JPH04362784A - パターン検証方法 - Google Patents
パターン検証方法Info
- Publication number
- JPH04362784A JPH04362784A JP3166299A JP16629991A JPH04362784A JP H04362784 A JPH04362784 A JP H04362784A JP 3166299 A JP3166299 A JP 3166299A JP 16629991 A JP16629991 A JP 16629991A JP H04362784 A JPH04362784 A JP H04362784A
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- Japan
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、パターン検証方法に
関し、半導体集積回路のマスクパターンやプリント基板
のパターンの検証を行う方法に関する。
関し、半導体集積回路のマスクパターンやプリント基板
のパターンの検証を行う方法に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体集積回路のマスクパターンは多数
のレイヤで構成されており、通常、マスクパターン検証
を行なう場合は、これらのレイヤを論理和(OR)、論
理積(AND)、ナンド(ANDNOT)、排他的論理
和(EXOR)等の論理演算を行って、幾何学的ルール
チェックや電気的接続チェックを行っている。
のレイヤで構成されており、通常、マスクパターン検証
を行なう場合は、これらのレイヤを論理和(OR)、論
理積(AND)、ナンド(ANDNOT)、排他的論理
和(EXOR)等の論理演算を行って、幾何学的ルール
チェックや電気的接続チェックを行っている。
【0003】通常のマスクパターン検証の処理手順を図
8に示す。また図5及び図6はマスクパターン検証処理
手順に基づく幾何学的ルールチェックの実施例を示すも
のである。
8に示す。また図5及び図6はマスクパターン検証処理
手順に基づく幾何学的ルールチェックの実施例を示すも
のである。
【0004】従来の処理手順は、図8に示すように、ま
ずマスクパターンを各レイヤ毎に分割し、処理目的に応
じてレイヤを論理演算する。そして、処理目的に応じた
チェック即ち、幾何学的ルールチェック、電気的接続チ
ェックを行なう。その結果をCRT等に表示する。
ずマスクパターンを各レイヤ毎に分割し、処理目的に応
じてレイヤを論理演算する。そして、処理目的に応じた
チェック即ち、幾何学的ルールチェック、電気的接続チ
ェックを行なう。その結果をCRT等に表示する。
【0005】図5および図6に従いA、Bの2つのマス
クパターンのレイヤについての幾何学的ルールチェック
について説明する。ルールとしては図5(a)〜(f)
に示すものがある。図5(a)はAの幅をチェック、(
b)はBの幅をチェック、(c)はAの間隔をチェック
、(d)はBの間隔をチェック、(e)はAとBの重な
る部分Cについて、Cの幅をチェック、(f)はAとB
の重なる部分について、Cの間隔をチェックするものと
する。
クパターンのレイヤについての幾何学的ルールチェック
について説明する。ルールとしては図5(a)〜(f)
に示すものがある。図5(a)はAの幅をチェック、(
b)はBの幅をチェック、(c)はAの間隔をチェック
、(d)はBの間隔をチェック、(e)はAとBの重な
る部分Cについて、Cの幅をチェック、(f)はAとB
の重なる部分について、Cの間隔をチェックするものと
する。
【0006】幾何学的ルールチェックの処理は図6に示
すように、まず処理1としてマスクパターンよりAのレ
イヤを分割する。そして処理2としてマスクパターンよ
りBのレイヤを分割する。
すように、まず処理1としてマスクパターンよりAのレ
イヤを分割する。そして処理2としてマスクパターンよ
りBのレイヤを分割する。
【0007】続いて処理3にて、AとBのアンドをとり
Cのレイヤを求める。
Cのレイヤを求める。
【0008】その後、処理4にてAの幅、処理5にてB
の幅、処理6にてC幅、処理7にてAの幅、処理8にて
Bの幅、処理9にてCの幅を夫々チェックする。
の幅、処理6にてC幅、処理7にてAの幅、処理8にて
Bの幅、処理9にてCの幅を夫々チェックする。
【0009】次に、処理10にて処理4の結果を、処理
11にて処理5の結果を、処理12にて処理6の結果を
、処理13にて処理7の結果を、処理14にて処理8の
結果を、処理15にて処理9の結果を夫々表示する。
11にて処理5の結果を、処理12にて処理6の結果を
、処理13にて処理7の結果を、処理14にて処理8の
結果を、処理15にて処理9の結果を夫々表示する。
【0010】従来、マスクパターンの検証は、処理1〜
15までの処理を順次行なっている。
15までの処理を順次行なっている。
【0011】この処理のうち、処理3は処理1、2が終
っていなければ処理できず、また、処理4〜9は、処理
1、2及び処理3が終了していなければならない。更に
処理10〜15は同様に処理4〜9が終了していなけれ
ばならない。
っていなければ処理できず、また、処理4〜9は、処理
1、2及び処理3が終了していなければならない。更に
処理10〜15は同様に処理4〜9が終了していなけれ
ばならない。
【0012】しかし、処理1、2は別々に処理を行なっ
ても良く、処理4から9も同様である。
ても良く、処理4から9も同様である。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】レイヤの論理演算や、
幾何学的ルールチェック、電気的接続チェックは、前段
階の処理結果を利用しなければならない場合もあるが、
まったく別々に処理を行なえるものもある。
幾何学的ルールチェック、電気的接続チェックは、前段
階の処理結果を利用しなければならない場合もあるが、
まったく別々に処理を行なえるものもある。
【0014】従来、単一の演算装置を持つワークステー
ション(WS)では、上記の処理を順次処理しなければ
ならず、最近の半導体の高集積化の影響もあり、処理時
間が膨大なものとなっている。
ション(WS)では、上記の処理を順次処理しなければ
ならず、最近の半導体の高集積化の影響もあり、処理時
間が膨大なものとなっている。
【0015】また、複数の演算装置を内蔵するWSでは
、並列処理を行なうことができ、処理を高速化すること
が可能であるが、装置が高価であり、柔軟な構成即ち拡
張性等に問題があった。
、並列処理を行なうことができ、処理を高速化すること
が可能であるが、装置が高価であり、柔軟な構成即ち拡
張性等に問題があった。
【0016】更に、最近は、低価格で、比較的高性能な
WSが販売されており、このようなWSを多数導入して
、半導体集積回路設計技術者毎に、WSを割り当てるこ
とが容易になってきている。このようなWSは多目的に
利用されるが、個人仕様が多いため、稼働率の点ではあ
まり高くなく、使用していない時間もかなりあるのが現
状である。
WSが販売されており、このようなWSを多数導入して
、半導体集積回路設計技術者毎に、WSを割り当てるこ
とが容易になってきている。このようなWSは多目的に
利用されるが、個人仕様が多いため、稼働率の点ではあ
まり高くなく、使用していない時間もかなりあるのが現
状である。
【0017】この発明は上記の点に着目して、空いてい
るWSを検索し、処理に膨大な時間のかかるマスタパタ
ーン検証を高速化することを目的とする。
るWSを検索し、処理に膨大な時間のかかるマスタパタ
ーン検証を高速化することを目的とする。
【0018】
【課題を解決するための手段】この発明のパターン検証
方法は、記憶装置に格納されたマスクパターンデータを
検証する演算及び制御等を行なう演算装置を備えたワー
クステーションを、ネットワークで複数個接続し、少な
くとも1つのワークステーションが、検証処理手順の管
理を行なうとともに、検証処理が並列処理が可能な処理
手順の場合、負荷の少ない他のワークステーションを用
いて並列処理を行なうことを特徴とする。
方法は、記憶装置に格納されたマスクパターンデータを
検証する演算及び制御等を行なう演算装置を備えたワー
クステーションを、ネットワークで複数個接続し、少な
くとも1つのワークステーションが、検証処理手順の管
理を行なうとともに、検証処理が並列処理が可能な処理
手順の場合、負荷の少ない他のワークステーションを用
いて並列処理を行なうことを特徴とする。
【0019】更に、上記検証処理手順の管理を行なうワ
ークステーションにて、並列処理を行なう各ワークステ
ーションの処理能力と処理するデータ量を比較し、各ワ
ークステーションでの処理終了時間が均一化するように
処理を分配することを特徴とする。
ークステーションにて、並列処理を行なう各ワークステ
ーションの処理能力と処理するデータ量を比較し、各ワ
ークステーションでの処理終了時間が均一化するように
処理を分配することを特徴とする。
【0020】
【作用】この発明では、並列処理が可能な場合、複数の
WSで並列処理を行なうため、処理速度が向上する。ま
た、利用度等を考慮して、WSを選択することで、WS
の稼働率を向上させることができる。
WSで並列処理を行なうため、処理速度が向上する。ま
た、利用度等を考慮して、WSを選択することで、WS
の稼働率を向上させることができる。
【0021】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面を参照して説
明する。
明する。
【0022】図1はこの発明の検証方法に用いられる装
置の全体構成を示すブロック図である。図1に示すよう
に、複数のワークステーション(WS)10−1、10
−2、10−3、10−4がネットワーク1により接続
されている。
置の全体構成を示すブロック図である。図1に示すよう
に、複数のワークステーション(WS)10−1、10
−2、10−3、10−4がネットワーク1により接続
されている。
【0023】各ワークステーション(WS)10−1…
は、図2に示すように、演算装置11、入力装置12、
記憶装置13、表示装置14等で構成される。
は、図2に示すように、演算装置11、入力装置12、
記憶装置13、表示装置14等で構成される。
【0024】演算装置11、はマスクパターンデータや
回路の接続情報を格納した記憶装置13から、データを
受けとり、マスクパターンデータを検証する演算または
制御を行なう。
回路の接続情報を格納した記憶装置13から、データを
受けとり、マスクパターンデータを検証する演算または
制御を行なう。
【0025】表示装置14は、演算装置11で演算した
結果を視覚的に表示するCRT、液晶パネルなどで構成
される。
結果を視覚的に表示するCRT、液晶パネルなどで構成
される。
【0026】入力装置12は、キーボード及びマスク等
の入力部を持ち、検証を行なうための命令等が入力され
る。
の入力部を持ち、検証を行なうための命令等が入力され
る。
【0027】尚、上記表示装置14及び入力装置12は
全てのWSに必要とするものではなく、用途によっては
省略されている。
全てのWSに必要とするものではなく、用途によっては
省略されている。
【0028】この発明は、図1、2に示した構成をとっ
ており、図3に示す処理手順により、動作する。使用者
が、検証処理を支持するWSをサーバWSとし、処理の
管理と実行をする。その他のネットワークに接続してい
るWSをクライアントWSとする。
ており、図3に示す処理手順により、動作する。使用者
が、検証処理を支持するWSをサーバWSとし、処理の
管理と実行をする。その他のネットワークに接続してい
るWSをクライアントWSとする。
【0029】まずサーバWSでは、検証の種別やルール
に応じて、処理手順を決定する。次に、処理を順次にし
なけばならないか、並列に処理可能かを判断する。順次
の場合は、サーバWSで実行する。並列処理可能のとき
は、クライアントWSで他の使用者が使用していないか
、または、使用していても、使用度が低いかを調べる。
に応じて、処理手順を決定する。次に、処理を順次にし
なけばならないか、並列に処理可能かを判断する。順次
の場合は、サーバWSで実行する。並列処理可能のとき
は、クライアントWSで他の使用者が使用していないか
、または、使用していても、使用度が低いかを調べる。
【0030】まず、クライアントWSのチェック方法に
つき、図4を参照して説明する。あらかじめクライアン
トWSとなるWSのリストを作っておき、この中からチ
ェックをする。このとき、ネットワークに接続している
WS全てが対象となる訳ではない。そして、使用者がい
るかどうかをチェックする。すなわち、ログインしてい
る使用者がいるかどうかをチェックする。
つき、図4を参照して説明する。あらかじめクライアン
トWSとなるWSのリストを作っておき、この中からチ
ェックをする。このとき、ネットワークに接続している
WS全てが対象となる訳ではない。そして、使用者がい
るかどうかをチェックする。すなわち、ログインしてい
る使用者がいるかどうかをチェックする。
【0031】そのチェックの結果、使用者がいない場合
は、クライアントWSとして使用できる。また、使用者
がいる場合は、演算装置の使用頻度を調べ、ある頻度以
下ならクライアントWSとして使用できるとする。この
頻度の判定値は、あらかじめ決めておき、また、頻度は
、その瞬間値でなく、過去一定時間の平均値とする。
は、クライアントWSとして使用できる。また、使用者
がいる場合は、演算装置の使用頻度を調べ、ある頻度以
下ならクライアントWSとして使用できるとする。この
頻度の判定値は、あらかじめ決めておき、また、頻度は
、その瞬間値でなく、過去一定時間の平均値とする。
【0032】図4に従って、WSをチェックして、クラ
イアントWSとして、使用可能なWSがある場合、サー
バWSとクライアントWSを含めて複数のWSが使用で
きることになる。
イアントWSとして、使用可能なWSがある場合、サー
バWSとクライアントWSを含めて複数のWSが使用で
きることになる。
【0033】次に、使用可能なWSの処理能力に差があ
る場合があるため、処理能力に応じた処理割り当てを各
WSについて行う。処理能力による処理割り当てについ
て説明すると、各WS毎に処理速度や記憶装置に容量等
の処理能力が異なる場合があり、また、検証の処理につ
いても図形数や処理の複数さ等その規模が処理毎に異な
る。このため、サーバWSでは、これらを考慮して適切
な処理に対するWSを割り当てる。即ち、処理の終了時
間を予測して各WSの処理終了時間が均一化するように
WSを割り当てる。
る場合があるため、処理能力に応じた処理割り当てを各
WSについて行う。処理能力による処理割り当てについ
て説明すると、各WS毎に処理速度や記憶装置に容量等
の処理能力が異なる場合があり、また、検証の処理につ
いても図形数や処理の複数さ等その規模が処理毎に異な
る。このため、サーバWSでは、これらを考慮して適切
な処理に対するWSを割り当てる。即ち、処理の終了時
間を予測して各WSの処理終了時間が均一化するように
WSを割り当てる。
【0034】割り当てが決定したら、クライアントWS
に処理に必要なデータを転送して実行を開始する。この
時、サーバWSは自分でデータを保持しているため、転
送は不要である。よってサーバWSでは、すぐ実行でき
る。またクライアントWSでは、処理終了後、結果をサ
ーバWSに転送する。
に処理に必要なデータを転送して実行を開始する。この
時、サーバWSは自分でデータを保持しているため、転
送は不要である。よってサーバWSでは、すぐ実行でき
る。またクライアントWSでは、処理終了後、結果をサ
ーバWSに転送する。
【0035】これらの処理を前処理が処理するまで繰り
返し行って、最後に、サーバWSでは使用者に実行結果
を表示して終了する。
返し行って、最後に、サーバWSでは使用者に実行結果
を表示して終了する。
【0036】具体的として、図7に、図5及び図6で示
した処理例を示す。処理1、2は、並列可能であるため
、クライアントWSがあれば並列処理を行う。次に処理
3は並列処理ができないため、サーバWSで実行する。 処理4〜9は並列処理可能なため、クライアントWSが
あれば並列処理を行う。このとき、最大5つのクライア
ントWSがあれば理想的であるが、これより少ない場合
は、分割して処理を行う。例えば、クライアントWSが
2台あれば、サーバWSと合わせて3つの処理ができる
ため、処理4、5、6と処理7、8、9と分割して実行
する)最後に、処理10〜15の処理をサーバWSで行
い実行を終了する。尚、処理3をサーバWSで実行する
と同時に、クライアントWSがあれば4、5、7、8も
同時に実行できるが、上述の実施例では説明を簡単にす
るためにこのような処理例を示した。
した処理例を示す。処理1、2は、並列可能であるため
、クライアントWSがあれば並列処理を行う。次に処理
3は並列処理ができないため、サーバWSで実行する。 処理4〜9は並列処理可能なため、クライアントWSが
あれば並列処理を行う。このとき、最大5つのクライア
ントWSがあれば理想的であるが、これより少ない場合
は、分割して処理を行う。例えば、クライアントWSが
2台あれば、サーバWSと合わせて3つの処理ができる
ため、処理4、5、6と処理7、8、9と分割して実行
する)最後に、処理10〜15の処理をサーバWSで行
い実行を終了する。尚、処理3をサーバWSで実行する
と同時に、クライアントWSがあれば4、5、7、8も
同時に実行できるが、上述の実施例では説明を簡単にす
るためにこのような処理例を示した。
【0037】この発明の動作としては、以上のようにな
るが、別のバリエーションとして、クライアントWSが
ないとき以外はサーバWSは主に処理手順の管理のみを
行ない、実際の処理はクライアントWSで行なうことも
可能である。このときは、サーバWSの負荷が軽くなる
ため、使用者が他の検証以外の処理を行うこともできる
。
るが、別のバリエーションとして、クライアントWSが
ないとき以外はサーバWSは主に処理手順の管理のみを
行ない、実際の処理はクライアントWSで行なうことも
可能である。このときは、サーバWSの負荷が軽くなる
ため、使用者が他の検証以外の処理を行うこともできる
。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように、この発明は、マス
クパターン検証において、複数のWSで処理を効率良く
分散して実行できるため、処理時間を短縮することがで
きる。また、他のWSを使用している人の処理を妨害す
ることもなくWSの資源の稼働率を向上させることがで
きる。
クパターン検証において、複数のWSで処理を効率良く
分散して実行できるため、処理時間を短縮することがで
きる。また、他のWSを使用している人の処理を妨害す
ることもなくWSの資源の稼働率を向上させることがで
きる。
【図1】この発明に用いられている装置の全体構造を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図2】ワークステーションの構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図3】この発明の処理動作を示すフローチャートであ
る。
る。
【図4】この発明において、クライアントワークステー
ションをチェックする動作を示すフローチャートである
。
ションをチェックする動作を示すフローチャートである
。
【図5】幾何学的チェックのルールを説明するための模
式図である。
式図である。
【図6】幾何学的チェックの処理手順を説明するための
説明図である。
説明図である。
【図7】図6の幾何学的チェックの並列処理を説明する
ための説明図である。
ための説明図である。
【図8】従来の検証方法を示すフローチャートである。
1 ネットワーク
10−1 ワークステーション
10−2 ワークステーション
10−3 ワークステーション
10−4 ワークステーション
Claims (2)
- 【請求項1】 記憶装置に格納されたマスクパターン
データを検証する演算及び制御等を行なう演算装置を備
えたワークステーションを、ネットワークで複数個接続
し、少なくとも1つのワークステーションが、検証処理
手順の管理を行なうとともに、検証処理が並列処理が可
能な処理手順の場合、負荷の少ない他のワークステーシ
ョンを用いて並列処理を行なうことを特徴とするパター
ン検証方法。 - 【請求項2】 上記検証処理手順の管理を行なうワー
クステーションにて、並列処理を行なう各ワークステー
ションの処理能力と処理するデータ量を比較し、各ワー
クステーションでの処理終了時間が均一化するように処
理を分配することを特徴とする請求項1に記載のパター
ン検証方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3166299A JPH04362784A (ja) | 1991-06-10 | 1991-06-10 | パターン検証方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3166299A JPH04362784A (ja) | 1991-06-10 | 1991-06-10 | パターン検証方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04362784A true JPH04362784A (ja) | 1992-12-15 |
Family
ID=15828774
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3166299A Pending JPH04362784A (ja) | 1991-06-10 | 1991-06-10 | パターン検証方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04362784A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0721239A (ja) * | 1993-06-22 | 1995-01-24 | Nec Corp | デザインルールチェック実行装置 |
| KR100491773B1 (ko) * | 1996-03-29 | 2005-09-26 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | 그래픽처리시스템 |
| JP2007287171A (ja) * | 2002-10-25 | 2007-11-01 | Mentor Graphics Corp | 遠隔コンピュータへのオペレーションの分散方法、装置及び記憶媒体 |
-
1991
- 1991-06-10 JP JP3166299A patent/JPH04362784A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0721239A (ja) * | 1993-06-22 | 1995-01-24 | Nec Corp | デザインルールチェック実行装置 |
| KR100491773B1 (ko) * | 1996-03-29 | 2005-09-26 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | 그래픽처리시스템 |
| JP2007287171A (ja) * | 2002-10-25 | 2007-11-01 | Mentor Graphics Corp | 遠隔コンピュータへのオペレーションの分散方法、装置及び記憶媒体 |
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