JPH02257036A - 冷熱衝撃試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、冷熱衝撃試験装置、詳しくは、高温域から低
温域まで温度を変化させるサイクルを繰り返し、試料を
移動させることなく試験試料の熱衝撃や温度耐久性等の
試験を行なうことのできるようにした冷熱衝撃試験装置
に関する。

（従来の技術） 一般に冷熱衝撃試験装置は、例えば特公昭５８−４９８
１７号公報に示され、又、第１０図に概略的に示したよ
うに、一側に外気取入用部（Ａ）を備えたテスト室（Ｂ
）に隣接して予熱室（Ｃ）とクーラー（Ｄ）を備えた予
冷室（Ｅ）とを設け、前記テスト室（Ｂ）と前記予熱室
（Ｃ）とは高温ダンパ（Ｆ）により、又、前記テスト室
（Ｂ）と前記予冷室（Ｅ）とは低温ダンパ（Ｇ）により
、それぞれ区画されており、これらダンパ（Ｆ）（Ｇ）
の開閉により、前記テスト室（Ｂ）の温度を高温にした
り、低温にしたりする冷熱衝撃サイクルを可能にして、
前記テスト室（Ｂ）内の試料の熱衝撃試験を行い得るよ
うにしている。また、前記外気取入用部（Ａ）の開閉操
作により前記テスト室（Ｂ）に外気を取り入れて、前記
テスト室（Ｂ）を常温にできるようにして、高温から低
温に或は低温から高温に移行するときに一旦常温にする
ことにより、その移行の速度を早くできるようにしてい
る。尚、（Ｈ）はファンである。

（発明が解決しようとする課題） ところで、前記テスト室（Ｂ）内に取り入れる外気は普
通水蒸気を含むものであるがら、前記予冷室（Ｅ）で冷
却されると、結露が生じ、しがも前記クーラー（Ｄ）を
フロストすることになり、前記クーラー（Ｄ）の能力を
低下させるから、一般に前記クーラー（Ｄ）に供給する
冷媒を逆に流したり、またホットガスを供給したりして
前記クーラー（Ｄ）をデフロストするのであるが、デフ
ロストにかなり時間を要する問題があった。

本発明は、従来のこのような問題に鑑みて発明したもの
で、その目的とするところは、予熱室には、高温空気が
存在することに注目して、この高温空気の熱を利用する
ことにより、クーラーのデフロスト時間を短くできる冷
熱衝撃試験装置を提供することにある。

また、高温空気によりデフロスト時間を短縮できながら
、シかも、デフロストにより溶けたドレンがテスト室内
の試料へ水飛びをするのを防ぐことができるようにし、
さらにまた、テスト室内の試験試料のテスト条件により
、予冷室内の高温空気によるデフロストを行う場合の不
都合を解消できるようにした冷熱衝撃試験装置を提供す
ることにある。

（課題を解決するための手段） 上記したようにデフロスト時間を短縮するために、特許
請求の範囲第１項記載の第１発明は、一側に、外気に連
通ずる開口部（１８）を開閉する常温ダンパ（１９）と
、他側に、試験試料を挿入する挿入口（１６）を開閉す
るテスト室扉（１７）とを備えたテスト室（１０）に、
断熱隔壁（１１）を介して、ヒーター（３）とファン（
４）を配置した予熱室（５）と、冷凍機（６）に接続す
るクーラー（７）とファン（８）を配置した予冷室（９
）とを隣接して設けると共に、前記テスト室（１０）と
前記予熱室（５）とを連通させる開口部（１２）を開閉
する高温ダンパ（１４）と、又、前記テスト室（１ｏ）
と前記予冷室（９）とを連通ずる開口部（１３）を開閉
する低温ダンパ（１５）とを備えた冷熱衝撃試験装置に
おいて、前記クーラー（７）のフロスト時、前記高温及
び低温ダンパ（１４）（１５）を開放すると共に、前記
常温ダンパ（１９）を閉鎖して、前記予熱室（５）と予
冷室（９）とを連通させて、前記予熱室（５）の高温空
気を、前記予熱室（５）から予冷室（９）に循環させ、
前記高温空気を熱源として前記クーラー（７）のデフロ
ストを行うごとくしたのである。

また、特許請求の範囲第２項に記載の第２発明は、以上
のごとく高温空気を熱源としてデフロストを行う場合、
デフロストにより溶けたドレンがテスト室内の試料へ水
飛びをするのを防ぐことができるようにするために、冷
凍機（６）に、フロスト時、予冷室（９）に内装するク
ーラー（７）へホットガスを流すホットガス弁（４０）
をもったホットガスバイパス回路（４１）を設けると共
に、高温及び低温ダンパ（１４）（１５）を開き、予熱
室（５）の高温空気を熱源として前記クーラー（７）の
デフロストを行うとき、前記予冷室（９）を循環する空
気経路の温度を検出し、デフロストによるドレンの飛散
開始時の温度で出力するデフロスト検知センサ（４８）
を設け、このデフロスト検知センサ（４８）の出力によ
り前記ダンパ（１４）（１５）を閉じ、ホットガスバイ
パスのみによるデフロスト運転に切り換えるデフロスト
制御コントローラ（４９）を設けている。また、特許請
求の範囲第３項記載の第３発明は、第２発明と同様、冷
凍機（６）にフロスト時、予冷室（９）に内装するクー
ラー（７）へホットガスを流すホットガス弁（４０）を
もったホットガスバイパス回路（４１）を設けると共に
、高温及び低温ダンパ（１４）（１５）をひらき、予熱
室（５）の高温空気を熱源として前記クーラー（７）の
デフロストを行うとき、前記予冷室（９）を循環する空
気経路の温度を検出し、デフロストによるドレンの飛散
開始時の温度で出力するデフロスト検知センサ（４８）
を設ける一方、前記予冷室（９）に内装するファン（８
）を可変速モータ（Ｍ）に連動させて、前記デフロスト
検知センサ（４８）の出力により前記モータ（Ｍ）を、
前記ドレンの飛散を不能にする低速に制御するモータ制
御器（８１）を設けるのが好ましい。

さらにまた、特許請求の範囲第４項記載の第４発明は、
前記した高温空気を熱源とするデフロスト運転において
、テスト室内の試験試料のテスト条件により、予冷室内
の高温空気によるデフロストを行う場合の不都合、即ち
、テスト室（１０）に前記高温空気の温度で問題が生ず
る試験試料が装入されている状態でデフロストを行う場
合の問題点を解消するために、冷凍機（６）に、フロス
ト時、予冷室（９）に内装するクーラー（７）へホット
ガスを流すホットガス弁（４０）をもったホットガスバ
イパス回路（４１）を設けると共に、高温及び低温ダン
パ（１４）（１５）を開き、予熱室（５）の高温空気を
熱源として前記クーラー（７）のデフロストを行なうと
きのヒータ制御温度（Ｔ１）と、テスト室（１０）の高
温さらし制御時におけるヒータ制御温度（Ｔ２）とを比
較し、テスト時のヒータ制御温度（Ｔ２）がデフロスト
時のヒータ制御温度（Ｔ１）より低いとき、前記高温及
び低温ダンパ（１４）（１５）を閉じ、前記予熱室（５
）の高温空気を熱源とするデフロスト運転を中止し、ホ
ットガスバイパスのみによるデフロスト運転に制御する
デフロスト制御コントローラ（４）を設けているのであ
る。

（作用） 第１発明では、前記クーラー（７）のデフロストを行う
とき、前記高温及び低温ダンパ（１４）（１５）を開放
することにより、前記予熱室（５）と予冷室（９）とを
前記テスト室（１０）を介して連通させ、前記予熱室（
５）の高温空気を前記予熱室（５）から前記予冷室（９
）に循環させることができ、この高温空気の熱を前記予
冷室（９）内のクーラー（７）に与えることができ、該
クーラー（７）のデフロストに要する時間を短縮するこ
とができるのである。

また、第２、第３発明では、第１発明と同様デフロスト
時間を短縮できながら、高温空気の熱を熱源としてデフ
ロストを行っている場合で、ドレンが、デフロストによ
り飛散開始を始めようとするときに、第２発明では、デ
フロスト検知センサ（４８）の出力によって、前記ダン
パ（１４）（１５）を閉じて、ホットガスバイパスのみ
によるデフロスト運転に切り換えたり、また、第３発明
では、前記デフロスト検知センサ（４８）の出力によっ
て、前記予冷室（９）のファン（８）に連動させた可変
速モータ（８ａ）を、ドレンの飛散を不能にする低速に
制御することによって、テスト室（１０）内へのドレン
の水飛びを防止することができるのである。

さらにまた、第４発明では、デフロスト運転時の予熱室
（５）のヒータ制御温度（Ｔ、）と、テスト時の高温さ
らし制御によるヒータ制御温度（Ｔ２）とを比較して、
テスト時のヒータ制御温度（Ｔ２　）がデフロスト時の
ヒータ制御温度（Ｔ１）より低い時、前記高温及び低温
ダンパ（１４）（１５）を閉じて、前記予熱室（５）の
高温空気を熱源とするデフロスト運転を中止し、ホット
ガスバイパスのみによるデフロスト運転を行うことによ
って、テスト室（１０）内の試験試料が高温さらし時の
制御温度より高い高温空気に曝されることを防止できる
のである。

（実施例） 本発明の一実施例を第１〜第４図に基づいて説明する。

第１図は本発明にかかる冷熱衝撃試験装置の概略を示し
たものであって、基本的には、ハウジング（１）内を断
熱隔壁（２）により区画して、ヒータ（３）及びファン
（４）を配置した予熱室（５）と、カスケード式冷凍機
（６）に低温側冷媒回路（２８）を介して接続するクー
ラー（７）及びファン（８）を配置した予冷室（９）と
、冷熱衝撃試験を行う試験試料を収容するテスト室（１
０）とを設けている。

前記予熱室（５）及び予冷室（９）は、断熱隔壁（１１
）を挾んで前記テスト室（１０）の両側に隣接し、前記
テスト室（１０）と前記予熱室（５）及び予冷室（９）
とを区画する各断熱隔壁（１１）（１１）に、前記テス
ト室（１０）と前記予熱室（５）とを連通ずる開口部（
１２）（１２）、及び前記テスト室（１０）と予冷室（
９）とを連通ずる開口部（１３）（１３）を設け、各開
口部（１２）（１３）に設けた高温及び低温ダンパ（１
４）（１５）の開閉により、前記予熱室（５）又は予冷
室（９）を前記テスト室（１０）に選択的に連通させて
、前記テスト室（１０）に冷風及び熱風を選択的に導入
するようにしている。

又、前記テスト室（１０）の一側には、試験試料を挿入
する開口部（１６）を開閉する扉（１７）を設けると共
に、他側には、一対の開口部（１８）（１８）を設けて
、常温ダンパ（１９）の開閉により、外気を前記テスト
室（１０）内に導入するようにしている。更に、前記一
対の開口部（１８）（１８）の一方の開口部（１８）に
は、除湿器（２０）及び吸入ファン（２１）を内装した
外気導入ダクト（２２）を接続して、前記テスト室（１
０）内に導入する外気を除湿するようにしており、他方
の開口部（１８）には、排気ファン（２３）を備えた排
気ダクト（２４）を接続している。

前記カスケード式冷凍機（６）は、第２図に示したよう
に、高温側圧縮機（２５）をもった高温側冷媒回路（２
６）、低温側圧縮機（２７）をもった低温側冷媒回路（
２８）及びこれら両回路（２７）（２８）が共有するカ
スケードコンデンサー（２９）を備えており、前記高温
側冷媒回路（２６）には、凝縮器（３０）、膨張弁（３
１）及びアキュムレータ（３２）を介装する一方、前記
低温側冷媒回路（２８）には、膨張弁（３３）、前記予
冷室（９）に配置した前記クーラー（７）及びアキュム
レータ（３４）を介装している。

又、前記高温側冷媒回路（２６）には、電磁弁（３５）
と、前記外気導入ダク）　（２２）に内装した前記除湿
器（２０）を構成する再熱器（３６）及びクーラー（３
７）等を直列に介装したバイパス回路（３９）を設けて
、前記電磁弁（３５）の操作により前記再熱器（３６）
及びクーラー（３７）に前記高温側圧縮機（２５）から
冷媒を供給し、前記テスト室（１０）に導入する外気を
除湿できるようにしている。又、前記低温側冷媒回路（
２８）には、ホットガス電磁弁（４０）を介装したホッ
トガスバイパス回路（４１）を設けて、該ホットガス電
磁弁（４０）の操作により前記予冷室（９）に配置した
クーラー（７）をホットガスによってもデフロストでき
るようにしている。

尚、第２図中に示した白矢印は、前記ホットガス電磁弁
（４０）を作動させて、前記クーラー（７）をデフロス
トするときの前記低温側冷媒回路（２８）における冷媒
の流れる方向を示し、黒矢印は前記冷凍機（６）の冷凍
運転時における、前記高温側冷媒回路（２６）及び前記
低温側冷媒回路（２８）における各冷媒の流れを示して
いるのである。また、（４２）はドライヤー　（４３）
は、前記低温側圧縮機（２７）を運転しないとき前記低
温側冷媒回路（２８）の冷媒を溜める膨張タンクで、吐
出圧力調整弁（４４）を付設している。さらに、（４５
）は前記低温側圧縮機（２７）の吐出側に介装した油分
離器、（４６）はキャピラリーである。

しかして、以上のように構成した冷熱衝撃試験装置にお
いて、前記クーラー（７）のフロスト時、前記高温及び
低温ダンパ（１４）（１５）を開放すると共に、前記常
温ダンパ（１９）を閉鎖して、前記予熱室（５）と予冷
室（９）とを連通させて、前記予熱室（５）の高温空気
を、前記予熱室（５）から予冷室（９）に循環させ、前
記高温空気を熱源として前記クーラー（７）のデフロス
トを行うごとくしたのである。

具体的には、第３図に示すごとく、前記予熱室（５）に
予熱室温度センサー（４７）を、又前記クーラー（７）
にはデフロスト検知センサー（４８）を設けると共に、
デフロスト制御コントローラ（４９）を設けて、該コン
トローラ（４９）の入力側には、前記予熱室温度センサ
ー（４７）及び前記デフロスト検知センサー（４８）を
接続する一方、出力側には、前記予熱室（５）に配置し
たヒーター（３）を作動させるヒータースイッチ（５０
）、前記高温ダンパ（１４）を開閉させる高温ダンパ開
閉用モータ（５１）、前記常温ダンパ（１９）を開閉さ
せる常温ダンパ開閉用モータ（５２）、前記低温ダンパ
（１５）を開閉させる低温ダンパ開閉用モータ（５３）
、前記低温側圧縮機（２７）を駆動する低温側圧縮機駆
動モータ（５４）及び、前記低温側冷媒回路（２８）の
ホットガスバイパス回路（４１）に介装した前記ホット
ガス電磁弁（４０）をそれぞれ接続するのである。尚、
（５５）は予冷室温度センサーである。

次に、前記予冷室（９）に配置した前記クーラー（７）
のデフロストについて第４図に示すフローチャートに基
づいて説明する。

冷熱衝撃試験終了時、即ち、冷熱衝撃のサイクル運転が
終了して前記冷凍機（６）の運転が止まると共に、前記
ヒーター（３）及び各ファン（４）（８）が停止したと
き、自動デフロスト運転入／切スイッチ（図示せず）が
人であれば、自動デフロスト運転モードに入る。この自
動デフロスト運転モードは、前記コントローラ（４９）
の制御により、常温ダンパ（１９）を閉鎖する一方、前
記高温ダンパ（１４）、低温ダンパ（１５）を開放する
。次に、前記ヒーター（３）がＯＮ１前記高温側圧縮機
（２５）が０ＦＦ１前記低温側圧縮機（２７）がＯＮ１
前記ホットガス電磁弁（４０）がＯＮとなるのである。

そして、高温及び低温ダンパ（１４）（１５）を開放す
ることにより、前記予熱室（５）と予冷室（９）とを前
記テスト室（１０）を介して連通させ、前記予熱室（５
）の高温空気を前記予熱室（５）から前記予冷室（９）
に循環させると共に、前記予熱室温度センサー（４７）
の温度検出により、前記ヒーター（３）を制御して、前
記予熱室（５）内の温度を約５０°Ｃに制御して、前記
低温側圧縮機（２７）を＋３０Ｈｚで運転するのである
。そして、前記クーラー（７）に設けた前記デフロスト
検知センサー（４８）の検出温度（Ｔ）が３０℃以上に
なるか、又は、デフロスト開始からの経過時間（１）が
４５分を越えると、デフロストを終了するのである。デ
フロスト終了時、前記低温側圧縮機（２７）及び前記ホ
ットガス電磁弁（４ｏ）はＯＦＦとなると共に、又全ダ
ンパ（１４）（１５）（１９）は閉となり、また前記ヒ
ーター（３）もＯＦＦとなるのである。尚、デフロスト
時、高温及び低温ダンパ（１４）（１５）を開放するこ
とにより、前記予熱室（５）と予冷室（θ）とを前記テ
スト室（１０）を介して連通させている場合は、前記予
熱室（５）に配置したファン（４）及び前記予冷室（９
）に配置したファン（８）はいづれも運転させるのであ
る。

したがって、以上のように、前記予熱室（５）と予冷室
（９）とを連通させることにより、前記予熱室（５）か
らの高温空気から前記クーラー（７）に直接熱を与える
ことができ、前記低温側冷媒回路（２８）のホットガス
バイパス回路（４１）に介装した前記ホットガス電磁弁
（４０）を作動させて行う前記冷凍機（６）のデフロス
ト運転に要する時間を短縮することができるのである。

又、デフロスト時、前記ヒーター（３）を作動させるこ
とにより、前記予熱室（５）の空気を加熱できるから、
前記ヒーター（３）以外に特に前記クーラー（７）のデ
フロスト用の熱源を設けることなく、−層迅速なデフロ
ストが可能となる。

尚、本実施例では、前記低温側冷媒回路（２８）のホッ
トガスバイパス回路（４１）に設けた前記ホットガス電
磁弁（４１）の作動により、前記低温側圧縮機（２７）
からの冷媒を前記カスケードコンデンサー（２９）を側
路しして、直接前記クーラー（７）に送ることにより、
該クーラー（７）をデフロストする前記冷凍機（６）の
デフロスト運転を併用できるようにしたが、併用しなく
てもよい。この場合、デフロスト時、前記各圧縮機（２
５）（２７）の運転はしないでデフロストが行なえるこ
とになる。

また、前記実施例において、高温空気を熱源としてデフ
ロストを行う場合、前記低温ダンパ（１５）を開いて行
うため、デフロストの進行によりテスト室（１０）内へ
デフロストにより溶けたドレンの水飛びが生ずることに
なるが、この水飛びを防止するために、以下のように構
成するのが好ましい。即ち、第５図に示すごとく、前記
予冷室（９）のクーラー（７）の管板（７１）の側面に
、管板（７１）の温度、ひいては前記予冷室（９）を循
環する空気の入口側温度を検出し、デフロストによるド
レンの飛散開始時の温度によって出力するデフロスト検
知センサ（４８）を設け、第６図のフローチャートに示
すように、高温空気による前記デフロスト運転中で、前
記クーラー（７）の出口側の温度が０℃以上となってド
レンが飛散しようとするとき、つまり、前記管板（７１
）に設けた前記デフロスト検知センサ（４８）の検出温
度（Ｔ）が７℃以上になると、前記デフロスト制御コン
トローラ（４９）の制御により、前記高温及び低温ダン
パ（１４）（１５）を閉鎖させると共に、前記冷凍機（
６）における前記ホットガス電磁弁（４０）を開いて、
前記ホットガスバイパス回路（４１）のみによるデフロ
スト運転を行うように構成するのである。

尚、第６図のフローチャートにおいて、ホットガスバイ
パスによるデフロスト運転は、第４図のフローチャート
で説明したように制御されるが、デフロスト運転終了後
、冷凍機（６）を再運転させるときに、デフロストによ
り溶けたドレンが完全に排出するまで、例えば、２〜３
分間前記冷凍機（６）の運転の開始を遅らせるようにし
ている。

また、第１図乃至第２図に示した実施例において、前記
予冷室（９）に内装するファン（８）のモータ（Ｍ）を
可変速モータとして、第７図に示すように、前記デフロ
スト制御コントローラ（４９）の出力側に、前記可変速
モータ（Ｍ）を制御するモータ制御器（８１）を接続す
ると共に、前記した実施例と同様、前記デフロスト検知
センサ（４８）を設けて、前記コントローラ（４９）の
入力側に接続し、第８図のフローチャートに示すように
、デフロスト運転中に前記デフロスト検知センサ（４８
）の検出温度（Ｔ）が７℃以上になると、前記デフロス
ト制御コントローラ（４９）の制御により、前記可変速
モータ（Ｍ、）をポールチェンジまたは周波数変換など
により、前記モータ（Ｍ）の回転数を下げて、例えば風
速が１　、５　ｍ／ｓｅｅになるように、前記ファン（
８）の風量を減少させると共に、風量の減少で、前記ド
レンの飛散を不能にした状態で、前記冷凍機（６）にお
けるホットガス電磁弁（４０）を開いて、前記ホットガ
スバイパス回路（４１）によるデフロスト運転のみによ
って、デフロストを行うようにしてもよい。また、この
実施例における前記ホットガスバイパスによるデフロス
ト運転は、前記した実施例と同様に制御されるのである
。

また、前記実施例において、前記予熱室（５）の高温空
気を熱源として、前記予冷室（９）のクーラー（７）の
デフロストを行うとき、前記テスト室（１０）内の試験
試料のテスト条件により、予熱室（５）内の高温空気に
よるデフロストを行うかどうかを選択するようにしても
よい。即ち、テスト室（１０）の高温さらし制御時にお
けるヒータ制御温度、つまり、前記予熱室温度センサ（
４７）により前記ヒータ（３）をオン、オフして制御す
る前記予熱室（５）の高温温度をもとに制御されるテス
ト室（１０）内の温度は、試験試料に応じた任意温度を
設定するのであって、高温加熱を好まない試料について
は、前記予熱室（５）の高温空気を熱源としてデフロス
トを行う場合　のヒータ制御温度（例えば３５℃〜４０
’Ｃ）より低い温度（例えば３０°Ｃ）に設定されるこ
とが　ある。従って、この場合には前記予熱室（５）内
の高温空気によるデフロスト運転を中止し、ホットガス
バイパス回路（４１）のみによるデフロスト運転に切換
えるのである。しかして、この場合、前記デフロスト制
御コントローラ（４９）に、前記予熱室（５）の高温空
気を熱源としてデフロストを行うときのヒータ制御温度
（Ｔ１）と前記予熱室温度センサ（４７）により制御さ
れる前記テスト室（１０）の高温さらし制御時における
ヒータ制御温度（Ｔ２）とを比較する比較器（図示せず
）を用い、前記テスト時のヒータ制御温度（Ｔ２）がデ
フロスト時のヒータ制御温度（Ｔ１）より低いときに前
記高温及び低温ダンパ（１４）（１５）を閉じて出力す
るように構成するのである。従って、この実施例によれ
ば、第９図のフローチャートに示すように、前記予熱室
温度センサ（４７）により制御する予熱室（５）の高温
空気を熱源として前記クーラー（７）のデフロストを行
なうときのヒータ制御温度（Ｔ、）と、前記予熱室温度
センサ（４７）により制御する試験試料の高温さらし制
御時におけるテスト室（１０）のヒータ制御温度（Ｔ２
）とを比較し、テスト時のヒータ制御温度（Ｔ２）がデ
フロスト時のヒータ制御温度（Ｔ□）より低いときに、
前記高温及び低温ダンパ（１４）（１５）を閉じ、前記
予熱室（５）の高温空気を熱源とするデフロスト運転を
中止し、前記冷凍機（６）のホットガスバイパス回路（
４１）のみによるデフロスト運転に切換えるのであって
、以降は第４図のフローチャートで説明した通り制御す
るのである。

（発明の効果） 以上説明したように、第１発明の冷熱衝撃試験装置では
、前記クーラー（７）のフロスト時、前記高温及び低温
ダンパ（１４）（１５）を開放すると共に、前記常温ダ
ンパ（１９）を閉鎖して、前記予熱室（５）と予冷室（
９）とを連通させて、前記予熱室（５）の高温空気を、
前記予熱室（５）から予冷室（９）に循環させ、前記高
温空気を熱源として前記クーラー（７）のデフロストを
行うごとくしたから、前記予熱室（５）の高温空気の熱
を前記予冷室（９）内のクーラー（７）に直接与えるこ
とができ、該クーラー（７）のデフロストに要する時間
を短縮することができるのである。

また、第２、第３発明では、第１発明と同様デフロスト
時間を短縮できながら、高温空気を熱源としてデフロス
ト運転を行う場合で、デフロストの進行でドレンが飛散
しようとするとき、第２発明では、前記高温及び低温ダ
ンパ（１４）（１５）を閉鎖するようにし、また第３発
明では、前記予冷室（９）に内装したファン（８）の風
量を減少させるようにしたから、デフロストにより溶け
たドレンが前記テスト室（１０）へ入ってしまうことを
防止でき、その結果、前記テスト室（１０）内でのフロ
ストを防止できるし、試験試料への影響もなくなるので
ある。

さらに、第４発明では、デフロスト時の前記予熱室（５
）のヒータ制御温度とテスト時の高温さらし制御による
ヒータ制御温度とを比較して、テスト時のヒータ制御温
度がデフロスト時のヒータ制御温度より低いとき、前記
高温及び低温ダンパ（１４）（１５）を閉じ、前記予熱
室（５）の高温空気を熱源とするデフロスト運転を中止
し、ホットガスバイパスのみによるデフロスト運転に制
御するようにしたから、テスト室（１０）に試験試料を
装入したままデフロスト運転を行う場合で、しかも、前
記試料が高温を好まない場合であっ　ても、前記試料が
デフロスト時に前記予熱室（５）の高温空気により、曝
される問題が生じてしまうのを阻止できるのである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明にかかる冷熱衝撃試験装置の全体構造を
示す断面図、第２図は冷凍機の配管系統図、第３同角び
第７図はデフロスト作動プロ・ツク図、第５図はクーラ
ーの斜視図、第４図、第６図、第８図及び第９図はデフ
ロスト作動フローチャート、第１０図は従来例を示す概
略断面図である。 （３）・・・・・・・・ヒーター （４）・・・・・・・・ファン （４０）・・・・ホットガス弁 （４１）・・・・ホットガスバイパス回路（４８）・・
・・デフロスト検知センサ（４９）・・・・デフロスト
制御コントローラ（５）・・・・・・・・予熱室 （６）・・・・・・・・冷凍機 （７）・・・・・・・・クーラー （８）・・・・・・・・ファン （８ａ）・・・・可変速モータ （８１）・・・・モータ制御器 （９）・・・・・・・・予冷室 （１０）・・・・・・・・テスト室 （１４）・・・・・・・・高温ダンパ （１５）・・・・・・・・低温ダンパ （１９）・・・・・・・・常温ダンパ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）一側に、外気に連通する開口部（１８）を開閉する
   常温ダンパ（１９）と、他側に、試験試料を挿入する挿
   入口（１６）を開閉するテスト室扉（１７）とを備えた
   テスト室（１０）に、断熱隔壁（１１）を介して、ヒー
   ター（３）とファン（４）を配置した予熱室（５）と、
   冷凍機（６）に接続するクーラー（７）とファン（８）
   を配置した予冷室（９）とを隣接して設けると共に、前
   記テスト室（１０）と前記予熱室（５）とを連通させる
   開口部（１２）を開閉する高温ダンパ（１４）と、又、
   前記テスト室（１０）と前記予冷室（９）とを連通する
   開口部（１３）を開閉する低温ダンパ（１５）とを備え
   た冷熱衝撃試験装置において、前記クーラー（７）のフ
   ロスト時、前記高温及び低温ダンパ（１４）（１５）を
   開放すると共に、前記常温ダンパ（１９）を閉鎖して、
   前記予熱室（５）と予冷室（９）とを連通させて、前記
   予熱室（５）の高温空気を、前記予熱室（５）から予冷
   室（９）に循環させ、前記高温空気を熱源として前記ク
   ーラー（７）のデフロストを行うごとくしたことを特徴
   とする冷熱衝撃試験装置。 ２）冷凍機（６）にフロスト時、予冷室（９）に内装す
   るクーラー（７）へホットガスを流すホットガス弁（４
   ０）をもったホットガスバイパス回路（４１）を設ける
   と共に、高温及び低温ダンパ（１４）（１５）をひらき
   、予熱室（５）の高温空気を熱源として前記クーラー（
   ７）のデフロストを行うとき、前記予冷室（９）を循環
   する空気経路の温度を検出し、デフロストによるドレン
   の飛散開始時の温度で出力するデフロスト検知センサ（
   ４８）を設け、このデフロスト検知センサ（４８）の出
   力により前記ダンパ（１４）（１５）を閉じ、ホットガ
   スバイパスのみによるデフロスト運転に切り換えるデフ
   ロスト制御コントローラ（４９）を設けている請求項１
   記載の冷熱衝撃試験装置。 ３）冷凍機（６）にフロスト時、予冷室（９）に内装す
   るクーラー（７）へホットガスを流すホットガス弁（４
   ０）をもったホットガスバイパス回路（４１）を設ける
   と共に、高温及び低温ダンパ（１４）（１５）をひらき
   、予熱室（５）の高温空気を熱源として前記クーラー（
   ７）のデフロストを行うとき、前記予冷室（９）を循環
   する空気経路の温度を検出し、デフロストによるドレン
   の飛散開始時の温度で出力するデフロスト検知センサ（
   ４８）を設ける一方、前記予冷室（９）に内装するファ
   ン（８）を可変速モータ（Ｍ）に連動させて、前記デフ
   ロスト検知センサ（４８）の出力により前記モータ（Ｍ
   ）を、前記ドレンの飛散を不能にする低速に制御するモ
   ータ制御器（８１）を設けている請求項１記載の冷熱衝
   撃試験装置。 ４）冷凍機（６）に、フロスト時、予冷室（９）に内装
   するクーラー（７）へホットガスを流すホットガス弁（
   ４０）をもったホットガスバイパス回路（４１）を設け
   ると共に、高温及び低温ダンパ（１４）（１５）を開き
   、予熱室（５）の高温空気を熱源として前記クーラー（
   ７）のデフロストを行なうときのヒータ制御温度と、テ
   スト室（１０）の高温さらし制御時におけるヒータ制御
   温度とを比較し、テスト時のヒータ制御温度がデフロス
   ト時のヒータ制御温度より低いとき、前記高温及び低温
   ダンパ（１４）（１５）を閉じ、前記予熱室（５）の高
   温空気を熱源とするデフロスト運転を中止し、ホットガ
   スバイパスのみによるデフロスト運転に制御するデフロ
   スト制御コントローラ（４９）を設けている請求項１記
   載の冷熱衝撃試験装置。