JPH09181150A - 半導体チップのピックアップ装置及びこれを用いたピックアップ方法 - Google Patents
半導体チップのピックアップ装置及びこれを用いたピックアップ方法Info
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- JPH09181150A JPH09181150A JP33746495A JP33746495A JPH09181150A JP H09181150 A JPH09181150 A JP H09181150A JP 33746495 A JP33746495 A JP 33746495A JP 33746495 A JP33746495 A JP 33746495A JP H09181150 A JPH09181150 A JP H09181150A
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- Japan
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- semiconductor chip
- tape
- needle
- pickup device
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/70—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping
- H10P72/74—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H10P72/7412—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support the auxiliary support including means facilitating the separation of a device or wafer from the auxiliary support
- H10P72/7414—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support the auxiliary support including means facilitating the separation of a device or wafer from the auxiliary support the auxiliary support including means facilitating the selective separation of some of a plurality of devices from the auxiliary support
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- Die Bonding (AREA)
- Dicing (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】 半導体チップのピックアップ作業でチップの
歩留りを向上させると共に、該装置の調整や保守の作業
を一層軽減できるピックアップの装置と方法を提供す
る。 【解決手段】 チップのピックアップ装置は複数の半導
体チップ1が貼着されたエキスパンドテープ2と、該テ
ープ2の下方に配置されたテープガイド7と、チップ1
をテープ2から剥離するためのニードル9と、剥離され
たチップ1を吸着し移送するコレット12とを備えてい
る。テープガイド7のガイド面6のほぼ中央にニードル
9が貫通可能でチップよりも小径のニードル孔とテープ
2を吸引するためのバキューム孔8とを有する凹部6a
を形成し、ニードル孔を貫通したニードル9の上端高さ
をガイド面と略一致するように配置し、凹部6aに向け
てバキューム孔8から粘着テープ2を吸引することによ
り、半導体チップ1を粘着テープ2から剥離する。
歩留りを向上させると共に、該装置の調整や保守の作業
を一層軽減できるピックアップの装置と方法を提供す
る。 【解決手段】 チップのピックアップ装置は複数の半導
体チップ1が貼着されたエキスパンドテープ2と、該テ
ープ2の下方に配置されたテープガイド7と、チップ1
をテープ2から剥離するためのニードル9と、剥離され
たチップ1を吸着し移送するコレット12とを備えてい
る。テープガイド7のガイド面6のほぼ中央にニードル
9が貫通可能でチップよりも小径のニードル孔とテープ
2を吸引するためのバキューム孔8とを有する凹部6a
を形成し、ニードル孔を貫通したニードル9の上端高さ
をガイド面と略一致するように配置し、凹部6aに向け
てバキューム孔8から粘着テープ2を吸引することによ
り、半導体チップ1を粘着テープ2から剥離する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本願発明は半導体チップのピ
ックアップ装置の構造及びこれを用いて行う半導体チッ
プのピックアップ方法に関する。
ックアップ装置の構造及びこれを用いて行う半導体チッ
プのピックアップ方法に関する。
【0002】
【従来の技術】ダイオード、トランジスタ、IC等の半
導体装置は、シリコン等のウェハ基板上にフォトエッチ
ング技術により多数個一括して形成した半導体素子を分
割・分離して個別の半導体チップにした後、ダイボンデ
ィング、ワイヤボンディング、パッケージング、外装処
理、トリム・フォーミング、標印、検査等の工程を経て
組み立てられ、半導体装置の完成品となる。
導体装置は、シリコン等のウェハ基板上にフォトエッチ
ング技術により多数個一括して形成した半導体素子を分
割・分離して個別の半導体チップにした後、ダイボンデ
ィング、ワイヤボンディング、パッケージング、外装処
理、トリム・フォーミング、標印、検査等の工程を経て
組み立てられ、半導体装置の完成品となる。
【0003】これらの工程の中で、半導体素子を個別の
半導体チップに分割・分離する工程は、通常、次のよう
に行われる。即ち、ウェハ基板の裏面に伸張性のあるエ
キスパンドテープを貼着し、この状態でダイシング装置
と言われる切断装置でウェハ基板にハーフカット溝を形
成し、クラッキングと言われる作業を行って個々の半導
体チップに分割し、エキスパンドテープを引き伸ばすこ
とにより個々の半導体チップ間の距離を確保するように
分離する。その後、図2または図3に示すような半導体
チップ1のピックアップ装置を使用し、ニードルで半導
体チップ1の裏面を突き上げるようにしてエキスパンド
テープ2から剥離し、コレット12で図示しないリード
フレーム等に半導体チップ1を移送する。
半導体チップに分割・分離する工程は、通常、次のよう
に行われる。即ち、ウェハ基板の裏面に伸張性のあるエ
キスパンドテープを貼着し、この状態でダイシング装置
と言われる切断装置でウェハ基板にハーフカット溝を形
成し、クラッキングと言われる作業を行って個々の半導
体チップに分割し、エキスパンドテープを引き伸ばすこ
とにより個々の半導体チップ間の距離を確保するように
分離する。その後、図2または図3に示すような半導体
チップ1のピックアップ装置を使用し、ニードルで半導
体チップ1の裏面を突き上げるようにしてエキスパンド
テープ2から剥離し、コレット12で図示しないリード
フレーム等に半導体チップ1を移送する。
【0004】図2は従来の一般的な半導体チップのピッ
クアップ装置の動作を示す断面説明図で、図2(a)は
エキスパンドテープ2に所定の間隔で貼着されている半
導体チップ1がピックアップ装置に設置された状態を示
し、図2(b)はエキスパンドテープ2を真空吸引によ
り吸着しながら突き上げ部5aのニードル9により半導
体チップ1を下方から突き上げている状態を示し、図2
(c)は半導体チップがコレット12に吸着されるとと
もに突き上げ部5aが初期の位置へ戻って半導体チップ
1の突き上げが完了した状態を示している。図2(a)
〜図2(c)の工程を順次繰り返すことにより、所定の
半導体チップ1がエキスパンドテープ2から剥離され、
ダイボンディング等の工程へと個別に移送される。
クアップ装置の動作を示す断面説明図で、図2(a)は
エキスパンドテープ2に所定の間隔で貼着されている半
導体チップ1がピックアップ装置に設置された状態を示
し、図2(b)はエキスパンドテープ2を真空吸引によ
り吸着しながら突き上げ部5aのニードル9により半導
体チップ1を下方から突き上げている状態を示し、図2
(c)は半導体チップがコレット12に吸着されるとと
もに突き上げ部5aが初期の位置へ戻って半導体チップ
1の突き上げが完了した状態を示している。図2(a)
〜図2(c)の工程を順次繰り返すことにより、所定の
半導体チップ1がエキスパンドテープ2から剥離され、
ダイボンディング等の工程へと個別に移送される。
【0005】しかしながら、図2に示すピックアップ装
置は、突き上げ部5aを上下に移動させるための駆動機
構必要になるとともに、ニードル9を突き上げたときに
エキスパンドテープ2に形成された孔から空気が漏れ込
んでテープガイド7a内の負圧が低下するのを防ぐよう
な構造にしなければならないので、ピックアップ装置の
構造が複雑になるとともに、メンテナンス等の作業を随
時行わなければならなかった。また、突き上げ部5aの
上下動に伴う振動でニードル9の先端が振れることによ
り、半導体チップ1の裏面を傷つけてリードフレームと
の接触性を悪くしたり、半導体チップ1に割れや欠けを
生じさせたりすることがあった。
置は、突き上げ部5aを上下に移動させるための駆動機
構必要になるとともに、ニードル9を突き上げたときに
エキスパンドテープ2に形成された孔から空気が漏れ込
んでテープガイド7a内の負圧が低下するのを防ぐよう
な構造にしなければならないので、ピックアップ装置の
構造が複雑になるとともに、メンテナンス等の作業を随
時行わなければならなかった。また、突き上げ部5aの
上下動に伴う振動でニードル9の先端が振れることによ
り、半導体チップ1の裏面を傷つけてリードフレームと
の接触性を悪くしたり、半導体チップ1に割れや欠けを
生じさせたりすることがあった。
【0006】そのため、図3に主要部の断面説明図を示
す特開平6−275663のピックアップ装置では、ニ
ードル9を固定したままエキスパンドテープ2の方を真
空吸引して半導体チップ1と分離する方法を開発してい
た。図3は、ガイド面6bを有するテープガイド7の上
方にエキスパンドテープ2に貼着された半導体チップ1
が配置され、更にその上方にはコレット12が配置され
ている。また、ガイド面6bの中央部には半導体チップ
1に対して十分な大きさのバキューム孔8bが形成さ
れ、半導体チップ1の直下にはニードルホルダ4に固定
されたニードル9が配置された構成になっている。
す特開平6−275663のピックアップ装置では、ニ
ードル9を固定したままエキスパンドテープ2の方を真
空吸引して半導体チップ1と分離する方法を開発してい
た。図3は、ガイド面6bを有するテープガイド7の上
方にエキスパンドテープ2に貼着された半導体チップ1
が配置され、更にその上方にはコレット12が配置され
ている。また、ガイド面6bの中央部には半導体チップ
1に対して十分な大きさのバキューム孔8bが形成さ
れ、半導体チップ1の直下にはニードルホルダ4に固定
されたニードル9が配置された構成になっている。
【0007】このような構成により、テープガイド7内
を図中の矢印A1で示す方向に真空吸引すればエキスパ
ンドテープ2が図3の実線で示すように伸びるので、半
導体チップ1はニードル9により相対的に突き上げられ
ることになり、半導体チップ1はエキスパンドテープ2
から剥離されるようになる。
を図中の矢印A1で示す方向に真空吸引すればエキスパ
ンドテープ2が図3の実線で示すように伸びるので、半
導体チップ1はニードル9により相対的に突き上げられ
ることになり、半導体チップ1はエキスパンドテープ2
から剥離されるようになる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図3の
ピックアップ装置は、ニードル9を上下動させるための
駆動機構が不要になるというメリットがあるものの、バ
キューム孔8bを半導体チップ1に対して十分な大きさ
に形成していたので、半導体チップ1の大きさに合わせ
た大きさのバキューム孔8bを有する複数のテープガイ
ド7を用意しなければならないとともに、エキスパンド
テープ2の伸張性によっては同図の波線2bで示すエキ
スパンドテープ2のように引き込まれ過ぎてしまうこと
があり、これを防ぐために真空吸引の負圧を制御するよ
うにして引き込み量を一定にしなければならなかった
が、ニードル9がエキスパンドテープ2を突き破ったと
きにそこから空気が漏れ込む場合があり調整が難しかっ
た。また、伸びすぎたエキスパンドテープ2がガイド面
6bに移動したときにエキスパンドテープ2がガイド面
6bから浮いて半導体チップ1が傾いてしまい、コレッ
ト12による吸着が正常に出来ないこともあった。
ピックアップ装置は、ニードル9を上下動させるための
駆動機構が不要になるというメリットがあるものの、バ
キューム孔8bを半導体チップ1に対して十分な大きさ
に形成していたので、半導体チップ1の大きさに合わせ
た大きさのバキューム孔8bを有する複数のテープガイ
ド7を用意しなければならないとともに、エキスパンド
テープ2の伸張性によっては同図の波線2bで示すエキ
スパンドテープ2のように引き込まれ過ぎてしまうこと
があり、これを防ぐために真空吸引の負圧を制御するよ
うにして引き込み量を一定にしなければならなかった
が、ニードル9がエキスパンドテープ2を突き破ったと
きにそこから空気が漏れ込む場合があり調整が難しかっ
た。また、伸びすぎたエキスパンドテープ2がガイド面
6bに移動したときにエキスパンドテープ2がガイド面
6bから浮いて半導体チップ1が傾いてしまい、コレッ
ト12による吸着が正常に出来ないこともあった。
【0009】そこで本発明は、半導体チップのピックア
ップ作業において、半導体チップの歩留まりを向上でき
るようにするとともに、ピックアップ装置の調整やメン
テナンス等の作業を更に軽減することのできるピックア
ップ装置及びこれを用いたピックアップ方法を提供でき
るようにすることを目的としている。
ップ作業において、半導体チップの歩留まりを向上でき
るようにするとともに、ピックアップ装置の調整やメン
テナンス等の作業を更に軽減することのできるピックア
ップ装置及びこれを用いたピックアップ方法を提供でき
るようにすることを目的としている。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、請求項1に記載した半導体装置のピックアップ装
置は、複数の半導体チップが貼着されたエキスパンドテ
ープと、上記エキスパンドテープに摺接するガイド面を
有して上記エキスパンドテープの下方に配置されたテー
プガイドと、上記半導体チップを上記エキスパンドテー
プから剥離するためのニードルと、剥離された上記半導
体チップを吸着して移送するコレットとを備える半導体
チップのピックアップ装置において、上記テープガイド
にはそのガイド面の略中央部に上記ニードルが貫通可能
で上記半導体チップよりも小径のニードル孔と上記エキ
スパンドテープを吸引するためのバキューム孔とを有す
る凹部を形成し、上記ニードル孔を貫通した上記ニード
ルの上端高さをガイド面と略一致するように配置し、ピ
ックアップすべき上記半導体チップが上記ニードルの上
部に位置するときに上記バキューム孔より上記エキスパ
ンドテープを上記凹部に吸引することにより上記半導体
チップを上記エキスパンドテープから剥離することを特
徴とする。
めに、請求項1に記載した半導体装置のピックアップ装
置は、複数の半導体チップが貼着されたエキスパンドテ
ープと、上記エキスパンドテープに摺接するガイド面を
有して上記エキスパンドテープの下方に配置されたテー
プガイドと、上記半導体チップを上記エキスパンドテー
プから剥離するためのニードルと、剥離された上記半導
体チップを吸着して移送するコレットとを備える半導体
チップのピックアップ装置において、上記テープガイド
にはそのガイド面の略中央部に上記ニードルが貫通可能
で上記半導体チップよりも小径のニードル孔と上記エキ
スパンドテープを吸引するためのバキューム孔とを有す
る凹部を形成し、上記ニードル孔を貫通した上記ニード
ルの上端高さをガイド面と略一致するように配置し、ピ
ックアップすべき上記半導体チップが上記ニードルの上
部に位置するときに上記バキューム孔より上記エキスパ
ンドテープを上記凹部に吸引することにより上記半導体
チップを上記エキスパンドテープから剥離することを特
徴とする。
【0011】また、請求項2に記載した発明は、請求項
1に記載のピックアップ装置を用いた半導体チップのピ
ックアップ方法であって、(a)上記エキスパンドテー
プに貼着された上記半導体チップが上記ニードルの上部
に位置するように位置調整するステップ、(b)上記バ
キューム孔に所定の負圧を作用させて上記エキスパンド
テープを上記ガイド面の上記凹部に引き込み、上記ニー
ドルにより相対的に突き上げられた上記半導体チップと
上記エキスパンドテープとを剥離させるステップ、
(c)剥離された上記半導体チップを上記吸着コレット
により吸着して移送するステップ、を含むことを特徴と
する。
1に記載のピックアップ装置を用いた半導体チップのピ
ックアップ方法であって、(a)上記エキスパンドテー
プに貼着された上記半導体チップが上記ニードルの上部
に位置するように位置調整するステップ、(b)上記バ
キューム孔に所定の負圧を作用させて上記エキスパンド
テープを上記ガイド面の上記凹部に引き込み、上記ニー
ドルにより相対的に突き上げられた上記半導体チップと
上記エキスパンドテープとを剥離させるステップ、
(c)剥離された上記半導体チップを上記吸着コレット
により吸着して移送するステップ、を含むことを特徴と
する。
【0012】従って、本願発明のピックアップ装置にお
いては、エキスパンドテープに負圧を作用させて凹部内
に一定量を引き込むとともに固定されたニードルにより
半導体チップの移動を阻止するように動作するので、半
導体チップはニードルで相対的に突き上げられるように
なる。また、ニードルを上下動させるための駆動機構や
負圧の制御装置が不要になりピックアップ装置の構成が
簡略化されるようになるとともに、ニードルの先端を固
定出来るようになる。
いては、エキスパンドテープに負圧を作用させて凹部内
に一定量を引き込むとともに固定されたニードルにより
半導体チップの移動を阻止するように動作するので、半
導体チップはニードルで相対的に突き上げられるように
なる。また、ニードルを上下動させるための駆動機構や
負圧の制御装置が不要になりピックアップ装置の構成が
簡略化されるようになるとともに、ニードルの先端を固
定出来るようになる。
【0013】
【実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図1を参照
しながら詳細に説明する。尚、本明細書では、全図面を
通して、同一または同様の部位には同一の符号を付して
説明を簡略化するようにしている。図1は、本発明のピ
ックアップ装置を用いて半導体チップをピックアップす
る方法を工程順に示す断面説明図で、図1(a)乃至図
1(c)の工程を順次繰り返すことにより、所定の半導
体チップをエキスパンドテープから剥離する様子を表し
ている。尚、本説明では図面上で見て上側を上方、下側
を下方として説明しているが、該ピックアップ装置の方
向は任意で構わない。
しながら詳細に説明する。尚、本明細書では、全図面を
通して、同一または同様の部位には同一の符号を付して
説明を簡略化するようにしている。図1は、本発明のピ
ックアップ装置を用いて半導体チップをピックアップす
る方法を工程順に示す断面説明図で、図1(a)乃至図
1(c)の工程を順次繰り返すことにより、所定の半導
体チップをエキスパンドテープから剥離する様子を表し
ている。尚、本説明では図面上で見て上側を上方、下側
を下方として説明しているが、該ピックアップ装置の方
向は任意で構わない。
【0014】以下各工程について順を追って詳細に説明
する。図1(a)は、半導体チップ1のピックアップ前
の状態を示し、樹脂性で伸張性のあるエキスパンドテー
プ2(「粘着シート」ともいう)に貼着されて所定の間
隔に分離された半導体チップ1をピックアップ装置の所
定の位置に配置した状態を示している。エキスパンドテ
ープ2はテープガイド7(「吸着台」ともいう)のガイ
ド面6に接するように配置され、半導体チップ1の上方
には半導体チップ1を吸着して移送するためのコレット
12(「吸着コレット」ともいう)が配置され、半導体
チップ1の下方には半導体チップ1を相対的に突き上げ
るためのニードルホルダ4に固定されたニードル9
(「突き上げピン」ともいう)が配置されている。
する。図1(a)は、半導体チップ1のピックアップ前
の状態を示し、樹脂性で伸張性のあるエキスパンドテー
プ2(「粘着シート」ともいう)に貼着されて所定の間
隔に分離された半導体チップ1をピックアップ装置の所
定の位置に配置した状態を示している。エキスパンドテ
ープ2はテープガイド7(「吸着台」ともいう)のガイ
ド面6に接するように配置され、半導体チップ1の上方
には半導体チップ1を吸着して移送するためのコレット
12(「吸着コレット」ともいう)が配置され、半導体
チップ1の下方には半導体チップ1を相対的に突き上げ
るためのニードルホルダ4に固定されたニードル9
(「突き上げピン」ともいう)が配置されている。
【0015】各部の詳細について更に説明する。テープ
ガイド7は半導体チップ1のチップサイズよりも十分に
大きな内径を有する筒状形状で、ガイド面6の略中央部
には半導体チップ1のチップサイズよりも十分に広く半
導体チップ1の厚さより深い凹部6aが設けられ、凹部
6a内には半導体チップ1の一辺の長さよりも小径でニ
ードル9の先端が貫通するニードル孔と、半導体チップ
1の一辺の長さよりも小径の孔でエキスパンドテープ2
を凹部6aに吸着するためのバキューム孔8が複数形成
されている。また、凹部6aの周囲は傾斜を有するよう
形成され、エキスパンドテープ2が凹部6aに密着し易
いような構造に形成されている。更に、ニードル9は先
端が尖塔形状をした針で超硬質金属またはダイヤモンド
等で形成され、半導体チップ1のチップサイズに応じて
1本乃至数本をニードルホルダに突き刺して用いる。
ガイド7は半導体チップ1のチップサイズよりも十分に
大きな内径を有する筒状形状で、ガイド面6の略中央部
には半導体チップ1のチップサイズよりも十分に広く半
導体チップ1の厚さより深い凹部6aが設けられ、凹部
6a内には半導体チップ1の一辺の長さよりも小径でニ
ードル9の先端が貫通するニードル孔と、半導体チップ
1の一辺の長さよりも小径の孔でエキスパンドテープ2
を凹部6aに吸着するためのバキューム孔8が複数形成
されている。また、凹部6aの周囲は傾斜を有するよう
形成され、エキスパンドテープ2が凹部6aに密着し易
いような構造に形成されている。更に、ニードル9は先
端が尖塔形状をした針で超硬質金属またはダイヤモンド
等で形成され、半導体チップ1のチップサイズに応じて
1本乃至数本をニードルホルダに突き刺して用いる。
【0016】尚、ニードル9の先端が摩耗もしくは欠け
てしてしまったときや何らかの要因で曲がってしまった
ようなときには、ニードルホルダ4からニードル9を抜
き取って新しいニードル9とさし換えて使用する。ま
た、複数のニードル9を一つのピックアップ装置に用い
る場合にはその先端高さが半導体チップ1に対して平行
になるように調整して使用する。コレット12は半導体
チップ1の角部と接触するような吸着面の形状の場合を
示しているが、半導体チップ1の上面を吸着するような
形状でも良く、吸着面の形状は任意で構わない。
てしてしまったときや何らかの要因で曲がってしまった
ようなときには、ニードルホルダ4からニードル9を抜
き取って新しいニードル9とさし換えて使用する。ま
た、複数のニードル9を一つのピックアップ装置に用い
る場合にはその先端高さが半導体チップ1に対して平行
になるように調整して使用する。コレット12は半導体
チップ1の角部と接触するような吸着面の形状の場合を
示しているが、半導体チップ1の上面を吸着するような
形状でも良く、吸着面の形状は任意で構わない。
【0017】図1(b)は半導体チップ1をエキスパン
ドテープ2から剥離したときの状態を示し、テープガイ
ド7内を図示しないポンプ装置で図中の矢印A1で示す
方向に真空吸引してエキスパンドテープ2を負圧で引き
下げて凹部6a内に吸着し、固定されたニードル9の存
在により下方に移動できない半導体チップ1がエキスパ
ンドテープ2から剥離された状態を示す。この状態をエ
キスパンドテープ2の位置を中心に見て言い換えれば、
ニードル9が半導体チップ1を相対的に突き上げてエキ
スパンドテープ2から半導体チップ1を剥離することに
なる。同時に、コレット12が下方に移動して半導体チ
ップ1に接近し、孔12aから図中の矢印A2で示す方
向に真空吸引して半導体チップ1を吸着した状態を示し
ている。このとき、ニードル孔にニードル9を貫通した
後でニードル孔を樹脂性の接着剤等で封止しておけば、
ニードル9がエキスパンドテープ2を突き破ったときに
形成された孔とニードル孔を介して空気が漏れ込んでテ
ーブルガイド7内の真空圧が低下するのを防止出来るよ
うになる。
ドテープ2から剥離したときの状態を示し、テープガイ
ド7内を図示しないポンプ装置で図中の矢印A1で示す
方向に真空吸引してエキスパンドテープ2を負圧で引き
下げて凹部6a内に吸着し、固定されたニードル9の存
在により下方に移動できない半導体チップ1がエキスパ
ンドテープ2から剥離された状態を示す。この状態をエ
キスパンドテープ2の位置を中心に見て言い換えれば、
ニードル9が半導体チップ1を相対的に突き上げてエキ
スパンドテープ2から半導体チップ1を剥離することに
なる。同時に、コレット12が下方に移動して半導体チ
ップ1に接近し、孔12aから図中の矢印A2で示す方
向に真空吸引して半導体チップ1を吸着した状態を示し
ている。このとき、ニードル孔にニードル9を貫通した
後でニードル孔を樹脂性の接着剤等で封止しておけば、
ニードル9がエキスパンドテープ2を突き破ったときに
形成された孔とニードル孔を介して空気が漏れ込んでテ
ーブルガイド7内の真空圧が低下するのを防止出来るよ
うになる。
【0018】尚、コレット12が半導体チップ1に接近
して半導体チップ1を吸着するタイミングは、図1
(b)のようにエキスパンドテープ2から剥離された半
導体チップ1がニードル9上に静止している状態のとき
でも、図1(a)のようにエキスパンドテープ2に半導
体チップ1が貼着された状態のときでも構わない。ま
た、テープガイド7内の真空吸引力はエキスパンドテー
プ2と半導体チップ1とを剥離できる程度の負圧が有れ
ば良く、吸引されたエキスパンドテープ2が凹部6a内
に完全に密着する必要はない。
して半導体チップ1を吸着するタイミングは、図1
(b)のようにエキスパンドテープ2から剥離された半
導体チップ1がニードル9上に静止している状態のとき
でも、図1(a)のようにエキスパンドテープ2に半導
体チップ1が貼着された状態のときでも構わない。ま
た、テープガイド7内の真空吸引力はエキスパンドテー
プ2と半導体チップ1とを剥離できる程度の負圧が有れ
ば良く、吸引されたエキスパンドテープ2が凹部6a内
に完全に密着する必要はない。
【0019】図1(c)は半導体チップ1の剥離が完了
した状態を示し、半導体チップ1を吸着したコレット1
2が上方に移動するとともに、負圧状態だったテープガ
イド7内を図中の矢印A3で示す方向に加圧することに
よりエキスパンドテープ2が図1(a)と同様なガイド
面6と略同一平面に復帰した状態を示している。その
後、コレット12に吸着されている半導体チップ1は図
示しない半導体パッケージのリードフレーム等に移動さ
れるとともに、次にピックアップすべき半導体チップ1
がニードル9の上方になるようにエキスパンドテープ2
を水平方向に平行移動すれば、図1(a)の状態に戻
る。
した状態を示し、半導体チップ1を吸着したコレット1
2が上方に移動するとともに、負圧状態だったテープガ
イド7内を図中の矢印A3で示す方向に加圧することに
よりエキスパンドテープ2が図1(a)と同様なガイド
面6と略同一平面に復帰した状態を示している。その
後、コレット12に吸着されている半導体チップ1は図
示しない半導体パッケージのリードフレーム等に移動さ
れるとともに、次にピックアップすべき半導体チップ1
がニードル9の上方になるようにエキスパンドテープ2
を水平方向に平行移動すれば、図1(a)の状態に戻
る。
【0020】尚、エキスパンドテープ2がガイド面6と
略同一平面に復帰させるためには、上述のようにテープ
ガイド7内の加圧した方が短時間で復帰できるが、高速
性を要求しない場合には負圧を開放すだけでも良い。本
発明のピックアップ装置をトランジスタチップのピック
アップに使用した場合は、一辺が約0.7mmのトラン
ジスタチップに対して、凹部6aの直径及び深さを約6
mmと約0.5mmとし、ニードル孔の直径を約2mm
として1個形成し、バキューム孔8の直径を約1mmと
してニードル孔を囲むように8個配置するようにした。
更に、凹部6a周辺の傾斜角は約45度とし、ニードル
9の直径は約0.8mmとし、ニードルホルダ4から突
出したニードル9の長さは約5mmとした。
略同一平面に復帰させるためには、上述のようにテープ
ガイド7内の加圧した方が短時間で復帰できるが、高速
性を要求しない場合には負圧を開放すだけでも良い。本
発明のピックアップ装置をトランジスタチップのピック
アップに使用した場合は、一辺が約0.7mmのトラン
ジスタチップに対して、凹部6aの直径及び深さを約6
mmと約0.5mmとし、ニードル孔の直径を約2mm
として1個形成し、バキューム孔8の直径を約1mmと
してニードル孔を囲むように8個配置するようにした。
更に、凹部6a周辺の傾斜角は約45度とし、ニードル
9の直径は約0.8mmとし、ニードルホルダ4から突
出したニードル9の長さは約5mmとした。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように本発明のピックアッ
プ装置によれば、エキスパンドテープに負圧を作用させ
て凹部内に一定量を引き込むとともに固定されたニード
ルにより半導体チップの移動を阻止するように動作する
ので、半導体チップはニードルで相対的に突き上げられ
ることになり、エキスパンドテープから半導体チップを
容易に剥離することができるようになる。また、ニード
ルを上下動させるための駆動機構や負圧の制御装置が不
要になりピックアップ装置の構成が簡略化されるので、
ピックアップ装置の故障の発生が少なくなるとともにメ
ンテナンス作業による時間及び費用の損失を大幅に削減
できるという効果がある。また、駆動機構が全く無いの
で半導体チップの剥離を従来に比べて高速に行うことが
でき、量産性を向上できるという効果がある。更に、ニ
ードルの先端を固定出来るようになるので、ニードルの
先端の振れが少なくなりニードルの振れによって発生し
ていた半導体チップの割れや欠け等の不良や位置ずれ等
が無くなり、半導体チップの歩留まりを向上できるよう
になると言う効果がある。
プ装置によれば、エキスパンドテープに負圧を作用させ
て凹部内に一定量を引き込むとともに固定されたニード
ルにより半導体チップの移動を阻止するように動作する
ので、半導体チップはニードルで相対的に突き上げられ
ることになり、エキスパンドテープから半導体チップを
容易に剥離することができるようになる。また、ニード
ルを上下動させるための駆動機構や負圧の制御装置が不
要になりピックアップ装置の構成が簡略化されるので、
ピックアップ装置の故障の発生が少なくなるとともにメ
ンテナンス作業による時間及び費用の損失を大幅に削減
できるという効果がある。また、駆動機構が全く無いの
で半導体チップの剥離を従来に比べて高速に行うことが
でき、量産性を向上できるという効果がある。更に、ニ
ードルの先端を固定出来るようになるので、ニードルの
先端の振れが少なくなりニードルの振れによって発生し
ていた半導体チップの割れや欠け等の不良や位置ずれ等
が無くなり、半導体チップの歩留まりを向上できるよう
になると言う効果がある。
【図1】 本発明のピックアップ装置の動作を示す断面
説明図、
説明図、
【図2】 従来の一般的なピックアップ装置の動作を示
す断面説明図、
す断面説明図、
【図3】 従来の他のピックアップ装置を示す断面説明
図ある。
図ある。
1 :半導体チップ 2 :エキスパンドテープ(粘着テープ) 4 :ニードルホルダ 5 :突き上げ部 6 :ガイド面 6a:凹部 7 :テープガイド(吸着台) 8 :バキューム孔 9 :ニードル(突き上げピン) 12:コレット(吸着コレット)
Claims (2)
- 【請求項1】 複数の半導体チップが貼着されたエキス
パンドテープと、前記エキスパンドテープに摺接するガ
イド面を有して前記エキスパンドテープの下方に配置さ
れたテープガイドと、前記半導体チップを前記エキスパ
ンドテープから剥離するためのニードルと、剥離された
前記半導体チップを吸着して移送するコレットとを備え
る半導体チップのピックアップ装置において、前記テー
プガイドにはそのガイド面の略中央部に前記ニードルが
貫通可能で前記半導体チップよりも小径のニードル孔と
前記エキスパンドテープを吸引するためのバキューム孔
とを有する凹部を形成し、前記ニードル孔を貫通した前
記ニードルの上端高さをガイド面と略一致するように配
置し、ピックアップすべき前記半導体チップが前記ニー
ドルの上部に位置するときに前記バキューム孔より前記
エキスパンドテープを前記凹部に吸引することにより前
記半導体チップを前記エキスパンドテープから剥離する
ことを特徴とする半導体チップのピックアップ装置 - 【請求項2】 請求項1の装置を用いた半導体チップの
ピックアップ方法であって、 (a)前記エキスパンドテープに貼着された前記半導体
チップが前記ニードルの上部に位置するように位置調整
するステップ、 (b)前記バキューム孔に所定の負圧を作用させて前記
エキスパンドテープを前記ガイド面の前記凹部に引き込
み、前記ニードルにより相対的に突き上げられた前記半
導体チップと前記エキスパンドテープとを剥離させるス
テップ、 (c)剥離された前記半導体チップを前記吸着コレット
により吸着して移送するステップ、を含むことを特徴と
する半導体チップのピックアップ方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33746495A JPH09181150A (ja) | 1995-12-25 | 1995-12-25 | 半導体チップのピックアップ装置及びこれを用いたピックアップ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33746495A JPH09181150A (ja) | 1995-12-25 | 1995-12-25 | 半導体チップのピックアップ装置及びこれを用いたピックアップ方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09181150A true JPH09181150A (ja) | 1997-07-11 |
Family
ID=18308894
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33746495A Pending JPH09181150A (ja) | 1995-12-25 | 1995-12-25 | 半導体チップのピックアップ装置及びこれを用いたピックアップ方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09181150A (ja) |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0901154A3 (en) * | 1997-09-04 | 2002-09-11 | Hitachi, Ltd. | Method and system for mounting semiconductor device, semiconductor device separating system, and method for fabricating IC card |
| US6774011B2 (en) | 2000-08-04 | 2004-08-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Chip pickup device and method of manufacturing semiconductor device |
| JP2008109119A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-05-08 | Toray Eng Co Ltd | ピックアップ装置及びピックアップ方法 |
| JP2009094539A (ja) * | 2009-01-21 | 2009-04-30 | Disco Abrasive Syst Ltd | Csp基板の分割加工方法 |
| CN102044404A (zh) * | 2009-10-12 | 2011-05-04 | 桑迪士克股份有限公司 | 用于使经切分的半导体裸片与裸片贴胶带分离的系统 |
| KR101128093B1 (ko) * | 2007-08-14 | 2012-04-02 | 도쿄 세이미츄 코퍼레이션 리미티드 | 웨이퍼용 테이블, 표면 보호 필름 박리 장치 및 표면 보호 필름 박리 방법 |
| JP2018501972A (ja) * | 2014-12-15 | 2018-01-25 | ダブリュ.エル.ゴア アンド アソシエイツ,インコーポレイティドW.L. Gore & Associates, Incorporated | 微小電気機械システムのためのベント取付けシステム |
| JP2018026554A (ja) * | 2016-08-04 | 2018-02-15 | 日本ファインテック株式会社 | チップ剥離装置及びチップ剥離方法 |
| JP2019212801A (ja) * | 2018-06-06 | 2019-12-12 | 株式会社デンソー | 半導体装置およびその製造方法 |
| JP2021523573A (ja) * | 2018-05-12 | 2021-09-02 | ロヒンニ リミテッド ライアビリティ カンパニー | 半導体デバイスの複数の直接転写のための方法および装置 |
| US11488940B2 (en) | 2015-03-20 | 2022-11-01 | Rohinni, Inc. | Method for transfer of semiconductor devices onto glass substrates |
| US11728195B2 (en) | 2018-09-28 | 2023-08-15 | Rohinni, Inc. | Apparatuses for executing a direct transfer of a semiconductor device die disposed on a first substrate to a second substrate |
-
1995
- 1995-12-25 JP JP33746495A patent/JPH09181150A/ja active Pending
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0901154A3 (en) * | 1997-09-04 | 2002-09-11 | Hitachi, Ltd. | Method and system for mounting semiconductor device, semiconductor device separating system, and method for fabricating IC card |
| US6629553B2 (en) | 1997-09-04 | 2003-10-07 | Hitachi, Ltd. | Method and system for mounting semiconductor device, semiconductor device separating system, and method for fabricating IC card |
| US6774011B2 (en) | 2000-08-04 | 2004-08-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Chip pickup device and method of manufacturing semiconductor device |
| JP2008109119A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-05-08 | Toray Eng Co Ltd | ピックアップ装置及びピックアップ方法 |
| KR101128093B1 (ko) * | 2007-08-14 | 2012-04-02 | 도쿄 세이미츄 코퍼레이션 리미티드 | 웨이퍼용 테이블, 표면 보호 필름 박리 장치 및 표면 보호 필름 박리 방법 |
| US8182632B2 (en) | 2007-08-14 | 2012-05-22 | Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | Wafer table, surface protective film peeling apparatus and surface protective film peeling method |
| JP2009094539A (ja) * | 2009-01-21 | 2009-04-30 | Disco Abrasive Syst Ltd | Csp基板の分割加工方法 |
| CN102044404A (zh) * | 2009-10-12 | 2011-05-04 | 桑迪士克股份有限公司 | 用于使经切分的半导体裸片与裸片贴胶带分离的系统 |
| JP2018501972A (ja) * | 2014-12-15 | 2018-01-25 | ダブリュ.エル.ゴア アンド アソシエイツ,インコーポレイティドW.L. Gore & Associates, Incorporated | 微小電気機械システムのためのベント取付けシステム |
| US11488940B2 (en) | 2015-03-20 | 2022-11-01 | Rohinni, Inc. | Method for transfer of semiconductor devices onto glass substrates |
| US11515293B2 (en) | 2015-03-20 | 2022-11-29 | Rohinni, LLC | Direct transfer of semiconductor devices from a substrate |
| US11562990B2 (en) | 2015-03-20 | 2023-01-24 | Rohinni, Inc. | Systems for direct transfer of semiconductor device die |
| JP2018026554A (ja) * | 2016-08-04 | 2018-02-15 | 日本ファインテック株式会社 | チップ剥離装置及びチップ剥離方法 |
| JP2021523573A (ja) * | 2018-05-12 | 2021-09-02 | ロヒンニ リミテッド ライアビリティ カンパニー | 半導体デバイスの複数の直接転写のための方法および装置 |
| CN114373709A (zh) * | 2018-05-12 | 2022-04-19 | 罗辛尼公司 | 用于直接转移多个半导体器件的方法和装置 |
| JP2019212801A (ja) * | 2018-06-06 | 2019-12-12 | 株式会社デンソー | 半導体装置およびその製造方法 |
| US11728195B2 (en) | 2018-09-28 | 2023-08-15 | Rohinni, Inc. | Apparatuses for executing a direct transfer of a semiconductor device die disposed on a first substrate to a second substrate |
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