JPH0437543B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0437543B2 JPH0437543B2 JP60156769A JP15676985A JPH0437543B2 JP H0437543 B2 JPH0437543 B2 JP H0437543B2 JP 60156769 A JP60156769 A JP 60156769A JP 15676985 A JP15676985 A JP 15676985A JP H0437543 B2 JPH0437543 B2 JP H0437543B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- target peak
- peak
- sweep
- electric field
- quantitative data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、特定の質量のピーク強度をモニタし
ながら高分解能の定量データを取得する質量分析
装置の定量データ取得法に関するものである。
ながら高分解能の定量データを取得する質量分析
装置の定量データ取得法に関するものである。
第４図は質量分析装置の構成を示すブロツク
図、第５図は質量分析装置により得られた試料の
スペクトル・パターンの例を示す図である。
図、第５図は質量分析装置により得られた試料の
スペクトル・パターンの例を示す図である。
第４図において、１はイオン源、２は電場、３
は磁場、４はコレクタースリツト、５は加速電
源、６は電場電源、７は磁場電源、８はプリアン
プ、９と１０はDAC、１１はADC、１２はデイ
スプレイ、１３はデータ処理装置（CPU）、１４
はプロフアイル・バツフア・メモリを示す。
は磁場、４はコレクタースリツト、５は加速電
源、６は電場電源、７は磁場電源、８はプリアン
プ、９と１０はDAC、１１はADC、１２はデイ
スプレイ、１３はデータ処理装置（CPU）、１４
はプロフアイル・バツフア・メモリを示す。
DAC９と１０は、データ処理装置１３の制御
指令に従つてデイジタル信号をアナログ信号に変
換して加速電源５、電場電源６、磁場電源７の各
電源を制御するものである。ADC１１は、アナ
ログ信号をデータ処理装置１３に送るためデイジ
タル信号に変換するものであり、コレクタースリ
ツト４で検出したマスピーク信号はプリアンプ８
で増幅されADC１１でアナログ信号からデイジ
タル信号に変換されてデータ処理装置１３に送ら
れる。データ処理装置１３は、DAC９と１０を
通して加速電源５、電場電源６、磁場電源７を制
御して測定すべき磁場強度の設定、分析系電源の
微小掃引を行い、コレクタースリツト４で検出さ
れるプロフアイル・データをプリアンプ８、
ADC１１を通して取り込み、プロフアイル・バ
ツフア・メモリ１４へ格納するものである。
指令に従つてデイジタル信号をアナログ信号に変
換して加速電源５、電場電源６、磁場電源７の各
電源を制御するものである。ADC１１は、アナ
ログ信号をデータ処理装置１３に送るためデイジ
タル信号に変換するものであり、コレクタースリ
ツト４で検出したマスピーク信号はプリアンプ８
で増幅されADC１１でアナログ信号からデイジ
タル信号に変換されてデータ処理装置１３に送ら
れる。データ処理装置１３は、DAC９と１０を
通して加速電源５、電場電源６、磁場電源７を制
御して測定すべき磁場強度の設定、分析系電源の
微小掃引を行い、コレクタースリツト４で検出さ
れるプロフアイル・データをプリアンプ８、
ADC１１を通して取り込み、プロフアイル・バ
ツフア・メモリ１４へ格納するものである。
このような質量分析装置に、ガスクロマトグラ
フから各成分に分離展開された試料が注入される
と、時間と共に第５図に示すような物質により異
なるスペクトル・パターンが得られる。
フから各成分に分離展開された試料が注入される
と、時間と共に第５図に示すような物質により異
なるスペクトル・パターンが得られる。
ところで、上記のような質量分析装置におい
て、特定の質量数の検出ピークをモニタしながら
そのピーク強度を測定し、ピーク強度の変化から
混合物の濃度の定量化を行う定量測定法として、
SIM（Selected Ion Monitor）測定法がある。こ
のSIM測定法では、第３図に示すように設定した
質量数（Ｍ／Ｚ値）を中心に分析系電源を分析系
電圧波形Ｖで微小掃引し、検出ピークをデータと
して順次格納する。そして、リテンシヨンタイム
の経過と共に出現するサンプルピークを蓄積した
定量値を求めている。このSIM測定法による処理
の流れを簡単に説明すると、 データ処理装置１３は、測定すべき質量数
M0の磁場強度をDAC１０で設定する。
て、特定の質量数の検出ピークをモニタしながら
そのピーク強度を測定し、ピーク強度の変化から
混合物の濃度の定量化を行う定量測定法として、
SIM（Selected Ion Monitor）測定法がある。こ
のSIM測定法では、第３図に示すように設定した
質量数（Ｍ／Ｚ値）を中心に分析系電源を分析系
電圧波形Ｖで微小掃引し、検出ピークをデータと
して順次格納する。そして、リテンシヨンタイム
の経過と共に出現するサンプルピークを蓄積した
定量値を求めている。このSIM測定法による処理
の流れを簡単に説明すると、 データ処理装置１３は、測定すべき質量数
M0の磁場強度をDAC１０で設定する。
質量数M0を中心にしてDAC９で加速電源
５、電場電源６を第３図に示すような分析系電
圧波形Ｖにより微小掃引する。この掃引により
第３図に示すような質量数M0のマスピーク波
形PMがプリアンプ８に入力される。
５、電場電源６を第３図に示すような分析系電
圧波形Ｖにより微小掃引する。この掃引により
第３図に示すような質量数M0のマスピーク波
形PMがプリアンプ８に入力される。
積算開始の指示により、掃引中ADC１１に
よりマスピーク波形PMをサンプリングし、そ
のプロフアイル・データをプロフアイル・バツ
フア・メモリ１４に格納する。
よりマスピーク波形PMをサンプリングし、そ
のプロフアイル・データをプロフアイル・バツ
フア・メモリ１４に格納する。
さらに掃引を繰り返し行い、プロフアイル・
データをその都度プロフアイル・バツフア・メ
モリ１４に加算していく。その結果プロフアイ
ル・バツフア・メモリ１４には、微小掃引が繰
り返されると掃引範囲毎にプロフアイル・デー
タが順次加算され積算プロフアイル・データが
得られる。
データをその都度プロフアイル・バツフア・メ
モリ１４に加算していく。その結果プロフアイ
ル・バツフア・メモリ１４には、微小掃引が繰
り返されると掃引範囲毎にプロフアイル・デー
タが順次加算され積算プロフアイル・データが
得られる。
積算終了の指示により掃引データの加算をや
め、プロフアイル・バツフア・メモリ１４の内
容をデイスプレイ１２に表示する。
め、プロフアイル・バツフア・メモリ１４の内
容をデイスプレイ１２に表示する。
その積算プロフアイル・データから面積値及
び最大値を求める。すなわち、積算プロフアイ
ル・データの面積値は、コレクタースリツト４
に受かつた全イオン量に対応し、また、積算プ
ロフアイル・データの最大値は、ピーク最大値
データの積算値に対応する。
び最大値を求める。すなわち、積算プロフアイ
ル・データの面積値は、コレクタースリツト４
に受かつた全イオン量に対応し、また、積算プ
ロフアイル・データの最大値は、ピーク最大値
データの積算値に対応する。
上述の処理は、通常、低分解能による測定法と
いわれ、目的ピークに近接してそれより強い妨害
ピークがある場合には、最大ピークである妨害ピ
ークを捕捉してしまう。そこで、この妨害ピーク
を分離して目的ピークを捕捉するために、高分解
能による測定法により、目的ピーク位置を計算し
てそこに電場強度及び磁場強度を調整し目的ピー
クの強度を捕捉するようにしている。
いわれ、目的ピークに近接してそれより強い妨害
ピークがある場合には、最大ピークである妨害ピ
ークを捕捉してしまう。そこで、この妨害ピーク
を分離して目的ピークを捕捉するために、高分解
能による測定法により、目的ピーク位置を計算し
てそこに電場強度及び磁場強度を調整し目的ピー
クの強度を捕捉するようにしている。
しかしながら、質量分析装置からコンピユータ
により高分解能SIMデータを取得するには、得よ
うとする目的ピークに非常に近接して他の妨害ピ
ークが存在する場合に問題となる。すなわち、目
的ピークに近接した妨害ピークがある場合には、
この妨害ピークを完全に分離する必要があるた
め、質量分析装置の分解能を高くしなければなら
ない。このため、ピーク波形が非常にシヤープと
なる。
により高分解能SIMデータを取得するには、得よ
うとする目的ピークに非常に近接して他の妨害ピ
ークが存在する場合に問題となる。すなわち、目
的ピークに近接した妨害ピークがある場合には、
この妨害ピークを完全に分離する必要があるた
め、質量分析装置の分解能を高くしなければなら
ない。このため、ピーク波形が非常にシヤープと
なる。
従来は、この目的ピークを捕捉するのに非常な
高精度で位置決めをし、その目的位置に磁場強度
や電場強度を設定していた。しかし、この手法で
は、高精度の位置決めが非常に困難であり、仮に
正しく目的ピークを捕捉しても経時変化により磁
場強度がドリフトする等して長時間目的ピークを
高精度で保持し続けることが困難であつた。ま
た、高分解能SIMデータ取得の目的は、そのピー
ク強度を如何に正しく得るかであるが、従来方法
では、目的位置に磁場強度や電場強度を固定する
ため、真のピークの最高値を捕捉しているか否か
は疑問であつた。仮にピークの最高値を正しく捕
捉していたとしても上述のような磁場ドリフト等
があると、位置ずれが生じ、ピーク強度を正しく
捕えられず、データ精度の劣化をきたすという問
題があつた。
高精度で位置決めをし、その目的位置に磁場強度
や電場強度を設定していた。しかし、この手法で
は、高精度の位置決めが非常に困難であり、仮に
正しく目的ピークを捕捉しても経時変化により磁
場強度がドリフトする等して長時間目的ピークを
高精度で保持し続けることが困難であつた。ま
た、高分解能SIMデータ取得の目的は、そのピー
ク強度を如何に正しく得るかであるが、従来方法
では、目的位置に磁場強度や電場強度を固定する
ため、真のピークの最高値を捕捉しているか否か
は疑問であつた。仮にピークの最高値を正しく捕
捉していたとしても上述のような磁場ドリフト等
があると、位置ずれが生じ、ピーク強度を正しく
捕えられず、データ精度の劣化をきたすという問
題があつた。
本発明は、上記の問題点を解決するものであつ
て、妨害ピークが容易に分離できピーク強度を正
しく捕らえることができる質量分析装置の定量デ
ータ取得法を提供することを目的とするものであ
る。
て、妨害ピークが容易に分離できピーク強度を正
しく捕らえることができる質量分析装置の定量デ
ータ取得法を提供することを目的とするものであ
る。
指定された目的ピーク位置を中心に電場電圧を
微小幅スイープして高分解能の定量データを取得
する質量分析装置の定量データ取得法であつて、
定量データ取得に先立ち予備測定を行つて指定さ
れた目的ピーク位置を求めると共に、該目的ピー
クと近接する妨害ピークとの分離点を認識して該
分離点の範囲内でスイープ幅を決定し、しかる後
目的ピーク位置を中心として決定したスイープ幅
に従つて電場電圧を微小幅スイープして高分解能
の定量データを取得することを特徴とするもので
ある。
微小幅スイープして高分解能の定量データを取得
する質量分析装置の定量データ取得法であつて、
定量データ取得に先立ち予備測定を行つて指定さ
れた目的ピーク位置を求めると共に、該目的ピー
クと近接する妨害ピークとの分離点を認識して該
分離点の範囲内でスイープ幅を決定し、しかる後
目的ピーク位置を中心として決定したスイープ幅
に従つて電場電圧を微小幅スイープして高分解能
の定量データを取得することを特徴とするもので
ある。
〔作 用〕
本発明の質量分析装置の定量データ取得法で
は、予備測定を行うことによつて目的ピーク位置
と妨害ピークにかからない範囲のスイープ幅が求
められる。そして、その予備測定の結果に従つて
電場電圧を微小幅スイープして高分解能の定量デ
ータを取得するので、妨害ピークが分離され正し
いピーク強度が捕らえられる。
は、予備測定を行うことによつて目的ピーク位置
と妨害ピークにかからない範囲のスイープ幅が求
められる。そして、その予備測定の結果に従つて
電場電圧を微小幅スイープして高分解能の定量デ
ータを取得するので、妨害ピークが分離され正し
いピーク強度が捕らえられる。
以下、実施例を図面を参照しつつ説明する。
第１図は本発明の定量データ取得法の１実施例
を説明するための図、第２図は目的ピークとスイ
ープ範囲を説明するための図、第３図はスイープ
と目的ピークとの対応例を示す図である。
を説明するための図、第２図は目的ピークとスイ
ープ範囲を説明するための図、第３図はスイープ
と目的ピークとの対応例を示す図である。
本発明は、目的ピークと妨害ピークとが近接し
てあつても、これら２つのピーク間に当然いくら
かの質量数のずれがあり、分離点を認識すること
が可能であることに着目したものであり、第１図
にその処理の流れを示すように、定量データ取得
に先立つてまず予備測定を行う。
てあつても、これら２つのピーク間に当然いくら
かの質量数のずれがあり、分離点を認識すること
が可能であることに着目したものであり、第１図
にその処理の流れを示すように、定量データ取得
に先立つてまず予備測定を行う。
予備測定では、そのスペクトルを表示すること
によつて、オペレータが目的ピークP1を指定す
る。この指定があるとCPUにより、その指定さ
れた目的ピークの位置を計算し、目的ピーク位置
をテーブルに登録する。さらに、第２図に示すよ
うに目的ピークP1と近接する妨害ピークP2との
間で例えば強度が低くなつている谷の位置を分離
点として認識し、目的ピークP1のピーク点を中
心にして分離点の範囲内でスイープ幅WSを決定
し、このスイープ幅をテーブルに登録する。しか
る後、このテーブルに登録された目的ピーク位置
及びスイープ幅を参照することによつて、本測定
を行う。すなわち、第３図に示すように電場電圧
Ｖを微小幅スイープし、これにより得られた目的
ピークのプロフアイル・データ（波形）PMを解
析し、その最高点のピーク強度Iniを算出する。
によつて、オペレータが目的ピークP1を指定す
る。この指定があるとCPUにより、その指定さ
れた目的ピークの位置を計算し、目的ピーク位置
をテーブルに登録する。さらに、第２図に示すよ
うに目的ピークP1と近接する妨害ピークP2との
間で例えば強度が低くなつている谷の位置を分離
点として認識し、目的ピークP1のピーク点を中
心にして分離点の範囲内でスイープ幅WSを決定
し、このスイープ幅をテーブルに登録する。しか
る後、このテーブルに登録された目的ピーク位置
及びスイープ幅を参照することによつて、本測定
を行う。すなわち、第３図に示すように電場電圧
Ｖを微小幅スイープし、これにより得られた目的
ピークのプロフアイル・データ（波形）PMを解
析し、その最高点のピーク強度Iniを算出する。
上述のように本発明では、目的ピーク位置を中
心として電場電圧を微小幅スイープして高分解能
の定量データを取得することにより、データの感
度を失うことなくピーク強度を得ることができ
る。また、目的ピーク位置が磁場のドリフト等に
より変化しても、ピークの最高位置がこの微小幅
スイープされる範囲内のどこかにあればよいの
で、このような場合でも正しいピーク強度が得ら
れる。
心として電場電圧を微小幅スイープして高分解能
の定量データを取得することにより、データの感
度を失うことなくピーク強度を得ることができ
る。また、目的ピーク位置が磁場のドリフト等に
より変化しても、ピークの最高位置がこの微小幅
スイープされる範囲内のどこかにあればよいの
で、このような場合でも正しいピーク強度が得ら
れる。
なお、通常、SIMデータを取得する場合には、
同時に複数チヤンネルのデータ測定を行うが、各
目的ピークの質量数が異なると、同時にそれらに
対する妨害ピークの様子も違う。つまり、或るチ
ヤンネルでは目的ピークに非常に近接して妨害ピ
ークがあるが、他のチヤンネルではこれらの２つ
のピーク間の質量差がやや大きい等の場合があ
る。このような違いがあつても各チヤンネル毎に
微小スイープ幅を、上述のようにテーブルにそれ
ぞれ登録して可変にすることによつて問題なく目
的ピークを取得することができる。
同時に複数チヤンネルのデータ測定を行うが、各
目的ピークの質量数が異なると、同時にそれらに
対する妨害ピークの様子も違う。つまり、或るチ
ヤンネルでは目的ピークに非常に近接して妨害ピ
ークがあるが、他のチヤンネルではこれらの２つ
のピーク間の質量差がやや大きい等の場合があ
る。このような違いがあつても各チヤンネル毎に
微小スイープ幅を、上述のようにテーブルにそれ
ぞれ登録して可変にすることによつて問題なく目
的ピークを取得することができる。
以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、目的ピークと妨害ピークとの分離点を認識
し、その結果に基づき目的ピーク位置を中心とし
て電場電圧を微小幅スイープして高分解能の定量
データを取得するので、磁場のドリフト等があつ
ても目的ピークの捕捉が容易となり、また、デー
タの感度劣化を防ぐことができる。
ば、目的ピークと妨害ピークとの分離点を認識
し、その結果に基づき目的ピーク位置を中心とし
て電場電圧を微小幅スイープして高分解能の定量
データを取得するので、磁場のドリフト等があつ
ても目的ピークの捕捉が容易となり、また、デー
タの感度劣化を防ぐことができる。
第１図は本発明の定量データ取得法の１実施例
を説明するための図、第２図は目的ピークとスイ
ープ範囲を説明するための図、第３図はスイープ
と目的ピークとの対応例を示す図、第４図は質量
分析装置の構成を示すブロツク図、第５図は質量
分析装置により得られた試料のスペクトル・パタ
ーンの例を示す図である。 １…イオン源、２…電場、３…磁場、４…コレ
クタースリツト、５…加速電源、６…電場電源、
７…磁場電源、８…プリアンプ、９と１０…
DAC、１１…ADC、１２…デイスプレイ、１３
…データ処理装置、１４…プロフアイル・バツフ
ア・メモリ。
を説明するための図、第２図は目的ピークとスイ
ープ範囲を説明するための図、第３図はスイープ
と目的ピークとの対応例を示す図、第４図は質量
分析装置の構成を示すブロツク図、第５図は質量
分析装置により得られた試料のスペクトル・パタ
ーンの例を示す図である。 １…イオン源、２…電場、３…磁場、４…コレ
クタースリツト、５…加速電源、６…電場電源、
７…磁場電源、８…プリアンプ、９と１０…
DAC、１１…ADC、１２…デイスプレイ、１３
…データ処理装置、１４…プロフアイル・バツフ
ア・メモリ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 指定された目的ピーク位置を中心に電場電圧
を微小幅スイープして高分解能の定量データを取
得する質量分析装置の定量データ取得法であつ
て、定量データ取得に先立ち予備測定を行つて指
定された目的ピーク位置を求めると共に、該目的
ピークと近接する妨害ピークとの分離点を認識し
て該分離点の範囲内でスイープ幅を決定し、しか
る後目的ピーク位置を中心として決定したスイー
プ幅に従つて電場電圧を微小幅スイープして高分
解能の定量データを取得することを特徴とする質
量分析装置の定量データ取得法。 ２ 予備測定により複数の目的ピーク位置及びス
イープ幅をそれぞれテーブルに登録し、該テーブ
ルを参照して目的ピーク位置を中心とする電場電
圧の微小幅スイープを行うことを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の質量分析装置の定量デー
タ取得法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60156769A JPS6217651A (ja) | 1985-07-16 | 1985-07-16 | 質量分析装置の定量デ−タ取得法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60156769A JPS6217651A (ja) | 1985-07-16 | 1985-07-16 | 質量分析装置の定量デ−タ取得法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6217651A JPS6217651A (ja) | 1987-01-26 |
| JPH0437543B2 true JPH0437543B2 (ja) | 1992-06-19 |
Family
ID=15634909
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60156769A Granted JPS6217651A (ja) | 1985-07-16 | 1985-07-16 | 質量分析装置の定量デ−タ取得法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6217651A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006286210A (ja) * | 2005-03-31 | 2006-10-19 | Shimadzu Corp | 質量分析装置及び質量分析装置用印加電圧設定パラメータデータ |
| CN102132151B (zh) * | 2008-06-23 | 2015-05-06 | Atonarp株式会社 | 用于处理与化学物质有关的信息的系统 |
| KR102596876B1 (ko) * | 2022-08-18 | 2023-11-01 | 주식회사 태경산업 | 비닐하우스용 내부 차광망 개폐장치 |
-
1985
- 1985-07-16 JP JP60156769A patent/JPS6217651A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6217651A (ja) | 1987-01-26 |
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