JPH0435218A - ドライブ回路 - Google Patents
ドライブ回路Info
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- JPH0435218A JPH0435218A JP2136861A JP13686190A JPH0435218A JP H0435218 A JPH0435218 A JP H0435218A JP 2136861 A JP2136861 A JP 2136861A JP 13686190 A JP13686190 A JP 13686190A JP H0435218 A JPH0435218 A JP H0435218A
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- reverse bias
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- power supply
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
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- H—ELECTRICITY
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、トランジスタなどの電力用半導体素子をド
ライブするドライブ回路に関するものである。
ライブするドライブ回路に関するものである。
第6図は例えば電気書院[インバータ応用マニュアル」
昭和60年9月7日発行、44頁に示された従来のドラ
イブ回路を示す回路図であり、図において、2はドライ
ブの対象となる被制御用の半導体素子であるトランジス
タ、3はドライブ回路である。また、ドライブ回路3に
おいて、15は外部からの入力信号を上記トランジスタ
13゜14を含む回路に光電変換結合するフォトカプラ
、13.14は直列接続されたNPN トランジスタで
ある第1のトランジスタおよびPNP)−ランジスタで
ある第2のトランジスタで、これらの各べ−スはフォト
カプラ15の出力端子に接続されている。また、第1.
第2のトランジスタ13,14の各コレクタは、直列接
続された直流電源としての第1の電源11の正極および
第2の電源12の負極に、抵抗17.18を介して接続
されている。16は第1のトランジスタ13のベースと
第1の電源11との間に接続された抵抗である。また、
上記トランジスタ2のベースは第1.第2のトランジス
タ13.14の直列接続点に接続され、エミッタは第1
.第2の電源11.12の直列接続点に接続され、さら
にコレクタは外部電源に接続されている。
昭和60年9月7日発行、44頁に示された従来のドラ
イブ回路を示す回路図であり、図において、2はドライ
ブの対象となる被制御用の半導体素子であるトランジス
タ、3はドライブ回路である。また、ドライブ回路3に
おいて、15は外部からの入力信号を上記トランジスタ
13゜14を含む回路に光電変換結合するフォトカプラ
、13.14は直列接続されたNPN トランジスタで
ある第1のトランジスタおよびPNP)−ランジスタで
ある第2のトランジスタで、これらの各べ−スはフォト
カプラ15の出力端子に接続されている。また、第1.
第2のトランジスタ13,14の各コレクタは、直列接
続された直流電源としての第1の電源11の正極および
第2の電源12の負極に、抵抗17.18を介して接続
されている。16は第1のトランジスタ13のベースと
第1の電源11との間に接続された抵抗である。また、
上記トランジスタ2のベースは第1.第2のトランジス
タ13.14の直列接続点に接続され、エミッタは第1
.第2の電源11.12の直列接続点に接続され、さら
にコレクタは外部電源に接続されている。
次に動作について説明する。いま、フォトカプラ15の
発光素子15aに電流が流されず、受光素子15bが受
光しない場合には、つまり、フォトカプラ15がオフの
ときは、第1のトランジスタ13にはベース電流が抵抗
16を通して供給され、この第1のトランジスタ13が
導通する。この結果、直流電源11→抵抗17→第1の
トランジスタ13のコレクタ、エミッタートランジスタ
2のベース、エミッタ→直流電源11の経路で、トラン
ジスタ2に対する順バイアス電流が流れトランジスタ2
は導通する。これに対して、フォトカプラ15がオンに
なると、第2のトランジスタ14が順バイアスされて導
通し、直流電源12→トランジスタ2のエミッタ、ベー
ス→第2のトランジスタ14のエミッタ、コレクタ→抵
抗18→直流電源12の経路で逆バイアス電流が流れて
、トランジスタ2は不導通になる。
発光素子15aに電流が流されず、受光素子15bが受
光しない場合には、つまり、フォトカプラ15がオフの
ときは、第1のトランジスタ13にはベース電流が抵抗
16を通して供給され、この第1のトランジスタ13が
導通する。この結果、直流電源11→抵抗17→第1の
トランジスタ13のコレクタ、エミッタートランジスタ
2のベース、エミッタ→直流電源11の経路で、トラン
ジスタ2に対する順バイアス電流が流れトランジスタ2
は導通する。これに対して、フォトカプラ15がオンに
なると、第2のトランジスタ14が順バイアスされて導
通し、直流電源12→トランジスタ2のエミッタ、ベー
ス→第2のトランジスタ14のエミッタ、コレクタ→抵
抗18→直流電源12の経路で逆バイアス電流が流れて
、トランジスタ2は不導通になる。
ここで、直流電源11の電圧をV!+1、抵抗17の値
をR77とすれば、順バイアス電流IBIは、となる。
をR77とすれば、順バイアス電流IBIは、となる。
但し、■□はトランジスタ2のベース。
エミッタ間電圧である。
また、直流電源12の電圧をvBz、抵抗18の値をR
工、とすれば、逆バイアス電流Imxは、となる。但し
、■、はトランジスタ2のエミッタ。
工、とすれば、逆バイアス電流Imxは、となる。但し
、■、はトランジスタ2のエミッタ。
ベース間電圧である。
従来のドライブ回路は以上のように構成されているので
、トランジスタ2の誤配線によりドライブ回路の出力が
短絡した場合、短絡電流により第1のトランジスタ13
.第2のトランジスタ14が焼損するなどの課題があっ
た。特に、逆バイアス側では、トランジスタ2がオフし
た後に、短時間(0〜20μsec程度)ではあるが蓄
積キャリアを吸収するために、大きな電流を流さなけれ
ばならないので、抵抗18の抵抗値を小さく設計する必
要があり、このため出力短絡時の事故電流が大きく、ド
ライブ回路3を有効に保護することができないなどの課
題があった。
、トランジスタ2の誤配線によりドライブ回路の出力が
短絡した場合、短絡電流により第1のトランジスタ13
.第2のトランジスタ14が焼損するなどの課題があっ
た。特に、逆バイアス側では、トランジスタ2がオフし
た後に、短時間(0〜20μsec程度)ではあるが蓄
積キャリアを吸収するために、大きな電流を流さなけれ
ばならないので、抵抗18の抵抗値を小さく設計する必
要があり、このため出力短絡時の事故電流が大きく、ド
ライブ回路3を有効に保護することができないなどの課
題があった。
この発明は上記のような課題を解消するためになされた
もので、出力短絡時の逆バイアス電流を制御して焼損を
防止し、信頼性の高いドライブ動作を実現できるドライ
ブ回路を得ることを目的とする。
もので、出力短絡時の逆バイアス電流を制御して焼損を
防止し、信頼性の高いドライブ動作を実現できるドライ
ブ回路を得ることを目的とする。
この発明に係るドライブ回路は、入力信号レベルに応じ
て第1のトランジスタとともに選択的にオン動作するよ
うに直列接続された第2のトランジスタおよび被制御用
半導体素子を結ぶ回路中に接続された逆バイアス電流検
出用の検出回路と、この検出回路の出力結果に従って、
上記バイアス電流が設定レベルを超える時間が所定時間
経過すると、上記半導体素子の逆バイアス動作を停止し
、その後この逆バイアス動作を再開させる逆バイアス停
止判定回路とを備えて構成したものである。
て第1のトランジスタとともに選択的にオン動作するよ
うに直列接続された第2のトランジスタおよび被制御用
半導体素子を結ぶ回路中に接続された逆バイアス電流検
出用の検出回路と、この検出回路の出力結果に従って、
上記バイアス電流が設定レベルを超える時間が所定時間
経過すると、上記半導体素子の逆バイアス動作を停止し
、その後この逆バイアス動作を再開させる逆バイアス停
止判定回路とを備えて構成したものである。
この発明におけるドライブ回路は、逆バイアス電流を検
出し、この電流が定められた値以上で、かつ定められた
時間を超えると、一定時間逆バイアス動作を停止し、逆
バイアス回路の温度が低下するのを待って再度逆バイア
ス動作を行うようにし、これによりドライブ回路の焼損
を防止する。
出し、この電流が定められた値以上で、かつ定められた
時間を超えると、一定時間逆バイアス動作を停止し、逆
バイアス回路の温度が低下するのを待って再度逆バイア
ス動作を行うようにし、これによりドライブ回路の焼損
を防止する。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、1はこの発明に係るドライブ回路、20は
逆バイアス停止判定回路、30は逆バイアス停止判定回
路20からの判定出力により切り換えられるスイッチで
ある。また、このほかの第6図に示すものと同一の回路
部分には同一符号を付して、その重複する説明を省略す
る。
図において、1はこの発明に係るドライブ回路、20は
逆バイアス停止判定回路、30は逆バイアス停止判定回
路20からの判定出力により切り換えられるスイッチで
ある。また、このほかの第6図に示すものと同一の回路
部分には同一符号を付して、その重複する説明を省略す
る。
第2図は逆バイアス停止判定回路20の詳細を示すブロ
ック図であり1図において、25は逆バイアス電流の検
出回路、21は第1のフィルタ、22は第1のコンパレ
ータ、23は第2のフィルタ、23は第2のコンパレー
タである。
ック図であり1図において、25は逆バイアス電流の検
出回路、21は第1のフィルタ、22は第1のコンパレ
ータ、23は第2のフィルタ、23は第2のコンパレー
タである。
また、第3図は正常時のドライブ回路1の動作を説明す
る回路各部の信号波形を示すタイミングチャート、第4
図はドライブ回路1の出力が逆バイアス期間中(トラン
ジスタ2が停止中)に短絡した場合の動作を説明する回
路各部の信号波形を示すタイミングチャート図である。
る回路各部の信号波形を示すタイミングチャート、第4
図はドライブ回路1の出力が逆バイアス期間中(トラン
ジスタ2が停止中)に短絡した場合の動作を説明する回
路各部の信号波形を示すタイミングチャート図である。
なお、第1図において、抵抗18は逆バイアス電流検出
用の検出回路として用いられる。
用の検出回路として用いられる。
第5図は第2図に示すブロック図の具体的な一実施例を
示し、22はインバータ22aからなる第1のコンパレ
ータ、24はインバータ24aからなる第2のコンパレ
ータ、21は抵抗63とコンデンサ64とから構成され
ている第1のフィルタ、23は抵抗55,56.ダイオ
ード57〜61、コンデンサ62から構成されている第
2のフィルタ、31はバイポーラトランジスタで、エミ
ッタは抵抗17を介して直流電源に、コレクタはトラン
ジスタ2のベースに、ベースは抵抗67゜インバータ5
1を介して第2のフィルタ23にそれぞれ接続されてい
る。70はMOS型の電界効果トランジスタ、65は抵
抗、25は上記検出回路で、トランジスタ66およびN
ORゲート53よりなる。なお、50,52はインバー
タである。
示し、22はインバータ22aからなる第1のコンパレ
ータ、24はインバータ24aからなる第2のコンパレ
ータ、21は抵抗63とコンデンサ64とから構成され
ている第1のフィルタ、23は抵抗55,56.ダイオ
ード57〜61、コンデンサ62から構成されている第
2のフィルタ、31はバイポーラトランジスタで、エミ
ッタは抵抗17を介して直流電源に、コレクタはトラン
ジスタ2のベースに、ベースは抵抗67゜インバータ5
1を介して第2のフィルタ23にそれぞれ接続されてい
る。70はMOS型の電界効果トランジスタ、65は抵
抗、25は上記検出回路で、トランジスタ66およびN
ORゲート53よりなる。なお、50,52はインバー
タである。
次に動作について説明する。
まず、第3図に示すように、トランジスタ2に一定の間
隔でオン/オフ信号が入力している正常状態では、トラ
ンジスタ2に上記のように逆バイアスを印加した直後か
ら、短時間のto =10〜20μsecの間に逆バイ
アス電流が流れる。この後は、トランジスタ2のエミッ
タ、ベース間のインピーダンスは高くなり、逆バイアス
状態であっても逆バイアス電流jgzはごくわずかであ
って、無視できる。このとき、逆バイアス電流のレベル
は高いが、短時間であるため、抵抗18の端子電圧によ
るトランジスタ66のオン動作で、電界効果トランジス
タ70.抵抗65を介して検出回路25で検出した逆バ
イアス電流は第1のフィルタ21で除去される。すなわ
ち、第1のフィルタ21の出力は第3図に示すように第
1のコンパレータ22のスレッシュホルドレベルに達し
ないため、逆バイアス停止動作はおこらない。
隔でオン/オフ信号が入力している正常状態では、トラ
ンジスタ2に上記のように逆バイアスを印加した直後か
ら、短時間のto =10〜20μsecの間に逆バイ
アス電流が流れる。この後は、トランジスタ2のエミッ
タ、ベース間のインピーダンスは高くなり、逆バイアス
状態であっても逆バイアス電流jgzはごくわずかであ
って、無視できる。このとき、逆バイアス電流のレベル
は高いが、短時間であるため、抵抗18の端子電圧によ
るトランジスタ66のオン動作で、電界効果トランジス
タ70.抵抗65を介して検出回路25で検出した逆バ
イアス電流は第1のフィルタ21で除去される。すなわ
ち、第1のフィルタ21の出力は第3図に示すように第
1のコンパレータ22のスレッシュホルドレベルに達し
ないため、逆バイアス停止動作はおこらない。
次に、逆バイアス中にドライバ出力が短絡した場合の動
作を説明する。この場合には、逆バイアス電流1112
は第4図に示すように長い時間幅で連続して流れ、時間
t1後に第1のフィルタ21の出力が第1のコンパレー
タ22のスレッシュホルドレベルTHIを超える。この
ため、第2のフィルタ23の出力レベルも上昇を開始し
、時間t。
作を説明する。この場合には、逆バイアス電流1112
は第4図に示すように長い時間幅で連続して流れ、時間
t1後に第1のフィルタ21の出力が第1のコンパレー
タ22のスレッシュホルドレベルTHIを超える。この
ため、第2のフィルタ23の出力レベルも上昇を開始し
、時間t。
で第2のコンパレータ24のスレッシュホルドレベルT
H2を超える。すると、第1図に示すスイッチ30をオ
フにして、逆バイアス電流IB2をしゃ断する。これと
同時に、第1のフィルタ21の出力は減少し始め、時間
t2後に第1のコンパレータ22のスレッシュホルドレ
ベルTH□以下となる。従って、第2のフィルタ23の
出力もこの時間t、以後減少し始める。この場合におい
て、第2のフィルタ23は放電時定数を、上記抵抗55
゜56、ダイオード57〜61およびコンデンサ62に
よって長く設計してあり、時間1< &経過すると逆バ
イアス動作は行わない。
H2を超える。すると、第1図に示すスイッチ30をオ
フにして、逆バイアス電流IB2をしゃ断する。これと
同時に、第1のフィルタ21の出力は減少し始め、時間
t2後に第1のコンパレータ22のスレッシュホルドレ
ベルTH□以下となる。従って、第2のフィルタ23の
出力もこの時間t、以後減少し始める。この場合におい
て、第2のフィルタ23は放電時定数を、上記抵抗55
゜56、ダイオード57〜61およびコンデンサ62に
よって長く設計してあり、時間1< &経過すると逆バ
イアス動作は行わない。
この結果、逆バイアス電流工8□のデユーティは小さく
なり、上記スイッチ3oのオフ時間を十分にし、逆バイ
アス回路が焼損するのを防止できる。
なり、上記スイッチ3oのオフ時間を十分にし、逆バイ
アス回路が焼損するのを防止できる。
なお、上記実施例ではバイポーラトランジスタ2用のド
ライブ回路について説明したが、逆バイアスの印加が可
能なあらゆる半導体素子を用いることができる。
ライブ回路について説明したが、逆バイアスの印加が可
能なあらゆる半導体素子を用いることができる。
以上のように、この発明によれば第2のトランジスタお
よび被制御用半導体素子を結ぶ回路中に逆バイアス電流
検出用の検出回路を設け、この検出回路の出力結果に従
って、逆バイアス停止判定回路により上記バイアス電流
が設定レベルを超える時間が所定時間経過すると、上記
半導体素子の逆バイアス動作を停止し、その後この逆バ
イアス動作を再開させるように構成したので、能動対象
である半導体素子の破損や誤配線などによりドライブ回
路の出力が短絡しても、ドライブ回路を構成するトラン
ジスタなどを焼損するのを未然に防止でき、従って、信
頼性の高いドライバ回路が得られる効果がある。
よび被制御用半導体素子を結ぶ回路中に逆バイアス電流
検出用の検出回路を設け、この検出回路の出力結果に従
って、逆バイアス停止判定回路により上記バイアス電流
が設定レベルを超える時間が所定時間経過すると、上記
半導体素子の逆バイアス動作を停止し、その後この逆バ
イアス動作を再開させるように構成したので、能動対象
である半導体素子の破損や誤配線などによりドライブ回
路の出力が短絡しても、ドライブ回路を構成するトラン
ジスタなどを焼損するのを未然に防止でき、従って、信
頼性の高いドライバ回路が得られる効果がある。
第1図はこの発明の一実施例によるドライブ回路を示す
回路図、第2図は第1図における逆バイアス停止判定回
路を示すブロック図、第3図はドライブ回路の正常時に
おける回路各部の信号波形を示すタイミングチャート図
、第4図は逆バイアス動作における回路各部の信号波形
を示すタイミングチャート図、第5図は第2図に示す逆
バイアス停止判定回路の詳細を示す回路図、第6図は従
来のドライブ回路を示す回路図である。 1はドライブ回路、2は被制御用の半導体素子(トラン
ジスタ)、11は第1の電源、12は第2の電源、13
は第1のトランジスタ、14は第2のトランジスタ、1
8は検出回路(抵抗)、20は逆バイアス停止判定回路
。 なお、図中、−一符号は同一、または相当部分を示す。 (外2名) 第4図 第2図 ll3rIII 第6図
回路図、第2図は第1図における逆バイアス停止判定回
路を示すブロック図、第3図はドライブ回路の正常時に
おける回路各部の信号波形を示すタイミングチャート図
、第4図は逆バイアス動作における回路各部の信号波形
を示すタイミングチャート図、第5図は第2図に示す逆
バイアス停止判定回路の詳細を示す回路図、第6図は従
来のドライブ回路を示す回路図である。 1はドライブ回路、2は被制御用の半導体素子(トラン
ジスタ)、11は第1の電源、12は第2の電源、13
は第1のトランジスタ、14は第2のトランジスタ、1
8は検出回路(抵抗)、20は逆バイアス停止判定回路
。 なお、図中、−一符号は同一、または相当部分を示す。 (外2名) 第4図 第2図 ll3rIII 第6図
Claims (1)
- 入力信号のレベルに応じて選択的にオン動作するよう
に直列接続された第1のトランジスタおよび第2のトラ
ンジスタと、これらの第1のトランジスタおよび第2の
トランジスタのそれぞれに直流電力を供給する第1の電
源および第2の電源と、上記第1のトランジスタおよび
第2のトランジスタの直列接続点には順バイアス電流を
受けるベースが接続され、上記第1の電源および第2の
電源の直列接続点には逆バイアス電流を受けるエミッタ
が接続された被制御用の半導体素子とを備えたドライブ
回路において、上記第2のトランジスタおよび被制御用
の半導体素子を結ぶ回路中に接続された逆バイアス電流
検出用の検出回路と、この検出回路の出力結果に従って
、上記逆バイアス電流が設定レベルを超えて所定時間経
過すると、上記半導体素子の逆バイアス動作を停止し、
その後この逆バイアス動作を再開させる逆バイアス停止
判定回路とを設けたことを特徴とするドライブ回路。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2136861A JP2520765B2 (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | ドライブ回路 |
| US07/704,593 US5111061A (en) | 1990-05-25 | 1991-05-23 | Driving circuit for semiconductor element |
| KR1019910008481A KR950001129B1 (ko) | 1990-05-25 | 1991-05-24 | 드라이브회로 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2136861A JP2520765B2 (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | ドライブ回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0435218A true JPH0435218A (ja) | 1992-02-06 |
| JP2520765B2 JP2520765B2 (ja) | 1996-07-31 |
Family
ID=15185234
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2136861A Expired - Fee Related JP2520765B2 (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | ドライブ回路 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5111061A (ja) |
| JP (1) | JP2520765B2 (ja) |
| KR (1) | KR950001129B1 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5369309A (en) * | 1991-10-30 | 1994-11-29 | Harris Corporation | Analog-to-digital converter and method of fabrication |
| US5994755A (en) | 1991-10-30 | 1999-11-30 | Intersil Corporation | Analog-to-digital converter and method of fabrication |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4117350A (en) * | 1977-03-31 | 1978-09-26 | Rca Corporation | Switching circuit |
| JPS58175970A (ja) * | 1982-04-08 | 1983-10-15 | Fuji Electric Co Ltd | スイッチング半導体素子への逆バイアス電流供給装置 |
| JPS59181824A (ja) * | 1983-03-31 | 1984-10-16 | Fuji Electric Co Ltd | トランジスタのベ−ス駆動回路 |
| JPS62291577A (ja) * | 1986-06-12 | 1987-12-18 | Fuji Electric Co Ltd | 静電誘導形トランジスタの故障検出方法 |
| US4890009A (en) * | 1987-04-30 | 1989-12-26 | Hitachi, Ltd. | Monolithic integrated circuit device |
| US4996444A (en) * | 1989-09-21 | 1991-02-26 | Northern Telecom Limited | Clock recovery circuit |
-
1990
- 1990-05-25 JP JP2136861A patent/JP2520765B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-05-23 US US07/704,593 patent/US5111061A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-05-24 KR KR1019910008481A patent/KR950001129B1/ko not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR950001129B1 (ko) | 1995-02-11 |
| KR910021024A (ko) | 1991-12-20 |
| US5111061A (en) | 1992-05-05 |
| JP2520765B2 (ja) | 1996-07-31 |
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