JPH043955A - ウェーハの連続処理装置及び連続処理方法 - Google Patents
ウェーハの連続処理装置及び連続処理方法Info
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- JPH043955A JPH043955A JP2106059A JP10605990A JPH043955A JP H043955 A JPH043955 A JP H043955A JP 2106059 A JP2106059 A JP 2106059A JP 10605990 A JP10605990 A JP 10605990A JP H043955 A JPH043955 A JP H043955A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
半導体ウェーハの複数工程連続処理装置に関し、ウェー
ハの装置間搬送時におけるウェーハへの異物付着の少な
いウェーハ枚葉管理方式連続処理装置を提供することを
目的とし、 第−の処理装置と第二の処理装置との間のつ工−ハ搬送
を中継する中継ポートが設けられており、第一の処理装
置と第二の処理装置は「半導体製造装置通信スタンダー
ド2 (SEC8−n)Jの仕様に基づくメツセージ
を交換して搬送を制御し、第二の処理装置が前記のSE
CS−nにおける材料発送要求メッセージ[S4F17
]を発信したのち第一の処理装置がその応答メッセージ
[S4F18]を発信し、その後第一のロボットがウェ
ーハを第一の処理装置から中継ポートに搬出したのちそ
のホームポジションに戻り、その後第一の処理装置が材
料受取要求メッセージ[S4FI iを発信したのち第
二の処理装置がその応答メッセージ[S4F2]を発信
し、その後第二の処理装置が材料受取準備完了メッセー
ジ[S4F3]を発信しその後第二のロボットがウェー
ハを前記中継ポートから第二の処理装置へ搬入したのも
そのホームポジションに戻るように構成する。
ハの装置間搬送時におけるウェーハへの異物付着の少な
いウェーハ枚葉管理方式連続処理装置を提供することを
目的とし、 第−の処理装置と第二の処理装置との間のつ工−ハ搬送
を中継する中継ポートが設けられており、第一の処理装
置と第二の処理装置は「半導体製造装置通信スタンダー
ド2 (SEC8−n)Jの仕様に基づくメツセージ
を交換して搬送を制御し、第二の処理装置が前記のSE
CS−nにおける材料発送要求メッセージ[S4F17
]を発信したのち第一の処理装置がその応答メッセージ
[S4F18]を発信し、その後第一のロボットがウェ
ーハを第一の処理装置から中継ポートに搬出したのちそ
のホームポジションに戻り、その後第一の処理装置が材
料受取要求メッセージ[S4FI iを発信したのち第
二の処理装置がその応答メッセージ[S4F2]を発信
し、その後第二の処理装置が材料受取準備完了メッセー
ジ[S4F3]を発信しその後第二のロボットがウェー
ハを前記中継ポートから第二の処理装置へ搬入したのも
そのホームポジションに戻るように構成する。
本発明は、半導体ウェーハの枚葉管理が可能な複数工程
連続処理装置に関する。
連続処理装置に関する。
近年、特定用途向けICの需要か非常に多くなっている
が、このうちゲートアレイ等のセミカスタムICでは極
端な多品種少量の生産となることが多(、しかも極端な
短納期を要求されることか多いため、このような品種を
生産する場合には、複数の処理装置からなるインライン
方式の自動化ラインを構築して、ウェーハを枚葉て管理
しなから一連の工程を順次処理して行く連続処理装置と
することが多い。このような連続処理装置では個々の処
理装置間で情報を交換する必要があり、この目的でS
E M I (Semiconductor Equi
pment andMaterials In5tit
ute)では、「半導体製造装置通信スタンダード2J
(SEMI Equipment Communi
cations 5tandard F5 ;略称rS
EC8−IIJ )を制定している。このスタンタート
は個々の半導体製造装置とホストコンピュータとて形成
する通信ネットワークにおいて交換するメツセージの形
式と意味を標準化したものであり、個々の製造装置につ
いて最小限の情報を持つだけてホストコンピュータ側の
ソフトウェアが構築出来ると共に、ホストコンピュータ
について最小限の情報を持つだけてそれぞれの製造装置
側のソフトウェアが構築出来るため、広く普及して来た
。
が、このうちゲートアレイ等のセミカスタムICでは極
端な多品種少量の生産となることが多(、しかも極端な
短納期を要求されることか多いため、このような品種を
生産する場合には、複数の処理装置からなるインライン
方式の自動化ラインを構築して、ウェーハを枚葉て管理
しなから一連の工程を順次処理して行く連続処理装置と
することが多い。このような連続処理装置では個々の処
理装置間で情報を交換する必要があり、この目的でS
E M I (Semiconductor Equi
pment andMaterials In5tit
ute)では、「半導体製造装置通信スタンダード2J
(SEMI Equipment Communi
cations 5tandard F5 ;略称rS
EC8−IIJ )を制定している。このスタンタート
は個々の半導体製造装置とホストコンピュータとて形成
する通信ネットワークにおいて交換するメツセージの形
式と意味を標準化したものであり、個々の製造装置につ
いて最小限の情報を持つだけてホストコンピュータ側の
ソフトウェアが構築出来ると共に、ホストコンピュータ
について最小限の情報を持つだけてそれぞれの製造装置
側のソフトウェアが構築出来るため、広く普及して来た
。
一方、半導体装置のパターンの微細化が進むに伴い、製
造工程での塵埃の存在が製品の歩留りに与える影響が益
々大きくなって来ているため、上記のSECS−nを採
用して構築された連続処理装置においても、ウェーハ搬
送時のウェーハへの異物付着が極力少ないことが望まれ
ている。
造工程での塵埃の存在が製品の歩留りに与える影響が益
々大きくなって来ているため、上記のSECS−nを採
用して構築された連続処理装置においても、ウェーハ搬
送時のウェーハへの異物付着が極力少ないことが望まれ
ている。
個々の処理装置間の通信プロトコルにSEMIのSEC
S−IIを採用した従来のウェーハ枚葉管理方式連続処
理装置の装置間搬送部を第2図により説明する。第2図
は従来のウェーハ連続処理装置における装置間搬送のシ
ーケンスを示す図である。図中、1は搬送されるウェー
ハである。21は第一の処理装置であり、搬出側の装置
である222は第二の処理装置であり、搬入側の装置で
ある一第一の処理装置21にはこの装置での処理を終え
たウェーハlを一時保管するための搬出ポート2]aと
ベルト搬送機構21bとを有し、第二の処理装置22に
はこの装置での処理を行うウェーハ1を一時保管するた
めの搬入ポート22aとベルト搬送機構22bとを有し
ている。ベルト搬送機構21bとベルト搬送機構22b
とは一直線上に近接して配置されており、両者が同方向
に駆動することにより第一の処理装置21の搬出ポート
2Ia上のウェーハか第二の処理装置22の搬入ポート
22aへ搬送される尚、このSECS−IIては、装置
間の材料搬送制御については[ストリーム4J (S
4)で扱われ、個々の処理のためのメツセージはファン
クションO〜18(FO〜18)に割り当てられており
、各ファンクションは例えば次のように規定されている
。
S−IIを採用した従来のウェーハ枚葉管理方式連続処
理装置の装置間搬送部を第2図により説明する。第2図
は従来のウェーハ連続処理装置における装置間搬送のシ
ーケンスを示す図である。図中、1は搬送されるウェー
ハである。21は第一の処理装置であり、搬出側の装置
である222は第二の処理装置であり、搬入側の装置で
ある一第一の処理装置21にはこの装置での処理を終え
たウェーハlを一時保管するための搬出ポート2]aと
ベルト搬送機構21bとを有し、第二の処理装置22に
はこの装置での処理を行うウェーハ1を一時保管するた
めの搬入ポート22aとベルト搬送機構22bとを有し
ている。ベルト搬送機構21bとベルト搬送機構22b
とは一直線上に近接して配置されており、両者が同方向
に駆動することにより第一の処理装置21の搬出ポート
2Ia上のウェーハか第二の処理装置22の搬入ポート
22aへ搬送される尚、このSECS−IIては、装置
間の材料搬送制御については[ストリーム4J (S
4)で扱われ、個々の処理のためのメツセージはファン
クションO〜18(FO〜18)に割り当てられており
、各ファンクションは例えば次のように規定されている
。
S4.Fl ・ 材料受取要求
S4.F2 ・ 材料受取要求の応答S4.F3
: 材料受取準備完了S4.F5 : 材料搬送
完了 84、F17: 材料発送要求 S4.FI8: 材料発送要求の応答この連続処理装
置における個々の処理装置間のウェーハ搬送のシーケン
スは次の通りである。先ず第二の処理装置22は搬入ポ
ート22a上にウェーハlがなくなると第一の処理装置
21に対して上記のメッセージ[S4F17]を送る。
: 材料受取準備完了S4.F5 : 材料搬送
完了 84、F17: 材料発送要求 S4.FI8: 材料発送要求の応答この連続処理装
置における個々の処理装置間のウェーハ搬送のシーケン
スは次の通りである。先ず第二の処理装置22は搬入ポ
ート22a上にウェーハlがなくなると第一の処理装置
21に対して上記のメッセージ[S4F17]を送る。
第一の処理装置21はその応答メッセージ[S4F18
]を第二の処理装置22に送る。この時点で第一の処理
装置21の搬出ポート21a上にウェーハlがあるとは
限らないが、ウェーハlが到達し次第、第一の処理装置
21はメッセージ[S4F1]を送信し、第二の処理装
置22はその応答メッセージ[S4F2]を第一の処理
装置21に送る。次に第二の処理装置22はベルト搬送
機構22bを駆動した後、メッセージ[S4F3]を第
一の処理装置21に送る。このメツセージを受信した第
一の処理装置21はベルト搬送機構21bを駆動する。
]を第二の処理装置22に送る。この時点で第一の処理
装置21の搬出ポート21a上にウェーハlがあるとは
限らないが、ウェーハlが到達し次第、第一の処理装置
21はメッセージ[S4F1]を送信し、第二の処理装
置22はその応答メッセージ[S4F2]を第一の処理
装置21に送る。次に第二の処理装置22はベルト搬送
機構22bを駆動した後、メッセージ[S4F3]を第
一の処理装置21に送る。このメツセージを受信した第
一の処理装置21はベルト搬送機構21bを駆動する。
すると第一の処理装置21の搬出ポート21a上のウェ
ーハlが第二の処理装置22の搬入ポート22aへ搬送
される。その後第二の処理装置22はメッセージ[S4
F5]を第一の処理装置21に送る。これてこの装置間
搬送を完結する。
ーハlが第二の処理装置22の搬入ポート22aへ搬送
される。その後第二の処理装置22はメッセージ[S4
F5]を第一の処理装置21に送る。これてこの装置間
搬送を完結する。
ところがこのような従来のウェーハ連続処理装置では、
個々の装置間の搬送には総てベルト搬送機構が用いられ
ているため、ウェーハの裏面に異物が付着し易い、とい
う問題がある。この異物付着の問題を解決する手段とし
て、搬送機構に搬送ロボットを採用することが有効であ
ることが知られている。しかし単にベルト搬送をロボッ
ト搬送に置き換えてrsEcs−I[Jの仕様に基づく
装置間搬送の制御を行うと、搬出側のロボットと搬入側
のロボットとが干渉する、という問題があった。
個々の装置間の搬送には総てベルト搬送機構が用いられ
ているため、ウェーハの裏面に異物が付着し易い、とい
う問題がある。この異物付着の問題を解決する手段とし
て、搬送機構に搬送ロボットを採用することが有効であ
ることが知られている。しかし単にベルト搬送をロボッ
ト搬送に置き換えてrsEcs−I[Jの仕様に基づく
装置間搬送の制御を行うと、搬出側のロボットと搬入側
のロボットとが干渉する、という問題があった。
本発明は、このような問題を解決して、ウェーハの装置
間搬送時におけるウェーハへの異物付着の少ないウェー
ハ枚葉管理方式連続処理装置を提供することを目的とす
る。
間搬送時におけるウェーハへの異物付着の少ないウェー
ハ枚葉管理方式連続処理装置を提供することを目的とす
る。
この目的は、本発明によれば、第一の処理装置と第二の
処理装置との間のウェーハ搬送を中継する中継ポートが
設けられており、第一の処理装置と第二の処理装置は「
半導体製造装置通信スタンダード2 (SEC8−II
) Jの仕様に基づくメツセージを交換して搬送を制御
し、第二の処理装置が前記のSECS−IIにおける材
料発送要求メッセージ[S4F17]を発信したのち第
一の処理装置がその応答メッセージ[S4F18]を発
信し、その後第一の処理装置内にホームポジションを有
する第一のロボットがウェーハを第一の処理装置から中
継ポートに搬出したのちそのホームポジションに戻り、
その後第一の処理装置が材料受取要求メッセージ[S4
F1]を発信したのち第二の処理装置がその応答メッセ
ージ[S4F2]を発信し、その後第二の処理装置が材
料受取準備完了メッセージ[S4F3]を発信し、その
後第二の処理装置内にホームポジションを有する第二の
ロボットがウェーハを前記中継ポートから第二の処理装
置へ搬入したのちそのホームポジションに戻ることを特
徴とするウェーハの連続処理装置とすることで、達成さ
れる。
処理装置との間のウェーハ搬送を中継する中継ポートが
設けられており、第一の処理装置と第二の処理装置は「
半導体製造装置通信スタンダード2 (SEC8−II
) Jの仕様に基づくメツセージを交換して搬送を制御
し、第二の処理装置が前記のSECS−IIにおける材
料発送要求メッセージ[S4F17]を発信したのち第
一の処理装置がその応答メッセージ[S4F18]を発
信し、その後第一の処理装置内にホームポジションを有
する第一のロボットがウェーハを第一の処理装置から中
継ポートに搬出したのちそのホームポジションに戻り、
その後第一の処理装置が材料受取要求メッセージ[S4
F1]を発信したのち第二の処理装置がその応答メッセ
ージ[S4F2]を発信し、その後第二の処理装置が材
料受取準備完了メッセージ[S4F3]を発信し、その
後第二の処理装置内にホームポジションを有する第二の
ロボットがウェーハを前記中継ポートから第二の処理装
置へ搬入したのちそのホームポジションに戻ることを特
徴とするウェーハの連続処理装置とすることで、達成さ
れる。
搬出側と搬入側の各搬送ロボットでウェーハを搬送する
には、受は渡しのための中継ポートが必要となる。rS
EC8−IIJの「ストリーム4」の仕様に基づいてロ
ボット搬送の制御を行う場合、第二の処理装置が材料受
取要求の応答メッセージ[S4F2]ヲ発信し、第二の
ロボットが中継ボートヘウエーハを受は取りに行った後
に第二の処理装置が材料受取準備完了メッセージ[S4
F3]を発信し、その後第一のロボットがウェーハを中
継ポートへ運ぶため、この中継ポートでロボット同士が
干渉することになる。
には、受は渡しのための中継ポートが必要となる。rS
EC8−IIJの「ストリーム4」の仕様に基づいてロ
ボット搬送の制御を行う場合、第二の処理装置が材料受
取要求の応答メッセージ[S4F2]ヲ発信し、第二の
ロボットが中継ボートヘウエーハを受は取りに行った後
に第二の処理装置が材料受取準備完了メッセージ[S4
F3]を発信し、その後第一のロボットがウェーハを中
継ポートへ運ぶため、この中継ポートでロボット同士が
干渉することになる。
一方、本発明では第一の処理装置が材料発送要求の応答
メッセージ[S4F18]受信後、先ず第一のロボット
がウェーハを中継ポートへ運んで直ちにそのホームポジ
ションに復帰し、次に材料受取要求とその応答のメッセ
ージ[S4F1]及び[34F2]の交換を行い、その
後に第二のロボットが中継ボートヘウエーハを受は取り
に行くため、ロボット同士の干渉はなくなる。従って、
特別のメツセージを新設することなく、rSEC8−I
IJの1ストリーム4」の仕様に基づいてロボット搬送
の制御を行うことが可能となる。
メッセージ[S4F18]受信後、先ず第一のロボット
がウェーハを中継ポートへ運んで直ちにそのホームポジ
ションに復帰し、次に材料受取要求とその応答のメッセ
ージ[S4F1]及び[34F2]の交換を行い、その
後に第二のロボットが中継ボートヘウエーハを受は取り
に行くため、ロボット同士の干渉はなくなる。従って、
特別のメツセージを新設することなく、rSEC8−I
IJの1ストリーム4」の仕様に基づいてロボット搬送
の制御を行うことが可能となる。
本発明に基づくウェーハ連続処理装置の実施例を説明す
る。この実施例では、レジスト塗布装置→露光装置→レ
ジスト現像装置、或いはウェーハ洗浄装置−CVD装置
、等が近接して配設されており、ウェーハを枚葉管理し
つつ装置間搬送して連続処理する。個々の処理装置間の
通信プロトコルにはS E M IのSECS−IIが
採用されている。
る。この実施例では、レジスト塗布装置→露光装置→レ
ジスト現像装置、或いはウェーハ洗浄装置−CVD装置
、等が近接して配設されており、ウェーハを枚葉管理し
つつ装置間搬送して連続処理する。個々の処理装置間の
通信プロトコルにはS E M IのSECS−IIが
採用されている。
その装置間搬送部について第1図により詳述する。
第1図は本発明の実施例における装置間搬送のシーケン
スを示す図である。図中、■は搬送されるウェーハであ
る。11は搬出側の装置であり、以後これを第一の処理
装置と呼ぶ二とにするっ12は搬入側の装置であり、以
後これを第二の処理装置と呼ぶことにする。第一の処理
装置11にはこの装置での処理を終えたウェーハ1を一
時保管するための搬出ポーH1aと搬送用のロボットl
1b(以後これを第一のロボットと記す)とを有し、第
二の処理装置12にはこの装置での処理を行うウェーハ
1を一時保管するための搬入ポート12aと搬送用のロ
ボット12b(以後これを第二のロボットと記す)とを
有している。第一のロボット11bと第二のロボット1
2bのホームポンジョンは、それぞれ第一の処理装置1
1及び第二の処理装置12の内部にある。
スを示す図である。図中、■は搬送されるウェーハであ
る。11は搬出側の装置であり、以後これを第一の処理
装置と呼ぶ二とにするっ12は搬入側の装置であり、以
後これを第二の処理装置と呼ぶことにする。第一の処理
装置11にはこの装置での処理を終えたウェーハ1を一
時保管するための搬出ポーH1aと搬送用のロボットl
1b(以後これを第一のロボットと記す)とを有し、第
二の処理装置12にはこの装置での処理を行うウェーハ
1を一時保管するための搬入ポート12aと搬送用のロ
ボット12b(以後これを第二のロボットと記す)とを
有している。第一のロボット11bと第二のロボット1
2bのホームポンジョンは、それぞれ第一の処理装置1
1及び第二の処理装置12の内部にある。
13はウェーハの受は渡しを行うための中継ポートであ
り、第一の処理装置11又は第二の処理装置12のいず
れかに付設される。
り、第一の処理装置11又は第二の処理装置12のいず
れかに付設される。
尚、このSECS−nては、装置間の材料搬送制御につ
いては「ストリーム4J (S4)で扱われ、個々の
処理のためのメツセージはファンクションO〜18(F
O〜18)に割り当てられている。
いては「ストリーム4J (S4)で扱われ、個々の
処理のためのメツセージはファンクションO〜18(F
O〜18)に割り当てられている。
二の連続処理装置における個々の処理装置間のウェーハ
搬送のシーケンスは次の通りである。先ず第二の処理装
置12は搬入ポーH2a上にウェーハlがな(なると第
一の処理装置11に対してウェーハ発送要求のメッセー
ジ[S4F17iを送る。第一の処理装置11はその応
答メツセージ[54F18)を第二の処理装置12に送
る。この時点て第一の処理装置11の搬出ポート11a
上にウェーハ1があるとは限らないが、ウェーハ1が到
達し次第、第一のロボット11bは先ずアームをホーム
ポンジョンから搬出ポーH1aに移動してウェーハエの
裏面でこれを真空吸着し、次にアームを中継ポート13
へ移動してここで吸着を解除してウェーハ1をこの中継
台13に載置した後、アームを再びそのホームポジショ
ンに戻す。その後第一の処理装置11がウェーハ受取要
求のメッセージ[S4F1]を第二の処理装置12に送
る。第二の処理装置12はその応答メッセージ[S4F
2Jを第一の処理装置1]に送る。次に第二の処理装置
12は受取準備完了のメッセージ[S4F3]を第一の
処理装置11に送り、更に第二のロボット12bのアー
ムを先ずホームポジションから中継ポート13に移動し
てウェーハ1の裏面てこれを真空吸着し、次にアームを
搬入ポート12aへ移動してここで吸着を解除してウェ
ーハ1をこの搬入ポート12aに載置した後、アームを
再びそのホームポジションに戻す。その後第二の処理装
置]2は搬送完了のメッセーノC34F5]を第一の処
理装置11に送って、この装置間搬送を完結する。
搬送のシーケンスは次の通りである。先ず第二の処理装
置12は搬入ポーH2a上にウェーハlがな(なると第
一の処理装置11に対してウェーハ発送要求のメッセー
ジ[S4F17iを送る。第一の処理装置11はその応
答メツセージ[54F18)を第二の処理装置12に送
る。この時点て第一の処理装置11の搬出ポート11a
上にウェーハ1があるとは限らないが、ウェーハ1が到
達し次第、第一のロボット11bは先ずアームをホーム
ポンジョンから搬出ポーH1aに移動してウェーハエの
裏面でこれを真空吸着し、次にアームを中継ポート13
へ移動してここで吸着を解除してウェーハ1をこの中継
台13に載置した後、アームを再びそのホームポジショ
ンに戻す。その後第一の処理装置11がウェーハ受取要
求のメッセージ[S4F1]を第二の処理装置12に送
る。第二の処理装置12はその応答メッセージ[S4F
2Jを第一の処理装置1]に送る。次に第二の処理装置
12は受取準備完了のメッセージ[S4F3]を第一の
処理装置11に送り、更に第二のロボット12bのアー
ムを先ずホームポジションから中継ポート13に移動し
てウェーハ1の裏面てこれを真空吸着し、次にアームを
搬入ポート12aへ移動してここで吸着を解除してウェ
ーハ1をこの搬入ポート12aに載置した後、アームを
再びそのホームポジションに戻す。その後第二の処理装
置]2は搬送完了のメッセーノC34F5]を第一の処
理装置11に送って、この装置間搬送を完結する。
本発明は以上の実施例に限定されることなく、更に種々
変形して実施出来る。
変形して実施出来る。
以上説明したように、本発明によれば、ウェハ搬送時に
おけるウェーハへの異物付着の防止が可能なウェーハ枚
葉管理方式連続処理装置を提供することか出来、多品種
少量生産の場合の半導体ウェーハ処理工程における歩留
り向上に寄与するところか大である。
おけるウェーハへの異物付着の防止が可能なウェーハ枚
葉管理方式連続処理装置を提供することか出来、多品種
少量生産の場合の半導体ウェーハ処理工程における歩留
り向上に寄与するところか大である。
第1図は本発明の実施例における装置間搬送のシーケン
スを示す図、 第2図は従来の連続処理装置における装置間搬送のシー
ケンスを示す図、である。 図中、■はウェーハ 11、21は第一の処理装置、 11a、 21aは搬出ポート、 11b、第一のロボット、 12、22は第二の処理装置、 12a、 22aは搬入ポート、 13は中継ポート、 21b、 22bはベルト搬送機構、である。 搬送4PL構とウェーハの伏旭 メ・・セ −〉変操 従来のil続処理装置における装置間搬送のシ第2図 ケンメモ示す図
スを示す図、 第2図は従来の連続処理装置における装置間搬送のシー
ケンスを示す図、である。 図中、■はウェーハ 11、21は第一の処理装置、 11a、 21aは搬出ポート、 11b、第一のロボット、 12、22は第二の処理装置、 12a、 22aは搬入ポート、 13は中継ポート、 21b、 22bはベルト搬送機構、である。 搬送4PL構とウェーハの伏旭 メ・・セ −〉変操 従来のil続処理装置における装置間搬送のシ第2図 ケンメモ示す図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 複数の処理装置を有し、各処理装置間はウェーハを自
動搬送し、該ウェーハに複数の処理を連続して行う装置
であって、 隣接する第一の処理装置(11)と第二の処理装置(1
2)との間のウェーハ搬送を中継する中継ポート(13
)が設けられており、 第一の処理装置(11)と第二の処理装置(12)とは
「半導体製造装置通信スタンダード2(SECS−II)
」の仕様に基づくメッセージを交換して前記ウェーハ(
1)の搬送を制御し、 第二の処理装置(12)が前記のSECS−IIにおける
材料発送要求メッセージ[S4F17]を発信したのち
第一の処理装置(11)がその応答メッセージ[S4F
18]を発信し、 その後第一の処理装置(11)内にホームポジションを
有する第一のロボット(11b)がウェーハ(1)を第
一の処理装置(11)から中継ポート(13)に搬出し
たのちそのホームポジションに戻り、 その後第一の処理装置(11)が材料受取要求メッセー
ジ[S4F1]を発信したのち第二の処理装置(12)
がその応答メッセージ[S4F2]を発信し、その後第
二の処理装置(12)が材料受取準備完了メッセージ[
S4F3]を発信し、 その後第二の処理装置(12)内にホームポジションを
有する第二のロボット(12b)がウェーハを前記中継
ポート(13)から第二の処理装置(11)へ搬入した
のちそのホームポジションに戻ること、を特徴とするウ
ェーハの連続処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2106059A JP2546027B2 (ja) | 1990-04-20 | 1990-04-20 | ウェーハの連続処理装置及び連続処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2106059A JP2546027B2 (ja) | 1990-04-20 | 1990-04-20 | ウェーハの連続処理装置及び連続処理方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH043955A true JPH043955A (ja) | 1992-01-08 |
| JP2546027B2 JP2546027B2 (ja) | 1996-10-23 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP2106059A Expired - Fee Related JP2546027B2 (ja) | 1990-04-20 | 1990-04-20 | ウェーハの連続処理装置及び連続処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2546027B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11214278A (ja) * | 1998-01-14 | 1999-08-06 | Samsung Electronics Co Ltd | 半導体製造設備管理システムの設備ユニット状態管理方法 |
| JP2003000335A (ja) * | 2001-06-21 | 2003-01-07 | Yoshida Industry Co Ltd | コンパクト容器 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5527367A (en) * | 1978-08-18 | 1980-02-27 | Canon Inc | Recording medium liquid |
| JPS63229836A (ja) * | 1987-03-19 | 1988-09-26 | Nikon Corp | ウエハ検査装置 |
-
1990
- 1990-04-20 JP JP2106059A patent/JP2546027B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5527367A (en) * | 1978-08-18 | 1980-02-27 | Canon Inc | Recording medium liquid |
| JPS63229836A (ja) * | 1987-03-19 | 1988-09-26 | Nikon Corp | ウエハ検査装置 |
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| JPH11214278A (ja) * | 1998-01-14 | 1999-08-06 | Samsung Electronics Co Ltd | 半導体製造設備管理システムの設備ユニット状態管理方法 |
| JP2003000335A (ja) * | 2001-06-21 | 2003-01-07 | Yoshida Industry Co Ltd | コンパクト容器 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2546027B2 (ja) | 1996-10-23 |
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