JPH04364440A - 熱衝撃試験装置 - Google Patents
熱衝撃試験装置Info
- Publication number
- JPH04364440A JPH04364440A JP13997491A JP13997491A JPH04364440A JP H04364440 A JPH04364440 A JP H04364440A JP 13997491 A JP13997491 A JP 13997491A JP 13997491 A JP13997491 A JP 13997491A JP H04364440 A JPH04364440 A JP H04364440A
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- JP
- Japan
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- test
- chamber
- temperature
- air
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- Pending
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- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、各種材料，各種機器の
部品等を高温・低温の雰囲気に交互にさらして、上記材
料等の熱ストレス特性，耐久性等を試験するための熱衝
撃試験装置に関する。
部品等を高温・低温の雰囲気に交互にさらして、上記材
料等の熱ストレス特性，耐久性等を試験するための熱衝
撃試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】熱衝撃試験装置は特開昭５８−４２９５
２ 号公報に記載のように試験室と低温気体供給室と、
高温気体供給室の３つの断熱された室により構成されて
いた。この場合常温試験時では外気を導入するため、外
湿の外気を導入すると、着霜により運転できなくなる。
２ 号公報に記載のように試験室と低温気体供給室と、
高温気体供給室の３つの断熱された室により構成されて
いた。この場合常温試験時では外気を導入するため、外
湿の外気を導入すると、着霜により運転できなくなる。
【０００３】このため試験を中断して低温気体供給室の
除霜を行なっていた。
除霜を行なっていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、着霜
による低温室内の冷却能力低下により、一時的に試験を
中断して低温室内を除霜し、再度所定の温度まで低温室
内を冷却する必要があった。この為連続的に熱衝撃試験
を実施できず、試験期間が増大する問題があった。
による低温室内の冷却能力低下により、一時的に試験を
中断して低温室内を除霜し、再度所定の温度まで低温室
内を冷却する必要があった。この為連続的に熱衝撃試験
を実施できず、試験期間が増大する問題があった。
【０００５】本発明の目的は着霜の要因となる外気導入
を廃止し、除霜による試験の中断時間を削除することに
ある。
を廃止し、除霜による試験の中断時間を削除することに
ある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的は、試験室に対
して、独立した乾燥室気保管室を装備し、常温試験時に
この空気を試験室内に流通させることにより達成される
。
して、独立した乾燥室気保管室を装備し、常温試験時に
この空気を試験室内に流通させることにより達成される
。
【０００７】
【作用】試験室に対し独立した低温室，高温室，乾燥室
気保管室を有する熱衝撃試験装置に於て、低温試験から
高温試験、あるいは高温試験から低温試験に移行する間
に行なう常温試験の際、乾燥空気保管室の空気を試験室
内に流入させ、試験室内を常温に戻す。これにより試験
室，低温室，高温室に外気侵入が無くなり、低温室内の
冷却装置の着霜を防止することが出来るため、長期間の
熱衝撃試験が可能になる。
気保管室を有する熱衝撃試験装置に於て、低温試験から
高温試験、あるいは高温試験から低温試験に移行する間
に行なう常温試験の際、乾燥空気保管室の空気を試験室
内に流入させ、試験室内を常温に戻す。これにより試験
室，低温室，高温室に外気侵入が無くなり、低温室内の
冷却装置の着霜を防止することが出来るため、長期間の
熱衝撃試験が可能になる。
【０００８】
【実施例】以下に本発明の一実施例を図１，図２により
説明する。
説明する。
【０００９】図１にて試験室１は断熱された室であり、
本試験室１の上部には同様に断熱された高温室５がある
。高温室２には加熱器３，送風機４，蓄熱材５が配置さ
れ、高温室２と試験室１の相対する断熱部には熱風吹出
口６と該吹出口６を開閉する高温ダンパ７、及び熱風吸
入口８と該吸入口８を開閉する高温ダンパ９が設けられ
ている。
本試験室１の上部には同様に断熱された高温室５がある
。高温室２には加熱器３，送風機４，蓄熱材５が配置さ
れ、高温室２と試験室１の相対する断熱部には熱風吹出
口６と該吹出口６を開閉する高温ダンパ７、及び熱風吸
入口８と該吸入口８を開閉する高温ダンパ９が設けられ
ている。
【００１０】また、試験室１の下部には試験室１と同様
に断熱された低温室１０がある。低温室１０には冷却器
１１，加熱器１２，送風機１３，蓄冷材２４が配置され
、低温室１０と試験室１の相対する断熱部には冷風吹出
口１４と該吹出口１４を開閉する低温ダンパ１５、及び
冷風吸入口１６と該吸入口１６を開閉する低温ダンパ１
７が設けられている。
に断熱された低温室１０がある。低温室１０には冷却器
１１，加熱器１２，送風機１３，蓄冷材２４が配置され
、低温室１０と試験室１の相対する断熱部には冷風吹出
口１４と該吹出口１４を開閉する低温ダンパ１５、及び
冷風吸入口１６と該吸入口１６を開閉する低温ダンパ１
７が設けられている。
【００１１】また、高温室２の上部には試験室１，高温
室２，低温室１０と同様に断熱された乾燥空気保管室１
８がある。乾燥空気保管室１８は、試験室１内部を常温
に戻すのに必要な乾燥空気（図示せず）が保管され、乾
燥空気保管室１８と試験室１の相対する断熱部には乾燥
空気吹出口１９と該吹出口１９を開閉する常温ダンパ２
０、及び乾燥空気吸込口２１と該吸入口２１を開閉する
常温ダンパ２２及び送風機２３が設けられている。
室２，低温室１０と同様に断熱された乾燥空気保管室１
８がある。乾燥空気保管室１８は、試験室１内部を常温
に戻すのに必要な乾燥空気（図示せず）が保管され、乾
燥空気保管室１８と試験室１の相対する断熱部には乾燥
空気吹出口１９と該吹出口１９を開閉する常温ダンパ２
０、及び乾燥空気吸込口２１と該吸入口２１を開閉する
常温ダンパ２２及び送風機２３が設けられている。
【００１２】次に本発明の動作について説明する。
【００１３】まず冷却衝撃試験に先だって高温室２の空
気は加熱器３，送風機４，蓄熱材５を通って加熱器３に
戻る循環路により所定温度まで加熱される。
気は加熱器３，送風機４，蓄熱材５を通って加熱器３に
戻る循環路により所定温度まで加熱される。
【００１４】一方低温室１０の空気も冷却器１１，送風
機１３，蓄冷材２４を通って冷却器１１に戻る循環路に
より所定温度まで冷却される。なお所定温度に冷却され
た空気は加熱器１２によりこの温度で一定に保持される
。このように高温室２の空気と低温室１０の空気の予熱
・予冷が準備されると、初めて高温ダンパ７・９が開と
なり、高温室２の加熱された空気が熱風となって熱風吹
出口６より試験室１に流入し、試験室１内を循環し、熱
風吸込口８から高温室２に戻る。この熱風の循環により
試験室１内に配置された試料（図示せず）に高温の温度
ストレスを与える。そして所定の試験時間が経過した後
、高温ダンパ７・９が閉じて高温試験を完了する。
機１３，蓄冷材２４を通って冷却器１１に戻る循環路に
より所定温度まで冷却される。なお所定温度に冷却され
た空気は加熱器１２によりこの温度で一定に保持される
。このように高温室２の空気と低温室１０の空気の予熱
・予冷が準備されると、初めて高温ダンパ７・９が開と
なり、高温室２の加熱された空気が熱風となって熱風吹
出口６より試験室１に流入し、試験室１内を循環し、熱
風吸込口８から高温室２に戻る。この熱風の循環により
試験室１内に配置された試料（図示せず）に高温の温度
ストレスを与える。そして所定の試験時間が経過した後
、高温ダンパ７・９が閉じて高温試験を完了する。
【００１５】また、低温試験では、低温ダンパ１５・１
７が開となり、低温室１０の冷却された空気が冷風とな
って冷風吸出口１４より試験室１に流入し、試験室１内
を循環し、冷風吸込口１６から低温室１０に戻る。この
冷風の循環により試験室１内に配置された試料（図示せ
ず）に低温の温度ストレスを与える。そして所定の試験
時間が経過した後、低温ダンパ１５・１７が閉じて低温
試験を完了する。
７が開となり、低温室１０の冷却された空気が冷風とな
って冷風吸出口１４より試験室１に流入し、試験室１内
を循環し、冷風吸込口１６から低温室１０に戻る。この
冷風の循環により試験室１内に配置された試料（図示せ
ず）に低温の温度ストレスを与える。そして所定の試験
時間が経過した後、低温ダンパ１５・１７が閉じて低温
試験を完了する。
【００１６】また図２は一般的な熱衝撃試験に於ける、
試験室１内の温度変化を示したものである。
試験室１内の温度変化を示したものである。
【００１７】前述のとおり試験室１に熱風と冷風を交互
に入れて熱衝撃試験が行なわれるが、一般的に定められ
ている試験方法では、図２に示すとおり、低温から高温
、あるいは高温から低温への試験の切換わり時、常温試
験を実施するものとしている。
に入れて熱衝撃試験が行なわれるが、一般的に定められ
ている試験方法では、図２に示すとおり、低温から高温
、あるいは高温から低温への試験の切換わり時、常温試
験を実施するものとしている。
【００１８】このため、常温試験では、常温ダンパ２０
・２２が開となり、乾燥空気保管室１８内の密閉・乾燥
された常温空気が乾燥空気吹出口１９より試験室１内に
流入し、実線矢印に示すとおり試験室１内を循環し、乾
燥空気吸込口２１から乾燥空気保管室１８に戻る。この
常温空気の循環により試験室１内を常温に戻す。そして
、所定の試験時間が経過した後、常温ダンパ２０・２２
が閉じて常温試験を完了する。
・２２が開となり、乾燥空気保管室１８内の密閉・乾燥
された常温空気が乾燥空気吹出口１９より試験室１内に
流入し、実線矢印に示すとおり試験室１内を循環し、乾
燥空気吸込口２１から乾燥空気保管室１８に戻る。この
常温空気の循環により試験室１内を常温に戻す。そして
、所定の試験時間が経過した後、常温ダンパ２０・２２
が閉じて常温試験を完了する。
【００１９】このように、試験室１内にはそれぞれ密閉
された高温室２，低温室１０，乾燥空気保管室１８より
空気が流入・循環して試験を実施するため、外気の導入
がなくなり、低温室１０及び試験室１内の着霜が解消さ
れる。このため、試験を一時的に中断し、低温室１０及
び試験室１内の除霜を行う作業が不要となる。
された高温室２，低温室１０，乾燥空気保管室１８より
空気が流入・循環して試験を実施するため、外気の導入
がなくなり、低温室１０及び試験室１内の着霜が解消さ
れる。このため、試験を一時的に中断し、低温室１０及
び試験室１内の除霜を行う作業が不要となる。
【００２０】
【発明の効果】本発明によれば、低温室，高温室及び乾
燥空気保管室を並設しそれぞれの試験において試験室に
多湿の外気が侵入するのを排除したため、低温室，試験
室内の除霜が不要となった。このため長期間に渡り連続
した熱衝撃試験が可能となり、試験期間の短縮、及び試
料の不良箇所の早期発見が可能となった。
燥空気保管室を並設しそれぞれの試験において試験室に
多湿の外気が侵入するのを排除したため、低温室，試験
室内の除霜が不要となった。このため長期間に渡り連続
した熱衝撃試験が可能となり、試験期間の短縮、及び試
料の不良箇所の早期発見が可能となった。
【図１】本発明の一実施例の熱衝撃試験装置の通常の常
温試験状態を示す縦断面図である。
温試験状態を示す縦断面図である。
【図２】一般的な熱衝撃試験に於ける試験室内の温度変
化を示した図である。
化を示した図である。
１…試験室、２…高温室、３…加熱器、４…送風機、５
…蓄熱材、６…熱風吹出口、７，９…高温ダンパ、８…
熱風吸込口、１０…低温室、１１…冷却器、１２…加熱
器、１３…送風機、１４…冷風吹出口、１５，１７…低
温ダンパ、１６…冷風吸込口、１８…乾燥空気保管室、
１９…乾燥空気吹出口、２０，２２…常温ダンパ、２１
…乾燥空気吸込口、２３…送風機、２４…蓄冷材。
…蓄熱材、６…熱風吹出口、７，９…高温ダンパ、８…
熱風吸込口、１０…低温室、１１…冷却器、１２…加熱
器、１３…送風機、１４…冷風吹出口、１５，１７…低
温ダンパ、１６…冷風吸込口、１８…乾燥空気保管室、
１９…乾燥空気吹出口、２０，２２…常温ダンパ、２１
…乾燥空気吸込口、２３…送風機、２４…蓄冷材。
Claims (1)
- 【請求項１】試験室に対し独立した低温室・高温室を備
えた熱衝撃試験装置に於いて、乾燥空気保管室を備えた
ことを特徴とする熱衝撃試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13997491A JPH04364440A (ja) | 1991-06-12 | 1991-06-12 | 熱衝撃試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13997491A JPH04364440A (ja) | 1991-06-12 | 1991-06-12 | 熱衝撃試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04364440A true JPH04364440A (ja) | 1992-12-16 |
Family
ID=15258005
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13997491A Pending JPH04364440A (ja) | 1991-06-12 | 1991-06-12 | 熱衝撃試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04364440A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007081022A (ja) * | 2005-09-13 | 2007-03-29 | Oki Electric Ind Co Ltd | 冷熱衝撃試験装置、冷熱衝撃試験方法及び半導体ウェハの検査方法 |
| KR20200112226A (ko) * | 2019-03-21 | 2020-10-05 | 국방과학연구소 | 이중 챔버형 고온시험장치 |
-
1991
- 1991-06-12 JP JP13997491A patent/JPH04364440A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007081022A (ja) * | 2005-09-13 | 2007-03-29 | Oki Electric Ind Co Ltd | 冷熱衝撃試験装置、冷熱衝撃試験方法及び半導体ウェハの検査方法 |
| KR20200112226A (ko) * | 2019-03-21 | 2020-10-05 | 국방과학연구소 | 이중 챔버형 고온시험장치 |
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