JPH04346489A - 混成集積回路 - Google Patents
混成集積回路Info
- Publication number
- JPH04346489A JPH04346489A JP12027691A JP12027691A JPH04346489A JP H04346489 A JPH04346489 A JP H04346489A JP 12027691 A JP12027691 A JP 12027691A JP 12027691 A JP12027691 A JP 12027691A JP H04346489 A JPH04346489 A JP H04346489A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- hybrid integrated
- overcoat film
- resistor
- printed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L barium sulfate Chemical compound [Ba+2].[O-]S([O-])(=O)=O TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims abstract description 14
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 11
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 11
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims abstract description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 27
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 claims description 5
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 25
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 3
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 1
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 239000011256 inorganic filler Substances 0.000 description 1
- 229910003475 inorganic filler Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000010301 surface-oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
- Details Of Resistors (AREA)
- Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は混成集積回路に関し、特
に混成集積回路基板上に印刷形成された印刷抵抗体を被
覆保護するオーバコート膜に関する。
に混成集積回路基板上に印刷形成された印刷抵抗体を被
覆保護するオーバコート膜に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、金属基板を用いた混成集積回路に
あっては、混成集積回路基板は表面をアルマイト処理し
たアルミニウム基板を用い、その基板上に絶縁樹脂層を
介して所望形状の導電路が形成されている。かかる導電
路上あるいは導電路間に半導体チップ、チップコンデン
サあるいは印刷抵抗体が搭載され、導電路を介して相互
接続されている。かかる印刷抵抗体上にはオーバコート
膜が保護のため形成されている。
あっては、混成集積回路基板は表面をアルマイト処理し
たアルミニウム基板を用い、その基板上に絶縁樹脂層を
介して所望形状の導電路が形成されている。かかる導電
路上あるいは導電路間に半導体チップ、チップコンデン
サあるいは印刷抵抗体が搭載され、導電路を介して相互
接続されている。かかる印刷抵抗体上にはオーバコート
膜が保護のため形成されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】印刷抵抗体が形成され
た混成集積回路は一般的には種々の信頼性試験が行われ
る。例えば、かかる混成集積回路を高温長時間保存した
後、室温に放置すると温度変化によって印刷抵抗体事自
体が硬化収縮して初期設定した抵抗値を著しくマイナス
に変化させ精度が要求される部分においては不良になる
という問題がある。
た混成集積回路は一般的には種々の信頼性試験が行われ
る。例えば、かかる混成集積回路を高温長時間保存した
後、室温に放置すると温度変化によって印刷抵抗体事自
体が硬化収縮して初期設定した抵抗値を著しくマイナス
に変化させ精度が要求される部分においては不良になる
という問題がある。
【0004】また、印刷抵抗体は負のTCRを有してい
るため混成集積回路上に搭載したときには、TCRの変
化率を低くすることが望まれる。例えば、20KΩの抵
抗体のTCRは約−900ppm/℃であるが、この抵
抗体をアルミニウム基板上に搭載すると基板の膨張係数
αが23×10−6/℃、抵抗体の膨張係数αが12×
10−6/℃であるため、基板が温度変化によって引張
られたとき抵抗体自体も引張られる。その結果、抵抗体
は引張られるものの抵抗値自体はプラスに変化するため
、抵抗体のTCRは−280ppm/℃まで小さくなる
。しかし、精度が要求される抵抗体を考えると、TCR
を最小限に小さくすることが望ましい中、従来構造では
上記した約−280ppm程度にしか抑制できないとい
う課題が残る。上述した問題は特に金属基板をベースと
した集積回路特有の問題であり、プリント基板等の他の
基板をベースとした集積回路では問題にならない。何故
なら、そのようなベース基板であってはチップ部品ある
いは印刷抵抗体の膨張係数αと基板の膨張係数αの差が
あまり問題にならないからである。
るため混成集積回路上に搭載したときには、TCRの変
化率を低くすることが望まれる。例えば、20KΩの抵
抗体のTCRは約−900ppm/℃であるが、この抵
抗体をアルミニウム基板上に搭載すると基板の膨張係数
αが23×10−6/℃、抵抗体の膨張係数αが12×
10−6/℃であるため、基板が温度変化によって引張
られたとき抵抗体自体も引張られる。その結果、抵抗体
は引張られるものの抵抗値自体はプラスに変化するため
、抵抗体のTCRは−280ppm/℃まで小さくなる
。しかし、精度が要求される抵抗体を考えると、TCR
を最小限に小さくすることが望ましい中、従来構造では
上記した約−280ppm程度にしか抑制できないとい
う課題が残る。上述した問題は特に金属基板をベースと
した集積回路特有の問題であり、プリント基板等の他の
基板をベースとした集積回路では問題にならない。何故
なら、そのようなベース基板であってはチップ部品ある
いは印刷抵抗体の膨張係数αと基板の膨張係数αの差が
あまり問題にならないからである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は上述した課題に
鑑みて為されたものであり、印刷抵抗体を被覆保護する
オーバコート膜の樹脂固形分100に対して200〜3
00重量比の硫酸バリウムを添加し、オーバコート膜と
基板の膨張係数αを略同一としたことを特徴とする。
鑑みて為されたものであり、印刷抵抗体を被覆保護する
オーバコート膜の樹脂固形分100に対して200〜3
00重量比の硫酸バリウムを添加し、オーバコート膜と
基板の膨張係数αを略同一としたことを特徴とする。
【0006】
【作用】このように本発明に依れば、オーバコート膜の
樹脂固形分100に対して200〜300重量比の硫酸
バリウムを添加してオーバコート膜と基板の膨張係数α
を略同一にすることにより、印刷抵抗体は膨張係数αが
略同一な基板とオーバコート膜とで挾持された構造とな
り、印刷抵抗体のTCRを従来よりも小さくすることが
できる。
樹脂固形分100に対して200〜300重量比の硫酸
バリウムを添加してオーバコート膜と基板の膨張係数α
を略同一にすることにより、印刷抵抗体は膨張係数αが
略同一な基板とオーバコート膜とで挾持された構造とな
り、印刷抵抗体のTCRを従来よりも小さくすることが
できる。
【0007】
【実施例】以下に図1および図2に示した実施例に基づ
いて本発明を説明する。本発明の混成集積回路は図1に
示す如く、混成集積回路基板(1)と、基板(1)上に
形成された導電路(2)と、導電路間に形成された印刷
抵抗体(3)と、抵抗体(3)を被覆保護するオーバコ
ート膜(4)とから構成される。
いて本発明を説明する。本発明の混成集積回路は図1に
示す如く、混成集積回路基板(1)と、基板(1)上に
形成された導電路(2)と、導電路間に形成された印刷
抵抗体(3)と、抵抗体(3)を被覆保護するオーバコ
ート膜(4)とから構成される。
【0008】混成集積回路基板(1)としてはアルミニ
ウム基板表面をアルマイト処理したものあるいはアルミ
ニウム基板表面にAl2O3を混入した絶縁樹脂を塗布
したものを用い、良好な放熱特性を得ている。斯る基板
(1)上には銅箔を貼着し、所望の形状にエッチングし
て導電路(2)が形成される。導電路(2)は表面の酸
化を防止するためにニッケルメッキを施している。また
抵抗体(3)が形成する予定の導電路(2)端には銀ペ
ースト等の導電ペースト層(5)がスクリーン印刷によ
り付着されている。なお導電ペースト層(5)は抵抗体
(3)と導電路(2)とのオーミック接触をとるための
ものである。
ウム基板表面をアルマイト処理したものあるいはアルミ
ニウム基板表面にAl2O3を混入した絶縁樹脂を塗布
したものを用い、良好な放熱特性を得ている。斯る基板
(1)上には銅箔を貼着し、所望の形状にエッチングし
て導電路(2)が形成される。導電路(2)は表面の酸
化を防止するためにニッケルメッキを施している。また
抵抗体(3)が形成する予定の導電路(2)端には銀ペ
ースト等の導電ペースト層(5)がスクリーン印刷によ
り付着されている。なお導電ペースト層(5)は抵抗体
(3)と導電路(2)とのオーミック接触をとるための
ものである。
【0009】上記したように導電路(2)間には印刷抵
抗体(3)が形成される。本実施例ではエポキシ樹脂ベ
ースのカーボンレジン印刷抵抗ペーストが用いられてい
る。エポキシ樹脂100、カーボン8、無機フィラー3
0〜100、有機溶剤100の組成で形成され、周知の
スクリーン印刷により導電路(2)間に付着し約200
℃数時間の焼成工程で印刷抵抗体(3)が形成される。
抗体(3)が形成される。本実施例ではエポキシ樹脂ベ
ースのカーボンレジン印刷抵抗ペーストが用いられてい
る。エポキシ樹脂100、カーボン8、無機フィラー3
0〜100、有機溶剤100の組成で形成され、周知の
スクリーン印刷により導電路(2)間に付着し約200
℃数時間の焼成工程で印刷抵抗体(3)が形成される。
【0010】印刷抵抗体(3)上には抵抗体形成後の工
程において抵抗体自体を保護するためにエポキシ系のオ
ーバコート薄膜(4)が印刷形成される。本発明の特徴
とするところは、このオーバコート膜(4)にある。即
ち、オーバコート膜(4)の膨張係数αと基板(1)の
膨張係数αとを実質的に近似するように設定するところ
にある。例えば、エポキシ系樹脂よりなるオーバコート
膜(4)の樹脂固形分100に対して200〜300重
量比の硫酸バリウムを高密度充填することによりオーバ
コート膜(4)の膨張係数αを従来の676×10−6
/℃から56×10−6/℃に調整することができる。 しかも上記したように膨張係数αを基板と近似させると
ともにスクリーン印刷ができる適宜の粘性をも有するも
のである。
程において抵抗体自体を保護するためにエポキシ系のオ
ーバコート薄膜(4)が印刷形成される。本発明の特徴
とするところは、このオーバコート膜(4)にある。即
ち、オーバコート膜(4)の膨張係数αと基板(1)の
膨張係数αとを実質的に近似するように設定するところ
にある。例えば、エポキシ系樹脂よりなるオーバコート
膜(4)の樹脂固形分100に対して200〜300重
量比の硫酸バリウムを高密度充填することによりオーバ
コート膜(4)の膨張係数αを従来の676×10−6
/℃から56×10−6/℃に調整することができる。 しかも上記したように膨張係数αを基板と近似させると
ともにスクリーン印刷ができる適宜の粘性をも有するも
のである。
【0011】樹脂の膨張係数αを小さくさせるのに一般
的に硫酸バリウム以外にシリカ等を添加することが知ら
れるがシリカ等を高密度充填するとα自体は小さくでき
るものの粘性が強度になり、スクリーン印刷が行えずオ
ーバコート膜が形成できないという問題がある。本発明
のオーバコート膜を印刷抵抗体上にスクリーン印刷する
ことで、印刷抵抗体のTCRを従来よりも小さくするこ
とができ温度変化に対して従来よりも抵抗変動の少ない
混成集積回路を提供することができる。また、印刷抵抗
体が膨張係数αの近似した基板とオーバコート膜で挾持
された構造となるため高温保存における抵抗変化率を従
来よりもある程度改善することができる。
的に硫酸バリウム以外にシリカ等を添加することが知ら
れるがシリカ等を高密度充填するとα自体は小さくでき
るものの粘性が強度になり、スクリーン印刷が行えずオ
ーバコート膜が形成できないという問題がある。本発明
のオーバコート膜を印刷抵抗体上にスクリーン印刷する
ことで、印刷抵抗体のTCRを従来よりも小さくするこ
とができ温度変化に対して従来よりも抵抗変動の少ない
混成集積回路を提供することができる。また、印刷抵抗
体が膨張係数αの近似した基板とオーバコート膜で挾持
された構造となるため高温保存における抵抗変化率を従
来よりもある程度改善することができる。
【0012】図2は本発明のオーバコート膜と従来のオ
ーバコート膜とを夫々20KΩの印刷抵抗体に被覆形成
し温度変化による抵抗変化率を示す特性図であり、図3
は高温保存抵抗変化率を示す特性図である。測定条件と
して高温保存抵抗変化特性では常温125℃で1000
時間における抵抗変化率を測定したものである。尚、抵
抗体は本実施例で用いられるアルミニウム基板上に形成
して測定したものである。
ーバコート膜とを夫々20KΩの印刷抵抗体に被覆形成
し温度変化による抵抗変化率を示す特性図であり、図3
は高温保存抵抗変化率を示す特性図である。測定条件と
して高温保存抵抗変化特性では常温125℃で1000
時間における抵抗変化率を測定したものである。尚、抵
抗体は本実施例で用いられるアルミニウム基板上に形成
して測定したものである。
【0013】図2及び図3においてAは膨張係数αを基
板の膨張係数αと近似させたオーバコート膜を被覆した
ものであり、Bは従来のオーバコート膜を被覆したもの
である。図2及び図3から明らかな如く、TCRにおい
てはAのオーバコート膜はBのオーバコート膜よりも若
干ではあるが抵抗値が変化しないことが明確であり、ま
た、高温保存試験後においては、従来より改善されるこ
とは明確である。何故なら、印刷抵抗体が高温保存状態
におかれた場合、樹脂の硬化収縮がさらに進み抵抗値を
低下される動きを生じる。本発明のオーバコート膜はエ
ポキシ当量計算された速硬化性の硬化剤を用いる為、高
温保存において硬化収縮が少ない。従って抵抗体の硬化
収縮を阻害する働きを示す為、抵抗値の低下を防るため
である。
板の膨張係数αと近似させたオーバコート膜を被覆した
ものであり、Bは従来のオーバコート膜を被覆したもの
である。図2及び図3から明らかな如く、TCRにおい
てはAのオーバコート膜はBのオーバコート膜よりも若
干ではあるが抵抗値が変化しないことが明確であり、ま
た、高温保存試験後においては、従来より改善されるこ
とは明確である。何故なら、印刷抵抗体が高温保存状態
におかれた場合、樹脂の硬化収縮がさらに進み抵抗値を
低下される動きを生じる。本発明のオーバコート膜はエ
ポキシ当量計算された速硬化性の硬化剤を用いる為、高
温保存において硬化収縮が少ない。従って抵抗体の硬化
収縮を阻害する働きを示す為、抵抗値の低下を防るため
である。
【0014】
【発明の効果】以上に詳述した如く、本発明に依れば印
刷抵抗体を保護するオーバコート膜の熱膨張係数αを基
板の膨張係数αと実質的に近似させることにより、印刷
抵抗体のTCRを従来よりも小さくすることができ温度
変化に対して従来よりも抵抗変動の少ない混成集積回路
を提供することができる。
刷抵抗体を保護するオーバコート膜の熱膨張係数αを基
板の膨張係数αと実質的に近似させることにより、印刷
抵抗体のTCRを従来よりも小さくすることができ温度
変化に対して従来よりも抵抗変動の少ない混成集積回路
を提供することができる。
【0015】また、印刷抵抗体が膨張係数αの近似した
基板とオーバコート膜で挾持された構造となるため高温
保存における抵抗変化率を従来よりも抑制できる。更に
、オーバコート膜の樹脂係数αを硫酸バリウムの高密度
充填により行うためオーバコート膜を従来同様にスクリ
ーン印刷で行えるメリットを有する。
基板とオーバコート膜で挾持された構造となるため高温
保存における抵抗変化率を従来よりも抑制できる。更に
、オーバコート膜の樹脂係数αを硫酸バリウムの高密度
充填により行うためオーバコート膜を従来同様にスクリ
ーン印刷で行えるメリットを有する。
【図1】図1は本発明の混成集積回路を説明する断面図
である。
である。
【図2】図2は印刷抵抗体の温度変化による抵抗変化率
を示す特性図である。
を示す特性図である。
【図3】図3は印刷抵抗体の高温保存による抵抗変化率
を示す特性図である。
を示す特性図である。
(1) 混成集積回路基板(2)
導電路 (3) 印刷抵抗体
導電路 (3) 印刷抵抗体
Claims (3)
- 【請求項1】 混成集積回路基板上に形成された所望
形状の導電路間にスクリーン印刷された印刷抵抗体と、
前記印刷抵抗体をスクリーン印刷で保護したオーバコー
ト膜とを有した混成集積回路において、前記オーバコー
ト膜は樹脂固形分100に対して200〜300重量比
の硫酸バリウムを添加し、前記オーバコート膜と前記基
板の熱膨張係数αを略同一としたことを特徴とする混成
集積回路。 - 【請求項2】 前記基板はアルミニウム基板であるこ
とを特徴とする請求項1記載の混成集積回路。 - 【請求項3】 前記印刷抵抗体としてカーボンレジン
印刷抵抗ペーストを用いたことを特徴とする請求項1記
載の混成集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12027691A JPH04346489A (ja) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | 混成集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12027691A JPH04346489A (ja) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | 混成集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04346489A true JPH04346489A (ja) | 1992-12-02 |
Family
ID=14782230
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12027691A Pending JPH04346489A (ja) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | 混成集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04346489A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018502454A (ja) * | 2014-12-23 | 2018-01-25 | ティーイー・コネクティビティ・コーポレイションTE Connectivity Corporation | 電子部品およびオーバーモールド方法 |
-
1991
- 1991-05-24 JP JP12027691A patent/JPH04346489A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018502454A (ja) * | 2014-12-23 | 2018-01-25 | ティーイー・コネクティビティ・コーポレイションTE Connectivity Corporation | 電子部品およびオーバーモールド方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5248852A (en) | Resin circuit substrate and manufacturing method therefor | |
| US4184043A (en) | Method of providing spacers on an insulating substrate | |
| US6233817B1 (en) | Method of forming thick-film hybrid circuit on a metal circuit board | |
| US5510594A (en) | Method of manufacturing thick-film circuit component | |
| US3922388A (en) | Method of making an encapsulated thick film resistor and associated encapsulated conductors for use in an electrical circuit | |
| JPH05102645A (ja) | 混成集積回路 | |
| JPH07161503A (ja) | チップ型サーミスタ | |
| JPH04346489A (ja) | 混成集積回路 | |
| Cattaneo et al. | Influence of the substrate on the electrical properties of thick-film resistors | |
| Melan | Stability of palladium oxide resistive glaze films | |
| JPH04348594A (ja) | 多層混成集積回路 | |
| JP2719663B2 (ja) | 樹脂系印刷抵抗体付プリント配線板 | |
| JP2796043B2 (ja) | 電子部品 | |
| JP2864527B2 (ja) | フレキシブルプリント回路板 | |
| JP2750451B2 (ja) | 膜素子付き電子部品搭載用基板 | |
| KR810000190B1 (ko) | 전자회로의 인쇄 방법 | |
| JPS6154657A (ja) | 混成集積回路 | |
| JPS6012774B2 (ja) | 厚膜コンデンサ | |
| JPH0235791A (ja) | 厚膜抵抗体を含む回路装置 | |
| JPS624392A (ja) | 圧膜混成集積回路 | |
| JPS59175787A (ja) | 印刷回路基板 | |
| JPS58207698A (ja) | 混成集積回路基板 | |
| JPS59951A (ja) | チツプキヤリア搭載基板の2層配線構造 | |
| JPH0266990A (ja) | ハイブリッド集積回路の抵抗体形成方法 | |
| JPH07201506A (ja) | チップ抵抗器 |