JPH0438480A - プリント配線板検査機用アダプタ上下タイプ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、汎用型のプリント配線板検査機に使用するオ
フグリッドアダプタに関するものであり、特に、検査機
のフィクスチャに植え込まれたコンタクトプローブの配
設位置に対応させて穿設した貫通孔を有するベースと、
このベースと平行に配置されたボードメンバと、ベース
とボードメンバ間に挿通され、先端部が被検査プリント
配線板の検査ポイントと接触し、基端部が検査機のコン
タクトプローブに接触するアダプタピンとを備えた、プ
リント配線板両面同時検査用のオフグリッドアダプタに
関するものである。

〔従来の技術〕

従来より検査ポイントが２．５４ｍｍ格子等の格子上に
存在するプリント配線板の布線状態の電気的な導通・絶
縁不良・断線を検査する汎用型のプリント配線板検査機
が提案されている。この検査機では、格子外に検査ポイ
ントがあるプリント配線板をも検査するために、オフグ
リッドアダプタを用いて実現している。

被検査プリント配線板の片面側にビンやコンタクトプロ
ーブ等を当てて検査する、いわゆる片面検査ですむプリ
ント配線板（以下基板という）の場合は、基板の大小に
合わせて用意されている数種類のミニオフグリッドアダ
プタを選択することにより検査することが可能である。

又両面実装用の基板を両面同時に検査する場合、被検査
基板の下面側のみをアダプタピンを備えたオフグリッド
アダプタを用いて検査し、上面側を被検査基板の検査ポ
イントに通電するスプリングコンタクトプローブを植え
込んだビンボードを用いて検査している。

〔発明が解決しようとする課題〕

両面実装用基板の検査ポイントは、高密度化、微細化さ
れる傾向にあるが、この場合基板の検査ポイントに接触
するアダプタピンの太さを細くしなければ検査に対応で
きない。しかしながら、アダプタピンのロッド部の径を
細くしただけでは、その分アダプタピンの曲げ強度が低
下するため、検査ポイントが高密度化、微細化した基板
の検査に対応できない；検査ポイントとアダプタピンと
の接触が不安定になって基板における布線状態の電気的
な検査を容易にして的確に行なうことができない；等の
問題点があった。

又従来の技術で述べた手段によって両面実装用の基板の
検査を行う場合、基板の上面側と下面側を異なる検査治
具を用いて行うため、検査機へのセット、リセットが面
倒である；検査治具を安価に提供できない；検査コスト
が比較的高いものになる；等の問題点を有していた。

本発明は、従来の技術の有するこのような問題点に鑑み
てなされたものであり、その目的とするところは、高密
度化、微細化された両面実装用の基板の検査に対応でき
るとともに、検査を容易かつ的確に行うことができる基
板検査機用アダプタ上下タイプを提供することにある。

本発明の他の目的は、両面実装用の基板を検査する検査
機へのセット、リセットが簡単であり、又この種の検査
を低廉に行うことができる基板検査機用アダプタ上下タ
イプを提供することにある。

本発明のもう一つ他の目的は、基板の下面側及び上面側
の両面の検査ポイントに対してアダプタピンの位置を微
調整でき、しかも最適な検査位置への調整を簡単に行え
る基板検査機用アダプタ上下タイプを提供することにあ
る。

本発明の更に他の目的は、基板の大きさに応じてオフグ
リッドアダプタを適宜選択して変えることができ、その
操作も簡単であるため、ランニングコストの低減化が図
れる基板検査機用アダプタ上下タイプを提供することに
ある。

［課題を解決するための手段〕 本発明は、検査機のフィクスチャに格子状に植え込まれ
ているコンタクトプローブの配設位置に対応させて穿設
した貫通孔を有するベースと、該ベースと平行に配置さ
れ、かつ該ベース上に立設した支柱を介してこのベース
に固定されているボードメンバと、前記ベースとボード
メンバ間に挿通され、先端部が被検査プリント配線板の
検査ポイントと接触し、基端部が検査機のコンタクトプ
ローブに接触するアダプタピンと、前記ベースとボード
メンバとの間に配設した、前記アダプタピンのたわみを
矯正するピンサポートボードを備えた第１のオフグリッ
ドアダプタと第２のオフグリッドアダプタとより構成さ
れ、前記第１のオフグリッドアダプタを構成している前
記ボードメンバが、被検査プリント配線板の表面パター
ンと前記アダプタピンとの位置関係を微調整するため可
動する微調ボードを含んで構成され、該微調ボードに、
被検査プリント配線板をセットする時に被検査プリント
配線板の位置出しに用いる基板ガイドビンを突設し、前
記微調ボードを水平方向の任意の方向へ微動させ得る微
調手段を設け、前記第１のオフグリッドアダプタと前記
第２のオフグリッドアダプタにおける各アダプタピンを
それぞれ被検査プリント配線板の下面と上面の検査ポイ
ントに接触させてプリント配線板の布線状態の検査を行
うことを特徴とするプリント配線板検査機用アダプタ上
下タイプである。

そして、上記第１のオフグリッドアダプタと第２のオフ
グリッドアダプタの各ベースは、上記アダプタピンの基
端部を案内するストックメッシェボードを含んで構成さ
れ、上記ベースと上記ボードメンバと上記アダプタピン
とでアダプタユニットを構成していることが好ましい。

［実施例］ 実施例について図面を参照して説明する。

第１図は本発明を構成する第１のオフグリッドアダプタ
を適用して構成した下側のオフグリッドアダプタの一実
施例を示す斜視図、第２図は本発明を構成する第２のオ
フグリッドアダプタを適用して構成した上側のオフグリ
ッドアダプタの一実施例を示す斜視図、第３図は本発明
に係るアダプタの要部断面略図である。

本発明に係る基板検査機用アダプタ上下タイプは、第１
のオフグリッドアダプタＡと第２のオフグリッドアダプ
タＢとより構成され、この第１のオフグリッドアダプタ
Ａと第２のオフグリッドアダプタＢにおける各アダプタ
ピン１０．６０を被検査基板３０の両面の検査ポイント
に接触させて、基板３０の布線状態の検査を行う。この
場合、第１図に示した第１のオフグリッドアダプタと第
２図に示した第２のオフグリッドアダプタを被検査基板
の寸法に対応して作成して準備しておき、検査時にその
被検査基板に適合した治具を用いて検査を実行する。

又上下のオフグリッドアダプタは、押圧時に全体が上下
動するように構成されている。従って、コンタクトプロ
ーブ、アダプタピンの接触がオフグリッドアダプタに使
用される各ボードや基板の板厚公差に影響されず、基板
の検査ポイントに最適荷重で接触するよう構成され、安
定した検査が可能である。

さて、前記第１のオフグリッドアダプタＡは、検査機の
フィクスチャ１に２．５４ｍｍ等格子状に植え込まれて
いるスプリングコンタクトプローブ２０の配設位置に対
応させて穿設した貫通孔３Ｃを有するベース３と、この
ベース３と平行に配置され、かつベース３上に立設した
支柱２１でベース３に固定されているボードメンバ５と
、前記ベース３とボードメンバ５の間に挿通され、先端
部が被検査基板３０の検査ポイントと接触し、基端部が
検査機のコンタクトプローブ２０に接触するアダプタピ
ンｌＯと、前記ベース３とボードメンバ５との開に配設
され、前記アダプタピン１０のたわみを矯正するピンサ
ポートボード４とを具備している。

前記フィクスチャ１には、既述のようにコンタクトプロ
ーブ２０が格子状に植え込まれており、この各コンタク
トプローブ２０はスイッチング回路と一対−で接続され
ている。

前記第１のオフグリッドアダプタＡは、プローブガード
プレート２にセットされる。このプローブガードプレー
ト２は、絶縁板により形成され、前記フィラスチャ１上
に取り付けられてスプリング３２（第３図参照）により
上下動する。そして、プローブガードプレート２には、
前記フィクスチャ１のコンタクトプローブ２０と同位置
に貫通孔２ａが穿設され、コンタクトプローブ２０をガ
ードしている。又このプローブガードプレート２には、
前記第１のオフグリッドアダプタＡを固定するためのク
ランプ手段１１と後述の自動基板厚調整用取手１４等が
取り付けられている。

前記ベース３は、絶縁板により形成されたメツシュボー
ド３Ａと、このメツシュボード３Ａ上に位置するストッ
クメツシュボード３Ｂとより構成されている。前記アダ
プタピン１ｏの基端部を案内するため、前記メツシュボ
ード３Ａには、フィクスチャ１のコンタクトプローブ２
０と略同ピツチに貫通孔が穿設され、その貫通孔３Ｃに
前記アダプタピン１０が１水死挿入される。このメツシ
ュボード３Ａは支柱２１、（Ｘ−Ｙ）微調手段１３等で
前記ボードメンバ５（の専用ボード６）に固定される。

同様に前記ストックメツシュボード３Ｂにおける前記コ
ンタクトプローブ２０と同じ位置にも貫通孔３Ｃが穿設
されている。又このストックメツシュボード３Ｂは１ｍ
ｍｍｍ下の比較的薄い板で形成されている。そして前記
ベース３と前記ボードメンバ５と前記アダプタピン１０
とでアダプタユニットを構成し、このアダプタユニット
を被検査基板ごとに取り外し交換して検査を行う。又第
５図に示すように、前記ストックメツシュボード３Ｂと
前記ボードメンバ５と前記アダプタピン１０とでアダプ
タユニットの本体部の形態を保持したまま保管すること
が可能に形成される。尚前記ストックメツシュボード３
Ｂは、支柱２１等でボードメンバ５と固定されている。

前記ピンサポートボード４は、前記メツシュボード３Ａ
と専用ボード６間における前言己アダプタピンのたわみ
を矯正するため配置され、前記アダプタピン１０挿通用
のビン挿通孔４ａが形成されている。しかして、前記ア
ダプタピン１０のロッド部の径が非常に細（なってもビ
ンのたわみは矯正される。この挿通孔４ａの位置は、前
記ボードメンバ５を構成している専用ボード６の貫通孔
の位置に一致していることが好ましい（多少ずれていて
も良い）。尚、このピンサポートボード４を複数枚層状
に配してもよいことは勿論である。

前記ボードメンバ５は、専用ボード６と、微調ボード７
とビンガイドボード８とより構成されている。このうち
、専用ボード６には、被検査基板３０の検査ポイントと
同じ位置に貫通孔６ａが穿設されており（第４図参照）
、アクリル材等の透明なボードにより形成される。前記
貫通孔６ａには前記アダプタピン１ｏが１水死挿入され
ている。かくして、前記アダプタピン１０は、前記ピン
サポートボード４の挿通孔４ａと前記ストックメツシュ
ボード３Ｂとメツシュボード３Ａの貫通孔３ｃに挿通さ
れる。又前記微調ボード７は、被検査基板の表面パター
ンと前記アダプタピン１０との位置関係を微調整するた
めのものであり、後述の微調手段１３を操作することに
より可動する。この微調ボード７は微調手段１３に固定
され、被検査基板をセットする時に被検査基板を位置精
度よくセットするための基板ガイドビン９が突設してい
る。更に、前記ピンガイドボード８には、前記専用ボー
ド６と同様に被検査基板の検査ポイントと同位置に貫通
孔８ａが穿設されている。

このビンガイドボード８は、前記アダプタピン１０の先
端位置精度を出すために用いるためのものであるととも
に、前記アダプタピン１０が抜は出さないようストッパ
の役目を果たしている。尚ボードメンバ５は、アダプタ
ピン１０を全て挿入した後、専用ボード６、微調ボード
７、ピンガイドボード８を順次セットすることにより形
成される。

前記基板ガイド、ビン９は、基板３０の隅部に形成され
た係止用小孔３０ａに挿入係止される。尚基板３０の下
面のパターンとアダプタピン１０との位置関係を微調整
する必要がない場合は、前記基板ガイドビン９は前記ピ
ンガイドボード８に固定され、又微調整する必要がある
場合は、前記基板ガイドビン９は微調ボード７に固定す
る。

前記アダプタピンｌＯは、被検査基板３０の検査ポイン
トと前記フィクスチャ１に使用されるコンタクトプロー
ブ２０とを電気的に接続するためリジッドなビンとして
形成されており、第１のオフグリッドアダプタＡを分解
することにより、恒久的な利用が可能である。また前記
アダプタピン１０がロッド径φ０．６ｍｍ以下の細いア
ダプタピンでは、ロッド部に絶縁コーティングを施しで
あるため、他のアダプタピンとの接触による短絡が全（
なく、組立てが非常に簡単である。

符号１３は前記微調ボード７を水平方向（第１図におけ
るＸ−Ｙ方向）の任意の方向へ微動させ得る微調手段で
あり、この微調手段１３を操作し、前記微調ボード７を
可動せしめて被検査基板３０の検査ポイントと第１のオ
フグリッドアダプタＡのアダプタピン１０との位置関係
を微調整する。この微調手段１３を操作することにより
、被検査基板３０の上面側と下面側の両面とも微調整す
ることが可能となる。符号１２は、第１のオフグリッド
アダプタＡを前記プローブガードプレート２上にセット
するとき、位置決めに用いるビンで、前記プローブガー
ドプレート２に固定されている。又符号１４は、前記プ
ローブガードプレート２上に取付けられた自動基板厚調
整用取手であり、被検査基板３０をコンタクトプローブ
の最適なストロークで加圧するために、被検査基板３０
の板厚によって加圧ストロークを自動的に調整する機構
が内蔵されている。この自動基板厚調整用取手１４の加
圧ストロークの調整は、第２のオフグリッドアダプタＢ
における取手６４を自動基板厚調整用取手１４に押圧す
ることにより行なわれる。又この自動基板厚調整用取手
１４で前記プローブガードプレート２を持ち上げること
が可能である。

第１のオフグリッドアダプタＡは上記の如く構成されて
おり、クランプ手段１１のトグルクランプ１１Ａを用い
て前記メツシュボード３Ａに着脱自在に取付けられる。

次に、被検査基板３０の上面側に配設される第２のオフ
グリッドアダプタＢについて説明すると、第２のオフグ
リッドアダプタＢが、検査機のフィクスチャ５１に格子
状に植え込まれているコンタクトプローブ７０の配設位
置に対応させて穿設した貫通孔５３ｃを有するベース５
３と、このベース５３と平行に配置され、かつベース５
３上に立設した支柱７１を介してこのベースに固定され
ているボードメンバ５５と、前記ベース５３とボードメ
ンバ５５間に挿通され、先端部が被検査基板３０の検査
ポイントと接触し、基端部が検査機のコンタクトプロー
ブ７０に接触するアダプタピン６０と、前記ベース５３
とボードメンバ５５との間に配設した、前記アダプタピ
ン６０のたわみを矯正するピンサポートボード５４を具
備している点；前記ベース５３がメツシュボード５３Ａ
とストックメツシュボード５３Ｂとより構成され、この
ベース５３と前記ボードメンバ５５と前記アダプタピン
６０とでアダプタユニットを構成している点は前記第１
のオフグリッドアダプタＡと同じであるが、前記ボード
メンバ５５が専用ボード５６とピンガイドボード５８よ
り構成されて微調ボードを含んでいない点：基板ガイド
ビンを有していない点が前記第１のオフグリッドアダプ
タＡの構成と異なる。符号５２はプローブガードプレー
ト、６１はクランプ手段、６２はパイロットビンである
。又６４はプローブガードプレート５２に取り付けられ
た取手であり、前記自動基板厚調整用取手１４に当接し
、取手１４と協働して下側のブローブガードプレート２
を水平に押し下げる。この取手６４はプローブガードプ
レート５２を持ち運ぶ際にも用いられる。

しかして、第１のオフグリッドアダプタＡと第２のオフ
グリッドアダプタＢとをセットして基板の検査をする際
、被検査基板の検査ポイントにアダプタピンの先端部は
最適荷重で接触しかつ上下のオフグリッドアダプタが平
行に上下動するよう、被検査基板の厚みに応じて、押圧
したときにオフグリッドアダプタの沈み量を自動的に調
整する。従って、被検査基板の厚みによっていちいちオ
フグリッドアダプタの沈み量を調整する必要が無く、作
業性が極めてよい。

更に、片面検査基板、両面同時検査基板にかかわらず、
このオフグリッドアダプタのみで基板の検査が可能であ
る。即ち、このオフグリッドアダプタは、下側のみにセ
ットして使用したり、下側と上側の両側にセットして使
用できるものでもある。

［発明の効果］ 本発明は、上述のとおり構成されているので次に記載す
る効果を奏する。

請求項１のアダプタを用いると、ボードメンバとベース
との間にピンサポートボードを配設しであるため、アダ
プタピンとして極めて細いものを使用することができ、
更にアダプタピンは、ボードメンバによってガイドされ
、アダプタピンの先端位置精度が良くなるため、検査ポ
イントが高密度化、微細化した基板のパターンの検査が
容易であり、しかも検査を的確に行なうことができる。

そして、上下のオフグリッドアダプタとも、そのセット
、リセットを検査機のクランプ機構を利用して簡単に行
なえるため、作業性が非常によい。

さらに被検査基板の下面、上面のパターンに応じて上下
のオフグリッドアダプタを両方とも微調整することがで
きるため、パターンの位置ずれに対して非常に有効であ
る。

又被検査基板に対しては、ボードメンバに穴加工を施す
ことだけで上下のオフグリッドアダプタとも組み立てる
ことができ、ランニングコストを非常に安くすることが
可能となるとともに、上下のオフグリッドアダプタの製
作時間の短縮化が図れる。

請求項２のアダプタを用いると、メツシュボードと分離
可能にストックメツシュボードを設けであるため、アダ
プタ保管時にアダプタ全体を分解することなく保管する
ことができ、又再検査に用いるときも、再び組み立てす
る部分が殆んどないため、再検査時に組立準備の時間を
あまり必要としない。

そして、上下のオフグリッドアダプタに使用されるアダ
プタピンは全（同じものを使用できるため、上下のオフ
グリッドアダプタに使用するアダプタピンを使いわける
必要がなく、組立て時の取扱いも簡単である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を構成する第１のオフグリッドアダプタ
を適用して構成した下側のオフグリッドアダプタの一実
施例を示す斜視図、第２図は本発明を構成する第２のオ
フグリッドアダプタを適用して構成した上側のオフグリ
ッドアダプタの一実施例を示す斜視図、第３図は本発明
に係るアダプタの要部断面略図、第４図は第１のオフグ
リッドアダプタの要部断面拡大略図、第５図は第１のオ
フグリッドアダプタのアダプタユニットを示す断面略図
、第６図は第２のオフグリッドアダプタの要部断面拡大
略図、第７図は第２のオフグリッドアダプタのアダプタ
ユニットを示す断面略図である。 １．５１・・・・フィクスチャ ２．５２・・・プローブガードプレート３．５３　・・
ペース ４．５４　・・ピンサポートボード ５．５５　・・・ボードメンバ ７・・・微調ボード ９・・・・基板ガイドビン ０．６０・・・・アダプタピン １，６１・・・・クランプ手段 ２．６２・・・・パイロットビン ３・・・・微調手段 １．７１・・・・支柱

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）検査機のフィクスチャに格子状に植え込まれてい
   るコンタクトプローブの配設位置に対応させて穿設した
   貫通孔を有するベースと、該ベースと平行に配置され、
   かつ該ベース 上に立設した支柱を介してこのベースに固定されている
   ボードメンバと、 前記ベースとボードメンバ間に挿通され、 先端部が被検査プリント配線板の検査ポイントと接触し
   、基端部が検査機のコンタクトプローブに接触するアダ
   プタピンと、 前記ベースとボードメンバとの間に配設し た、前記アダプタピンのたわみを矯正するピンサポート
   ボードを備えた第１のオフグリッドアダプタと第２のオ
   フグリッドアダプタとより構成され、 前記第１のオフグリッドアダプタを構成し ている前記ボードメンバが、被検査プリント配線板の表
   面パターンと前記アダプタピンとの位置関係を微調整す
   るため可動する微調ボードを含んで構成され、 該微調ボードに、被検査プリント配線板を セットする時に被検査プリント配線板の位置出しに用い
   る基板ガイドピンを突設し、 前記微調ボードを水平方向の任意の方向へ 微動させ得る微調手段を設け、前記第１のオフグリッド
   アダプタと前記第２のオフグリッドアダプタにおける各
   アダプタピンをそれぞれ被検査プリント配線板の下面と
   上面の検査ポイントに接触させてプリント配線板の布線
   状態の検査を行うことを特徴とするプリント配線板検査
   機用アダプタ上下タイプ。
2. （２）前記第１のオフグリッドアダプタと第２のオフグ
   リッドアダプタの各ベースが、前記アダプタピンの基端
   部を案内するストックメッシュボードを含んで構成され
   、前記ベースと前記ボードメンバと前記アダプタピンと
   でアダプタユニットを構成している請求項１記載のプリ
   ント配線板検査機用アダプタ上下タイプ。