JPH04368411A - 電力ケーブルの試験用端末口元処理方法 - Google Patents
電力ケーブルの試験用端末口元処理方法Info
- Publication number
- JPH04368411A JPH04368411A JP17175991A JP17175991A JPH04368411A JP H04368411 A JPH04368411 A JP H04368411A JP 17175991 A JP17175991 A JP 17175991A JP 17175991 A JP17175991 A JP 17175991A JP H04368411 A JPH04368411 A JP H04368411A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- power cable
- heat
- insulating layer
- testing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Processing Of Terminals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電力ケーブルの試験用
端末口元処理方法に関する。
端末口元処理方法に関する。
【０００２】
【従来技術】従来、電力ケーブルの開発時において、ま
たは出荷時においては電力ケーブルの性能を確認するた
め交流若しくは直流の耐電圧特性試験や破壊特性試験お
よび長期特性試験等が行われている。特に絶縁層として
架橋ポリエチレン、ＥＰＲ（エチレンプロピレンラバー
）を用いた電力ケーブルにおいては、その絶縁層の交流
若しくは直流の耐電圧特性または破壊特性および長期特
性が電力ケーブル設計上重要な特性となるので、これら
の試験は極めて重要である。
たは出荷時においては電力ケーブルの性能を確認するた
め交流若しくは直流の耐電圧特性試験や破壊特性試験お
よび長期特性試験等が行われている。特に絶縁層として
架橋ポリエチレン、ＥＰＲ（エチレンプロピレンラバー
）を用いた電力ケーブルにおいては、その絶縁層の交流
若しくは直流の耐電圧特性または破壊特性および長期特
性が電力ケーブル設計上重要な特性となるので、これら
の試験は極めて重要である。
【０００３】従来の電力ケーブルの試験用端末の口元処
理は図２に示すように行っている。すなわち電力ケーブ
ル２は導体２０上に、内部半導電層２１、絶縁層２２、
外部半導電層２３、遮蔽層２４、および被覆層（外部シ
ース）２５が順次設けられた構造であり、この電力ケー
ブル２の端末部分は、外部半導電層２３、遮蔽層２４、
および被覆層２５が断剥ぎされて、絶縁層２２が露出し
ている。
理は図２に示すように行っている。すなわち電力ケーブ
ル２は導体２０上に、内部半導電層２１、絶縁層２２、
外部半導電層２３、遮蔽層２４、および被覆層（外部シ
ース）２５が順次設けられた構造であり、この電力ケー
ブル２の端末部分は、外部半導電層２３、遮蔽層２４、
および被覆層２５が断剥ぎされて、絶縁層２２が露出し
ている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】一般に、外部半導電層
を除去して絶縁層を露出させるには、鋭利なガラス破断
面、または鋭利な金属破断面を使用して外部半導電層を
除去し、絶縁層を露出させている。しかし鋭利なガラス
破断面や金属破断面で外部半導電層を削ると、削ったあ
と、外部半導電層および絶縁層の表面が凹凸となり外部
半導電層に突起が生じ、また絶縁体上表面の凹凸内の空
隙に空気が溜まり、いわゆるエアギャップを形成してし
まう。このように外部半導電層に突起があったり、また
絶縁体上表面にエアギャップがあると、電気ストレスが
その部分に集中し、その部分から放電して端末口元部分
で破壊してしまう恐れがあり、正確な耐電圧特性または
破壊特性等を調べることが出来なくなる。
を除去して絶縁層を露出させるには、鋭利なガラス破断
面、または鋭利な金属破断面を使用して外部半導電層を
除去し、絶縁層を露出させている。しかし鋭利なガラス
破断面や金属破断面で外部半導電層を削ると、削ったあ
と、外部半導電層および絶縁層の表面が凹凸となり外部
半導電層に突起が生じ、また絶縁体上表面の凹凸内の空
隙に空気が溜まり、いわゆるエアギャップを形成してし
まう。このように外部半導電層に突起があったり、また
絶縁体上表面にエアギャップがあると、電気ストレスが
その部分に集中し、その部分から放電して端末口元部分
で破壊してしまう恐れがあり、正確な耐電圧特性または
破壊特性等を調べることが出来なくなる。
【０００５】そこで、従来は外部半導電層を削る時には
、外部半導電層と露出される絶縁層の表面を丁寧に出来
る限り平滑にしかも真円に近くなるように削っている。 このため高度な技術と人的労力を必要としていた。 また外部半導電層に大きな突起が生じた場合や絶縁体表
面に大きな凹凸が生じた場合は、端末部分の破壊確率が
高く成るために切断して、再度組替え、削り直しを行っ
ており係る作業は非常に面倒であった。
、外部半導電層と露出される絶縁層の表面を丁寧に出来
る限り平滑にしかも真円に近くなるように削っている。 このため高度な技術と人的労力を必要としていた。 また外部半導電層に大きな突起が生じた場合や絶縁体表
面に大きな凹凸が生じた場合は、端末部分の破壊確率が
高く成るために切断して、再度組替え、削り直しを行っ
ており係る作業は非常に面倒であった。
【０００６】
【発明の目的】本発明はかかる点に鑑みてなされたもの
であり、簡単に口元処理を行うことが出来、しかも正確
に電力ケーブルの交流若しくは直流の耐電圧特性、また
は破壊特性等を調べることが出来る電力ケーブルの試験
用端末口元処理方法を提供することを目的とする。
であり、簡単に口元処理を行うことが出来、しかも正確
に電力ケーブルの交流若しくは直流の耐電圧特性、また
は破壊特性等を調べることが出来る電力ケーブルの試験
用端末口元処理方法を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、導体上に絶縁
層および外部半導電層を有する電力ケーブルの試験用端
末において、外部半導電層を削って絶縁層を露出させた
後外部半導電層と絶縁層上に耐熱性熱収縮チューブを被
せ該耐熱性熱収縮チューブを加熱収縮させ、その後これ
を取り除くことを特徴とする。
層および外部半導電層を有する電力ケーブルの試験用端
末において、外部半導電層を削って絶縁層を露出させた
後外部半導電層と絶縁層上に耐熱性熱収縮チューブを被
せ該耐熱性熱収縮チューブを加熱収縮させ、その後これ
を取り除くことを特徴とする。
【０００８】
【作用】本発明の電力ケーブルの試験用端末口元処理方
法において、外部半導電層を削り、絶縁層を露出させた
後、耐熱性熱収縮チューブを挿入して該耐熱性熱収縮チ
ューブを熱風装置で加熱すると、耐熱性熱収縮チューブ
が熱収縮するので、外部半導電層と絶縁層に円周方向に
一応な圧力が加わり、外部半導電層と絶縁体の表面が平
滑に形成される。このために、外部半導電層の突起、絶
縁体上表面の凹凸がなくなり、試験時の端末口元破壊や
閃絡等の事故を防止することが出来る。
法において、外部半導電層を削り、絶縁層を露出させた
後、耐熱性熱収縮チューブを挿入して該耐熱性熱収縮チ
ューブを熱風装置で加熱すると、耐熱性熱収縮チューブ
が熱収縮するので、外部半導電層と絶縁層に円周方向に
一応な圧力が加わり、外部半導電層と絶縁体の表面が平
滑に形成される。このために、外部半導電層の突起、絶
縁体上表面の凹凸がなくなり、試験時の端末口元破壊や
閃絡等の事故を防止することが出来る。
【０００９】
【実施例】以下本発明の実施例を図面を参照して具体的
に説明する。図１は、本発明の電力ケーブルの試験用端
末口元処理方法を示す概略説明図である。電力ケーブル
１は導体１０上に、内部半導電層１１、絶縁層１２、外
部半導電層１３、遮蔽層１４、および被覆層１５が順次
設けられて構成されている。この電力ケーブル１の端末
部分は、外部半導電層１３、遮蔽層１４、および被覆層
１５が段剥ぎされており、絶縁層１２が露出されている
。
に説明する。図１は、本発明の電力ケーブルの試験用端
末口元処理方法を示す概略説明図である。電力ケーブル
１は導体１０上に、内部半導電層１１、絶縁層１２、外
部半導電層１３、遮蔽層１４、および被覆層１５が順次
設けられて構成されている。この電力ケーブル１の端末
部分は、外部半導電層１３、遮蔽層１４、および被覆層
１５が段剥ぎされており、絶縁層１２が露出されている
。
【００１０】耐熱性熱収縮チューブを用いた口元処理の
形成は以下のように行う。なおここでは電力ケーブル１
の外部半導電層の外径が２１ｍｍである場合について説
明する。また耐熱性熱収縮チューブとしてフッ素樹脂熱
収縮チューブを使用した。
形成は以下のように行う。なおここでは電力ケーブル１
の外部半導電層の外径が２１ｍｍである場合について説
明する。また耐熱性熱収縮チューブとしてフッ素樹脂熱
収縮チューブを使用した。
【００１１】まず、外部半導電層１３を鋭利に破断させ
た板ガラス（ｔ＝２ｍｍ）で削り取り絶縁層１２を露出
させる。次に外部半導電層１３と露出させた絶縁層１２
の一部分に、外径２２ｍｍ、肉厚１ｍｍ、長さ２５０ｍ
ｍのフッ素樹脂熱収縮チューブ１６を挿入して固定し、
さらにフッ素樹脂熱収縮チューブ１６の上にテフロンテ
ープ１７（厚さ０．５ｍｍ、幅４０ｍｍ）を完全にフッ
素樹脂熱収縮チューブが覆われるように一層巻き付けた
。その上を熱風装置で一方から１００〜１８０℃の熱源
で均一に収縮させた。その後その状態のまま自然放冷さ
せ常温まで下がったら、巻き付けたテフロンテープ、お
よびフッ素樹脂熱収縮チューブを除去した。
た板ガラス（ｔ＝２ｍｍ）で削り取り絶縁層１２を露出
させる。次に外部半導電層１３と露出させた絶縁層１２
の一部分に、外径２２ｍｍ、肉厚１ｍｍ、長さ２５０ｍ
ｍのフッ素樹脂熱収縮チューブ１６を挿入して固定し、
さらにフッ素樹脂熱収縮チューブ１６の上にテフロンテ
ープ１７（厚さ０．５ｍｍ、幅４０ｍｍ）を完全にフッ
素樹脂熱収縮チューブが覆われるように一層巻き付けた
。その上を熱風装置で一方から１００〜１８０℃の熱源
で均一に収縮させた。その後その状態のまま自然放冷さ
せ常温まで下がったら、巻き付けたテフロンテープ、お
よびフッ素樹脂熱収縮チューブを除去した。
【００１２】上記のように処理した、電力ケーブルの交
流および直流の耐電圧特性試験、破壊特性試験および長
期課電試験を行ったところ、電力ケーブルの端末口元破
壊がなく、しかも安定して電力ケーブルの耐電圧特性、
破壊特性および長期特性を調べることが出来た。なお耐
熱性熱収縮チューブはフッ素樹脂熱収縮チューブに限ら
れるものではない。
流および直流の耐電圧特性試験、破壊特性試験および長
期課電試験を行ったところ、電力ケーブルの端末口元破
壊がなく、しかも安定して電力ケーブルの耐電圧特性、
破壊特性および長期特性を調べることが出来た。なお耐
熱性熱収縮チューブはフッ素樹脂熱収縮チューブに限ら
れるものではない。
【００１３】
【発明の効果】以上説明した如く、本発明の電力ケーブ
ルの試験用端末口元処理方法によれば、簡単に外部半導
電層および絶縁層の表面を平滑に処理することができる
ので、電力ケーブルの耐電圧特性、破壊特性および長期
特性を確実に調べることが出来るものである。
ルの試験用端末口元処理方法によれば、簡単に外部半導
電層および絶縁層の表面を平滑に処理することができる
ので、電力ケーブルの耐電圧特性、破壊特性および長期
特性を確実に調べることが出来るものである。
【図１】本発明の電力ケーブル試験用端末処理方法の一
実施例を示す概略断面図。
実施例を示す概略断面図。
【図２】従来の電力ケーブル試験用端末処理を示す概略
断面図。
断面図。
１、２ 電力ケーブル
１０、２０ 導体
１１、２１ 内部半導電層
１２、２２ 絶縁層
１３、２３ 外部半導電層
１４、２４ 遮蔽層
１５、２５ 被覆層
１６ フッ素樹脂熱収縮チューブ
１７ テフロンテープ
Claims (1)
- 【請求項１】 導体上に絶縁層および外部半導電層を
有する電力ケーブルの試験用端末において、外部半導電
層を削って絶縁層を露出させた後外部半導電層と絶縁層
上に耐熱性熱収縮チューブを被せ、該耐熱性熱収縮チュ
ーブを加熱収縮させ、その後これを取り除くことを特徴
とする電力ケーブルの試験用端末口元処理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17175991A JPH04368411A (ja) | 1991-06-17 | 1991-06-17 | 電力ケーブルの試験用端末口元処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17175991A JPH04368411A (ja) | 1991-06-17 | 1991-06-17 | 電力ケーブルの試験用端末口元処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04368411A true JPH04368411A (ja) | 1992-12-21 |
Family
ID=15929158
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17175991A Pending JPH04368411A (ja) | 1991-06-17 | 1991-06-17 | 電力ケーブルの試験用端末口元処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04368411A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117554763A (zh) * | 2023-11-17 | 2024-02-13 | 重庆科宝电建实业有限公司 | 一种10kV电力电缆多段敷设击穿原因判定及定位方法 |
-
1991
- 1991-06-17 JP JP17175991A patent/JPH04368411A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117554763A (zh) * | 2023-11-17 | 2024-02-13 | 重庆科宝电建实业有限公司 | 一种10kV电力电缆多段敷设击穿原因判定及定位方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0233002A2 (en) | Electrical cable splice enclosure | |
| CN108604786A (zh) | 用于具有热塑性绝缘的电缆的接头及其制造方法 | |
| JP2001347566A (ja) | 熱収縮チューブ及び熱収縮シート及びそれらの収縮方法 | |
| KR20150108910A (ko) | 절연된 전기 고전압 dc 터미네이션 또는 조인트의 제조 방법 | |
| JPH04368411A (ja) | 電力ケーブルの試験用端末口元処理方法 | |
| US4552988A (en) | Strippable insulated wire and method of making same | |
| JP3700913B2 (ja) | 電力ケーブルの端末処理方法 | |
| US3778888A (en) | Method of applying a field control device to an insulated conductor of a cable and an apparatus for carrying out the method | |
| EP0145307A2 (en) | Cable blocking | |
| KR20200101720A (ko) | 케이블의 경면처리용 치구 및 이를 이용한 케이블의 경면처리 방법 | |
| JP3243142B2 (ja) | 架橋ポリエチレン絶縁電力ケーブルのプレハブ型接続部の形成方法 | |
| CN112180222A (zh) | 一种用于电缆料绝缘性能试验的系统及方法 | |
| EP4387021A1 (en) | Method for repairing a cable outer semiconducting layer | |
| JP2639649B2 (ja) | 電力ケーブルの接続部の形成方法 | |
| JPH0729691A (ja) | 絶縁体の空間電荷の除去方法 | |
| JPH05328581A (ja) | ケーブル接続端部 | |
| JPS60125107A (ja) | モ−ルドストレスコ−ンの形成方法 | |
| JP2789583B2 (ja) | ケーブル接続部の成形方法 | |
| JP2840837B2 (ja) | ケーブルのモールドジョイント工法 | |
| JPH09140043A (ja) | ゴムモールド部品およびケーブル端部の形成方法 | |
| JPH07170623A (ja) | ケーブルの端末処理方法 | |
| KR20240141036A (ko) | 케이블 어닐링 방법 | |
| JPH01250871A (ja) | 電気ケーブルの試験方法 | |
| Sabir et al. | Space charge measurements in high voltage cables | |
| JPS5896517A (ja) | ラミネ−トテ−プ剥離方法 |