JPH04354352A - チップの剥離方法 - Google Patents
チップの剥離方法Info
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- JPH04354352A JPH04354352A JP15753591A JP15753591A JPH04354352A JP H04354352 A JPH04354352 A JP H04354352A JP 15753591 A JP15753591 A JP 15753591A JP 15753591 A JP15753591 A JP 15753591A JP H04354352 A JPH04354352 A JP H04354352A
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- 239000007789 gas Substances 0.000 description 40
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 1
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- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の組立工程
におけるダイシング後のチップをピックアップしてトレ
ーに再配列するダイピックアップ装置に関する。
におけるダイシング後のチップをピックアップしてトレ
ーに再配列するダイピックアップ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】通常、ダイシングソーによってダイシン
グしたときにチップがばらばらになるのを防ぐために、
ダイシングを行うウエハの裏面にはテープを貼りつける
。そしてダイシング後に、テープよりダイシングしたチ
ップをはがし取るには、ダイピックアップ装置を用いる
。このダイピックアップ装置を図4の概略構成断面図に
より説明する。図に示すように、上面を平坦に形成した
ステージ51には複数の吸引孔52,53が形成されて
いる。各吸引孔52,53にはピン54,55が遊挿自
在に設けられている。各ピン54,55の先端半径は、
通常およそ0.4mmに形成されている。また吸引孔5
2,53の上方には、コレット56が矢印イ方向に昇降
自在に設けられている。さらに、各吸引孔52,53に
は、真空引きするための真空排気装置(図示せず)が接
続されている。
グしたときにチップがばらばらになるのを防ぐために、
ダイシングを行うウエハの裏面にはテープを貼りつける
。そしてダイシング後に、テープよりダイシングしたチ
ップをはがし取るには、ダイピックアップ装置を用いる
。このダイピックアップ装置を図4の概略構成断面図に
より説明する。図に示すように、上面を平坦に形成した
ステージ51には複数の吸引孔52,53が形成されて
いる。各吸引孔52,53にはピン54,55が遊挿自
在に設けられている。各ピン54,55の先端半径は、
通常およそ0.4mmに形成されている。また吸引孔5
2,53の上方には、コレット56が矢印イ方向に昇降
自在に設けられている。さらに、各吸引孔52,53に
は、真空引きするための真空排気装置(図示せず)が接
続されている。
【0003】上記ダイピックアップ装置50を用いて、
テープ31に貼りつけられたチップ41をはがし取るに
は、まずチップ41を貼りつけたテープ31を吸引孔5
2,53上に配置する。次いで、真空排気装置で各吸引
孔52,53を真空引きして、テープ31をステージ5
1の上面51aに吸着する。その後、ピン54,55を
上昇させて、テープ31を突き破り、チップ41を突き
上げる。そして前記図4に示す如く、チップ41をテー
プ31よりはがす。続いて突き上げられたチップ41を
コレット56で吸着して、所定のトレー(図示せず)に
収納する。
テープ31に貼りつけられたチップ41をはがし取るに
は、まずチップ41を貼りつけたテープ31を吸引孔5
2,53上に配置する。次いで、真空排気装置で各吸引
孔52,53を真空引きして、テープ31をステージ5
1の上面51aに吸着する。その後、ピン54,55を
上昇させて、テープ31を突き破り、チップ41を突き
上げる。そして前記図4に示す如く、チップ41をテー
プ31よりはがす。続いて突き上げられたチップ41を
コレット56で吸着して、所定のトレー(図示せず)に
収納する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記ダ
イピックアップ装置では、先端半径が非常に小さいピン
でチップを突き上げるために、チップに打痕が付く。ま
たチップには、ピンによって局所的に大きな力が加わる
ので、クラックが発生する。このためチップの機械的強
度が低下する。特にメモリカードに実装される薄いチッ
プでは、大きなクラックが生じて割れる。
イピックアップ装置では、先端半径が非常に小さいピン
でチップを突き上げるために、チップに打痕が付く。ま
たチップには、ピンによって局所的に大きな力が加わる
ので、クラックが発生する。このためチップの機械的強
度が低下する。特にメモリカードに実装される薄いチッ
プでは、大きなクラックが生じて割れる。
【0005】本発明は、チップにクラックを生じること
なくテープよりチップをはがすダイピックアップ装置を
提供することを目的とする。
なくテープよりチップをはがすダイピックアップ装置を
提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するためになされたダイピックアップ装置である。す
なわち、チップを貼りつけたテープを載置するステージ
に、ガス供給孔を形成し、その周りに吸引孔を形成する
。ガス供給孔には高温で高圧のガスを供給するガス供給
機を接続し、吸引孔には吸引機を接続する。さらに、ガ
ス供給孔の上方にはコレットを設ける。
成するためになされたダイピックアップ装置である。す
なわち、チップを貼りつけたテープを載置するステージ
に、ガス供給孔を形成し、その周りに吸引孔を形成する
。ガス供給孔には高温で高圧のガスを供給するガス供給
機を接続し、吸引孔には吸引機を接続する。さらに、ガ
ス供給孔の上方にはコレットを設ける。
【0007】
【作用】上記構成のダイピックアップ装置では、ステー
ジにガス供給孔と吸引孔とを設けたことにより、吸引孔
でテープを吸着し、ガス供給孔よりテープに高温で高圧
のガスを吹きつけてテープをチップ側に押圧する。この
とき、テープは軟化して、徐々にチップ側に膨らむ。こ
の結果、チップは、テープが膨らんだ部分の周辺部より
チップの縁部方向に向かって、テープより徐々にはがれ
る。そして、コレットにチップを吸着し、コレットを静
かに上昇させて、チップをテープより完全にはがし取る
。したがって、チップには局所的に大きな力が作用しな
い。
ジにガス供給孔と吸引孔とを設けたことにより、吸引孔
でテープを吸着し、ガス供給孔よりテープに高温で高圧
のガスを吹きつけてテープをチップ側に押圧する。この
とき、テープは軟化して、徐々にチップ側に膨らむ。こ
の結果、チップは、テープが膨らんだ部分の周辺部より
チップの縁部方向に向かって、テープより徐々にはがれ
る。そして、コレットにチップを吸着し、コレットを静
かに上昇させて、チップをテープより完全にはがし取る
。したがって、チップには局所的に大きな力が作用しな
い。
【0008】
【実施例】本発明の実施例を図1の概略構成断面図およ
び図2に示す図1中のA−A線矢視図により説明する。 図に示すように、チップ41を貼りつけたテープ31を
載置するステージ11の上面11aは平坦に形成されて
いる。このステージ11の上面11a側には、ガス供給
孔12が形成され、このガス供給孔12の周囲に吸引孔
13が形成されている。ガス供給孔12の断面形状は、
例えば円形に形成される。また吸引孔13は、例えばリ
ング状に形成される。またステージ11の内部には、吸
引孔13に接続する中空部14が形成されている。上記
ガス供給孔12には配管15を介してガス供給機16が
接続されている。このガス供給機16はガス供給孔12
に高温で高圧のガスを送る。中空部14には配管17を
介して、真空引きするための吸引機18が接続されてい
る。またガス供給孔12の上方にはコレット19が矢印
ア方向に昇降自在に設けられている。このコレット19
は、例えば通常の角錐コレットよりなる。
び図2に示す図1中のA−A線矢視図により説明する。 図に示すように、チップ41を貼りつけたテープ31を
載置するステージ11の上面11aは平坦に形成されて
いる。このステージ11の上面11a側には、ガス供給
孔12が形成され、このガス供給孔12の周囲に吸引孔
13が形成されている。ガス供給孔12の断面形状は、
例えば円形に形成される。また吸引孔13は、例えばリ
ング状に形成される。またステージ11の内部には、吸
引孔13に接続する中空部14が形成されている。上記
ガス供給孔12には配管15を介してガス供給機16が
接続されている。このガス供給機16はガス供給孔12
に高温で高圧のガスを送る。中空部14には配管17を
介して、真空引きするための吸引機18が接続されてい
る。またガス供給孔12の上方にはコレット19が矢印
ア方向に昇降自在に設けられている。このコレット19
は、例えば通常の角錐コレットよりなる。
【0009】次に上記ダイピックアップ装置1で、テー
プ31に貼りつけられたチップ41をはがし取る方法を
説明する。まずチップ41を貼りつけたテープ31(通
常ポリ塩化ビニル樹脂製)を、チップ41がガス供給孔
12上に位置するように、ステージ11の上面11aに
載置する。そして吸引機18で真空引きして、吸引孔1
3にテープ31を吸着する。
プ31に貼りつけられたチップ41をはがし取る方法を
説明する。まずチップ41を貼りつけたテープ31(通
常ポリ塩化ビニル樹脂製)を、チップ41がガス供給孔
12上に位置するように、ステージ11の上面11aに
載置する。そして吸引機18で真空引きして、吸引孔1
3にテープ31を吸着する。
【0010】次いでガス供給機16よりガス供給孔12
に、高温で高圧のガスとして、例えば温度が70℃ない
し80℃でおよそ圧力が150kPaの窒素ガスを供給
する。上記高温で高圧のガスには、窒素ガスの他に、例
えば空気またはアルゴン等の他のガスを用いることも可
能である。またガスの温度は、テープ31を軟化させる
に十分な温度に設定される。さらにガスの圧力は、ガス
供給孔12の位置で、テープ31を膨らませるに十分な
圧力でしかもテープ31が吸引孔13より引き離されな
い圧力に設定される。テープ31の高温で高圧のガスを
吹きつけた部分は、温められて軟化し、ガス供給孔12
側より上記ガスによって押圧されるのでチップ41側に
膨らむ。このため、チップ41は、上方に押し上げられ
るとともに、テープ31の膨らんだ部分が貼りついてい
るチップ41の部分の周辺部41aよりチップ41の縁
部41b方向に向かって徐々にはがされる。
に、高温で高圧のガスとして、例えば温度が70℃ない
し80℃でおよそ圧力が150kPaの窒素ガスを供給
する。上記高温で高圧のガスには、窒素ガスの他に、例
えば空気またはアルゴン等の他のガスを用いることも可
能である。またガスの温度は、テープ31を軟化させる
に十分な温度に設定される。さらにガスの圧力は、ガス
供給孔12の位置で、テープ31を膨らませるに十分な
圧力でしかもテープ31が吸引孔13より引き離されな
い圧力に設定される。テープ31の高温で高圧のガスを
吹きつけた部分は、温められて軟化し、ガス供給孔12
側より上記ガスによって押圧されるのでチップ41側に
膨らむ。このため、チップ41は、上方に押し上げられ
るとともに、テープ31の膨らんだ部分が貼りついてい
るチップ41の部分の周辺部41aよりチップ41の縁
部41b方向に向かって徐々にはがされる。
【0011】次いで、コレット19を降下させてチップ
41を吸着し、その後コレット19を静かに上昇させて
、テープ31よりチップ41を完全にはがす。このとき
、チップ41にテープ31の膨らんだ部分が貼りついて
いる面積はチップ41の面積に対してわずかであり、ま
たテープ31が軟化しているので、チップ41には大き
な力は加わらない。したがって、チップ41はクラック
を生じることなくテープ31よりはがすことができるの
で、チップ41の機械的強度は低下しない。
41を吸着し、その後コレット19を静かに上昇させて
、テープ31よりチップ41を完全にはがす。このとき
、チップ41にテープ31の膨らんだ部分が貼りついて
いる面積はチップ41の面積に対してわずかであり、ま
たテープ31が軟化しているので、チップ41には大き
な力は加わらない。したがって、チップ41はクラック
を生じることなくテープ31よりはがすことができるの
で、チップ41の機械的強度は低下しない。
【0012】上記ダイピックアップ装置1の吸引孔13
は、ガス供給孔12の周囲にリング状に形成したが、図
3に示す如く、ステージ11の上面11a側でガス供給
孔12の周囲に、円形断面の吸引孔13を複数形成して
もよい。このように、吸引孔13の形成位置や断面形状
は、ステージ11に載置されるテープ(31)を、ガス
供給孔12の周囲で吸引することができる形成位置や断
面形状であれば、任意でよい。またガス供給孔12の断
面形状も、テープ(31)に高温で高圧のガスを吹きつ
けることにより、テープを軟化させてチップ側に膨らま
せることができれば、その形状は問わない。さらに、長
方形状のチップをはがし取る場合には、ガス供給孔12
をチップの長手方向に沿って複数か所に形成することも
可能である。
は、ガス供給孔12の周囲にリング状に形成したが、図
3に示す如く、ステージ11の上面11a側でガス供給
孔12の周囲に、円形断面の吸引孔13を複数形成して
もよい。このように、吸引孔13の形成位置や断面形状
は、ステージ11に載置されるテープ(31)を、ガス
供給孔12の周囲で吸引することができる形成位置や断
面形状であれば、任意でよい。またガス供給孔12の断
面形状も、テープ(31)に高温で高圧のガスを吹きつ
けることにより、テープを軟化させてチップ側に膨らま
せることができれば、その形状は問わない。さらに、長
方形状のチップをはがし取る場合には、ガス供給孔12
をチップの長手方向に沿って複数か所に形成することも
可能である。
【0013】
【発明の効果】以上、説明したように本発明によれば、
ステージの上面側にガス供給孔と吸引孔とを形成した。 このため、吸引孔でテープを吸着しながら、ガス供給孔
よりテープに高温で高圧のガスを吹きつけ、テープを軟
化させてチップ側に膨らませることができる。この結果
、チップには局所的に大きな力が加わることなく、膨ら
んだ部分のテープが貼りついている部分を除いて、チッ
プをテープより徐々にはがすことが可能になる。さらに
、コレットにチップを吸着させて、コレットを静かに上
昇させることにより、膨らんだ部分のテープよりチップ
を完全にはがし取ることができる。したがって、チップ
には、局所的に大きな力が作用しないので、クラックが
生じない。よって、チップの機械的強度は低下しない。 またメモリカードに実装される薄いチップでも、クラッ
クを生じることなくテープよりはがすことができる。
ステージの上面側にガス供給孔と吸引孔とを形成した。 このため、吸引孔でテープを吸着しながら、ガス供給孔
よりテープに高温で高圧のガスを吹きつけ、テープを軟
化させてチップ側に膨らませることができる。この結果
、チップには局所的に大きな力が加わることなく、膨ら
んだ部分のテープが貼りついている部分を除いて、チッ
プをテープより徐々にはがすことが可能になる。さらに
、コレットにチップを吸着させて、コレットを静かに上
昇させることにより、膨らんだ部分のテープよりチップ
を完全にはがし取ることができる。したがって、チップ
には、局所的に大きな力が作用しないので、クラックが
生じない。よって、チップの機械的強度は低下しない。 またメモリカードに実装される薄いチップでも、クラッ
クを生じることなくテープよりはがすことができる。
【図1】実施例の概略構成断面図である。
【図2】図1中のA−A線矢視図である。
【図3】ガス供給孔と吸引孔とを説明する平面図である
。
。
【図4】従来例の概略構成断面図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 チップを貼りつけたテープを載置する
ステージと、前記ステージの上面側に形成したガス供給
孔と、前記ガス供給孔に接続しかつ高温で高圧のガスを
送給するガス供給機と、前記ガス供給孔の周りの前記ス
テージの上面側に形成した吸引孔と、前記吸引孔に接続
した吸引機と、前記ガス供給孔の上方にかつ昇降自在に
設けたコレットとによりなることを特徴とするダイピッ
クアップ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15753591A JPH04354352A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | チップの剥離方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15753591A JPH04354352A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | チップの剥離方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04354352A true JPH04354352A (ja) | 1992-12-08 |
Family
ID=15651806
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15753591A Pending JPH04354352A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | チップの剥離方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04354352A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100480628B1 (ko) * | 2002-11-11 | 2005-03-31 | 삼성전자주식회사 | 에어 블로잉을 이용한 칩 픽업 방법 및 장치 |
| KR100817068B1 (ko) * | 2006-10-24 | 2008-03-27 | 삼성전자주식회사 | 박형의 반도체 칩 픽업 장치 및 방법 |
| JP2012164953A (ja) * | 2011-01-21 | 2012-08-30 | Toshiba Corp | 半導体装置、並びに、その製造方法及び製造装置 |
| KR20200049002A (ko) * | 2018-10-31 | 2020-05-08 | 세메스 주식회사 | 다이 이젝팅 장치 |
| KR20210003435A (ko) * | 2019-07-02 | 2021-01-12 | 세메스 주식회사 | 다이 이젝팅 장치 |
| JP2023084838A (ja) * | 2021-12-08 | 2023-06-20 | 三星電子株式会社 | チップ剥離装置およびチップ剥離方法 |
| JP2023099484A (ja) * | 2021-12-31 | 2023-07-13 | サムス カンパニー リミテッド | ダイエジェクティング装置及びダイエジェクティング方法 |
-
1991
- 1991-05-31 JP JP15753591A patent/JPH04354352A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100480628B1 (ko) * | 2002-11-11 | 2005-03-31 | 삼성전자주식회사 | 에어 블로잉을 이용한 칩 픽업 방법 및 장치 |
| KR100817068B1 (ko) * | 2006-10-24 | 2008-03-27 | 삼성전자주식회사 | 박형의 반도체 칩 픽업 장치 및 방법 |
| JP2012164953A (ja) * | 2011-01-21 | 2012-08-30 | Toshiba Corp | 半導体装置、並びに、その製造方法及び製造装置 |
| US8956917B2 (en) | 2011-01-21 | 2015-02-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device, and manufacturing method and manufacturing apparatus of the same |
| KR20200049002A (ko) * | 2018-10-31 | 2020-05-08 | 세메스 주식회사 | 다이 이젝팅 장치 |
| KR20210003435A (ko) * | 2019-07-02 | 2021-01-12 | 세메스 주식회사 | 다이 이젝팅 장치 |
| JP2023084838A (ja) * | 2021-12-08 | 2023-06-20 | 三星電子株式会社 | チップ剥離装置およびチップ剥離方法 |
| JP2023099484A (ja) * | 2021-12-31 | 2023-07-13 | サムス カンパニー リミテッド | ダイエジェクティング装置及びダイエジェクティング方法 |
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