser beam split by the beam splitter 71 is reflected by a mirror 73, and this reflected light is combined in the beam splitter 71 with the reflected light from the sample S guided via the beam expander 71. This combined light is supplied to the light receiving section 44 via the modulator 17 and the polarizing plate 19, and the beat component is detected by the light receiving section 44.

以下上記実施例と同様の処理によって振幅像が検出され
る。
Thereafter, an amplitude image is detected by the same processing as in the above embodiment.

この実施例によれば、例えば半導体等の微小な試料の振
幅像を検出することができる。
According to this embodiment, it is possible to detect an amplitude image of a minute sample such as a semiconductor, for example.

第8v!Jは、この発明の第8の実施例を示すものであ
り、縮小光学系を用いた振幅像の検出装置を示すもので
ある。
8th v! J shows an eighth embodiment of the present invention, and shows an amplitude image detection device using a reduction optical system.

この実施例は、第7図にビーム拡大器71に変えてビー
ム縮小器81を設けたものであり、他の構成は第7TI
!!Jと同様である。
In this embodiment, a beam condenser 81 is provided in place of the beam expander 71 in FIG.
! ! Same as J.

この実施例によれば、大きな試料の全体を一度に検出す
ることが可能である。
According to this embodiment, it is possible to detect the entire large sample at once.

第9図は第3図に示す実施例を変形したこの発明の第9
の実施例を示すものである。
FIG. 9 shows a ninth embodiment of the present invention which is a modification of the embodiment shown in FIG.
This is an example of the following.

第3図に示す実施例においては、試料と受光部を移動す
ることによって1次元あるいは2次元の像を検出したが
、この実施例においては、1次元あるいは2次元の受光
部44を使用することにより、試料等を移動することな
く、1次元あるいは2次元の像を検出可能としている。
In the embodiment shown in FIG. 3, a one-dimensional or two-dimensional image is detected by moving the sample and the light receiving section, but in this embodiment, a one-dimensional or two-dimensional light receiving section 44 is used. This makes it possible to detect one-dimensional or two-dimensional images without moving the sample or the like.

第10図は第2図に示す実施例を変形したこの発明の第
10の実施例を示すものである。
FIG. 10 shows a tenth embodiment of the present invention, which is a modification of the embodiment shown in FIG.

第2図に示す実施例は、球面波、単光束を使用し、試料
と受光部を移動することによって1次元あるいは2次元
の像を検出したが、この実施例においては、球面波、多
光束を使用するとともに、1次元あるいは2次元の受光
部44を使用することにより、試料等を移動することな
く、1次元あるいは2次元の像を検出可能としている。
The embodiment shown in Fig. 2 uses a spherical wave and a single beam, and detects a one-dimensional or two-dimensional image by moving the sample and the light receiving part. By using a one-dimensional or two-dimensional light receiving section 44, a one-dimensional or two-dimensional image can be detected without moving the sample or the like.

以上は試料の近傍において、試料がら反射された光と局
部発振光とのビート成分を検出して振幅像を検出するも
のであったが、振幅像のフーリエ変換スペクトル信号を
物体のスペクトル面で検出するようにすることも可能で
ある。周知のように、レンズの前側焦点面に物体を配置
し、これにコヒーレント光を照射すると、レンズの後側
焦点面には物体の振幅分布のフーリエ変換が得られる。
The above method detects the amplitude image by detecting the beat component of the light reflected by the sample and the local oscillation light in the vicinity of the sample, but the Fourier transform spectral signal of the amplitude image is detected on the spectral plane of the object. It is also possible to do so. As is well known, when an object is placed at the front focal plane of a lens and coherent light is irradiated onto it, a Fourier transform of the amplitude distribution of the object is obtained at the rear focal plane of the lens.

また、この物体にインコヒーレント光を照射した場合、
物体からのインコヒーレントな散乱光により、物体のパ
ワースペクトルを得ることができる。
Also, if this object is irradiated with incoherent light,
The power spectrum of an object can be obtained from incoherent scattered light from the object.

第11図は、コヒーレント光とインコヒーレント光の関
係を概略的に示すものである。
FIG. 11 schematically shows the relationship between coherent light and incoherent light.

このようなスペクトル面でヘテロダイン検波してビート
を取ろうとして照明光の周波数と異なる周波数の局部発
振光を同時に入射した場合、コヒーレント光によるフー
リエ変換信号はその振幅に比例するビート成分を生じる
が、インコヒーレントなパワースペクトルは局部発振光
と合成してもビートを生じないため、スペクトル面で両
者を分離してコヒーレント光による信号のみを取出すこ
とが可能である。
When attempting to extract beats by heterodyne detection on such a spectrum, if locally oscillated light of a frequency different from the frequency of the illumination light is simultaneously incident, the Fourier transform signal of the coherent light will generate a beat component proportional to its amplitude. Since an incoherent power spectrum does not produce a beat even when combined with local oscillation light, it is possible to separate the two in terms of spectrum and extract only the signal due to coherent light.

第12図は、この発明の第11の実施例を示すものであ
り、スペクトル面で両者を分離してコヒーレント光によ
る信号のみを取出す場合を示すものである。
FIG. 12 shows an eleventh embodiment of the present invention, in which the two are separated in terms of spectrum and only the signal due to coherent light is extracted.

凸レンズ91の前側焦点面には試料Sが配置され、後側
焦点面には1次元または2次元の受光部44が配置され
ている。前記凸レンズ91と散乱体Nの相互間にはハー
フミラ−92が設けられ、凸レンズ91と受光部44の
相互間にはハーフミラ−93が設けられている。前記ハ
ーフミラ−92を介してレーザ光が試料Sに照射される
と、この試料Sから反射された光は、ハーフミラ−92
、レンズ91、ハーフミラ−93を順次介して、受光部
44のスペクトル面に導かれる。このスペクトル面にハ
ーフミラ−93を介して局部発振光Ijを入射すると、
受光部44の各単位検出素子ODからその位置の振幅の
大きさに比例したビート成分を含んだ信号が得られる。
A sample S is placed on the front focal plane of the convex lens 91, and a one-dimensional or two-dimensional light receiving section 44 is placed on the rear focal plane. A half mirror 92 is provided between the convex lens 91 and the scatterer N, and a half mirror 93 is provided between the convex lens 91 and the light receiving section 44. When the sample S is irradiated with a laser beam through the half mirror 92, the light reflected from the sample S is reflected by the half mirror 92.
, lens 91, and half mirror 93, and are guided to the spectral plane of the light receiving section 44. When the local oscillation light Ij is incident on this spectral plane via the half mirror 93,
A signal containing a beat component proportional to the magnitude of the amplitude at that position is obtained from each unit detection element OD of the light receiving section 44.

したがって、各単位検出素子ODについてこのビート成
分のみを取出すことにより、ビ料Sの振幅像のフーリエ
成分のみを検出することができる。この検出した信号は
、試料Sの振幅像の空間周波数分布を表しているが、直
接試料Sの振幅像を得るためには、この検出信号を電気
的に再度フーリエ変換すればよい。
Therefore, by extracting only this beat component for each unit detection element OD, only the Fourier component of the amplitude image of the beat signal S can be detected. This detected signal represents the spatial frequency distribution of the amplitude image of the sample S, but in order to directly obtain the amplitude image of the sample S, this detection signal may be electrically Fourier transformed again.

ところで、試料Sの振幅分布の空間的フーリエ変換を得
るのに、コヒーレント光による照明は第12図に示すよ
うな光軸方向からに限定されるものではない。
Incidentally, in order to obtain the spatial Fourier transform of the amplitude distribution of the sample S, the illumination by coherent light is not limited to the direction of the optical axis as shown in FIG.

第13図(a)は、この発明の第12の実施例を示すも
のであり、第12図に示すハーフミラ−92を45°以
外の角度に設定し、試料Sに対してコヒーレント光を斜
めに照射するようにしたものである。
FIG. 13(a) shows a twelfth embodiment of the present invention, in which the half mirror 92 shown in FIG. 12 is set at an angle other than 45°, and coherent light is directed obliquely toward the sample S. It is designed to irradiate.

同図(b)は同図(a)のスペクトル面Fに表れるイン
コヒーレント光によるスペクトルとそのスペクトルに隠
れたコヒーレント光によるスペクトルを示しているが、
この実施例によれば、このような場合においても、コヒ
ーレント光によるスペクトルのみを分離して取出すこと
ができる。
Figure (b) shows the spectrum due to incoherent light appearing on spectral plane F in figure (a) and the spectrum due to coherent light hidden in that spectrum.
According to this embodiment, even in such a case, only the spectrum of coherent light can be separated and extracted.

また、1次元あるいは2次元検出器の代わりに単なる検
出器を用いても、スペクトル面で振幅像のフーリエ変換
スペクトル信号を検出することができる。
Further, even if a simple detector is used instead of a one-dimensional or two-dimensional detector, it is possible to detect a Fourier transformed spectral signal of an amplitude image on a spectral plane.

第14図は、この発明の第13の実施例を示すものであ
り、0次元の受光器20を用いたものである。同図にお
いて、第13図(a)と同一部分には同一符号を付す。
FIG. 14 shows a thirteenth embodiment of the present invention, in which a zero-dimensional light receiver 20 is used. In this figure, the same parts as in FIG. 13(a) are given the same reference numerals.

凸レンズ91とスペクトル面Fの相互間に設けられたハ
ーフミラ−100、およびスペクトル面FとO次元の受
光器20の相互間に設けられたピンホールPは、図示矢
印方向および紙面に直交する方向に移動可能とされてい
る。したがって、凸レンズ91によってフーリエ変換さ
れたスペクトルは、このように移動されるハーフミラ−
100によってスペクトル面Fに導かれた局部発振光1
1と合成され、0次元の受光器20により、ビート成分
を含む信号に変換される。このビート成分の2次的な分
布を求めることにより、スペクトル面Fで試料Sからの
反射によるフーリエ変換を検出することができる。
The half mirror 100 provided between the convex lens 91 and the spectral plane F, and the pinhole P provided between the spectral plane F and the O-dimensional light receiver 20 are arranged in the direction of the arrow shown in the figure and in the direction orthogonal to the plane of the paper. It is considered movable. Therefore, the spectrum that has been Fourier transformed by the convex lens 91 is
Local oscillation light 1 guided to spectral plane F by 100
1 and is converted by the zero-dimensional photodetector 20 into a signal containing a beat component. By determining the secondary distribution of this beat component, it is possible to detect the Fourier transform due to reflection from the sample S on the spectral plane F.

ところで、コヒーレント光による光学的2次元フーリエ
変換法によると、スペクトル面Fの0火成分は、像の明
るさの情報のみを担うものであり、画像情報は含んでい
ないが、0火成分をカットして像再生を行うと、2倍の
空間周波数の像となり、画像が縮小されたのと等価なも
のとなる。しかし、像の直流成分がなくなるので、像を
再生するとコントラストがよくなる。また、特定の周波
数のスペクトル成分のみを通過させたり、逆にカットし
たり、さらには、周波数毎に減衰率を変える等して、再
生像の特性を変更することができる。このような処理は
、一般に、空間フィルタリングと呼ばれるが、そのため
には、スペクトル面Fに所望の特性の空間フィルタを挿
入すればよい。
By the way, according to the optical two-dimensional Fourier transform method using coherent light, the zero component of the spectral plane F only carries information about the brightness of the image and does not contain image information, but the zero component is cut. When the image is reconstructed using this method, it becomes an image with twice the spatial frequency, which is equivalent to a reduced image. However, since the direct current component of the image is eliminated, the contrast becomes better when the image is reproduced. Furthermore, the characteristics of the reproduced image can be changed by passing only spectral components of a specific frequency, or by cutting them, or by changing the attenuation rate for each frequency. Such processing is generally called spatial filtering, and for this purpose, a spatial filter with desired characteristics may be inserted into the spectral plane F.

第15図(a)は、この発明の第14の実施例を示すも
のであり、第13図(a)と同一部分には同一符号を付
す。
FIG. 15(a) shows a fourteenth embodiment of the present invention, and the same parts as in FIG. 13(a) are given the same reference numerals.

同図において、受光部44の前面にはO火成分カットフ
ィルタ101が設けられ、このフィルタ101によって
試料Sから反射された光のスペクトル中の0火成分がカ
ットされるようになっている。受光部44の出力信号は
、帯域通過フィルタ(BPF)102を介して信号処理
部103に供給される。
In the figure, an O-fire component cut filter 101 is provided in front of the light receiving section 44, and this filter 101 cuts the O-fire component in the spectrum of the light reflected from the sample S. The output signal of the light receiving section 44 is supplied to the signal processing section 103 via a band pass filter (BPF) 102.

この場合の再生の処理順序を同図(b)に示す。The reproduction processing order in this case is shown in FIG.

像再現はコヒーレント光によるスペクトルからフィルタ
101によって0火成分をカットし、2次元ヘテロダイ
ン受光部44と帯域通過フィルタ102によってヘテロ
ダイン検波して2次元のビート成分を検出し、この検出
出力を信号処理部103によって2次元フーリエ変換し
、再生像を得る。この再生像は、前述したようにコント
ラストが向上したものとなっている。
For image reproduction, a filter 101 cuts off the zero component from the spectrum of coherent light, a two-dimensional heterodyne light receiving section 44 and a bandpass filter 102 perform heterodyne detection to detect a two-dimensional beat component, and the detected output is sent to a signal processing section. 103 performs two-dimensional Fourier transformation to obtain a reconstructed image. This reproduced image has improved contrast as described above.

上記実施例では、光学的な空間フィルタをスペクトル面
に挿入することにより0火成分をカットしたが、これを
電気的に行うことも可能である。
In the above embodiment, the 0-fire component was cut by inserting an optical spatial filter into the spectral plane, but this can also be done electrically.

同図(C)はその−例を示すものである。スペクトル面
のコヒーレント光による信号をそのままヘテロダイン検
波により2次元ビート成分として検出し、信号処理部1
03により2次元ビート成分をカットし、その後に2次
元フーリエ変換して再現像を得るものである。なお、以
上においては、スペクトル面Fにおいて、ヘテロダイン
検波により検出したスペクトル信号をフーリエ変換して
像を再現するものとしたが、スペクトル面での試料Sの
振幅像のフーリエ変換スペクトル信号をそのまま利用し
てもよい。
Figure (C) shows an example of this. The signal from coherent light on the spectral plane is directly detected as a two-dimensional beat component by heterodyne detection, and the signal processing unit 1
03, the two-dimensional beat component is cut, and then two-dimensional Fourier transform is performed to obtain a reproduced image. Note that in the above description, the spectrum signal detected by heterodyne detection is reproduced by Fourier transform on the spectrum plane F, but the Fourier transform spectrum signal of the amplitude image of the sample S on the spectrum plane is used as is. You can.

上記のように、スペクトル面で振幅像のフーリエ変換ス
ペクトルをこの発明のヘテロダイン検波受光系によって
検出し、その信号を電気的にフーリエ変換してフィルタ
リング処理を施した像を再現する代わりに、第16図に
示すように、凸レンズL2によって像再現のためのフー
リエ変換を光学的に行い、像面でヘテロダイン検波する
ことにより、散乱体によるインコヒーレント光による成
分を除いて、試料Sの画像処理がなされた振幅像を得る
ことができる。
As described above, instead of detecting the Fourier transform spectrum of the amplitude image in the spectral plane by the heterodyne detection light receiving system of the present invention, and reproducing the filtered image by electrically Fourier transforming the signal, the 16th As shown in the figure, image processing of the sample S is performed by optically performing Fourier transformation for image reproduction using the convex lens L2 and performing heterodyne detection on the image plane, excluding components caused by incoherent light from scatterers. An amplitude image can be obtained.

なお、レンズL1の焦点距離f1とレンズL2の焦点距
離f2とを異なる大きさとすることにより、再生像を試
料に対して拡大したり縮小することができる。fl>f
2の場合、縮小像となり、fl<f2の場合、拡大像と
なる。
Note that by setting the focal length f1 of the lens L1 and the focal length f2 of the lens L2 to different sizes, the reconstructed image can be enlarged or reduced with respect to the sample. fl>f
2, it becomes a reduced image, and when fl<f2, it becomes an enlarged image.

尚、この発明は上記実施例に限定されるものではなく、
要旨を変えない範囲において種々変形実施可能なことは
勿論である。
Note that this invention is not limited to the above embodiments,
Of course, various modifications can be made without departing from the gist.

[発明の効果] 以上詳述したようにこの発明によれば、大型の試料や透
過像を取り得る配置ができない試料、さらに光を透過し
ないが試料内部からの反射がある試料の振幅像を、散乱
成分やインコヒーレント光から分離して検出することが
可能なヘテロダイン検波受光系を用いた反射振幅像の検
出装置を提供できる。
[Effects of the Invention] As detailed above, according to the present invention, it is possible to obtain amplitude images of large samples, samples that cannot be arranged to obtain transmission images, and samples that do not transmit light but have reflections from inside the sample. It is possible to provide a reflection amplitude image detection device using a heterodyne detection light receiving system that can separate and detect scattered components and incoherent light.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はヘテロダイン検波受光系を示す構成図、第2図
は球面波を使用した構成図、第3図は試料に斜めに光を
照射する場合を示す構成図、第4図、第5図は1次元ま
たは2次元の受光部を使用した場合を示す構成図、I@
6図は第1図を変形した構成図、第7図は拡大光学系を
使用した場合を示す構成図、18図は縮小光学系を使用
した場合を示す構成図、第9図は第3図を変形した構成
図、第10図は第2図を変形した構成図、第11図はコ
ヒーレント光とインコヒーレント光の関係を説明するた
めに示す図、第12図はスペクトル面でヘテロダイン検
波する場合を示すものであり、要部の構成図、第13図
(a)は試料の照射方向を説明するために示す図、第1
3図(b)はコヒーレント光とインコヒーレント光の関
係を説明するために示す図、第14図は第13図(a)
の変形例を示す構成図、第15図はスペクトル面でヘテ
ロダイン検波する場合において、画像処理を導入した場
合の像再現原理を説明するために示す図、第16図は像
面でヘテロダイン検波する振幅像検出装置の要部を示す
構成図である。 11・・・レーザ発振器、15・・・ハーフミラ−17
・・・変調器、20・・・受光部(0次元)、23・・
・データ処理部、24・・・受光部(1,2次元)、S
・・・試料、N・・・散乱体。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 痢 図 第 図 第 図 7a 第6図 第 図 第 図 $8 図 第10 図 17a l息 第13 ffl (a) #13f!f(b) f Ff14 図
Figure 1 is a configuration diagram showing a heterodyne detection light receiving system, Figure 2 is a configuration diagram using a spherical wave, Figure 3 is a configuration diagram showing the case where the sample is irradiated with light obliquely, Figures 4 and 5 is a configuration diagram showing the case where a one-dimensional or two-dimensional light receiving section is used, I@
Figure 6 is a configuration diagram that is a modified version of Figure 1, Figure 7 is a configuration diagram showing the case where an enlarged optical system is used, Figure 18 is a configuration diagram showing the case where a reduction optical system is used, and Figure 9 is the configuration diagram shown in Figure 3. Figure 10 is a modified version of Figure 2, Figure 11 is a diagram for explaining the relationship between coherent light and incoherent light, and Figure 12 is for heterodyne detection in the spectrum plane. 13(a) is a diagram showing the configuration of the main parts, and FIG. 13(a) is a diagram shown to explain the irradiation direction of the sample.
Figure 3 (b) is a diagram shown to explain the relationship between coherent light and incoherent light, and Figure 14 is a diagram shown in Figure 13 (a).
Fig. 15 is a diagram showing the principle of image reproduction when image processing is introduced in the case of heterodyne detection on the spectral plane, and Fig. 16 shows the amplitude of heterodyne detection on the image plane. FIG. 2 is a configuration diagram showing main parts of an image detection device. 11... Laser oscillator, 15... Half mirror 17
... Modulator, 20... Light receiving section (0 dimension), 23...
・Data processing section, 24... Light receiving section (1, 2 dimensional), S
...sample, N...scatterer. Applicant's Representative Patent Attorney Takehiko Suzue Figure 7a Figure 6 Figure $8 Figure 10 Figure 17a 13th ffl (a) #13f! f(b) f Ff14 Figure

Claims (16)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)コヒーレント光を発生し、このコヒーレント光を
試料に照射する照射手段と、 前記コヒーレント光と周波数が相違する参照コヒーレン
ト光を生成する生成手段と、 前記試料から反射されるコヒーレント光と前記参照コヒ
ーレント光とを合成する合成手段と、この合成された光
からビート成分を検出する検出手段と、 この検出手段によって検出されたビート成分から試料の
振幅像を求める信号処理手段と、 を具備したことを特徴とするヘテロダイン検波受光系を
用いた反射振幅像の検出装置。
(1) irradiation means for generating coherent light and irradiating the sample with the coherent light; generating means for generating reference coherent light having a different frequency from the coherent light; coherent light reflected from the sample and the reference coherent light; A composition means for combining coherent light with a coherent light, a detection means for detecting a beat component from the combined light, and a signal processing means for obtaining an amplitude image of the sample from the beat component detected by the detection means. A reflection amplitude image detection device using a heterodyne detection light receiving system.
(2)前記合成手段は、試料から反射されるコヒーレン
ト光の光束の断面全体において前記参照コヒーレント光
を合成することを特徴とする請求項1記載のヘテロダイ
ン検波受光系を用いた反射振幅像の検出装置。
(2) Detection of a reflection amplitude image using the heterodyne detection light receiving system according to claim 1, wherein the synthesizing means synthesizes the reference coherent light in the entire cross section of the beam of coherent light reflected from the sample. Device.
(3)前記試料は駆動手段によって1次元または2次元
方向に移動され、前記検出手段は0次元の光電変換手段
によって構成され、前記信号処理手段は前記光電変換手
段から出力されるビート成分より1次元または2次元の
振幅像を求めることを特徴とする請求項1記載のヘテロ
ダイン検波受光系を用いた反射振幅像の検出装置。
(3) The sample is moved in a one-dimensional or two-dimensional direction by a driving means, the detection means is constituted by a zero-dimensional photoelectric conversion means, and the signal processing means converts the beat component output from the photoelectric conversion means into a one-dimensional or two-dimensional direction. 2. A reflection amplitude image detection apparatus using a heterodyne detection light receiving system according to claim 1, wherein a dimensional or two-dimensional amplitude image is obtained.
(4)前記照射手段によって発生されたコヒーレント光
は集光手段によって集光して試料に照射されること特徴
とする請求項1記載のヘテロダイン検波受光系を用いた
反射振幅像の検出装置。
(4) The apparatus for detecting a reflection amplitude image using a heterodyne detection light receiving system according to claim 1, wherein the coherent light generated by the irradiation means is focused by a focusing means and irradiated onto the sample.
(5)前記検出手段は複数の光電変換素子が1次元また
は2次元に配列された光電変換手段によって構成され、
前記信号処理手段は前記光電変換手段から出力されるビ
ート成分より1次元または2次元の振幅像を求めること
を特徴とする請求項1記載のヘテロダイン検波受光系を
用いた反射振幅像の検出装置。
(5) The detection means is constituted by a photoelectric conversion means in which a plurality of photoelectric conversion elements are arranged one-dimensionally or two-dimensionally,
2. A reflection amplitude image detection apparatus using a heterodyne detection light receiving system according to claim 1, wherein said signal processing means obtains a one-dimensional or two-dimensional amplitude image from the beat component output from said photoelectric conversion means.
(6)前記生成手段は照射手段によって発生されたコヒ
ーレント光の周波数をシフトする変調手段によって構成
されていることを特徴とする請求項1記載のヘテロダイ
ン検波受光系を用いた反射振幅像の検出装置。
(6) The apparatus for detecting a reflection amplitude image using a heterodyne detection light receiving system according to claim 1, wherein the generation means is constituted by a modulation means for shifting the frequency of the coherent light generated by the irradiation means. .
(7)前記試料の前面には試料から反射された光束を小
領域毎に集光して前記検出手段に導く集光手段が設けら
れていることを特徴とする請求項5記載のヘテロダイン
検波受光系を用いた反射振幅像の検出装置。
(7) The heterodyne detection light reception according to claim 5, characterized in that a light focusing means is provided on the front surface of the sample to collect the light beam reflected from the sample into small areas and guide it to the detection means. A reflection amplitude image detection device using a system.
(8)コヒーレント光を発生する発生手段と、この発生
手段によって発生されたコヒーレント光を試料に斜めに
照射する第1のハーフミラー手段と、 この第1のハーフミラー手段を透過した光の周波数をシ
フトし、参照コヒーレント光を生成する生成手段と、 前記試料から反射された正反射光以外の光と前記参照コ
ヒーレント光とを合成する合成手段と、この合成手段に
よって合成された光からビート成分を検出する検出手段
と、 この検出手段によって検出されたビート成分から試料の
振幅像を求める信号処理手段と、 を具備したことを特徴とするヘテロダイン検波受光系を
用いた反射振幅像の検出装置。
(8) A generating means for generating coherent light, a first half mirror means for obliquely irradiating the sample with the coherent light generated by the generating means, and a frequency of the light transmitted through the first half mirror means. generating means for shifting and generating a reference coherent light; a synthesizing means for synthesizing the reference coherent light with light other than the specularly reflected light reflected from the sample; and a beat component from the light synthesized by the synthesizing means. A detection device for a reflection amplitude image using a heterodyne detection light receiving system, comprising: a detection means for detecting a beat component; and a signal processing means for obtaining an amplitude image of a sample from a beat component detected by the detection means.
(9)前記参照コヒーレント光は1次元または2次元方
向に移動するミラー手段を介して前記合成手段に導かれ
ることを特徴とする請求項8記載のヘテロダイン検波受
光系を用いた反射振幅像の検出装置。
(9) Detection of a reflection amplitude image using the heterodyne detection light receiving system according to claim 8, wherein the reference coherent light is guided to the synthesizing means via a mirror means that moves in one or two dimensions. Device.
(10)前記検出手段は複数の光電変換素子が1次元ま
たは2次元に配列された光電変換手段によって構成され
、前記信号処理手段は前記光電変換手段から出力される
ビート成分より1次元または2次元の振幅像を求めるこ
とを特徴とする請求項8記載のヘテロダイン検波受光系
を用いた反射振幅像の検出装置。
(10) The detection means is constituted by a photoelectric conversion means in which a plurality of photoelectric conversion elements are arranged in one or two dimensions, and the signal processing means is one-dimensional or two-dimensional from the beat component output from the photoelectric conversion means. 9. A reflection amplitude image detection apparatus using a heterodyne detection light receiving system according to claim 8, wherein an amplitude image of .
(11)コヒーレント光を発生し、このコヒーレント光
を試料に照射する照射手段と、 前記コヒーレント光と周波数が相違する参照コヒーレン
ト光を生成する生成手段と、 前記試料から反射されるコヒーレント光をフーリエ変換
するフーリエ変換手段と、 前記参照コヒーレント光を変換手段によってフーリエ変
換された光のスペクトル面に導き合成するハーフミラー
手段と、 この合成された光からビート成分を検出する検出手段と
、 この検出手段によって検出されたビート成分から試料の
振幅像を求める信号処理手段と、 を具備したことを特徴とするヘテロダイン検波受光系を
用いた反射振幅像の検出装置。
(11) Irradiation means for generating coherent light and irradiating the sample with the coherent light; generation means for generating reference coherent light having a different frequency from the coherent light; and Fourier transformation of the coherent light reflected from the sample. a Fourier transform means for converting the reference coherent light into a spectral plane of light Fourier transformed by the transform means; a half mirror means for combining the reference coherent light with the spectrum plane of the light Fourier transformed by the transform means; a detecting means for detecting a beat component from the combined light; A detection device for a reflection amplitude image using a heterodyne detection light receiving system, comprising: a signal processing means for obtaining an amplitude image of a sample from a detected beat component.
(12)コヒーレント光を試料に照射する照射手段と、 前記コヒーレント光と周波数が相違する参照コヒーレン
ト光を生成する生成手段と、 前記試料から反射されるコヒーレント光をフーリエ変換
する第1のフーリエ変換手段と、 このスペクトル面における振幅分布をさらにフーリエ変
換する第2のフーリエ変換手段と、この第2のフーリエ
変換手段の変換面に前記参照コヒーレント光を導き、フ
ーリエ変換された光に合成するハーフミラー手段と、 この合成された光からビート成分を検出する検出手段と
、 この検出手段によって検出されたビート成分から試料の
振幅像を求める信号処理手段と、 を具備したことを特徴とするヘテロダイン検波受光系を
用いた反射振幅像の検出装置。
(12) Irradiation means for irradiating a sample with coherent light; generation means for generating reference coherent light having a different frequency from the coherent light; and first Fourier transformation means for Fourier transforming the coherent light reflected from the sample. and a second Fourier transform means that further Fourier transforms the amplitude distribution in this spectral plane, and a half mirror means that guides the reference coherent light to the transform plane of the second Fourier transform means and combines it with the Fourier transformed light. A heterodyne detection light receiving system comprising: a detection means for detecting a beat component from the combined light; and a signal processing means for obtaining an amplitude image of a sample from the beat component detected by the detection means. A reflection amplitude image detection device using
(13)前記検出手段は複数の光電変換素子が1次元ま
たは2次元に配列された光電変換手段によって構成され
、前記信号処理手段は前記光電変換手段から出力される
ビート成分より1次元または2次元の振幅像を求めるこ
とを特徴とする請求項11または12記載のヘテロダイ
ン検波受光系を用いた反射振幅像の検出装置。
(13) The detection means is constituted by a photoelectric conversion means in which a plurality of photoelectric conversion elements are arranged in one or two dimensions, and the signal processing means is one-dimensional or two-dimensional from the beat component output from the photoelectric conversion means. 13. The apparatus for detecting a reflection amplitude image using a heterodyne detection light receiving system according to claim 11 or 12, wherein an amplitude image of a reflection amplitude image is obtained.
(14)前記ハーフミラー手段は参照コヒーレント光を
変換面の全面に導き、変換面の全面でフーリエ変換され
た光に合成することを特徴とする請求項11または12
記載のヘテロダイン検波受光系を用いた反射振幅像の検
出装置。
(14) The half mirror means guides the reference coherent light onto the entire surface of the conversion surface, and combines the reference coherent light into light that has been Fourier transformed on the entire surface of the conversion surface.
A detection device for a reflection amplitude image using the heterodyne detection light receiving system described above.
(15)前記ハーフミラー手段は1次元または2次元方
向に移動され、スペクトル面の一部で参照コヒーレント
光をフーリエ変換された光に合成する合成することを特
徴とする請求項11または12記載のヘテロダイン検波
受光系を用いた反射振幅像の検出装置。
(15) The half mirror means is moved in a one-dimensional or two-dimensional direction and combines the reference coherent light into the Fourier-transformed light in a part of the spectral plane. Reflection amplitude image detection device using a heterodyne detection light receiving system.
(16)スペクトル面には空間フィルタが設けられ、前
記検出手段はこの空間フィルタを通過した合成光束を検
出することを特徴とする請求項11または12記載のヘ
テロダイン検波受光系を用いた反射振幅像の検出装置。
(16) A reflection amplitude image using the heterodyne detection light receiving system according to claim 11 or 12, characterized in that a spatial filter is provided on the spectral plane, and the detection means detects the combined light beam that has passed through the spatial filter. detection device.
JP13958690A 1990-05-31 1990-05-31 Detecting apparatus for reflected amplitude image using heterodyne detection light-sensing system Pending JPH0434337A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015029787A1 (en) * 2013-08-30 2015-03-05 富士フイルム株式会社 Optical-characteristics measurement device and optical-characteristics measurement method

Cited By (2)

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WO2015029787A1 (en) * 2013-08-30 2015-03-05 富士フイルム株式会社 Optical-characteristics measurement device and optical-characteristics measurement method
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