JPH04363914A - 同期クロック発生回路 - Google Patents
同期クロック発生回路Info
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- JPH04363914A JPH04363914A JP3193033A JP19303391A JPH04363914A JP H04363914 A JPH04363914 A JP H04363914A JP 3193033 A JP3193033 A JP 3193033A JP 19303391 A JP19303391 A JP 19303391A JP H04363914 A JPH04363914 A JP H04363914A
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
号を外部からの非同期入力信号に同期させて同期クロッ
クとして出力する同期クロック発生回路に関するもので
ある。
示すブロック図である。同図に示すように、非同期のト
リガ信号を入力する非同期信号入力端子2から非同期信
号S2がカウンタ402の一方の入力に与えられており
、カウンタ402の出力である分周イネーブル信号S4
02が分周器403に与えられている。また、高周波ク
ロック発生回路401の出力である高周波クロックS4
01がカウンタ402の他方の入力と分周器403の他
方の入力に与えられており、分周器403の出力である
同期クロックS5が同期クロック出力端子5に与えられ
ている。
同期クロックS5の周波数に比べて高い周波数である。
の同期クロック発生回路の動作を示すタイミングチャー
トである。同図に示すように、カウンタ402は非同期
信号入力端子2からの非同期信号S2のトリガを検出す
ると高周波クロック発生回路401の出力である高周波
クロックS401のカウントを開始する。カウント数が
一定数(この例では3)に達するとカウンタ402は分
周器403に対して分周イネーブル信号S402を出力
する。分周イネーブル信号S402により、分周器40
3は高周波クロックS401を定められた分周比(この
例では8)で分周をして同期クロックS5として同期ク
ロック出力端子5から出力する。
入力の立ち下がりが図13の破線で示した範囲で変動し
ても同期クロックS5は同じタイミングで出てくること
になる。すなわち、同期精度は高周波クロックS401
の周波数が高いほど良くなり、近似的に、同期精度=高
周波クロックS401の周期ということができる。
、高周波クロックS401の周波数に1GHzを必要と
することになる。
生回路は以上のように構成されているので、同期精度を
上げるために高周波クロックの周波数を高くすることが
必要であった。しかしながら、同期クロック発生回路内
部に発生するノイズの問題などがあり、高周波クロック
の周波数を高くすることには限界があり、高い同期精度
が得られないという問題点があった。
ためになされたもので、高周波クロックを必要とせず、
高い同期精度を有する同期クロック発生回路を得ること
を目的としている。
ロック発生回路は、非同期入力信号に同期した同期クロ
ックを発生する同期クロック発生回路において、遅延素
子を直列に複数個接続して構成され、基準クロックを遅
延素子で順次遅延させることにより複数の遅延クロック
を生成する遅延クロック生成回路と、非同期入力信号に
応答して活性化され、複数の遅延クロックそれぞれの制
御によって、所定の値を記憶する複数の記憶素子からな
る記憶回路と、複数の記憶素子の出力を制御信号として
、複数の遅延クロックの中から、非同期入力信号のエッ
ジに時間的に最も近いエッジを有するものを検出し、そ
の検出結果に応じて複数の遅延クロックの中から所望の
遅延クロックを選択し、これを同期クロックとして出力
するクロック選択回路とを備えて構成されている。
、非同期入力信号に同期した同期クロックを発生する同
期クロック発生回路において、遅延素子を直列に複数個
接続して構成され、基準クロックを遅延素子で順次遅延
させることにより複数の遅延クロックを生成する遅延ク
ロック生成回路と、非同期入力信号の制御によって複数
の遅延クロックをそれぞれ記憶する複数の記憶素子から
なる記憶回路と、複数の記憶素子の出力を制御信号とし
て、複数の遅延クロックの中から、非同期入力信号のエ
ッジに時間的に最も近いエッジを有するものを検出し、
その検出結果に応じて複数の遅延クロックの中から所望
の遅延クロックを選択し、これを同期クロックとして出
力するクロック選択回路とを備えて構成されている。
子で順次遅延させることにより複数の遅延クロックを生
成し、非同期入力信号に応答して活性化される複数の記
憶素子からなる記憶回路に、複数の遅延クロックそれぞ
れの制御によって、所定の値を記憶し、複数の記憶素子
の出力を制御信号として、複数の遅延クロックの中から
、非同期入力信号のエッジに時間的に最も近いエッジを
有するものを検出し、その検出結果に応じて複数の遅延
クロックの中から所望の遅延クロックを選択し、これを
同期クロックとして出力しているので、高周波クロック
発生回路を必要とせずに高精度の同期クロックを生成す
ることができる。
延素子で順次遅延させることにより複数の遅延クロック
を生成し、複数の記憶素子からなる記憶回路に、非同期
入力信号の制御によって複数の遅延クロックをそれぞれ
記憶し、複数の記憶素子の出力を制御信号として、複数
の遅延クロックの中から、非同期入力信号のエッジに時
間的に最も近いエッジを有するものを検出し、その検出
結果に応じて複数の遅延クロックの中から所望の遅延ク
ロックを選択し、これを同期クロックとして出力してい
るので、高周波クロック発生回路を必要とせずに高精度
の同期クロックを生成することができる。
ロック発生回路の回路図である。同図に示すように、基
準クロック入力端子1から入力される基準クロックS1
が遅延素子211の入力に、遅延素子211の出力であ
る遅延クロックDC1が遅延素子212の入力にという
ように、基準クロック入力端子1から入力される基準ク
ロックS1が遅延素子211ないし215に順々に与え
られている。
ロックDC1がフリップフロップ201の負論理のクロ
ック入力端子CKに、遅延素子212の出力である遅延
クロックDC2がフリップフロップ202の負論理のク
ロック入力端子CKにというように、各遅延素子211
ないし215の出力である遅延クロックDC1ないしD
C5が各フリップフロップ201ないし205の負論理
のクロック入力端子CKに1対1で与えられている。さ
らに、遅延クロックDC1ないしDC5はクロック選択
回路221の一方の入力端子群に与えられている。
る非同期信号S2がフリップフロップ201ないし20
5のリセット入力端子Rに与えられており、データ出力
端子Qからの出力信号S201ないしS205がクロッ
ク選択回路221の他方の入力端子群に与えられている
。さらに、クロック選択回路221の出力端子群の出力
信号S201DないしS205Dがフリップフロップ2
01ないし205それぞれのデータ入力端子Dに与えら
れている。
よびフリップフロップ205以降のフリップフロップは
省略されている。
る。同図に示すように、基準クロックS1が遅延素子2
11ないし215によって所定時間づつ遅延されて、遅
延クロックDC1ないしDC5が生成される。
レベルから“L”レベルへの立ち下がりトリガが発生す
ると、フリップフロップ201ないし205のリセット
入力端子Rが“L”レベルになり、フリップフロップ2
01ないし205は動作可能状態となる。従って、各フ
リップフロップ201ないし205はクロック入力端子
CKへ入力される信号の立ち下がりでデータを取り込み
始める。遅延素子211,212の出力である遅延クロ
ックDC1,DC2の立ち下がりエッジE1,E2が発
生したとき、非同期信号S2はまだ“H”レベルである
ので、このタイミングではフリップフロップ201,2
02は動作できない。このため、フリップフロップ20
1,202は遅延クロックDC1,DC2の次の立ち下
がりエッジE6,E7でデータ入力端子Dに与えられて
いるレベル(後述するようにフリップフロップ201の
データ入力端子Dは“H”レベル、フリップフロップ2
02のデータ入力端子Dは“L”レベル)を出力Qに出
力信号S201,S202として出力する。
である遅延クロックDC3ないしDC5の立ち下がりエ
ッジE3ないしE5が発生したとき、非同期信号S2は
“L”レベルであるので、フリップフロップ203ない
し205はこのタイミングでデータ入力端子Dに与えら
れているレベルを出力端子Qに出力信号S203ないし
S205として出力する。ここで、後述するように、ク
ロック選択回路221からフリップフロップ201ない
し205のデータ入力端子Dに与えられる入力信号S2
01DないしS205Dのレベルは最初はすべて“H”
レベルであるので、フリップフロップ203ないし20
5の出力信号S203ないしS205は“H”レベルと
なる。
ップ201ないし205の出力信号S201ないしS2
05のなかで時間的に最も早く立ち上がるものに対応す
る遅延クロック、すなわち非同期入力信号S2のエッジ
に時間的に最も近いエッジを有する遅延クロック(図2
の例では遅延クロックDC3)を遅延クロックDC1な
いしDC5のなかから検出する。次に、これをもとに遅
延クロックDC1ないしDC5のなかから所望の遅延ク
ロック(図2の例では、同じく遅延クロックDC3)を
選択して、同期クロックS3として同期クロック出力端
子3から出力するとともに、その選択状態が以後変化し
ないように、フリップフロップ201ないし205のデ
ータ入力端子Dのレベルを設定する。なお、クロック選
択回路221の詳細については後述する。
る。図3はこの発明の第2の実施例を示す同期クロック
発生回路の回路図である。同図に示すように、基準クロ
ック入力端子1から入力される基準クロックS1が遅延
素子211の入力に、遅延素子211の出力である遅延
クロックDC1が遅延素子212の入力にというように
、基準クロック入力端子1から入力される基準クロック
S1が遅延素子211ないし215に順々に与えられて
いる。
ロックDC1がフリップフロップ201の負論理のクロ
ック入力端子CKに、遅延素子212の出力である遅延
クロックDC2がフリップフロップ202の負論理のク
ロック入力端子CKにというように、各遅延素子211
ないし215の出力である遅延クロックDC1ないしD
C5が各フリップフロップ201ないし205の負論理
のクロック入力端子CKに1対1で与えられている。さ
らに、遅延クロックDC1ないしDC5はクロック選択
回路221の一方の入力端子群に与えられている。
る非同期信号S2がフリップフロップ201ないし20
5のセット入力端子Sに与えられている。さらに、クロ
ック選択回路221の出力端子群の出力信号S201D
ないしS205Dがフリップフロップ201ないし20
5それぞれのデータ入力端子Dに接続されている。
よびフリップフロップ205以降のフリップフロップは
省略されている。
比べ、後述するクロック選択回路221の出力信号S2
01DないしS205Dの極性が反転され、図2のタイ
ミングチャートで示した各信号のうち、フリップフロッ
プ201ないし205の出力信号S201ないしS20
5の極性がすべて反転する以外は、先の実施例と同じで
ある。
同期信号S2のトリガ入力が図2の破線で示した範囲で
変動しても、各フリップフロップ201ないし205の
出力信号S201ないしS205の状態は変化せず、同
期クロックS3は同じタイミングで出てくることになる
。すなわち、同期精度は遅延素子211ないし215の
1段分の遅延値に近似できる。つまり、近似的に、同期
精度=遅延素子1段分の遅延値ということができる。 半導体集積回路においては、遅延素子1段分の遅延値を
1ns以下にとることが可能であり、従来の同期クロッ
ク発生回路に比べて、非常に高い同期精度を得ることが
できる。
回路221の一構成例を示す回路図である。同図に示す
ように、クロック選択回路221の一方の入力端子群に
与えられたフリップフロップ201ないし205の出力
信号S201ないしS205がフリップフロップ出力変
化点検出回路301に入力され、フリップフロップ出力
変化点検出回路301の出力がスイッチ311ないし3
15の導通,非導通を制御するゲート端子Gにそれぞれ
接続されている。また、遅延素子212ないし216(
図1,図3には遅延素子216は図示せず)の出力であ
る遅延クロックDC2ないしDC6がスイッチ311な
いし315の入力端子に与えられており、スイッチ31
1ないし315それぞれの出力端子が多入力OR回路3
21の入力に接続されている。さらに、多入力OR回路
321の出力が同期クロック出力端子3に接続されてい
る。また、フリップフロップ出力変化点検出回路301
の出力信号S201DないしS205Dが図1,図3の
フリップフロップ201ないし205のデータ入力端子
Dに与えられている。
であるフリップフロップ出力変化点検出回路301の一
構成例を示す回路図である。同図に示すように、フリッ
プフロップ201ないし205の出力信号S201ない
しS205の隣り合う2つのフリップフロップの出力信
号の一方を反転させて他方を反転せずにNAND回路5
01ないし505に入力することによって、一方が“L
”レベル他方が“H”レベルのときNAND回路311
ないし315それぞれの出力S311ないしS315が
“L”レベルになり、それ以外のときは“H”レベルに
なるように構成されている。さらに、NAND回路50
1ないし505の出力は前記信号S201DないしS2
05Dとしても、図1のフリップフロップ201ないし
205のデータ入力端子Dに与えられている。なお、図
3の実施例の場合、前述したように、NAND回路50
1ないし505の出力を反転したものが信号S201D
ないしS205Dとなる。
フリップフロップ出力変化点検出回路の動作について説
明する。フリップフロップ出力変化点検出回路301は
フリップフロップ201ないし205の出力信号S20
1ないしS205のうち、隣り合う出力信号同士を一方
の入力が反転されたNAND回路501ないし505に
よって比較し、その2つの入力のレベルが前述した定め
られたパターンになったときにその出力S311ないし
S315のうちのひとつを“L”レベルにして(それま
ではすべて“H”レベル状態にある)対応するスイッチ
311ないし315のうちのひとつを導通させるように
動作する。図2の例ではNAND回路502の出力S3
12が“L”レベルになり、対応のスイッチ312が導
通する。スイッチ311ないし315のうちのひとつが
導通すると、遅延クロックDC1ないしDC5のうちの
対応するひとつ(図2の例では遅延クロックDC3)が
導通したスイッチを介してOR回路321の入力に与え
られ、OR回路321の出力から同期クロックS3とし
て同期クロック出力端子3に出力される。
に対応するNAND回路502の“L”レベルの出力が
、信号S202Dとしてフリップフロップ202のデー
タ入力端子Dに帰還されるので、遅延クロックDC2の
立ち下がりエッジE7が生じてもフリップフロップ20
2の出力信号S202は“L”レベルを保ち、このため
NAND回路502の出力の“L”レベルも変化しない
。
の構成例を示す回路図である。同図に示すように、遅延
クロックとスイッチの接続関係が図4に示したクロック
選択回路と異なる。すなわち、遅延クロックDC1〜D
C5がそれぞれスイッチ311ないし315の入力端子
に接続されている。その他の構成は図4に示したクロッ
ク選択回路と同じであるので、説明は省略する。
図4に示すクロック選択回路と同一タイミング条件のも
とで、同期クロック出力端子3から出力される同期クロ
ックS3が異なる。すなわち、例えば、図4において、
同期クロックDC2が選択されるタイミング条件のとき
に、図6において同期クロックDC1が選択され、図4
において、同期クロックDC2が選択されるタイミング
条件のときに、図6において同期クロックDC1が選択
される。このように、同期クロックS3として同期クロ
ック出力端子3から出力される遅延クロックを1つずら
せることができる。このように、遅延クロックとスイッ
チの接続関係を、変えることによって、所望の遅延クロ
ックを同期クロックS3として、同期クロック出力端子
から出力することができる。
11からの遅延クロックDC1が同期クロックS3とし
て選択されない構成となっており、図6の構成では、最
後の遅延素子が出力する遅延クロックが同期クロックS
3として選択されない構成となっている。しかし、図4
においては、遅延素子の数を基準クロックS1が1周期
分以上遅延できるように用意すれば、遅延クロックDC
1と同相の遅延クロックが遅延クロックDC5以降に現
れるので、遅延クロックDC1と同相の遅延クロックを
同期クロックS3として選択することができる。また、
図6においても、遅延素子の数を基準クロックS1が1
周期分以上遅延できるように用意すれば、最後の遅延素
子が出力する遅延クロックと同相の遅延クロックが最後
の遅延素子の出力する遅延クロック以前に現れるので、
最後の遅延素子が出力する遅延クロックと同相の遅延ク
ロックを同期クロックS3として選択することができる
。
01ないし205のクロック入力端子CKの有効エッジ
をネガティブエッジとしたがポジティブエッジとしても
良い。
関係は、図4及び図6に示したものに限る必要はない。
2から与えられる非同期信号S2のエッジに対し時間的
に後でもっとも近いエッジを有する遅延クロックをもと
に同期クロックを選択しているが、非同期信号S2のエ
ッジに対し時間的に前でもっとも近いエッジを有する遅
延クロックをもとに同期クロックを選択してもよいし、
前後関係なく時間的にもっとも近いエッジを有する遅延
クロックをもとに同期クロックを選択しても良い。
説明する。図7はこの発明の第3の実施例を示す同期ク
ロック発生回路の回路図である。同図に示すように、基
準クロック入力端子1から入力される基準クロックS1
が遅延素子211の入力に、遅延素子211の出力であ
る遅延クロックDC1が遅延素子212の入力にという
ように、基準クロック入力端子1から入力される基準ク
ロックS1が遅延素子211ないし215に順々に与え
られている。
ロックDC1がフリップフロップ201のデータ入力端
子Dに、遅延素子212の出力である遅延クロックDC
2がフリップフロップ202のデータ入力端子Dにとい
うように、各遅延素子211ないし215の出力である
遅延クロックDC1ないしDC5が各フリップフロップ
201ないし205のデータ入力端子Dに1対1で与え
られている。さらに、遅延クロックDC1ないしDC5
はクロック選択回路221の一方の入力端子群に与えら
れている。
る非同期信号S2がフリップフロップ201ないし20
5の負論理のクロック入力端子CKに与えられている。 さらに、リセット信号入力端子4から与えられるリセッ
ト信号S4がフリップフロップ201ないし205のリ
セット入力端子Rに与えられている。また、各フリップ
フロップ201ないし205のデータ出力端子Qからの
出力信号S201ないしS205がクロック選択回路2
21の他方の入力端子群に与えられているなお、遅延素
子215以降の遅延素子、およびフリップフロップ20
5以降のフリップフロップは省略されている。
る。同図に示すように、基準クロックS1が遅延素子2
11ないし215によって所定時間づつ遅延されて、遅
延クロックDC1ないしDC5が生成される。
ット信号S4が“L”レベルに立ち下がり、フリップフ
ロップ201ないし205のリセット入力端子Rが“L
”レベルになるとフリップフロップ201ないし205
が動作可能状態となる。
“H”レベルから“L”レベルへの立ち下がりトリガが
発生すると、フリップフロップ201ないし205はそ
のクロック入力端子CKへ入力される非同期信号S2の
の立ち下がりでデータ入力端子Dのデータを取り込む。 この時、遅延素子211,212の出力である遅延クロ
ックDC1,DC2は“L”レベル,遅延素子213な
いし215の出力である遅延クロックDC3ないしDC
5は“H”レベルであるので、フリップフロップ201
ないし205の出力信号S201ないしS205は図示
のようになる。
ップ201ないし205の出力信号S201ないしS2
05のなかで時間的に最も早く立ち上がるものに対応す
る遅延クロック、すなわち非同期入力信号S2のエッジ
に時間的に最も近いエッジを有する遅延クロック(図8
の例では遅延クロックDC3)を遅延クロックDC1な
いしDC5のなかから検出する。次に、これをもとに遅
延クロックDC1ないしDC5のなかから所望の遅延ク
ロック(図8の例では、同じく遅延クロックDC3)を
選択して、同期クロックS3として同期クロック出力端
子3から出力する。なお、クロック選択回路221の詳
細については後述する。
2のトリガ入力が図8の破線で示した範囲で変動しても
、各フリップフロップ201ないし205の出力信号S
201ないしS205の状態は変化せず、同期クロック
S3は同じタイミングで出てくることになる。すなわち
、同期精度は遅延素子211ないし215の1段分の遅
延値に近似できる。つまり、近似的に、同期精度=遅延
素子1段分の遅延値 ということができる。半導体集積回路においては、遅延
素子1段分の遅延値を1ns以下にとることが可能であ
り、従来の同期クロック発生回路に比べて、非常に高い
同期精度を得ることができる。
1の一構成例を示す回路図である。同図に示すように、
クロック選択回路221の一方の入力端子群に与えられ
たフリップフロップ201ないし205の出力信号S2
01ないしS205がフリップフロップ出力変化点検出
回路301に入力され、フリップフロップ出力変化点検
出回路301の出力がスイッチ311ないし315の導
通,非導通を制御するゲート端子Gにそれぞれ接続され
ている。また、遅延素子212ないし216(図7には
遅延素子216は図示せず)の出力である遅延クロック
DC2ないしDC6がスイッチ311ないし315の入
力端子に与えられており、スイッチ311ないし315
それぞれの出力端子が多入力OR回路321の入力に接
続されている。さらに、多入力OR回路321の出力が
同期クロック出力端子3に接続されている。
素であるフリップフロップ出力変化点検出回路301の
一構成例を示す回路図である。同図に示すように、フリ
ップフロップ201ないし205の出力信号S201な
いしS205の隣り合う2つのフリップフロップの出力
信号の一方を反転させて他方を反転せずにNAND回路
501ないし505に入力することによって、一方が“
L”レベル他方が“H”レベルのときNAND回路の出
力S311ないしS315が“L”レベルになり、それ
以外のときは“H”レベルになるように構成されている
。
のフリップフロップ出力変化点検出回路の動作について
説明する。フリップフロップ出力変化点検出回路301
はフリップフロップ201ないし205の出力信号S2
01ないしS205のうち、隣り合う出力信号同士を一
方の入力が反転されたNAND回路501ないし505
によって比較し、その2つの入力のレベルが前述した定
められたパターンになったときにその出力S311ない
しS315のうちのひとつを“L”レベルにして対応す
るスイッチ311ないし315のうちのひとつを導通さ
せるように動作する。図8の例ではNAND回路502
の出力S312が“L”レベルになり、対応のスイッチ
312が導通する。スイッチ311ないし315のうち
のひとつが導通すると、遅延クロックDC2ないしDC
6のうちの対応するひとつ(図8の例では遅延クロック
DC3)が導通したスイッチを介して多入力OR回路3
21の入力に与えられ、多入力OR回路321の出力か
ら同期クロックS3として同期クロック出力端子3に出
力される。
他の構成例を示す回路図である。同図に示すように、遅
延クロックとスイッチの接続関係が図9に示したクロッ
ク選択回路と異なる。すなわち、遅延クロックDC1〜
DC5がそれぞれスイッチ311ないし315の入力端
子に接続されている。その他の構成は図9に示したクロ
ック選択回路と同じであるので、説明は省略する。
、図9に示すクロック選択回路と同一タイミング条件の
もとで、同期クロック出力端子3から出力される同期ク
ロックS3が異なる。すなわち、例えば、図9において
、同期クロックDC2が選択されるタイミング条件のと
きに、図11において同期クロックDC1が選択され、
図9において、同期クロックDC2が選択されるタイミ
ング条件のときに、図11において同期クロックDC1
が選択される。このように、同期クロックS3として同
期クロック出力端子3から出力される遅延クロックを1
つずらせることができる。このように、遅延クロックと
スイッチの接続関係を、変えることによって、所望の遅
延クロックを同期クロックS3として、同期クロック出
力端子から出力することができる。
11からの遅延クロックDC1が同期クロックS3とし
て選択されない構成となっており、図11の構成では、
最後の遅延素子が出力する遅延クロックが同期クロック
S3として選択されない構成となっている。しかし、図
9においては、遅延素子の数を基準クロックS1が1周
期分以上遅延できるように用意すれば、遅延クロックD
C1と同相の遅延クロックが遅延クロックDC5以降に
現れるので、遅延クロックDC1と同相の遅延クロック
を同期クロックS3として選択することができる。また
、図11においても、遅延素子の数を基準クロックS1
が1周期分以上遅延できるように用意すれば、最後の遅
延素子が出力する遅延クロックと同相の遅延クロックが
最後の遅延素子の出力する遅延クロック以前に現れるの
で、最後の遅延素子が出力する遅延クロックと同相の遅
延クロックを同期クロックS3として選択することがで
きる。
1ないし205のクロック入力端子CKの有効エッジを
ネガティブエッジとしたがポジティブエッジとしても良
い。
関係は、図9及び図11に示したものに限る必要はない
。
2から与えられる非同期信号S2のエッジに対し時間的
に後でもっとも近いエッジを有する遅延クロックをもと
に、同期クロックを選択しているが、非同期信号S2の
エッジに対し時間的に前でもっとも近いエッジを有する
遅延クロックをもとに同期クロックを選択しても良いし
、前後関係なく時間的にもっとも近いエッジを有する遅
延クロックをもとに同期クロックを選択しても良い。
端子4からのリセット信号S4をフリップフロップ20
1ないし205のリセット入力端子Rに与えたが、リセ
ット信号入力端子4に代えてセット信号入力端子を設け
、この端子からのセット信号をフリップフロップ201
ないし205のセット入力端子に与えるようにしてもよ
く、この場合にも上記実施例と同様の効果を奏する。
れば、非同期入力信号に同期した同期クロックを発生す
る同期クロック発生回路において、遅延素子を直列に複
数個接続して構成され、基準クロックを遅延素子で順次
遅延させることにより複数の遅延クロックを生成する遅
延クロック生成回路と、非同期入力信号に応答して活性
化され、複数の遅延クロックそれぞれの制御によって、
所定の値を記憶する複数の記憶素子からなる記憶回路と
、複数の記憶素子の出力を制御信号として、複数の遅延
クロックの中から、非同期入力信号のエッジに時間的に
最も近いエッジを有するものを検出し、その検出結果に
応じて複数の遅延クロックの中から所望の遅延クロック
を選択し、これを同期クロックとして出力するクロック
選択回路とを設けたので、高周波クロック発生回路が不
要で、同期精度の高い同期クロック発生回路が得られる
という効果がある。
期入力信号に同期した同期クロックを発生する同期クロ
ック発生回路において、遅延素子を直列に複数個接続し
て構成され、基準クロックを遅延素子で順次遅延させる
ことにより複数の遅延クロックを生成する遅延クロック
生成回路と、非同期入力信号の制御によって複数の遅延
クロックをそれぞれ記憶する複数の記憶素子からなる記
憶回路と、複数の記憶素子の出力を制御信号として、複
数の遅延クロックの中から、非同期入力信号のエッジに
時間的に最も近いエッジを有するものを検出し、その検
出結果に応じて複数の遅延クロックの中から所望の遅延
クロックを選択し、これを同期クロックとして出力する
クロック選択回路とを設けたので、高周波クロック発生
回路が不要で、同期精度の高い同期クロック発生回路が
得られるという効果がある。
生回路の回路図である。
トである。
生回路の回路図である。
す回路図である。
フリップフロップ出力変化点検出回路の一構成例を示す
回路図である。
す回路図である。
生回路の回路図である。
ある。
図である。
リップフロップ出力変化点検出回路の一構成例を示す回
路図である。
回路図である。
ある。
チャートである。
〜315 スイッチ 321 多入力OR回路 401〜405 一方の入力が反転されたNAND回
路501〜505 NAND回路
Claims (2)
- 【請求項1】 非同期入力信号に同期した同期クロッ
クを発生する同期クロック発生回路であって、遅延素子
を直列に複数個接続して構成され、基準クロックを前記
遅延素子で順次遅延させることにより複数の遅延クロッ
クを生成する遅延クロック生成回路と、前記非同期入力
信号に応答して活性化され、前記複数の遅延クロックそ
れぞれの制御によって、所定の値を記憶する複数の記憶
素子からなる記憶回路と、前記複数の記憶素子の出力を
制御信号として、前記複数の遅延クロックの中から、前
記非同期入力信号のエッジに時間的に最も近いエッジを
有するものを検出し、その検出結果に応じて前記複数の
遅延クロックの中から所望の遅延クロックを選択し、こ
れを前記同期クロックとして出力するクロック選択回路
とを備える同期クロック発生回路。 - 【請求項2】 非同期入力信号に同期した同期クロッ
クを発生する同期クロック発生回路であって、遅延素子
を直列に複数個接続して構成され、基準クロックを前記
遅延素子で順次遅延させることにより複数の遅延クロッ
クを生成する遅延クロック生成回路と、前記非同期入力
信号の制御によって前記複数の遅延クロックをそれぞれ
記憶する複数の記憶素子からなる記憶回路と、前記複数
の記憶素子の出力を制御信号として、前記複数の遅延ク
ロックの中から、前記非同期入力信号のエッジに時間的
に最も近いエッジを有するものを検出し、その検出結果
に応じて前記複数の遅延クロックの中から所望の遅延ク
ロックを選択し、これを前記同期クロックとして出力す
るクロック選択回路とを備える同期クロック発生回路。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3193033A JP2792759B2 (ja) | 1990-08-03 | 1991-08-01 | 同期クロック発生回路 |
| DE4142825A DE4142825A1 (de) | 1990-12-26 | 1991-12-23 | Synchronisierter taktgenerator |
| US08/289,837 US5491438A (en) | 1990-12-26 | 1994-08-12 | Synchronized clock generating apparatus |
| US08/449,496 US5534805A (en) | 1990-12-26 | 1995-05-24 | Synchronized clock generating apparatus |
Applications Claiming Priority (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2-207285 | 1990-08-03 | ||
| JP2-207284 | 1990-08-03 | ||
| JP20728590 | 1990-08-03 | ||
| JP20728490 | 1990-08-03 | ||
| JP3193033A JP2792759B2 (ja) | 1990-08-03 | 1991-08-01 | 同期クロック発生回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04363914A true JPH04363914A (ja) | 1992-12-16 |
| JP2792759B2 JP2792759B2 (ja) | 1998-09-03 |
Family
ID=27326710
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3193033A Expired - Fee Related JP2792759B2 (ja) | 1990-08-03 | 1991-08-01 | 同期クロック発生回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2792759B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5459419A (en) * | 1993-02-03 | 1995-10-17 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Synchronizing pulse generating circuit |
| US7116746B2 (en) | 2002-04-03 | 2006-10-03 | Renesas Technology Corp. | Synchronous clock phase control circuit |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61227423A (ja) * | 1985-04-02 | 1986-10-09 | Nec Corp | 同期回路 |
| JPS637021A (ja) * | 1986-06-27 | 1988-01-12 | Fuji Xerox Co Ltd | 同期化多相クロツク生成装置 |
| JPS6341466A (ja) * | 1986-07-31 | 1988-02-22 | チバ ― ガイギー アクチエンゲゼルシャフト | 3−アリ−ルウラシル誘導体およびそれらを含有する雑草防除組成物 |
| JPS63122066A (ja) * | 1986-11-12 | 1988-05-26 | Hitachi Ltd | クロツク同期回路 |
| JPS63202129A (ja) * | 1987-02-17 | 1988-08-22 | Sony Corp | 同期式発振回路 |
-
1991
- 1991-08-01 JP JP3193033A patent/JP2792759B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US7116746B2 (en) | 2002-04-03 | 2006-10-03 | Renesas Technology Corp. | Synchronous clock phase control circuit |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2792759B2 (ja) | 1998-09-03 |
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