JPH0438575U - - Google Patents
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- JPH0438575U JPH0438575U JP8024190U JP8024190U JPH0438575U JP H0438575 U JPH0438575 U JP H0438575U JP 8024190 U JP8024190 U JP 8024190U JP 8024190 U JP8024190 U JP 8024190U JP H0438575 U JPH0438575 U JP H0438575U
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- JP
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 13
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図は、本考案の一実施例の構成を示すブロ
ツク図である。 １……指令部、２……表示部、３……試験装置
本体、４……冷熱部、５……温度調節部、６……
テスト・プログラム、７……被試験ユニツト。
ツク図である。 １……指令部、２……表示部、３……試験装置
本体、４……冷熱部、５……温度調節部、６……
テスト・プログラム、７……被試験ユニツト。
Claims (1)
- 試験条件を指令する指令部と、試験結果を表示
する表示部と、マイクロ・コンピユータである中
央演算処理装置を実装した試験装置本体と、前記
マイクロ・コンピユータを起動させて、前記試験
装置本体内に収納された被試験ユニツトを試験す
るテスト・プログラムと、被試験ユニツトの雰囲
気を低高温にする冷熱部と、この冷熱部を制御し
被試験ユニツトの雰囲気を一定にする温度調節部
とで構成し、前記被試験ユニツトの雰囲気温度を
監視しながら試験装置本体内の複数種のパツケー
ジ試験を低高温状態で同時に行なうことを特徴と
するパツケージの試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8024190U JPH0438575U (ja) | 1990-07-27 | 1990-07-27 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8024190U JPH0438575U (ja) | 1990-07-27 | 1990-07-27 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0438575U true JPH0438575U (ja) | 1992-03-31 |
Family
ID=31625122
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8024190U Pending JPH0438575U (ja) | 1990-07-27 | 1990-07-27 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0438575U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0815238A (ja) * | 1994-07-05 | 1996-01-19 | Nec Corp | Ｉｃパッケージ評価システム |
-
1990
- 1990-07-27 JP JP8024190U patent/JPH0438575U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0815238A (ja) * | 1994-07-05 | 1996-01-19 | Nec Corp | Ｉｃパッケージ評価システム |
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