JPH0438458A - 物品検査装置 - Google Patents

物品検査装置

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JPH0438458A
JPH0438458A JP14490190A JP14490190A JPH0438458A JP H0438458 A JPH0438458 A JP H0438458A JP 14490190 A JP14490190 A JP 14490190A JP 14490190 A JP14490190 A JP 14490190A JP H0438458 A JPH0438458 A JP H0438458A
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JP
Japan
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signal
circuit
primary color
relative chromaticity
article
Prior art date
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JP14490190A
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English (en)
Inventor
Yoshifumi Koyama
善文 小山
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KUMAMOTO TECHNO PORISU ZAIDAN
Original Assignee
KUMAMOTO TECHNO PORISU ZAIDAN
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (1、発明の名称 [産業上の利用分野] 本発明は、物品搬送部によって搬送されている被検査物
品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理す
ることにより被検査物品に異物が混入ないし付着してい
るか否かを検査してなる物品検査装置に関し、特に、被
検査物品の画像信号から取出された三原色信号R,G、
Bに基づいて作成された輝度信号Y、相対色度信号Xも
しくは相対色度和信号XΔの高レベル状態を計数回路で
計数して被検査物品に混入ないしは付着した異物の個数
を計数し、計数結果が所定値を超えたとき異物検出信号
■を発生するに際し、乱反射信号除去回路で輝度信号Y
、相対色度信号Xもしくは相対色度和信号X(iを処理
することにより、輝度信号Y、相対色度信号Xもしくは
相対色度和信号XΔから画像信号中の乱反射信号に伴な
う誤信号を除去してなる物品検査装置に関するものであ
る。
[従来の技術1 従来、この種の物品検査装置としては、物品搬送部によ
って搬送されている被検査物品(たとえば海苔)を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より、被検査物品に異物が混入ないし付着しているか否
かを検査するに際し、特に、(1)被検査物品の画像信
号から取出された三原色信号R,G、Hに基づき輝度信
号Yおよび相対色度信号Xの少なくとも一方を作成し、
計数回路で輝度信号Yおよび相対色度信号Xの少なくと
も一方の高レベル状態を計数して被検査物品に混入ない
しは付着した異物の個数を計数し、計数結果が所定値を
超えたとき異物検出信号■を発生し、もしくは(1))
被検査物品の画像信号から取出された三原色信号R,G
、Bに基づき三原色相対色度信号X*、Xa、X!1を
作成し、かつ三原色信号R,G、Bのうち最大のものに
対応する三原色相対色度信号を除外した他の三原色相対
色度信号を所望の割合で互いに加算して相対色度和信号
XΔを作成し、計数回路で相対色度和信号XΔの高レベ
ル状態を計数して被検査物品に混入ないし付着した異物
の個数を計数し、計数結果が所定値を超えたとき異物検
出信号■を発生してなるものが提案されていた (特願
平1−226640および特願平1−315636参照
)。
[解決すべき問題点] しかしなから、従来の物品検査装置では、単に、(1)
被検査物品の画像信号から取出された三原色信号R,G
、Bに基づき輝度信号Yおよび相対色度信号Xの少なく
とも一方を作成し、計数回路で輝度信号Yおよび相対色
度信号Xの少な(とも一方の高レベル状態を計数して被
検査物品に混入ないしは付着した異物の個数を計数し、
計数結果が所定値を超えたとき異物検出信号■を発生し
、もしくは(1))被検査物品の画像信号から取出され
た三原色信号R,G、Bに基づき三原色相対色度信号x
ll、x1、XBを作成し、かつ三原色信号R,G、B
のうち最大のものに対応する三原色相対色度信号を除外
した他の三原色相対色度信号を所望の割合で互いに加算
して相対色度和信号XAを作成し、計数回路で相対色度
和信号XΔの高レベル状態を計数して被検査物品に混入
ないし付着した異物の個数を計数し、計数結果が所定値
を超えたとき異物検出信号を発生するのみであったので
、(1)被検査物品の表面における光の乱反射に伴なう
誤信号が画像信号に混入してしまったとき被検査物品の
表面に混入ないしは付着した異物(海苔の場合たとえば
小エビ、網クズあるいはワラクズなど)として検出して
しまう欠点があり、ひいては(1))被検査物品の異物
検査精度を向上できない欠点があり、結果的に(iii
l被検査被検査物質を十分には改善できない欠点があっ
た。
そこで、本発明は、これらの欠点を除去する目的で、被
検査物品の画像信号から取出された三原色信号R,G、
Bに基づいて作成された輝度信号Y、相対色度信号Xも
しくは相対色度和信号X。
の高レベル状態を計数回路で計数して被検査物品に混入
ないしは付着した異物の個数を計数し、計数結果が所定
値を超えたとき異物検出信号Vを発生するに際し、乱反
射信号除去回路で輝度信号Y、相対色度信号Xもしくは
相対色度和信号x6を処理することにより、輝度信号Y
、相対色度信号Xもしくは相対色度和信号XΔから画像
信号中の乱反射信号に伴なう誤信号を除去してなる物品
検査装置を提供せんとするものである。
(2)発明の構成 [問題点の解決手段] 本発明により提供される問題点の第1の解決手段は、 [物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より被検査物品に異物が混入ないし付着しているか否か
を検査してなる物品検査装置において、 ta+画像信号から三原色信号R,G、Bを取出すため
の三原色信号取出回路(41)と、(b)三原色信号取
出回路(41)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、三原色信号取出回路(41)から与えられた三原色
信号R,G、Bから輝度信号Yを作成するための輝度信
号作成回路(42)と、 (c)輝度信号作成回路(42)の出力端に対して入力
端が接続されており、輝度信号Yが設定値を超えたか否
かを判定して輝度信号Yが設定値を超えたときにのみ高
レベル状態となる第1の輝度比較信号Y゛を出力するた
めの第1の比較回路(71a)と、 (dl第1の比較回路(71alの出力端に対しダイオ
ード(71b+および限流抵抗(71c)の直列回路を
介して接続されており、第1の輝度比較信号Y′″を所
定時間だけ充電し輝度充電信号Y0として出力するため
の充放電回路(71d、 71elと、(e)充放電回
路(71d、 71elに対して入力端が接続されてお
り、輝度充電信号Y+*が設定値を超えたか否かを判定
して輝度充電信号Y00が設定値を超えたときにのみ高
レベル状態となる第2の輝度比較信号 Y′″″を出力するための第2の比較回路(43)と、 (f)第2の比較回路(43)の出力端に対して入力端
が接続されており、第2の輝度比較信号Y”に含まれた
高レベル状態を計数することによって被検査物品に混入
ないしは付着した異物を計数するための計数回路(48
)と、 (gl計数回路(48)の出力端に対して入力端が接続
されており、計数回路(48)の計数結果が所定値を超
えたとき異物検出信号■を発生するための異物検出信号
発生回路(49)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置」 である。
本発明により提供される問題点の第2の解決手段は、 「物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より被検査物品に異物が混入ないし付着しているか否か
を検査してなる物品検査装置において、 fat画像信号から三原色信号R,G、Bを取出すため
の三原色信号取出回路(41)と、(b)三原色信号取
出回路(41)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、三原色信号取出回路(41)から与えられた三原色
信号R,G、Bを互いに加算して三原色和信号Xを作成
するための三原色信号加算回路(44)と、 (cl三原色信号取出回路(41)の出力端と三原色信
号加算回路(44)の出力端とに対して入力端が接続さ
れており、三原色信号R、G、Bを三原色和信号Xによ
って除することによって三原色相対色度信号X、lXo
、Xsを算出し、最大のものを相対色度信号Xとして出
力するための割算回路(45)と、 (d1割算回路(45)の出力端に対して入力端が接続
されており、相対色度信号Xが設定値を超えたか否かを
判定して相対色度 信号Xが設定値を超えたときにのみ高レベル状態となる
第1の相対色度比較信 号X゛を出力するための第1の比較回路(72al  
と、 [e)第1の比較回路(72a)の出力端に対して入力
端がダイオード(72b)および限流抵抗(72c)の
直列回路を介して接続されており、第1の相対色度和比
較信号X°を所定時間だけ充電し相対色度充電信号x゛
として出力するための充放電回路(72d72e)と、 ff+充放電回路f72d、 72elに対して入力端
が接続されており、相対色度充電信号x−が設定値を超
えたか否かを判定して相対色度充電信号X+*が設定値
を超えたときにのみ高レベル状態となる第2の相対色度
比較信号X″1を出力するための第2の比較回路(46
)と、 (gl第2の比較回路(46)の出力端に対して入力端
が接続されており、第2の相対色度比較信号x゛に含ま
れた高レベル状態を計数することによって被検査物品に
混入ないしは付着した異物を計数するための計数回路(
48)と、 (hl計数回路(48)の出力端に対して入力端が接続
されており、計数回路(48)の計数結果が所定値を超
えたとき異物検出信号■を発生するための異物検出信号
発生回路(49)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置」 である。
本発明により提供される問題点の第3の解決手段は、 「物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より被検査物品に異物が混入ないし付着しているか否か
を検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R,G、Bを取出すため
の三原色信号取出回路(41)と、(b)三原色信号取
出回路(41)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、三原色信号取出回路(41)から与えられた三原色
信号R,G、Bから輝度信号Yを作成するための輝度信
号作成回路(42)と、 (C)輝度信号作成回路(42)の出力端に対して入力
端が接続されており、輝度信号Yが設定値を超えたか否
かを判定して輝度信号Yが設定値を超えたときにのみ高
レベル状態となる第1の輝度比較信号Y゛を出力するた
めの第1の比較回路(71a)と、 (d+第1の比較回路(71alの出力端に対しダイオ
ード(71b+および限流抵抗(71C+の直列回路を
介して接続されており、第1の輝度比較信号Y゛を所定
時間だけ充電し輝度充電信号Y++として出力するため
の第1の充放電回路 f71d、71e)と、(e]第
1の充放電回路(71d、 71e)に対して入力端が
接続されており、輝度充電信号 Y−が設定値を超えたか否かを判定して輝度充電信号Y
+*が設定値を超えたときにのみ高レベル状態となる第
2の輝度比較信号Y”を出力するための第2の比較回路
(43)と、 +f+三原色信号取出回路(41)の出力端に対して入
力端が接続されており、三原色信号取出回路(41)か
ら与えられた三原色信号R,G、Bを互いに加算して三
原色和信号Xを作成するための三原色信号加算回路(4
4)と、 (g)三原色信号取出回路(41)の出力端と三原色信
号加算回路(44)の出力端とに対して入力端が接続さ
れており、三原色信号R、G、Bを三原色和信号Xによ
って除することによって三原色相対色度X1.l、XG
X、を算出し、最大のものを相対色度信号Xとして出力
するための割算回路(45)(h1割算回路(45)の
出力端に対して入力端が接続されており、相対色度信号
Xが設定値を超えたか否かを判定して相対色度 信号Xが設定値を超えたときにのみ高レベル状態となる
第1の相対色度比較信 号X゛を出力するための第3の比較回路(72a) と
、 (i)第3の比較回路(72alの出力端に対して入力
端がダイオード(72b)および限流抵抗(72C)の
直列回路を介して接続されており、第1の相対色度和比
較信号X゛を所定時間だけ充電し相対色度充電信号x−
として出力するための第2の充放電回 路(72d、 72el  と、 (l)第2の充放電回路(72d、 ?2el に対し
て入力端が接続されており、相対色度充電信号X+*が
設定値を超えたか否かを判定して相対色度充電信号X゛
°が設定値を超えたときにのみ高レベル状態となる第2
の相対色度和比較信号ヌー゛を出力するための第4の比
較回路(46)と、 +に+第2の比較回路(43)の出力端と第4の辷ヒ較
回路(46)の出力端とに対して入力端が接続されてお
り、第2の輝度比較信号 Y++と第2の相対色度和比較信号X゛とを組み合わせ
て組合信号2を作成し出力するための信号組合回路(4
7)と、 m信号組合回路(47)の出力端に対して入力端が接続
されており、組合信号Zに含まれた高レベル状態を計数
することによって被検査物品に混入ないしは付着した異
物を計数するための計数回路(48)と、(ml計数回
路(48)の出力端に対して入力端力≦接続されており
、計数回路(48)の計数結果が所定値を超えたとき異
物検出信号■を発生するための異物検出信号発生回路(
49)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置」 である。
本発明により提供される問題点の第4の解決手段は、 「物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より被検査物品に異物が混入ないし付着しているか否か
を検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R,G、Bを取り出して
出力するための三原色信号取出回路(141)と、 fb)三原色信号取出回路(141)の出力端に対して
入力端が接続されており、三原色信号取出回路+141
)から与えられた三原色信号R,G、Bを互いに加算し
て三原色和信号Xを作成するための三原色信号加算回路
(142) と、 (cl三原色信号取出回路(141)の出力端および三
原色信号加算回路(142)の出力端に対して入力端が
接続されており、三原色信号取出回路(141)から与
えられた三原色信号R,G、Bから選ばれた2つを三原
色信号加算回路(142)から与えられた三原色和信号
Xで除することによって三原色相対色度信号X 、l、
 X 1、 X、から選ばれた2つの三原色相対色度信
号を算出して出力するための除算回路(+44A1.1
44B、144C,j  と、 td)除算回路f144A1、 144B1、 144
C,1の出力端に対して入力端が接続されており、除算
回路f144A1、 144B1、 144c、lから
与えられた三原色相対色度信号X p、 X c、 X
おから選ばれた2つの三原色相対色度信号を所望の割合
で互いに加算して相対色度和信号XAとして出力するた
めの相対色度和信号算出回路(1461と、 (e)相対色度和信号算出回路+1461の出力端に対
して入力端が接続されており、相対色度和信号xムが設
定値を超えたか否かを判定して相対色度和信号XAが設
定値を超えたときにのみ高レベル状態となる第1の相対
色度和比較信号XΔ+を出力するための第1の比較回路
(73al と、(fl第1の比較回路(73alの出
力端に対して入力端がダイオード(73b) および限
流抵抗(73clの直列回路を介して接続されており、
第1の相対色度和比較信号XΔ+を所定時間だけ充電し
相対色度和充電信号xr0として出力するための充放電
回路(73d、 73el  と、 (gl充放電回路[73d、 73el に対して入力
端が接続されており、相対色度和充電信号 X A* *が設定値を超えたか否かを判定して相対色
度和充電信号xi°が設定値を超えたときにのみ高レベ
ル状態となる 第2の相対色度和比較信号X A4 f″を出力するた
めの第2の比較回路+1471 と、(h)第2の比較
回路f1471の出力端に対して入力端が接続されてお
り、第2の相対色度和比較信号XΔ+0に含まれた高レ
ベル状態を計数することによって被検査物品に混入ない
し付着した異物の個数を計数するための計数回路(14
81と、 (i)計数回路f1481の出力端に対して入力端が接
続されており、計数回路(148)の計数結果が所定値
を超えたとき異物検出信号■を発生するための異物検出
信号発生回路(1491と を備えてなることを特徴とする物品検査装置」 である。
本発明により提供される問題点の第5の解決手段は、 「物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より被検査物品に異物が混入ないし付着しているか否か
を検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R,G、Bを取り出して
出力するための三原色信号取出回路f141) と、 (b)三原色信号取出回路(141)の出力端に対して
入力端が接続されており、三原色信号取出回路+141
)から与えられた三原色信号R,G、Bを互いに加算し
て三原色和信号Xを作成するための三原色信号加算回路
(142) と、 (c]三原色信号取出回路(141)の出力端および三
原色信号加算回路f142)の出力端に対して入力端が
接続されており、三原色信号取出回路(141)から与
えられた三原色信号R,G、Bから選ばれた1つの三原
色信号を三原色信号加算回路(142)から与えられた
三原色和信号Xで除することによって三原色相対色度信
号X −、X aX、から選ばれた1つの三原色相対色 度信号を算出して相対色度信号Xとして出力するための
除算回路(144A1、 144B。
144c、lと、 +d+除算回路f144A1、 144B1、 144
C1)の出力端に対して入力端が接続されており、相対
色度信号Xが設定値を超えたか否かを判定して相対色度
信号Xが設定値を超えたときにのみ高レベル状態となる
第1の相対色度比較信号X゛を出力するための第1の比
較回路(73a)と、 (c)第1の比較回路(Oa)の出力端に対して入力端
がダイオード(73b) および限流抵抗(73clの
直列回路を介して接続されており、第1の相対色度和比
較信号X゛を所定時間だけ充電し相対色度充電信号x゛
として出力するための充放電回路(73d73e)と、 (fl充放電回路 (73d、 73e)に対して入力
端が接続されており、充放電回路(73d、73e)か
ら与えられた相対色度充電信号x゛°が設定値を超えた
か否かを判定して相対色度充電信号X゛°が設定値を超
えたときにのみ高レベル状態となる第2の相対色度比較
信号x゛を出力するための比較回路(147)  と、 (g)比較回路0471の出力端に対して入力端が接続
されており、第2の相対色度比較信号X″3に含まれた
高レベル状態を計数することによって被検査物品に混入
ないし付着した異物の個数を計数するための計数回路f
1481 と、 (h)計数回路は48)の出力端に対して入力端が接続
されており、計数回路1)48)の計数結果が所定値を
超えたとき異物検出信号■を発生するための異物検出信
号発生回路(149)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置」 である。
本発明により提供される問題点の第6の解決手段は、 [物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より被検査物品に異物が混入ないし付着しているか否か
を検査してなる物品検査装置において、 (at画像信号から三原色信号R,G、Bを取り出して
出力するための三原色信号取出回路(141)と、 fb)三原色信号取出回路(141)の出力端に対して
入力端が接続されており、三原色信号取出回路(141
)から与えられた三原色信号R,G、Bを互いに加算し
て三原色和信号Xを作成するための三原色信号加算回路
f142) と、 (c)三原色信号取出回路(141)の出力端および三
原色信号加算回路+142)の出力端に対して入力端が
接続されており、三原色信号取出回路(141)から与
えられた三原色信号R,G、Bを三原色信号加算回路(
142)から与えられた三原色和信号Xで除することに
よって三原色相対色度信号X R+ X o、 X B
を算出して出力するための除算回路(144A1、14
4B1、144C1)と、(d)除算回路f144A1
、144B1、144G、) (+)出力端に対して入
力端が接続されており、除算回路(144A1、144
B1、144G:+1から与えられた三原色相対色度信
号X *、 X 1、 X 、に対し所望の係数α、β
、γを乗じて係数付三原色相対色度信号a X R、β
xo、γX。
を算出して出力するための乗算回路 (144A2.144B2.144C2)  と、(e
)三原色信号取出回路(141)の出力端に対して入力
端が接続されており、三原色信号取出回路f141)か
ら与えられた三原色信号R,G、Bを互いに比較するこ
とにより最大のものに対応してOとなる選択信号g*、
ga、gllを算出して出力するための選択信号発生回
路(1431と、 ff1乗算回路+144A!、144B1、144C2
) (7)出力端および選択信号発生回路(143)の
出力端に対して入力端が接続されており、選択 信号発生回路(1431から与えられた選択信号g*、
ga、gsと乗算回路(144Aa。
144Bf(i、 144C,)から与えられた係数付
三原色相対色度信号αXR,βXa、γx8との積を互
いに加算して相対色度和信号XIIを出力するための相
対色度和信号算出回路+1461  と、 (g)相対色度和信号算出回路+146+の出力端に対
して入力端が接続されており、相対色度和信号XΔが設
定値を超えたか否かを判定して相対色度和信号XΔが設
定値を超えたときにのみ高レベル状態となる第1の相対
色度和比較信号XΔ°を出力するための第1の比較回路
(73a)と、(h)第1の比較回路(73alの出力
端に対して入力端がダイオード(73b)および限流抵
抗(73clの直列回路を介して接続されており、第1
の相対色度和比較信号X6”を所定時間だけ充電し相対
色度和比較信号XA+“として出力するための充放電回
路(73d、 73el  と、 (1)充放電回路(73d、 73el に対して入力
端が接続されており、相対色度和充電信号 XΔ+0が設定値を超えたか否かを判定して相対色度和
充電信号)(Aosが設定値を超えたときにのみ高レベ
ル状態となる 第2の相対色度和比較信号X、″゛を出力するための第
2の比較回路F1471 と、(l)第2の比較回路(
1471の出力端に対して入力端が接続されており、第
2の相対色度和比較信号X A+ f″に含まれた高レ
ベル状態を計数することによって被検査物品に混入ない
し付着した異物の個数を計数するための計数回路(14
81と、 (k)計数回路+1481の出力端に対して入力端が接
続されており、計数回路f148)の計数結果が所定値
を超えたとき異物検出信号■を発生するための異物検出
信号発生回路T149)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置」 である。
[作用] 本発明にかかる物品検査装置は、[問題点の解決手段]
の欄に、第1ないし第6の解決手段として挙げたごとき
構成を有しているので、(i1画像信号中の乱反射信号
に伴なう誤信号を除去する作用 をなし、ひいては (1))被検査物品に混入ないしは付着した異物の検査
精度を向上する作用 をなす。
本発明にかかる物品検査装置は、[問題点の解決手段]
の欄に、特に、第4ないし第6の解決手段として挙げた
ごとき構成を有しているので、上記(il (ii)の
作用に加え、 (iiil被検査物品に混入ないしは付着した異物を被
検査物品との間の色彩の差異を利用して検出する作用 をなし、ひいては (ivl被検査物品に混入ないし付着したの異物の検査
精度を一層向上せしめる作用 をなす。
[実施例] 次に、本発明にかかる物品検査装置について、その好ま
しい実施例を挙げ、添付図面を参照しつつ、具体的に説
明する。
しかしなから、以下に説明する実施例は、本発明の理解
を容易化ないし促進化するために記載されるものであっ
て、本発明を限定するために記載されるものではない。
換言すれば、以下に説明する実施例において開示される
各要素は、本発明の精神ならびに技術的範囲に属する限
り、全ての設計変更ならびに均等物置換を含むものであ
る。
ユ匡住区皿五五亙工 第1図は、本発明にかかる物品検査装置の第1の実施例
を示すためのブロック回路図である。
第2図は、第1図実施例の一部を拡大して示すための部
分破断斜視図である。
第3図は、第1図実施例の一部を拡大して示すための部
分ブロック回路図である。
第4図は、第1図実施例の動作を示すためのフローチャ
ート図である。
第5図(a)〜(clは、ともに、第1図実施例の動作
を説明するための説明図であって、被検査物品Mの表面
における光の乱反射に伴なう反射信号(°°乱反射信号
−というJ P、が高彩度の異物NHおよび低彩度の異
物NLにおける光の正反射RfHlRtLに伴なう反射
信号(゛°異物反射信号°。
というl  P1、PLとともに画像信号Pに含まれて
しまう状況を説明している。
第6図(al〜(c)は、第1図実施例の動作を説明す
るための説明図であって、乱反射信号除去回路並の除去
回路7Iと比較回路43との協同作用によって画像信号
P中に含まれた乱反射信号P。に伴なうvA輝度比較信
号Y、″を輝度比較信号Y゛から除去して輝度比較信号
Y”を発生する動作を説明している。
第7図(a)〜(c)は、第1図実施例の動作を説明す
るための説明図であって、乱反射信号除去回路旦の除去
回路72と比較回路46との協同作用によって画像信号
P中に含まれた乱反射信号P、に伴なう誤相対色度和比
較信号X 、 4を相対色度和比較信号7゛から除去し
て相対色度和比較信号x゛を発生する動作を説明してい
る。
第8図は、本発明にかかる物品検査装置の第2の実施例
を示すためのブロック回路図である。
第9図は、第8図実施例の動作を示すためのフローチャ
ート図である。
第1O図は、本発明にかかる物品検査装置の第3の実施
例を示すためのブロック回路図である。
第1)図は、第10図実施例の動作を示すためのフロー
チャート図である。
第12図は、本発明にかかる物品検査装置の第4の実施
例を示すためのブロック回路図である。
第13図(a)〜(clは、第12図実施例の動作を説
明するための説明図であって、乱反射信号除去回路互の
除去回路73と比較回路147との協同作用によって画
像信号P中に含まれた乱反射信号PNに伴なう誤相対色
度和比較信号XaN”を相対色度和比較信号XΔ+から
除去して相対色度和比較信号xr゛を発生する動作を説
明している。
第14図は、第12図実施例の動作を示すためのフロー
チャート図である。
第15図は、本発明にかかる物品検査装置の第5の実施
例を示すためのブロック回路図である。
第16図は、第15図実施例の動作を示すためのフロー
チャート図である。
第17図は、本発明にかかる物品検査装置の第6の実施
例を示すためのブロック回路図である。
第18図は、第17図実施例の動作を示すためのフロー
チャート図である。
第1の  例の まず、第1図ないし第3図を参照しつつ、本発明にかか
る物品検査装置の第1の実施例について、その構成を詳
細に説明する。
衾体携威 厘は、本発明にかかる物品検査装置であって、被検査物
品(たとえば海苔など;単に物品ともいう)Mを矢印A
方向に向けて1つずつ搬送するための物品搬送部20と
、物品搬送部20の近傍に配設されており物品搬送部2
0によって搬送されている被検査物品Mを撮像して画像
信号Pを出力するための物品撮像部30とを備えている
本発明にかかる物品検査装置10は、また、物品撮像部
30に対して接続されており物品撮像部30から出力さ
れた被検査物品Mの画像信号Pを適宜に処理することに
よって被検査物品Mに異物Nが混入ないしは付着してい
るか否かを検出するための異物検出部列を備えている。
異物検出部列の検出結果は、たとえば、物品搬送部20
のうち物品撮像部30の下流側に配設された不良物品除
去部50に与えて不良の被検査物品(すなわち異物Nが
比較的に多く混入ないし付着した被検査物界;゛不良物
品°°ともいう;以下同様)M゛を個別に除去するため
に利用してもよく、また不良率算出部60に与えて被検
査物品群が含む不良物品M+の割合(すなわち被検査物
品群の不良率)を算出して表示あるいは記録するために
利用してもよい。ここでは、説明の都合上、異物検出部
40の検出結果は、不良物品除去部凹および不良率算出
部亜の双方に与えられているものとするが、本発明をこ
れに限定する意図はない。
本発明にかかる物品検査装置■は、更に、異物検出部4
0に組み込まれており画像信号Pに含まれた乱反射信号
PNに起因する語信号(すなわち誤輝度比較信号YN°
および誤相対色度和比較信号XN″)を除去するための
乱反射信号除去回路神を備えている。ちなみに、乱反射
信号P、は、被検査物品Mの表面における不蜆則な光の
乱反射に起因し、乱反射光が後述の撮像手段32に受光
されることにより、画像信号P中に含まれることとなる
。乱反射信号P。は、したがって、−Mに周期性がなく
、持続時間が短い。
物品搬送部20 物品搬送部20は、ヘッドプーリ2)Aとテールプーリ
2)Bとの周囲に対して配設されており被検査物品Mを
矢印六方向に向けて1つずつ搬送するためのベルトコン
ベア2)と、ベルトコンベア2)の下流側に不良物品除
去部四を介して配置されかつヘッドプーリ22Aとテー
ルプーリ22Bとの周囲に対して配設されており不良物
品除去部50によって除去されなかった被検査物品Mを
後続の処理装置(図示せず)に向けて1つずつ搬送する
ための他のベルトコンベア22とを備えている。
物品撮像部30 物品撮像部凹は、ベルトコンベア2)の近傍に配置され
ており搬送されてきたとき被検査物品Mを検知して物品
検知信号fを出力するためのセッサ31と、ベルトコン
ベア2)の上方に配置されかっセンサ31に接続されて
おり物品検知信号fに応じてベルトコンベア2Iによっ
て搬送されている被検査物品Mを撮像するためのビデオ
カメラあるいはラインセンサカメラなどの撮像手段32
と、蛍光灯。
ハロゲンランプあるいは発光ダイオードなどによって形
成されておりベルトコンベア2)によって搬送されてい
る被検査物品Mを照射する光(照射光という)Lを発生
するための光源33とを備えている。ここで、撮像手段
32が物品搬送部20による被検査物品Mの搬送速度に
相応する速度で動作するシャッタを包有しておれば、被
検査物品Mに混入ないし付着した異物Nが微小となって
も良好に検知可能とできるので、好ましい。このとき、
光源33として蛍光灯を採用する場合、インバータ(図
示せず)を介して電極間に高周波の電圧を印加すれば、
撮像手段32のシャッタ開放時期が異なっても照射光り
の光量を一定に維持できるので、好ましい。
物品撮像部30は、゛また、撮像手段32を包囲するよ
う配設されており被検査物品Mの表面あるいは異物Nの
表面による異常反射にこては正反射)を抑制するよう光
源33による照射光りを散乱せしめ散乱光βとしてベル
トコンベア2)によって搬送されている被検査物品Mに
与えるための散乱部材34と、光源33および散乱部材
34を包囲しており外光を遮断しかつ照射光りが周囲環
境に漏出することを抑制するための遮光部材35とを備
えている。
散乱部材34は、半透明の化学合成樹脂(たとえば半透
明アクリル樹脂)などの半透明材料によって形成されて
いる。
遮光部材35は、本発明にとって必須要素ではないので
、所望により除去してもよい。
異物検出部40 異物検出部並は、撮像手段32の出力端に対して接続さ
れており撮像手段32によって撮像されて出力された被
検査物品Mの画像信号Pを適宜に処理して三原色信号Q
(すなわち赤色信号R1緑色信号Gおよび青紫色信号B
)を取り出すための三原色信号取出回路41と、三原色
信号取出回路41に対して接続されており三原色信号取
出回路41から与えられた三原色信号Q(すなわち赤色
信号R緑色信号Gおよび青紫色信号B)から輝度信号Y
を作成するための輝度信号作成回路42と、輝度信号作
成回路42の出力端に対し乱反射信号除去回路7゜の除
去回路71を介して反転入力端が接続されかつ非反転入
力端が設定回路43Aに対し接続されており除去回路7
1で処理された輝度信号Y(すなわち後述の輝度充電信
号Y″9)が設定回路43Aの設定値Y。。を超えたか
否かを判定することによって輝度充電信号Y+*がその
設定値Y。9を超えたときにのみ高レベル状態となる輝
度比較信号Y”を出力するための比較回路43とを備え
ている。比較回路43が輝度充電信号Y”を設定値Y0
゛と比較している根拠は、画像信号P中の乱反射信号P
Nに起因して輝度充電信号Y”に含まれた誤輝度比較信
号YN*に対応する誤輝度充電信号YNりを除去し、被
検査物品Mの表面における光の乱反射を異物Nと誤認す
ることを回避するにある。
異物検出部40は、また、三原色信号取出回路41の出
力端に対して接続されており三原色信号Q(すなわち赤
色信号R1緑色信号Gおよび青紫色信号B)を互いに加
算して三原色和信号X(R+G+B)を作り出すための
三原色信号加算回路44と、三原色信号加算回路44の
出力端および原色信号取出回路41の出力端に対して接
続されでおり三原色信号Q(すなわち赤色信号R5緑色
信号Gおよび青紫色信号B)の三原色和信号Xに対する
相対色度信号(すなわち三原色相対色度信号XP、X1
、X1、詳細には赤色相対色度信号X、=R/X、緑色
相対色度信号X。= G/Xおよび青紫色相対色度信号
X、 =B/Xlを算出し最大のものを相対色度信号X
として出力するための割算回路45と、割算回路45の
出力端に対し乱反射信号除去回路四の除去回路72を介
して反転入力端が接続されかつ非反転入力端が設定回路
46Aに対して接続されており除去回路72で処理され
た相対色度信号X(すなわち赤色相対色度信号XR1緑
色相対色度信号xoおよび青紫色相対色度信号x8のう
ち最大のもの;後述の相対色度充電信号X ”)が設定
回路46Aの設定値X。。を超えたか否かを判定するこ
とによって相対色度充電信号x9°がその設定値x0゜
を超えたときにのみ高レベル状態となる相対色度和比較
信号X″1を出力するための比較回路46とを備えてい
る。比較回路46が相対色度充電信号Xゝ°を設定値X
 o”″と比較している根拠は、画像信号P中の乱反射
信号Psに起因して相対色度充電信号X′″0に含まれ
た誤相対色度和比較信号XN”に対応する誤相対色度充
電信号X N* *を除去し、被検査物品Mの表面にお
ける光の乱反射を異物Nと誤認することを回避するにあ
る。
異物検出部並は、更に、比較回路43.46の出力端に
対しそれぞれ2つの入力端が接続されており比較回路4
3から出力された輝度比較信号Y++と比較回路46か
ら出力された相対色度和比較信号X゛とを適宜に組み合
わせたのち組合信号2として出力するための信号組合回
路47を備えている。信号組合回路47は、2つの入力
端がそれぞれ比較回路43.46の出力端に接続されて
おり輝度比較信号Y++と相対色度和比較信号x++と
の論理積信号Y″“x3゛を作成するためのアンド回路
47Aと、2つの入力端がそれぞれ比較回路43.46
の出力端に接続されており輝度比較信号Y++と相対色
度和比較信号x0゜との論理和信号y”+x〜を作成す
るためのオア回路47Bと、第1ないし第4の切替接点
がそれぞれアンド回路47Aの出力端とオア回路47B
の出力端と比較回路43の出力端と比較回路46の出力
端とに接続されかつ共通接点が出力端とされており論理
積信号Y ”X ++と論理和信号Y〜+X“と輝度比
較信号Y++と相対色度和比較信号X++とのいずれか
を組合信号Zとして出力するための切替スイッチ47C
とを備えている。
異物検出部並は、加えて、信号組合回路47の出力端お
よび遅延回路31Aに対して接続されており信号組合回
路47から与えられた組合信号2に含まれたパルス(す
なわち高レベル状態)を計数して被検査物品Mに含まれ
ている異物Nを計数し計数結果を計数信号Wとして出力
したのち遅延物品検知信号f1.lに応じて計数内容が
クリアされる計数回路48と、計数回路48の出力端に
接続されており計数回路48から出力された計数信号W
の内容(すなわち計数結果)が所定値W0を超えたか否
かを判定し所定値W。を超えたとき異物検出信号■を発
生するための異物検出信号発生回路49とを備えている
。異物検出信号発生回路49によって発生された異物検
出信号■は、異物検出部4oの検出結果として出力され
ており、ここでは、不良物品(すなわち異物Nの混入数
ないし付着数が大きい被検査物品)M゛を個別に除去す
るための不良物品除去部四に与えられ、かつ被検査物品
群の不良率を算出して表示しあるいは記録するための不
良率算出部観に与えられている。
不良物品除去部50 不良物品除去部観は、物品搬送部並のベルトコンベア2
)とベルトコンベア22との間に配設さjた切替フィン
51と、異物検出部並の異物検出信号発生回路49に対
して接続されており異物検出信号■に応じて不良物品M
゛を除去するよう切替フィン51を矢印Bで示すごとく
駆動するための駆動部材(たとえばソレノイド)52と
、切替フィン51によって除去された不良物品M゛を収
容するための収納箱53と、切替フィン51の下流側に
配設されており不良物品M゛として除去されなかった被
検査物品Mを切替フィン51からベルトコンベア22に
向けて移送せしめるための移送プーリ54とを備えてい
る。
不良率算出部60 不良率算出部並は、異物検出信号発生回路49と遅延回
路31Aとに接続されており異物検出信号■の発生回数
および遅延物品検知信号f1)の発生回数をそれぞれ計
数したのち異物検出信号■の発生回数の計数結果を遅延
物品検知信号f、の発生回数の計数結果によって除して
被検査物品群の不良率を算出するための算出回路61と
、算出回路61に接続されておりその算出結果(すなわ
ち被検査物品群の不良率)を表示するための表示装置6
2と、算出回路61に接続されておりその算出結果(す
なわち被検査物品群の不良率)を記録するための記録装
置63とを備えている。ちなみに、不良率算出部並は、
所望により、表示装置62および記録装置63のいずれ
か一方を除去してもよい。また、不良率算出部並の算出
した不良率は、被検査物品群の等紐付などに利用される
乱反射信号除去回路70 乱反射信号除去回路厘は、輝度信号作成回路42の出力
端と比較回路43の反転入力端との間に挿入されており
比較回路43との協同作用によって輝度信号Yから乱反
射信号PNに起因した誤輝度信号Y8を除去するための
除去回路71と、割算回路45の出力端と比較回路46
の反転入力端との間に挿入されており比較回路46との
協同作用によって相対色度信号Xから乱反射信号PNに
起因した誤相対色度信号xNを除去するための除去回路
72とを備えている。
除去回路71は、輝度信号作成回路42の出力端に対し
て反転入力端が接続されており輝度信号Yが設定回路(
図示せず)の設定値Y0を超えたときにのみ高レベル状
態となる輝度比較信号Y゛を出力するための比較回路7
1aと、比較回路71aに対しダイオード71bおよび
限流抵抗71cの直列回路を介して接続されており所定
時間(すなわち異物Nと乱反射信号PNに起因した誤信
号とを区別するに十分の時間)Toだけ輝度比較信号Y
°を充電し輝度充電信号Y++として比較回路43に向
けて出力するためのコンデンサ71dと、コンデンサ7
1dに対して並列に接続されており所定時間T0ごとに
コンデンサ71dを放電するためのスイッチ71eとを
包有している。ここで、比較回路71aが輝度信号Yを
設定値Y。と比較している根拠は、輝度信号Yに含まれ
た低レベルのノイズ(すなわち被検査物品Mの表面にお
ける異常反射Rどに起因したノイズ;第5図fa)〜(
c)参照)を除去し、被検査物品Mの表面の凹凸を異物
Nと誤認することを回避することにある。
除去回路72は、割算回路45の出力端に対して反転入
力端が接続されており相対色度信号Xが設定回路(図示
せず)の設定値X。を超えたときにのd高レベル状態と
なる相対色度和比較信号X°を出力するための比較回路
72aと、比較回路72aに対しダイオード?2bおよ
び限流抵抗72cの直列回路を介して接続されており所
定時間T0だけ相対色度和比較信号X゛を充電し相対色
度充電信号X°°として比較回路46に向けて出力する
ためのコンデンサ72dと、コンデンサ72dに対して
並列に接続されており所定時間T0ごとにコンデンサ7
2dを放電するためのスイッチ72eとを包有している
ここで、比較回路72aが相対色度信号Xを設定値X0
と比較している根拠は、相対色度信号Xに含まれた低レ
ベルのノイズ(すなわち被検査物品Mの表面における異
常反射Rげに起因したノイズ;第5図(a)〜(c)参
照)を除去し、被検査物品Mの表面の色度の偏倚を異物
Nと誤認することを回避するにある。
第1の 絶倒の作用 次いで、第1図ないし第7図fa)〜(c) を参照し
つつ、本発明にかかる物品検査装置の第1の実施例につ
いて、その作用を詳細に説明する。
ン 、査物g″Mの撮像 物品搬送部20のベルトコンベア2)によって?(il
査物品Mが矢印へ方向に向けて搬送されてくるごとに、
物品撮像部30のセンサ31が被検査物品Mを検知して
物品検知信号fを発生する(ステップ1)。
物品撮像部30の撮像手段32は、物品検知信号fが与
えられると、被検査物品Mの撮像を開始し、その画像信
号Pを送出し始める(ステップ2)。
物品撮像部30では、光源33によって発生された照射
光りが散乱部材34によって散乱されたのち散乱光εと
してベルトコンベア2)上の被検査物品Mに与えられて
いるので、ベルトコンベア2)上ノ被検査物品Mの表面
および被検査物品Mに混入ないしは付着した異物N (
詳細には高彩度の異物NMおよび低彩度の異物NL)の
表面で反射されるとき、高彩度の異物N、4および低彩
度の異物NLの表面における正常反射(ここでは正反射
)RfHRfLの光量に比べ、被検査物品Mの表面にお
ける異常反射(ここでは正反射)R2°の光量を十分に
減少せしめることができる(第5区(a) 参照)。
このため、画像信号Pは、異物N (すなわち高彩度の
異物N、および低彩度の異物NL)のみに対応して顕著
に高レベル状態となる異物反射信号P1、PLを含むこ
ととなる。
しかしなから、被検査物品Mの表面で光の乱反射が発生
し擬像手段32に入射すると、画像信号Pは、これに伴
なって、異物反射信号PH1PLに匹敵するレベルの乱
反射信号PNも含むこととなる(第5図(b+ s照)
。被検査物品Mの表面における光の乱反射は、一般に、
不規則に発生し周期性がなく持続時間が短いので、(i
)所定時間(たとえば1画面撮像時間に相当する時間)
だけ経過すると、乱反射信号PMが画像信号Pから消滅
しく第5図(cl参照)、また(1))乱反射信号P。
の持続時間t1が異物反射信号p L、 p、の持続時
間tz、jxに比べて短くなる(第5図(b+ 参照)
五度隻血豆ユ9見塵 被検査物品Mの画像信号Pは、異物検出部並の三原色信
号取出回路41に与えられる。三原色信号取出回路41
では、画像信号Pから三原色信号Q(すなわち赤色信号
R1緑色信号Gおよび青紫色信号B)を取出し、輝度信
号作成回路42.三原色信号加算回路44および割算回
路45に向けて出力する(ステップ2)。ちなみに、画
像信号Pに乱反射信号PNが含まれているので、三原色
信号Qには、乱反射信号PHに起因した誤信号が含まれ
ている。
輝   1Y・      −e′Y“ Y〜輝度信号
作成回路42では、三原色信号Q(すなわち赤色信号R
1緑色信号Gおよび青紫色信号B)が、所望の係数α、
β、γ(ただしa+β+γ=1:0≦α、β、γ≦1)
を用いて次式のY=aR+βG+γB ごと(互いに加算されることにより、輝度信号Yとされ
る(ステップ3)。ここで、係数α。
β、γは、たとえば、α=γ=025および305とす
ればよい。三原色信号Qに乱反射信号P、に起因した誤
信号が含まれているので、輝度信号Yにも、乱反射信号
PNに起因した誤信号(°゛誤輝度信号Y、++という
)が含まれている。
輝度信号Yは、適宜に遅延せしめられたのち、乱反射信
号除去回路70の除去回路71に含まれた比較回路71
aに向けて出力される(ステップ4)。
比較回路71aは、輝度信号Yを設定回路(図示せず)
によって設定された設定値Y0と比較し、その設定値Y
0より輝度信号Yが大きいときにのみ高レベル状態とな
る輝度比較信号Y゛を発生して出力する(ステップ5)
。ちなみに、輝度信号Yに乱反射信号P、に起因した誤
信号が含まれているので、輝度比較信号Y゛にも、乱反
射信号Psに起因した誤信号(“誤輝度比較信号YN″
−という)が含まれている(第6図(a) 参照)。
輝度比較信号Y゛は、ダイオード71bおよび限流抵抗
71cの直列回路を介してコンデンサ71dに与えられ
充電される(ステップ6)。コンデンサ71dには、輝
度比較信号Y°に含まれた誤輝度比較信号Y、″が異物
輝度比較信号Y、”、Y、’と同の要領で充電される。
しかしなから、該輝度比較信号YN゛は、その持続時間
t1が異物輝度比較信号YL”、Y、”の持続時間t2
.t!に比べて小さく、またその大きさ (すなわち電
圧の大きさ)が異物輝度比較信号YL゛程度である。し
たがって、コンデンサ71dに充電されたとき、その充
電結果(すなわち誤輝度充電信号Y、″°)は、異物輝
度比較信号YL”、Y、”の充電結果(すなわち異物輝
度充電信号YL”、Y、0)と異なり、設定回路43A
の設定値Yo”よりも小さくなる(第6図(b) 参照
)。
比較回路43は、コンデンサ71dの充電結果(すなわ
ち輝度充電信号Y゛°)を設定回路43Aによって設定
された設定値Y。゛と比較し、その設定値Yo゛より輝
度充電信号Y+*が大きいときにのみ高レベル状態とな
る輝度比較信号Y”を発生して出力する(ステップ7)
。これに伴なって、乱反射信号Psに起因した誤輝度充
電信号Y8゛°を輝度比較信号Y〜から排除できる(第
6図(c) 参照)。ちなみに、輝度比較信号Y”に含
まれた異物輝度比較信号Y L”、 Y s″4の持続
時間t2゜t3”は、異物輝度充電信号Y L”、 Y
 、+*が設定値Y0゛以上にある時間j2”、 tx
oに一致している(第6図(b) (cl季叩)。
三原色信号加算回路44では、三原色信号Q(すなわち
赤色信号R5緑色信号Gおよび青紫色信号B)が互いに
加算されたのち三原色和信号Xとして出力される(ステ
ップ8)。ちなみに、三原色信号Qに乱反射信号P8に
起因した誤信号が含まれているので、三原色和信号Xに
も、乱反射信号P、に起因した誤信号が含まれている。
三原色信号加算回路44によって出力された三原色和信
号Xは、割算回路45に与えられる。割算回路45では
、三原色和信号Xによって三原色信号Q(すなわち赤色
信号R7緑色信号Gおよび青紫色信号B)を除すること
により、三原色相対色度信号X R、X O、X B 
 (詳細には赤色相対色度信号x3緑色相対色度信号X
aおよび青紫色相対色度信号xB)が発生される(ステ
ップ9)。
割算回路45によって算出された三原色相対色度信号X
R,Xa、Xa  (詳細には赤色相対色度信号xR1
緑色相対色度信号X。および青紫色相対色度信号xB)
は、最大のもののみが相対色度信号χとして乱反射信号
除去回路70の除去回路72に含まれた比較回路72a
に与えられる(ステップ9)。ちなみに、三原色信号X
に乱反射信号P8に起因した誤信号が含まれているので
、相対色度信号Xにも、乱反射信号PNに起因した誤信
号(°“誤相対色度信号x、++という)が含まれてい
る。
比較回路72aは、相対色度信号Xを設定回路(図示せ
ず)によって設定された設定値X。と比較し、その設定
値X。より相対色度信号Xか大きいときにのみ高レベル
状態となる相対色度和比較信号X゛を発生して出力する
(ステップ10)。
ちなみに、相対色度信号Xに乱反射信号PNに起因した
誤信号が含まれているので、相対色度和比較信号X゛に
も、乱反射信号PNに起因した誤信号(゛誤相対色度充
電信号x 、” という)が含まれている(第7図[a
l参照)。
相対色度和比較信号X゛は、ダイオード72bおよび限
流抵抗72cの直列回路を介してコンデンサ72dに与
えられ充電される(ステップ1))。コンデンサ72d
には、相対色度和比較信号X3に含まれた誤相対色度和
比較信号XN″が異物相対色度和比較信号X♂、X−と
同一の要領で充電される。しかしなから、誤相対色度和
比較信号XN″は、その持続時間t1が異物相対色度和
比較信号χL”、 XH”の持続時間t 2+ t 3
に比べて小さ(、またその大きさ (すなわち電圧の大
きさ)が異物相対色度和比較信号XL++と同程度であ
る。したがって、コンデンサ72dに充電されたとき、
その充電結果(すなわち誤相対色度充電信号X、”)は
、異物相対色度和比較信号XL”、 XH”の充電結果
(すなわち異物相対色度充電信号X L”、 X 、”
)と異なり、設定回路46、Aの設定値X。゛よりも小
さくなる(第7図fb]診照)。
比較回路46は、コンデンサ72dの充電結果(すなわ
ち相対色度充電信号X゛°)を設定回路45Aによって
設定された設定値x0゛と比較し、その設定値X。゛よ
り相対色度充電信号X゛°が大きいときにのみ高レベル
状態となる相対色度和比較信号)(°を発生して出力す
る(ステップ12)。これに伴なって、乱反射信号PN
に起因した誤相対色度充電信号xN″°を相対色度和比
較信号x゛から排除できる(第7図(c)参閘)。ちな
みに、相対色度和比較信号x°°に含まれた異物相対色
度和比較信号XL”x 、”の持続時間t2’、 t3
”は、異物相対色度充電信号X L”、 X s+*が
設定値X。゛以上にある時間jz、j3”に一致してい
る(第7図fb) (c)容顔)。
粧含皿号ヱ 比較回路43によって発生された輝度比較信号Y=と、
比較回路46によって発生された相対色度和比較信号X
−とは、信号組合回路47に与えられ、適宜に組み合わ
されたのち、組合信号2として出力される(ステップ1
3)。
組合信号Zは、切替スイッチ47Gの共通接点が第1な
いし第4の切替接点のうち接触された切替接点に応じて
、論理積信号Y ”X″3と論理和信号Y〜+X=と輝
度比較信号Y++と相対色度和比較信号X−とのうちか
ら選択されている。
罠艷X五肚撤 センサ31の検知結果 (すなわち物品検知信号f)は
、遅延回路31Aで適宜に遅延されたのち、遅延物品検
知信号f、とじて計数回路48に与えられる(ステップ
14)。
計数回路48は、遅延物品検知信号fMが与えられると
所定時間だけ信号組合回路47から与えられた組合信号
Zに含まれているパルス(すなわち高レベル状態)を計
数することにより、被検査物品Mに混入ないしは付着し
た異物Nを計数する(ステップ15)。
置−■の 生 異物検出信号発生回路49は、計数回路48から与えら
れた計数結果Wが設定値W0よりも大きいか否かを判定
する(ステップ16)。
計数結果Wが設定値W0よりも大きい場合、異物検出信
号発生回路49は、異物検出信号■を発生する。
これに対し、計数結果Wが設定値W0よりも小さい場合
、異物検出信号発生回路49は、異物検出信号■を発生
しない。
このため、異物検出信号発生回路49の発生する異物検
出信号■は、異物検出部並の検出結果として機能する。
・ 物oM′″の7、去 異物検出信号発生回路49から異物検出信号■が発生さ
れたとき、不良物品除去部並では、異物検出信号Vに応
じて駆動部材52が切替フィン51を矢印Bで示すごと
く切替えて不良物品M”(すなわち不良の被検査物品M
′″)を収納箱53へ収納する(ステップ17)。
異物検出信号発生回路49から異物検出信号■が発生さ
れなかったとき、不良物品除去部50では、駆動部材5
2が切替フィン51を切替えることがなく、被検査物品
Mが移送プーリ54によって切替フィン51からベルト
コンベア22に向けて移送せしめられる。
五艮圭生!逼 異物検出信号発生回路49から異物検出信号■が発生さ
れるか否かにかかわらず、不良率算出部60では、算出
回路61が、異物検出信号■の発生回数とセンサ31か
ら与えられた物品検知信号fの発生回数とをそれぞれ計
数したのち、異物検出信号■の計数結果を物品検知信号
fの計数結果によって除することにより、被検査物品群
の不良率を算出する(ステップ18)。
算出回路61によって算出された被検査物品群の不良率
は、表示装置62によって表示され、また記録装置63
によって記録されることにより、その被検査物品群の品
質の判断などに供される(ステップ19)。
2の  例の  ・ 用 また、第8図および第9図を参照しつつ、本発明にかか
る物品検査装置の第2の実施例について、その構成およ
び作用を詳細に説明する。
第2の実施例では、異物検出部並において三原色信号加
算回路44ないし信号組合回路47が除去され、かつ比
較回路43の出力端が計数回路48の入力端に対して直
接に接続されていることを除き、第1の実施例と同一の
構成を有している。
したがって、第2の実施例は、乱反射信号除去回路70
の除去回路71と比較回路43との協同作用によって誤
輝度信号Y2ひいては誤輝度比較信号YN+の除去され
た輝度比較信号Y゛に含まれるパルス(すなわち高レベ
ル状態)のみを計数回路48によって計数し、その計数
結果に応じて不良物品M゛を除去しかつ被検査物品群の
不良率を算出することを除き、第1の実施例と同一の作
用をなしている。
それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第1の実
施例に包有された部材ないしはステップに対応する部材
ないしはステップに対し同一の参照番号を付すことによ
り、その他の構成および作用の説明を省略する。
3の  例の 成・ 加えて、第10図および第1)図を参照しつつ、本発明
にかかる物品検査装置の第3の実施例について、その構
成および作用を詳細に説明する。
第3の実施例では、異物検査装置において輝度信号作成
回路42.比較回路43.設定回路43Aおよび信号組
合回路47が除去され、かつ比較回路46の出力端が計
数回路48に対して直接に接続されていることを除き、
第1の実施例と同一の構成を有している。
したがって、第3の実施例は、乱反射信号除去回路70
の除去回路72と比較回路46との協同作用によって誤
相対色度信号xNひいては誤相対色度和比較信号XN”
の除去された相対色度和比較信号X + +に含まれる
パルス(すなわち高レベル状態)のみを計数回路48に
よって計数し、その計数結果に応じて不良物品M゛を除
去しかつ被検査物品群の不良率を算出することを除き、
第1の実施例と同一の作用をなしている。
それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第1の実
施例に包有された部材ないしはステップに対応する部材
ないしはステップに対し同一の参照番号を付すことによ
り、その他の構成および作用の説明を省略する。
4の  例の 併せて、第12図および第2図を参照しつつ、本発明に
かかる異物検査装置の第4の実施例について、その構成
を詳細に説明する。
念生逍或 10は、本発明にかかる異物検査装置であって、被検査
物品(たとえば海苔など;単に物品ともいう)Mを矢印
入方向に向けて1つずつ搬送するための物品搬送部翻と
、物品搬送部輩の近傍に配設されており物品搬送部堕に
よって搬送されている被検査物品Mを撮像して画像信号
Pを出力するための物品措像部凹とを備えている。
本発明にかかる異物検査装置lOは、また、物品撮像部
判に対して接続されており物品撮像部凹から出力された
被検査物品Mの画像信号Pを適宜に処理することによっ
て被検査物品Mに異物Nが混入ないし付着しているか否
かを検出するための異物検出部40を備えでいる。異物
検出部40の検出結果は、たとえば、物品搬送部輩のう
ち物品撮像部30の下流側に配設された不良物品除去部
50に与えて不良の被検査物品(すなわち異物Nが比較
的に多く混入ないし付着した被検査物品;°゛不良物品
++ともいう;以下同様I M”を個別に除去するため
に利用してもよく、また不良率算出部60に与えて被検
査物品群が含む不良物品M゛の割合(すなわち被検査物
品群の不良率)を算出して表示あるいは配録するために
利用してもよい。ここでは、説明の都合上、異物検出部
40の検出結果は、不良物品除去部長および不良率算出
部並に与えられているものとするが、本発明をこれに限
定する意図はない。
本発明にかかる物品検査装置10は、更に、異物検出部
40に組み込まれており画像信号Pに含まれた乱反射信
号PNに起因する誤信号(たとえば誤相対色度信号X八
〇ひいては膠相対色度和比較信号XΔ−)を除去するた
めの乱反肘除去回路厘を備えている。
物品搬送部20 物品搬送部20は、ヘッドプーリ2)Aとテールプーリ
2)Bとの周囲に対して配設されており被検査物品Mを
矢印入方向に向けて1つずつ搬送するためのベルトコン
ベア2)と、ベルトコンベア2)の下流側に不良物品除
去部50を介して配置されかつヘッドプーリ22Aとテ
ールプーリ22Bとの周囲に対して配設されており不良
物品除去部50によって除去されなかった被検査物品M
を後続の処理装置(図示せず)に向けて1つずつ搬送す
るための他のベルトコンベア22とを備えている。
物品撮像部30 物品撮像部30は、ベルトコンベア2)の近傍に配置さ
れており被検査物品Mが搬送されてきたときそれを検知
して物品検知信号fを出力するためのセンサ31と、ベ
ルトコンベア2)の上方に配置されかっセンサ31に接
続されており物品検知信号fに応じてベルトコンベア2
)によって搬送されている被検査物品Mを撮像するため
のビデオカメラあるいはラインセンサカメラなどの撮像
手段32と、蛍光灯、ハロゲンランプあるいは発光ダイ
オードなどによって形成されておりベルトコンベア2)
によって搬送されている被検査物品Mを叩射する光(照
射光という)Lを発生するための光源33とを備えてい
る。ここで、撮像手段32が物品搬送部20による被検
査物品Mの搬送速度に相応する速度で動作するシャッタ
を包有しておれば、被検査物品Mに混入ないしは付着し
た異物Nが微小となっても良好に検知可能とできるので
、好ましい。このとき、光源33として蛍光灯を採用す
る場合は、インバータ(図示せず)を介して電極間に高
周波の電圧を印加すれば、撮像手段32のシャッタ開放
時期が異なっても照射光りの光量を一定に維持できるの
で、好ましい。
物品撮像部30は、また、撮像手段32を包囲するよう
配設されており被検査物品Mの表面あるいは異物Nの表
面による異常反射にこては正反射)を抑制するよう光源
33から与えられた照射光りを散乱せしめ散乱光εとし
てベルトコンベア2)によって搬送されている被検査物
品Mに与えるための散乱部材34と、光源33および散
乱部材34を包囲しており外光を遮断しかつ照射光りが
周囲環境に漏出することを抑制するための遮光部材35
とを備えている。散乱部材34は、半透明の化学合成樹
脂(たとえば半透明アクリル樹脂)などの半透明材料に
よって形成されている。
遮光部材35は、本発明にとって必須要素ではないので
、所望により除去してもよい。
異物検出部40 異物検出部40は、撮像手段32の出力端に対して接続
されており撮像手段32によって撮像されて出力された
被検査物品Mの画像信号Pを適宜に処理し遅延回路31
Aによって遅延された物品検知信号f(これを遅延物品
検知信号fMという)に応じて三原色信号Q(すなわち
赤色信号R,H色信号Gおよび青紫色信号B)を取り出
すための三原色信号取出回路141を備えている。三原
色信号取出回路141は、遅延物品検知信号f、に応じ
て画像信号Pからそれぞれ赤色信号R5緑色信号Gおよ
び青紫色信号Bを取り出すための赤色信号取出回路14
1A1、緑色信号取出回路141B、および青紫色信号
取出回路141C+ と、赤色信号取出回路141A1
、緑色信号取出回路141B、および青紫色信号取出回
路14ICIの出力端に対してそれぞれ接続されており
赤色信号R,!色信号Gおよび青紫色信号Bを適宜にク
ランプするためのクランプ回路141A2)41B2.
141C2と、クランプ回路141A2,141B2)
41C2の出力端にそれぞれ接続されており適宜にクラ
ンプされた赤色信号R1緑色信号Gおよび青紫色信号B
を適宜に増幅するための増幅回路141Aa、 141
B3.141C3とを包有している。
異物検出部回は、また、三原色信号取出回路141の出
力端に対して接続されており三原色信号Q(すなわち赤
色信号R1緑色信号Gおよび青紫色信号B)を互いに加
算して三原色和信号X(=R+G+B)を作成するため
の三原色信号加算回路142と、三原色信号取出回路1
41の出力端に対して接続されており三原色信号Q(す
なわち赤色信号R1緑色信号Gおよび青紫色信号B)を
互いに比較した結果に応じてゲート信号g+1、gc、
gaを出力するための比較回路143とを備えている。
ゲート信号g+1、gc、gllは、通常1であるが、
対応する三原色信号Qが最大となったとき○とされる。
異物検出部40は、更に、三原色信号取出回路141の
出力端および三原色信号加算回路142の出力端に対し
て接続されており三原色信号Q(すなわち赤色信号R9
緑色信号Gおよび青紫色信号B)の三原色和信号Xに対
する色度信号(すなわち相対色度信号)X(すなわち赤
色相対色度信算回路144A1、144B1、144G
、と、除算回路144A144B1.144C,の出力
端に対して接続されており相対色度信号X(すなわち赤
色相対色度信号xR1緑色相対色度信号xGおよび青紫
色相対色度信号X、)に対しそれぞれ所望の係数α、β
、γを乗算して係数付相対色度信号(すなわち係数付赤
色相対色度信号αX8.係数付録色相対色度信号βxG
および係数付青紫色相対色度信号γX、)を算出するた
めの乗算回路144A2.144B1、 144C2と
、乗算回路144A2.14482.144Ciの出力
端および比較回路143の出力端に対して接続されてお
りゲート信号g*、go、g++に応じて乗算回路14
4A2)44B2.144C,の乗算結果すなわち係数
付相対色度信号αxR1βxo、γX6を通過せしめる
ためのゲート回路145A、 145B、 145Gと
、ゲート回路145A、 145B、 145Gの出力
端に対して接続されておりゲート145A、 145B
、 145Cを通過した係数付相対色度信号を互いに加
算して相対色度和信号X、を次式のごとく算出するため
の加算回路146と、加算回路146の出力端に対し乱
反射信号除去回路刊の除去回路73を介して反転入力端
が接続されかつ非反転入力端が設定回路147Aに対し
て接続されており除去回路73で処理された相対色度和
信号x1)(すなわち後述の相対色度和充電信号XΔ°
′″)が設定回路147Aの設定値XΔ。゛を超えたか
否かを判定することによって相対色度和充電信号XΔ+
°がその設定値XΔ。゛を超えたときにのみ高レベル状
態となる相対色度和比較信号XΔ+を出力するための比
較回路147とを備えている。ここで、比較回路147
が相対色度充電信号XΔ°°を設定値XΔ。゛と比較し
ている根拠は、相対色度充電信号XΔ+0に含まれた誤
相対色度充電信号XIIN”に対応する誤相対色度充電
信号XΔ5°を除去し、被検査物品Mの表面における光
の乱反射を異物Nと誤認することを回避するにある。
異物検出部並は、加えて、比較回路147の出力端に対
して入力端が接続されており比較回路147から出力さ
れた相対色度和比較信号XΔ+に含まれたパルス(すな
わち高レベル状態)を計数して被検査物品Mに含まれて
いる異物Nの個数を計数し計数結果を計数信号Wとして
出力したのち遅延物品検知信号f、lに応じて計数内容
がクリアされる計数回路148と、計数回路148の出
力端に対して接続されており計数回路148から出力さ
れた計数信号Wの内容(すなわち計数結果)が所定値W
0を超えたか否かを判定し所定値W0を超えたとき異物
検出信号■を発生するための異物検出信号発生回路14
9とを備えている。異物検出信号発生回路149によっ
て発生された異物検出信号Vは、異物検出部並の検出結
果として出力されており、ここでは、不良物品(すなわ
ち異物Nの混入数ないし付着数が大きい被検査物品)M
゛を個別に除去するための不良物品除去部50に与えら
れ、かつ被検査物品群の不良率を算出して表示しあるい
は記録するための不良率算出部60に与えられている。
不良物品除去部50 不良物品除去部50は、物品搬送部20のベルトコンベ
ア2)とベルトコンベア22との間に配設された切替フ
ィン51と、異物検出部40の異物検出信号発生回路1
49に対して接続されており異物検出信号■に応じて不
良物品M゛を除去するよう切替フィン51を矢印Bで示
すごとく駆動するための駆動部材(たとえばソレノイド
)52と、切替フィン51によって除去された不良の被
検査物品M゛を収容するための収納箱53と、切替フィ
ン51の下流側に配設されており不良物品M゛として除
去されなかった被検査物品Mを切替フィン51からベル
トコンベア22に向けて移送せしめるための移送プーリ
54とを備えている。
不良率算出部60 不良率算出部60は、異物検出信号発生回路149の出
力端および遅延回路31Aの出力端に接続されており異
物検出信号■の発生回数および遅延物品検知信号f、(
ひいては物品検知信号f)の発生回数をそれぞれ計数し
たのち異物検出信号■の発生回数の計数結果を物品検知
信号fの発生回数の計数結果によって除して被検査物品
群の不良率を算出するための算出回路61と、算出回路
61の出力端に接続されておりその算出結果(すなわち
被検査物品群の不良率)を表示するための表示装置62
と、算出回路61の出力端に接続されておりその算出結
果(すなわち被検査物品群の不良率)を記録するための
記録装置63とを備えている。ちなみに、不良率算出部
並は、所望により表示装置62および記録装置63のい
ずれか一方を除去してもよい。また、不良率算出部凹の
算出した不良率は、被検査物品群の等絞付などに利用さ
れる。
乱反射信号除去回路70 乱反射信号除去回路70は、加算回路146と比較回路
147の反転入力端との間に挿入されており比較回路1
47との協同作用によって相対色度和比較信号XA*か
ら乱反射信号P、に起因した誤相対色度和比較信号XΔ
rを除去するための除去回路73を備えている。
除去回路73は、加算回路146の出力端に対して反転
入力端が接続されており相対色度和信号XΔが設定回路
(図示せず)の設定値XΔ。を超えたときにのみ高レベ
ル状態となる相対色度和比較信号xrを出力するための
比較回路73aと、比較回路73aに対しダイオード7
3bおよび限流抵抗73cの直列回路を介して接続され
ており所定時間(すなわち異物Nと乱反射信号P、に起
因した誤信号とを区別するに十分の時間)Toだけ相対
色度和比較信号x1を充電し相対色度和信号信号x1゜
として比較回路147に向けて出力するためのコンデン
サ73dと、コンデンサ73dに対して並列に接続され
ており所定時間T0ごとにコンデンサ73dを放電する
ためのスイッチ73eとを包有している。ここで、比較
回路73aが相対色度和信号xムを設定値Xム。と比較
している根拠は、相対色度和信号XΔに含まれた低レベ
ルのノイズ(すなわち被検査物品Mの表面における異常
反射Rどに起因したノイズ;第5図(a)〜(c)参照
)を除去し、被検査物品Mの表面の色度の偏倚を異物N
と誤認することを回避するにある。
第4の  例の 併せてまた、第12図ないし第14図および第2図を参
照しつつ、本発明にかかる異物検査装置の第4の実施例
について、その作用を詳細に説明する。
食物0Mの 像 物品搬送部20のベルトコンベア2)によって被検査物
品Mが矢印入方向に向けて搬送されてくるごとに、物品
撮像部30のセンサ31が被検査物品Mを検知して物品
検知信号fを発生する(ステップ1)。
物品操像部30の撮像手段32は、物品検知信号fが与
えられると、被検査物品Mの撮像を開始し、その画像信
号Pを送出し始める(ステップ2)。
物品撮像部30では、光源33によって発生された照射
光りが散乱部材34によって散乱されたのち散乱光εと
してベルトコンベア2)上の被検査物品Mに与えられて
いるので、ベルトコンベア2)上の被検査物品Mの表面
および被検査物品Mに混入ないし付着した異物N(詳細
には高彩度の異物N、および低彩度の異物NLIの表面
で反射されるとき、高彩度の異物NHおよび低彩度の異
物NLの表面における正常反射(ここでは正反射)Rf
HlRfLの光量に比べ、被検査物品Mの表面における
異常反射(ここでは正反射)の光量を十分に減少せしめ
ることかできる。このため、画像信号Pは、異物N(す
なわち高彩度の異物N、および低彩度の異物NL)のみ
に対応して顕著に高レベル状態となる異物反射信号P1
、P、を含むこととなる。しかしなから、被検査物品M
の表面で光の乱反射が発生し撮像手段32に入射すると
、画像信号Pは、これに伴なって、異物反射信号P1、
PLに匹敵するレベルの乱反射信号PNも含むこととな
る。被検査物品Mの表面における光の乱反射は、−89
に、不規則に発生し周期性がなく持続時間が短いので、
(1)所定時間(たとえば1画面擬像時間に相当する時
間)だけ経過すると、乱反射信号P、が画像信号Pから
消滅し (第5図(c)参!]則、また(1))乱反射
信号PNの持続時間t1が異物反射信号pL、p、の持
続時間t2.t3に比べて短くなる (第5図(b)参
照)。
また、センサ31の出力した物品検知信号fは、遅延回
路31Aにより、被検査物品Mが物品撮像部30を通過
するに必要とする時間に対応して適宜に遅延せしめられ
て遅延物品検知信号で2とされる(ステップ3)。
五度覧区立且9工l 被検査物品Mの画像信号Pは、異物検出部40の:原色
信号取出回路141に含まれた赤色信号取出回路141
A1、緑色信号取出回路141B、および青紫色信号取
出回路141(:、に与えられる。
赤色信号取出回路141A1、緑色信号取出回路141
B、および青紫色信号取出回路141C,では、画像信
号Pから三原色信号Q(すなわち赤色信号R1緑色信号
Gおよび青紫色信号B)を取り出し、遅延物品検知信号
fvが与えられたとき、クランプ回路141A1、 1
41B2.141G、に向けて出力する(ステップ4)
クランプ回路141A2)41B1、1410aでは、
それぞれ赤色信号R1緑色信号Gおよび青紫色信号Bを
適宜にクランプしたのち、増幅回路141A3.141
B1、141Cxに向けて出力する(ステップ5)。
増幅回路141A3.141B3.141c3では、ク
ランプ回路141A2.141B1、 141c2で適
宜にクランプされた赤色信号R1緑色信号Gおよび青紫
色信号Bをそれぞれ適宜に増幅したのち、加算回路14
2.比較回路143および除算回路144Al、144
B1、144にlに向けて出力する(ステップ6)、ち
なみに、画像信号Pに乱反射信号PNが含まれているの
で、三原色信号Qには、乱反射信号P、に起因した誤信
号が含まれている。
三2、  置″″xの 加算回路142は、三原色信号取出回路141の出力端
(すなわち増幅回路141A1.141B3.141C
3の出力端)から与えられた三原色信号Q(すなわち赤
色信号R1緑色信号Gおよび青紫色信号B)を互いに加
算することにより、三原色和信号X=R+G+Bを算出
する(ステップ7)。ちなみに、三原色信号Qに乱反射
信号P、に起因した誤信号が含まれているので、三原色
和信号Xにも、乱反射信号P。に起因した誤信号が含ま
れている。
X1、X、 Xiの 除算回路144A1、144B1、144G、では、三
原色信号取出回路141の出力端(すなわち増幅回路1
41As141B1、141G、の出力端)から与えら
れた三原色信号Q(すなわち赤色信号R1緑色信号Gお
よび青紫色信号B)を加算回路142から与えられた三
原色和信号X=R+G+Hによって除することにより、
相対色度信号X(すなわち赤色相対色度信号ブ8)。ち
なみに、乱反射信号PNに起因した誤信号が三原色和信
号Xに含まれているので、相対色度信号Xにも、乱反射
信号PNに起因した誤信号が含まれている。
相対色度信号X(すなわち赤色相対色度信号x7.緑色
相対色度信号X。および青紫色相対色度信号xe)は、
乗算回路144A1、 144B2.144G。
において適宜の係数α、β、γが乗じられることにより
、係数付相対色度信号αXl++ BXa1、YXBと
して出力される(ステップ9)。係数α、β、γは、被
検査物品Mと異物Nとの色彩の差異に応じて適宜に決定
されている。
l″′RG  Bの 比較回路143では、三原色信号取出回路141の出力
端(すなわち増幅回路141.lh、 141B3.1
41Ciの出力端)から与えられた三原色信号Q(すな
わち赤色信号R1緑色信号Gおよび青紫色信号B)を互
いに比較し、その比較結果に応じてゲート信号g *、
 g a、 g mを出力する(ステップ10.1))
ゲート信号g*、ga、gmの値は、対応する三原色信
号Qが最大のときOとなることを除き、通常lである。
・ −0雷e′x  の 乗算回路144A1、 144B2.14402から出
力された係数付相対色度信号aX*、βXo、γXll
は、ゲート回路145A、 145B、145Cにおい
て、ゲート信号g R,g a、 g sによって適宜
に選択され(ひいては乗じられ)だのち、加算回路14
6に与えられる(ステップ12)。
加算回路146では、ゲート回路145A、 145B
、 145Cを通過した係数付相対色度信号αX8.B
Xa。
YXBが互いに加算され、相対色度和信号XΔ=g* 
BXa +ga BXa +g* YXB として出力
される(ステップ13)。ちなみに、乱反射信号Psに
起因した誤信号が相対色度信号Xに含まれているので、
相対色度和信号XΔにも、乱反射信号PNに起因した誤
信号(°°誤相対色度和信号XAN++という)が含ま
れている。
相対色度和信号X、は、乱反射信号除去回路四の除去回
路73に含まれた比較回路73aの反転入力端に与えら
れ、設定回路(図示せず)から非反転入力端に与えられ
た設定値XΔ0と比較されている(ステップ14)。比
較回路73aにおける比較結果は、相対色度和比較信号
XΔ+として、ダイオード73bおよび限流抵抗73c
の直列回路を介しコンデンサ73dに与えられて充電さ
れる (ステップ151゜ちなみに、乱反射信号PHに
起因した誤信号が相対色度和信号XΔに含まれているの
で、相対色度和比較信号X、Δ+にも、乱反射信号P、
に起因した誤信号(°“誤相対色度和比較信号XΔ、゛
という)が含まれている (第13図fa) I’S、
l。
コンデンサ73dには、相対色度和比較信号X1に含ま
れた誤相対色度和比較信号XΔrが異物相対色度和比較
信号XΔt’、X6s’と同一の要領で充電される。し
かしなから、誤相対色度和比較信号XI!IN”は、そ
の持続時間t1が異物相対色度和比較信号XΔ♂、XΔ
□゛の持続時間j2.jsに比べて小さく、またその大
きさ (すなわち電圧の大きさ)が異物相対色度和比較
信号x狂゛と同程度である。したがって、コンデンサ7
3dに充電されたとき、その充電結果(すなわち誤相対
色度和充電信号XへH′″0)は、異物相対色度和比較
信号XΔ。
X、H+の充電結果(すなわち異物相対色度和充電信号
XΔ5°°、xΔ□゛°)と異なり、設定回路147に
よる設定値XΔ。゛よりも小さくなる (第13図(b
)参照)。
比較回路147は、コンデンサ73dの充電結果(すな
わち相対色度和充電信号XΔ”)を設定回路147Aに
よって設定された設定値X1、。と比較し、その設定値
XΔ。3に比べて相対色度和充電信号x1))が大きい
ときにのみ高レベル状態となる相対色度和比較信号XΔ
+を発生して出力する (ステップ16)。これに伴っ
て、乱反射信号P、に起因した誤相対色度和充電信号X
6s”l を相対色度和比較信号XΔ+3から排除でき
る (第13図(cl参照)。ちなみに、相対色度和比
較信号XΔ+に含まれた異物相対色度和比較信号XAL
″゛、XΔS゛の持続時間t2°、t3Iは、異物相対
色度和充電信号XΔ**、 X趣**が設定値X 1、
4以上にある時間t2°、 tsoに一致している(第
13図fb)(c)参照)。
罠−笠五計上 計数回路148は、遅延回路31Aから遅延物品検知信
号f、が与えられると所定時間だけ、比較回路147か
ら与えられた相対色度和比較信号X 、 −+に含まれ
たパルス(すなわち高レベル状態)を計数して被検査物
品Mに混入ないし付着した異物Nの個数を計数する(ス
テップ17)。
−■の 異物検出信号発生回路149は、計数回路148から与
えられた計数結果Wが設定値W0よりも大きいか否かを
判定する(ステップ18)。
計数結果Wが設定値W0よりも大きい場合、異物検出信
号発生回路149は、異物検出信号■を発生する。
これに対し、計数結果Wが設定値W。よりも小さい場合
、異物検出信号発生回路149は、異物検出信号■を発
生しない。
このため、異物検出信号発生回路149の発生する異物
検出信号■は、異物検出部40の検出結果として機能す
る。
・食物0M゛の除去 異物検出信号発生回路149から異物検出信号■が発生
されたとき、不良物品除去部50では、異物検出信号V
に応じて駆動部材52が切替フィン51を矢印Bで示す
ごとく切替えて不良物品M゛を収納箱53へ収納する(
ステップ19)。
異物検出信号発生回路49から異物検出信号■が発生さ
れなかったとき、不良物品除去部50では、駆動部材5
2が切替フィン51を切替えることがなく、被検査物品
Mが移送プーリ54によって切替フィン51からベルト
コンベア22に向けて移送せしめられる(ステップ20
)。
五且圭少!丘 異物検出信号発生回路49から異物検出信号Vが発生さ
れるか否かにかかわらず、不良率算出部60では、算出
回路61が、異物検出信号■の発生回数と遅延回路31
Aから与えられた遅延物品検知信号fM(ひいては物品
検知信号f)の発生回数とをそれぞれ計数したのち、異
物検出信号■の計数結果を物品検知信号fの計数結果に
よって除することにより、被検査物品群の不良率を算出
する(ステップ2))。
算出回路61によって算出された被検査物品群の不良率
は、表示装置62によって表示され、また記録装置63
によって記録されることにより、その被検査物品群の品
質の判断などに供される(ステップ22)。
第5の 例の  ・ 用 また更に、第15図および第16図を参照しつつ、本発
明にかかる異物検査装置の第5の実施例について、その
構成および作用を詳細に説明する。ここでは、便宜上、
被検査物品Mが海苔であるとき、被検査物品Mの色彩が
赤色を強く帯びかつ異物(小エビ、網クズあるいはワラ
クズなど)Nが被検査物品Mに比べて緑色あるいは青紫
色を帯びているので、赤色相対色度信号xRを利用する
ことなく、異物Nの検出を実行する場合について説明す
る。
第5の実施例は、比較回路143.除算回路144Al
乗算回路144Aiおよびゲート回路145A、 14
5B、 145C:が除去されたことを除き、第4の実
施例と同一の構成を有している。
したがって、第5の実施例は、緑色相対色度信号x6お
よび青紫色相対色度信号X、を被検査物品Mと異物Nと
の間の色彩の差異に応じて適宜の割合で互いに加算して
相対色度和信号XΔを作成しており、乱反射信号除去回
路Uの除去回路73と比較回路147との協同作用によ
って相対色度和比較信号x1′″から乱反射信号P9に
起因した誤信号(すなわち誤相対色度和比較信号XΔ8
゛°)を除去することを除き、第4の実施例と同一の作
用をなしている。
それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第4の実
施例に包有された部材ないしはステップに対応する部材
ないしはステップに対し同一の参照番号を付すことによ
り、その他の構成および作用の詳細な説明を省略する。
なお、上述においては、赤色相対色度信号XRが利用さ
れない場合について説明したが、本発明は、これに限定
されるものではなく、被検査物品Mと異物Nとの色彩の
差異に応じて緑色相対色度信号X。あるいは青紫色相対
色度信号X8が利用されない場合も包摂している。
6の  例の  ・ 最後に、第17図および第18図を参照しつつ、本発明
にかかる異物検査装置の第6の実施例について、その構
成および作用を詳細に説明する。ここでは、便宜上、被
検査物品Mの色彩が赤色および青紫色を強く帯びかつ異
物Nが被検査物品Mに比べて緑色を帯びており、赤色相
対色度信号XRおよび青紫色相対色度信号Xsを利用す
ることなく、異物Nの検出を実行する場合について説明
する。
第6の実施例は、比較回路143.除算回路144A1
44C,、乗算回路144A2.144c、およびゲー
ト回路145A、 1458.145Cに加え加算回路
146が除去されたことを除き、第4の実施例と同一の
構成を有している。
したがって、第6の実施例は、緑色相対色度信号X。を
被検査物品Mと異物Nとの間の色彩の差異に応じて適宜
の割合で増幅して相対色度信号Xを作成しており、乱反
射信号除去回路70の除去回路73と比較回路147と
の協同作用によって相対色度和比較信号x゛から乱反射
信号P、に起因した誤信号(すなわち誤相対色度和比較
信号X、” )を除去することを除き、第4の実施例と
同一の作用をなしている。
それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第4の実
施例に包有された部材ないしはステップに対応する部材
ないしはステップに対し同一の参照番号を付すことによ
り、その他の構成および作用の詳細な説明を省略する。
なお、上述においては、赤色相対色度信号x8および青
紫色相対色度信号X、が利用されない場合について説明
したが、本発明は、これに限定されるものではなく、赤
色相対色度信号x8および緑色相対色度信号X。あるい
は緑色相対色度信号Xaおよび青紫色相対色度信号X8
が利用されない場合も包摂している。
(3)発明の効果 上述より明らかなように、本発明にかかる物品検査装置
は、[問題点の解決手段]の欄に、第1ないし第6の解
決手段として挙げたごとき構成を有しているので、 (i1画像信号の乱反射信号に伴なう誤信号を除去でき
る効果 を有し、ひいては (1))被検査物品に混入ないしは付着した異物の検査
精度を向上できる効果 を有する。
本発明にかかる物品検査装置は、[問題点の解決手段]
の欄に、特に、第4ないし第6の解決手段として挙げた
ごとき構成を有しているので、上記(il (ii)の
効果に加λ、 (iiil被検査物品に混入ないしは付着した異物を被
検査物品との間の色彩の差異を利用して検出できる効果 を有し、ひいては (ivl被検査物品に混入ないし付着した異物の検査精
度を一層向上できる効果 を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にかかる物品検査装置の第1の実施例を
示すためのブロック回路図、第2図は第1図実施例の一
部を拡大して示すための部分破断斜視図、第3図は第1
図実施例の一部を拡大して示すための部分ブロック回路
図、第4図は第1図実施例の動作を示すためのフローチ
ャート図、第5図(a1〜(c)は第1図実施例の動作
を説明するための説明図、第6図(a)〜(c)は第1
図実施例の動作を説明するための説明図、第7図(al
〜(c)は第1図実施例の動作を説明するための説明図
、第8図は本発明にかかる物品検査装置の第2の実施例
を示すためのブロック回路図、第9図は第8図実施例の
動作を示すためのフローチャート図、第1O図は本発明
にかかる物品検査装置の第3の実施例を示すためのブロ
ック回路図、第1)図は第10図実施例の動作を示すた
めのフローチャート図、第12図は本発明にかかる物品
検査装置の第4の実施例を示すためのブロック回路図、
第13図(a)〜(cl は第12図実施例の動作を説
明するための説明図、第14図は第12図実施例の動作
を示すためのフローチャート図、第15図は本発明にか
かる物品検査装置の第5の実施例を示すためのブロック
回路図、第16図は第15図実施例の動作を示すための
フローチャート図、第17図は本発明にかかる物品検査
装置の第6の実施例を示すためのブロック回路図、第1
8図は第17図実施例の動作を示すためのフローチャー
ト図である。 物品検査装置 20・・・・・・・・・・・・・・・・・・物品搬送部
2)・・・・・・・・・  ・・・・ベルトコンベア2
)A ・・・・  ・ ・・ ・ヘッド”j−’)2)
B  ・      テールプーリ22・・・・・ ・
・・・・・ベルトコンベア22A ・・ ・ ・・・・
・  ヘッドプーリ22B・・    ・  テールプ
ーリ30・−・−−−・  物品撮像部 31 ・・・  ・    ・・センサ31A  ・・
 ・・ −遅延回路 32    ・   ・・ 撮像手段 33・・・・  ・  光源 34  ・ ・・・・・  散乱部材 35・・・・・ ・  ・ ・遮光部材40・・・・・
・・・・・ ・ ・・異物検出部41・ ・・・・・・
・・・・・・・・三原色信号取出回路42・・・・・・
・・・・・・・・・輝度信号作成回路43・・・・・・
・・・・・・・・・比較回路43A・・・・    ・
・・設定回路44・ ・ ・・・・ ・・・・三原色信
号加算回路45・・・・・・・・・・・・・・・・・・
割算回路46・・・・・・・・・・・・・・・・比較回
路46A・・・・・・・・・・・設定回路47・・・・
・・・  ・・・・・信号組合回路48・・・・・・・
・・・・・・・・ ・計数回路49・・・・・・・・・
・・・・・・・・異物検出信号発生回路141・・・−
・・・・・・ ・・・三原色信号取出回路141A+ 
・・ ・・ ・・・赤色信号取出回路141B、  ・
・・・・・・・ ・緑色信号取出回路141G、・・・
・・・・・・・青紫色信号取出回路141A2.141
B2.141C2 ・クランプ回路 141A、141B1、141G。 増幅回路 ・・・加算回路 ・・・比較回路 ・・除算回路 ・・乗算回路 ゲート回路 ・加算回路 142 ・・・・・・・ 143  ・・・・・・ ・・・・・ 144A1、144B1、144.C。 144Az、144B2.144Cz 145A  145B  145C・ ・・146・・
・・・・ 147・・・・・・・・・・・・・・ 147A  ・ ・・ ・・・・・ 148 ・・・・・・・・・・・ 149  ・・・・・・・・・・・・・・51・・・・
 ・・・・・・・・・・ 52・・・・・・・・・・  ・・ 53・・・・・ ・・・ ・・・ ・・54・・・・・
・・・・・・・・・  ・62・・・・・・・・・ 63・・・・・・・・・ ・・比較回路 ・・設定回路 ・計数回路 ・異物検出信号発生回路 不良物品除去部 ・・切替フィン ・駆動部材 ・収納箱 移送プーリ 不良率算出部 算出回路 表示装置 ・記録装置 乱反射信号除去回路 ・・・・・・・除去回路 ・・・・・・・比較回路 ・・・・・ダイオード ・・・・限流抵抗 ・・・・コンデンサ ・・・スイッチ ?1,72.73・・・・ 71a、72a、73a 71b、72b 73b  ・ 71c、 72c、 73c  ・・ 71d、 ?2d、 73d  ・ 71e、72e 73e  ・・ ・ 第 図

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)物品搬送部によって搬送されている被検査物品を
    物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理するこ
    とにより被検査物品に異物が混入ないし付着しているか
    否かを検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R、G、Bを取出すため
    の三原色信号取出回路(41)と、 (b)三原色信号取出回路(41)の出力端に対して入
    力端が接続されており、三原色信号取出回路(41)か
    ら与えられた三原色信号R、G、Bから輝度信号Yを作
    成するための輝度信号作成回路(42)と、 (c)輝度信号作成回路(42)の出力端に対して入力
    端が接続されており、輝度信号Yが設定値を超えたか否
    かを判定して輝度信号Yが設定値を超えたときにのみ高
    レベル状態となる第1の輝度比較信号Y^+を出力する
    ための第1の比較回路(71a)と、 (d)第1の比較回路(71a)の出力端に対しダイオ
    ード(71b)および限流抵抗(71c)の直列回路を
    介して接続されており、第1の輝度比較信号Y^+を所
    定時間だけ充電し輝度充電信号Y^+^*として出力す
    るための充放電回路(71d、71e)と、(e)充放
    電回路(71d、71e)に対して入力端が接続されて
    おり、輝度充電信号Y^+^*が設定値を超えたか否か
    を判定して輝度充電信号Y^+^*が設定値を超えたと
    きにのみ高レベル状態となる第2の輝度比較信号Y^+
    ^*を出力するための第2の比較回路(43)と、 (f)第2の比較回路(43)の出力端に対して入力端
    が接続されており、第2の輝度比較信号Y^+^*に含
    まれた高レベル状態を計数することによって被検査物品
    に混入ないしは付着した異物を計数するための計数回路
    (48)と、 (g)計数回路(48)の出力端に対して入力端が接続
    されており、計数回路(48)の計数結果が所定値を超
    えたとき異物検出信号Vを発生するための異物検出信号
    発生回路(49)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。
  2. (2)輝度信号Yが、総和が1であって0以上かつ1以
    下の値をもつ3つの係数α、β、γと三原色信号R、G
    、Bとを用いてαR+βG+γBと表わされてなること
    を特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の物品検査
    装置。
  3. (3)物品搬送部によって搬送されている被検査物品を
    物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理するこ
    とにより被検査物品に異物が混入ないし付着しているか
    否かを検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R、G、Bを取出すため
    の三原色信号取出回路(41)と、 (b)三原色信号取出回路(41)の出力端に対して入
    力端が接続されており、三原色信号取出回路(41)か
    ら与えられた三原色信号R、G、Bを互いに加算して三
    原色和信号Xを作成するための三原色信号加算回路(4
    4)と、 (c)三原色信号取出回路(41)の出力端と三原色信
    号加算回路(44)の出力端とに対して入力端が接続さ
    れており、三原色信号R、G、Bを三原色和信号Xによ
    って除することによって三原色相対色魔信号X_R、X
    _R、X_Bを算出し、最大のものを相対色度信号@X
    @として出力するための割算回路(45)と、 (d)割算回路(45)の出力端に対して入力端が接続
    されており、相対色度信号@X@が設定値を超えたか否
    かを判定して相対色度信号@X@が設定値を超えたとき
    にのみ高レベル状態となる第1の相対色度比較信号@X
    @^+を出力するための第1の比較回路、(72a)と
    、 (e)第1の比較回路(72a)の出力端に対して入力
    端がダイオード(72b)および限流抵抗(72c)の
    直列回路を介して接続されており、第1の相対色度比較
    信号@X@^+を所定時間だけ充電し相対色度充電信号
    @X@^+^*として出力するための充放電回路(72
    d、72e)と、 (f)充放電回路(72d、72e)に対して入力端が
    接続されており、相対色度充電信号@X@^+^*が設
    定値を超えたか否かを判定して相対色度充電信号@X@
    ^+^*が設定値を超えたときにのみ高レベル状態とな
    る第2の相対色魔比較信号@X@^+^+を出力するた
    めの第2の比較回路(46)と、 (g)第2の比較回路(46)の出力端に対して入力端
    が接続されており、第2の相対色度比較信号@X@^+
    ^+に含まれた高レベル状態を計数することによって被
    検査物品に混入ないしは付着した異物を計数するための
    計数回路(48)と、 (h)計数回路(48)の出力端に対して入力端が接続
    されており、計数回路(48)の計数結果が所定値を超
    えたとき異物検出信号Vを発生するための異物検出信号
    発生回路(49)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。
  4. (4)物品搬送部によって搬送されている被検査物品を
    物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理するこ
    とにより被検査物品に異物が混入ないし付着しているか
    否かを検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R、G、Bを取出すため
    の三原色信号取出回路(41)と、 (b)三原色信号取出回路(41)の出力端に対して入
    力端が接続されており、三原色信号取出回路(41)か
    ら与えられた三原色信号R、G、Bから輝度信号Yを作
    成するための輝度信号作成回路(42)と、 (c)輝度信号作成回路(42)の出力端に対して入力
    端が接続されており、輝度信号Yが設定値を超えたか否
    かを判定して輝度信号Yが設定値を超えたときにのみ高
    レベル状態となる第1の輝度比較信号Y^+を出力する
    ための第1の比較回路(71a)と、 (d)第1の比較回路(71a)の出力端に対しダイオ
    ード(71b)および限流抵抗(71c)の直列回路を
    介して接続されており、第1の輝度比較信号Y^+を所
    定時間だけ充電し輝度充電信号Y^+^*として出力す
    るための第1の充放電回路(71d、71e)と、 (e)第1の充放電回路(71d、71e)に対して入
    力端が接続されており、輝度充電信号Y^+^*が設定
    値を超えたか否かを判定して輝度充電信号Y^+^*が
    設定値を超えたときにのみ高レベル状態となる第2の輝
    度比較信号Y^+^*を出力するための第2の比較回路
    (43)と、 (f)三原色信号取出回路(41)の出力端に対して入
    力端が接続されており、三原色信号取出回路(41)か
    ら与えられた三原色信号R、G、Bを互いに加算して三
    原色和信号Xを作成するための三原色信号加算回路(4
    4)と、 (g)三原色信号取出回路(41)の出力端と三原色信
    号加算回路(44)の出力端とに対して入力端が接続さ
    れており、三原色信号R、G、Bを三原色和信号Xによ
    つて除することによって三原色相対色度X_R、X_G
    、X_Bを算出し、最大のものを相対色度信号@X@と
    して出力するための割算回路(45)と、 (h)割算回路(45)の出力端に対して入力端が接続
    されており、相対色度信号@X@が設定値を超えたか否
    かを判定して相対色度信号Xが設定値を超えたときにの
    み高レベル状態となる第1の相対色度比較信号@X@^
    +を出力するための第3の比較回路(72a)と、 (i)第3の比較回路(72a)の出力端に対して入力
    端がダイオード(72b)および限流抵抗(72c)の
    直列回路を介して接続されており、第1の相対色度比較
    信号@X@^+を所定時間だけ充電し相対色度充電信号
    @X@^+^*として出力するための第2の充放電回路
    (72d、72e)と、 (j)第2の充放電回路(72d、72e)に対して入
    力端が接続されており、相対色度充電信号@X@^+^
    *が設定値を超えたか否かを判定して相対色度充電信号
    @X@^+^*が設定値を超えたときにのみ高レベル状
    態となる第2の相対色度比較信号@X@^+^*を出力
    するための第4の比較回路(46)と、 (k)第2の比較回路(43)の出力端と第4の比較回
    路(46)の出力端とに対して入力端が接続されており
    、第2の輝度比較信号Y^+^+と第2の相対色度比較
    信号@X@^+^*とを組み合わせて組合信号Zを作成
    し出力するための信号組合回路(47)と、(l)信号
    組合回路(47)の出力端に対して入力端が接続されて
    おり、組合信号Zに含まれた高レベル状態を計数するこ
    とによって被検査物品に混入ないしは付着した異物を計
    数するための計数回路(48)と、 (m)計数回路(48)の出力端に対して入力端が接続
    されており、計数回路(48)の計数結果が所定値を超
    えたとき異物検出信号Vを発生するための異物検出信号
    発生回路(49)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。
  5. (5)輝度信号Yが、総和が1であって0以上かつ1以
    下の値をもつ3つの係数α、β、γと三原色信号R、G
    、Bとを用いてαR+βG+γBと表わされてなること
    を特徴とする特許請求の範囲第(4)項記載の物品検査
    装置。
  6. (6)信号組合回路(47)が、 (a)第2の輝度比較信号Y^+^+と第2の相対色度
    比較信号@X@^+^+との論理積信号Y^+^+@X
    @^+^+を作成するためのアンド回路(47A)と、 (b)第2の輝度比較信号Y^+^+と第2の相対色度
    比較信号@X@^+^+との論理和信号Y^+^++X
    ^+^+を出力するためのオア回路(47B)と、 (c)アンド回路(47A)の出力端とオア回路(47
    B)の出力端と第1の比較回路(43)の出力端と第2
    の比較回路(46)の出力端とに対してそれぞれ第1な
    いし第4の切替接点が接続されかつ出力端としての共通
    接点が計数回路(48)の入力端に接続されており、論
    理積信号Y^+^+@X@^+^+と論理和信号Y^+
    ^++X^+^+と第2の輝度比較信号Y^+^+と第
    2の相対色度比較信号@X@^+^+とのうちのいずれ
    か1つを選択して組合信号Zとして出力するための切替
    スイッチ(47C)とで形成されてなることを特徴とす
    る特許請求の範囲第(4)項もしくは第(5)項記載の
    物品検査装置。
  7. (7)物品搬送部によって搬送されている被検査物品を
    物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理するこ
    とにより被検査物品に異物が混入ないし付着しているか
    否かを検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R、G、Bを取り出して
    出力するための三原色信号取出回路(141)と、 (b)三原色信号取出回路(141)の出力端に対して
    入力端が接続されており、三原色信号取出回路(141
    )から与えられた三原色信号R、G、Bを互いに加算し
    て三原色和信号@X@を作成するための三原色信号加算
    回路(142)と、 (c)三原色信号取出回路(141)の出力端および三
    原色信号加算回路(142)の出力端に対して入力端が
    接続されており、三原色信号取出回路(141)から与
    えられた三原色信号R、G、Bから選ばれた2つを三原
    色信号加算回路(142)から与えられた三原色和信号
    @X@で除することによって三原色相対色度信号X_R
    、X_G、X_Bから選ばれた2つの三原色相対色度信
    号を算出して出力するための除算回路(144A_1、
    144B_1、144C_1)と、 (d)除算回路(144A_1、144B_1、144
    C_1)の出力端に対して入力端が接続されており、除
    算回路(144A_1、144B_1、144C_1)
    から与えられた三原色相対色度信号X_R、X_G、X
    _Bから選ばれた2つの三原色相対色度信号を所望の割
    合で互いに加算して相対色度和信号@X@_Δとして出
    力するための相対色度和信号算出回路(146)と、 (e)相対色度和信号算出回路(146)の出力端に対
    して入力端が接続されており、相対色度和信号@X@_
    Δが設定値を超えたか否かを判定して相対色度和信号@
    X@_Δが設定値を超えたときにのみ高レベル状態とな
    る第1の相対色度和比較信号@X@_Δ^+を出力する
    ための第1の比較回路(73a)と、 (f)第1の比較回路(73a)の出力端に対して入力
    端がダイオード(73b)および限流抵抗(73c)の
    直列回路を介して接続されており、第1の相対色度和比
    較信号@X@_Δ^+を所定時間だけ充電し相対色度和
    充電信号@X@_Δ^+^*として出力するための充放
    電回路(73d、73e)と、 (g)充放電回路(73d、73e)に対して入力端が
    接続されており、相対色度和充電信号@X@_Δ^+^
    *が設定値を超えたか否かを判定して相対色度和充電信
    号@X@Δ^+^*が設定値を超えたときにのみ高レベ
    ル状態となる第2の相対色度和比鮫信号@X@_Δ^+
    ^+を出力するための第2の比較回路(147)と、 (h)第2の比較回路(147)の出力端に対して入力
    端が接続されており、第2の相対色度和比較信号@X@
    _Δ^+^+に含まれた高レベル状態を計数することに
    よって被検査物品に混入ないし付着した異物の個数を計
    数するための計数回路(148)と、 (i)計数回路(148)の出力端に対して入力端が接
    続されており、計数回路(148)の計数結果が所定値
    を超えたとき異物検出信号Vを発生するための異物検出
    信号発生回路(149)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。
  8. (8)物品搬送部によって搬送されている被検査物品を
    物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理するこ
    とにより被検査物品に異物が混入ないし付着しているか
    否かを検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R、G、Bを取り出して
    出力するための三原色信号取出回路(141)と、 (b)三原色信号取出回路(141)の出力端に対して
    入力端が接続されており、三原色信号取出回路(141
    )から与えられた三原色信号R、G、Bを互いに加算し
    て三原色和信号Xを作成するための三原色信号加算回路
    (142)と、 (c)三原色信号取出回路(141)の出力端および三
    原色信号加算回路(142)の出力端に対して入力端が
    接続されており、三原色信号取出回路(141)から与
    えられた三原色信号R、G、Bから選ばれた1つの三原
    色信号を三原色信号加算回路(142)から与えられた
    三原色和信号Xで除することによって三原色相対色度信
    号X_R、X_G、X_Bから選ばれた1つの三原色相
    対色度信号を算出して相対色度信号@X@として出力す
    るための除算回路(144A_1、144B_1、14
    4C_1)と、 (d)除算回路(144A_1、144B_1、144
    C_1)の出力端に対して入力端が接続されており、相
    対色度信号@X@が設定値を超えたか否かを判定して相
    対色度信号@X@が設定値を超えたときにのみ高レベル
    状態となる第1の相対色度比較信号@X@^+を出力す
    るための第1の比較回路(73a)と、 (e)第1の比較回路(73a)の出力端に対して入力
    端がダイオード(73b)および限流抵抗(73c)の
    直列回路を介して接続されており、第1の相対色度比較
    信号@X@^+を所定時間だけ充電し相対色度充電信号
    @X@^+^*として出力するための充放電回路(73
    d、73e)と、 (f)充放電回路(73d、73e)に対して入力端が
    接続されており、充放電回路(73d、73e)から与
    えられた相対色度充電信号@X@^+^*が設定値を超
    えたか否かを判定して相対色度充電信号@X@^+^*
    が設定値を超えたときにのみ高レベル状態となる第2の
    相対色度比較信号@X@^+^+を出力するための比較
    回路(147)と、 (g)比較回路(147)の出力端に対して入力端が接
    続されており、第2の相対色度比較信号@X@^+^+
    に含まれた高レベル状態を計数することによって被検査
    物品に混入ないし付着した異物の個数を計数するための
    計数回路(148)と、 (h)計数回路(148)の出力端に対して入力端が接
    続されており、計数回路(148)の計数結果が所定値
    を超えたとき異物検出信号Vを発生するための異物検出
    信号発生回路(149)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。
  9. (9)物品搬送部によって搬送されている被検査物品を
    物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理するこ
    とにより被検査物品に異物が混入ないし付着しているか
    否かを検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R、G、Bを取り出して
    出力するための三原色信号取出回路(141)と、 (b)三原色信号取出回路(141)の出力端に対して
    入力端が接続されており、三原色信号取出回路(141
    )から与えられた三原色信号R、G、Bを互いに加算し
    て三原色和信号Xを作成するための三原色信号加算回路
    (142)と、 (c)三原色信号取出回路(141)の出力端および三
    原色信号加算回路(142)の出力端に対して入力端が
    接続されており、三原色信号取出回路(141)から与
    えられた三原色信号R、G、Bを三原色信号加算回路(
    142)から与えられた三原色和信号Xで除することに
    よって三原色相対色度信号X_R、X_G、X_Bを算
    出して出力するための除算回路(144A_1、144
    B_1、144C_1)と、 (d)除算回路(144A_1、144B_1、144
    C_1)の出力端に対して入力端が接続されており、除
    算回路(144A_1、144B_1、144C_1)
    から与えられた三原色相対色度信号X_R、X_G、X
    _Bに対し所望の係数α、β、γを乗じて係数付三原色
    相対色度信号αX_R、βX_G、γX_Bを算出して
    出力するための乗算回路(144A_2、144B_2
    、144C_2)と、 (e)三原色信号取出回路(141)の出力端に対して
    入力端が接続されており、三原色信号取出回路(141
    )から与えられた三原色信号R、G、Bを互いに比較す
    ることにより最大のものに対応して0となる選択信号g
    _R、g_G、g_Bを算出して出力するための選択信
    号発生回路(143)と、 (f)乗算回路(144A_2、144B_2、144
    C_2)の出力端および選択信号発生回路(143)の
    出力端に対して入力端が接続されており、選択信号発生
    回路(143)から与えられた選択信号g_R,g_G
    、g_Bと乗算回路(144A_2、144B_2、1
    44C_2)から与えられた係数付三原色相対色度信号
    αX_R、βX_G、γX_Bとの積を互いに加算して
    相対色度和信号@X@_Δを出力するための相対色度和
    信号算出回路(146)と、 (g)相対色度和信号算出回路(146)の出力端に対
    して入力端が接続されており、相対色度和信号@X@_
    Δが設定値を超えたか否かを判定して相対色度和信号@
    X@_Δが設定値を超えたときにのみ高レベル状態とな
    る第1の相対色度和比較信号@X@_Δ^+を出力する
    ための第1の比較回路(73a)と、 (h)第1の比較回路(73a)の出力端に対して入力
    端がダイオード(73b)および限流抵抗(73c)の
    直列回路を介して接続されており、第1の相対色度和比
    較信号@X@_Δ^+を所定時間だけ充電し相対色度和
    充電信号@X@_^+^*として出力するための充放電
    回路(73d、73e)と、 (i)充放電回路(73d、73e)に対して入力端が
    接続されており、相対色度和充電信号@X@_Δ^+^
    *が設定値を超えたか否かを判定して相対色度和充電信
    号@X@_Δ^+^*が設定値を超えたときにのみ高レ
    ベル状態となる第2の相対色度和比較信号@X@_Δ^
    +^+を出力するための第2の比較回路(147)と、 (j)第2の比較回路(147)の出力端に対して入力
    端が接続されており、第2の相対色度和比較信号@X@
    _Δ^+^+に含まれた高レベル状態を計数することに
    よって被検査物品に混入ないし付着した異物の個数を計
    数するための計数回路(148)と、 (k)計数回路(148)の出力端に対して入力端が接
    続されており、計数回路(148)の計数結果が所定値
    を超えたとき異物検出信号Vを発生するための異物検出
    信号発生回路(149)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。
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