JPH04369464A - 光散乱式粒子検出装置 - Google Patents
光散乱式粒子検出装置Info
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- JPH04369464A JPH04369464A JP3173106A JP17310691A JPH04369464A JP H04369464 A JPH04369464 A JP H04369464A JP 3173106 A JP3173106 A JP 3173106A JP 17310691 A JP17310691 A JP 17310691A JP H04369464 A JPH04369464 A JP H04369464A
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- JP
- Japan
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- scattered light
- flow cell
- scattered
- light detector
- concave mirror
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光散乱式粒子検出装置に
関し、特にフローセル流路内の微粒子を検出する装置に
適用して好適なものである。
関し、特にフローセル流路内の微粒子を検出する装置に
適用して好適なものである。
【0002】
【従来の技術】光散乱式粒子検出装置1は、図5に示す
ようにフローセル2のほぼ中央部に設けられた流路2A
を流れる試料流体に光源光LA1を集光レンズ3を介し
て照射し、試料流体に微粒子が含まれているとき、当該
微粒子から得られる散乱光を集光レンズ4を通じて散乱
光検出器5において検出し、その検出信号S1を用いて
微粒子の通過を検出するようになされている。
ようにフローセル2のほぼ中央部に設けられた流路2A
を流れる試料流体に光源光LA1を集光レンズ3を介し
て照射し、試料流体に微粒子が含まれているとき、当該
微粒子から得られる散乱光を集光レンズ4を通じて散乱
光検出器5において検出し、その検出信号S1を用いて
微粒子の通過を検出するようになされている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、この種の従
来の光散乱式粒子検出装置1においては、流路2Aにお
いて生じた散乱光は、図6に示すように例えば石英、サ
フアイヤ等を原料とするセル2と空気との屈折率の相違
に基づいて、セル2の厚味を透過して空気中に出る際に
、セル外壁位置において外側に拡がるように屈折し、そ
のため集光レンズ4を通過できる散乱光の光量が減少す
る結果になるように構成されている。
来の光散乱式粒子検出装置1においては、流路2Aにお
いて生じた散乱光は、図6に示すように例えば石英、サ
フアイヤ等を原料とするセル2と空気との屈折率の相違
に基づいて、セル2の厚味を透過して空気中に出る際に
、セル外壁位置において外側に拡がるように屈折し、そ
のため集光レンズ4を通過できる散乱光の光量が減少す
る結果になるように構成されている。
【0004】従つてフローセルを使用しない光散乱式粒
子検出装置、例えば空気中の粒子を検出する光散乱式粒
子検出装置などの場合と比較すると、この種のフローセ
ル方式の粒子検出装置の検出感度が極端に低くなる問題
がある。
子検出装置、例えば空気中の粒子を検出する光散乱式粒
子検出装置などの場合と比較すると、この種のフローセ
ル方式の粒子検出装置の検出感度が極端に低くなる問題
がある。
【0005】かかる問題を解決する方法として従来、第
1に光源を高出力のアルゴンイオンレーザ、高出力半導
体レーザ等の高出力のものによつて構成したり、また第
2に光源光LA1を形成する際にレーザビームを小さく
絞ることにより試料流体の一部だけを測定するようにし
たり、さらに第3に集光レンズ4として短焦点距離のレ
ンズを用いてフローセルにできるだけ近づけることによ
り受光角を大きくし、その結果集光能力を上げるように
したりする方法が提案されている。
1に光源を高出力のアルゴンイオンレーザ、高出力半導
体レーザ等の高出力のものによつて構成したり、また第
2に光源光LA1を形成する際にレーザビームを小さく
絞ることにより試料流体の一部だけを測定するようにし
たり、さらに第3に集光レンズ4として短焦点距離のレ
ンズを用いてフローセルにできるだけ近づけることによ
り受光角を大きくし、その結果集光能力を上げるように
したりする方法が提案されている。
【0006】しかしながら実際上、高出力アルゴンイオ
ンレーザや高出力半導体レーザを用いると出力が数ワツ
ト程度の大電力かつ大型の電源装置が必要となるという
問題がある。またレーザビームを小さく絞ると、測定デ
ータの信頼性が低下するという欠点がある。さらに短焦
点距離の集光レンズを用いるとレンズが肉厚となり収差
が発生するため集光能力が未だ不十分な問題がある。
ンレーザや高出力半導体レーザを用いると出力が数ワツ
ト程度の大電力かつ大型の電源装置が必要となるという
問題がある。またレーザビームを小さく絞ると、測定デ
ータの信頼性が低下するという欠点がある。さらに短焦
点距離の集光レンズを用いるとレンズが肉厚となり収差
が発生するため集光能力が未だ不十分な問題がある。
【0007】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、従来のフローセルを用いた光散乱式粒子検出装置に
おける集光能力を一段と改善し得る光散乱式粒子検出装
置を提案しようとするものである。
で、従来のフローセルを用いた光散乱式粒子検出装置に
おける集光能力を一段と改善し得る光散乱式粒子検出装
置を提案しようとするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め第1の発明においては、フローセル12内の流路12
Aを通過する試料流体に含まれる微粒子20に対して、
光源光LA2を照射することにより得られる散乱光を散
乱光検出器15において検出信号S2に変換して測定デ
ータを得る光散乱式粒子検出装置において、散乱光検出
器15と反対方向に散乱した散乱光を散乱光検出器15
方向に反射させる凹面鏡19と、凹面鏡19により散乱
光検出器15方向に反射された散乱光及び直接散乱光検
出器15方向に散乱した散乱光を集束し散乱光検出器1
5に導く集光レンズ14とを設けるようにする。
め第1の発明においては、フローセル12内の流路12
Aを通過する試料流体に含まれる微粒子20に対して、
光源光LA2を照射することにより得られる散乱光を散
乱光検出器15において検出信号S2に変換して測定デ
ータを得る光散乱式粒子検出装置において、散乱光検出
器15と反対方向に散乱した散乱光を散乱光検出器15
方向に反射させる凹面鏡19と、凹面鏡19により散乱
光検出器15方向に反射された散乱光及び直接散乱光検
出器15方向に散乱した散乱光を集束し散乱光検出器1
5に導く集光レンズ14とを設けるようにする。
【0009】また第2の発明においては、凹面鏡19と
対向する散乱光検出器15側のフローセル側面12Bに
フローセル12とほぼ同一の屈折率を有する凸レンズ2
1を設けるようにする。
対向する散乱光検出器15側のフローセル側面12Bに
フローセル12とほぼ同一の屈折率を有する凸レンズ2
1を設けるようにする。
【0010】
【作用】第1の発明においては、散乱光検出器15と対
向するフローセル側面12Cに凹面鏡19を設置するこ
とにより、散乱光検出器15と反対方向に散乱した散乱
光を散乱光検出器15方向に反射させ、これにより凹面
鏡19を設置しない場合と比較して散乱光検出器15に
おいて検出し得る散乱光の光量を一段と増大させること
ができる。
向するフローセル側面12Cに凹面鏡19を設置するこ
とにより、散乱光検出器15と反対方向に散乱した散乱
光を散乱光検出器15方向に反射させ、これにより凹面
鏡19を設置しない場合と比較して散乱光検出器15に
おいて検出し得る散乱光の光量を一段と増大させること
ができる。
【0011】また第2の発明においては、散乱光検出器
15側のフローセル側面12Bにフローセルとほぼ同一
の屈折率を有する凸レンズ21を設置することにより、
直接散乱光検出器15方向に散乱した散乱光及び凹面鏡
によつて散乱光検出器15方向に反射された散乱光を、
散乱光検出器15側のフローセル側面12Bにおいて屈
折、拡散させずに集光レンズ14に入射することができ
、その結果散乱光検出器15において検出し得る散乱光
の光量を一段と高めることができる。
15側のフローセル側面12Bにフローセルとほぼ同一
の屈折率を有する凸レンズ21を設置することにより、
直接散乱光検出器15方向に散乱した散乱光及び凹面鏡
によつて散乱光検出器15方向に反射された散乱光を、
散乱光検出器15側のフローセル側面12Bにおいて屈
折、拡散させずに集光レンズ14に入射することができ
、その結果散乱光検出器15において検出し得る散乱光
の光量を一段と高めることができる。
【0012】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
する。
【0013】(1)第1実施例
図1及び図2において、光散乱式粒子検出装置11のフ
ローセル12はほぼ正方形の断面形状を有し、その中心
位置に流路12Aが形成され、流路12A内を流れる試
料流体に対して集光レンズ13によつて集光された光源
光LA2を照射し、試料流体内に微粒子があるとき散乱
光を周囲に散乱させるようになされている。
ローセル12はほぼ正方形の断面形状を有し、その中心
位置に流路12Aが形成され、流路12A内を流れる試
料流体に対して集光レンズ13によつて集光された光源
光LA2を照射し、試料流体内に微粒子があるとき散乱
光を周囲に散乱させるようになされている。
【0014】フローセル12の1つの側面12Bから射
出した散乱光は、集光レンズ14によつて集光されて散
乱光検出器15に入射して検出信号S2に変換され、こ
れにより測定データを得るようになされている。
出した散乱光は、集光レンズ14によつて集光されて散
乱光検出器15に入射して検出信号S2に変換され、こ
れにより測定データを得るようになされている。
【0015】かかる構成に加えて、フローセル12の側
面12Bと対向する側面12Cには、フローセル12と
ほぼ同一の屈折率を有する凸レンズ16が、同様にフロ
ーセル12とほぼ同一の屈折率を有する接着剤17によ
つて固着されている。凸レンズ16の外表面には例えば
蒸着によつて反射層18が付着され、これにより凹面鏡
19が形成されている。
面12Bと対向する側面12Cには、フローセル12と
ほぼ同一の屈折率を有する凸レンズ16が、同様にフロ
ーセル12とほぼ同一の屈折率を有する接着剤17によ
つて固着されている。凸レンズ16の外表面には例えば
蒸着によつて反射層18が付着され、これにより凹面鏡
19が形成されている。
【0016】ここでフローセル12の流路12Aの幅と
、凹面鏡19との関係は、試料流体が流路12Aのほぼ
中心位置を通過し、かつ凹面鏡19の焦点が試料流体の
位置にあるように選定される。実質上この条件を満足す
るように流路12Aの幅は小さい値に選定され、かつ凹
面鏡19の曲率半径はできるだけ大きい値に選定され、
流路12Aの幅を「1」としたとき凹面鏡19の曲率半
径はほぼ「8」以上に選定される。好ましい選定例とし
て、フローセル12の流路12Aの幅は、流路12Aが
汚染した場合の洗浄を考慮して、 0.5〔mm〕程度
に選定され、また凹面鏡19の曲率半径は、装置全体と
しての大きさを過大にさせない点を考慮して、4〜5〔
mm〕程度に選定されている。
、凹面鏡19との関係は、試料流体が流路12Aのほぼ
中心位置を通過し、かつ凹面鏡19の焦点が試料流体の
位置にあるように選定される。実質上この条件を満足す
るように流路12Aの幅は小さい値に選定され、かつ凹
面鏡19の曲率半径はできるだけ大きい値に選定され、
流路12Aの幅を「1」としたとき凹面鏡19の曲率半
径はほぼ「8」以上に選定される。好ましい選定例とし
て、フローセル12の流路12Aの幅は、流路12Aが
汚染した場合の洗浄を考慮して、 0.5〔mm〕程度
に選定され、また凹面鏡19の曲率半径は、装置全体と
しての大きさを過大にさせない点を考慮して、4〜5〔
mm〕程度に選定されている。
【0017】図1及び図2の構成において、光源光LA
2が流路12A内の試料流体を照射することにより散乱
する散乱光のうち、散乱光検出器15の方向に散乱され
た散乱光は、フローセル12の側面12B位置において
屈折されて周囲に拡がるように折れ曲がりながら集光レ
ンズ14の方向に射出する。かくして側面12Bから射
出した散乱光のうち集光レンズ14を通つた散乱光は当
該集光レンズ14によつて散乱光検出器15に入射する
。
2が流路12A内の試料流体を照射することにより散乱
する散乱光のうち、散乱光検出器15の方向に散乱され
た散乱光は、フローセル12の側面12B位置において
屈折されて周囲に拡がるように折れ曲がりながら集光レ
ンズ14の方向に射出する。かくして側面12Bから射
出した散乱光のうち集光レンズ14を通つた散乱光は当
該集光レンズ14によつて散乱光検出器15に入射する
。
【0018】これに対して、試料流体によつて散乱され
た散乱光のうち、散乱光検出器15と反対側の側面12
Cに向つて散乱した散乱光は凹面鏡19において反射さ
れて流路12Aに戻され、さらに流路12A位置を通り
過ぎて試料流体によつて散乱光検出器15の方向に直接
散乱された散乱光と一緒に側面12Bに向つて進み、そ
の結果散乱光検出器15の方向に直接散乱された散乱光
と一緒に側面12Bにおいて屈折され、集光レンズ14
によつて散乱光検出器15に集光される。
た散乱光のうち、散乱光検出器15と反対側の側面12
Cに向つて散乱した散乱光は凹面鏡19において反射さ
れて流路12Aに戻され、さらに流路12A位置を通り
過ぎて試料流体によつて散乱光検出器15の方向に直接
散乱された散乱光と一緒に側面12Bに向つて進み、そ
の結果散乱光検出器15の方向に直接散乱された散乱光
と一緒に側面12Bにおいて屈折され、集光レンズ14
によつて散乱光検出器15に集光される。
【0019】ここで、凸レンズ16及び接着剤17の屈
折率がフローセルの屈折率とほぼ同じ値に選定され、し
かも凹面鏡19の焦点が流路12Aの位置にあるように
選定されていることにより、凹面鏡19において反射さ
れた散乱光がそのまま流路12Aに戻るように集束され
る。
折率がフローセルの屈折率とほぼ同じ値に選定され、し
かも凹面鏡19の焦点が流路12Aの位置にあるように
選定されていることにより、凹面鏡19において反射さ
れた散乱光がそのまま流路12Aに戻るように集束され
る。
【0020】図1及び図2の構成によれば、フローセル
12の側面のうち、流路12Aを間に挟んで散乱光検出
器15とは反対側の側面に凹面鏡19を設けるようにし
たことにより、凹面鏡19の方向に散乱した散乱光を流
路12Aの方向に反射すると共に当該反射した散乱光を
散乱光検出器15への検出光として利用することができ
る。かくして光散乱式粒子検出装置11における散乱光
の検出感度を凹面鏡19によつて反射した散乱光の光量
に応じて一段と高めることができる。
12の側面のうち、流路12Aを間に挟んで散乱光検出
器15とは反対側の側面に凹面鏡19を設けるようにし
たことにより、凹面鏡19の方向に散乱した散乱光を流
路12Aの方向に反射すると共に当該反射した散乱光を
散乱光検出器15への検出光として利用することができ
る。かくして光散乱式粒子検出装置11における散乱光
の検出感度を凹面鏡19によつて反射した散乱光の光量
に応じて一段と高めることができる。
【0021】(2)第2実施例
図1及び図2との対応部分に同一符号を付して示す図3
及び図4は第2実施例を示すもので、フローセル12の
側面12B及び集光レンズ14間位置に、凸レンズ21
を設けたことを除いて図1及び図2と同様の構成を有す
る。
及び図4は第2実施例を示すもので、フローセル12の
側面12B及び集光レンズ14間位置に、凸レンズ21
を設けたことを除いて図1及び図2と同様の構成を有す
る。
【0022】凸レンズ21はフローセル12とほぼ同じ
屈折率をもつと共に、当該凸レンズ21がフローセル1
2とほぼ同じ屈折率をもつた接着剤22によつて側面1
2B上に固着されている。
屈折率をもつと共に、当該凸レンズ21がフローセル1
2とほぼ同じ屈折率をもつた接着剤22によつて側面1
2B上に固着されている。
【0023】図3及び図4の構成において、光源光LA
2が流路12A内の試料流体を照射することにより散乱
された散乱光のうち、散乱光検出器15の方向の散乱光
及び凹面鏡19において反射されて流路12A位置を通
り過ぎて側面12Bに向つて進む散乱光は、フローセル
12の側面12B位置において、フローセル12とほぼ
同じ屈折率を有する接着剤22及び凸レンズ21を屈折
されずに直進して集光レンズ14に入射する。
2が流路12A内の試料流体を照射することにより散乱
された散乱光のうち、散乱光検出器15の方向の散乱光
及び凹面鏡19において反射されて流路12A位置を通
り過ぎて側面12Bに向つて進む散乱光は、フローセル
12の側面12B位置において、フローセル12とほぼ
同じ屈折率を有する接着剤22及び凸レンズ21を屈折
されずに直進して集光レンズ14に入射する。
【0024】かくして図3及び図4の構成によれば、図
1及び図2の構成と比較して、フローセル12の側面1
2Bを通過する際に屈折されない分集光レンズ14に入
射する散乱光の光密度を高めることができ、従つて散乱
光検出器15から得られる検出信号S2の検出感度をさ
らに一段と高めることができる。
1及び図2の構成と比較して、フローセル12の側面1
2Bを通過する際に屈折されない分集光レンズ14に入
射する散乱光の光密度を高めることができ、従つて散乱
光検出器15から得られる検出信号S2の検出感度をさ
らに一段と高めることができる。
【0025】(3)他の実施例
なお上述の図1及び図2の実施例並びに図3及び図4の
実施例においては、フローセル12及び凹面鏡19間に
フローセルとほぼ同じ屈折率を有する凸レンズ16を配
設した場合について述べたが、これに代え凸レンズ16
を省略すると共に、凹面鏡19をフローセル12の側面
12Cに密着して取り付けるようにしても、上述の場合
と同様の効果を得ることができる。
実施例においては、フローセル12及び凹面鏡19間に
フローセルとほぼ同じ屈折率を有する凸レンズ16を配
設した場合について述べたが、これに代え凸レンズ16
を省略すると共に、凹面鏡19をフローセル12の側面
12Cに密着して取り付けるようにしても、上述の場合
と同様の効果を得ることができる。
【0026】また上述の図1及び図2並びに図3及び図
4の実施例においては、フローセル12の断面形状を正
方形としたが、本発明はこれに限らず、その他の断面形
状例えば断面円形のものにも適用し得る。
4の実施例においては、フローセル12の断面形状を正
方形としたが、本発明はこれに限らず、その他の断面形
状例えば断面円形のものにも適用し得る。
【0027】さらに上述の図3及び図4の実施例におい
ては、フローセル12の側面の断面形状を正方形とした
ことにより、フローセル12の側面12B位置に設ける
凸レンズ21を平凸レンズとしたが、本発明はこれに限
らず、フローセルの側面形状に適合した形状を有する凸
レンズを適用することができる。
ては、フローセル12の側面の断面形状を正方形とした
ことにより、フローセル12の側面12B位置に設ける
凸レンズ21を平凸レンズとしたが、本発明はこれに限
らず、フローセルの側面形状に適合した形状を有する凸
レンズを適用することができる。
【0028】さらに上述の図3及び図4の実施例におい
ては、フローセル12及び凸レンズ21をフローセルと
ほぼ同じ屈折率を有する接着剤22を用いて固着させる
ようにしたが、本発明はこれに限らず、例えばネジ等の
固定手段によつて締結すると共に、フローセル12及び
凸レンズ21間にできる隙間をフローセル12とほぼ同
じ屈折率を有する充填材により充填するようにしても良
い。
ては、フローセル12及び凸レンズ21をフローセルと
ほぼ同じ屈折率を有する接着剤22を用いて固着させる
ようにしたが、本発明はこれに限らず、例えばネジ等の
固定手段によつて締結すると共に、フローセル12及び
凸レンズ21間にできる隙間をフローセル12とほぼ同
じ屈折率を有する充填材により充填するようにしても良
い。
【0029】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、フローセ
ル流路中の微粒子から得られる散乱光を散乱光検出器に
集光させる手段として、散乱光検出器とは反対側のフロ
ーセルの側面に凹面鏡を設けるようにしたことにより、
この分散乱光検出器に入射する散乱光の光量を増大し得
、その結果検出感度が一段と高い粒子検出装置を実現で
きる。
ル流路中の微粒子から得られる散乱光を散乱光検出器に
集光させる手段として、散乱光検出器とは反対側のフロ
ーセルの側面に凹面鏡を設けるようにしたことにより、
この分散乱光検出器に入射する散乱光の光量を増大し得
、その結果検出感度が一段と高い粒子検出装置を実現で
きる。
【0030】さらに本発明によれば、これに加えて、フ
ローセルから散乱光検出器への散乱光の射出位置にフロ
ーセルとほぼ同じ屈折率の凸レンズを設けるようにした
ことにより、散乱光検出器に向つて射出する散乱光を屈
折により拡散させないようにでき、この分検出感度がさ
らに高い粒子検出装置を実現できる。
ローセルから散乱光検出器への散乱光の射出位置にフロ
ーセルとほぼ同じ屈折率の凸レンズを設けるようにした
ことにより、散乱光検出器に向つて射出する散乱光を屈
折により拡散させないようにでき、この分検出感度がさ
らに高い粒子検出装置を実現できる。
【図1】本発明による光散乱式粒子検出装置の第1の実
施例の全体構成を示す断面図である。
施例の全体構成を示す断面図である。
【図2】図1のフローセルの近傍の構成を示す部分的拡
大図である。
大図である。
【図3】本発明による光散乱式粒子検出装置の第2の実
施例の全体構成を示す断面図である。
施例の全体構成を示す断面図である。
【図4】図3のフローセルの近傍の構成を示す部分的拡
大図である。
大図である。
【図5】従来の光散乱式粒子検出装置の全体構成を示す
断面図である。
断面図である。
【図6】図5のフローセルの近傍の構成を示す部分的拡
大図である。
大図である。
2、12……フローセル、2A、12A……流路、3、
4、13、14……集光レンズ、5、15……散乱光検
出器、6、20……微粒子、16……凸レンズ、17…
…接着剤、18……反射層、19……凹面鏡、LA1、
LA2……光源光、S1、S2……検出信号。
4、13、14……集光レンズ、5、15……散乱光検
出器、6、20……微粒子、16……凸レンズ、17…
…接着剤、18……反射層、19……凹面鏡、LA1、
LA2……光源光、S1、S2……検出信号。
Claims (2)
- 【請求項1】フローセル内の流路部を通過する試料流体
に含まれる微粒子に対して、光源光を照射することによ
り得られる散乱光を散乱光検出器において検出信号に変
換して測定データを得る光散乱式粒子検出装置において
、散乱光検出器と反対方向に散乱した散乱光を散乱光検
出器方向に反射させる凹面鏡と、上記凹面鏡により散乱
光検出器方向に反射された散乱光及び直接散乱光検出器
の方向に散乱した散乱光を集束し散乱光検出器に導く集
光レンズとを具えることを特徴とする光散乱式粒子検出
装置。 - 【請求項2】上記凹面鏡と対向する散乱光検出器側のフ
ローセル側面にフローセルとほぼ同一の屈折率を有する
凸レンズを設けることを特徴とする特許請求の範囲第1
項に記載の光散乱式粒子検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3173106A JPH04369464A (ja) | 1991-06-17 | 1991-06-17 | 光散乱式粒子検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3173106A JPH04369464A (ja) | 1991-06-17 | 1991-06-17 | 光散乱式粒子検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04369464A true JPH04369464A (ja) | 1992-12-22 |
Family
ID=15954280
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3173106A Pending JPH04369464A (ja) | 1991-06-17 | 1991-06-17 | 光散乱式粒子検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04369464A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002031594A (ja) * | 2000-05-12 | 2002-01-31 | Rion Co Ltd | 光散乱式粒子検出器 |
| JP2004085573A (ja) * | 2002-08-27 | 2004-03-18 | Particle Measuring Syst Inc | ストラップレーザダイオードを備える粒子カウンタ |
| JP2008524560A (ja) * | 2004-12-17 | 2008-07-10 | フォトン コントロール インコーポレイテッド | 走行時間光学速度計 |
| WO2020095569A1 (ja) * | 2018-11-06 | 2020-05-14 | 株式会社堀場製作所 | 粒子物性測定に用いられる光学測定用セル及びこれを用いた粒子物性測定装置 |
| US12326393B2 (en) | 2022-01-21 | 2025-06-10 | Particle Measuring Systems, Inc. | Enhanced dual-pass and multi-pass particle detection |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51136475A (en) * | 1975-05-05 | 1976-11-25 | Particle Tech Inc | Light chamber used in instrument for measuring characteristics of particle |
-
1991
- 1991-06-17 JP JP3173106A patent/JPH04369464A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51136475A (en) * | 1975-05-05 | 1976-11-25 | Particle Tech Inc | Light chamber used in instrument for measuring characteristics of particle |
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| JP4777360B2 (ja) * | 2004-12-17 | 2011-09-21 | フォトン コントロール インコーポレイテッド | 走行時間光学速度計 |
| WO2020095569A1 (ja) * | 2018-11-06 | 2020-05-14 | 株式会社堀場製作所 | 粒子物性測定に用いられる光学測定用セル及びこれを用いた粒子物性測定装置 |
| JPWO2020095569A1 (ja) * | 2018-11-06 | 2021-09-30 | 株式会社堀場製作所 | 粒子物性測定に用いられる光学測定用セル及びこれを用いた粒子物性測定装置 |
| US12326393B2 (en) | 2022-01-21 | 2025-06-10 | Particle Measuring Systems, Inc. | Enhanced dual-pass and multi-pass particle detection |
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