JPH04368063A - イメージスキャナ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はイメージスキャナ、詳し
くはラインセンサを用いて原稿画像を読み取るイメージ
スキャナに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来のイメージスキャナとしては、図９
に示すように、一次元ＣＣＤラインセンサ１１を用いて
原稿画像（以下、マイクロフィルム画像を含むものとす
る）を読み取るものが知られていた。このものは、マイ
クロフィルム１２のコマ画像を、投影光学系１３を介し
てＣＣＤラインセンサ１１の撮像部に配列された複数の
光電変換素子上に投影し、この撮像部で光電変換し画像
信号を出力していた。これらの複数の（例えば５０００
画素分の）光電変換素子は、投影された原稿画像からの
光強度に応じた値の出力をなすものである。なお、この
投影光学系１３は、光源１４、集光レンズ１５、ミラー
１６、集光レンズ１７、投影レンズ１８により構成され
ている。

【０００３】そして、このイメージスキャナにあっては
、マイクロフィルム１２を保持するフィルムキャリアを
移動することにより、位置固定のＣＣＤラインセンサ１
１に対してコマ画像をその副走査方向に移動して、その
コマ画像を順次読み取っていた。

【０００４】ところで、このイメージスキャナにあって
は、読み取るべき原稿画像の位置が常に一定の位置に配
置されているものとは限らなかった。例えば図９に示し
た装置のようにマイクロフィルムのコマ画像を読み取る
場合において、このコマ画像の位置がマイクロフィルム
上でその巻き取り方向に対して左右に振れている場合が
ある。このように読み取るべき画像の位置がＣＣＤライ
ンセンサ１１の光電変換素子配列方向に変化した場合に
あって、画像欠損を来すことなく、必要な画像を読み取
りたい場合には、以下の手段をとる必要があった。

【０００５】例えば、原稿画像の読み取り領域の全てを
カバーできるようにラインセンサ１１においてその光電
変換素子数を増加すること、または、投影光学系１３に
投影レンズ１８として変倍レンズを使用して原稿画像を
縮小等してラインセンサ１１に投影することが考えられ
る。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところが、前者にあっ
ては、原稿サイズが変動した場合にはこれに対応するこ
とができず、例えば原稿サイズが小さい場合にはライン
センサ１１にて不使用の画素が多く、また、その不使用
画素についての信号処理等が面倒であった。一方、後者
にあっては、原稿画像に対する解像度が低下してしまっ
ていた。

【０００７】そこで、一定数の光電変換素子で構成した
ラインセンサを主走査方向にも移動させて（または原稿
画像をラインセンサに対して移動させて）原稿画像を読
み取るイメージスキャナが本出願人により案出された。 ところが、このようなイメージスキャナにあっても、原
稿のコマ画像を忠実に再生するためには、シェーディン
グ補正を行う必要がある。このようなイメージスキャナ
でも、その投影光学系の照度むら（光源等に起因する光
学的むら）、ラインセンサの各光電変換素子間の出力の
むら（ラインセンサ作製工程等に起因する出力のむら）
等が生じているからである。さらに、この場合には、ラ
インセンサを主走査方向に移動させると、その都度、必
要なシェーディング補正量が変化してしまう。

【０００８】

【発明の目的】そこで、本発明は、ラインセンサの光電
変換素子数を増加することなく、画像位置が主走査方向
にバラついた原稿画像について、その解像度を低下させ
ることなく、かつ、原稿画像を効率良く読み取ることが
できるとともに、そのシェーディング補正を適切に行う
ことができるイメージスキャナを提供することを、その
目的としている。

【０００９】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明に
係るイメージスキャナは、図１に示すように、複数の光
電変換素子をライン状に配列してなるラインセンサ１０
０によって、原稿画像をスキャンしてこの原稿画像を読
み取るイメージスキャナであって、上記原稿画像を上記
ラインセンサ１００上に投影する投影光学系２００と、
この投影光学系２００と上記ラインセンサ１００とを主
走査方向に相対的に移動可能に保持する保持手段３００
と、上記投影光学系２００に対して上記ラインセンサ１
００が主走査方向に移動した場合の複数位置におけるシ
ェーディング補正データをサンプリングし、記憶するサ
ンプリング手段４００と、原稿画像読み取り時の上記投
影光学系２００と上記ラインセンサ１００との間の主走
査方向の相対位置に応じた、上記サンプリング手段４０
０によってサンプリングされたシェーディング補正デー
タに基づいてシェーディング補正を実行する補正手段５
００と、を備えたイメージスキャナである。

【００１０】

【作用】請求項１に記載の発明に係るイメージスキャナ
によれば、投影光学系２００により原稿画像をラインセ
ンサ１００上に投影し、このラインセンサ１００によっ
て原稿画像を読み取る。この場合、イメージスキャナで
は原稿画像を主走査方向および副走査方向にスキャンし
てその原稿画像を読み取る。そして、この読み取った原
稿画像についてシェーディング補正を行うことにより、
原稿画像を忠実に再生する。すなわち、このイメージス
キャナにあっては、保持手段３００により投影光学系２
００とラインセンサ１００とを主走査方向に相対的に移
動し、サンプリング手段４００が、この複数位置での照
度むらおよび各光電変換素子間の出力むらに起因するシ
ェーディング補正データをサンプリングし、記憶する。 そして、原稿画像の読み取り時、補正手段５００は、こ
れらの投影光学系２００とラインセンサ１００との間の
主走査方向の相対位置に対応した上記シェーディング補
正データに基づいて、その読み取った原稿画像の画像信
号についてシェーディング補正を行う。この結果、主走
査方向についてラインセンサを相対的に移動して原稿画
像を読み取ることができ、その画像信号について適切な
シェーディング補正を行うことができる。

【００１１】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図２〜図８は本発明に係るイメージスキャナをマ
イクロフィルムスキャナに適用した場合の一実施例を説
明するためのものである。

【００１２】図２は一実施例に係るマイクロフィルムス
キャナの投影光学系の斜視図、図３はそのマイクロフィ
ルムスキャナのＣＰＵとその周辺回路を示すブロック図
である。

【００１３】図２において示すように、マイクロフィル
ムスキャナは、供給リール２１と巻取リール２２間に掛
け渡されたマイクロフィルム２３のコマ画像を、投影光
学系２４により、ＣＣＤラインセンサ２５に投影し、こ
のＣＣＤラインセンサ２５によりこのコマ画像を読み取
る構成である。

【００１４】具体的には、供給リール２１および巻取リ
ール２２は互いに所定間隔離れてロールフィルムキャリ
ア（図示していない）に搭載されている。この供給リー
ル２１には、複数のコマ画像（マイクロ画像ともいう）
がその長手方向に沿って順次写し込まれたマイクロフィ
ルム２３が巻回されており、この供給リール２１からマ
イクロフィルム２３を巻取リール２２に巻き取る構成で
ある。これらの供給リール２１および巻取リール２２は
、モータ６１、６２によりそれぞれ駆動される。そして
、これらのリール２１、２２間でマイクロフィルム２３
の巻き取り、巻き戻しを行うことにより、読み取るべき
コマ画像を検索し、両リール２１、２２間に設けられた
一対の上ガラス２６と下ガラス２７との間の読取位置に
所望のコマ画像を停止させるものである。このロールフ
ィルムキャリアは、一般にマイクロリーダプリンタ等に
用いられるフィルムキャリアと同様の構成であり、すで
に良く知られている技術であるので、そのコマ画像の検
索方法等の詳細な説明は省略する。

【００１５】そして、これらの一対の上ガラス２６およ
び下ガラス２７の直上には上記ＣＣＤラインセンサ２５
が矩形のキャリアプレート２８の下面に垂下、固定され
て配設されている。このＣＣＤラインセンサ２５は、複
数の（例えば５０００画素分の）光電変換素子を一列に
配設して構成されている。この光電変換素子の配列方向
（主走査方向）は上記マイクロフィルム２３の走行方向
（副走査方向）に対して直交する方向に設定されている
。また、このキャリアプレート２８の一端部は、ＣＣＤ
ラインセンサ２５の長手方向（光電変換素子配列方向）
と平行に延設されたスライドレール３７にスライド移動
可能に支持されており、その他端はプーリ３８、３９に
張架されたワイヤ３０の両端に連結されている。このプ
ーリ３８はモータ２９の駆動軸に連結されており、この
モータ２９の駆動により、キャリアプレート２８と一体
となってＣＣＤラインセンサ２５は主走査方向と平行な
方向（図中矢印Ｘで示す方向）に移動し、投影画像とＣ
ＣＤラインセンサ２５との相対位置が調整される構成で
ある。尚、投影画像とラインセンサ２５との相対位置の
調整は、ラインセンサ２５を固定として、投影レンズ３
５又はフィルムキャリアを主走査方向に移動させること
により行ってもよい。

【００１６】コマ画像をＣＣＤラインセンサ２５に投影
する投影光学系２４は、光源であるランプ３１と、この
ランプ３１からの光を集光する集光レンズ３２と、この
集光レンズ３２を通った光を上記一対の上ガラス２６お
よび下ガラス２７に導くようにこれらの上ガラス２６と
下ガラス２７の直下に配設されたミラー３３と、ミラー
３３の上方に配設された集光レンズ３４と、これらの上
ガラス２６と下ガラス２７の直上でＣＣＤラインセンサ
２５の直下に配設された投影レンズとしてのズームレン
ズ３５と、を有している。

【００１７】したがって、この上ガラス２６と下ガラス
２７との間に位置決めされたコマ画像を透過した光は、
投影レンズ３５に至り、この投影レンズ３５によってＣ
ＣＤラインセンサ２５上に投影されることとなる。投影
レンズ３５はズームレンズであり、モータ３６の駆動に
よりその投影倍率が変更される。

【００１８】図３にはこのマイクロフィルムスキャナの
システム構成が示されている。この図に示すように、Ｃ
ＣＤラインセンサ２５は、クロック発生回路４１からの
クロック信号に基づいて（シフトパルスに基づいて）、
各光電変換素子が生成したアナログ信号をＡ／Ｄ変換回
路４２に出力する構成である。そして、このＡ／Ｄ変換
回路４２のディジタル信号出力（８ビットデータの画像
信号）は、シェーディング補正回路４４に入力されるが
、後述するシェーディング補正用データ（光学ムラおよ
び画素ムラのデータ）の収集の際には、Ａ／Ｄ変換回路
４２の出力はシェーディングＲＡＭ４３に入力されて一
旦記憶された後、システムバスを介してＡＥ−ＲＡＭ５
４に転送される構成である。そして、コマ画像の読み取
り時には、ＡＥ−ＲＡＭ５４に記憶されたシェーディン
グ補正用データがシェーディングＲＡＭ４３に記憶され
、このシェーディングＲＡＭ４３の８ビットデータの出
力（シェーディング補正信号）もシェーディング補正回
路４４に入力される構成である。さらに、このシェーデ
ィング補正回路４４の８ビットデータの出力信号（シェ
ーディング補正後の画像出力）は画像処理回路４５に入
力されて所定の画像処理がなされ、この画像処理回路４
５の８ビットデータの出力は外部Ｉ／Ｆ（インタフェー
ス）回路４６を介して１ビットデータとして出力される
構成である。

【００１９】また、これらのシェーディングＲＡＭ４３
、シェーディング補正回路４４、画像処理回路４５、お
よび、外部Ｉ／Ｆ回路４６は、システムバスを介してＣ
ＰＵ５１等に接続されている。ＣＰＵ５１はこのシステ
ムバスを介してシステムＲＯＭ５２、システムＲＡＭ５
３、上記ＡＥ−ＲＡＭ５４に接続されている。さらに、
このＣＰＵ５１はＣＣＤ主走査方向駆動回路５５、画像
スキャン駆動回路５６、ランプ光量制御回路５７、ズー
ムレンズ駆動回路５８、供給リール駆動回路６３、巻取
リール駆動回路６４の各回路に、このシステムバスを介
してそれぞれ接続されている。すなわち、ＣＰＵ５１は
、システムＲＯＭ５２に格納したプログラムに基づいて
予備スキャン、本スキャン、シェーディング補正処理、
画像処理等の制御を行うものである。

【００２０】なお、ＣＣＤ主走査方向駆動回路５５はモ
ータ２９に駆動信号を出力し、上記キャリアプレート２
８を主走査方向に駆動するものである。画像スキャン駆
動回路５６はモータ５９により上記ロールフィルムキャ
リアを副走査方向に移動するものである。ランプ光量制
御回路５７は上記ランプ３１が出力する光の光量を制御
するものである。また、ズームレンズ駆動回路５８は上
記モータ３６に駆動信号を出力してズームレンズ３５を
駆動し、コマ画像の投影倍率を変更するものである。さ
らに、上記供給リール駆動回路６３および巻取リール駆
動回路６４は、上記モータ６１、６２にそれぞれ駆動信
号を出力してマイクロフィルム２３を巻き取り、巻き戻
すものである。

【００２１】この実施例に係るマイクロフィルムスキャ
ナでは、マイクロフィルム２３からコマ画像を読み取る
には、以下の手順による。

【００２２】まず、装置の電源がＯＮされると、マイク
ロフィルム２３が巻取リール２２に巻き取られていない
状態、すなわち上ガラス２６と下ガラス２７との間にマ
イクロフィルム２３が存在しない状態で、シェーディン
グ補正データ作成のための光学ムラデータおよび画素ム
ラデータの収集を行う。上記光学ムラデータは主に投影
光学系２４やズームレンズ３５の特性による光量ムラの
データであり、上記画素ムラデータとは、ＣＣＤライン
センサ２５の各光電変換素子間の出力ムラのデータであ
る。これらのデータの収集方法については後に詳述する
。

【００２３】光学ムラデータおよび画素ムラデータの収
集が完了すると、周知の方法によってコマ画像の検索が
行われ、読み取るべきコマ画像が上ガラス２６と下ガラ
ス２７との間の上記読取位置にセットされる。その後、
モータ２９を駆動してＣＣＤラインセンサ２５を所定の
位置にセットし、さらに、ロールフィルムキャリアを副
走査方向に移動させて予備スキャンを行う。この予備ス
キャンにおいて、ＣＣＤラインセンサ２５によりコマ画
像の主走査方向の位置を検出する。

【００２４】そして、この予備スキャンによって検出さ
れたコマ画像の位置に対応してＣＣＤラインセンサ２５
の主走査方向における最適な位置が決定され、モータ２
９が駆動される。この場合のＣＣＤラインセンサ２５の
位置の最適値とはＣＣＤラインセンサ２５に投影される
画像の主走査方向における範囲が、ＣＣＤラインセンサ
２５の読み取り範囲に一致する位置である。なお、以下
では、ＣＣＤラインセンサ２５が主走査方向に移動する
ことによって画像の読み取りが可能となる領域を読取可
能領域と呼ぶことにする。すなわち、コマ画像がこの読
取可能領域内にある限り、ＣＣＤラインセンサ２５を移
動させることにより、コマ画像を適切な位置で読み取る
ことができる。

【００２５】その後、再び、ロールフィルムキャリアを
副走査方向に移動させ、画像読み取りのための本スキャ
ンが行われるが、この際、予めサンプリングされた光学
ムラデータおよび画素ムラデータに基づき、その時のＣ
ＣＤラインセンサ２５の位置に対応するシェーディング
補正用データが決定され、ＣＣＤラインセンサ２５によ
って読み取られた画像データは、このシェーディング補
正用データに基づいてシェーディング補正が施される。

【００２６】図４および図５はそれぞれ、予備スキャン
時、本スキャン時におけるＣＣＤラインセンサ２５と、
これに投影される画像との主走査方向における相対的な
位置関係および投影倍率を示す模式図である。

【００２７】上記予備スキャンは、ズームレンズ３５を
本スキャン時における所定の読み取り倍率よりも小さい
予備スキャン用の倍率にセットしておく。そして、ラン
プ３１から所定の光を投射することにより、図４に示す
ように、マイクロフィルム２３の読取可能領域全体をＣ
ＣＤラインセンサ２５の光電変換素子上に投影する。こ
れにより、マイクロフィルム２３の読取可能領域におけ
るコマ画像Ｉの位置等を読み取るものである。なお、マ
イクロフィルム２３にあって各コマ画像Ｉに対してはそ
の枠外に検索用のブリップマークＢＭが写し込まれてい
る。

【００２８】そして、本スキャンにあっては、ズームレ
ンズ３５をモータ３６により駆動して本スキャン用の所
定の読み取り倍率に設定するとともに、ＣＣＤラインセ
ンサ２５を主走査方向に移動させて、図５に示すように
、全体として投影画像がＣＣＤラインセンサ２５の有効
な光電変換素子の幅Ｗ（５０００画素分の幅）内に位置
するようにセットすることにより、そのＣＣＤラインセ
ンサ２５に対する投影画像の相対位置を最良のものとす
る。なお、本スキャン用の読み取り倍率は、シェーディ
ング補正用データ（光学ムラデータおよび画素ムラデー
タ）の収集時の投影倍率と同一である。

【００２９】次に、図７に示すフローチャートを参照し
て該マイクロフィルムスキャナにおけるシェーディング
補正用データ（光学ムラデータおよび画素ムラデータ）
のサンプリングについて説明する。

【００３０】マイクロフィルムスキャナに電源が投入さ
れると、まず、マイクロフィルム２３が読取位置から外
されているか否かをチェックする（ステップＳ７０１）
。これは、シェーディング補正用データの作成は、マイ
クロフィルム２３がランプ３１からＣＣＤラインセンサ
２５に至る光路中に存在しない状態で行うからである。 供給リール２１が装着されていないか、または、マイク
ロフィルム２３がすべて供給リール２１に巻き取られて
いることによりマイクロフィルム２３が読取位置から外
されている場合には、そのままステップＳ７０３に進む
。マイクロフィルム２３が読取位置に存在している場合
は、供給リール駆動用のモータ６１を駆動させてマイク
ロフィルム２３を供給リール２１に完全に巻き取る（Ｓ
７０２）。

【００３１】次に、このフィルムが外された状態でラン
プ光量制御回路５７によりランプ３１をＯＮとする（Ｓ
７０３）。この結果、投影光学系２４を介してランプ３
１の光がＣＣＤラインセンサ２５の複数の光電変換素子
に照射されることとなる。同時に、ＣＣＤラインセンサ
２５への画像の投影倍率が上述した本スキャン時の倍率
と同じ所定の値となるように、ズームレンズ３５をセッ
トする。

【００３２】そして、このＣＣＤラインセンサ２５を、
その先端の光電変換素子（その配列方向の端部に位置す
る第１番目の光電変換素子）が読取可能領域の先端（図
６ではＡ）に位置するように移動する（Ｓ７０４）。

【００３３】そして、ＣＣＤラインセンサ２５の１ライ
ン分のデータ、すなわちランプ３１の投影光により複数
の光電変換素子に発生した電流を５０００画素分だけ取
り出して、Ａ／Ｄ変換回路４２にてディジタル信号に変
換してシェーディングＲＡＭ４３に記憶させる（Ｓ７０
５）。さらに、このようにしてシェーディングＲＡＭ４
３に格納した１ライン分のデータの全て（５０００画素
分のデータ）をＡＥ−ＲＡＭ５４に転送、退避させて記
憶させる（Ｓ７０６）。このシェーディング補正データ
は上述した光学ムラによるものと画素ムラによるものと
を含んだデータとして得られている。

【００３４】次に、ＣＣＤラインセンサ２５の後端の光
電変換素子が読取可能領域の後端（図６のＢ）に位置し
ているか否かを判断する（Ｓ７０７）。後端の光電変換
素子が読取可能領域の後端に位置していない場合は、Ｃ
ＣＤラインセンサ２５を読取可能領域の後端に向かって
１ステップだけ主走査方向に移動する（Ｓ７０８）。こ
の移動ステップは、例えば１個の光電変換素子分だけ移
動する値とすることができ、または、複数の光電変換素
子分だけ移動する値で構成することもできる。例えばモ
ータ２９を所定パルス分駆動してフィルムキャリア２８
をＸ方向に所定距離だけ移動するものとする。そして、
ステップＳ７０５に戻り、この位置でデータを読み取り
、再び１ライン分のデータ（５０００画素分のデータ）
をシェーディングＲＡＭ４３に記憶し、さらに、そのデ
ータをＡＥ−ＲＡＭ５４に転送して格納する（Ｓ７０６
）。このステップＳ７０５、Ｓ７０６、Ｓ７０７、Ｓ７
０８を繰り返すことにより、図６に示すように、ＣＣＤ
ラインセンサ２５を主走査方向に移動して、各移動ステ
ップ毎にシェーディング補正データをＡＥ−ＲＡＭ５４
に格納する。すなわち、ＣＣＤラインセンサ２５の主走
査方向における異なる複数位置でのシェーディング補正
用データをサンプリングするものである。

【００３５】そして、ＣＣＤラインセンサ２５の後端の
光電変換素子が読取可能領域の後端に到達すると（Ｓ７
０７でＹＥＳ）、このＣＣＤラインセンサ２５による読
取可能領域の全てについてシェーディング補正データの
収集が完了することとなり、ステップＳ７０９に進む。 この結果、この読取可能領域の全域についての出力デー
タ（シェーディング補正データ）が、例えば図６のグラ
フに示すように、得られることとなる。

【００３６】ステップＳ７０９では、ランプ３１をＯＦ
Ｆとして、ＣＣＤラインセンサ２５を所定のホームポジ
ションに移動し（Ｓ７１０）、このルーチンを終了する
。このホームポジションは、予備スキャン時に、読取可
能領域全体がＣＣＤラインセンサ２５上に正確に投影さ
れるように予め決められている位置である。

【００３７】次に、図８のフローチャートを参照して本
スキャンにおける画像データのシェーディング補正につ
いて説明する。

【００３８】まず、予備スキャンによって検出されたコ
マ画像の位置に対応してＣＣＤラインセンサ２５によっ
て読み取るべき画像域を決定する（Ｓ８０１）。なお、
本実施例においては、予備スキャンを行うことによって
、ＣＣＤラインセンサ２５によって読み取るべき画像域
を自動的に決定するようにしたが、読み取るべき画像域
を、オペレータがマニュアルで入力するようにしても良
い。そして、モータ２９を駆動することにより、ＣＣＤ
ラインセンサ２５をこのコマ画像位置に対応して移動さ
せる（Ｓ８０２）。このとき、投影倍率が所定の本スキ
ャン用の値となるようにズームレンズ３５をセットする
。

【００３９】そして、ＡＥ−ＲＡＭ５４に格納してある
シェーディング補正用データ、すなわちＣＣＤラインセ
ンサ２５の停止位置に対応したシェーディング補正用デ
ータを上記ＡＥ−ＲＡＭ５４より読み出し、シェーディ
ングＲＡＭ４３に転送する（Ｓ８０３）。このようにし
て当該ＣＣＤラインセンサ２５の位置においてのシェー
ディング補正用データが得られると、以下本スキャンを
行う。

【００４０】すなわち、ランプ３１をＯＮとし（Ｓ８０
４）、本スキャンをスタートする（Ｓ８０５）。そして
、この本スキャンにてＣＣＤラインセンサ２５により読
み取った画像データはシェーディング補正回路４４に転
送され、このシェーディング補正回路４４において上記
シェーディング補正用データに基づいて画像データにつ
いてのシェーディング補正が行われる（Ｓ８０６）。

【００４１】この本スキャンが終了すると、ランプ３１
をＯＦＦとし（Ｓ８０７）、スキャン系をリセットする
（Ｓ８０８）。例えばスキャン機構およびＣＣＤライン
センサ２５を上記ホームポジションに移動する。以上の
ように、各コマ画像Ｉ毎にそのコマ画像Ｉの位置が主走
査方向においてずれている場合でも、この位置を検出し
て、その位置に対応したシェーディング補正用データに
より、読み取った画像データについて最適のシェーディ
ング補正を行うことができる。なお、上記ステップ幅に
ついてはＡＥ−ＲＡＭ５４のメモリ容量に基づいて設定
することができる。この移動ステップ幅を大きくすると
メモリ容量を節約することができることとなる。

【００４２】

【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、ラインセンサとその他の光学系とをラインセンサの
主走査方向に相対的に移動可能に支持したため、読み取
るべき画像の主走査方向の位置が一定でない場合にも常
に適切な範囲の画像を読み取ることができるとともに、
その時の読取範囲に適応したシェーディング補正を行う
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るイメージスキャナの機能構成を示
すブロック図である。

【図２】本発明の一実施例に係るマイクロフィルムスキ
ャナの投影光学系の概略を示す斜視図である。

【図３】本発明の一実施例に係るマイクロフィルムスキ
ャナの全体構成を示すブロック図である。

【図４】本発明の一実施例に係るマイクロフィルムスキ
ャナによる予備スキャン時のＣＣＤラインセンサと、こ
れに投影される画像との主走査方向における相対的な位
置関係および投影倍率を示す模式図である。

【図５】本発明の一実施例に係るマイクロフィルムスキ
ャナによる本スキャン時のＣＣＤラインセンサと、これ
に投影される画像との主走査方向における相対的な位置
関係および投影倍率を示す模式図である。

【図６】本発明の一実施例に係るマイクロフィルムスキ
ャナでのシェーディング補正データの作成を説明するた
めの模式図である。

【図７】本発明の一実施例に係るマイクロフィルムスキ
ャナでシェーディング補正データを得るためのＣＰＵの
プログラムを示すフローチャートである。

【図８】本発明の一実施例に係るマイクロフィルムスキ
ャナで本スキャンにおけるシェーディング補正を行う場
合のＣＰＵのプログラムを示すフローチャートである。

【図９】従来のマイクロフィルムスキャナの投影光学系
の概略を示す斜視図である。

【符号の説明】

１００　　ラインセンサ ２００　　投影光学系 ３００　　保持手段 ４００　　サンプリング手段 ５００　　補正手段

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　複数の光電変換素子をライン状に配列
   してなるラインセンサによって、原稿画像をスキャンし
   てこの原稿画像を読み取るイメージスキャナであって、
   上記原稿画像を上記ラインセンサ上に投影する投影光学
   系と、この投影光学系と上記ラインセンサとを主走査方
   向に相対的に移動可能に保持する保持手段と、上記投影
   光学系に対して上記ラインセンサが主走査方向に移動し
   た場合の複数位置におけるシェーディング補正データを
   サンプリングし、記憶するサンプリング手段と、原稿画
   像読み取り時の上記投影光学系と上記ラインセンサとの
   間の主走査方向の相対位置に応じた、上記サンプリング
   手段によってサンプリングされたシェーディング補正デ
   ータに基づいてシェーディング補正を実行する補正手段
   と、を備えたことを特徴とするイメージスキャナ。