JPH0436601A - Ｖ溝測定方法 - Google Patents
Ｖ溝測定方法Info
- Publication number
- JPH0436601A JPH0436601A JP14156790A JP14156790A JPH0436601A JP H0436601 A JPH0436601 A JP H0436601A JP 14156790 A JP14156790 A JP 14156790A JP 14156790 A JP14156790 A JP 14156790A JP H0436601 A JPH0436601 A JP H0436601A
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- distance
- sphere
- groove
- center
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- Granted
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- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
ａ 産業上の利用分野
本発明は、■消測定方法に間し、特に、■溝内の深さ、
幅、面積を複数の球を用いて測定するための新規な改良
に間する。
幅、面積を複数の球を用いて測定するための新規な改良
に間する。
ｂ 従来の技術
従来、用いられていたこの種のＶ漬測定方法としては、
一般に、測定者が、スケールを用いて手作業で測定して
いた。
一般に、測定者が、スケールを用いて手作業で測定して
いた。
Ｃ８発明が解決しようとする課題
従来ｙｖ溝測測定方法、以上のように構成されていたた
め、次のような課題が存在していた。
め、次のような課題が存在していた。
すなわち、一般に、二つの部材を当接させ、つの部材間
に形成された■溝すなわち開先を、溶接で接続する場合
には、このＶ渭の深さ、幅及び面積を把握しておく必要
があるが、従来、人手によって測定していたため、誤差
が大きくなり、溶接が良好に行えなくなる等の不具合が
生じていた。
に形成された■溝すなわち開先を、溶接で接続する場合
には、このＶ渭の深さ、幅及び面積を把握しておく必要
があるが、従来、人手によって測定していたため、誤差
が大きくなり、溶接が良好に行えなくなる等の不具合が
生じていた。
本発明は、以上のような課題を解決するためになされた
もので、特に、■溝内の深さ、幅、面積を複数の球を用
いて測定するようにしたＶ溝測定方法を提供することを
目的とする。
もので、特に、■溝内の深さ、幅、面積を複数の球を用
いて測定するようにしたＶ溝測定方法を提供することを
目的とする。
ｄ、ｌＩＩ！を解決するための手段
本発明によるＶ溝測定方法は、Ｖ溝内の幅、深さ及び面
積を測定するようにしたＶ溝測定方法において、前記Ｖ
清の下部に第１球を案内し、測定台から前記第１球の中
心迄の第１距離（ｈ３）を測定する第１工程と、前記■
溝内の前記第１球よりも上方に、前記第１球よりも大径
の第２球を案内し、前記測定台から前記第２球の中心迄
の第２距離（ｈ３）を測定する第２工程と、前記Ｖ渭の
上部平面と前記測定台間の傾き変化量（ｈ２）を測定す
る第３工程と、前記第１距離（ｈ４）、第２距離（ｈ３
）、傾き変化量（ｈ２＞、第１球の第１半径（Ｒａ）及
び第２球の第２半径（Ｒｂ）に基づいて、前記Ｖ渭の深
さ（Ｄ）、幅（賢）及び面積（Ｓ）を演算する第４工程
とよりなる方法である。
積を測定するようにしたＶ溝測定方法において、前記Ｖ
清の下部に第１球を案内し、測定台から前記第１球の中
心迄の第１距離（ｈ３）を測定する第１工程と、前記■
溝内の前記第１球よりも上方に、前記第１球よりも大径
の第２球を案内し、前記測定台から前記第２球の中心迄
の第２距離（ｈ３）を測定する第２工程と、前記Ｖ渭の
上部平面と前記測定台間の傾き変化量（ｈ２）を測定す
る第３工程と、前記第１距離（ｈ４）、第２距離（ｈ３
）、傾き変化量（ｈ２＞、第１球の第１半径（Ｒａ）及
び第２球の第２半径（Ｒｂ）に基づいて、前記Ｖ渭の深
さ（Ｄ）、幅（賢）及び面積（Ｓ）を演算する第４工程
とよりなる方法である。
０１作用
本発明によるＶ清測定方法においては、測定台からＶ渭
の平面迄の固定距離をｈｌ、測定台から■涌の平面迄力
傾き変化量をり７．測定台から大径の第２球の中心迄の
第２距離をり１、測定台から小径の第１球の中心迄の第
１距離をり、とすると共に、第１球の半径をＲａ、第２
球の半径をＲｂと設定した条件で、 ｈ、＋ト ■溝の深さＤ ＝’ ３ （’） ） ＋ｓ Ｉｎ
αｈ−Ｒａ 但し、Ｓｉｎα１［：肩 Ｌ」」■ りより二１） ＝ｈ） （２）＋Ｒｂ−Ｒａ Ｖ溝の幅Ｗ＝ Ｄ ｌａｎαＸ ２ Ｄ＝深さ ■溝の面積Ｓ＝ヲＤ−Ｗ によって、深さ、幅、面積を求めることができる。
の平面迄の固定距離をｈｌ、測定台から■涌の平面迄力
傾き変化量をり７．測定台から大径の第２球の中心迄の
第２距離をり１、測定台から小径の第１球の中心迄の第
１距離をり、とすると共に、第１球の半径をＲａ、第２
球の半径をＲｂと設定した条件で、 ｈ、＋ト ■溝の深さＤ ＝’ ３ （’） ） ＋ｓ Ｉｎ
αｈ−Ｒａ 但し、Ｓｉｎα１［：肩 Ｌ」」■ りより二１） ＝ｈ） （２）＋Ｒｂ−Ｒａ Ｖ溝の幅Ｗ＝ Ｄ ｌａｎαＸ ２ Ｄ＝深さ ■溝の面積Ｓ＝ヲＤ−Ｗ によって、深さ、幅、面積を求めることができる。
ｆ、実施例
以下、図面と共に本発明によるＶ溝測定方法の好適な実
施例について詳細に説明する。
施例について詳細に説明する。
第１図及び第２図は、本発明によるｖ／ＩＩ測定方法を
示すためのもので、第１図は測定状態を示す構成図、第
２図はＶ渭を溶接した状態を示す断面図である。
示すためのもので、第１図は測定状態を示す構成図、第
２図はＶ渭を溶接した状態を示す断面図である。
図において符号１で示されるものは、第１部材２及び第
２部材３間に形成された■溝であり、このＶ渭１の上部
には上部平面１ａが形成されている。
２部材３間に形成された■溝であり、このＶ渭１の上部
には上部平面１ａが形成されている。
前記上部平面ｌａ上には、第１センサ４、第２センナ５
及び第３センサ６を有する測定台７が載置されており、
この測定台７の下部に設けられた複数の脚部７ａ、７ｂ
の下面は、前記上部平面１ａ上に当接している。
及び第３センサ６を有する測定台７が載置されており、
この測定台７の下部に設けられた複数の脚部７ａ、７ｂ
の下面は、前記上部平面１ａ上に当接している。
前記各センサ４〜６は、リニアポテンショメータ等のア
ナログ系又はリニアスケール等のデジタル系の何れの場
合でも構成することができる。
ナログ系又はリニアスケール等のデジタル系の何れの場
合でも構成することができる。
前記第１センサ４の検出棒４ａの下端は、前記Ｖ渭１内
の下部に挿入して案内された小径の第１球８の中心に接
続されており、前記第２センサ５の検出棒５ａの下端は
、前記Ｖ溝１内の前記第１球８よりも上方に位置し、前
記第１球８よりも大径の第２球９の中心に接続されてい
る。
の下部に挿入して案内された小径の第１球８の中心に接
続されており、前記第２センサ５の検出棒５ａの下端は
、前記Ｖ溝１内の前記第１球８よりも上方に位置し、前
記第１球８よりも大径の第２球９の中心に接続されてい
る。
前記第３センサ６の検出棒６ａは、一方の前記脚部７ｂ
に設けられ、上下に可動自在なこの脚部７ｂの動きを検
出することによって、前記測定台７の下面７Ｃと前記上
部平面１ａ間の傾き変化量１〕２を測定するように構成
されている。
に設けられ、上下に可動自在なこの脚部７ｂの動きを検
出することによって、前記測定台７の下面７Ｃと前記上
部平面１ａ間の傾き変化量１〕２を測定するように構成
されている。
前記測定台７の脚部７ａ側における下面７Ｃと前記上部
平面１８間の固定距離り、は、固定的に設定されており
、前記第１センサ４により前記下面７Ｃと第１球８の中
心間の第１距離り、が求められる。
平面１８間の固定距離り、は、固定的に設定されており
、前記第１センサ４により前記下面７Ｃと第１球８の中
心間の第１距離り、が求められる。
前記第２センサ５により前記下面７Ｃと第２球９の中心
間の第２距離り、が求められ、前記傾き変化量ｈ２、第
１距離［１，及び第２距離り、を用いることにより、前
記上部平面１ａと第２球９の中心間の第３距離ｄ、及び
前記上部平面１ａと第２球８の中心間の第４距離ｄ２を
求めることができる。
間の第２距離り、が求められ、前記傾き変化量ｈ２、第
１距離［１，及び第２距離り、を用いることにより、前
記上部平面１ａと第２球９の中心間の第３距離ｄ、及び
前記上部平面１ａと第２球８の中心間の第４距離ｄ２を
求めることができる。
また、前記第１球８の第１半径Ｒａ及び第２球９の半径
Ｒｂが各々設定されている。
Ｒｂが各々設定されている。
さらに、前記各センサ４，５及び６から得られた傾き変
化量ｈ２、第１距離り、及び第２距離［１，メ各データ
は、ＣＰＵ等からなる演算器１０に入力され、この演算
器１０からは、Ｖ渭１の深さＤ、幅Ｗ及び面積Ｓが演算
後に出力されるように構成されている。
化量ｈ２、第１距離り、及び第２距離［１，メ各データ
は、ＣＰＵ等からなる演算器１０に入力され、この演算
器１０からは、Ｖ渭１の深さＤ、幅Ｗ及び面積Ｓが演算
後に出力されるように構成されている。
次に、前述の構成において、演算器１０により、前述深
さＤ、幅Ｗ及び面積Ｓを演算する場合について説明する
。
さＤ、幅Ｗ及び面積Ｓを演算する場合について説明する
。
深さＤ＝ｄｌ＋ｄ２
幅Ｗ＝ Ｄ ｔａｎαＸ ２
面積５＝３ＤＷ
従って、一対の球８．９及び各センサ４，５及び６を用
いることにより、自動的に■渭１内の深さＤ、幅Ｗ及び
面積Ｓを自動的に得ることができるものである。
いることにより、自動的に■渭１内の深さＤ、幅Ｗ及び
面積Ｓを自動的に得ることができるものである。
ｇ１発明の効果
本発明によるＶ溝測定方法は、以上のように構成されて
いるため、次のような効果を得ることができる。
いるため、次のような効果を得ることができる。
すなわち、一対の球、３個のセンサ及び演算器を用いる
ことにより、■溝の深さ、幅及び面積を正確に且つ迅速
に得ることができ、例えば、一対の部材を溶接する場合
に、高精度で信頼性の高い溶接を行うことができる。
ことにより、■溝の深さ、幅及び面積を正確に且つ迅速
に得ることができ、例えば、一対の部材を溶接する場合
に、高精度で信頼性の高い溶接を行うことができる。
第１図及び第２図は、本発明によるＶ溝測定方法を示す
ためのもので、第１図は測定状態を示す構成図、第２図
はＶ溝を溶接した状態を示す断面図である。 １はＶ講、１ａは上部平面、７は測定台、８は第１球、
９は第２球、ｈ２は傾き変化量、ｈ、は第１距離、ｈ３
は第２距離である。 第１図 特許出願人 多摩川精機株式会社 代 理 人 ｔｉ 道 照第２図
ためのもので、第１図は測定状態を示す構成図、第２図
はＶ溝を溶接した状態を示す断面図である。 １はＶ講、１ａは上部平面、７は測定台、８は第１球、
９は第２球、ｈ２は傾き変化量、ｈ、は第１距離、ｈ３
は第２距離である。 第１図 特許出願人 多摩川精機株式会社 代 理 人 ｔｉ 道 照第２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 Ｖ溝（１）内の幅、深さ及び面積を測定するようにした
Ｖ溝測定方法において、 前記Ｖ溝（１）の下部に第１球（８）を案内し、測定台
（７）から前記第１球（８）の中心迄の第１距離（ｈ＿
４）を測定する第１工程と、 前記Ｖ溝（１）内の前記第１球（８）よりも上方に、前
記第１球（８）よりも大径の第２球（９）を案内し、前
記測定台（７）から前記第２球（９）の中心迄の第２距
離（ｈ＿３）を測定する第２工程と、 前記Ｖ溝（１）の上部平面（１ａ）と前記測定台（７）
間の傾き変化量（ｈ＿２）を測定する第３工程と、前記
第１距離（ｈ＿４）、第２距離（ｈ＿３）、傾き変化量
（ｈ＿２）、第１球の第１半径（Ｒａ）及び第２球（９
）の第２半径（Ｒｂ）に基づいて、前記Ｖ溝（１）の深
さ（Ｄ）、幅（Ｗ）及び面積（Ｓ）を演算する第４工程
とよりなることを特徴とするＶ溝測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14156790A JP2761502B2 (ja) | 1990-06-01 | 1990-06-01 | Ｖ溝測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14156790A JP2761502B2 (ja) | 1990-06-01 | 1990-06-01 | Ｖ溝測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0436601A true JPH0436601A (ja) | 1992-02-06 |
| JP2761502B2 JP2761502B2 (ja) | 1998-06-04 |
Family
ID=15294981
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14156790A Expired - Lifetime JP2761502B2 (ja) | 1990-06-01 | 1990-06-01 | Ｖ溝測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2761502B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113074685A (zh) * | 2021-02-01 | 2021-07-06 | 黄小六 | 一种道路地基面裂缝深度检测方法 |
| CN113108674A (zh) * | 2021-03-25 | 2021-07-13 | 西安近代化学研究所 | 一种圆筒体轴向v形槽深度尺寸检验测量方法 |
-
1990
- 1990-06-01 JP JP14156790A patent/JP2761502B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113074685A (zh) * | 2021-02-01 | 2021-07-06 | 黄小六 | 一种道路地基面裂缝深度检测方法 |
| CN113108674A (zh) * | 2021-03-25 | 2021-07-13 | 西安近代化学研究所 | 一种圆筒体轴向v形槽深度尺寸检验测量方法 |
| CN113108674B (zh) * | 2021-03-25 | 2023-06-09 | 西安近代化学研究所 | 一种圆筒体轴向v形槽深度尺寸检验测量方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2761502B2 (ja) | 1998-06-04 |
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