JPH0441021B2 - - Google Patents

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JPH0441021B2
JPH0441021B2 JP24482185A JP24482185A JPH0441021B2 JP H0441021 B2 JPH0441021 B2 JP H0441021B2 JP 24482185 A JP24482185 A JP 24482185A JP 24482185 A JP24482185 A JP 24482185A JP H0441021 B2 JPH0441021 B2 JP H0441021B2
Authority
JP
Japan
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switch
amplifier
time
ray
input
Prior art date
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Application number
JP24482185A
Other languages
Japanese (ja)
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JPS62102739A (en
Inventor
Hirofumi Yanagida
Hideaki Uno
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
GE Healthcare Japan Corp
Original Assignee
Yokogawa Medical Systems Ltd
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Publication date
Application filed by Yokogawa Medical Systems Ltd filed Critical Yokogawa Medical Systems Ltd
Priority to JP60244821A priority Critical patent/JPS62102739A/en
Publication of JPS62102739A publication Critical patent/JPS62102739A/en
Publication of JPH0441021B2 publication Critical patent/JPH0441021B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はX線断層撮像装置に関し、更に詳しく
は、測定誤差の改善に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to an X-ray tomographic imaging apparatus, and more particularly, to improvement of measurement errors.

(従来の技術) 第3図はパルス照射方式のX線断層撮像装置の
要部構成図である。図において、1はX線管、2
はX線管1から照射されるX線を検出する多数の
X線検出器(本例では502個)よりなるX線検出
器列であり、これらX線管1及びX線検出器列2
は被検体Tを中心にして回転可能に配置されてい
る。X線管1から照射されるX線の一部は被検体
Tで吸収減衰されてX線検出器列2を構成するX
線検出器22〜2501で検出され、電流信号に変換
される。一方、被検体Tを透過しないX線はX線
検出器列2の両端に設けられたリフアレンスX線
検出器A(21)及びB(2502)で検出され、電流
信号に変換される。これら各X線検出器21〜25
02の出力端子はコンデンサ31〜3502を介して共
通電位点に接続されると共に第1のスイツチ41
〜4502を介して増幅器5に共通に接続されてい
る。該増幅器5の入力端子は第2のスイツチ6を
介して共通電位点に接続され、出力端子はA/D
変換器7に接続されている。該A/D変換器7の
出力端子は計算機8に接続されている。9は第1
のスイツチ41〜4502及び第2のスイツチ6をオ
ン・オフ制御するための制御信号を送出する制御
回路であり、該制御回路9には外部クロツク信号
源10の出力端子が接続されている。即ち、第1
のスイツチ41〜4502、第2のスイツチ6及び制
御回路9は、各コンデンサ31〜3502に充電され
る電圧を選択的に増幅器5及びA/D変換器7で
構成される測定回路に入力する入力選択回路を構
成している。
(Prior Art) FIG. 3 is a block diagram of the main parts of a pulse irradiation type X-ray tomographic imaging apparatus. In the figure, 1 is an X-ray tube, 2
is an X-ray detector row consisting of a large number of X-ray detectors (502 in this example) that detects X-rays emitted from the X-ray tube 1, and these X-ray tubes 1 and X-ray detector row 2
is arranged rotatably around the subject T. A part of the X-rays emitted from the X-ray tube 1 is absorbed and attenuated by the subject T, and the X-rays forming the X-ray detector array 2 are
It is detected by line detectors 2 2 to 2 501 and converted into a current signal. On the other hand, X-rays that do not pass through the subject T are detected by reference X-ray detectors A (2 1 ) and B (2 502 ) provided at both ends of the X-ray detector array 2, and converted into a current signal. Each of these X-ray detectors 2 1 to 2 5
The output terminal of 02 is connected to a common potential point via capacitors 3 1 to 3 502 and is connected to the first switch 4 1
~4 502 are commonly connected to the amplifier 5. The input terminal of the amplifier 5 is connected to a common potential point via a second switch 6, and the output terminal is connected to the A/D
It is connected to the converter 7. The output terminal of the A/D converter 7 is connected to a computer 8. 9 is the first
This is a control circuit that sends out control signals for on/off control of the switches 4 1 to 4 502 and the second switch 6, and the output terminal of an external clock signal source 10 is connected to the control circuit 9. . That is, the first
The switches 4 1 to 4 502 , the second switch 6 , and the control circuit 9 selectively control the voltage charged in each of the capacitors 3 1 to 3 502 by a measurement circuit composed of an amplifier 5 and an A/D converter 7. It constitutes an input selection circuit for inputting to the .

このような構成において、各コンデンサ31
502はX線検出器21〜2502の検出電流で充電さ
れ、該各コンデンサ31〜3502に充電された電圧
は第1のスイツチ41〜4502及び増幅器5を介し
てA/D変換器7に加えられてデジタル信号に変
換される。そして、A/D変換器7で変換された
デジタル信号は計算機8に加えられて所定の演算
処理が行われる。又、第1のスイツチ41〜4502
をオンにした状態で第2のスイツチ6をオンにす
ることにより、各コンデンサ31〜3502のリセツ
ト(放電)が行われる。
In such a configuration, each capacitor 3 1 to
3 502 is charged with the detection current of the X-ray detectors 2 1 to 2 502 , and the voltage charged in each of the capacitors 3 1 to 3 502 is passed through the first switch 4 1 to 4 502 and the amplifier 5 to the A/ The signal is added to a D converter 7 and converted into a digital signal. Then, the digital signal converted by the A/D converter 7 is applied to a computer 8, where predetermined arithmetic processing is performed. Also, the first switches 4 1 to 4 502
By turning on the second switch 6 with the capacitors 3 1 to 3 502 turned on, each capacitor 3 1 to 3 502 is reset (discharged).

第4図は第3図の装置における従来の駆動例を
示すタイムチヤートであり、X線がパルス状に照
射される例を示している。第4図において、aは
検出電流Iを示し、b〜dはそれぞれ第1のスイ
ツチ41〜4502の動作を示し、eは第2のスイツ
チ6の動作を示している。
FIG. 4 is a time chart showing a conventional driving example of the apparatus shown in FIG. 3, and shows an example in which X-rays are irradiated in a pulsed manner. In FIG. 4, a indicates the detection current I, b to d indicate the operation of the first switches 4 1 to 4 502 , respectively, and e indicates the operation of the second switch 6.

第1のスイツチ41〜4502は、検出電流Iが無
い時刻t1において同時にオンになり、検出電流I
が無い時刻t2において同時にオフとなる。検出電
流Iは第1のスイツチ41〜4502がオフになつた
後の時刻t3において立ち上がり、一定時間経過後
の時刻t4において立ち上がる。一方、第2のスイ
ツチ6は、検出電流Iが立ち下がつた後の時刻t5
においてオフとなる。これにより、各コンデンサ
1〜3502のリセツトは第1のスイツチ41〜450
及び第2のスイツチ6がオンになる時刻t1にお
いて同時に開始され、第1のスイツチ41〜4502
がオフになる時刻t2までに完了する。その後、第
2のスイツチ6がオフになる時刻t5までに各コン
デンサ31〜3502が検出電流Iにより充電され
る。このようにして各コンデンサ31〜3502の充
電が完了すると、第1のスイツチ41〜4502が例
えば第5図に示すような所定の順序に従つて順次
一定の時間づつオンとなり、各コンデンサ31
502に充電された電圧の走査測定が行われる。
即ち、時刻t5において第2のスイツチ6がオフと
なると同時に例えば第1のスイツチ4249がオン
となりコンデンサ3249に充電された電圧の測定
が行われ、時刻t6において第1のスイツチ4249
オフとなると同時に第2のスイツチ4250がオン
になりコンデンサ3250に充電された電圧の測定
が行われる。このような電圧測定動作がコンデン
サ3502まで順次行われる。
The first switches 4 1 to 4 502 are turned on simultaneously at time t 1 when there is no detection current I.
At time t2 when there is no time, the power is turned off at the same time. The detection current I rises at time t3 after the first switches 41 to 4502 are turned off, and rises at time t4 after a certain period of time has elapsed. On the other hand, the second switch 6 operates at time t 5 after the detection current I falls.
It turns off at . As a result, each capacitor 3 1 to 3 502 is reset by the first switch 4 1 to 4 50
2 and the second switch 6 are turned on at time t1 , and the first switches 41 to 4502
is completed by time t 2 when it turns off. Thereafter, each of the capacitors 3 1 to 3 502 is charged by the detection current I until time t 5 when the second switch 6 is turned off. When charging of each capacitor 3 1 to 3 502 is completed in this way, the first switches 4 1 to 4 502 are turned on for a certain period of time in a predetermined order as shown in FIG. Capacitor 3 1 ~
A scanning measurement of the voltage charged to 3 502 is taken.
That is, at time t5 , the second switch 6 is turned off, and at the same time, for example, the first switch 4249 is turned on, and the voltage charged in the capacitor 3249 is measured, and at time t6 , the first switch 4249 is turned off. At the same time as the capacitor 3 250 is turned off, the second switch 4 250 is turned on and the voltage charged in the capacitor 3 250 is measured. Such voltage measurement operation is performed sequentially up to capacitor 3 502 .

尚、回転中心近傍に位置するX線検出器2249
から2250→2248→2251→…→A(21)→B(250
)の順に左右に広がる方向に走査測定する例を
示したが、これは隣接するX線検出器の測定を可
能な限り接近した時刻で行うようにしたことによ
る。
In addition, X-ray detector 2 located near the center of rotation 249
From 2 250 →2 248 →2 251 →…→A(2 1 )→B(2 50
2 ) An example was shown in which scanning measurements are performed in a direction that spreads from side to side in the order of 2), but this is because measurements of adjacent X-ray detectors are performed at times as close as possible.

さて、このようなパルスX線照射方式の装置
で、X線を連続照射して観測する場合について考
察してみる。第4図に示すような駆動によれば、
各コンデンサ31〜3502のリセツト完了から電圧
測定開始までの時間はそれぞれ異なつているの
で、この駆動方式を連続照射の場合にそのまま適
用すると各コンデンサ31〜3502の充電時間に差
が生じ測定電圧が不正確になる。
Now, let's consider the case of continuous irradiation of X-rays and observation using such a pulsed X-ray irradiation system. According to the drive shown in Fig. 4,
Since the time from the completion of reset of each capacitor 3 1 to 3 502 to the start of voltage measurement is different, if this drive method is applied as is in the case of continuous irradiation, a difference will occur in the charging time of each capacitor 3 1 to 3 502 . Measured voltage becomes inaccurate.

例えば商用電源を全波整流することにより得ら
れる脈流波の高電圧で連続的にX線を発生させる
ように構成されたX線断層撮像装置の場合には、
商用電源に存在する波形歪等によつてそのX線は
2周期毎に変動する脈流波となり、検出電流を正
確に測定できないことになる。又、測定に寄与す
る検出電流の利用効率が低下してしまうという欠
点もある。そこで、これを解決する一つの策とし
て出願人は第6図に示すような駆動方式を実現し
た。
For example, in the case of an X-ray tomographic imaging device configured to continuously generate X-rays using high voltage pulsating waves obtained by full-wave rectification of commercial power supply,
Due to waveform distortion and the like existing in the commercial power supply, the X-rays become pulsating waves that fluctuate every two cycles, making it impossible to accurately measure the detected current. Another drawback is that the efficiency of using the detection current that contributes to measurement is reduced. Therefore, as a measure to solve this problem, the applicant has realized a driving system as shown in FIG.

即ち、各チヤンネルの第1のスイツチをクロツ
クCLの周期Toでオンし、且つそのオンの時間を
一定にすると共にオン時間の後半Trs時間第2の
スイツチをオンにしてコンデンサをリセツトす
る。これにより各コンデンサは、そのタイミング
にはズレがあるものの充電時間は一律にTo−
Trsとなり、検出電流を正確に測定することがで
きるようになつている。
That is, the first switch of each channel is turned on at the period To of the clock CL, and its on time is kept constant, and the second switch is turned on for the latter half of the on time Trs to reset the capacitor. As a result, each capacitor has a uniform charging time, although there is a difference in timing.
Trs, which enables accurate measurement of detection current.

(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、高速化を目指す場合、検出電流
の高速サンプリングが要求されるが、A/D変換
器に前置した増幅器を単に高速応答型のものに代
えると、それによつて雑音が増加し測定誤差が生
ずるという問題がある。
(Problems to be Solved by the Invention) However, when aiming for high speed, high-speed sampling of the detection current is required, but if the amplifier installed in front of the A/D converter is simply replaced with a high-speed response type, This poses a problem in that noise increases and measurement errors occur.

又、入力をサンプルしてA/D変換した後、次
のチヤンネルのサンプル及びA/D変換までの
間、A/D変換器は待ち状態となつており、A/
D変換器の利用効率が悪く、全チヤンネルの入力
をA/D変換する時間が長くかかることになり、
高速化を阻害する要因となつている。
Also, after sampling the input and performing A/D conversion, the A/D converter is in a waiting state until the next channel is sampled and A/D converted.
The use efficiency of the D converter is poor, and it takes a long time to A/D convert the input of all channels.
This is a factor that hinders speeding up.

本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、そ
の目的は、連続的にX線を照射するX線断層撮像
装置において、ことさら高速応答型の増幅器を使
用することなく、又、A/D変換器の個数を増加
することなく、測定誤差が小さく全入力のA/D
変換に要する時間の短いX線断層撮像装置を提供
することにある。
The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide an X-ray tomographic imaging apparatus that continuously irradiates X-rays without using a high-speed response amplifier, and to provide an A/D A/D for all inputs with small measurement errors without increasing the number of converters
An object of the present invention is to provide an X-ray tomography device that requires a short time for conversion.

(問題点を解決するための手段) このような問題点を解決する本発明は、被検体
に連続的にX線を照射するX線管と、被検体を回
転中心としてX線管と対向配置され被検体を通過
したX線を検出するX線検出器列と、該X線検出
器列の各X線検出器の検出電流によりそれぞれ充
電される多数のコンデンサと、該コンデンサに充
電される電圧を選択してA/D変換器に入力する
入力選択回路を具備してなるX線断層撮像装置に
おいて、前記入力選択回路は、前記多数のコンデ
ンサの出力をそれぞれ選択して取り出す第一のス
イツチと、前記多数のコンデンサを複数のグルー
プに分けその各グループごとに1個ずつ対応して
設けられた多数の増幅器と、各増幅器の出力を択
一的に選択してA/D変換器に入力する第3のス
イツチと、各増幅器の入力と共通電位点の間に接
続される第2のスイツチと、第3のスイツチで多
数の増幅器の出力を順次択一的に選択すると共
に、その出力が選択された増幅器がA/D変換
後、次回の選択までの間に第2のスイツチにより
入力のリセツトが行われた後、第1のスイツチに
より次のチヤンネルの入力をサンプル整定して待
機するように各スイツチを制御する制御回路とか
ら構成されたことを特徴とするものである。
(Means for Solving the Problems) The present invention, which solves these problems, consists of an X-ray tube that continuously irradiates the subject with X-rays, and an X-ray tube that is arranged opposite to the X-ray tube with the subject as the center of rotation. A row of X-ray detectors that detects X-rays that have passed through the subject, a number of capacitors each charged by the detection current of each X-ray detector in the row of X-ray detectors, and a voltage charged to the capacitors. In the X-ray tomographic imaging apparatus, the input selection circuit includes a first switch that selects and takes out the outputs of the plurality of capacitors, respectively. , the plurality of capacitors are divided into a plurality of groups, one amplifier is provided for each group, and the output of each amplifier is selectively selected and inputted to an A/D converter. A third switch, a second switch connected between the input of each amplifier and a common potential point, and a third switch sequentially alternatively select the outputs of the multiple amplifiers, and the outputs are selected. After A/D conversion of the selected amplifier, the input is reset by the second switch until the next selection, and then the first switch samples and settles the input of the next channel and waits. The device is characterized in that it is comprised of a control circuit that controls each switch.

(実施例) 以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説
明する。
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail using the drawings.

第1図は本発明の一実施例の構成図で、特に本
発明の特徴とする部分の構成のみ示してある。従
つて図示しない部分は第3図の従来例と同一であ
る。第2図は動作説明のためのタイムチヤートで
ある。第1図はX線検出器の出力を4グループに
分けてコンデンサ電圧を増幅する例を示してい
る。第1のグループはコンデンサC11〜C1nの充
電電圧を、第1のスイツチS11〜S1n経由で第1
の増幅器A1に入力し増幅し、第3のスイツチ
SS1を介してA/D変換器7に導くようになつて
いる。尚、増幅器A1の入力端は第2のスイツチ
SR1を介して共通電位点に接続されている。他の
グループ即ち第2〜第4のグループについてもこ
れと同じ構成である。
FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention, and particularly only the configuration of the portions that are characteristic of the present invention are shown. Therefore, the parts not shown are the same as the conventional example shown in FIG. FIG. 2 is a time chart for explaining the operation. FIG. 1 shows an example in which the output of the X-ray detector is divided into four groups and the capacitor voltage is amplified. The first group transfers the charging voltage of the capacitors C 11 to C 1 n to the first switch S 11 to S 1 n via the first switch S 11 to S 1 n.
input to the amplifier A1, amplified, and the third switch
The signal is led to the A/D converter 7 via SS1 . Note that the input terminal of amplifier A1 is connected to the second switch.
Connected to common potential point via SR 1 . The same configuration applies to the other groups, that is, the second to fourth groups.

各スイツチは図示しない制御回路によつて適宜
にオン・オフ制御される。このような構成におけ
る動作を次に説明する。第2図に示すt1の時点に
おいては、第1のスイツチS11がオンになつてか
ら十分時間が経過している。コンデンサC11の充
電電圧信号はスイツチS11を介して増幅器A1に
より増幅され、t1−t3の期間にオンになる第3の
スイツチSS1を介してA/D変換器7に導かれ
A/D変換して計測される。
Each switch is appropriately turned on and off by a control circuit (not shown). The operation in such a configuration will be explained next. At time t1 shown in FIG. 2, sufficient time has elapsed since the first switch S11 was turned on. The charging voltage signal of the capacitor C11 is amplified by the amplifier A1 via the switch S11 , and is led to the A/D converter 7 via the third switch SS1, which is turned on during the period t1 - t3 . /D conversion and measurement.

次のt3−t5の期間ではスイツチSS1がオフとな
ると共に、スイツチSS2がオンとなる。t3の時点
ではコンデンサC21の信号は十分時間をかけて増
幅器A2により増幅されている。そして、t3−t5
の期間内にA/D変換され計測される。
During the next period t 3 - t 5 , switch SS 1 is turned off and switch SS 2 is turned on. At time t3 , the signal on capacitor C21 has been amplified by amplifier A2 over a sufficient period of time. And t 3t 5
It is A/D converted and measured within the period of .

一方、t3の時点で第2のスイツチSR1がオンと
なり、t3−t4の期間にコンデンサC11の電荷が放電
され、更にt4の時点になるとスイツチS11がオフ
となり、スイツチSR1によりt4−t5の期間にわた
つて増幅器A1の入力がリセツトされる。
On the other hand, at time t 3 , the second switch SR 1 is turned on, the charge of the capacitor C 11 is discharged during the period t 3 - t 4 , and at time t 4 , the switch S 11 is turned off, and the switch SR 1 resets the input of amplifier A1 over the period t 4 -t 5 .

次にt5の時点になると第1のスイツチS12がオ
ンになり、そのままt11の時点までオン状態が保
持され、コンデンサC12の信号が増幅器A1によ
り増幅されて出力されている。このためコンデン
サC12による信号はt9時点までに整定されればよ
いことになる。この信号はt9−t11の期間でA/D
変換される。同様にして、t7−t9ではスイツチ
SS4がオンとなりC41による信号がA/D変換さ
れ計測される。
Next, at time t5 , the first switch S12 is turned on and remains on until time t11 , and the signal from the capacitor C12 is amplified by the amplifier A1 and output. Therefore, the signal from capacitor C12 only needs to be stabilized by time t9 . This signal is A/D in the period t 9 - t 11
converted. Similarly, at t 7t 9 , the switch is
SS 4 is turned on and the signal from C 41 is A/D converted and measured.

以下、同様な動作を繰り返し最後のチヤンネル
のC4nによる信号が計測され、走査が終了する。
Thereafter, the same operation is repeated and the signal due to C 4 n of the last channel is measured, and the scanning is completed.

このようにして、A/D変換器7は待ち時間を
要することなく全チヤンネルのコンデンサ電圧を
A/D変換してゆく。この場合の増幅器A1〜A
4としては高速応答型のものを全く必要としな
い。
In this way, the A/D converter 7 A/D converts the capacitor voltages of all channels without requiring any waiting time. Amplifiers A1 to A in this case
4 does not require a high-speed response type at all.

尚、実施例ではチヤンネルを4つのグループに
分けて4個の増幅器を使用する例を示したが、こ
れに限定されるものではなく、mグループに分け
m個の増幅器を用いて構成してよく、同様にその
目的が達せられる。この場合全チヤンネルをA/
D変換する時間はmの値には左右されず、同じ時
間である。
Although the embodiment shows an example in which the channel is divided into four groups and four amplifiers are used, the present invention is not limited to this, and the channel may be divided into m groups and configured using m amplifiers. , the purpose is achieved as well. In this case, all channels are A/
The time for D conversion is the same regardless of the value of m.

又、mを大きくすれば整定させる時間がより長
くなり、そのため低速で雑音の少ない増幅器を使
用することができる。その結果測定誤差が小さく
正確な検出電流計測が可能となる。
Also, if m is increased, the settling time will be longer, and therefore a slower, less noisy amplifier can be used. As a result, accurate detection current measurement with small measurement errors becomes possible.

(発明の効果) 以上説明したように、本発明によれば、A/D
変換の待ち時間を無くすことができると共に、増
幅器に関して次のような利点が得られる。
(Effects of the Invention) As explained above, according to the present invention, the A/D
Conversion latency can be eliminated and the following advantages can be obtained with respect to the amplifier:

即ち、従来のものでは第6図に示されるように
t2−t1,t4−t3,t7−t6の時間内に増幅器が十分セ
トリングしている必要があり、現実には増幅器の
セトリング時間ぎりぎりのところで計測していた
が、本発明によれば全入力の計測を行う時間を従
来より短くすると同時に十分なセトリング時間を
取ることができ、低速型の増幅器によつても誤差
の小さいデータを得ることができる。
That is, in the conventional system, as shown in Fig. 6,
It is necessary for the amplifier to settle sufficiently within the time periods t 2 - t 1 , t 4 - t 3 , and t 7 - t 6 , and in reality, measurements were taken at the very edge of the amplifier's settling time, but the present invention According to the method, it is possible to shorten the time for measuring all inputs compared to the conventional method, and at the same time, it is possible to take sufficient settling time, and it is possible to obtain data with small errors even with a low-speed amplifier.

又、増幅器のゲインを従来方式のものより更に
大きくすることができるため、データ収集装置の
ダイナミツクレンジを広げることができる利点が
ある。
Further, since the gain of the amplifier can be made larger than that of the conventional method, there is an advantage that the dynamic range of the data acquisition device can be expanded.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の要部実施例構成図、第2図は
動作説明のためのタイムチヤート、第3図は従来
装置の一例を示す構成図、第4図は従来装置の動
作を説明するためのタイムチヤート、第5図は走
査順序を説明する図、第6図は第3図装置におけ
る他の動作を示すタイムチヤートである。 1……X線管、2……X線検出器列、C11〜C4
n……コンデンサ、S11〜S4n……第1のスイツ
チ、SR1〜SR4……第2のスイツチ、A1〜A4
……増幅器、SS1〜SS4……第3のスイツチ、7
……A/D変換器、8……計算器、9……制御回
路、10……外部クロツク信号源。
Fig. 1 is a block diagram of an embodiment of the main part of the present invention, Fig. 2 is a time chart for explaining the operation, Fig. 3 is a block diagram showing an example of a conventional device, and Fig. 4 is a diagram explaining the operation of the conventional device. FIG. 5 is a diagram explaining the scanning order, and FIG. 6 is a time chart showing other operations in the apparatus shown in FIG. 3. 1...X-ray tube, 2...X-ray detector row, C 11 to C 4
n...Capacitor, S11 to S4 n...First switch, SR1 to SR4 ...Second switch, A1 to A4
...Amplifier, SS 1 to SS 4 ...Third switch, 7
... A/D converter, 8 ... Calculator, 9 ... Control circuit, 10 ... External clock signal source.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 被検体に連続的にX線を照射するX線管と、
被検体を回転中心としてX線管と対向配置され被
検体を通過したX線を検出するX線検出器列と、
該X線検出器列の各X線検出器の検出電流により
それぞれ充電される多数のコンデンサと、該コン
デンサに充電される電圧を選択してA/D変換器
に入力する入力選択回路を具備してなるX線断層
撮像装置において、前記入力選択回路は、前記多
数のコンデンサの出力をそれぞれ選択して取り出
す第1のスイツチと、前記多数のコンデンサを複
数のグループに分けその各グループごとに1個ず
つ対応して設けられた多数の増幅器と、各増幅器
の出力を択一的に選択してA/D変換器に入力す
る第3のスイツチと、各増幅器の入力と共通電位
点の間に接続される第2のスイツチと、第3のス
イツチで多数の増幅器の出力を順次択一的に選択
すると共に、その出力が選択された増幅器がA/
D変換後、次回の選択までの間に第2のスイツチ
により入力のリセツトが行われた後、第1のスイ
ツチにより次のチヤンネルの入力をサンプル整定
して待機するように各スイツチを制御する制御回
路とから構成されたことを特徴とするX線断層撮
像装置。
1. An X-ray tube that continuously irradiates the subject with X-rays,
an X-ray detector array that is arranged opposite to the X-ray tube with the subject as a rotation center and detects X-rays that have passed through the subject;
It includes a large number of capacitors each charged by the detection current of each X-ray detector in the X-ray detector array, and an input selection circuit that selects the voltage charged to the capacitor and inputs the voltage to the A/D converter. In the X-ray tomographic imaging apparatus, the input selection circuit includes a first switch that selects and takes out the outputs of the plurality of capacitors, and a first switch that divides the plurality of capacitors into a plurality of groups, one switch for each group. A large number of amplifiers provided in correspondence with each other, a third switch that selectively selects the output of each amplifier and inputs it to the A/D converter, and a connection between the input of each amplifier and a common potential point. A second switch and a third switch selectively select the outputs of a large number of amplifiers in sequence, and the amplifier whose output is selected is
After D conversion, the second switch resets the input until the next selection, and then the first switch controls each switch so that it samples and settles the input of the next channel and waits. An X-ray tomographic imaging device comprising a circuit.
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