JPH0436879A - 物品検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （１）発明の目的 ［産業上の利用分野］ 本発明は、物品搬送部によって搬送されている被検査物
品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理す
ることにＪ：り被検査物品に異物か混入ないしく一１着
しているか否かを検査してなる物品検査装置に関し１、
特に、被検査物品の画像信号から取出された三原色信号
Ｒ，Ｇ、Ｂに基づいて作成された輝度信号Ｙ、相対色度
信号ＸもＬ　＜　Ｌ；Ｊ相対色度和信号ＸΔの高レベル
状態を計数回路で計数して被検査物品に混入ないしは付
着した異物の個数を計数し、計数結果が所定値を超えた
とき異物検出信号■を発生ずるに際し、乱反射信号除去
回路で輝度信号Ｙ、相対色度信号Ｘもしくは相対色度和
信号Ｘムを処理することにより、輝度信号Ｙ、相対色度
信号Ｘもしくは相対色度和信号Ｘムから画像信号中の乱
反射信号に伴なう誤信号を除去してなる物品検査装置に
関するもの−Ｃある。

［従来の技術］ 従来、この種の物品検査装置としては、物品搬送部によ
って搬送されている被検査物品（たとえば海苔）を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より、被検査物品に光物か混入ないしく一１着している
か否かを検査するに際し、特に、（１）被検査物品の画
像信号から取出された三原色信号Ｒ，Ｇ、Ｂに基づき輝
度信号Ｙおよび相対色度信ＭＸの少なくとも一方を作成
し、計数回路で輝度信号Ｙおよび相対色度信号Ｘの少な
くとも一方の高レベル状態を計数して被検査物品に混入
ないしは付着した異物の個数を計数し、計数結果か所定
値を超えたとき異物検出信号■を発生じ、もしくは（ｉ
　ｉ−）被検査物品の画像信号から取出された三原色信
号Ｒ，Ｇ、Ｂに基づき三原色相対色度信号Ｘｌｌ、Ｘ１
、Ｘ、を作成し、かつて原色信号Ｒ，Ｇ、Ｂのうち最大
のものに対応する三原色相対色度信号を除外した他の三
原色相対色度信号を所望の割合で互いに加算して相対色
度和信号ｘＩｌｌを作成し、計数回路で相対色度和信号
Ｘ、の高レベル状態を計数して被検査物品に混入ないし
く一１着した異物の個数を計数し、計数結果か所定値を
超えたとき異物検出信号■を発生してなるものが提案さ
れていた　（特願平１−２２６６４０および特願平１−
３１．５６３６参照）。

［解決すべき問題点］ しかしなから、従来の物品検査装置では、単３　、．２ に、（ｉ）被検査物品の画像信号から取出された三原色
信号Ｒ，Ｇ、Ｂに基づき輝度信号Ｙおよび相対色度信号
Ｘの少なくとも一方を作成し、ル］数回路で輝度信号Ｙ
および相対色度信号Ｘの少なくとも一方の高レベル状態
を計数して被検査物品に混入ないしは付着した異物の個
数を計数し、計数結果が所定値を超えたとき異物検出信
号■を発生し、もしくは（ｊ、ｉ）被検査物品の画像信
号から取出された三原色信号Ｒ，Ｇ、Ｂに基づき三原色
相対色度信号Ｘｌｌ、　Ｘ　ａ　、　Ｘ　８を作成し、
かつ三原色信号Ｒ，Ｇ、Ｂのうち最大のものに対応する
三原色相対色度信号を除外した他の三原色相対色度信号
を所望の割合で互いに加算して相対色度和信号ＸΔを作
成し、計数回路で相対色度和信号Ｘ、の高レベル状態を
計数して被検査物品に混入ないし付着した異物の個数を
計数し、計数結果が所定値を超えたとき異物検出信号を
発生するのみであったので、（１）被検査物品の表面に
おＣづる乱反射に伴なう誤信号か画像信号に混入してし
まったとき被検査物品の表面に混入ないしはイ・１着し
た異物（海苔の場合たとえは小エビ、網クズあるいはワ
ラクズなど）として検出してしまう欠点かあり、ひいて
は（ｂ）被検査物品の異物検査精度を向−にできない欠
点かあり、結果的にｆｉｊ、ｉ）被検査物品の品質を十
分には改善できない欠点かあった。

そこで、本発明は、これらの欠点を除去する目的で、被
検査物品の画像（２号から取出された三原色信号Ｒ，Ｇ
、Ｂに基ついて作成された輝度信号Ｙ、相対色度信号Ｘ
もしくは相対色度和信号ＸΔの高レベル状態を計数回路
で計数して被検査物品に混入ないしは付着した異物の個
数を計数し、計数結果か所定値を超えたとき異物検出信
号入７を発生するに際し、乱反射信号除去回路で輝度信
号Ｙ相対色度信号Ｘもしくは相対色度和信号ＸΔを処理
することにより、輝度信号Ｙ、相対色度信号Ｘもしくは
相対色度和信号ｘ６から画像１≦号中の乱反射信号に伴
なう誤信号を除去してなる物品検査装置を提供せんとす
るものである。

（２）発明の構成 ［問題点の解決手段］ 本発明により提供される問題、屯の第１の解決手段は、 「物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より被検査物品に異物が混入ないし付着しているか否か
を検査してなる物品検査装置において、 ｉａ）画像信号から三原色信号Ｒ，Ｇ、Ｂを取出すため
の三原色信号取出回路（４１）と、（ｌ〕）三原色信号
取出回路（旧）の出力端に対して入力端が接続されてお
り、三原色信号取出回路（４１）から与えられた三原色
信号Ｒ，Ｇ、Ｂから輝度信号Ｙを作成するための輝度信
号作成回路（４２）と、 （ｃ）輝度信号作成回路（４２）の出力端に対して入力
端が接続されており、輝度信号Ｙが設定値を超えたか否
かを判定して輝度信号Ｙが設定値を超えたときにのみ高
レベル状態となる輝度比較信号Ｙ゛を出力すを備えてな
ることを特徴とする物品検査装置」 である。

本発明により提供される問題点の第２の解決手段は、 ［物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より被検査物品に異物か混入ないし付着しているか否か
を検査してなる物品検査装置において、 （ａ）画像信号から三原色信号Ｒ，Ｇ、Ｂを取出すため
の三原色信号取出回路（Ｉｌｌ）と、（ｂ）三原色信号
取出回路（４１）の出力端に対して入力端が接続されて
おり、三原色信号取出回路（４１）から与えられた三原
色信号Ｒ，Ｇ、Ｂを互いに加算して三原色和信号Ｘを作
成するための三原色信号加算回路（４４）と、 （ｃｌ三原色信号取出回路（４１）の出力端と三原色信
号加算回路（４４）の出力端とに対してるだめの比較回
路（４３）と、 （ｄｌ比較回路（４３）の出力端に対して入力端か接続
されており、輝度比較信号Ｙ゛に含まれた高レベル状態
を計数することに よって被検査物品に混入ないしは付着した異物を計数す
るための計数回路（４８）と、 ｆｅ）輝度信号作成回路（４２）の出力端と比較回路（
４３）の入力端との間もしくは比較回路（４３）の出力
端と計数回路（４８）の入力端との間に挿入されており
、輝度信号Ｙもしくは輝度比較信号Ｙ０から画像信号中
の乱反射信号に伴なう誤輝度信号ＹＮもしくは誤輝度比
較信号ＹＮ＋を除去するための乱反射信号除去回路（７
１）と、 ［ｆｌ計数回路（４８）の出力端に対して入力端が接続
されており、計数回路（４８）の計数結果が所定値を超
えたとき異物検出信号人・′を発生ずるための異物検出
信号発生回路（４９）と 入力端が接続されており、三原色信号Ｒ、Ｇ、Ｂを三原
色和信号Ｘによって除することによって三原色信号Ｒ，
Ｇ、Ｂの原色相対色度信号Ｘ　Ｉｌ、　Ｘ、　α、　Ｘ
　ｎを算出し、最大のものを相対色度信号Ｘとして出力
するための割算回路（４５）と、 （ｄ）割算回路（４５）の出力端に対して入力端が接続
さ、ｆ′１でおり、相対色度信号Ｘが設定値を超えたか
否かを判定して相対色度信号Ｘが設定値を超えたときに
のみ高レベル状態となる相対色度比較信号Ｘ゛を出力す
るためのＬｔ較回路（４６）と、 ｔｅｌ比較回路（４６）の出力端に対して入力端が接続
されており、相対色度比較信号Ｘ゛に含まれた高レベル
状態を計数することによって被検査物品に混入ないしは
付着した異物を計数するための計数回路（４８）と、 （ｆ）割算回路（４５）の出力端と比較回路（４６）の
入力端との間もしくは比較回路（４６）の出先端と計数
回路（４８）の入力端との間に挿入されており、相対色
度信号Ｘもしくは相対色度比較信号Ｘ゛から画像信号中
の乱反射信号に伴なう誤相対色度信号Ｘ　Ｎもしくは誤
相対色度比較信号ＸＮ゛を除去するための乱反射信号除
去回路（７２）と、（ｇ）計数回路（４８）の出力端に
対して入力端か接続されており、計数回路（４８）の５
」数結果が所定値を超えたとき異物検出信号■を発生ず
るための異物検出信号発生回路（４９）と を備えてなることを特徴とする物品１カ）査装置」 である。

本発明により提供される問題点の第３の解決手段は、 「物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より被検査物品に異物が混入ないしイコ、着しているか
否かを検査してなる物品検査装置において、 （ａ）画像信号から三原色信号Ｒ，Ｇ、Ｂを取出すため
の三原色信号取出回路（４１）と、（１））三原色信号
取出回路（４１）の出力端に対して入力端か接続されて
おり、三原色信号取出回路（４１）から与えられた三原
色信号Ｒ，Ｇ、Ｂから輝度信号Ｙを作成するための輝度
信号作成回路（４２）と、 （ｃ）輝度信号作成回ｆｌ　（４２＋の出力端に対して
入力端が接続されており、輝度信号Ｙが設定値を超えた
か否かを判定して輝度信号Ｙが設定値を超えたときにの
み高レベル状態となる輝度比較信号Ｙ゛を出力するため
の第１の比較回路（４３）と、 （ｄ）三原色信号取出回路（４１）の出力端に対して入
力端か接続されており、三原色信号取出回路（４１）か
ら与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ、Ｂを互いに加算して三
原色和信号Ｘを作成するための三原色信号加算回路（４
４）と、 （ｅ）三原色信号取出回路（４１）の出力端と三原色信
号加算回路（４４）の出力端とに対して入力端が接続さ
れており、三原色信号ＲＧ、Ｂを三原色和信号Ｘによっ
て除す ることによって三原色信号Ｒ，Ｇ、Ｂの相対色度ＸＲ，
ＸＧ、Ｘ、を算出し、最大のものを相対色度信号Ｘとし
て出力するための割算回路（４５）と、 ｆｆ＋割算回路（４５）の出力端に対して入力端が接続
されており、相対色度信号Ｘが設定値を超えたか否かを
判定して相対色度信号Ｘが設定値を超えたどきにのみ高
レベル状態となる相対色度比較信号Ｘ゛を出力するため
の第２の比較回路（４６）と、（ｇ）第１の比較回路（
４３）の出力端と第２の比較回路（４６）の出力端とに
対して入力端が接続されており、輝度比較信号Ｙ゛と相
対色度比較信号Ｘ＋とを組合わせて組合信号２を作成し
出力するための信号組合回路（４７）と、 １））　Ｒ７度信号作成回路（４２）の出力端と第１の
比較回路（４３）の入力端との間もしくは第１の比較回
ｆｆ１４３）の出力端と信号組合回路（４７）の入力端
との間に挿入されており、輝度信号Ｙもしくは輝度比較
信号 Ｙ゛から画像信号中の乱反射信号に伴なう誤輝度信号Ｙ
Ｎもしくは誤輝度比較信号ＹＮ＋を除去するための第１
の乱反射信号除去回路（７１）と、 （１）割算回路（４５）の出力端と第２の比較回路（４
６）の入力端との間もしくは第２の比較回路（４６）の
出力端と信号組合回路（４７）の入力端との間に挿入さ
れており、相対色度信号Ｘもしくは相対色度比較信号Ｘ
“から画像信号中の乱反射信号に伴なう誤相対色度信号
ＸＮもしくは誤相対色度比較信号ＸＮ゛を除去するため
の第２の乱反射信号除去回路（７２）と、 （ｊ）信号組合回路（４７）の出力端に対して入力端か
接続されており、組合信号２に含まれた高レベル状態を
訓数することによって被検査物品に混入ないしは付着し
た異物を計数するための計数回路（４８）と、ｆｋ）計
数回路（４８）の出力端に対して入力端か接続されてお
り、計数回路（４８）の計数結果が所定値を超えたとき
異物検出信号■を発生するための異物検出信号発生回路
（４９）と を備えてなることを特徴とする物品検査装置」 である。

本発明により提供される問題点の第４の解決手段は、 ［物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より被検査物品に異物か混入ないし４４着しているか否
かを検査してなる物品検査装置において、 ［ａ）画像信号から三原色信号Ｒ，Ｇ、１３を取り出し
て出力するための三原色１ぺ号取出回路（１４１）と、 （ｂ　）　Ｆ１、、原色信号取出回路（１４１）の出力
端に文・］して入力端か接続されてお；フ、三原色信号
取出回路（１４１）から１うえられたミー原色信号Ｒ，
Ｇ、Ｂを互いに加算して三原色和信号Ｘを作成するため
の三原色信号加算回路（１４２）　　と、 ｔｃ＋三原色信号取出回路（１４１）の出力端および三
原色信号加算回路（１４２）の出力端に対して入力端が
接続されており、三原色 信号取出回路（１４１）から与えら１）た三原色信号Ｒ
，Ｇ、Ｂから選ばねた２つを 原色信号加算回路（１，４２）から勾えられた原色和信
号Ｘで除することによって 原色相対色度信号Ｘ、Ｒ，ＸＧ、Ｘ、から選ばれた２つ
の三原色相対色度信号を算出して出力するための除算回
路（１４４Ａ１、　１．４４８１４４ｃ、）　　と、 （ｄ）除算回路［１４４Ａ１．１４４Ｂ１．１４４Ｃ＋
）の出力端に対して入力端が接続さ第１てお：つ、除騨
回路（１４４Ａ）、　１４４Ｂ１、　１．４４６＋）か
ら与えられた三原色相対色度信号ＸＲ，Ｘ１、Ｘ、から
選ばれた２つの三原色相対色度信号を所望の割合で互い
に加算して相対色度和信号ＸΔどして出力するための相
対色度和信号算出回路（１，４Ｂ］　と、 ｆｅ）相対色度和信号算出回路（ｉ、４６］の出ノつ端
に対して入力端が接続されており、相対色度和信号×八
が設定値を超えたか否かを判定して相対色度和信号ＸΔ
が設定値を超えたときにのみ高レベル状態となる相対色
度和信号信号ＸΔ＋を出力するための比較回路（１ｂ７
）と、 （ｆ）比較回路（ｉ、４７）の出力端に対して入力端が
接続されており、相対色度和比較信号Ｘ訂に含まれた高
レベル状態を計数することによって被検査物品に混入な
いしく：１着した異物の個数を計数するための計数回路
（１，４８＋　と、 （ｇ）相対色度用（、ｉ胃算出回路＋１４６ｊの出力端
と比較回路（１４７）の入力端との間もしくＣｊ゛比較
回路（１４７＋の出力端と計数回路（ｉ１、　４８　＋
の入力端との間に挿入されており、相対色度和信号ＸΔ
もしく　ｌｊ：ｌ１１＃対色度和比較信号Ｘｌ１１）か
ら画像信号中の乱反射信号に伴なう誤相対色度和信号Ｘ
Δ１４もしくは誤相対色度和比較信号Ｘ５Ｎ’を除去す
るための乱反射信号除去回路（１，７３１と、 （Ｉ（ｉ）計数回路（１，４８＋　の出力端に対して入
力端が接続されており、計数回路（１，４８＋の計数結
果が所定値を超えたとき異物検出信号■を発生するため
の異物検出信号発生回路［１，４９）と を備えてなることを特徴とする物品検査装置」 である。

本発明により提供される問題点の第５の解決千Ｙぷは、 ［物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処、理すること
により被検査物品に異物か混入ないし付着しているか否
かを検査してなる物品検査装置において、 （ａ、）画像信号から三原色信号Ｒ，Ｇ、Ｂを取り出し
て出力するための三原色信号取出回路ｆ　１．４１．＋
　　と、 （ｌ〕）三原色信号取出回路（１４１１）の出力端に対
して入力端が接続されており、三原色信号取出回路（１
４１）から与えら第１た三原色信号Ｒ，Ｇ、Ｂを互いに
加算して三原色和信号Ｘを作成するための三原色信号加
算回路（１４２）と、 （ｃ）三原色信号取出回路（１４１１）の出力端および
三原色信号加算回路＋　１．４２　＋の出力端に対して
入力端が接続されており、三原色信号取出回路ｆ１．４
１．＋から与えら、ｌまた三原色信号Ｒ，Ｇ、Ｂから選
ばれた１つの三原色信号を三原色信号加算回路ｆ１４２
）から勾えられた三原色和信号Ｘで除すること比較回路
ｆ１４７］の入力端との間もしくは比較回路（１４７１
の出力端と計数回路ｆ１．４８＋の入力端との間に挿入
されており、相対色度信号Ｘもしくは相対色度比 較信号Ｘ゛から画像信号中の乱反則信弓に伴なう該相対
色度信号ＸＮもしくは誤相対色度比較信号ＸＮ”を除去
するための乱反射信号除去回路（７３）と、 （ｇ）計数回路（１４８＋の出力端に対して入力端が接
続されており、計数回路（１，４８＋の計数結果が所定
値を超えたどき異物検出信号■を発生ずるための異物検
出信号発生回路＋　１．４９　＋　と を備えてなることを特徴とする物品検査装置］ である。

本発明により提供される問題点の第６の解決手段は、 「物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信　　Ｑ とによって三原色相対色度信号Ｘ１、Ｘ６Ｘｌｌからｊ
πばれた１つの三原色相対色度信号を算出して相対色度
信号Ｘとして出力するための除算回路（１４４Ａ１、　
１４４Ｂ。

１．４４６、）と。

（ｄ）除算回路（１４４Ａ１．１．４４β、、　１４４
ｃｌ）の出力端に対して入力端か接続さ２′シており、
除算回路ｆ１４４Ａ１、　１４４β、、　１．４４Ｃ１
）から向えら２″した相対色度信号Ｘか設定値を超えた
が否 かを判定して相対色度信号Ｘが設定値を超えたときにの
み高レベル状態となる相対色度比較信号、　ｘ−を出力
するための比較回路（１４７）　と、 （ｅ）比較回路（１４７１の出力端に対して入力端が接
続されており、相対色度比較信号 Ｘ゛に含まれた高レベル状態を計数することによって被
検査物品に混入ないし４１１着した異物の個数を計数す
るための割数回路（１４８）　　と、 （ｆ）除算回路ｆ１４４Ａ１、　１４４β、、　１４４
Ｃ１）の出力端号を処理することにより被検査物品に異
物が混入ないし付着しているか否かを検査してなる物品
検査装置において、 （ａ）画像信号から三原色信号Ｒ，Ｇ、Ｂを取り出して
出力するための三原色信号取出回路（１４１，＋　　と
、 （ｂ）三原色信号取出回路（１４１，ｊ　の出力端に対
して入力端か接続されており、三原色信 号取出回路ｆ１４１）から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ
、Ｂを互いに加算して三原色和信号Ｘを作成するための
三原色信号加算回路（１４２）　　と、 （ｃ）三原色信号取出回路（１４１）の出力端および三
原色信号加算回路（１，４２）の出力端に対して入力端
が接続されており、三原色信号取出回路ｆ１４１．）か
ら与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ、Ｂを三原色信号加算回
路ｆ１１２１から与えられた三原色和信号Ｘで除するこ
とによって三原色相対色度信号Ｘ　Ｒ，Ｘ　α、　ＸＩ
］を算出して出力するための除算回路（１，４４Ａ１、
　１４４β、、　１４４６、）　と、（ｄ）除算回路（
１４４Ａ１、１４４β、、１．４４Ｃ１）の出力端に対
して入力端が接続されており、除算 回路（１，４４Ａ１、　１４４β、、　１４４ｃ、）か
らノｊえら第１た三原色相対色度信号ｘ　１、　ｘ　（
１）　ｘ、に対し所望の係数α、β、γを乗して係数付 三原色相対色度信号αＸ１）、βＸ６．γＸ□を算出し
て出力するための乗算回路 ｆ１４４Ａ２、１４４Ｃ２）　　と、 （ｅ）三原色信号取出回路１１．４１．）の出力端に対
して入力端が接続されており、三原色信号取出回路（１
４］Δ＋から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ、Ｂを互いに
比較することにＪ：り最大のものに対応してＯとなる選
択信号ｇ　ｎ、　ｇ　ｏ、　ｇ　ｎを算出して出力する
ための選択信号発生回路（１，４３）と、ｆｆ１乗算回
路Ｆ１４４Ａ２．１４４Ｂ２．１．４４ｃ２）の出力端
および選択信号発生回路（１４３）の出力端に対して入
力端が接続されており、選択信号発生回路ｆ１４３）か
ら与えられた選択信号ｇｕ、ｇｃ、ｇｏど乗算回路（ｉ
、４４Ａ２１４４Ｂ２．１４４ｃ２＋から与えられた係
数イ」三原色相対色度信号αＸＲ，βＸ６．γＸＢとの
積を互いに加算して相対色度和信号ＸΔを出力するため
の相対色度和信号算出回路（１４６＋　　と、 （ｇｌ相対色度和信号算出回路（１４６）の出力端に対
して入力端が接続されており、相対色度和信号ＸΔが設
定値を超えたか否かを判定して相対色度和信号Ｘムか設
定値を超えたときにのみ高レベル状態となる相対色度和
信号信号ＸＡ）を出力するための比較回路ｆ１４７）と
、 （１１）比較回路（１４７）の出力端に対して入力端が
接続されており、相対色度和比較信号Ｘム゛に含まれた
高レベル状態を計数することによって被検査物品に混入
ないしく＝１着した異物の個数を計数するための計数回
路（１４８］　　と、 （１）相対色度和信号算出回路（１４６）の出力端５　
］ と比較回路ｆ１４７１の入力端との間もしくは比較回路
（１４７）の出力端と計数回路ｆ１４８１　の入力端と
の間に挿入されており、相対色度和信号ＸΔもしくは相
対色 度和比較信号ＸΔ＋から画像信号中の乱反射信号に伴な
う誤相対色度和信号ＸＡＮもしくは誤相対色度和比較信
号ＸΔ□“を除去するための乱反射信号除去回路（７３
）と、 （ｊ）計数回路（１、４８）の出力端に対して入力端が
接続されており、計数回路ｆ１．４８）の計数結果が所
定値を超えたとき異物検出信 号■を発生するための異物検出信号発生回路ｆ１．４９
）　と を備えてなることを特徴とする物品検査装置」 である。

［作用］ 本発明にかかる物品検査装置は、［問題点の解決１段］
の欄に、第１ないし第６の解決手段として挙げたごとき
構成を有しているので、（１）画像信号中の乱反射信号
に伴なう誤信号を除去する作用 をなし、ひいては ｆｉｊ）被検査物品に混入ないしは付着した異物の検査
精度を向上する作用 をなず。

本発明にかかる物品検査装置は、［問題点の解決手段］
の欄に、特に、第４ないし第６の解決手段として挙げた
ごとき構成を有しているので、上記（ｊ、ｌ　（ｉｉ）
の作用に加え、 （ｉｉｉ）被検査物品に混入ないしは付着した異物を被
検査物品との間の色彩の差異を利用して検出する作用 をなし、ひいては （１■）被検査物品に混入ないし付着したの異物の検査
精度を一層向上せしめる作用 をなす。

［実施例コ 次に、本発明にかかる物品検査装置について、その好ま
しい実施例を挙げ、添付図面を参照しつつ、具体的に説
明する。

しかしなから、以下に説明する実施例は、本発明の理解
を容易化ないし促進化するために記載されるものであっ
て、本発明を限定するために記載されるものではない。

換言すれば、以下に説明する実施例において開示される
各要素は、本発明の精神ならびに技術的範囲に属する限
り、全ての設計変更ならびに均等物置換を含むものであ
る。

（添寸図面の説明） 第１図は、本発明にかかる物品検査装置の第１の実施例
を示すためのブロック回路図である。

第２図は、第１図実施例の一部を拡大して示すための部
分破断斜視図である。

第３区は、第１図実施例の一部を拡大して示すための部
分ブロック回路図である。

第４図は、第１図実施例の動作を示すだめのフローヂャ
ート図である。

第５図（ａ）〜（ｃｌは、ともに、第１図実施例の動作
を説明するための説明図であって、被検査物品Ｍの表面
におｔ、Ｊる光の乱反射に伴なう反則信号（“話し反射
信号°”という）Ｐ８が高彩度の異物１〈１．および低
彩度の異物ＮＬにおける光の正反射Ｒｆｌ−＋１　Ｒｆ
ｔ、に伴なう反射信号（゛異物反射信号゛′という）Ｐ
１、１、ＰＬとともに画像信号Ｐに含まれてしまう状況
を説明している。

第６図（ａ）　（ｂ）は、第１図実施例の動作を説明す
るための説明図であって、乱反射信号除去回路７０の除
去回路７１で画像信号Ｐ中に含まれた乱反射信号ＰＮに
伴なう誤輝度比較信号Ｙ、□１を輝度比較信号Ｙ゛から
除去する動作を説明している。

第７図（ａ）　ｆｌｙ＋は、第１図実施例の動作を説明
するための説明図であって、乱反射信号除去回路７０の
除去回路７２で画像信号Ｐ中に含まれた乱反射信号ＰＮ
に伴なう誤相対色度比較信号Ｘｎ”を相対色度比較信号
Ｘ゛から除去する動作を説明している。

第８図は、本発明にかかる物品検査装置の第２の実施例
を示すためのブロック回路図である。

第９図は、本発明にかかる物品検査装置の第３の実施例
を示すだめのブロック回路図である。

第１０図は、第９図実施例の動作を示すためのフローヂ
ャート図である。

第１１図は、本発明にかかる物品検査装置の第４の実施
例を示すだめのブロック回路図である。

第１２図は、本発明にかかる物品検査装置の第５の実施
例を示すだめのブロック回路図である。

第１３図は、第１２図実施例の動作を示すためのフロー
チャー１〜図である。

第１４図は、本発明にかかる物品検査装置の第６の実施
例を示すだめのブロック回路図である。

第１５図は、本発明にかかる物品検査装置の第７の実施
例を示すだめのブロック回路図である。

第１６図は、第１５図実施例の動作を示すだめのフロー
ヂャート図である。

第１７図は、本発明にかかる物品検査装置の第８の実施
例を示すためのブロック回路図である。

第１８図は、本発明にかかる物品検査装置の第９の実施
例を示すだめのブロック回路図である。

第１９図は、第１８図実施例の動作を示すだめのフロー
チャー１〜図である。

第２０図は、本発明にかかる物品検査装置の第１０の実
施例を示すためのブロック回路図である。

第２１図は、本発明にかかる物品検査装置の第１１の実
施例を示すためのブロック回路図である。

第２２図は、第２１図実施例の動作を示すためのフロー
ヂャ−１・図である。

第２３区は、本発明にかかる物品検査装置の第１２の実
施例を示すためのブロック回路図である。

（第１の実施例の構成） まず、第１図ないし第３図を参照しつつ、本発明にかか
る物品検査装置の第１の実施例について、その構成を詳
細に説明する。

ｉ生孤或 １０ば、本発明にかかる物品検査装置であって、被検査
物品（たとえば海苔など；単に物品ともいう）Ｍを矢印
へ方向に向けて１つずつ搬送するための物品搬送部２０
と、物品搬送部２０の近傍に間膜されており物品搬送部
２０によって搬送されている被検査物品Ｍを撮像して画
像信号Ｐを出力するための物品撮像部３０とを備えてい
る。

本発明にかかる物品検査装置１０は、また、物品撮像部
３０に対して接続されており物品撮像部３０ｈ）ら出力
された被検査物品Ｍの画像信号Ｐを適宜に処理すること
によって被検査物品Ｍに異物Ｎか混入ないしは付和して
いるか否かを検出するための異物検出部４０を備えてい
る。異物検出部４０の検出結果は、たとえば、物品搬送
部２０のうぢ物品撮像部３０の下流側に配設された不良
物品除去部５０に勾えて不良の被検査物品（すなわち異
物Ｎか比較的に多く混入ないし付着した被検査物品、以
下同様）Ｍ゛を個別に除去するために利用してもよく、
また不良率算出部６０に与えて被検査物品群か含む不良
の被検査物品Ｍ“の割合（すなわち被検査物品群の不良
率）を算出して表示あるいは記録するために利用しても
よい。ここでは、説明の都合」二、異物検出部４０の検
出結果（」、不良物品除去ない。

本発明にかかる物品検査装置ｌＯは、更に、異物検出部
４０に組み込まれており画像信号Ｐに含まれた乱反射信
号ＰＮに起因するｇ！！ｊ　（＝号（たとえば記輝信号
号￥８．誤輝度比較信号￥８゛、誤相対合信号号×８．
誤相対色度比較信号ＸＮ’）を除去するための乱反射信
号除去回路７０を備えている。ちな力に、乱反射信号Ｐ
Ｎは、被検査物品Ｍの表面におけイ）不用１［１な光の
乱反射に起因し、乱反口」光が後述の撮像手段３２に受
光さ２′することにより、画像信号Ｐ中に含まれること
となる。乱反射信号Ｐ、。

は、したがって、−鍜に周期性かない。

物品搬送部２０ 物品搬送部２０は、ヘッドプーリ２］、Ａとテールプー
リ２１．Ｂとの周囲に対して配設されており被検査物品
１〜１を矢印へ方向に向けて１つずつ搬送するためのベ
ル１〜コンベア２１と、ベルトコンベア２］の下流側に
不良物品除去部５０を介して配置されかつヘットプーリ
２２Ａとゾールプーリ２２Ｂとの周囲に対して配設され
ており不良物品除去部５０によって除去されなかった被
検査物品Ｍを後続の処理装置（図示せず）に向（づて１
つずつ搬送するための他のベルトコンベア２２とを備え
ている。

物品撮像部３０ 物品撮像部３０は、ベルトコンベア２１の近傍に配置さ
れており搬送されてきたとき被検査物品Ｍを検知して物
品検知信号ｆを出力するためのセンサ３１と、ベルトコ
ンベア２１の」１方に配置されかつセンサ３１に接続さ
れており物品検知信号ｆに応じてヘルドコンベア２１に
よって搬送されている被検査物品Ｍを撮像するためのビ
デオカメラあるいはラインセンサカメラなとの撮像手段
３２と、蛍光灯ハロゲンランプあるいは発光ダイオード
などによって形成されておりベルトコンベア２１によっ
て搬送されている被検査物品Ｍを９３躬する光（照射光
という）Ｌを発生ずるための光源３３とを備えている。

ここで、撮像手段３２が物品搬送部２０による被検査物
品Ｍの搬送速度に相応する速度で動作するシャッタを包
有しておれば、被検査物品Ｍに混入ないしく一１着した
異物Ｎか微小となっても良好に検知可能とできるので、
好ましい。このとき、光源３３として蛍光灯を採用する
場合、インペラ（図示せず）を介して電極間に高周波の
電圧を印加ずれば、撮像手段３２のシャッタ開放時期が
異なっても照射光りの光量を一定に維持できるので、好
ましい。

物品撮像部３０は、また、撮像手段３２を包囲するよう
配設されており被検査物品Ｍの表面あるいＬｌ異物Ｎの
表面による異常反射　（ここでは正反射）を抑制するよ
う光源３３による！］８射光りを散乱ぜしめ散乱光ρと
してベルトコンベア２１によって搬送されている被検査
物品Ｍに与えるための散乱部材３４と、光源３３および
散乱部材３４を包囲しており外光を遮断しかつ照射光り
が周囲環境に漏出することを抑制するための遮光部材３
５とを備えている。

散乱部材３４は、半透明の化学合成樹脂（たとえば半透
明アクリル樹脂）なとの半透明材料によってＪ形成され
ている。

遮光部材３５ｉｊ、本発明にとって必須要素ではないの
で、所望により除去してもよい。

異物検出部４０ 異物検出部４０は、撮像手段３２の出力端に対して接続
されており撮像手段３２によって撮像されて出力された
被検査物品Ｍの画像伝号Ｐを適宜に処理し遅延回路３１
Ａによって遅延された物品ｌ！！知信−号ｆ（これを遅
延物品検知信号ｆＭという）に応じて三原色信号Ｑ（す
なわち赤色信号Ｒ１緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）を
取り出すための三原色信号取出回路４１と、三原色信号
取出回路４１に対して接続されており三原色信号取出回
路４１から与えられた三原色信号Ｑ（すなわち赤色信号
Ｒ１緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）から輝度信号Ｙを
作成するための輝度信号作成回路４２と、輝度信号作成
回路４２の出力端に対し反転入力端か接続さ、ＰＬかつ
非反転入力端か設定回路４３Ａに対し接続されており輝
度信号Ｙか設定回路４３Ａの設定値Ｙ　Ｏを超えたか否
かを判定することによって輝度信号Ｙかその設定値Ｙ。

を超えたときにのみ高レベル状態となる輝度比較信号Ｙ
゛を出力するための比較回路４３とを備えている。比較
回路４３か輝度’ｌ諷−’ｙ　ｙを設定値Ｙ。と比較し
ている根拠は、輝度信号Ｙに含まれた低レベルのノイズ
（すなわち被検査物品Ｍの表面における異常反射ＩＲｆ
Ｉに起因したノイズ第５図（ａ）−（ｃ）谷間）を除去
し、被検査物品ｌＸ任の表面の凹凸をＲ物Ｎと誤認する
ことを回避するにある。

異物検出部蛙は、また、三原色信号取出回路４１の出力
端に対して接続されており三原色信号Ｑ（すなわち赤色
信号Ｒ１緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）を互いに加算
して三原色和信号Ｘ（Ｒ４−Ｇ　十Ｂ　）を作り出すた
めの三原色信号加算回路４４と、三原色信号加算回路４
４の出力端および原色信号取出回路４１の出ノつ端に対
して接続されており三原色信号Ｑ（ずなわち赤色信号Ｒ
１緑色侶号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）の三原色和信号Ｘに
対する相対色度信号（すなわち三原色相対色度信号ＸＩ
ＩＸ１、ＸＢ　；詳細には赤色相対色度信号ＸＲＲ／Ｘ
　、緑色相対色度信号ｘ、＝Ｇ／Ｘおよび青紫色相対色
度信号Ｘ、−Ｂ／Ｘ）を算出し最大のものを相対色度信
号Ｘとして出力するための割算回路４５と、割算回路４
５の出力端に対して反転入力端か接続されかつ非反転入
力端が設定回路４６Ａに対して接続されており相対色度
信号Ｘ（ずなわぢ赤色箱列色度信号Ｘ＋１、緑色相対色
度信号ｘ６および青紫色相対色度信号ｘｌｌのうち最大
のもの）が設定回路４６Ａの設定値Ｘ。を超えたか否か
を判定することによって相対色度信号Ｘかその設定値Ｘ
。を超えたときにのみ高レベル状態となる相対色度比較
信号ｘ１を出力するための比較回路４６とを（６１１え
ている。比較回路４６が相対色度信号Ｘを設定値Ｘ。と
比較している根拠は、相対色度信号Ｘに含まれた低レベ
ルのノイズ（すなわち被検査物品Ｍの表向におりる異常
反射Ｒｆ″に起因したノイズ；第５図（ａ）〜（ｃｌ参
照）を除去し、被検査物品Ｍの表面の色度の偏倚を異物
Ｎと！！！ｉ詔することを回避するにある。

異物検出部４０は、更に、比較回路４３．４６の出力端
に対しそれぞれ乱反射信号除去回路７０の除去回路７１
．７２を介して２つの入力端か接続されており比較回路
４３から出力されかつ除去回路７１で割戻ｑ＝を信号Ｐ
Ｎに起因した誤輝度比較信号ＹＮ″の除去された輝度比
較信号Ｙ゛と比較回路４６から出力されかつ除去回路７
２で乱反射信号Ｐ８に起因した誤用ｉ１色度比較信号Ｘ
Ｎ”の除去された相対色度比較信号Ｘ゛とを適宜に組み
合わぜたのち組合信号Ｚとして出力するための信号組合
回路４７を備えている。信号組合回路４７は、２つの入
力端がそれぞれ除去回路７１．．７２を介して比較回路
４３．４６の出力端に接続されており輝度比較信号Ｙ゛
と相対色度比較信号Ｘ゛との論理積信号Ｙ″Ｘ゛を作成
するためのアンド回路４７Ａと、２つの入力端がそれぞ
れ除去回路７１．．７２を介して比較回路４３．４６の
出力端に接続されており輝度比較信号Ｙ゛と相対色度比
較信号Ｘ゛との論理和信号Ｙ”＋Ｘ”を作成するための
オア回路４７Ｉ３と、第１ないし第４の切替接点かそれ
ぞれアンド回路４７Ａの出力端とオア回路４７１３の出
力端と比較回路４３の出力端　（除去回路７１を介して
）と比較回路４６の出力端　（除去回路７２を介して）
とに接続されかつ共通接点か出力端とされており論理積
信号Ｙ″Ｘ゛と論理和信号Ｙ゛＋Ｘ゛と輝度比較信号Ｙ
゛と相対色度比較（ｇ号Ｘ゛とのいずれかを組合信号Ｚ
として出力するための切替スイッチ４１Ｃとを備えてい
る。

異物検出部４０ば、加えて、信号組合回路４７の出力端
および遅延回路３１Ａに対して接続されて、！：３つ信
号組合回路４７から与えられた組合信号Ｚに含まれたパ
ルス（すなわち高レベル状態）を計数して被検査物品Ｍ
に含まれている異物Ｉくを鱈数し計数結果を計数信号Ｗ
としで出力したのち遅延物品検知信号ｆＭに応して計数
内容がクリアされる計数回路４８と、計数回路４８の出
力端に接続されており計数回路４８から出力された計数
信号Ｗの内容（すなわち計数結果）が所定値Ｗｏを超え
たか否かを判定し所定値Ｗ。を超えたとき異物検出信号
■を発生ずるための異物検出信号発生回路４９とを備え
ている。異物検出信号発生回路４９によって発生された
異物検出信号■は、異物検出部４０の検出結果として出
力されており、ここでは、不良の被検査物品（すなわぢ
異物Ｎの混入数ないし付着数か大きい被検査物品）Ｍ゛
を個別に除去するための不良物品除去部５０に与えられ
、かつ被検査物品群の不良率を算出して表示しあるいは
記録するための不良率算出部６０に与えられている。

ンベア２】とベルトコンベア２２との間に配設された切
替フィン５１と、異物検出部４０の異物検出信号発生回
路４９に対して接続されており異物検出信号■に応して
不良の被検査物品Ｍ゛を除去するよう切替フィン５１を
矢印Ｂで示ずごとく駆動するための駆動部拐（たとえば
ソレノイド）５２と、切替フィン５１によって除去され
た不良の被検査物品Ｍ“を収容するための収納箱５３と
、切替フィン５１の下流側に配設されており不良の被検
査物品Ｍ＋とじて除去されなかった被検査物品Ｍを切替
フィン５１からベルトコンベア２２に向けて移送せしめ
るための移送プーリ５４とを備えている。

不良率算出部６０ 不良率算出部６０は、異物検出信号発生回路４９と遅延
回路３１Ａとに接続されており異物検出信号”（１の発
生回数および遅延物品検知信号ｆＭの発生回数をそれぞ
れ計数したのち異物検出信号Ｖの発生回数の計数結果を
遅延物品検知信号ｆｉ＋の発生回数の計数結果によって
除して被検査物品群の不良率を算出するための算出回路
６１と、算出回路６１に接続されておりその算出結果（
すなわち被検査物品群の不良率）を表示するための表示
装置６２と、算出回路６１に接続されておりその算出結
果（すなわち被検査物品群の不良率）を記録するための
記録装置６３とを備えている。ちなみに、不良率算出部
６０は、所望により、表示装置６２および記録装置６３
のいずれか一方を除去してもよい。また、不良率算出部
並の算出した不良率は、被検査物品群の等級イ」などに
利用される。

乱反射信号除去回路７０ 乱反射信号除去回路７０は、比較回路４３の出力端と信
号組合回路４７の一方の入力端との間に挿入されており
輝度比較信号Ｙ＋から乱反射信号ＰＮに起因した誤輝度
比較信号ＹＮ＋を除去するための除去回路７１と、比較
回路４６の出力端と信号組合回路４７の他方の入力端と
の間に挿入されており相対色度比較信号Ｘ“から乱反射
信号ＰＮに起因した誤相対色度比較信号ＸＮ″を除去す
るための除去回路７２とを備えＣいる。

除去回路７１は、比較回路４３の出力端に対して入力端
が接続されており１ｉｉ１１度比較信号Ｙ゛を画像信号
Ｐの１画面撮像時間に相当する時間だけ遅延せしめるた
めの遅延回路７１．ａと、比較回路４３の出力端に対し
て一方の入力端が接続されかつ他方の入力端が遅延回路
７１ａの出力端に対して接続されかつ出力端が信号組合
回路４７の一方の入力端に対して接続されており輝度比
較信号Ｙ責＋　ｙ　２＋　′＋と示す：第６図（ｌ〕）
参照）と遅延回路７１．ａによって遅延された輝度比較
信号Ｙ”＋”Ｙ、”’と示す、第６図（ａ）参照）との
間の論理積を求めて輝度比較信号￥１から乱反射信号Ｐ
Ｎに起因した誤輝度比較信号ＹＮ”を除去するための論
理積回路７１ｂとを包有している。

除去回路７２は、比較回路４６の出力端に対して入力端
が接続されており相対色度比較信号Ｘ゛を画像信号Ｐの
１画面撮像時間に相当する時間だｃｌ遅延セしめるため
の遅延回路７２ａと、比較回路４６の出力端に対して一
方の入力端が接続されかつ他方の入力端が遅延回路７２
ａの出力端に対して接続されかつ出力端が信号組合回路
４７の他方の入力端に対して接続されており相対色度比
較イ菖号Ｘ゛（ｘ２”’と示す；第７図（１））参照）
と遅延回路７１．ａによって遅延された相対色度比較信
号Ｘ責“°ＸＮ“パと示ず；第７図（ａ）参照）との間
の論理積を求めて相対色度比較信号Ｘ゛から乱反射信号
Ｐ８に起因した誤相対色度比較信号ＸＮ．゛を除去する
ための論理積回路７２ｂとを包有している。

（第１の実施例の下用 次いで、第１図ないし第７図１’ａｌ　（ｂｌを参照し
つつ、本発明にかかる物品検査装置の第１の実施例につ
いて、その作用を詳細に説明する。

゛検査物０Ｍの撮像 物品搬送部２０のベル［・コンベア２１によって被検査
物品Ｍが矢印へ方向に向けて搬送されてくるごとに、物
品撮像部四のセンサ３１か被検査物品Ｍを検知して物品
検知信号ｆを発生ずる（ステップ１）。

物品撮像部凹の撮像手段３２は、物品検知信号ｆが与え
られると、被検査物品Ｍの撮像を開始し、その画像信号
Ｐを送出し始める（ステップ２）。

物品撮像部３０では、光源３３によって発生された照射
光りが散乱部材３４によって散乱されたのぢ散乱光Ｃと
してベル［・コンベア２目二の被検査物品Ｍに与えられ
ているので、ベルトコンベア２１上の被検査物品Ｍの表
面および被検査物品Ｍに混入ないしは付着した異物Ｎ　
（詳細には高彩度の異物Ｎ。

および低彩度の異物ＮＬ）の表面で反射されるとき、高
彩度の異物Ｎ、および低彩度の異物ＮＬの表面における
正常反射（ここでは正反射）Ｒ２゜ＲｆＬの光量に比べ
、被検査物品Ｍの表面における異常反射（ここでは正反
射）Ｒとの光量を十分に減少せしめることができる（第
５図（ａ）参照）。

このため、画像信号Ｐは、異物Ｎ　（すなわち高形度の
異物ＮＨおよび低彩度の異物ＮＬ］のみに対応して顕著
に高レベル状態となる異物反射信号Ｐ１、、ＰＬを含む
こととなる。しかしながら、被検査物品Ｍの表面で光の
乱反射が発生し撮像手段３２に入射すると、画像信号Ｐ
ば、これに伴なって、異物反射信号ｐ１、、ｐ１、に匹
敵するレベルの乱反射信号ＰＮも含むこととなる（第５
図（ｂ）参照）。

被検査物品Ｍの表面における光の乱反射は、一般に、不
規則に発生し周期性がないので、所定時間（たとえば１
画面撮像時間に相当する時間）だけ経過すると、乱反射
信号ＰＮが画像信号Ｐから消滅している（第５図（ｃ）
参照）。

五星色価号ｑ五里団 被検査物品Ｍの画像信号Ｐは、異物検出部４０の三原色
信号取出回路４１に与えられる。三原色信号取出回路４
］では、画像信号Ｐから三原色信号Ｑ（すなわち赤色信
号Ｒ１緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）を取出し、輝度
信号作成回路４２．三原色信号加算回路４４および割算
回路４５に向けて出力する（ステップ２）。画像信号Ｐ
に乱反射信号ＰＮが含まれているので、三原色信号Ｑに
は、乱反射信号ＰＮに起因した誤信号が含まれている。

輝　−号Ｙ・輝度比較信号Ｙ。

輝度信号作成回路４２で（」、三原色信号Ｑ（すなわち
赤色信号Ｒ１緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）が、所望
の係数α、β、γ（ただしα＋β→−γ＝１：０≦α、
β、γ≦１）を用いて次式のＹ＝ａＲ＋βＧ＋γＢ ごとく互いに加算されることにより、輝度信号Ｙとされ
る（ステップ３）。ここで、係数ａβ、γは、たとえば
、α＝γ＝　０．２５ｇよびβ０５とずればよい。三原
色信号Ｑに乱反射信号ＰＮに起因した誤信号か含まれて
いるので、輝度信号Ｙにも、乱反射信号ＰＮに起因した
誤信号（“誤輝度信号ＹＮ”という）が含まれている。

輝度信号Ｙは、適宜に遅延せしめられたのち、比較回路
４３に向けて出力される（ステップ４）。

比較回路４３は、輝度信号Ｙを設定回路４３Ａによって
設定された設定値Ｙ。と比較し、その設定値Ｙ。より輝
度信号Ｙが大きいときにのみ高レベル状態となる輝度比
較信号Ｙ゛を発生して出力する（ステップ５）。輝度信
号Ｙに乱反射信号ＰＮに起因した誤信号が含まれている
ので、輝度比較信号Ｙ３にも、乱反射信号ＰＨに起因し
た誤信号（゛誤輝度比較信号ｙ　Ｎ＋　”という）か含
ま１）でいる（第６図（ａ）参照）。

比較回路４３から出力された輝度比較信号Ｙ゛は、乱反
射信号除去回路７０の除去回路７１によって乱反射信号
Ｐｌ、に起因した誤輝度比較信号Ｙ９．゛か除去される
。すなわち、除去回路７１では、遅延回路７１ａによっ
て撮像手段３２の１画面撮像時間に相当する時間だけ遅
延された輝度比較信号Ｙ”ｆすなわちＹ１゛）と遅延回
路７１．ａによって遅延されていない輝度比較信号Ｙ゛
（すなわちＹ２′）との間の論理積が、論理積回路７１
１）で求められ、誤輝度比較信号’Ｙ　＋＋　４が除去
される　（ステップ６；第６図（ａｔ（ｂｌ？照）。ち
なみに、輝度比較信号Ｙ’（ここではｙ　ｌ”＋　ｙ　
２”）　　には、異物反射信号Ｐ　＋１．　Ｐ　ｔに対
応して異物輝度比較信号Ｙ１、”、Ｙ、どが含まれてい
る（第６図（ａ）　（ｂｌ参照）。

＝原色信号加算回路４・１ては、三原色信号Ｑ（すなわ
ち赤色信号Ｒ５緑色信号Ｇおよび青紫色偶買Ｂ）か互い
に加算されたのち三原色和信号Ｘとして出力される（ス
テップ７）。三原色信号Ｑに乱反射信号ＰＮに起因した
誤信号か含まれているので、三原色和信号Ｘにも、乱反
射信号ＰＮに起因した誤信号が含まれている。

１原色信号加算回路４４によって出力された三原色和信
号Ｘば、割算回路４５に与えられる。割算回路４５では
、三原色和信号Ｘによって三原色信号０（すなわち赤色
信号Ｒ５緑色信号ＧＪ３よび青紫色信号Ｂ）を除するこ
とにより、三原色相対色度信号ＸＲ，Ｘα、Ｘｎ　　（
詳細には赤色相対色度信号ＸＲ１緑色相対色度信号×６
および青紫色相対色度信号ｘｌｌ）か発生される（ステ
ップ８）。

割算回路４５によって算出された三原色相対色度信号Ｘ
　Ｒ，Ｘ　１、　Ｘ　、　　（詳細には赤色相対台度信
号Ｘ　Ｒ、Ｂ色相対合信号号Ｘ。および青紫色イ目対色
度信号ｘｌ＋）は、最大のもののみが相対色度信号Ｘと
して比較回路４６に与えられる。三原色信号Ｘに乱反射
信号ＰＮに起因した誤信号が含まれているので、イ目対
色度信号Ｘにも、乱反射信号Ｐ６に起因した誤信号（゛
誤相対色度信号Ｘ４．°“という）が含まれている。

比較回路４６は、相対色度信号Ｘを設定回路４６Ａによ
って設定された設定値Ｘ。と比較し、その設定値Ｘ。よ
り相対色度信号Ｘが大きいどきにのみ高レベル状態とな
る相対色度比較信号Ｘ゛を発生して出力する（ステップ
９）。相対色信号Ｍ、　Ｘに乱反射信号ＰＮに起因した
誤信号が含まれているので、相対色度比較信号Ｘ′″に
も、乱反射信号Ｐ１、に起因した誤信号（°゛誤相対対
合比較信号Ｘ　＋＋　＋　＋＋という）が含まれている
（第７図（ａ）径間）。

比較回路４６から出力された相対色度比較信号Ｘ“は、
乱反射信号除去回路７０の除去回路７２によって乱反射
信号Ｐ１．に起因した誤相対色度比較信号Ｘ　、　”ｌ
か除去さ２する。すなわち、除去回路７２では、遅延回
路７２ａによって撮像手段３２の１画面撮像時間に相当
する時間たり遅延された相対色度比較信号Ｘ゛けなわち
ＸＮ゛）と遅延回路７２ａによって遅延されていない相
対色度比較信号Ｘ゛げなわちＸ２゛）との開の論理積が
、論理積回路７２１）で求められ、誤相対色度比較信号
ＸＮ＋が除去される　（ステップ１０．第７図（ａ）　
（ｂ）参照）。ちなみに、相対色度比較信号Ｘ＋にこで
はＸＮ″’、　Ｘ２”）に！」、異物反射信号Ｐ　）１
、　Ｐ　Ｌに対応して異物相対色度Ｌヒ較信零ｘ、’、
ｘ、”が含まれている（第７図Ｄａ＋　＋＋））参照）
。

粧企皿旦ｌ 比較回路４３！、：よって発生されかつ乱反射信号除去
回路興の除去回路７１で誤輝度比較信号ＹＮ′の除去さ
れた輝度比較信号Ｙ１と、比較回路４６によって発生さ
れかつ乱反射信号除去回路７０の除去回路７２で誤相対
色度比較信号ＸＮ＋の除去された相対色度比較信号Ｘ゛
とは、信号組合回路４７に局えら２′１、適宜に組の合
されたのぢ、組合信号Ｚどして出力さね、る（ステップ
１１）。

組合信号Ｚは、切替スイッチ４７Ｇの共通接点が第１な
いし第４の切替接点のうち接触された切替接点に応して
、論理積信号Ｙ″Ｘ゛と論理和信号Ｙ”＋Ｘ”と輝度比
較信号）゛と相対色度比較信号Ｘ＋とのうちから選択さ
れている。

及焦Ｎ９且数 センサ３１の検知結果　（ずなわち物品検知イ５冒ｆ）
は、遅延回路３１．Ａで適宜に遅延されなのち、遅延物
品検知信号ｆ、Ａとして計数回路４８に与えられる（ス
テップ１２）。

計数回路４８は、遅延物品検知信号ｆヮか向えられると
所定時間だけ信号組合回路４７から月えられた組合信号
Ｚに含まれているパルス（すなわち高レベル状態）を計
数することにより、被検査物品Ｍに混入ないしは付着し
た異物Ｎを計数する（ステップ１３）。

凰惣購５光侘 異物検出信号発生回路４９は、計数回路４８から勾λら
れた旧数結果Ｗか設定値Ｗ。よりも大きいか否かを判定
する（ステップ１４）。

計数結果＼Ｖか設定値Ｗ。よりも大きい場合、異物検出
信号発生回路４９は、異物検出信号Ｖを発生ずる。

これに対し、計数結果Ｗが設定値Ｗ。よりも小さい場合
、異物検出信号発生回路４９は、異物検出信号■を発生
しない。

このため、異物検出信号発生回路４９の発生ずる放物検
出信号Ｖは、異物検出部４０の検出結果とし。

て機能する。

不良の被検査物品Ｍ゛の除去 異物検出信号発生回路４９から異物検出信号■が発生さ
れたとき、不良物品除去部５０では、異物検出信号■に
応じて駆動部材５２か切替フィン５１を矢印Ｂて示すご
とく切替えて被検査物品Ｍ（ずなわぢ不良の被検査物品
Ｍ’）を収納箱５３へ収納する（ステップ１５）。

異物検出信号発生回路４９から異物検出信号■か発生さ
れなかったとぎ、不良物品除去部５０では、駆動部月５
２が切替フィン５１を切替えることかなく、被検査物品
Ｍが移送プーリ５４によって切替フィン５１からベルト
コンベア２２に向けて移送せしめられる。

正月ｊ野γ匹出 異物検出信号発生回路４９から異物検出信号■か発生さ
れるか否かにかかわらず、不良率算出部６０では、算出
回路６１が、異物検出信号■の発生回数とセンサ３１か
ら巧えられた物品検知信号ｆの発生回数とをそれぞれ計
数したのぢ、異物検出信号■の計数結果を物品検知信号
ｆの計数結果によって除することにより、被検査物品群
の不良率を算出する（ステップ１６）。

算出回路６１によって算出された被検査物品群の不良率
は、表示装置６２によって表示され、また記録装置６３
によって記録されることにより、その被検査物品群の品
質の判断などに供される（ステップ１７）。

第２の実施例の　成・作用） また、第８図を参照しつつ、本発明にかかる物品検査装
置の第２の実施例について、その構成および作用を詳細
に説明する。

第２の実施例では、比較回路４３と信号組合回路４７と
の間に挿入さ、ｌ″した乱反射信号除去回路７０の除去
回路７１か輝度信号作成回路４２と比較回路４３との間
に挿入され、かつ比較回路４６と信号組合回路４７との
間に挿入された乱反射信号除去回路７０の除去回路７２
が割算回路４５と比較回路４６との間に挿入されている
ことを除ぎ、第１の実施例と同一の構成を有している。

したがって、第２の実施例は、乱反射信号除去回路７０
の除去回路７１によって輝度信号Ｙから乱反射信号Ｐ　
１１に起因した誤信号（すなわち誤輝度信号Ｙ１．）を
除去し、かつ乱反射信号除去回路７０の除去回路７２に
よって相対色度信号Ｘから乱反射信号ＰＮに起因した誤
信号（すなわち誤相対色度信号Ｘ４．）を除去すること
を除き、第１の実施例と同の１乍用をなしている。

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第１の実
施例に包有された部祠ないしはステップに対応する部材
ないしはステップに対し同一の参照番号を付すことによ
り、その他の構成および作用の説明を省略する。

（第３の　施例の　成・　用） 更に、第９図および第１０図を参照しつつ、本発明にか
かる物品検査装置の第３の実施例について、その構成お
よび作用を詳細に説明する。

第３の実施例では、異物検出部４０において三原色信号
加算回路４４ないし信号組合回路４７か除去され、かつ
比較回路４３の出力端が計数回路４８の入力端に対し乱
反射信号除去回路７０の除去回路７１を介して接続され
ていることを除き、第１の実施例と同一の構成を有して
いる。

したがって、第３の実施例は、比較回路４３から出力さ
れたのち乱反射信号除去回路７０の除去回路７１によっ
て誤輝度比較信号Ｙ　Ｎ”の除去された輝度比較信号Ｙ
１に含ま第１るパルス（すなわち高レベル状態）のみを
計数回路４８によって計数し、その計数結果に応じて不
良の被検査物品Ｍ゛を除去し７かつ被検査物品群の不良
率を算出することを除き、第１の実施例と同一の作用を
なしている。

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第１の実
施例に包有された部材ないしはステップに対応する部材
ないしはステップに対し同一の参照番号を付すことによ
り、その他の構成および作用の説明を省略する。

（第４の実施例の構成・作用） 更にまた、第１１図を参ｊｊＱ　シつつ、本発明にかか
る物品検査装置の第４の実施例について、その構成およ
び作用を詳細に説明する。

第４の実施例では、比較回路４３と計数回路４８との間
に挿入された乱反射信号除去回路７０の除去回路７１が
輝度信号作成回路４２と比較回路４３との間に挿入され
ていることを除ぎ、第３の実施例と同の構成を有してい
る。

したがって、第４の実施例は、乱反射信号除去回路７０
の除去回路７１によって輝度信号Ｙから乱反射信号Ｐ、
４に起因した誤信号〔すなわちｉ＝　ｈ１１度信信号Ｎ
）を除去することを除き、第３の実施例と同一の作用を
なしている。

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第３の実
施例に包有された部材ないしはステップに対応する部材
ないしはステップに対し同一の参照番号を付すことによ
り、その他の構成および作用の説明を省略する。

（第５の実施例の構成・　用） 加えて、第１２図および第１３図を参照しつつ、本発明
にかかる物品検査装置の第５の実施例について、その構
成および作用を詳細に説明する。

第５の実施例では、異物検出部４０において輝度信号作
成回路４２．比較回路４３．設定回路４３Ａおよび信号
組合回路４７が除去されかつ比較回路４６の出力端が計
数回路４８に対し乱反射信号除去回路７０の除去回路７
２を介して接続されていることを除き、第１の実施例と
同一の構成を有している。

したがって、第５の実施例は、比較回路４６から出力さ
れたのち乱反射信号除去回路７０の除去回路７２によっ
て誤相対色度比較信号ＸＮ゛の除去された相対色度比較
信号Ｘ゛に含まれるパルス（すなわち高レベル状態）の
みを計数回路４８によって對数１２、その計数結果に応
じて不良の被検査物品Ｍ゛を除去しかつ被検査物品群の
不良率を算出することを除き、第１の実施例と同一の作
用をなしている。

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第１の実
施例に包有された部材ないしはステップに対応する部材
ないしはステップに対し同一の参！１ｅ番号を付すこと
により、その他の構成および作用の説明を省略する。

（第６の実施例の　成・作用） 加えてまた、第１４区を参照しつつ、本発明にかかる物
品検査装置の第６の実施例について、その構成および作
用を詳細に説明する。

第６の実施例では、比較回路４６と計数回路４８との間
に挿入された乱反射信号除去回路７０の除去回路７２が
割算回路４５と比較回路４６との間に挿入されているこ
とを除き、第５の実施例と同一の構成を有している。

したかって、第６の実施例は、乱反射信号除去回路７０
の除去回路７２によって相対色度信号Ｘから乱反射信号
Ｐ８に起因した誤信号（すなわち富り相対色度信号ＸＮ
）を除去することを除き、第５の実施例と同一の作用を
なしている。

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第５の実
施例に包有された部１月ないしはステップに対応する部
材ないしはステップに対し同一の参照番号を倒すことに
より、その他の構成および作用の説明を省略する。

（第７の実施例の構成） 併せて、第１５図および第２図を参照しつつ、本発明に
かかる異物検査装置の第７の実施例について、その構成
を詳細に説明する。

支庄血威 １０は、本発明にかかる異物検査装置であって、被検査
物品（たとえば海苔など：単に物品ともいう）Ｍを矢印
へ方向に向けて１つずつ搬送するための物品搬送部２０
と、物品ｆｌｌＵ送部２０の近傍に配設されており物品
搬送部２０によって搬送されている被検査物品Ｍを撮像
して画像信号Ｐを出力するための物品撮像部凹とを備え
ている。

本発明にかかる異物検査装置耗は、また、物品撮像部３
０に対して接続されており物品撮像部３０から出力され
た被検査物品Ｍの画像信号■）を適宜に処理することに
よって被検査物品Ｍに異物Ｎか混入ないし付着している
か否かを検出するための異物検出部４０を備えている。

異物検出部４０の検出結果は、たとえば、物品搬送部層
のうち物品撮像部３０の下流側に配設された不良物品除
去部５０に勾えて不良の被検査物品（すなわち異物Ｎか
比較的に多く混入ないし付着した被検査物品：以下同様
）Ｍ゛を個別に除去するために利用してもよく、また不
良率算出部６０に与えて被検査物品群か含む不良の被検
査物品Ｍ゛の割合（すなわち被検査物品群の不良率）を
算出して表示あるいは記録するために利用してもよい。

ここでは、説明の都合上、異物検出部４０の検出結果は
、不良物品除去部興および不良率算出部６０に与えられ
ているものとするが、本発明をこれに限定する意図はな
い。

本発明にかかる物品検査装置厘ば、更に、異物検出部４
０に組み込まれてｊ３り画像信号■〕に含まれた乱反射
信号ＰＮに起因する誤信号（たとえば誤相対合席料信号
ＸΔ８．誤相対色度和比較信号ＸΔ８゛）を除去するた
めの乱反射除去回路憩を備えている。

物品搬送部２０ 物品搬送部２０は、ヘットプーリ２１Δとテールプーリ
２］、Ｂとの周囲に対して配設されており被検査物品Ｍ
を矢印へ方向に向けて１つずつ搬送するためのベルトコ
ンベア２１と、ベルトコンベア２１の下流側に不良物品
除去部堕を介して配置されかつヘッドプーリ２２Ａとテ
ールプーリ２２１３との周囲に対して配設されており不
良物品除去部四によって除去されなかった被検査物品Ｍ
を後続の処理装置（図示せず）に向けて１つずつ搬送す
るための他ノベルトコンベア２２とを備えている。

物品撮像部３０ 物品撮像部３０は、ベルトコンベア２１の近傍に配置さ
れており被検査物品Ｍが搬送されてぎたときそれを検知
して物品検知信号ｆを出力するためのセンサ３１と、ベ
ルトコンベア２１の−に方に配置されかつセンサ３１に
接続されており物品検知信号ｆに応してベルトコンベア
２１によって搬送されている被検査物品Ｍを撮像するた
めのビデオカメラあるいはラインセンサカメラなとの撮
像手段３２と、蛍光灯、ハロゲンランプあるいは発光ダ
イオードなどによって形成されておりベルトコンベア２
１によって搬送されている被検査物品Ｍを間材する光（
照射光という）Ｌを発生するための光源３３とを備えて
いる。ここで、撮像手段３２か物品搬送部２０による被
検査物品Ｍの搬送速度に相応する速度で動作するシャッ
タを包有しておれば、被検査物品Ｍに混入ないしは（７
１着した異物Ｎが微小となっても良好に検知可能とてき
るので、好ましい。このとき、光源３３として蛍光灯を
採用する場合は、インバータ（図示せず）を介して電極
間に高周波の電圧を印加すれば、撮像手段３２のシャッ
タ開放時期が異なっても照射光りの光量を一定に維持て
きるので、好ましい。

物品１最像部３０ば、また、撮像子Ｐ９．３２を包囲す
るよう配設されており被検査物品Ｍの表面あるいは異物
Ｎのに面による異常反ｑ寸　にこては正反射）を抑制す
るよう光源３３から与えられた叩躬光■−１を散乱せし
め散乱光ａとしてベルトコンベア２１によって搬送され
ている被検査物品Ｍに月えるための散乱部材３４と、光
源３３８よび散乱部材３４を包囲しており外光を遮断し
かつ昭躬光りか周囲成１現に漏出することを抑制するた
めの遮光部オ第３５とを備えている。散乱部材３４は、
半透明の化学合成樹脂　（たどえば半透明アクリル樹脂
）なとの半透明材料によって形成されている。

遮光部材３５は、本発明にとって必須要素ではないので
、所望により除去してもよい。

異物検出部４０ 異物検出部４０は、撮像手段３２の出力端に対して接続
されており撮像手段３２によって撮像されて出力された
被検査物品Ｍの画像信号Ｐを適宜に処理し遅延回路３］
、Ａによって遅延さ、ｌまた物品検知信号ｆ（これを遅
延物品検知信号ｆ１．ｌという）に応じて三原色信号Ｑ
（すなわち赤色信号Ｒ１緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ
）を取り出すための三原色信号取出回路１４１を備えて
いる。三原色信号ｌ■ワ出回路１４１は、遅延物品検知
信号ｆヮに応じて画像化−１）からそれぞれ赤色信号Ｒ
９緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂを取り出すための赤色
信号取出回路１４］１、Ａ１、緑色信号取出回路１４１
β、　、ｔｉよび青紫色信号取出回路１４　］、　Ｃ＋
　ど、赤色信号取出回路１．４１−Ａ１、緑色侶は取出
回路１４１Ｂｌおよび青紫色信号取出回路１４１Ｃ，の
出力端に対してそれそ２１接続さ１）ており赤色信号Ｒ
５緑色（＝ｉ５Ｇおよび青紫色伝号■３を適宜にクラン
プするためのクランプ回路１４１Ａ、。

１４１Ｂ７ｂ４１Ｃ２と、クランプ回路１４１Ａ７．１
４１Ｂ２１４Ｈ；２の出力端にそ２１．ぞれ接続されて
」３り適宜にクランプされた赤色信号Ｒ１緑色１８号Ｇ
および青紫色信号Ｂを適宜に増幅するための増幅回路１
４１Ａ、　１４］、Ｒ３ｂ，４１Ｃ３とを包有している
。

異物検出部４０は、また、三原色信号取出回路１４１の
Ｌ；３力端に対して接続されており三片色信号Ｑ（すな
わち赤色信号Ｒ１録色信号Ｇおよび↑ｈ紫色償号Ｌ）を
互いに加算して三原色和信号Ｘ（Ｒ＋Ｇ＋Ｂ）を作成す
るための三原色信号加算回路１４２ど、三原色信号取出
回路１４１の出力端に対して接続されており三原色信号
Ｑ（すなわち赤色信号Ｒ５緑色信号Ｇおよび青紫色信号
Ｂ）を互いに比較した結果に応じてゲート信号（ずなわ
ぢ選択信号）ｇＲ，ｇｏ、ｇａを出力するための比較回
路１４３とを備えている。ゲート信号ｇ　Ｒ，ｇ　α、
　ｇ　ｎは、通常１であるが、対応する三原色信号Ｑか
最大となったときＯとされる。

異物検出部４０は、更に、三原色信号取出回路１４１の
出力端および三原色信号加算回路１４２の出力端に対し
て接続さ第１．ており三原色信号Ｑ（すなわち赤色信号
Ｒ１緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）の三原色和信号Ｘ
に対する色度信号（すなわち相対色度信号）Ｘ（すなわ
ち赤色相対色度信号算して係数付相対色度信号（すなわ
ち係数付赤色相対色度信号αＸＲ，係数（＝１緑色相対
色度信弓ｌ３Ｘ６および係数イτ１青紫色相対色度信号
γＸ３）を算出するための乗算回路１４４Ａ、　１４４
Ｂ２．１４４Ｃ２ど、乗算回路１４４Ａ２．１４４Ｂ２
．１４４Ｃ２の１１４力端および比較回路１４３の出力
端に対して接続されておりケート信号ｇＲ，ｇα、ｇｎ
に応して乗算回路１４４Ａ２１４１１β、、　１．４４
Ｃ２の乗算結果すなわち係数イ」相対色度信号ａ　Ｘ、
Ｒ，Ｂ　ＸＧ、　Ｙ　Ｘｌｌを通過せしめるためのケー
ト回路１．４５Ａ、　１４５β、　１．４５Ｃと、ゲー
ト回路１４５Ａ１４５β、　１４５ｃの出力端に対して
接続されておりゲト１．４５Ａ、　１４５β、　１４５
ｃを通過した係数イ」相対色度信号を互いに加算して相
対色度和信号ＸΔを次式のご算回路１４４．Ａ）、　１
４４Ｂ１、　１４４６＋　と、除算回路１４４Ａ１．４
４β、、　１４４６、の出力端に対して接続されており
相対色度信号×（すなわち赤色相対色度信号Ｘ　Ｒ，緑
色相対色度信号Ｘ６および青紫色相対色度信号Ｘ、）に
対しそれぞれ所望の係計α、β、γをどく算出するため
の加算回路１４６と、加算回路１４６の出力端に対して
反転入力端が接続さねかつ非反転入力端が設定回路１４
７Ａに対して接続されており相対色度和信号ＸΔか設定
回路１４７Ａの設定値Ｘ、　ｐ、　ｏを超えたか否かを
判定することによって相対のみ高レベル状態となる相対
色度孔比較信号Ｘ６゛を出力するための比較回路】４７
とを備えている。

ここで、比較回路１４７が相対色度相伝ぢＸムを設定値
Ｘｌｏと比較している根拠は、相対色度孔伝号ＸΔに含
まれた低レベルのノイズ（すなわち被検査物品Ｍの表面
における異常反射Ｒどに起因したノイズ；第５図（ａｊ
〜（ｃ）参照）を除去し、被検査物品Ｍの表面の色度の
偏倚を異物Ｎと誤認することを回避するにある。

異物検出信号は、加えて、比較回路１４７の出力端に対
し乱反射信号除去回路別の除去回路７３を介して入力端
が接続されており比較回路１４７がら出力されかつ除去
回路７３で乱反射信号ＰＮに起因した諸相対合席料比較
信号ＸΔ、゛の除去された相対色度孔比較信号ＸΔ＋に
含まれたパルス（すなわち高レベル状態）を計数して被
検査物品Ｍに含まれている異物Ｎの個数を言１数しｇ（
数結果を画数イに号Ｗとして出力したのち遅延物品検知
信号ｆＭに応じて計数内容がクリアされる計数回路１４
８と、計数回路１４８の出力端に対して接続されており
計数回路１４８から出力された計数信号Ｗの内容（すな
わち計数結果）か所定値Ｗ。を超えたか否かを判定し所
定値Ｗ。を超えたどき異物検出信号■を発生ずるための
異物検出信号発生回路１４９とを備えている。異物検出
信号発生回路１４９にＪ：って発生された異物検出信号
ＩＩは、異物検出部・１ｏの検出結果として出力されて
おり、ここでは、不良の被検査物品（すなわち異物Ｎの
混入数ないし付着数か大きい被検査物品）Ｍ゛を個別に
除去するための不良物品除去部興に与えられ、かつ被検
査物品群の不良率を算出して表示しあるいは記録するた
めの不良率算出部６０に勾えられている。

不良物品除去部５０ 不良物品除去部５０は、物品１殿送部２０のベルトコン
ベア２１とベルトコン・＼ア２２との間に配設された切
替フィン５１と、異物検出部４０の異物検出信号発生回
路１４９に対して接続さ、１１ておりｆ９物検出信号■
に応じて不良の被検査物品Ｍ“を除去するよう切替フィ
ン５１を駆動するための駆動部材（たとえばソレノイド
）５２と、切替フィン５１によって除去Ｇ された不良の被検査物品Ｍ゛を収容するための収納箱５
３と、切替フィン５１の下流側に配設されており不良の
被検査物品Ｍ゛として除去されなかった被検査物品Ｍを
切替フィン５１からヘルｊ・コンベア２２に向けて移送
せしめるための移送ブー　リ５・１とを備えている。

不良率算出部６０ 不良率算出部６０は、異物検出信号発生回路１４９の出
力端および遅延回路３１Ａの出力端に接続さ２１ており
異物検出信号■の発生回毅および遅延物品検知信号ｆＭ
　　（ひいては物品検知信号ｆ）の発コ−Ｌ［す１数を
それぞれ計数したのち異物検出信号Ｖのブを生回数の計
数結果を物品検知信号ｆの発生回数の計数結果によって
除して被検査物品群の不良率を算出するための算出回路
６１と、算出回路６１の出力端に接続されておりその算
出結果（すなわち被検査物品群の不良率）を表示するた
めの表示装置６２と、算出回路６１の出力端に接続され
ておりその算出結果（すなわち被検査物品群の不良率）
を記録するための記Ｈ４（置６３とを備え°Ｃいる。ち
なめに、不良率算出部６０け、所望により表示装置６２
および配録装置６３のいずれか一方を除去してもよい。

また、不良率算出部並の算出した不良率は、被検査物品
群の等綴付などに利用される。

乱反射イＪ１号除去回路７゜ 乱反射信号除去回路７０は、比較回路１４７の出力端と
計数回路１４８の入力端との間に挿入されており相対色
度孔比較信号ＸΔ＋から乱反射信刊Ｐ　Ｎに起因した誤
相対合席料比較仏号Ｘ（（ｘ”を除去するための除去回
路７３とを備えている。

除去回路７３は、比較回路１４７の出力端に対して入力
端か接続されており相対色度和比較信吋ＸΔ＋を画像信
号Ｐの１画面撮像時間に相当する時間だＧプ遅延セしめ
るための遅延回路７３ａと、比較回路１４７の出力端に
対して一方の入力端が接続されかつ他方の入力端か遅延
回路７３ａの出力端（ｂ″対して接続されかつ出力端力
柚計数回路１４８の入力端に対して接続さ（′１ており
相対色度相比較イ８号ＸΔ＋と遅延回路゛１３ａによ−
）で遅延さ、！−１だ相対色度和ＬＬ較信号ＸΔ＋との
間の論理積を求めて相対色度孔ｉｔφＱ］信号ＸΔ＋か
ら乱反射信号Ｐ　１１に起因した５５相対色度和比較信
号ＸＡＮ”を除去するための論理ｆｌ［ｉ”］路７３ｂ
とを包有している。

（第７の実施例の作用） 併せてまた、第１５図、第１６図および第２図を参照し
つつ、本発明にかかる異物検査装置の第７の実施例につ
いて、その作用を詳細に説明する。

被検査物品Ｍの撮像 物品搬送部２０のベルトコンベア２１によって被検査物
品Ｍが矢印へ方向に向けて搬送されてくるごとに、物品
撮像部３０のセンサ３１が被検査物品Ｍを検知して物品
検知信号ｆを発生ずる（ステップ１）。

物品撮像部陳の撮像手段３２は、物品検知信号ｆが与え
られると、被検査物品ＩＩＡの撮像を開始し、その画像
信号Ｐを送出し始める（ステップ２）。

物品撮像部３０では、光源３３によって発生された照射
光りが散乱部材３４によって散乱されたのち散乱光ρと
してベルトコンベア２１上の被検査物品Ｍに与えられて
いるので、ベルトコンベア２１上の被検査物品Ｍの表面
および被検査物品Ｍに混入ないし付着した異物Ｎ（詳細
には高彩度の異物Ｎ、および低彩度の異物Ｎ、）の表面
で反則されるとき、高彩度の異物Ｎｏおよび低彩度の異
物Ｎｌの表向における正常反射（ここでは正反射）　Ｒ
ｆ１、、　Ｒ，Ｌの光量に比べ、被検査物品Ｍの表面に
おＣ−＋る異常反射（ここでは正反射）の光量を十分に
減少せしめることかできる。このため、画像信号Ｐは、
異物Ｎ（すなわち高彩度の異物Ｎ　１１および低彩度の
異物ＮＬ）のみに対応して顕著に高レベル状態となる異
物反射信号Ｐ、（、ＰＬを含むこととなる。しかしなが
ら、被検査物品Ｍの表面で光の乱反射か発生し撮像手段
３２に入射すると、画像信号Ｐは、これに伴なって、異
物反射信号ｐ１、ｐ１、に匹敵するレベルの乱反射信号
ＰＮも含むこととなる。被検査物品ｈｑの表面におりる
光の乱反射は、一般に、不規則に発生し周期性がないの
で、所定時間（たとえば１画面撮像時間に相当する時間
）だけ経過すると、乱反射信号ＰＮか画像信号Ｐから消
滅す１、　０　０ ることとなる。

また、センサ３１の出力した物品検知信号ｆは、遅延回
路３１Ａにより、被検査物品Ｍが物品撮像部３０を連通
するに必要とする時間に対応して適宜に遅延せしめられ
て遅延物品検知信号ｆＭとされる（ステップ３）。

三原色雪層Ｑの取出 被検査物品Ｍの画像信号Ｐは、異物検出部４０の三原色
信号取出回路１．４１に含まれた赤色信号取出回路１４
１．Ａ１、緑色信号取出回路］、　４１．　Ｂ　＋およ
び青紫色信号取出回路１．４　］、　Ｃ＋に与えられる
。

赤色信号取出回路１４１Ａ）、緑色信号取出回路１４１
β、および青紫色信号取出回路１．４１ｃ、では、画像
信号Ｐから三原色信号Ｑ（ずなわち赤色信号Ｒ緑色信号
Ｇおよび青紫色信号Ｂ）を取り出し、遅延物品検知信号
ｆｉ＋が与えられたとき、クランプ回路１４１Ａ２．１
４１．８２．１４１Ｃ２に向けて出力する（ステップ４
）。

クランプ回路１４１Ａ２ｂ４１Ｂ２．１４１ｃ２ては、
それぞれ赤色信号Ｒ１緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂを
適宜にクランプしたのち、増幅回路１４１Ａ３．１４１
Ｂ。

１４１、Ｃ，に向けて出力する（ステップ５）。

増幅回路］、４１、Ａ３．１．４１Ｂ３．１旧Ｃ３では
、クランプ回路１４１Ａ２．１４］８２１４１Ｃ２で適
宜にクランプされた赤色信号Ｒ１緑色信号Ｇおよび青紫
色信号Ｂをそれぞれ適宜に増幅したのち、加算回路１４
２．比較回路１４３および除算回路１４４Ａ１、１４４
β、、１４４Ｃ，に向けて出力する（ステップ６）。画
像信号Ｐに乱反射信号Ｐ８が含まれているので、三原色
信号Ｑには、乱反射信号ＰＮに起因した誤信号が含まれ
ている。

三原色相言？Ｌｘの　出 加算回路１４２は、三原色信号取出回路１４１の出力端
（すなわち増幅回路１４１Ａ３．１４］、８３．１４１
．Ｃ；３の出力端）から与えられた三原色信号Ｑ（すな
わち赤色信号Ｒ１緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）を互
いに加算することにより、三原色和信号Ｘ＝Ｒ＋Ｇ＋Ｂ
を算出する（ステップ７）。三原色信号Ｑに乱反射信号
ＰＮに起因した誤信号が含ま、ｆｌているので、三原色
和信号Ｘにも、乱反射信号ＰＮに＋１”＋　　９ 起因した誤信号か含まれている。

対仏　　′″’ＸＩｌ、Ｘ１、、Ｘ［Ｉ（７）除算回路
１４４Ａ１、１４４Ｂ１．１４４Ｃ，では、三原色信号
取出回路１４１の出力端（すなわち増幅回路１４］Ａ３
１４１β、、　１４１．ｃ３の出力端）から与えられた
三原色信号Ｑ（すなわち赤色信号Ｒ５緑色信号Ｇ、Ｉ−
３よび青紫色信号Ｂ）を加算回路１４２から与えられた
三原色和信号Ｘ＝Ｒ＋Ｇ＋Ｈによって除することにより
、相対色度信号Ｘ（すなわち赤色相対色度信号ブ８）。

三原色和信号Ｘに乱反射信号ＰＮに起因した誤信号が含
まれているので、相対色度信号Ｘにも、乱反射信号Ｐ、
４に起因した誤信号が含まれている。

相対色度信号Ｘ（すなわち赤色相対色度信号ｘ６．緑色
相対色度信号Ｘ６および青紫色相対色度信号ＸＢ）は、
乗算回路１４４Ａ２．１．ｌＮＢ２．１４４Ｃ２におい
て適宜の係数α、β、γが乗じられることにより、係数
（＝１相対色度信号ａ　Ｘ、　Ｒｌ　　βＸ。

γＸ８として出力される（ステップ９）。係数α、β、
γは、被検査物品Ｍと異物Ｉくとの色彩の差異に応じて
適宜に決定されている。

三原色　′″’ＲＧ　　Ｂの相互比・ 比較回路１４３では、三原色信号取出回路１４１の出力
端（すなわち増幅回路１４］、Ａ３．１４１Ｂ３．１．
４１．Ｃ３の出力端）から与えられた三原色信号Ｑ（す
なわち赤色信号Ｒ５緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）を
互いに比較し、その比較結果に応じてゲート信号ｇ　１
１．　ｇ　α、　ｇ　Ｂを出力する（ステップ１０．　
］、１．）。

ゲート信号ｇ　Ｒ，ｇ　ｃ、　ｇ　ｎの値は、対応する
三原色信号Ｑか最大のときＯどなることを除き、通常１
である。

相対色度和信号Ｘ　の　出 乗算回路１４４Ａ２．１４４Ｂ２．１．４４ｃ、２から
出力された係数側相対色度信号ａＸ　Ｒｌ　／３　Ｘ　
ａ　＋　Ｙ　Ｘ　ｎは、ゲート回路１．４５Ａ、　１．
４５β、　１．４５Ｃにおいて、ゲート信号ｇ＋１、ｇ
ｃ、ｇｎによって適宜に選択され（ひいては乗しら、ｆ
″１．　）たのち、加算回路】４６にｒ：Ｊえられる（
ステップ１２）。

加算回路１４６では、ゲート回路１４５Ａ、　１１１５
８．１４５Ｃを通過した係数付相対色度信号αＸＲ６β
ｘ６゜γＸ５が互いに加算され、相対色度和信号Ｘムｇ
ＲαＸ＋＋　＋ｇａ　ＢＸａ　＋ｇｅ　１’Ｘ＋１とシ
テ出力される（ステップ１３）。相対色度信号Ｘに乱反
射信号ＰＮに起因した誤信号が含まれているので、相対
色度和信号ＸＡにも、乱反射信号ＰＮに起因した誤信号
（゛諸相対合度相伝号ＸΔ□”°という）が含まれてい
る。

相対色度和信号ＸΔは、比較回路１４７の反転入力端に
与えられ、設定回路１４７Ａから非反転入力端に与えら
れた設定値Ｘ、。と比較されている（ステップ１４）。

比較回路１４７における比較結果は、相対色席料比較信
号ｘ５＋とじて出力される。相対色度和信号Ｘ、６に乱
反射信号Ｐ　＋＋に起因した誤信号が含まれているので
、相対色度和信号信伺ＸΔ“にも、乱反射信号Ｐ　Ｎに
起因した誤信号（“誤用対合席料比較信号ｘ１１）°°
という）が含まれていス 比較回路１４７かも出力された相対色度和比較信号Ｘム
４は、乱反射信号除去回路７０の除去回路７３によって
乱反射ＰＮに起因した誤用対合席料比較信号ＸΔ８゛か
除去される。すなわち、除去回路７３で（才、遅延回路
７３ａによって撮像手段３２の１画面撮像時間に相当す
る時間だけ遅延された相対色席料比較信号ＸΔ＋ど遅延
回路７３ａによって遅延さ第１ていない相対色度和比較
信号ｘム゛との間の論理積が、論理積回路７３１）で求
められ、諸相対合席料比較信号Ｘへ−か除去される（ス
テップ１５）。ちなみに、相対色席料比較信号Ｘどには
、異物反射信号ＰＨ，Ｐ１、、に対応して異物相対色席
料比較信号Ｘ　ＩＨ，Ｘ　ｇが含まれている。

異物Ｎの言）数 計数回路１４８は、遅延回路３１．Ａから遅延物品検知
信号ずつか与えられると所定時間だけ、比較回路１４７
から与えられた相対色席料比較信号ＸΔ＋に含まオｔた
パルス（すなわち高レベル状態）を計数して被検査物品
Ｍに混入ないし付着した異物Ｎの個数を計数する（ステ
ップ１６）。

毀膣１団ａ■９肚 異物検出信号発生回路１４９は、計数回路１４８から勾
えられた計数結果＼Ｖが設定値Ｗ。よりも大きいか否か
を判定する（ステップ１７）。

計数結果ｙｔが設定値Ｗ。よりも大きい場合、異物検出
信号発生回路１４９は、異物検出信号■を発生ずる。

これに対し、計数結果Ｗか設定値Ｗ。よりも・ｊＸさい
場合、異物検出信号発生回路１４９は、異物検出信号■
を発生しない。

このため、異物検出信号発生回路１４９の発生ずる異物
検出信号■は、異物検出部４０の検出結果として機能す
る。

不良の被検査物品Ｍ゛の除去 異物検出信号発生回路１４９から異物検出伝号入ｌが発
生されたとき、不良物品除去部５０ては、異物検出信号
■に応じて駆動部材５２が切替フィン５１を矢印Ｂで示
ずごとく切替えて被検査物品Ｍ（すなわち不良の被検査
物品Ｍ”）を収納箱５３へ収納する（ステップ１８）。

異物検出信号発生回路４９から異物検出信号■か発生さ
れなかったとぎ、不良物品除去部５０てＣ」、駆動部材
５２が切替フィン５１を切替えることがなく、被検査物
品Ｎ４か移送プーリ５４によって切替フィン５１からベ
ルトコンヘア２２に向けて移送ぜしめら、ｆする（ステ
ップ１９）。

不良率ｑ算用 異物検出信号発生回路・１９から異物検出（＝　−’ｙ
　ｖか発生されるか否かにかかわらず、不良率算出部６
０では、算出回路６１か、異物検出信号Ｖの発生回数と
遅延回路３１．Ａから与えられた遅延物品検知信号ｆ１
．ｌ（ひいては物品検知信号ｒ）の発生回並とをそれぞ
れ計数したのち、異物検出伝号■の５１′ＩＡ、結果を
物品検知信号ｆの計数結果によって除することにより、
被検査物品群の不良率を算出する（ステップ２０）。

算出回路６１によって算出された被検査物品群の不良率
は、表示装置６２によって表示され、また記録装置６３
にＪ、って記録されることにより、その被検査物品群の
品質の判断なとに供さね、る（スワンプ２１）。

（第８の実施例の構成・　用） また加えて、第１７図を参照しつつ１本発明にかかる異
物検査装置の第８の実施例について、その構成および作
用を詳細に説明する。

第８の実施例は、比較回路１４７と計数回路＋４８との
間に挿入された乱反射信号除去回路７０の除去回路７３
が加算回路１４６ど比較回路＋４７との間に挿入されて
いることを除き、第７の実施例と同一の構成を有してい
る。

したがって、第８の実施例は、乱反射信号除去回路７０
の除去回路７３によって相対色度和信号Ｘ／ｌから乱反
射信号ＰＮに起因した誤信号（すなわち誤相対色度和信
号Ｘｔ、Ｎ）を除去することを除き、第７の実施例と同
一の作用をなしている。

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第７の実
施例に包有さ第１た部材ないしはステップに対応する部
材ないしはステップに対し同一の参Ｈ，Ｈ番号を付すこ
とにより、その他の構成および作用の詳細な説明を省略
する。

（第９の実施例の構成・作用） また更に、第１８図」３よび第１９図を参照しつつ、本
発明にかかる異物検査装置の第９の実施例について、そ
の構成および作用を詳細に説明する。ここでは、便宜ト
、被検査物品Ｍが動片であるとき、被検査物品Ｍの色彩
か赤色を強く帯びかつ異物（小エヒ、網クズあるいはワ
ラクズなど）Ｎか被検査物品Ｍに比べて緑色あるい（止
音紫色を帯びＣいるので、赤色相対色度信号Ｘ　Ｒを利
用することなく、異物Ｎの検出を実行する場合について
説明する。

第９の実施例は、比較回路１４３．除算回路１４４　Ａ
乗算回路１．４４Ａ２およびゲート回路１４５Ａ、　１
４５β、　１４５ｃか除去されたことを除き、第７の実
施例と同一の構成を有している。

したかって、第９の実施例は、緑色相対色度信号Ｘ６お
よび青紫色相対色度信号ＸＢを被検査物品Ｎ４と異物Ｎ
との間の色彩の差異に応して適宜の割合で互いに加算し
て相対色度和信号Ｘｆ１を作成しており、割戻！１−１
信号除去回路７０の除去回路７３によって相対色度比較
信号ＸΔ＋から井原！１＝ｔ　ｆハ弓（ｉ）Ｎに起因し
た誤信号（すなわち諸相対合１旦和比較信号ＸΔ、゛）
を除去することを除き、第７の実施例と同一の作用をな
している。

それ故、ここでは、説明を簡潔とづるために、第７の実
施例に包有さ第１た部オオないしはステップに対応する
部＋詞ないしはステップに対し同一の参照番号を伺ずこ
とにより、その池の構成」３、発明の詳細な説明を省略
する。

なお、上述においては、赤色相対色度（Ｕ　冒’　Ｘ　
Ｒが利用さ、ｔｌない場合について説明したか、本発明
は、これに限定されるものではなく、被検査物品Ｍと異
物Ｎとの色彩の差異に応して緑色相対色度信号Ｘ６ある
いは青紫色相対色度信号Ｘ、　Ｂが利用されない場合も
包摂している。

（第１０の実施例の構成・作用） また併せて、第２０図を参照しつつ、本発明にかかる異
物検査装置の第１０の実施例について、その構成および
作用を詳細に説明する。

第１０の実施例は、比較回路１４７と計数回路１４８と
の間に挿入された乱反射信号除去回路７３か加算回路１
・＋６と比較回路１４７との間に挿入されていることを
除き、第９の実施例と同一の構成を有している。

したかって、第１０の実施例は、乱反射信号除去回路７
０の除去回路７３によって相対色度和信号Ｘ。

から割戻躬信弓Ｐ９に起因した誤信号（ずなわぢ＝呉相
対合席料仏号Ｘｌ１ＩＮ）を除去することを除さ、第９
の実施例と同一の作用をなしている。

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第９の実
施例に包有された部材ないしはステップに対応する部＋
１ないしはステップに対し同一の参照番号を付すことに
より、その他の構成および作用の詳細な説明を省略する
。

（第１１の実施例の　成・作用） 最後に、第２１図お」；び第２２図を参照しつつ、本発
明にかかる異物検査装置の第１１の実施例について、そ
の構成ｊ３よび作用を詳細に説明する。ここで（」、便
宜上、被検査物品Ｍの色彩か赤色および青紫色を強く帯
びかつ異物Ｎか被検査物品Ｍに比べで緑色を帯びており
、赤色相対色度信士−，，および青紫色相対色度信号ｘ
８を利用すること４ｆ（、異物Ｎの検出を実行する場合
について説明する。

第１１の実施例は、比較回路１４３．除算回路付４Δ１
４４（１、、乗算回路１４４Ａ２ｂ．４４Ｃ２およびゲ
−１・回路１４５Ａ　１４５８１４５ｃに加え加算回路
１４６か除去さ２またことを除き、第７の実施例と同一
の構成を有している。

したかって、第１１の実施例は、緑色和文ｊ色度仁号Ｘ
６を被検査物品Ｍと異物Ｎとの間の色彩の差異に応じて
適宜の割合で増幅して相対色度信号Ｘを作成しており、
乱反射信号除去回路並の除去回路７３によって相対色度
比較信号Ｘ゛から乱反射伝号ＰＮに起因した誤信号（す
なわち誤相対色度比較信号Ｘ、　、　”　）を除去する
ことを除き、第７の実施（列と同一のイ乍用をなしてい
る。

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第７の実
施例に包有された部祠ないしく」ステップに対応する部
材ないしはステップに対し同・の参１１べ番号をイ・ｊ
ずことにより、その他の構成および作用の詳細な説明を
省略する。

なお、−ト述においては、赤色相対色度信号Ｘ３および
青紫色相対色度信号ＸＢかｆｔｌ用されない場合につい
て説明したか、本発明は、これに限定されるものではな
く、赤色相対色度信号ＸＮ．ｌおよび緑色相対色度信号
Ｘ。あるいは緑色相対色度信号Ｘ　Ｇおよび青紫色相対
色度信号ＸＢか利用されない場合も包摂している。

（第１２の実施例の構成・作用） ちなみに、第２３図を参照しつつ、本発明にかかる物品
検査装置の第１２の実施例について、その構成および作
用を詳細に説明する。

第１２の実施例は、比較回路１４７と計数回路１４８と
の間に挿入された乱反射信号除去回路７３か乗算回路１
４４Ｂ２と比較回路１４７との間に挿入されていること
を除き、第１１の実施例と同一の構成を有している。

したかって、第１２の実施例は、乱反射信号除去回路７
０の除去回路７３によ−〕で相対色度信号Ｘから乱反射
信号ＰＮに起因した誤信号（すなわち誤相対色度信号Ｘ
７．）を除去することを除き、第１１の実施例と同一の
作用をなしている。

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第１１の
実施例に包有された部材ないしはステップに対応する部
材ないしはステップに対し同一の参照番号を４−１ずこ
とにより、その他の構成および作用の詳細な説明を省略
する。

（３）発明の効果 上述より明らかなように、本発明にかかる物品検査装置
は、［問題点の解決手段］の欄に、第１ないし第６の解
決手段として挙げたごとき構成を有しているので、 （１）画像信号の乱反射信号に伴なう誤信号を除去でき
る効果 を有し、ひいては （１１）被検査物品に混入ないしは付着した９こ物の検
査精度を向上できる効果 を有する。

本発明にかかる物品検査装置は、［問題点の解決手段］
の欄に、特に、第４ないし第６の解決手段として挙げた
ごとき構成を有しているので、上記ｆｉ）（ｊ、ｌの効
果に加え、 ｆｉｉｉ）被検査物品に？丘人ないしは（＝１着した異
物を被検査物品との間の色彩の差異を利用して検出でき
る効果 を有し２、ひいては （１■）被検査物品に混入ないし付着した異物の検査精
度を一層向」−できる効果 を有する。

【図面の簡単な説明】

第１区Ｃ：ｊ、本発明にかかる物品検査装置の第１の実
施例を示すためのブロック回路図、第２図は第１図実施
例の一部を拡大して示すための部分破断斜視図、第３図
は第１図実施例の一部を拡大して示すための部分ブロッ
ク回路図、第４図は第１図実施例の動作を示すためのフ
ローチャート図、第５図（ａｌ〜（ｃ］　は第１区実施
例の動作を説明する）］Ｇ だめの説明図、第６図＋８＋　（１１）は第１図実施例
の動作を説明するための説明図、第７図（ａ）　（ｉ）
）は第１図実施例の動作を説明するための説明図、第８
図は本発明にかかる物品検査装置の第２の実施例を示す
ためのブロック回路図、第９図は本発明にかかる物品検
査装置の第３の実施例を示すだめのブロック回路図、第
１０図は第９図実施例の動作を示すためのフローチャー
ト図、第１１図は本発明にかかる物品検査装置の第４の
実施例を示すだめのブロック回路図、第１２図は本発明
にかかる物品検査装置の第５の実施例を示すだめのブロ
ック回路図、第１３図は第１２図実施例の動作を示すだ
めのフローチャート図、第１４図は本発明にかかる物品
検査装置の第６の実施例を示すだめのブロック回路図、
第１５図は本発明にかかる物品検査装置の第７の実施例
を示すためのブロック回路図、第１６図は第１５図実施
例の動作を示すためのフローチャー１・図、第１７図は
本発明にかかる物品検査装置の第８の実施例を示すため
のブロック回路図、第１８図は本発明にかかる物品検査
装置の第９の実施例を示すためのブロック回路図、第１
９図は第１８図実施例の動作を示すためのフローチャー
１・図、第２０図は本発明にかかる物品検査装置の第１
Ｏの実施例を示すためのブロック回路図、第２１図は本
発明にかかる物品検査装置の第１１の実施例を示すだめ
のブロック回路図、第２２図は第２１図実施例の動作を
示すだめのフローチャート図、第２３図は本発明にかか
る物品検査装置の第１２の実施例を示すためのブロック
回路図である。 ２０　・ ２１、Ａ　　・ ２１、Ｂ ２Ａ ２Ｂ 物品検査装置 ・物品搬送部 ベルトコンベア ・ヘッドプーリ テールプーリ ベルトコンベア へラドプーリ ・テールプーリ 物品擾像部 センサ ３１Ａ　　・・　　　・　・遅延回路 ３２　　・・・　・　・　・・撮像手段３３・　　・　
・・　・・・光源 ３４・・　・　・・　・・・　・・散乱部材３５　　・
・　・　・　　　　遮光部材４０・・・　・　・・・・
　・・・・異物検出部４１　・・・　・　　　・　三原
色信号取出回路４２・・・・・　・　・・　輝度信号作
成回路４３　　・　　・　・・・・　比較回路４３Ａ　
　・・・・　・・設定回路 ４４・・・・・・　　　・・・三原色信号加算回路４５
・・　−・・・　　・・割算回路 ４６・・・　・　・　　・比較回路 ４６Ａ　　・・・・・・　・設定回路 ４７・・・　・・　　　信号組合回路 ４８・・・　・・・　　・　・計数回路４９・・・・・
・・・　　　異物検出信号発生回路１４１　　・・・　
　・　　・・・三原色信号取出回路１．４１Ａ、・・・
　・　・赤色信号取出回路１、４１　Ｂ　、　　・・・
　・　　緑色信号取出回路１、４１．　ＣＩ　　　　　
　　青紫色信号取出回路１．４１／１２．１．４１．Ｂ
２］４１Ｃ２・・・　クランプ回路 １．４１Ａ３］４１．Ｂ３１．４１．Ｃ３増幅回路 １１１２　　・　　　　　　加算回路 １４３　　・　・・　　・　比較回路 １４４Ａ１、１４４Ｂ１、１４４ＣＩ　・除算回路１４
４Ａ１、、　１４４Ｂ２．１４４ｃ２・乗算回路１４５
Ａ、　１４５β、　１．４５Ｃ・ゲート回路１４６・・
・　・　　・・　加算回路 １４７　　・　・・・・・　・・・比較回路１４７Ａ　
　・　　　　　設定回路 １４８・　　　　・　　　計数回路 １４９・　　・・　　・　・異物検出信号発生回路５０
　　・・　　・・　　・・・・不良物品除去部５１・　
　　　　　　　　・切替フィン５２・　　　　・　・・
−駆動部材 ５３　　　・　　　　　　収納箱 ５４　　　　　　　　　　移送プーリ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）物品搬送部によって搬送されている被検査物品を
   物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理するこ
   とにより被検査物品に異物が混入ないし付着しているか
   否かを検査してなる物品検査装置において、 （ａ）画像信号から三原色信号Ｒ、Ｇ、Ｂを取出すため
   の三原色信号取出回路（４１）と、（ｂ）三原色信号取
   出回路（４１）の出力端に対して入力端が接続されてお
   り、三原色信号 取出回路（４１）から与えられた三原色信号Ｒ、Ｇ、Ｂ
   から輝度信号Ｙを作成するた めの輝度信号作成回路（４２）と、 （ｃ）輝度信号作成回路（４２）の出力端に対して入力
   端が接続されており、輝度信号Ｙが 設定値を超えたか否かを判定して輝度信 号Ｙが設定値を超えたときにのみ高レベ ル状態となる輝度比較信号Ｙ＾＋を出力す るための比較回路（４３）と、 （ｄ）比較回路（４３）の出力端に対して入力端が接続
   されており、輝度比較信号Ｙ＾＋に含 まれた高レベル状態を計数することに よって被検査物品に混入ないしは付着し た異物を計数するための計数回路（４８） と、 （ｅ）輝度信号作成回路（４２）の出力端と比較回路（
   ４３）の入力端との間もしくは比較回路（４３）の出力
   端と計数回路（４８）の入力端との間に挿入されており
   、輝度信号Ｙもし くは輝度比較信号Ｙ＾＋から画像信号中の 乱反射信号に伴なう誤輝度信号Ｙ＿Ｎもし くは誤輝度比較信号Ｙ＿Ｎ＾＋を除去するための乱反射
   信号除去回路（７１）と、 （ｆ）計数回路（４８）の出力端に対して入力端が接続
   されており、計数回路（４８）の計数結果が所定値を超
   えたとき異物検出信号Ｖ を発生するための異物検出信号発生回路 （４９）と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。 （２）輝度信号Ｙが、総和が１であって０以上かつ１以
   下の値をもつ３つの係数α、β、γと三原色信号Ｒ、Ｇ
   、Ｂとを用いてαＲ＋βＧ＋γＢと表わされてなること
   を特徴とする特許請求の範囲第（１）項記載の物品検査
   装置。 （３）乱反射信号除去回路（７１）が、 （ｉ）輝度信号作成回路（４２）の出力端もしくは比較
   回路（４３）の出力端に対して入力 端が接続されており、輝度信号Ｙもし くは輝度比較信号Ｙ＾＋を画像信号の１ 画面撮像時間だけ遅延せしめるための 遅延回路（７１ａ）と、 （ｉｉ）輝度信号作成回路（４２）の出力端もしくは比
   較回路（４３）の出力端に対して一方 の入力端が接続されかつ他方の入力端 が遅延回路（７１ａ）の出力端に対して接 続されかつ出力端が比較回路（４３）の入 力端もしくは計数回路（４８）の入力端に 対して接続されており、輝度信号Ｙも しくは輝度比較信号Ｙ＾＋と遅延回路 （７１ａ）によって遅延された輝度信号Ｙ もしくは輝度比較信号Ｙ＾＋との間の論 理積を求めて輝度信号Ｙもしくは輝度 比較信号Ｙ＾＋から画像信号中の乱反射 信号に伴なう誤輝度信号Ｙ＿Ｎもしくは 誤輝度比較信号Ｙ＿Ｎ＾＋を除去するための論理積回路
   （７１ｂ）と を包有してなることを特徴とする特許請求の範囲第（１
   ）項もしくは第（２）項記載の物品検査装置。 （４）物品搬送部によって搬送されている被検査吻品を
   物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理するこ
   とにより被検査物品に異物が混入ないし付着しているか
   否かを検査してなる物品検査装置において、 （ａ）画像信号から三原色信号Ｒ、Ｇ、Ｂを取出すため
   の三原色信号取出回路（４１）と、（ｂ）三原色信号取
   出回路（４１）の出力端に対して入力端が接続されてお
   り、三原色信号 取出回路（４１）から与えられた三原色信号Ｒ、Ｇ、Ｂ
   を互いに加算して三原色和信 号Ｘを作成するための三原色信号加算回 路（４４）と、 （ｃ）三原色信号取出回路（４１）の出力端と三原色信
   号加算回路（４４）の出力端とに対して入力端が接続さ
   れており、三原色信号Ｒ 、Ｇ、Ｂを三原色和信号Ｘによって除す ることによって三原色相対色度信号Ｘ＿Ｒ、Ｘ＿Ｇ、Ｘ
   ＿Ｂを算出し、最大のものを相対色度信号＠Ｘ＠として
   出力するための割算回路（４５）と、 （ｄ）割算回路（４５）の出力端に対して入力端が接続
   されており、相対色度信号＠Ｘ＠が設定値を超えたか否
   かを判定して相対色度信 号＠Ｘ＠が設定値を超えたときにのみ高レベル状態とな
   る相対色度比較信号＠Ｘ＾＋＠を出力するための比較回
   路（４６）と、 （ｅ）比較回路（４６）の出力端に対して入力端が接続
   されており、相対色度比較信号＠Ｘ＾＋＠に含まれた高
   レベル状態を計数すること によって被検査物品に混入ないしは付着 した異物を計数するための計数回路（４８）と、 （ｆ）割算回路（４５）の出力端と比較回路（４６）の
   入力端との間もしくは比較回路（４６）の出力端と計数
   回路（４８）の入力端との間に挿入されており、相対色
   信号＠Ｘ＠もしくは 相対色度比較信号＠Ｘ＾＋＠から画像信号中の乱反射信
   号に伴なう誤相対色度信号＠Ｘ＿Ｎ＠もしくは誤相対色
   度比較信号＠Ｘ＿Ｎ＠を除去するための乱反射信号除去
   回路（７２）と、（ｇ）計数回路（４８）の出力端に対
   して入力端が接続されており、計数回路（４８）の計数
   結果が所定値を超えたとき異物検出信号Ｖ を発生するための異物検出信号発生回路 （４９）と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。 （５）乱反射信号除去回路（７２）が、 （ｉ）割算回路（４５）の出力端もしくは比較回路（４
   ６）の出力端に対して入力端が接続 されており、相対色度信号＠Ｘ＠もしくは 相対色度比較信号＠Ｘ＾＋＠を画像信号の１画面撮像時
   間に相当する時間だけ遅延 せしめるための遅延回路（７２ａ）と、 （ｉｉ）割算回路（４５）の出力端もしくは比較回路（
   ４６）の出力端に対して一方の入力端 が接続されかつ他方の入力端が遅延回 路（７２ａ）の出力端に対して接続されか つ出力端が比較回路（４６）の入力端もし くは計数回路（４８）の入力端に対して接 続されており、相対色度信号＠Ｘ＠もし くは相対色度比較信号＠Ｘ＾＋＠と遅延回路（７２ａ）
   によって遅延された相対色度信 号＠Ｘ＠もしくは相対色度比較信号＠Ｘ＾＋＠との間の
   論理積を求めて相対色度信号＠Ｘ＠ もしくは相対色度比較信号＠Ｘ＾＋＠から画像信号中の
   乱反射信号に伴なう誤相対 色度信号＠Ｘ＿Ｎ＠もしくは誤相対色度比較信号＠Ｘ＿
   Ｎ＠を除去するための論理積回路（７２ｂ）と を包有してなることを特徴とする特許請求の範囲第（４
   ）項記載の物品検査装置。 （６）物品搬送部によって搬送されている被検査物品を
   物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理するこ
   とにより被検査物品に異物が混入ないし付着しているか
   否かを検査してなる物品検査装置において、 （ａ）画像信号から三原色信号Ｒ、Ｇ、Ｂを取出すため
   の三原色信号取出回路（４１）と、（ｂ）三原色信号取
   出回路（４１）の出力端に対して入力端が接続されてお
   り、三原色信号 取出回路（４１）から与えられた三原色信号Ｒ、Ｇ、Ｂ
   から輝度信号Ｙを作成するた めの輝度信号作成回路（４２）と、 （ｃ）輝度信号作成回路（４２）の出力端に対して入力
   端が接続されており、輝度信号Ｙが 設定値を超えたか否かを判定して輝度信 号Ｙが設定値を超えたときにのみ高レベ ル状態となる輝度比較信号Ｙ＾＋を出力す るための第１の比較回路（４３）と、 （ｄ）三原色信号取出回路（４１）の出力端に対して入
   力端が接続されており、三原色信号 取出回路（４１）から与えられた三原色信号Ｒ、Ｇ、Ｂ
   を互いに加算して三原色和信 号Ｘを作成するための三原色信号加算回 路（４４）と、 （ｅ）三原色信号取出回路（４１）の出力端と三原色信
   号加算回路（４４）の出力端とに対して入力端が接続さ
   れており、三原色信号Ｒ 、Ｇ、Ｂを三原色和信号Ｘによって除す ることによって三原色相対色度Ｘ＿Ｒ、Ｘ＿Ｇ、Ｘ＿Ｂ
   を算出し、最大のものを相対色度信 号＠Ｘ＠として出力するための割算回路（４５）と、 （ｆ）割算回路（４５）の出力端に対して入力端が接続
   されており、相対色度信号＠Ｘが＠設定値を超えたか否
   かを判定して相対色度信 号＠Ｘ＠が設定値を超えたときにのみ高レベル状態とな
   る相対色度比較信号＠Ｘ＾＋＠を出力するための第２の
   比較回路（４６）と、 （ｇ）第１の比較回路（４３）の出力端と第２の比較回
   路（４６）の出力端とに対して入力端が接続されており
   、輝度比較信号Ｙ＾＋と相 対色度比較信号＠Ｘ＾＋＠とを組合わせて組合信号Ｚを
   作成し出力するための信号組合 回路（４７）と、 （ｈ）輝度信号作成回路（４２）の出力端と第１の比較
   回路（４３）の入力端との間もしくは第１の比較回路（
   ４３）の出力端と信号組合回路（４７）の入力端との間
   に挿入されてお り、輝度信号Ｙもしくは輝度比較信号 Ｙ＾＋から画像信号中の乱反射信号に伴な う誤輝度信号Ｙ＿Ｎもしくは誤輝度比較信 号Ｙ＿Ｎ＾＋を除去するための第１の乱反射信号除去回
   路（７１）と、 （ｉ）割算回路（４５）の出力端と第２の比較回路（４
   ６）の入力端との間もしくは第２の比較回路（４６）の
   出力端と信号組合回路（４７）の入力端との間に挿入さ
   れており、相対色 度信号＠Ｘ＠もしくは相対色度比較信号＠Ｘ＠＾＋から
   乱画像信号中の反射信号に伴なう相 対色度信号＠Ｘ＠＿Ｎもしくは誤相対色度比較信号＠Ｘ
   ＠＿Ｎ＾＋を除去するための第２の乱反射信号除去回路
   （７２）と、 （ｊ）信号組合回路（４７）の出力端に対して入力端が
   接続されており、組合信号Ｚに含ま れた高レベル状態を計数することによっ て被検査物品に混入ないしは付着した異 物を計数するための計数回路（４８）と、 （ｋ）計数回路（４８）の出力端に対して入力端が接続
   されており、計数回路（４８）の計数結果が所定値を超
   えたとき異物検出信号Ｖ を発生するための異物検出信号発生回路 （４９）と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。 （７）輝度信号Ｙが、総和が１であって０以上かつ１以
   下の値をもつ３つの係数α、β、γと三原色信号Ｒ、Ｇ
   、Ｂとを用いてαＲ＋βＧ＋γＢと表わされてなること
   を特徴とする特許請求の範囲第（６）項記載の物品検査
   装置。 （８）信号組合回路（４７）が、 （ａ）輝度比較信号Ｙ＾＋と相対色度比較信号＠Ｘ＠＾
   ＋との論理積信号Ｙ＾＋＠Ｘ＠＾＋を作成するためのア
   ンド回路（４７Ａ）と、 （ｂ）輝度比較信号Ｙ＾＋と相対色度比較信号＠Ｘ＠＾
   ＋との論理和信号Ｙ＾＋＋＠Ｘ＠＾＋を出力するための
   オア回路（４７Ｂ）と、 （ｃ）アンド回路（４７Ａ）の出力端とオア回路（４７
   Ｂ）の出力端と第１の比較回路 （４３）の出力端と第２の比較回路（４６）の出力端と
   に対してそれぞれ第１ないし 第４の切替接点が接続されかつ出力端 としての共通接点が計数回路（４８）の 入力端に接続されており、論理積信号 Ｙ＾＋＠Ｘ＠＾＋と論理和信号Ｙ＾＋＋＠Ｘ＠＾＋と輝
   度比較信号Ｙ＾＋と相対色度比較信号 ＠Ｘ＠＾＋とのうちのいずれか１つを選択して組合信号
   Ｚとして出力するための切 替スイッチ（４７Ｃ）と で形成されてなることを特徴とする特許請求の範囲第（
   ６）項もしくは第（７）項記載の物品検査装置。 （９）第１の乱反射信号除去回路（７１）が、（ｉ）輝
   度信号作成回路（４２）の出力端もしくは第１の比較回
   路（４３）の出力端に対し て入力端が接続されており、輝度信号 Ｙもしくは輝度比較信号Ｙ＾＋を画像信 号の１画面撮像時間に相当する時間 だけ遅延せしめるための第１の遅延回 路（７１ａ）と、 （ｉｉ）輝度信号作成回路（４２）の出力端もしくは第
   １の比較回路（４３）の出力端に対し て一方の入力端が接続されかつ他方の 入力端が第１の遅延回路（７１ａ）の出力 端に対して接続されかつ出力端が第１ の比較回路（４３）の入力端もしくは計数 回路（４８）の入力端に接続されており、 輝度信号Ｙもしくは輝度比較信号Ｙ＾＋ と第１の遅延回路（７１ａ）によって遅延 された輝度信号Ｙもしくは輝度比較信 号Ｙ＾＋との間の論理積を求めて輝度信 号Ｙもしくは輝度比較信号Ｙ＾＋から画 像信号中の乱反射信号に伴なう誤輝度 信号Ｙ＿Ｎもしくは誤輝度比較信号Ｙ＿Ｎ＾＋を除去す
   るための第１の論理積回路 （ｉ）割算回路（４５）の出力端もしくは第２の比較回
   路（４６）の出力端に対して入力端 が接続されており、相対色度信号＠Ｘ＠も しくは相対色度比較信号＠Ｘ＠＾＋を画像信号の１画面
   撮像時間に相当する時間 だけ遅延せしめるための第２の遅延回 路（７２ａ）と、 （ｉｉ）割算回路（４５）の出力端もしくは第２の比較
   回路（４６）の出力端に対して一方の 入力端が接続されかつ他方の入力端が 第２の遅延回路（７２ａ）の出力端に対し て接続されかつ出力端が第２の比較回 路（４６）の入力端もしくは計数回路（４８）の入力端
   に対して接続されており、相 対色度信号＠Ｘ＠もしくは相対色度比較信 号Ｘ＾＋と第２の遅延回路（７２ａ）によって遅延され
   た相対色度信号＠Ｘ＠もしくは 相対色度比較信号＠Ｘ＠＾＋との間の論理積を求めて相
   対色度信号＠Ｘ＠もしくは相対 色度比較信号＠Ｘ＠＾＋から画像信号中の乱反射信号に
   伴なう誤相対色度信号＠Ｘ＠＿Ｎもしくは誤相対色度比
   較信号＠Ｘ＠＿Ｎ＾＋を除去するための第２の論理積回
   路（７２ｂ） と を包有してなることを特徴とする特許請求の範囲第（６
   ）項ないし第（８）項のいずれか一項記載の物品検査装
   置。 （１０）物品搬送部によって搬送されている被検査物品
   を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理する
   ことにより被検査物品に異物が混入ないし付着している
   か否かを検査してなる物品検査装置において、 （ａ）画像信号から三原色信号Ｒ、Ｇ、Ｂを取り出して
   出力するための三原色信号取出 回路（１４１）と、 （ｂ）三原色信号取出回路（１４１）の出力端に対して
   入力端が接続されており、三原色信 号取出回路（１４１）から与えられた三原色信号Ｒ、Ｇ
   、Ｂを互いに加算して三原色 和信号Ｘを作成するための三原色信号加 算回路（１４２）と、 （ｃ）三原色信号取出回路（１４１）の出力端および三
   原色信号加算回路（１４２）の出力端に対して入力端が
   接続されており、三原色 信号取出回路（１４１）から与えられた三原色信号Ｒ、
   Ｇ、Ｂから選ばれた２つを三 原色信号加算回路（１４２）から与えられた三原色和信
   号Ｘで除することによって三 原色相対色度信号Ｘ＿Ｒ、Ｘ＿Ｇ、Ｘ＿Ｂから選ばれた
   ２つの三原色相対色度信号を算出し て出力するための除算回路（１４４Ａ＿１、１４４Ｂ＿
   １、１４４Ｃ＿１）と、 （ｄ）除算回路（１４４Ａ＿１、１４４Ｂ＿１、１４４
   Ｃ＿１）の出力端に対して入力端が接続されており、除
   算 回路（１４４Ａ＿１、１４４Ｂ＿１、１４４Ｃ＿１）か
   ら与えられた三原色相対色度信号Ｘ＿Ｒ、Ｘ＿Ｇ、Ｘ＿
   Ｂから選ばれた２つの三原色相対色度信号を所 望の割合で互いに加算して相対色度和信 号＠Ｘ＠＿Δとして出力するための相対色度和信号算出
   回路（１４６）と、 （ｅ）相対色度和信号算出回路（１４６）の出力端に対
   して入力端が接続されており、相対 色度和信号＠Ｘ＠＿Δが設定値を超えたか否かを判定し
   て相対色度和信号＠Ｘ＠＿Δが設定値を超えたときにの
   み高レベル状態となる 相対色度和比較信号＠Ｘ＠Δ＿＾＋を出力するための比
   較回路（１４７）と、 （ｆ）比較回路（１４７）の出力端に対して入力端が接
   続されており、相対色度和比較信号 Ｘ＿Δ＾＋に含まれた高レベル状態を計数することによ
   って被検査物品に混入ないし付 着した異物の個数を計数するための計数 回路（１４８）と、 （ｇ）相対色度和信号算出回路（１４６）の出力端と比
   較回路（１４７）の入力端との間もしくは比較回路（１
   ４７）の出力端と計数回路 （１４８）の入力端との間に挿入されてお り、相対色度和信号＠Ｘ＠＿Δもしくは相対色度和比較
   信号＠Ｘ＠＿Δ＾＋から画像信号中の乱反射信号に伴な
   う誤相対色度和信号Ｘ＿Δ＿Ｎもしくは誤相対色度和比
   較信号＠Ｘ＠＿Δ＿Ｎ＾＋を除去するための乱反射信号
   除去回路（１７３）と、 （ｈ）計数回路（１４８）の出力端に対して入力端が接
   続されており、計数回路（１４８）の計数結果が所定値
   を超えたとき異物検出信 号Ｖを発生するための異物検出信号発生 回路（１４９）と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。 （１１）乱反射信号除去回路（７３）が、 （ｉ）相対色度和信号算出回路（１４６）の出力端もし
   くは比較回路（１４７）の出力端に 対して入力端が接続されており、相対 色度和信号＠Ｘ＠＿Δもしくは相対色度和比較信号＠Ｘ
   ＠＿Δ＾＋を画像信号の１画面撮像時間に相当する時間
   だけ遅延せしめるた めの遅延回路（７３ａ）と、 （ｉｉ）相対色度和信号算出回路（１４６）の出力端も
   しくは比較回路（１４７）の出力端に 対して一方の入力端が接続されかつ 他方の入力端が遅延回路（７３ａ）の出力 端に対して接続されかつ出力端が比較 回路（１４７）の入力端もしくは計数回 路（１４８）の入力端に対して接続され ており、相対色度和信号＠Ｘ＠＿Δもしく は相対色度和比較信号＠Ｘ＠＿Δ＾＋と遅延回路（７３
   ａ）によって遅延された相対色度和 信号＠Ｘ＠＿Δもしくは相対色度和比較信号＠Ｘ＠＿Δ
   ＾＋との間の論理積を求めて相対色度和信号＠Ｘ＠＿Δ
   もしくは相対色度和比較信号＠Ｘ＠＿Δ＾＋から画像信
   号中の乱反射信号に伴なう誤相対色度和信号＠Ｘ＠＿Δ
   ＿Ｎもしくは誤相対色度和比較信号＠Ｘ＠＿Δ＿Ｎ＾＋
   を除去するための論理積回路（７３ｂ）と を包有してなることを特徴とする特許請求の範囲第（１
   ０）項記載の物品検査装置。 （１２）物品搬送部によって搬送されている被検査物品
   を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理する
   ことにより被検査物品に異物が混入ないし付着している
   か否かを検査してなる物品検査装置において、 （ａ）画像信号から三原色信号Ｒ、Ｇ、Ｂを取り出して
   出力するための三原色信号取出 回路（１４１）と、 （ｂ）三原色信号取出回路（１４１）の出力端に対して
   入力端が接続されており、三原色信 号取出回路（１４１）から与えられた三原色信号Ｒ、Ｇ
   、Ｂを互いに加算して三原色 和信号Ｘを作成するための三原色信号加 算回路（１４２）と、 （ｃ）三原色信号取出回路（１４１）の出力端および三
   原色信号加算回路（１４２）の出力端に対して入力端が
   接続されており、三原色 信号取出回路（１４１）から与えられた三原色信号Ｒ、
   Ｇ、Ｂから選ばれた１つの三 原色信号を三原色信号加算回路（１４２）から与えられ
   た三原色和信号Ｘで除するこ とによって三原色相対色度信号Ｘ＿Ｒ、Ｘ＿Ｇ、Ｘ＿Ｂ
   から選ばれた１つの三原色相対色 度信号を算出して相対色度信号＠Ｘ＠として出力するた
   めの除算回路（１４４Ａ＿１、１４４Ｂ＿１、１４４Ｃ
   ＿１）と、 （ｄ）除算回路（１４４Ａ＿１、１４４Ｂ＿１、１４４
   Ｃ＿１）の出力端に対して入力端が接続されており、除
   算 回路（１４４Ａ＿１、１４４Ｂ＿１、１４４Ｃ＿１）か
   ら与えられた相対色度信号＠Ｘ＠が設定値を超えたか否
   かを判定して相対色度信号＠Ｘ＠が設定値を超えたとき
   にのみ高レベル状態となる相 対色度比較信号＠Ｘ＠＾＋を出力するための比較回路（
   １４７）と、 （ｅ）比較回路（１４７）の出力端に対して入力端が接
   続されており、相対色度比較信号 ＠Ｘ＠＾＋に含まれた高レベル状態を計数することによ
   って被検査物品に混入ないし付 着した異物の個数を計数するための計数 回路（１４８）と、 （ｆ）除算回路（１４４Ａ＿１、１４４Ｂ＿１、１４４
   Ｃ＿１）の出力端と比較回路（１４７）の入力端との間
   もしくは比較回路（１４７）の出力端と計数回路 （１４８）の入力端との間に挿入されてお り、相対色度信号＠Ｘ＠もしくは相対色度比較信号＠Ｘ
   ＠＾＋から画像信号中の乱反射信号に伴なう誤相対色度
   信号＠Ｘ＠＿Ｎもしくは誤相対色度比較信号＠Ｘ＠＿Ｎ
   ＾＋を除去するための乱反射信号除去回路（７３）と、 （ｇ）計数回路（１４８）の出力端に対して入力端が接
   続されており、計数回路（１４８）の計数結果が所定値
   を超えたとき異物検出信 号Ｖを発生するための異物検出信号発生 回路（１４９）と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。 （１３）乱反射信号除去回路（７３）が、 （ｉ）除算回路（１４４Ａ＿１、１４４Ｂ＿１、１４４
   Ｃ＿１）の出力端もしくは比較回路（１４７）の出力端
   に 対して入力端が接続されており、相対 色度信号＠Ｘ＠もしくは相対色度比較信号 ＠Ｘ＠＾＋を画像信号の１画面撮像時間に相当する時間
   だけ遅延せしめるための遅 延回路（７３ａ）と、 （１１）除算回路（１４４Ａ＿１、１４４Ｂ＿１、１４
   ４Ｃ＿１）の出力端もしくは比較回路（１４７）の出力
   端に 対して一方の入力端が接続されかつ他 方の入力端が遅延回路（７３ａ）の出力端 に対して接続されかつ出力端が比較回 路（１４７）の入力端もしくは計数回路 （１４８）の入力端に対して接続されてお り、相対色度信号＠Ｘ＠もしくは相対色度 比較信号＠Ｘ＠＾＋と遅延回路（７３ａ）によって遅延
   された相対色度信号＠Ｘ＠もしくは 相対色度比較信号＠Ｘ＠＾＋との間の論理積を求めて相
   対色度信号＠Ｘ＠もしくは相対 色度比較信号＠Ｘ＠＾＋から画像信号中の乱反射信号に
   伴なう誤相対色度信号＠Ｘ＠＿Ｎもしくは誤相対色度比
   較信号＠Ｘ＠＿Ｎ＾＋を除去するための論理積回路（７
   ３ｂ）と を包有してなることを特徴とする特許請求の範囲第（１
   ２）項記載の物品検査装置。 （１４）物品搬送部によって搬送されている被検査物品
   を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理する
   ことにより被検査物品に異物が混入ないし付着している
   か否かを検査してなる物品検査装置において、 （ａ）画像信号から三原色信号Ｒ、Ｇ、Ｂを取り出して
   出力するための三原色信号取出 回路（１４１）と、 （ｂ）三原色信号取出回路（１４１）の出力端に対して
   入力端が接続されており、三原色信 号取出回路（１４１）から与えられた三原色信号Ｒ、Ｇ
   、Ｂを互いに加算して三原色 和信号Ｘを作成するための三原色信号加 算回路（１４２）と、 （ｃ）三原色信号取出回路（１４２）の出力端および三
   原色信号加算回路（１４２）の出力端に対して入力端が
   接続されており、三原色 信号取出回路（１４１）から与えられた三原色信号Ｒ、
   Ｇ、Ｂを三原色信号加算回路 （１４２）から与えられた三原色和信号Ｘで除すること
   によって三原色相対色度信号 Ｘ＿Ｒ、Ｘ＿Ｇ、Ｘ＿Ｂを算出して出力するための除算
   回路（１４４Ａ＿１、１４４Ｂ＿１、１４４Ｃ＿１）と
   、（ｄ）除算回路（１４４Ａ＿１、１４４Ｂ＿１、１４
   ４Ｃ＿１）の出力端に対して入力端が接続されており、
   除算 回路（１４４Ａ＿１、１４４Ｂ＿１、１４４Ｃ＿１）か
   ら与えられた三原色相対色度信号Ｘ＿Ｒ、Ｘ＿Ｇ、Ｘ＿
   Ｂに対し所望の係数α、β、γを乗じて係数付 三原色相対色度信号αＸ＿Ｒ、βＸ＿Ｇ、γＸ＿Ｂを算
   出して出力するための乗算回路 （１４４Ａ＿２、１４４Ｂ＿２、１４４Ｃ＿２）と、（
   ｅ）三原色信号取出回路（１４１）の出力端に対して入
   力端が接続されており、三原色信 号取出回路（１４１）から与えられた三原色信号Ｒ、Ｇ
   、Ｂを互いに比較することに より最大のものに対応して０となる選択 信号ｇ＿Ｒ、ｇ＿Ｇ、ｇ＿Ｂを算出して出力するための
   選択信号発生回路（１４３）と、 （ｆ）乗算回路（１４４Ａ＿２、１４４Ｂ＿２、１４４
   Ｃ＿２）の出力端および選択信号発生回路（１４３）の
   出力端に対して入力端が接続されており、選択 信号発生回路（１４３）から与えられた選 択信号ｇ＿Ｒ、ｇ＿Ｇ、ｇ＿Ｂと乗算回路（１４４Ａ＿
   ２、１４４Ｂ＿２、１４４Ｃ＿２）から与えられた係数
   付三原色相対色度信号αＸ＿Ｒ、βＸ＿Ｇ、γＸ＿Ｂと
   の積を互いに加算して相対色度和信号＠Ｘ＠＿Δを出力
   するための相対色度和信号算出回 路（１４６）と、 （ｇ）相対色度和信号算出回路（１４６）の出力端に対
   して入力端が接続されており、相対 色度和信号＠Ｘ＠＿Δが設定値を超えたか否かを判定し
   て相対色度和信号＠Ｘ＠＿Δが設定値を超えたときにの
   み高レベル状態となる 相対色度和比較信号＠Ｘ＠＿Δ＾＋を出力するための比
   較回路（１４７）と、 （ｈ）比較回路（１４７）の出力端に対して入力端が接
   続されており、相対色度和比較信号 Ｘ＿Δ＾＋に含まれた高レベル状態を計数することによ
   って被検査物品に混入ないし付 着した異物の個数を計数するための計数 回路（１４８）と、 （ｉ）相対色度和信号算出回路（１４６）の出力端と比
   較回路（１４７）の入力端との間もしくは比較回路（１
   ４７）の出力端と計数回路 （１４８）の入力端との間に挿入されてお り、相対色度和信号＠Ｘ＠＿Δもしくは相対色度和比較
   信号＠Ｘ＠＿Δ＾＋から画像信号中の乱反射信号に伴う
   誤相対色度和信号＠Ｘ＠＿Δ＿Ｎももしくは誤相対色度
   和信号＠Ｘ＠＿Δ＿Ｎ＾＋を除去するための乱反射信号
   除去回路（７３） と、 （ｊ）計数回路（１４８）の出力端に対して入力端が接
   続されており、計数回路（１４８）の計数結果が所定値
   を超えたとき異物検出信 号Ｖを発生するための異物検出信号発生 回路（１４９）と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。 （１５）乱反射信号除去回路（７３）が、 （ｉ）相対色度和信号算出回路（１４６）の出力端もし
   くは比較回路（１４７）の出力端に 対して入力端が接続されており、相対 色度和信号＠Ｘ＠＿Δもしくは相対色度和比較信号＠Ｘ
   ＠＿Δ＾＋を画像信号の１画面撮像時間に相当する時間
   だけ遅延せしめる ための遅延回路（７３ａ）と、 （ｉｉ）相対色度和信号算出回路（１４６）の出力端も
   しくは比較回路（１４７）の出力端に 対して一方の入力端が接続されかつ 他方の入力端が遅延回路（７３ａ）の出力 端に対して接続されかつ出力端が比較 回路（１４７）の入力端もしくは計数回 路（１４８）の入力端に対して接続され ており、相対色度和信号＠Ｘ＠＿Δもしく は相対色度和比較信号＠Ｘ＠＿Δ＾＋と遅延回路（７３
   ａ）によって遅延された相対色度和 信号＠Ｘ＠＿Δもしくは相対色度和比較信号Ｘ＿Δ＾＋
   との間の論理積を求めて相対色度和信号＠Ｘ＠＿Δもし
   くは相対色度和比較信号＠Ｘ＠＿Δ＾＋から画像信号中
   の乱反射信号に伴なう誤相対色度和信号＠Ｘ＠＿Δ＿Ｎ
   もしくは誤相対色度和比較信号＠Ｘ＠＿Δ＿Ｎ＾＋を除
   去するための論理積回路（７３ｂ）と を包有してなることを特徴とする特許請求の範囲第（１
   ４）項記載の物品検査装置。