JPH0434467Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 (a) 考案の技術分野 この考案は、テープオートメーテツドボンデイ
ング（以下、TABという。）の電気的特性を測定
する場合に、TABに測定用の電極を接触させる
ための接触機構についてのものである。

(b) 従来技術と問題点 最初に、TABの部分外観図を第２図に示す。

第２図の１はTAB、１Ａはデバイス、１Ｂは
端子、１Ｃは穴である。

デバイス１Ａは半導体などで構成されており、
端子１Ｂに後述の測定ピンを接触させてデバイス
１Ａの電気的特性を測定する。

穴１Ｃは、スプロケツトホールを構成してお
り、後述の位置決めピンを穴１Ｃに挿入し、測定
ピンを端子１Ｂに接触させる場合のガイドの役目
をする。

次に、従来技術によるTABと電極の接触機構
の構成図を第３図に示す。

第３図の２と３はプーリ、４は電極、５は位置
決めピン、６は測定ピン、７はプツシヤ、７Ａは
プツシヤ７の面、８は軸、９は駆動源である。

駆動源９には、アクチユエータなどを使用す
る。第３図では、プーリ２とプーリ３を介して
TAB１を張り、プーリ２とプーリ３の間のTAB
１のデバイス１Ａ側に電極４を配置している。

そして、駆動源９により、軸８を第３図の二点
鎖線の位置まで移動させることにより、面７Ａが
TAB１の背面を押し、TAB１のデバイス１Ａと
電極４を接触させる。この場合、位置決めピン５
が第２図の穴１Ｃに入ることにより、TAB１の
位置が決まり、測定ピン６か第２図の端子１Ｂに
接触するようになる。

しかし、プツシヤ７によるTAB１と電極４の
接触では接触圧力の微調整が困難であり、さらに
TAB１を電極４に接触させる際、第２図のデバ
イス１Ａ部分だけを押しつけているので、デバイ
ス１Ａと電極４の位置ずれがおこるという問題が
ある。

(c) 考案の目的 この考案は、第１の駆動源でTABを移動させ、
第２の駆動源でプツシヤを移動させるようにし、
デバイス１Ａと電極４の接触圧力を微調整できる
ようにしたTABと電極の接触機構の提供を目的
とする。

(d) 考案の実施例 次に、この考案による実施例の構成図を第１図
に示す。

第１図の１１はプツシヤ、１２はボールネジ、
１３は駆動源、１４はブロツク、１５はボールネ
ジ、１６は駆動源である。

プツシヤ１１は、TAB１の背面で電極４に対
面する位置に配置される。

駆動源１３はボールネジ１２を回転させ、ボー
ルネジ１２の回転でプツシヤ１１が上下に移動す
る。駆動源１３には、例えばモータを使用する。

ブロツク１４はボールネジ１４の両端を支持す
るとともに、プーリ２とプーリ３を連結してい
る。

ボールネジ１５が回転すると、ブロツク１４が
上下に移動する。このとき、ブロツク１４に連結
されているプーリ２とプーリ３もTAB１ととも
に移動する。また、プツシヤ１１もボールネジ１
２を介してブロツク１４に連結しているので、ブ
ロツク１４が上下動すればプツシヤ１１も上下動
する。

すなわち、第１図では、駆動源１３がプツシヤ
１１を上下動させるとともに、駆動源１６がブロ
ツク１４を上下動させている。

駆動源１６によるブロツク１４の上下動を例え
ば20mmにし、駆動源１３によるプツシヤ１１の上
下動を例えば10mmにする。

第１図では駆動源１６でブロツク１４、プーリ
２，３を介してTAB１を電極４の測定ピン６の
位置まで移動させる。そして、駆動源１３でプツ
シヤ１１を電極４のデバイス１Ａに接触するまで
移動させ、デバイス１Ａと電極４の接触圧力を微
調整する。

次に、第１図の部分拡大図を第４図と第５図に
示す。

第４図は駆動源１６でTAB１の穴１Ｃに位置
決めピン５が入る位置までTAB１を移動させた
状態の部分拡大図である。

すなわち、駆動源１６は第４図の状態になるま
でプーリ２とプーリ３でTAB１を移動させる。

第５図は駆動源１３でTAB１のデバイス１Ａ
に測定ピン６が接触する位置までプツシヤ１１を
移動させた状態の部分拡大図である。

すなわち、第１図の接触機構は第４図の状態に
なるまでは駆動源１６でTAB１の位置を粗調整
し、第４図の状態から第５図の状態までは駆動源
１３でプツシヤ１１を移動させ、デバイス１Ａと
測定ピン６の接触圧力を微調整をするものであ
る。

駆動源１３，１６は、モータのスイツチをオン
にすることで駆動されるので、目で見て駆動源１
３，１６を制御することができる。

(e) 考案の効果 この考案によれば、第１の駆動源でTABをプ
ーリとともに移動させてTABの位置を粗調整し、
第２の駆動源でプツシヤを移動させてTABと電
極の接触圧を微調整することができるので、
TABと電極を確実に接触させることができる。

また、TABの品種を交換しても、短時間で調
整することができ、接触圧力の微妙な調整をする
こともできる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案による実施例の構成図、第２
図はTABの部分外観図、第３図は従来技術の構
成図、第４図と第５図は第１図の部分拡大図であ
る。 １……TAB、１Ａ……デバイス、１Ｂ……端
子、１Ｃ……穴、２……プーリ、３……プーリ、
４……電極、５……位置決めピン、６……測定ピ
ン、７……プツシヤ、７Ａ……面、８……軸、９
……駆動源、１１……プツシヤ、１１Ａ……面、
１２……ボールネジ、１３……駆動源、１４……
ブロツク、１５……ボールネジ、１６……駆動
源。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 第１のプーリ２と第２のプーリ３を介して
   TAB１を移動させ、第１のプーリ２と第２のプ
   ーリ３の間のTAB１のデバイス１Ａ側に電極４
   を配置し、デバイス１Ａと電極４を接触させる
   TABと電極の接触機構において、 電極４に対面する位置でTAB１の背面に配置
   されるプツシヤ１１と、 プツシヤ１１を移動させるボールネジ１２と、 第１のプーリ２と第２のプーリ３を連結し、ボ
   ールネジ１２を支持するブロツク１４と、 ブロツク１４を移動させるボールネジ１５と、 ボールネジ１５を駆動する駆動源１６とを備
   え、 駆動源１６でTAB１の位置を粗調整し、 駆動源１３でプツシヤ１１の位置を微調整する
   こと特徴とするTABと電極の接触機構。