JPH04353629A - 光ディスク媒体評価装置のリードキャラクタリステックス測定方法 - Google Patents
光ディスク媒体評価装置のリードキャラクタリステックス測定方法Info
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- JPH04353629A JPH04353629A JP12722791A JP12722791A JPH04353629A JP H04353629 A JPH04353629 A JP H04353629A JP 12722791 A JP12722791 A JP 12722791A JP 12722791 A JP12722791 A JP 12722791A JP H04353629 A JPH04353629 A JP H04353629A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光ディスク評価装置のリ
ードキャラクタリステックス（Ｒｅａｄ Ｃｈａｒａ
ｃｔｅｒｉｓｔｉｃｓ）測定方法にかかり、さらに詳し
くは再生データ用のＤＣアンプの調整を不要とし、短時
間でリードキャラクタリステックスを正確に測定するの
に好適な光ディスク評価装置のリードキャラクタリステ
ックス測定方法に関する。
ードキャラクタリステックス（Ｒｅａｄ Ｃｈａｒａ
ｃｔｅｒｉｓｔｉｃｓ）測定方法にかかり、さらに詳し
くは再生データ用のＤＣアンプの調整を不要とし、短時
間でリードキャラクタリステックスを正確に測定するの
に好適な光ディスク評価装置のリードキャラクタリステ
ックス測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスク評価装置を用いてＩＳＯ規格
に規定されているリードキャラクタリステックスを測定
する場合、測定項目の中に光ディスクからの再生信号を
ＤＣ電圧として測定するものが存在する。このため、リ
ードキャラクタリステックス測定用のアンプとしては、
ＤＣアンプが使用される。
に規定されているリードキャラクタリステックスを測定
する場合、測定項目の中に光ディスクからの再生信号を
ＤＣ電圧として測定するものが存在する。このため、リ
ードキャラクタリステックス測定用のアンプとしては、
ＤＣアンプが使用される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の光ディスク
評価装置においては、リードキャラクタリステックス測
定用のアンプとしてＤＣアンプが使用されるため、次の
ような問題点があった。すなわち、ＤＣアンプはアンプ
系の調整ズレや外気温、アンプ系自身の発熱等に起因し
て、ＤＣオフセットが変動する。そのため、第１に、Ｄ
Ｃアンプの特性が安定するまで多大の時間を要し、その
結果測定値が安定するまでに多大の時間を必要とする。 第２に、ＤＣアンプの精密調整が困難であり、調整ズレ
が測定値に与える影響が大きく、正確な測定値を得るこ
とが困難である。
評価装置においては、リードキャラクタリステックス測
定用のアンプとしてＤＣアンプが使用されるため、次の
ような問題点があった。すなわち、ＤＣアンプはアンプ
系の調整ズレや外気温、アンプ系自身の発熱等に起因し
て、ＤＣオフセットが変動する。そのため、第１に、Ｄ
Ｃアンプの特性が安定するまで多大の時間を要し、その
結果測定値が安定するまでに多大の時間を必要とする。 第２に、ＤＣアンプの精密調整が困難であり、調整ズレ
が測定値に与える影響が大きく、正確な測定値を得るこ
とが困難である。
【０００４】本発明は、ＤＣアンプの精密な調整を不要
とし、かつリードキャラクタリステックスを短時間で正
確に測定することを可能にする光ディスク媒体評価装置
のリードキャラクタリステックス測定方法を提供するこ
とを目的としてしている。
とし、かつリードキャラクタリステックスを短時間で正
確に測定することを可能にする光ディスク媒体評価装置
のリードキャラクタリステックス測定方法を提供するこ
とを目的としてしている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の光ディスク媒体
評価装置のリードキャラクタリステックス測定方法は、
光ディスクから読み出された再生信号をＤＣアンプを介
して増幅し、増幅して得られたデータに基づいてリード
キャラクタリステックスを求めるものであり、特に上記
ＤＣアンプのオフセット電圧を求める第１のステップと
、リードキャラクタリステックス算出用のデータ測定を
行う第２のステップと、ステップ１において測定された
オフセット電圧を用いて、ステップ２において測定され
たリードキャラクタリステックス算出用のデータを補正
し、リードキャラクタリステックスを算出する第３のス
テップとから構成されることを特徴としている。
評価装置のリードキャラクタリステックス測定方法は、
光ディスクから読み出された再生信号をＤＣアンプを介
して増幅し、増幅して得られたデータに基づいてリード
キャラクタリステックスを求めるものであり、特に上記
ＤＣアンプのオフセット電圧を求める第１のステップと
、リードキャラクタリステックス算出用のデータ測定を
行う第２のステップと、ステップ１において測定された
オフセット電圧を用いて、ステップ２において測定され
たリードキャラクタリステックス算出用のデータを補正
し、リードキャラクタリステックスを算出する第３のス
テップとから構成されることを特徴としている。
【０００６】なお、上記第１のステップと第２のステッ
プの順序は、入れ替えてもよい。
プの順序は、入れ替えてもよい。
【０００７】
【作用】本発明によれば、ＤＣアンプのオフセット電圧
を測定し、測定されたリードキャラクタリステックス算
出用のデータを補正するため、ＤＣアンプの精密な調整
を行うことなく、リードキャラクタリステックスを測定
することが可能になる。また、上記ステップ１〜３の行
程は数分で終了し、この間のＤＣアンプのゲイン変動は
無視できるほど小さいため、リードキャラクタリステッ
クスを短時間で正確に測定することが可能になる。
を測定し、測定されたリードキャラクタリステックス算
出用のデータを補正するため、ＤＣアンプの精密な調整
を行うことなく、リードキャラクタリステックスを測定
することが可能になる。また、上記ステップ１〜３の行
程は数分で終了し、この間のＤＣアンプのゲイン変動は
無視できるほど小さいため、リードキャラクタリステッ
クスを短時間で正確に測定することが可能になる。
【０００８】
【実施例】以下、添付の図面に示す実施例により、更に
詳細に本発明について説明する。図１は本発明の一実施
例を示すブロック図である。図１において、１は光学ヘ
ッド、２はヘッド送り機構、３は送り制御部、４はＤＣ
アンプ、５はレーザ駆動部、６はマルチプレクサ、７は
例えばデジタルオシロスコープ等から構成される波形サ
ンプリング装置、８は制御演算部、９は光ディスクを示
している。
詳細に本発明について説明する。図１は本発明の一実施
例を示すブロック図である。図１において、１は光学ヘ
ッド、２はヘッド送り機構、３は送り制御部、４はＤＣ
アンプ、５はレーザ駆動部、６はマルチプレクサ、７は
例えばデジタルオシロスコープ等から構成される波形サ
ンプリング装置、８は制御演算部、９は光ディスクを示
している。
【０００９】図１に示す実施例において、リードキャラ
クタリステックスを測定する場合、次の手順によって測
定が行われる。 （ステップ１）最初に、ＤＣアンプ４のオフセット値を
測定するために、送り制御部３がヘッド送り機構２を制
御して、光学ヘッド１を光ディスク９の外側まで移動さ
せる。この状態において、光学ヘッド１に設けられたレ
ーザを発光させ、ＤＣアンプ４の出力をマルチプレクサ
６を介して波形サンプリング装置７によってサンプリン
グする。ここで、サンプリングされた値は、光ディスク
９が存在しない領域において発光されたときのＤＣアン
プの出力であるため、光ディスク９からの反射光成分は
含まれておらず、ＤＣアンプのオフセット成分となる。 サンプリングされた値は、ＤＣアンプ４のオフセット電
圧として制御演算部８に記憶される。
クタリステックスを測定する場合、次の手順によって測
定が行われる。 （ステップ１）最初に、ＤＣアンプ４のオフセット値を
測定するために、送り制御部３がヘッド送り機構２を制
御して、光学ヘッド１を光ディスク９の外側まで移動さ
せる。この状態において、光学ヘッド１に設けられたレ
ーザを発光させ、ＤＣアンプ４の出力をマルチプレクサ
６を介して波形サンプリング装置７によってサンプリン
グする。ここで、サンプリングされた値は、光ディスク
９が存在しない領域において発光されたときのＤＣアン
プの出力であるため、光ディスク９からの反射光成分は
含まれておらず、ＤＣアンプのオフセット成分となる。 サンプリングされた値は、ＤＣアンプ４のオフセット電
圧として制御演算部８に記憶される。
【００１０】（ステップ２）次に、送り制御部３がヘッ
ド送り機構２を制御して、光学ヘッド１を光ディスク９
のディスク面に移動させる。この状態において、光学ヘ
ッド１を発光させ、ＤＣアンプ４とマルチプレクサ６と
を介して、波形サンプリング装置７が光ディスク９のリ
ードキャラクタリステックス算出用のデータを測定する
。この測定データは、制御演算部８に入力される。
ド送り機構２を制御して、光学ヘッド１を光ディスク９
のディスク面に移動させる。この状態において、光学ヘ
ッド１を発光させ、ＤＣアンプ４とマルチプレクサ６と
を介して、波形サンプリング装置７が光ディスク９のリ
ードキャラクタリステックス算出用のデータを測定する
。この測定データは、制御演算部８に入力される。
【００１１】（ステップ３）次に、制御演算部８は、ス
テップ２において測定されたリードキャラクタリステッ
クス算出用のデータをステップ１において測定されたオ
フセット電圧を用いて補正し（例えば、減算等の演算）
、正確なリードキャラクタリステックスを算出する。上
記実施例において、ステップ１とステップ２の実行順序
を入れ替えることも可能である。
テップ２において測定されたリードキャラクタリステッ
クス算出用のデータをステップ１において測定されたオ
フセット電圧を用いて補正し（例えば、減算等の演算）
、正確なリードキャラクタリステックスを算出する。上
記実施例において、ステップ１とステップ２の実行順序
を入れ替えることも可能である。
【００１２】上記実施例によれば、ＤＣアンプのオフセ
ット電圧を測定し、測定されたリードキャラクタリステ
ックス算出用のデータを補正するため、ＤＣアンプの精
密な調整を行うことなく、リードキャラクタリステック
スを測定することが可能になる。
ット電圧を測定し、測定されたリードキャラクタリステ
ックス算出用のデータを補正するため、ＤＣアンプの精
密な調整を行うことなく、リードキャラクタリステック
スを測定することが可能になる。
【００１３】また、上記ステップ１〜３の行程は数分で
終了し、この間のＤＣアンプのゲイン変動は無視できる
ほど小さいため、リードキャラクタリステックスを短時
間で正確に測定することが可能になる。
終了し、この間のＤＣアンプのゲイン変動は無視できる
ほど小さいため、リードキャラクタリステックスを短時
間で正確に測定することが可能になる。
【００１４】
【発明の効果】本発明によれば、ＤＣアンプの精密な調
整を不要とし、かつリードキャラクタリステックスを短
時間で正確に測定することを可能にする光ディスク媒体
評価装置のリードキャラクタリステックス測定方法を提
供することができる。
整を不要とし、かつリードキャラクタリステックスを短
時間で正確に測定することを可能にする光ディスク媒体
評価装置のリードキャラクタリステックス測定方法を提
供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図。
１ 光学ヘッド、
２ ヘッド送り機構、
３ 送り制御部、
４ ＤＣアンプ、
５ レーザ駆動部、
６ マルチプレクサ、
７ 波形サンプリング装置、
８ 制御演算部、
９ 光ディスク
Claims (4)
- 【請求項１】光ディスクから読み出された再生信号をＤ
Ｃアンプを介して増幅し、増幅して得られたデータに基
づいてリードキャラクタリステックスを求める光ディス
ク媒体評価装置のリードキャラクタリステックス測定方
法において、上記ＤＣアンプのオフセット電圧を求める
第１のステップと、リードキャラクタリステックス算出
用のデータ測定を行う第２のステップと、ステップ１に
おいて測定されたオフセット電圧を用いて、ステップ２
において測定されたリードキャラクタリステックス算出
用のデータを補正し、リードキャラクタリステックスを
算出する第３のステップとから構成されることを特徴と
する光ディスク媒体評価装置のリードキャラクタリステ
ックス測定方法。 - 【請求項２】上記第１のステップにおけるオフセット電
圧は、光学ヘッドを光ディスク外周の外側に移動し、こ
の状態においてレーザを発光させ、そのときのＤＣアン
プの出力をサンプリングして求めることを特徴とする請
求項１記載の光ディスク媒体評価装置のリードキャラク
タリステックス測定方法。 - 【請求項３】光ディスクから読み出された再生信号をＤ
Ｃアンプを介して増幅し、増幅して得られたデータに基
づいてリードキャラクタリステックスを求める光ディス
ク媒体評価装置のリードキャラクタリステックス測定方
法において、リードキャラクタリステックス算出用のデ
ータ測定を行う第１のステップと、上記ＤＣアンプのオ
フセット電圧を求める第２のステップと、ステップ２に
おいて測定されたオフセット電圧を用いて、ステップ１
において測定されたリードキャラクタリステックス算出
用のデータを補正し、リードキャラクタリステックスを
算出する第３のステップとから構成されることを特徴と
する光ディスク媒体評価装置のリードキャラクタリステ
ックス測定方法。 - 【請求項４】上記第２のステップにおけるオフセット電
圧は、光学ヘッドを光ディスク外周の外側に移動し、こ
の状態においてレーザを発光させ、そのときのＤＣアン
プの出力をサンプリングして求めることを特徴とする請
求項３記載の光ディスク媒体評価装置のリードキャラク
タリステックス測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12722791A JPH04353629A (ja) | 1991-05-30 | 1991-05-30 | 光ディスク媒体評価装置のリードキャラクタリステックス測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12722791A JPH04353629A (ja) | 1991-05-30 | 1991-05-30 | 光ディスク媒体評価装置のリードキャラクタリステックス測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04353629A true JPH04353629A (ja) | 1992-12-08 |
Family
ID=14954880
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12722791A Pending JPH04353629A (ja) | 1991-05-30 | 1991-05-30 | 光ディスク媒体評価装置のリードキャラクタリステックス測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04353629A (ja) |
-
1991
- 1991-05-30 JP JP12722791A patent/JPH04353629A/ja active Pending
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