JPH0442449A - Developing device for disk - Google Patents
Developing device for diskInfo
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- JPH0442449A JPH0442449A JP15122890A JP15122890A JPH0442449A JP H0442449 A JPH0442449 A JP H0442449A JP 15122890 A JP15122890 A JP 15122890A JP 15122890 A JP15122890 A JP 15122890A JP H0442449 A JPH0442449 A JP H0442449A
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- JP
- Japan
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- developer
- resist plate
- development
- exposure
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- Pending
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- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はディスクの現像装置に関し、より詳細には露光
後のレジスト板を現像して露光溝を形成する光ディスク
の現像装置の改良に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a developing device for a disk, and more particularly to an improvement in a developing device for an optical disk that develops a resist plate after exposure to form exposure grooves.
(従来の技術)
先ディスク原盤のスタンバ製作工程において、ガラス板
上にレジストを塗布したレジスト板を露光する露光工程
と、露光されたレジスト板を現像する現像工程は、スタ
ンバの溝形状を決定する上で重要な工程である。(Prior art) In the step of manufacturing the standby of the previous disk master, the exposure step of exposing a resist plate coated with resist on a glass plate and the development step of developing the exposed resist board determine the groove shape of the standby. This is an important process.
露光工程に用いられるAr”レーザは、温度や湿度等の
外乱によって影響を受けやすく、同じ露光量で露光して
も溝形状を一定にすることが困難であることに加え、A
r”レーザ自体の光量変動も数%程度存している。The Ar'' laser used in the exposure process is easily affected by disturbances such as temperature and humidity, and it is difficult to maintain a constant groove shape even when exposed with the same amount of light.
There is also a variation in the light amount of the r'' laser itself of about several percent.
そこで、露光工程後の現像工程において、現像時間の調
整を行なうことにより、現像後の溝形状を一定にする現
像方式がある。この現像方式は、レジスト板を現像しな
がら該レジスト板に露光面と直交する方向よりHe−N
eレーザ光を照射したときに、現像によって経時的に形
成される露光溝が回折格子となり、この回折格子によっ
て得られるレーザ光の回折光量をモニタしてこの値が設
定回折光量になるまで現像を行なうものである。Therefore, there is a development method in which the groove shape after development is made constant by adjusting the development time in the development step after the exposure step. In this development method, while developing the resist plate, He-N is applied to the resist plate in a direction perpendicular to the exposed surface.
e When the laser beam is irradiated, the exposure grooves formed over time by development become a diffraction grating, and the amount of diffracted light of the laser beam obtained by this diffraction grating is monitored, and development is continued until this value reaches the set amount of diffracted light. It is something to do.
従来のこの種の現像装置は、例えば第2図に示すように
、露光後のレジスト板lをバキュームエアにより露光面
1aを上向きにした状態で吸着載置するチャッキングテ
ーブル3と、チャッキングデープル3を回転駆動する回
転モータ5と1回転するレジスト板1の回転中心部の上
方に配置されて露光面la上に現像液7を滴下する現像
液口9とを備え、現像液口9より滴下された現像液7が
回転するレジスト板lの遠心力によりその中心部から外
縁部に向けて渦巻き状に流れることにより、露光面1a
全面が現像されるよう構成されている(いわゆるスピン
現像)、このような露光後の現像工程により、例えば第
3図(a) 、 (b)に示すように、ガラス板IA上
に塗布されたレジストIBの露光部が現像時間が経過す
るに従って深く侵食され露光溝ICが形成される。As shown in FIG. 2, a conventional developing device of this type includes a chucking table 3 on which an exposed resist plate 1 is suctioned and mounted using vacuum air with the exposed surface 1a facing upward, and a chucking table 3, as shown in FIG. It is equipped with a rotary motor 5 that rotationally drives the pull 3 and a developer port 9 that is disposed above the center of rotation of the resist plate 1 that rotates once and drops the developer 7 onto the exposure surface la. The dropped developer 7 flows spirally from the center toward the outer edge due to the centrifugal force of the rotating resist plate l, thereby forming the exposed surface 1a.
The entire surface is developed (so-called spin development). Through such a post-exposure development process, a film coated on a glass plate IA is used, as shown in FIGS. 3(a) and 3(b), for example. As the development time elapses, the exposed portion of the resist IB is deeply eroded and an exposed groove IC is formed.
回転モータ5の下方にはHe−Neレーザ光源l】が配
置され、このレーザ光源IIはHe−Neレーザ光(図
中で一点am図示)をミラー12を介してレジスト板l
の下方より露光面!aと直交する方向に照射するもので
ある。He−Neレーザ光はレジスト板lを透過し、H
e−Neレーザ光の照射方向の0次回折光(−点鎖線図
示)と、現像により形成されて回折格子となる露光溝I
Cに回折された1次回折光(二点鎖線図示)とに回折さ
れる。そして、チャッキングテーブル3の上方には、!
次回折光の光量をモニタする回折光量モニタ13が配設
され、回折光量モニタI3により検出される回折光量が
設定値となるまで現像が行なわれる。A He-Ne laser light source l] is arranged below the rotary motor 5, and this laser light source II emits a He-Ne laser beam (one point am shown in the figure) through a mirror 12 to the resist plate l.
The exposed side from below! It irradiates in a direction perpendicular to a. The He-Ne laser beam passes through the resist plate l, and the H
The 0th-order diffracted light in the irradiation direction of the e-Ne laser beam (indicated by the - dotted chain line) and the exposure groove I that is formed by development and becomes a diffraction grating.
The first-order diffracted light is diffracted into C (indicated by a two-dot chain line). And above the chucking table 3!
A diffracted light amount monitor 13 is provided to monitor the amount of the next diffracted light, and development is performed until the amount of diffracted light detected by the diffracted light amount monitor I3 reaches a set value.
第4図はこのような現像工程における現像時間と回折光
量との相関図であって、現像工程の経過により露光溝t
Cの形状、即ち回折格子としての形状も変化して回折光
量も変動するため、現像開始直後は回折光量が比較的急
激に上昇するのに対し、ある程度現像が進行すると回折
光量の上昇率が鈍化している。従って、所定形状の露光
溝lCを得るための回折光量を予め設定するとともに。FIG. 4 is a correlation diagram between the development time and the amount of diffracted light in such a development process, and shows that the exposure groove t changes as the development process progresses.
The shape of C, that is, the shape of the diffraction grating changes, and the amount of diffracted light changes, so the amount of diffracted light increases relatively rapidly immediately after the start of development, but once development progresses to a certain extent, the rate of increase in the amount of diffracted light slows down. are doing. Therefore, the amount of diffracted light for obtaining an exposure groove 1C having a predetermined shape is set in advance.
回折光量モニタ13の検出による回折光量がこの設定回
折光量となるまで現像を行なうことにより、所定形状の
露光7111cを得ることができる。By performing development until the amount of diffracted light detected by the diffraction light amount monitor 13 reaches the set amount of diffracted light, exposure 7111c having a predetermined shape can be obtained.
しかしながら、このような従来の現像装置にあっては2
回転するレジスト板1kに滴下された現像液7が渦巻き
状に広がりながら現像が行なわれるため、レジスト板】
上を流れる現像液7の厚さを径方向に沿ってみると波状
となって変動し、He−Neレーザ11の透過部におけ
る透過率が変動して回折光量が変動する。このようにレ
ジスト板1上において変動する現像液7の厚さが一定の
部分を求めることは困難であり、各ディスク毎における
溝形状のばら付きを招来していた。However, in such a conventional developing device, 2
The developing solution 7 dropped on the rotating resist plate 1k spreads in a spiral shape while developing, so the resist plate
When the thickness of the developer 7 flowing thereon is seen along the radial direction, it changes in a wavy manner, and the transmittance in the transmission part of the He-Ne laser 11 changes, causing the amount of diffracted light to change. In this way, it is difficult to find a portion on the resist plate 1 where the varying thickness of the developer 7 is constant, resulting in variations in the groove shape for each disk.
(発明の目的)
本発明は、上記課題に着目してなされたもので、露光量
が変動しても現像工程にて露光溝の形状を一定にするこ
とができ、且つレジスト板上にある現像液の厚さを一定
にすることができて各ディスク毎における露光溝の再現
を高精度なものとすることができるディスクの現像装置
の提供を目的とする。(Object of the Invention) The present invention has been made with attention to the above-mentioned problems, and it is possible to keep the shape of the exposure groove constant in the development process even if the exposure amount fluctuates, and to An object of the present invention is to provide a disk developing device that can make the thickness of the liquid constant and reproduce exposure grooves on each disk with high precision.
(発明の構成)
上記目的を達成するため、本発明は、レジスト板の露光
面を現像液に浸して露光溝を形成するとともに、前記レ
ジスト板の露光面と直交する方向にレーザ光を照射し、
該レーザ光がレジスト板を透過する際に露光溝を回折格
子として回折された回折光の光量を検出し、この検出光
量が所定量に達したとき現像を終了することにより所定
形状の露光溝を形成するディスクの現像装置であって。(Structure of the Invention) In order to achieve the above object, the present invention immerses the exposed surface of a resist plate in a developer to form an exposure groove, and irradiates a laser beam in a direction perpendicular to the exposed surface of the resist plate. ,
When the laser beam passes through the resist plate, the exposure groove is used as a diffraction grating to detect the amount of diffracted light, and when the detected amount of light reaches a predetermined amount, development is terminated to form an exposure groove of a predetermined shape. A developing device for forming a disc.
n記現像液を収容した容器と、nkN光面が該容器内の
現俸液面に対面するようにレジスト板の上面を吸着する
チャッキングテーブルと、このチャッキングテーブルを
昇降移動する昇降機構とを備えている。a container containing n developer; a chucking table that adsorbs the upper surface of the resist plate so that the nkN optical surface faces the surface of the current liquid in the container; and a lifting mechanism that moves the chucking table up and down. It is equipped with
この昇降機構は、現像時に前記レジスト板の露光面だけ
を現像液面に浸漬する高さにチャッキングテーブルを下
降する一方、現像終了後に前記レジスト板の露光面を現
像液面から上昇させることを特徴としている。This elevating mechanism lowers the chucking table to a height such that only the exposed surface of the resist plate is immersed in the developer solution level during development, while raising the exposed surface of the resist plate from the developer solution level after development is completed. It is a feature.
以下1本発明の好適な実施例を図面に基づいて詳細に説
明する。Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例に係るディスクの現像装置の
構成図を示し、従来例と同様な構成要素には同符合を附
して説明を省略する。FIG. 1 shows a configuration diagram of a disk developing device according to an embodiment of the present invention, and the same components as in the conventional example are given the same reference numerals and the explanation thereof will be omitted.
本実施例において特徴的な点は、現像液7が収容された
容器15と、レジスト板1を露光面!aが下向きに位置
するよう吸着するチャッキングテーブル17と、このチ
ャッキングテーブル17を昇降移動する昇降機構19と
を備え、この昇降機構19は、現像時においてレジスト
板lの露光面1aが現像液7の水面と平行な位置にて現
像液7に浸漬され、且つ露光面1aと反対側に位置する
チャッキング面lb側に現像液7が回り込まない位2に
チャッキングテーブル17を下降する一方、現像終了時
においてはレジスト板lの露光面1aを現像液面Sから
離間させる位置までチャッキングテーブル17を上昇す
る位置関係を有して成る点に存する。The characteristic points of this embodiment are that the container 15 containing the developer 7 and the resist plate 1 are used as the exposure surface! A is provided with a chucking table 17 that attracts the resist plate 1 so that it is positioned downward, and an elevating mechanism 19 that moves the chucking table 17 up and down. While lowering the chucking table 17 to a position 2 such that the developer 7 is immersed in the developer 7 at a position parallel to the water surface of 7 and the developer 7 does not go around to the side of the chucking surface lb located opposite to the exposure surface 1a, At the end of development, the chucking table 17 is raised to a position where the exposed surface 1a of the resist plate 1 is separated from the developer surface S.
そして、He−NeレーザI+は容器15の下方に配置
され、該レーザ夏1より照射されたHe−Neレーザ光
はミラー12を介して現像液7を透過してレジスト板l
の露光面+aより入射する。また、回折光量モニタ13
は、容器15の上方であって現像により露光面1aに形
成された露光溝ICを回折格子として得られた1次回折
光をモニタする位置に配置されている。The He-Ne laser I+ is disposed below the container 15, and the He-Ne laser beam irradiated from the laser beam 1 passes through the developer 7 through the mirror 12 and passes through the resist plate 1.
The light is incident from the exposed surface +a. In addition, the diffraction light amount monitor 13
is disposed above the container 15 at a position to monitor the first-order diffracted light obtained by using the exposure groove IC formed on the exposure surface 1a by development as a diffraction grating.
次に作用を説明する。Next, the effect will be explained.
上記構成において、露光されたレジスト板lを露光面1
aを下に向けた状態でチャッキングテーブル17で吸着
し、昇降機構19を駆動することにより、露光面1aが
現像液7に浸され、且つ露光面1aと反対側に位置する
チャツキング面(上面)lb側に現像液7が回り込まな
い位置にチャッキングテーブル17が下降する。この結
果、時間の経過とともに現像が進行し、露光部に露光溝
ICが形成されて回折格子となる。In the above configuration, the exposed resist plate l is placed on the exposed surface 1.
a facing down on the chucking table 17, and by driving the elevating mechanism 19, the exposed surface 1a is immersed in the developer 7, and the chucking surface (upper surface) located on the opposite side to the exposed surface 1a is ) The chucking table 17 is lowered to a position where the developer 7 does not go around to the lb side. As a result, development progresses with the passage of time, and exposure grooves IC are formed in the exposed area, forming a diffraction grating.
He−Neレーザ光源11より出射されたレーザ光はレ
ジスト板lに照射されており、現像が進行するに従い上
記回折格子により回折光が発生する。この回折光は回折
光量モニタ13により検出され、予め設定された回折光
量が得られるまでレジスト板!がその位置にて保持され
る。設定された回折光量が得られたら、昇降機構19を
駆動することにより、チャッキングテーブル17が上方
へ移動されて露光面taが現像液面Sから離間して現像
が中止された後、水による洗浄工程に移行される。The resist plate 1 is irradiated with laser light emitted from the He--Ne laser light source 11, and as development progresses, diffracted light is generated by the diffraction grating. This diffracted light is detected by the diffracted light amount monitor 13, and the resist plate is pressed until a preset amount of diffracted light is obtained. is held in that position. When the set amount of diffracted light is obtained, the chucking table 17 is moved upward by driving the lifting mechanism 19, and the exposure surface ta is separated from the developer surface S, and development is stopped. Move on to the cleaning process.
容器15内の現像液量が変化し水位が変化したときは、
昇降機構19はレジスト板lの露光面laが現像液7の
水面と平行な位置にて現像液7に浸され、且つ露光面1
aと反対側に位置するチャッキング面lb側に現像液7
が回り込まない位置にチャッキングテーブル17を下降
するよう構成されていると共に1図示しない現像液補給
装置より現像液7が補給される。When the amount of developer in the container 15 changes and the water level changes,
The elevating mechanism 19 is arranged such that the exposed surface la of the resist plate l is immersed in the developer 7 at a position parallel to the water surface of the developer 7, and
Developing solution 7 is placed on the chucking surface lb side opposite to a.
The chucking table 17 is configured to be lowered to a position where it does not turn around, and developer solution 7 is supplied from a developer supply device (not shown).
このように回折光量モニタ13によってモニタされた回
折光量に基づいて現像の進行状態を判断することにより
、露光工程における露光光量が適正でなくとも溝形状を
一定に形成することができる。しかも、現像液7の厚さ
(容器I5の底部から露光面1aまでの高さ)は、レジ
スト板lの露光面+a全全面渡って同一となるため、H
e−Neレーザ光の透析率が露光面1a全面にて均一と
なり、従来のように現像液の厚さが変動して回折光mが
変動することはない、従って、いずれかの位置における
回折格子の回折光量を回折光量モニタ13により検出す
れば、その検出値に基づいて得られたディスク毎の溝形
状のばら付きを抑えることができ安定して再現性を得る
ことができる。By determining the progress of development based on the amount of diffracted light monitored by the diffraction light amount monitor 13 in this manner, it is possible to form a groove shape in a constant manner even if the amount of exposure light in the exposure step is not appropriate. Moreover, the thickness of the developer 7 (the height from the bottom of the container I5 to the exposed surface 1a) is the same over the entire exposed surface + a of the resist plate l, so H
The dialysis rate of the e-Ne laser beam is uniform over the entire exposed surface 1a, and the diffracted light m does not vary due to variations in the thickness of the developer as in the conventional case. Therefore, the diffraction grating at any position By detecting the amount of diffracted light using the diffracted light amount monitor 13, it is possible to suppress variations in the groove shape of each disk based on the detected value, and to obtain stable reproducibility.
また、現像時においても、レジスト板1のチャツキング
面1bに現像液7が回り込まず、レジスト板lのチャツ
キング面1bにおける屈折率が大気中においてn=1で
あるため、現像液7の回り込みによる回折光の屈折率変
化を防止することができ、高精度な回折光量のモニタを
行なうことができる。In addition, even during development, the developer 7 does not go around the chucking surface 1b of the resist plate 1, and the refractive index at the chucking surface 1b of the resist plate 1 is n=1 in the atmosphere, so the diffraction due to the developer 7 going around Changes in the refractive index of light can be prevented, and the amount of diffracted light can be monitored with high precision.
さらに、レジスト板lは、露光面1aを下方にしてチャ
ッキングテーブル17に吸着されるため、露光面1aに
塵埃が付着することによる不具合を解消することができ
る。Furthermore, since the resist plate 1 is attracted to the chucking table 17 with the exposure surface 1a facing downward, it is possible to eliminate problems caused by dust adhering to the exposure surface 1a.
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、レジスト板を露
光面が下向きとなるようチャッキングテーブルに吸着し
、且つ昇降機構によりチャッキングテーブルの高さを調
整しつつ現像を行なうことができる構成としたため、露
光量が変動しても現像工程にて露光溝の形状を一定にす
ることができ、且つレジスト板上にある現像液の厚さを
一定にすることができて各ディスク毎における露光溝の
再現を高精度なものとすることができるという効果を得
ることができる。(Effects of the Invention) As explained above, according to the present invention, the resist plate is attracted to the chucking table so that the exposed surface faces downward, and development is performed while adjusting the height of the chucking table using the lifting mechanism. Because of the structure that allows this, even if the exposure amount fluctuates, the shape of the exposure groove can be kept constant in the developing process, and the thickness of the developer on the resist plate can be kept constant. It is possible to obtain the effect that the reproduction of the exposure grooves on each disk can be made highly accurate.
第1図は本発明に係るディスクの現像装置の一実施例を
示す構成図、第2図は従来列に係る現像装置の構成図、
第3図(a) 、 (blは現像時間とともに露光溝が
形成される過程を示す図、第4図は現像時間と回折光量
との相関図である。
l・・・レジスト板、la・・・露光面、Ib・・・チ
ャツキング面、IC・・・露光溝、7・・・現像液、I
b・・・容器、17・・・チャッキングテーブル、19
・・・昇降機構
特許出頓大 株式会社リコー
第1図
第3図
(O)
(b)
B
A
B
A
第2図
芋4図
菜 灸 時背FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a disk developing device according to the present invention, FIG. 2 is a block diagram of a conventional developing device,
Fig. 3(a), (bl is a diagram showing the process of forming exposure grooves with development time, and Fig. 4 is a correlation diagram between development time and amount of diffracted light. l...Resist plate, la...・Exposure surface, Ib...chucking surface, IC...exposure groove, 7...developer, I
b...Container, 17...Chucking table, 19
... Lifting mechanism patented item Ricoh Co., Ltd. Figure 1 Figure 3 (O) (b) B A B A Figure 2 Potato 4 Figure Moxibustion Time back
Claims (1)
とともに、前記レジスト板の露光面と直交する方向にレ
ーザ光を照射し、該レーザ光がレジスト板を透過する際
に露光溝を回折格子として回折された回折光の光量を検
出し、この検出光量が所定量に達したとき現像を終了す
ることにより所定形状の露光溝を形成するディスクの現
像装置であって、 前記現像液を収容した容器と、前記露光面が該容器内の
現像液面に対面するようにレジスト板の上面を吸着する
チャッキングテーブルと、このチャッキングテーブルを
昇降移動する昇降機構とを備え、 この昇降機構は、現像時に前記レジスト板の露光面だけ
を現像液面に浸漬する高さにチャッキングテーブルを下
降する一方、現像終了後に前記レジスト板の露光面を現
像液面から上昇させることを特徴とするディスクの現像
装置。[Scope of Claims] The exposed surface of the resist plate is immersed in a developer to form exposure grooves, and a laser beam is irradiated in a direction perpendicular to the exposed surface of the resist plate, and the laser beam is transmitted through the resist plate. A disk developing device that forms exposure grooves of a predetermined shape by detecting the amount of diffracted light that is diffracted using the exposure groove as a diffraction grating and ending development when the detected amount of light reaches a predetermined amount. , a container containing the developer, a chucking table that sucks the upper surface of the resist plate so that the exposed surface faces the developer surface in the container, and a lifting mechanism that moves the chucking table up and down. The elevating mechanism lowers the chucking table to a height such that only the exposed surface of the resist plate is immersed in the developer solution level during development, and raises the exposed surface of the resist plate from the developer solution level after development is completed. A disc developing device characterized by:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15122890A JPH0442449A (en) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | Developing device for disk |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15122890A JPH0442449A (en) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | Developing device for disk |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0442449A true JPH0442449A (en) | 1992-02-13 |
Family
ID=15514047
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15122890A Pending JPH0442449A (en) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | Developing device for disk |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0442449A (en) |
-
1990
- 1990-06-08 JP JP15122890A patent/JPH0442449A/en active Pending
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