JPH0442470A - クロツク抽出回路 - Google Patents
クロツク抽出回路Info
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- JPH0442470A JPH0442470A JP2150637A JP15063790A JPH0442470A JP H0442470 A JPH0442470 A JP H0442470A JP 2150637 A JP2150637 A JP 2150637A JP 15063790 A JP15063790 A JP 15063790A JP H0442470 A JPH0442470 A JP H0442470A
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- Japan
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- clock
- reference clock
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- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
以下の順序で本発明を説明する。
A産業上の利用分野
B発明の概要
C従来の技術(第5図〜第7図)
D発明が解決しようとする課題(第8図、第9図)8課
題を解決するための手段(第1図、第3図)F作用(第
1図、第3図) G実施例 (G1)第1実施例のクロック抽出回路(第1図、第2
図) (G2)第2実施例のクロック抽出回路(第3図、第4
図) (G3)他の実施例 H発明の効果 A産業上の利用分野 本発明はクロック抽出回路に関し、例えばデータレコー
ダの再生系に用いられるものに適用して好適なものであ
る。
題を解決するための手段(第1図、第3図)F作用(第
1図、第3図) G実施例 (G1)第1実施例のクロック抽出回路(第1図、第2
図) (G2)第2実施例のクロック抽出回路(第3図、第4
図) (G3)他の実施例 H発明の効果 A産業上の利用分野 本発明はクロック抽出回路に関し、例えばデータレコー
ダの再生系に用いられるものに適用して好適なものであ
る。
B発明の概要
本発明は、セルフクロラフ方式の人力データからクロッ
クを抽出するクロック抽出回路において、基準クロック
又は入力データに基づいて発生したロック検出用データ
と、入力データ又は基準クロックとに応じてフェーズロ
ックドループがロックしているか否かを検出するように
したことにより、確実にロック状態を検出し得る。
クを抽出するクロック抽出回路において、基準クロック
又は入力データに基づいて発生したロック検出用データ
と、入力データ又は基準クロックとに応じてフェーズロ
ックドループがロックしているか否かを検出するように
したことにより、確実にロック状態を検出し得る。
C従来の技術
従来、磁気テープ上に所望の情報データを記録し再生す
るデータレコーダにおいては、いわゆるセルフクロック
方式によるデータ伝送系が採用されており、情報データ
がクロックを含んで変調されて磁気テープ上に記録され
、再生時再生ディジタル信号中からクロックを抽出し、
当該クロックに応じて再生ディジタル信号を復調して情
報データを得るようになされている。
るデータレコーダにおいては、いわゆるセルフクロック
方式によるデータ伝送系が採用されており、情報データ
がクロックを含んで変調されて磁気テープ上に記録され
、再生時再生ディジタル信号中からクロックを抽出し、
当該クロックに応じて再生ディジタル信号を復調して情
報データを得るようになされている。
すなわち、第5図に示すように、データレコーダのデー
タ再生装W1は磁気テープ2に記録された情報データを
ヘッド3によって読み出した後、ヘッド増幅回路4及び
イコライザ回路5を通じて増幅すると共にイコライズし
、再生RF信号SIFとして比較回路構成の2値化回路
6に入力する。
タ再生装W1は磁気テープ2に記録された情報データを
ヘッド3によって読み出した後、ヘッド増幅回路4及び
イコライザ回路5を通じて増幅すると共にイコライズし
、再生RF信号SIFとして比較回路構成の2値化回路
6に入力する。
2値化回路6には所定の基準電圧V ltFが供給され
ており、再生RF信号SmFを基準電圧V IEFのレ
ベルに応じて2値化し、この結果得られる入力データD
T I NをDフリップフロップ7の入力端りに入力
すると共にフェーズロックドループ(PLL)構成でな
るクロック抽出回路8に入力する。
ており、再生RF信号SmFを基準電圧V IEFのレ
ベルに応じて2値化し、この結果得られる入力データD
T I NをDフリップフロップ7の入力端りに入力
すると共にフェーズロックドループ(PLL)構成でな
るクロック抽出回路8に入力する。
クロック抽出回路8は入力データDTINに同期したク
ロックCK oを抽出し、これをDフリップフロップ7
のクロック端に供給すると共に、後段のディジタル信号
処理回路(図示せず)に送出する。
ロックCK oを抽出し、これをDフリップフロップ7
のクロック端に供給すると共に、後段のディジタル信号
処理回路(図示せず)に送出する。
Dフリップフロップ7はクロックCK、に応じたタイミ
ングで入力データD T t Nを同期化し、この結果
得られる入力データD T I N lをディジタル信
号処理回路に送出する。
ングで入力データD T t Nを同期化し、この結果
得られる入力データD T I N lをディジタル信
号処理回路に送出する。
かくしてディジタル信号処理回路はクロックCK0のタ
イミングに基づいて入力データDTIN+の復調処理を
実行し、このようにして磁気テープ2に記録された情報
データを再生し得るようになされている。
イミングに基づいて入力データDTIN+の復調処理を
実行し、このようにして磁気テープ2に記録された情報
データを再生し得るようになされている。
ところで一般にクロック抽出回路8が正常に動作してい
るか否かを検出するためには、PLLがロックしている
か否かを検出すれば良(、従来第6図に示すように第1
の入力クロックCKINIに基づく第2の入力クロック
CK+Nx (第7図(A))に対して位相の同期し
た第2の基準クロックCK1□(第7図(B))を発住
するPLL回路10においては、第2の入力クロックC
K+Htと第2の基準クロックCK□、との反転信号に
ついて排他的論理和演算を行い、当該演算結果の積分値
が論理rH」レベルのとき、PLL回路IOが口′ンク
していることを検出するようになされている。
るか否かを検出するためには、PLLがロックしている
か否かを検出すれば良(、従来第6図に示すように第1
の入力クロックCKINIに基づく第2の入力クロック
CK+Nx (第7図(A))に対して位相の同期し
た第2の基準クロックCK1□(第7図(B))を発住
するPLL回路10においては、第2の入力クロックC
K+Htと第2の基準クロックCK□、との反転信号に
ついて排他的論理和演算を行い、当該演算結果の積分値
が論理rH」レベルのとき、PLL回路IOが口′ンク
していることを検出するようになされている。
実際上このPLL回路10においては、第1の入力クロ
ックCK、□が1/N分周回路11を通じて1/N分周
され第2の入力クロックCKIN!とじて位相比較回路
12に入力される。
ックCK、□が1/N分周回路11を通じて1/N分周
され第2の入力クロックCKIN!とじて位相比較回路
12に入力される。
また位相比較回路12にはこれに加えて、電圧制御型発
振器(VCO)13から送出される第1の基準クロック
信号CKmir+が1/M分周回路14を通じて1/M
分周され第2の基準クロックCK1oとして入力される
。
振器(VCO)13から送出される第1の基準クロック
信号CKmir+が1/M分周回路14を通じて1/M
分周され第2の基準クロックCK1oとして入力される
。
位相比較回路12は、 第2の入力クロックCKいよ及
び第2の基準クロックCK1!F!の位相を比較して当
該位相差に応じたエラー電圧V、、、を発生し、これを
ローパスフィルタ(LPF)15を通じて平均エラー電
圧■。、としてVCO13に帰還する かくして、VCO13から発振される第1の基準クロッ
ク信号CK、、、、の周波数は、1/M分周した第2の
基準クロックCK、!、、の位相が第2の入力クロック
CK+、4zの位相と一致するように制御され、このよ
うにして、第1の入力クロックCK 1,11に基づく
第2の入力クロックCKIN!に対して位相の同期した
第2の基準クロックCK□。
び第2の基準クロックCK1!F!の位相を比較して当
該位相差に応じたエラー電圧V、、、を発生し、これを
ローパスフィルタ(LPF)15を通じて平均エラー電
圧■。、としてVCO13に帰還する かくして、VCO13から発振される第1の基準クロッ
ク信号CK、、、、の周波数は、1/M分周した第2の
基準クロックCK、!、、の位相が第2の入力クロック
CK+、4zの位相と一致するように制御され、このよ
うにして、第1の入力クロックCK 1,11に基づく
第2の入力クロックCKIN!に対して位相の同期した
第2の基準クロックCK□。
を送出する。
ここでこのPLL回路10の場合、第2の基準クロック
CK□□はインバータ回路16を通じて反転され、第2
の入力クロックCK+Nzと共にイクスクルーシブオア
回路17に入力されて排他的論理和演算が実行され、こ
の演算結果が積分回路18を通じてロック検出信号S、
。(第7図(C))として送出される。
CK□□はインバータ回路16を通じて反転され、第2
の入力クロックCK+Nzと共にイクスクルーシブオア
回路17に入力されて排他的論理和演算が実行され、こ
の演算結果が積分回路18を通じてロック検出信号S、
。(第7図(C))として送出される。
このロック検出信号SL0はPLL回路10がロックし
、第2の基準クロックCKIIEF!及び第2の入力ク
ロックCK+、4zの位相が一致しているとき16理「
H’レベルを有し、かくしてロック検出信号sL、の論
理レベルに基づいて、PLL回路10がロックしている
か否かを検出し得る。
、第2の基準クロックCKIIEF!及び第2の入力ク
ロックCK+、4zの位相が一致しているとき16理「
H’レベルを有し、かくしてロック検出信号sL、の論
理レベルに基づいて、PLL回路10がロックしている
か否かを検出し得る。
D発明が解決しようとする!!題
ところで上述したクロック抽出回路8においては、第8
図に示すように人力データDTIN(第9図(A))が
データウィンドウ発生回路20に入力され、この結果入
力データDT、Hの立ち上がり及び立ち下がりエツジに
応じて、所定期間の間立ち上がるデータウィンドウD’
r’wD(第9図(B))が発生され、これが位相比較
回路21に入力される。
図に示すように人力データDTIN(第9図(A))が
データウィンドウ発生回路20に入力され、この結果入
力データDT、Hの立ち上がり及び立ち下がりエツジに
応じて、所定期間の間立ち上がるデータウィンドウD’
r’wD(第9図(B))が発生され、これが位相比較
回路21に入力される。
また位相比較回路21にはVCO13で発生された入力
データDT、、に含まれるセルフクロックにほぼ等しい
基準クロックCK、(第9図(C))が入力されている
。
データDT、、に含まれるセルフクロックにほぼ等しい
基準クロックCK、(第9図(C))が入力されている
。
これにより位相比較回路21はデータウィンドウDTw
nの立ち上がり期間の中央のタイミングで基準クロック
CK、が立ち上がるようなエラー電圧■、□を発生し、
これをLPF 15を通じて平均値化して平均エラー電
圧v taxとしてVCOI3の発振周波数を制御する
。
nの立ち上がり期間の中央のタイミングで基準クロック
CK、が立ち上がるようなエラー電圧■、□を発生し、
これをLPF 15を通じて平均値化して平均エラー電
圧v taxとしてVCOI3の発振周波数を制御する
。
このようにしてこのクロック抽出回路8は入力データD
T工に含まれるセルフクロツタに位相が同期した基準ク
ロックCK、を抽出し、これを送出し得るようになされ
ている。
T工に含まれるセルフクロツタに位相が同期した基準ク
ロックCK、を抽出し、これを送出し得るようになされ
ている。
ところが、クロック抽出回路8の入力データDTINと
基準クロックCK oとでは実際の周波数が異なるため
PLL回路10について上述したように単に入力データ
DT、N及び基準クロックCK。
基準クロックCK oとでは実際の周波数が異なるため
PLL回路10について上述したように単に入力データ
DT、N及び基準クロックCK。
の排他的論理和演算を実行しても、クロック抽出回路8
がロックしているか否かを検出し得ない問題があった。
がロックしているか否かを検出し得ない問題があった。
このため位相比較回路21から送出されるエラー電圧■
。1を監視してクロック抽出回路8がロックしているか
否かを検出することが考えられるが、このようにしても
PLLの構成や状態によってエラー電圧VEll 自体
の信転性が低く、正しくクロック抽出回路8がロックし
ているか否かを検出できず、結局解決策として未だ不十
分であった。
。1を監視してクロック抽出回路8がロックしているか
否かを検出することが考えられるが、このようにしても
PLLの構成や状態によってエラー電圧VEll 自体
の信転性が低く、正しくクロック抽出回路8がロックし
ているか否かを検出できず、結局解決策として未だ不十
分であった。
本発明は以上の点を考慮したなされたもので、セルフク
ロック方式の人力データからクロックを抽出する際に確
実にロック状態か否かを検出し得るクロック抽出回路を
提案しようとするものである。
ロック方式の人力データからクロックを抽出する際に確
実にロック状態か否かを検出し得るクロック抽出回路を
提案しようとするものである。
EyA題を解決するための手段
かかる課題を解決するため第1の発明においては、フェ
ーズロックドループ構成でなりセルフクロツタ方式で伝
送される入力データDT、Hに含まれるクロックを抽出
するクロック抽出回路30において、制御電圧VEm+
(Vtmt )に応じて所定の基準クロックCK、
、(CK、。)を発生する電圧制御型発振手段13と、
基準クロックCKt+及び入力データDTIN (DT
we)の位相を比較し、その位相差に応じた制御電圧V
va+ (VIz )を発生して電圧制御型発振手段
13に帰還し、基準クロックCK、、の周波数を制御す
る位相比較手段21と、基準クロックCK + +に基
づいて第1のロック検出用データCKI!を発生すると
共に、その第1のロック検出用データCK、、及び入力
データDT1.4に応じた第1のロック検出信号5LO
Iを発生する第1のロック検出手段31.32.18と
を設けるようにした。
ーズロックドループ構成でなりセルフクロツタ方式で伝
送される入力データDT、Hに含まれるクロックを抽出
するクロック抽出回路30において、制御電圧VEm+
(Vtmt )に応じて所定の基準クロックCK、
、(CK、。)を発生する電圧制御型発振手段13と、
基準クロックCKt+及び入力データDTIN (DT
we)の位相を比較し、その位相差に応じた制御電圧V
va+ (VIz )を発生して電圧制御型発振手段
13に帰還し、基準クロックCK、、の周波数を制御す
る位相比較手段21と、基準クロックCK + +に基
づいて第1のロック検出用データCKI!を発生すると
共に、その第1のロック検出用データCK、、及び入力
データDT1.4に応じた第1のロック検出信号5LO
Iを発生する第1のロック検出手段31.32.18と
を設けるようにした。
また第2の発明においては、フェーズロックドループ構
成でなりセルフクロツタ方式で伝送される入力データD
T I Nに含まれるクロックを抽出するクロック抽
出回路40において、制御電圧V Fall(Vtaz
)に応じて所定の基準クロックCKxoを発生する電
圧制御型発振手段13と、基準クロックCK!。及び入
力データDTINの位相を比較し、その位相差に応じた
制御電圧Vrm+ (Vtaz )を発生して電圧制
御型発振手段13に帰還し、基準クロックCK、。の周
波数を制御する位相比較手段12と、入力データDTI
Nに基づいて第2のロック検出用データDTLoを発生
すると共に、その第2のロック検出用データDTto及
び基準クロックCK t。に応じた第2のロック検出信
号S LOI!を発生する第2のロック検出手段41.
42.18とを設けるようにした。
成でなりセルフクロツタ方式で伝送される入力データD
T I Nに含まれるクロックを抽出するクロック抽
出回路40において、制御電圧V Fall(Vtaz
)に応じて所定の基準クロックCKxoを発生する電
圧制御型発振手段13と、基準クロックCK!。及び入
力データDTINの位相を比較し、その位相差に応じた
制御電圧Vrm+ (Vtaz )を発生して電圧制
御型発振手段13に帰還し、基準クロックCK、。の周
波数を制御する位相比較手段12と、入力データDTI
Nに基づいて第2のロック検出用データDTLoを発生
すると共に、その第2のロック検出用データDTto及
び基準クロックCK t。に応じた第2のロック検出信
号S LOI!を発生する第2のロック検出手段41.
42.18とを設けるようにした。
F作用
セルフクロック方式の入力データD T I Nからク
ロックを抽出する際に、ロック検出手段31.32.1
8(41,42,18)によって基準クロ・ンクCK、
、又は入力データD T I Nに基づいて発生したロ
ック検出用データ(CKrt、DTto)と、入力デー
タDTl、l又は基準クロックCK、。とに応じてフェ
ーズロックドループがロックしているか否かを検出する
ようにしたことにより、確実にロック状態を検出し得る
。
ロックを抽出する際に、ロック検出手段31.32.1
8(41,42,18)によって基準クロ・ンクCK、
、又は入力データD T I Nに基づいて発生したロ
ック検出用データ(CKrt、DTto)と、入力デー
タDTl、l又は基準クロックCK、。とに応じてフェ
ーズロックドループがロックしているか否かを検出する
ようにしたことにより、確実にロック状態を検出し得る
。
G実施例
以下図面について、本発明の一実施例を詳述する。
(G1)第1実施例のクロック抽出回路第8図との対応
部分に同一符号を付して示す第1図において、30は全
体としてクロック抽出回路を示し、入力データDTIN
(第2図(A))がデータウィンドウ発生回路20及び
Dフリップフロップ7の入力端りに入力される。
部分に同一符号を付して示す第1図において、30は全
体としてクロック抽出回路を示し、入力データDTIN
(第2図(A))がデータウィンドウ発生回路20及び
Dフリップフロップ7の入力端りに入力される。
データウィンドウ発生回路20は例えば遅延回路及びイ
クスクルーシブオア回路構成でなり、入力データDTい
と遅延回路で所定分遅延された遅延データとの間で排他
的論理和演算を行い、入力データDT、、の立ち上がり
及び立ち下がりエツジのタイミングで立ち上がり所定の
パルス幅を有するデータウィンドウDT@e(第2図(
B))を発生して位相比較回路21に送出する。
クスクルーシブオア回路構成でなり、入力データDTい
と遅延回路で所定分遅延された遅延データとの間で排他
的論理和演算を行い、入力データDT、、の立ち上がり
及び立ち下がりエツジのタイミングで立ち上がり所定の
パルス幅を有するデータウィンドウDT@e(第2図(
B))を発生して位相比較回路21に送出する。
またこの位相比較回路21にはVCO13から送出され
る第1の基準クロックCKIO(第2図(E))が1/
2分周回路33を通じて1/2分周され、第2の基準ク
ロックCK、、(第2図(C))として入力されている
。
る第1の基準クロックCKIO(第2図(E))が1/
2分周回路33を通じて1/2分周され、第2の基準ク
ロックCK、、(第2図(C))として入力されている
。
これにより位相比較回路21は、第2の基準クロックC
K、、の立ち上がりエツジとデータウィンドウDT1.
IDの立ち上がりパルスの中央部との間で位相を比較し
、当該位相差に応じたエラー電圧■o1を発生する。
K、、の立ち上がりエツジとデータウィンドウDT1.
IDの立ち上がりパルスの中央部との間で位相を比較し
、当該位相差に応じたエラー電圧■o1を発生する。
このエラー電圧VeilはLPF15を通じて平均エラ
ー電圧■。、としてVCO13に人力され、これにより
VCO13は平均エラー電圧V Eatに応じて第1の
基準クロックCK、。の発振周波数を制御する。
ー電圧■。、としてVCO13に人力され、これにより
VCO13は平均エラー電圧V Eatに応じて第1の
基準クロックCK、。の発振周波数を制御する。
かくして、クロック抽出回路30の出力としては、入力
データDT、Hに基づくデータウィンドウDThnに位
相の同期した第2の基準クロックCK、が送出され、デ
ィジタル信号処理回路に入力されると共にDフリップフ
ロップ7のクロック端に入力される。
データDT、Hに基づくデータウィンドウDThnに位
相の同期した第2の基準クロックCK、が送出され、デ
ィジタル信号処理回路に入力されると共にDフリップフ
ロップ7のクロック端に入力される。
Dフリップフロップ7は第2の基準クロ°ンクCK、に
応じたタイミングで入力データDT、、を同期化し、こ
の結果得られる入力データD T I N +をディジ
タル信号処理回路に送出する。
応じたタイミングで入力データDT、、を同期化し、こ
の結果得られる入力データD T I N +をディジ
タル信号処理回路に送出する。
かくして、ディジタル信号処理回路はクロックCK、、
のタイミングに基づいて、 入力データDTINIの復
調処理を実行し、このようにして磁気テープ2に記録さ
れた情報データを再生し得るようになされている。
のタイミングに基づいて、 入力データDTINIの復
調処理を実行し、このようにして磁気テープ2に記録さ
れた情報データを再生し得るようになされている。
ここでこの実施例の場合、第1の基準クロックCK、、
及び第2の基準クロックCK■が、それぞれロック検出
データ発生用Dフリップフロップ31のクロック端及び
入力端りに入力され、この結果Dフリップフロップ31
の反転出力端頁から第2の基準クロックCK r +に
対して45°だけ位相の遅れたクロックを発生し、これ
をロック検出用データCK 1tとしてロック検出用D
フリップフロップ32の入力端りに送出する。
及び第2の基準クロックCK■が、それぞれロック検出
データ発生用Dフリップフロップ31のクロック端及び
入力端りに入力され、この結果Dフリップフロップ31
の反転出力端頁から第2の基準クロックCK r +に
対して45°だけ位相の遅れたクロックを発生し、これ
をロック検出用データCK 1tとしてロック検出用D
フリップフロップ32の入力端りに送出する。
ロック検出用Dフリップフロップ32のクロック端には
入力データDT1.が入力されており、これによりロッ
ク検出用Dフリップフロップ32は入力データDT、、
が立ち上がるタイミングでロック検出用データCK、、
をラッチし、このラッチ結果を積分回路18を通じて積
分してロック検出信号5LOI として送出する。
入力データDT1.が入力されており、これによりロッ
ク検出用Dフリップフロップ32は入力データDT、、
が立ち上がるタイミングでロック検出用データCK、、
をラッチし、このラッチ結果を積分回路18を通じて積
分してロック検出信号5LOI として送出する。
実際上出力される第2の基準クロックCK、lの位相が
入力データDT、、に一致し、クロック抽出回路30の
PLLがロック状態のとき、入力データDTINの立ち
上がりエツジが第2の基準クロックCK、、に対して4
5°だけ位相の遅れたロック検出用データCK、、の立
ち上がり期間の間に存在する。
入力データDT、、に一致し、クロック抽出回路30の
PLLがロック状態のとき、入力データDTINの立ち
上がりエツジが第2の基準クロックCK、、に対して4
5°だけ位相の遅れたロック検出用データCK、、の立
ち上がり期間の間に存在する。
これにより、ロック検出用Dフリップフロップ32では
論理「H」レベルがラッチされることにより、論理rH
,レベルを有するロック検出信号5LOIが送出される
。
論理「H」レベルがラッチされることにより、論理rH
,レベルを有するロック検出信号5LOIが送出される
。
これに対してクロック抽出回路30の’P L Lがロ
ック状態でないとき、入力データD T I Nの立ち
上がりエツジがロック検出用データCK、、の立ち上が
り期間から外れ、この結果論理「L」レベルまたは中間
レベルををするロック検出信号S、。1が送出される。
ック状態でないとき、入力データD T I Nの立ち
上がりエツジがロック検出用データCK、、の立ち上が
り期間から外れ、この結果論理「L」レベルまたは中間
レベルををするロック検出信号S、。1が送出される。
従ってこのクロック抽出回路30の場合、ロック検出信
号S、。1が論理rH,レベルか否かを検出すれば、ク
ロック抽出回路30のPLLがロック状態であるか否か
を容易に検出することができる。
号S、。1が論理rH,レベルか否かを検出すれば、ク
ロック抽出回路30のPLLがロック状態であるか否か
を容易に検出することができる。
以上の構成によれば、セルフクロック方式の入力データ
DT、、からクロックを抽出する際、基準クロックCK
、、に対して45°だけ位相を遅らせたロック検出用デ
ータCK、、を発生し、入力データD T r Nの立
ち上がりエツジがロック検出用データCK、、の立ち上
がり期間に存在するか否かに応じてPLLがロックして
いるか否かを検出するようにしたことにより、容易かつ
確実にロック状態を検出し得るクロック抽出回路30を
実現できる。
DT、、からクロックを抽出する際、基準クロックCK
、、に対して45°だけ位相を遅らせたロック検出用デ
ータCK、、を発生し、入力データD T r Nの立
ち上がりエツジがロック検出用データCK、、の立ち上
がり期間に存在するか否かに応じてPLLがロックして
いるか否かを検出するようにしたことにより、容易かつ
確実にロック状態を検出し得るクロック抽出回路30を
実現できる。
(G2)第2実施例のクロック抽出回路第6図との対応
部分に同一符号を付して示す第3図において、40は全
体としてクロック抽出回路を示し、この場合入力データ
DTIN(第4図(A))がVCO13で発生した基準
クロックCKt。
部分に同一符号を付して示す第3図において、40は全
体としてクロック抽出回路を示し、この場合入力データ
DTIN(第4図(A))がVCO13で発生した基準
クロックCKt。
(第4図(B))と共に位相比較回路12に入力されて
いる。
いる。
この位相比較回路12の場合、 入力データDT0の立
ち上がり及び立ち下がりエツジと基準クロックCK、。
ち上がり及び立ち下がりエツジと基準クロックCK、。
の位相を比較し、当該位相差に応じたエラー電圧■□1
を発生し、これがLPF 15を通じて平均エラー電圧
v taxとしてVCO13に入力され、これによりV
CO13は平均エラー電圧■□□に応じて基準クロック
CK、。の発振周波数を制御する。
を発生し、これがLPF 15を通じて平均エラー電圧
v taxとしてVCO13に入力され、これによりV
CO13は平均エラー電圧■□□に応じて基準クロック
CK、。の発振周波数を制御する。
かくしてクロック抽出回路4oは、入力データDTIN
に位相の同期した基準クロックCK□、を送出し得るよ
うになされている。
に位相の同期した基準クロックCK□、を送出し得るよ
うになされている。
ここでこの実施例の場合、入力データDT□は位相比較
回路12に加えてロック検出用データ発生回路41に入
力され、また基準クロックCKm*も位相比較回路12
に加えて、イネーブル端を有するバッファ増幅回路42
を通じて積分回路18に入力されてい・る。
回路12に加えてロック検出用データ発生回路41に入
力され、また基準クロックCKm*も位相比較回路12
に加えて、イネーブル端を有するバッファ増幅回路42
を通じて積分回路18に入力されてい・る。
ロック検出用データ発生回路41は例えば遅延回路及び
イクスクルーシブオア回路構成でなり、入力データDT
、、と遅延回路で例えば基準クロックCK、。の1/2
周期分遅延させてなる遅延データD’r+me (第
4図(C))との間で排他的論理和演算を行い、入力デ
ータD T r sの立ち上がり及び立ち下がりエツジ
のタイミングで基準クロックCK、。の1/2周期分の
パルス幅で立ち上がるロック検出用データDTto(第
4図(D))を発生してバッファ増幅回路42のイネー
ブル端に送出する。
イクスクルーシブオア回路構成でなり、入力データDT
、、と遅延回路で例えば基準クロックCK、。の1/2
周期分遅延させてなる遅延データD’r+me (第
4図(C))との間で排他的論理和演算を行い、入力デ
ータD T r sの立ち上がり及び立ち下がりエツジ
のタイミングで基準クロックCK、。の1/2周期分の
パルス幅で立ち上がるロック検出用データDTto(第
4図(D))を発生してバッファ増幅回路42のイネー
ブル端に送出する。
バッファ増幅回路42はイネーブル端に入力されるロッ
ク検出用データDTLOが論理「H」レベルを有する期
間の間、入力される基準クロックCK、。を増幅して′
積分回路18に送出し、当該積分回路18を通じて積分
してロック検出信号S LO!(第4図(E))として
送出する。
ク検出用データDTLOが論理「H」レベルを有する期
間の間、入力される基準クロックCK、。を増幅して′
積分回路18に送出し、当該積分回路18を通じて積分
してロック検出信号S LO!(第4図(E))として
送出する。
実際上基準クロックCK!。の位相が入力データDT工
に一致し、クロック抽出回路40のPLLがロック状態
のとき、基準クロックCK、。の立ち上がり期間がロッ
ク検出用データDTL、の立ち上がり期間に−敗し、こ
れにより論理「H」レベルを有するロック検出信号S1
゜、が送出される。
に一致し、クロック抽出回路40のPLLがロック状態
のとき、基準クロックCK、。の立ち上がり期間がロッ
ク検出用データDTL、の立ち上がり期間に−敗し、こ
れにより論理「H」レベルを有するロック検出信号S1
゜、が送出される。
これに対してクロック抽出回路40のPLLがロック状
態でないとき、基準クロックCK、。の立ち上がり期間
がロック検出用データD T L Oの立ち上がり期間
からずれ、この結果論理「L」レベルまたは中間レベル
を有するロック検出信号stagが送出される。
態でないとき、基準クロックCK、。の立ち上がり期間
がロック検出用データD T L Oの立ち上がり期間
からずれ、この結果論理「L」レベルまたは中間レベル
を有するロック検出信号stagが送出される。
従ってこのクロック抽出回路40の場合、ロック検出信
号5Lotが論理「H」レベルか否かを検出すれば、ク
ロック抽出回路400PLLがロック状態であるか否か
を容易に検出することができる。
号5Lotが論理「H」レベルか否かを検出すれば、ク
ロック抽出回路400PLLがロック状態であるか否か
を容易に検出することができる。
以上の構成によれば、セルフクロック方式の入力データ
DT、、からクロックCK、、を抽出する際に、入力デ
ータD T I Nの立ち上がり及び立ち下がりエツジ
のタイミングで立ち上がり、基準クロックCK、。の1
/2周期分のパルス幅を有するロック検出用データDT
L0を発生し、ロック検出用データDTLOの立ち上が
り期間がクロックCK、、の立ち上がり期間と一致する
か否かに応じてPLLがロックしているか否かを検出す
るようにしたことにより、容易かつ確実にロック状態を
検出し得るクロック抽出回路40を実現できる。
DT、、からクロックCK、、を抽出する際に、入力デ
ータD T I Nの立ち上がり及び立ち下がりエツジ
のタイミングで立ち上がり、基準クロックCK、。の1
/2周期分のパルス幅を有するロック検出用データDT
L0を発生し、ロック検出用データDTLOの立ち上が
り期間がクロックCK、、の立ち上がり期間と一致する
か否かに応じてPLLがロックしているか否かを検出す
るようにしたことにより、容易かつ確実にロック状態を
検出し得るクロック抽出回路40を実現できる。
(G3)他の実施例
(1)上述の第1の実施例においては、入力データD
T I Nに基づいて発生したデータウィンドウと基準
クロックの位相を比較したが、これに限らず入力データ
DT、、と基準クロックの位相を直接比較するようにし
ても上述の実施例と同様の効果を実現できる。
T I Nに基づいて発生したデータウィンドウと基準
クロックの位相を比較したが、これに限らず入力データ
DT、、と基準クロックの位相を直接比較するようにし
ても上述の実施例と同様の効果を実現できる。
C)上述の第1の実施例においては、VCOで発生した
第1の基準クロックを1/2分周し、この結果得られる
第2の基準クロック及びデータウィンドウと位相比較す
る場合について述べたが、これに代えVCOで発生した
第3の基準クロック及びデータウィンドウと位相比較す
るようにしても良い。
第1の基準クロックを1/2分周し、この結果得られる
第2の基準クロック及びデータウィンドウと位相比較す
る場合について述べたが、これに代えVCOで発生した
第3の基準クロック及びデータウィンドウと位相比較す
るようにしても良い。
またこの場合、第1の基準クロック及び第2の基準クロ
ックを用いて発生したロック検出用データに代え、第3
の基準クロック及び当該筒3の基準クロックを2倍して
得られる第4の基準クロックを用いて、第3の基準クロ
ックに対して45°位相の遅れたロック検出用データを
発生するようにしても良く、さらに第4の基準クロック
に代え、遅延回路等を用いて第3の基準クロックの位相
を所定分遅延させてロック検出用データを発生するよう
にしても良い。
ックを用いて発生したロック検出用データに代え、第3
の基準クロック及び当該筒3の基準クロックを2倍して
得られる第4の基準クロックを用いて、第3の基準クロ
ックに対して45°位相の遅れたロック検出用データを
発生するようにしても良く、さらに第4の基準クロック
に代え、遅延回路等を用いて第3の基準クロックの位相
を所定分遅延させてロック検出用データを発生するよう
にしても良い。
(3)上述の第1の実施例においては、Dフリップフロ
ップを用いてVCOで発生した第1の基準クロック及び
第1の基準クロックを1/2分周して得られる第2の基
準クロックから、第2の基準クロックに対して451位
相の遅れたロック検出用データを発生したが、これに代
え、排他的論理和演算等の論理回路でロック検出用デー
タを発生するようにしても良く、要は出力される基準ク
ロックに応じてロック検出用データを発生するようにす
れば、上述の実施例と同様の効果を実現できる。
ップを用いてVCOで発生した第1の基準クロック及び
第1の基準クロックを1/2分周して得られる第2の基
準クロックから、第2の基準クロックに対して451位
相の遅れたロック検出用データを発生したが、これに代
え、排他的論理和演算等の論理回路でロック検出用デー
タを発生するようにしても良く、要は出力される基準ク
ロックに応じてロック検出用データを発生するようにす
れば、上述の実施例と同様の効果を実現できる。
(4)上述の第1の実施例においては、ロック検出回路
をDフリップフロップで構成した場合について述べたが
、回路構成はこれに限らず、要は入力データが立ち上が
るタイミングでロック検出用データのレベルをラッチす
るようにすれば、上述の実施例と同様の効果を実現でき
る。
をDフリップフロップで構成した場合について述べたが
、回路構成はこれに限らず、要は入力データが立ち上が
るタイミングでロック検出用データのレベルをラッチす
るようにすれば、上述の実施例と同様の効果を実現でき
る。
(5)上述の第2の実施例においては、入力データのエ
ツジのタイミングで立ち上がり、基準クロックの1/2
周期分のパルス幅を有するロック検出用データを発生し
た場合について述べたが、ロック検出用データのパルス
幅はこれに限らす1/2周期分以内にしても良く、この
ようにすれば、ロック検出精度を向上し得る。
ツジのタイミングで立ち上がり、基準クロックの1/2
周期分のパルス幅を有するロック検出用データを発生し
た場合について述べたが、ロック検出用データのパルス
幅はこれに限らす1/2周期分以内にしても良く、この
ようにすれば、ロック検出精度を向上し得る。
(6)上述の第2の実施例においては、イネーブル端付
のバッファ増幅回路を用いてクロックをロック検出用デ
ータの立ち上がり期間の間、積分回路に送出した場合に
ついて述べたが、回路構成はこれに限らず、要は入力デ
ータに基づくロック検出用データの立ち上がり期間の間
クロックを送出し得れば論理ゲート回路等を用いても上
述の実施例と同様の効果を実現できる。
のバッファ増幅回路を用いてクロックをロック検出用デ
ータの立ち上がり期間の間、積分回路に送出した場合に
ついて述べたが、回路構成はこれに限らず、要は入力デ
ータに基づくロック検出用データの立ち上がり期間の間
クロックを送出し得れば論理ゲート回路等を用いても上
述の実施例と同様の効果を実現できる。
(7)上述の実施例においては、本発明をデータレコー
ダの再生系に適用した場合について述べたが、本発明は
これに限らず、要はセルフクロック方式で伝送される入
力データに含まれるクロックを抽出する場合に広く適用
して好適なものである。
ダの再生系に適用した場合について述べたが、本発明は
これに限らず、要はセルフクロック方式で伝送される入
力データに含まれるクロックを抽出する場合に広く適用
して好適なものである。
H発明の効果
上述のように本発明によれば、セルフクロック方式の入
力データからクロックを抽出する際に、基準クロック又
は入力データに基づいて発生したロック検出用データと
、入力データ又は基準クロックとに応じてフェーズロッ
クドループがロックしているか否かを検出するようにし
たことにより、容易かつ確実にロック状態か否かを検出
し得るクロック抽出回路を実現できる。
力データからクロックを抽出する際に、基準クロック又
は入力データに基づいて発生したロック検出用データと
、入力データ又は基準クロックとに応じてフェーズロッ
クドループがロックしているか否かを検出するようにし
たことにより、容易かつ確実にロック状態か否かを検出
し得るクロック抽出回路を実現できる。
第1図は本発明によるクロック抽出回路の一実施例を示
すブロック図、第2図はその動作の説明に供するタイミ
ングチャート、第3図は他の実施例によるクロック抽出
回路を示すブロック図、第4図はその動作の説明に供す
るタイミングチャート、第5図はデータ再生装置を示す
ブロック図、第6図は従来のPLL回路を示すブロック
図、第7図はその動作の説明に供するタイミングチャー
ト、第8図は従来のクロック抽出回路を示すブロック図
、第9図はその動作の説明に供するタイミングチャート
である。 8.30.40・・・・トクロック抽出回路、12.2
1・・・・・・位相比較回路、13・・・・・・■C0
115・・・・・・LPF、1B・・・・・・積分回路
、20・・・・・・データウィンドウ発生回路、31・
・・・・・ロック検出用データ発生用Dフリップフロッ
プ、32・・・・・・ロック検出用Dフリップフロップ
、41・・・・・・ロック検出用データ発生回路、42
・・・・・・バッファ増幅回路。 第1図
すブロック図、第2図はその動作の説明に供するタイミ
ングチャート、第3図は他の実施例によるクロック抽出
回路を示すブロック図、第4図はその動作の説明に供す
るタイミングチャート、第5図はデータ再生装置を示す
ブロック図、第6図は従来のPLL回路を示すブロック
図、第7図はその動作の説明に供するタイミングチャー
ト、第8図は従来のクロック抽出回路を示すブロック図
、第9図はその動作の説明に供するタイミングチャート
である。 8.30.40・・・・トクロック抽出回路、12.2
1・・・・・・位相比較回路、13・・・・・・■C0
115・・・・・・LPF、1B・・・・・・積分回路
、20・・・・・・データウィンドウ発生回路、31・
・・・・・ロック検出用データ発生用Dフリップフロッ
プ、32・・・・・・ロック検出用Dフリップフロップ
、41・・・・・・ロック検出用データ発生回路、42
・・・・・・バッファ増幅回路。 第1図
Claims (2)
- (1)フェーズロックドループ構成でなりセルフクロッ
ク方式で伝送される入力データに含まれるクロックを抽
出するクロック抽出回路において、制御電圧に応じて所
定の基準クロックを発生する電圧制御型発振手段と、 上記基準クロック及び上記入力データの位相を比較し、
当該位相差に応じた制御電圧を発生して上記電圧制御型
発振手段に帰還し、上記基準クロックの周波数を制御す
る位相比較手段と、 上記基準クロックに基づいて第1のロック検出用データ
を発生すると共に、当該第1のロック検出用データ及び
上記入力データに応じた第1のロック検出信号を発生す
る第1のロック検出手段とを具え、上記第1のロック検
出信号に基づいて上記フェーズロックドループがロック
しているか否かを検出するようにした ことを特徴とするクロック抽出回路。 - (2)フェーズロックドループ構成でなりセルフクロッ
ク方式で伝送される入力データに含まれるクロックを抽
出するクロック抽出回路において、制御電圧に応じて所
定の基準クロックを発生する電圧制御型発振手段と、 上記基準クロック及び上記入力データの位相を比較し、
当該位相差に応じた制御電圧を発生して上記電圧制御型
発振手段に帰還し、上記基準クロックの周波数を制御す
る位相比較手段と、 上記入力データに基づいて第2のロック検出用データを
発生すると共に、当該第2のロック検出用データ及び上
記基準クロックに応じた第2のロック検出信号を発生す
る第2のロック検出手段とを具え、上記第2のロック検
出信号に基づいて上記フェーズロックドループがロック
しているか否かを検出するようにした ことを特徴とするクロック抽出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2150637A JPH0442470A (ja) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | クロツク抽出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2150637A JPH0442470A (ja) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | クロツク抽出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0442470A true JPH0442470A (ja) | 1992-02-13 |
Family
ID=15501202
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2150637A Pending JPH0442470A (ja) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | クロツク抽出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0442470A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015103853A (ja) * | 2013-11-21 | 2015-06-04 | セイコーエプソン株式会社 | 信号供給回路、電子機器および移動体 |
-
1990
- 1990-06-08 JP JP2150637A patent/JPH0442470A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015103853A (ja) * | 2013-11-21 | 2015-06-04 | セイコーエプソン株式会社 | 信号供給回路、電子機器および移動体 |
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