JPH0442557A - Chip-shaped part pickup apparatus - Google Patents

Chip-shaped part pickup apparatus

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JPH0442557A
JPH0442557A JP2151280A JP15128090A JPH0442557A JP H0442557 A JPH0442557 A JP H0442557A JP 2151280 A JP2151280 A JP 2151280A JP 15128090 A JP15128090 A JP 15128090A JP H0442557 A JPH0442557 A JP H0442557A
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JP
Japan
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chip
tape
semiconductor chip
adhesive
push
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JP2151280A
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Katsunori Nishiguchi
勝規 西口
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/70Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping
    • H10P72/74Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H10P72/7412Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support the auxiliary support including means facilitating the separation of a device or wafer from the auxiliary support
    • H10P72/7414Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support the auxiliary support including means facilitating the separation of a device or wafer from the auxiliary support the auxiliary support including means facilitating the selective separation of some of a plurality of devices from the auxiliary support

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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE:To reduce frequency in generation of defect of chip-shaped part in the pickup operation by providing a structure that the end point of the sticking pin, among a plurality of sticking pins, located at the region irradiated with an energy beam such as ultraviolet ray or at the diagonal part thereof is more separated from the adhesive tape than the end points of the other sticking pins. CONSTITUTION:When a semiconductor chip 2 is sticked upward by sticking pins 3b to 3d, since adhesive force of the expand tape 1 at the region irradiated with the ultraviolet ray is lowered, the expand tape 1 is easily peeled from this region. Thereby, since the end point of the sticking pin 3a is separated from the expand tape 1, the semiconductor chip 2 is inclined around the diagonal line thereof, a part of the peeled angled area is separated and floated from the sticking pin 3d and the peeling of expand tape 1 progresses up to the center of the semiconductor chip 2. The sticked semiconductor chip 2 is absorbed and held with a collet 5 positioned at the upper part of this semiconductor chip 2 and the semiconductor chip 2 is peeled from the expand tape 1 and is picked up.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、エキスバンドテープ等の粘着テープに粘着固
定されている半導体チップ等のチップ状部品を、該粘着
テープから1つずつ引き剥がしてピックアップする装置
に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention provides a method for peeling off chip-shaped components such as semiconductor chips that are adhesively fixed to an adhesive tape such as an expandable tape one by one from the adhesive tape. Regarding the device for picking up.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

半導体装置やハイブリッドIC等の製造工程においては
、エキスパンドテープ等の粘着テープ上に粘@固定され
ている半導体チップ等のチップ状部品を粘着テープから
引き剥がしてピックアップし、これを所定の基板上にダ
イボンディングしたり、所定のトレイに収納したりする
ことが行われている。そして、粘着テープからチップ状
部品が剥がれ易くするため、粘着テープの裏側(チップ
状部品が固定されていない側)から突き上げビンにより
チップ状部品を突き上げ、粘着テープの剥離を促進する
ことが行われている。
In the manufacturing process of semiconductor devices, hybrid ICs, etc., chip-shaped parts such as semiconductor chips fixed on adhesive tape such as expanded tape are peeled off from the adhesive tape, picked up, and placed on a predetermined substrate. Die bonding and storage in a predetermined tray are performed. Then, in order to make it easier for the chip-like parts to peel off from the adhesive tape, the chip-like parts are pushed up from the back side of the adhesive tape (the side to which the chip-like parts are not fixed) using a push-up bottle to facilitate the peeling of the adhesive tape. ing.

ところが、上述のようにして粘着テープ上からピックア
ップされるチップ状部品、特に近年の大規模な集積回路
装置は大形化し偏平化している。
However, chip-shaped components picked up from adhesive tapes as described above, especially recent large-scale integrated circuit devices, have become larger and flatter.

このため、チップ状部品の突き上げの際に、チップ状部
品に過大な応力が加わるようになり、割れや欠は等の不
良がチップ状部品に発生する頻度が増大した。かかる事
情から、突き上げビンを複数にしてチップ状部品の各隅
部を同時に突き上げ、突き上げ時にチップ状部品に生ず
る応力の集中を防止して、チップ状部品の不良発生頻度
を低減することが提案された。更に、複数の突き上げビ
ンのうち、所定の隅部に対応した位置に設けられる突き
上げビンの先端を他の突き上げビンの先端よりも粘着テ
ープから離すことにより、粘着テープの剥離を促進させ
、ピックアップの際にチップ状部品に不良が発生する頻
度を低減することが提案されている(例えば、実願昭6
2−56264号参照)。
For this reason, excessive stress is applied to the chip-shaped component when the chip-shaped component is pushed up, and the frequency with which defects such as cracks and chips occur in the chip-shaped component increases. Under these circumstances, it has been proposed to use a plurality of push-up bins to simultaneously push up each corner of a chip-like component, thereby preventing the concentration of stress that occurs in the chip-like component during push-up, and thereby reducing the frequency of defects in the chip-like component. Ta. Furthermore, by setting the tip of the push-up bin located at a position corresponding to a predetermined corner of the plurality of push-up bins farther from the adhesive tape than the tips of the other push-up bins, peeling of the adhesive tape is facilitated and the pickup is It has been proposed to reduce the frequency of defects occurring in chip-like parts (for example,
2-56264).

また、粘着テープの中には、紫外線等のエネルギー線が
照射されることにより、その粘着力が低下するものが知
られている。したがって、チップ状部品を粘着テープの
上からピックアップする際にチップ状部品に生じる不良
を低減するには、ピックアップ前に粘着テープに紫外線
等のエネルギー線を照射しておくことが望ましい。
Moreover, some adhesive tapes are known to have their adhesive strength reduced by being irradiated with energy rays such as ultraviolet rays. Therefore, in order to reduce defects that occur in chip-shaped parts when they are picked up from above the adhesive tape, it is desirable to irradiate the adhesive tape with energy rays such as ultraviolet rays before picking up the chip-shaped parts.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、粘着テープの粘着力を弱めるため、その
全面に紫外線等のエネルギー線を照射した場合には、粘
着テープ全体の粘着力が低下してしまう。このため、一
のチップ状部品をピックアップ中にその他のチップ状部
品の固定位置がずれてしまったり、粘着テープから剥が
れ落ちてしまったりする不都合があった。また、粘着テ
ープ上に粘着固定されているチップ状部品のうち、一部
をピックアップし、残りのチップ状部品は粘着テープ上
に粘着固定したまま保存しようとすると、その保存中に
なんらかの外力を受け、チップ状部品の固定位置がずれ
てしまったり、あるいは、粘着テープからチップ状部品
が剥がれ落ちてしまうなどの不都合があり、チップ状部
品の再保存に適していなかった。
However, when the entire surface of the adhesive tape is irradiated with energy rays such as ultraviolet rays in order to weaken the adhesive strength of the adhesive tape, the adhesive strength of the entire adhesive tape decreases. For this reason, while one chip-shaped component is being picked up, other chip-shaped components may be displaced from their fixing positions or may come off from the adhesive tape. In addition, if you pick up a part of the chip-like parts that are adhesively fixed on the adhesive tape and try to store the remaining chip-like parts with the remaining chip-like parts adhesively fixed on the adhesive tape, some external force may be applied during storage. However, there are inconveniences such as the fixed position of the chip-shaped component being shifted or the chip-shaped component peeling off from the adhesive tape, and it is not suitable for re-storing the chip-shaped component.

そこで、上述の事情に鑑み、本発明はピックアップの際
のチップ状部品の不良発生頻度を低減すると共に、粘着
テープ上に残されたチップ状部品を保存に十分な強い粘
着力をもって粘着固定したまま、再保存できるようにす
ることを目的としている。
Therefore, in view of the above-mentioned circumstances, the present invention reduces the frequency of defective chip-like parts during pickup, and also allows the chip-like parts left on the adhesive tape to remain adhesively fixed with a strong enough adhesive force for preservation. , the purpose is to be able to re-save it.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上述の目的を達成するため、本発明においては、粘着テ
ープの粘着面のうち、チップ状部品の角部が粘着固定さ
れている部分に紫外線等のエネルギー線を照射してその
部分の粘着力を低下させると共に、チップ状部品の各隅
部を粘着面と反対側から突き上げる複数の突き上げビン
のうち、紫外線等のエネルギー線が照射された部分若し
くはこの対角部に位置する突き上げビンの先端が、これ
ら以外の突き上げビンの先端よりも粘着テープから離れ
た構成となっている。
In order to achieve the above-mentioned object, in the present invention, energy rays such as ultraviolet rays are irradiated to the adhesive surface of the adhesive tape, where the corners of the chip-shaped parts are adhesively fixed, to increase the adhesive strength of that area. Among a plurality of push-up bottles that push up each corner of the chip-shaped component from the side opposite to the adhesive surface, the portion irradiated with energy rays such as ultraviolet rays or the tip of the push-up bottle located diagonally thereto The tip of the push-up bottle other than these is configured to be further away from the adhesive tape.

〔作用〕[Effect]

このようにすることにより、チップ状部品の突き上げ時
にチップ状部品に生ずる応力の集中が防止され、突き上
げに伴うチップ状部品の不良発生頻度が低減される。ま
た、紫外線が照射され粘着力が低下している部分に固定
されているチップ状部品の角から粘着テープの剥離が起
こり、これをきっかけに、粘着テープがチップ状部品の
底面全体から円滑に剥離される。
By doing so, concentration of stress generated in the chip-shaped component when the chip-shaped component is pushed up is prevented, and the frequency of occurrence of defects in the chip-shaped component due to pushing up is reduced. In addition, the adhesive tape peels off from the corner of the chip-shaped component fixed to the part where the adhesive strength has decreased due to UV irradiation, and this causes the adhesive tape to peel off smoothly from the entire bottom surface of the chip-shaped component. be done.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例について第1図〜第5図を参照し
つつ、説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 5.

第1図は、本発明が適用された半導体チップのピックア
ップ装置の特徴部分を概略的に示している。このピック
アップ装置は、エキスパンドテープ1の粘着面に粘着固
定されている複数の半導体チップ2を、1つずつエキス
パンドテープ1の裏側(半導体チップ2が粘着固定され
ていない側)から先端にて突き上げる4本の突き上げピ
ン3a〜3dと、突き上げられた半導体チップ2をエキ
スパンドテープ1の表側から1つずつ吸着保持してエキ
スバンドテープ1から引き剥がすコレット5と、エキス
バンドテープ1の裏側からこれに対して紫外線を照射す
る紫外線源6と、紫外線源6とエキスバンドテープ1と
の相互間に配置され、所定部分だけが紫外線を透過する
マスク7とを備えている。エキスバンドテープ1は紫外
線を透過する伸縮性の樹脂等により形成されており、そ
の表側には紫外線が照射されると粘着力が低下する粘着
材が塗布されている。したがって゛、エキスバンドテー
プ1に裏側から紫外線を照射すれば、紫外線が照射され
た部分の粘着力が低下する。マスク7は、エキスバンド
テープ1に固定されている各半導体チップ2の角部に対
応する部分のみが紫外線を透過するように、その部分に
透孔7aが穿設されて形成されるか、あるいは、その部
分だけが紫外線透過性の材料で形成されている。したが
って、このマスク7を間にして紫外線源6からエキスバ
ンドテープ1に対して紫外線が照射されると、各半導体
チップ2の角部が固定されている部分の粘着力だけが低
下する。すなわち、この実施例では、各半導体チップ2
の角部が固定されている部分に限定して紫外線を照射す
る紫外線照射手段が、このマスク7と紫外線源6とから
構成されているのである。
FIG. 1 schematically shows the characteristic parts of a semiconductor chip pickup device to which the present invention is applied. This pickup device pushes up a plurality of semiconductor chips 2 that are adhesively fixed to the adhesive surface of the expanding tape 1 one by one from the back side of the expanding tape 1 (the side where the semiconductor chips 2 are not adhesively fixed) with the tip 4. The push-up pins 3a to 3d of the book, the collet 5 that attracts and holds the pushed-up semiconductor chips 2 one by one from the front side of the expand tape 1 and peels them off from the expand tape 1, and the collet 5 that holds the pushed up semiconductor chips 2 one by one from the front side of the expand tape 1, and The mask 7 includes an ultraviolet source 6 that irradiates ultraviolet rays, and a mask 7 that is disposed between the ultraviolet source 6 and the expand tape 1 and allows only a predetermined portion to transmit the ultraviolet rays. The expandable tape 1 is made of a stretchable resin or the like that transmits ultraviolet rays, and an adhesive material whose adhesive strength decreases when irradiated with ultraviolet rays is coated on its front side. Therefore, if the expandable tape 1 is irradiated with ultraviolet rays from the back side, the adhesive strength of the portion irradiated with ultraviolet rays will be reduced. The mask 7 is formed with a through hole 7a perforated in such a portion so that only the portion corresponding to the corner of each semiconductor chip 2 fixed to the expandable tape 1 transmits ultraviolet rays, or , only that part is made of UV-transparent material. Therefore, when the ultraviolet rays are irradiated from the ultraviolet ray source 6 to the expandable tape 1 with this mask 7 in between, only the adhesive strength of the portions where the corners of each semiconductor chip 2 are fixed is reduced. That is, in this embodiment, each semiconductor chip 2
The mask 7 and the ultraviolet source 6 constitute an ultraviolet irradiation means that irradiates ultraviolet rays only to the fixed corner portions.

第2図に突き上げピン3a〜3dの配置を、エキスバン
ドテープ1に固定されている半導体チップ2の底面との
関係において、拡大して示す。なお、図中、ハツチング
を施した部分が紫外線の照射された部分である。
FIG. 2 shows an enlarged view of the arrangement of the push-up pins 3a to 3d in relation to the bottom surface of the semiconductor chip 2 fixed to the expandable tape 1. Note that in the figure, the hatched area is the area irradiated with ultraviolet light.

4本の突き上げピン3a〜3dは半導体チップ2の対角
線上でその各角部に対応した位置に対称的にかつ均等に
配置されている。そのうち、突き上げピン3aは、その
先端が他の突き上げピン3b〜3dの先端よりもエキス
バンドテープ1から離れて存在している。すなわち、紫
外線が照射された部分に固定されている半導体チップ2
の角に対する対角部に対応して位置する突き上げピン3
aの先端が、他の突き上げピン3b〜3dの先端よりも
エキスバンドテープ1から離れた位置にあるのである。
The four push-up pins 3a to 3d are arranged symmetrically and evenly on the diagonal of the semiconductor chip 2 at positions corresponding to each corner thereof. Among them, the tip of the push-up pin 3a is located further away from the expanded band tape 1 than the tips of the other push-up pins 3b to 3d. In other words, the semiconductor chip 2 fixed to the part irradiated with ultraviolet rays
Push-up pin 3 located corresponding to the diagonal part to the corner of
The tip of a is located further away from the expandable tape 1 than the tips of the other push-up pins 3b to 3d.

なお、ここでいうエキスバンドテープ1は、ピックアッ
プ装置にセットされた状態におけるものをいい、突き上
げピン3a〜3dにより突き上げられていない状態のも
のをいう。
Note that the extended tape 1 referred to here refers to the tape in the state set in the pickup device, and refers to the tape in the state not pushed up by the push-up pins 3a to 3d.

次に、上述したピックアップ装置により、エキスパンド
テープ1上の半導体チップ2がどのようにしてピックア
ップされるかについて説明する。
Next, a description will be given of how the semiconductor chip 2 on the expanded tape 1 is picked up by the above-mentioned pickup device.

まず、複数の半導体チップ2が粘着固定されているエキ
スバンドテープ1がピックアップ装置にセットされると
、半導体チップ2の配置に対応させてマスク7が位置決
めされる。そして、紫外線源6から紫外線が各半導体チ
ップ2の角部だけに照射される。紫外線照射後、マスク
7が除去され、突き上げピン3a〜3dにより半導体チ
ップ2が突き上げられる。この突き上げの際、半導体チ
ップ2は、まず突き上げピン3b〜3dにより均等に突
き上げられる。したがって、突き上げにより生ずる応力
が1カ所に集中せず、分散されて割れや欠は等の不良が
半導体チップ2に発生する頻度が低減される。
First, when the expandable tape 1 to which a plurality of semiconductor chips 2 are adhesively fixed is set in a pickup device, the mask 7 is positioned in accordance with the arrangement of the semiconductor chips 2. The ultraviolet light source 6 irradiates only the corners of each semiconductor chip 2 with ultraviolet light. After the ultraviolet irradiation, the mask 7 is removed and the semiconductor chip 2 is pushed up by the push-up pins 3a to 3d. During this pushing up, the semiconductor chip 2 is first pushed up evenly by the pushing up pins 3b to 3d. Therefore, stress caused by pushing up is not concentrated in one place, but is dispersed, and the frequency of occurrence of defects such as cracks and chips in the semiconductor chip 2 is reduced.

第3図に、突き上げピン3a〜3dにより半導体チップ
2を突き上げた場合に、エキスバンドテープ1が半導体
チップ2から剥離する様子を示す。
FIG. 3 shows how the expandable tape 1 is peeled off from the semiconductor chip 2 when the semiconductor chip 2 is pushed up by the push-up pins 3a to 3d.

同図(a)に示したように、半導体チップ2が突き上げ
ピン3b〜3dにより突き上げられると、紫外線が照射
されている部分のエキスバンドテープ1の粘着力は低下
しているので、この部分からエキスバンドテープ1の剥
離が容易に起こる。そうすると、エキスバンドテープ1
が剥離した部分では、半導体チップ2を下方に引っ張る
力が作用しなくなり、突き上げピン3b及び3cを結ぶ
対角線の両側で半導体チップ2を下方に引っ張る力のつ
りあいが崩れることになる。そうすると、突き上げピン
3aの先端はエキスバンドテープ2から離れた位置にあ
るので、同図(b)に示したように、該対角線を中心と
して半導体チップ2が傾き、剥離した角の部分が突き上
げピン3dから離れて浮き上がり、エキスバンドテープ
1の剥離が半導体チップ2の中央部まで進行する。そし
て、この半導体チップ2の上方に位置決めされたコレッ
ト5により、突き上げられた半導体チップ2が吸着保持
され、コレット5が上昇することによって半導体チップ
2はエキスパンドテープ1から引き剥がされピックアッ
プされる。なお、半導体チップ2が粘着固定されている
粘着領域の外周部の一部(この実施例では、紫外線が照
射された領域に固定されている半導体チップ2の角の部
分)が剥離すると、その部分の剥離をきっかけに、粘着
領域全体の粘着力が低下していなくても、粘着領域全体
に剥離が円滑に進行する。したがって、大型で偏平化し
た半導体チップであっても、コレット5の真空吸着力を
高めることなく、容易に半導体チップをエキスパンドテ
ープから引き剥がしてピックアップすることができるの
である。
As shown in FIG. 2(a), when the semiconductor chip 2 is pushed up by the push-up pins 3b to 3d, the adhesive strength of the expandable tape 1 in the part irradiated with ultraviolet rays has decreased, so that Peeling of the extract band tape 1 occurs easily. Then, extract band tape 1
In the part where the semiconductor chip 2 is peeled off, the force that pulls the semiconductor chip 2 downward no longer acts, and the balance of the force that pulls the semiconductor chip 2 downward on both sides of the diagonal line connecting the push-up pins 3b and 3c is lost. Then, since the tip of the push-up pin 3a is located away from the expand band tape 2, the semiconductor chip 2 is tilted about the diagonal line as shown in FIG. 3d, and the peeling of the extended band tape 1 progresses to the center of the semiconductor chip 2. The pushed-up semiconductor chip 2 is sucked and held by the collet 5 positioned above the semiconductor chip 2, and as the collet 5 rises, the semiconductor chip 2 is peeled off from the expanded tape 1 and picked up. Note that if a part of the outer periphery of the adhesive area to which the semiconductor chip 2 is adhesively fixed (in this example, the corner part of the semiconductor chip 2 fixed to the area irradiated with ultraviolet rays) peels off, that part Even if the adhesive strength of the entire adhesive area has not decreased, the peeling will proceed smoothly throughout the adhesive area. Therefore, even if the semiconductor chip is large and flattened, the semiconductor chip can be easily peeled off from the expanded tape and picked up without increasing the vacuum suction force of the collet 5.

また、エキスバンドテープ1上に粘着固定されている半
導体チップ2のうち、一部をピックアップし、残りの半
導体チップ2はエキスバンドテープ1上に粘着固定した
まま保存しようとする場合であっても、紫外線の照射領
域が限定されており、半導体チップ2が固定されている
粘着領域全体の粘着力が低下しているわけではないので
、エキスバンドテープ1上に残された半導体チ・ツブ2
を保存に十分な強い粘着力をもって粘着固定したまま再
保存することが可能である。
Furthermore, even if a part of the semiconductor chips 2 adhesively fixed on the expandable tape 1 is picked up and the remaining semiconductor chips 2 are to be stored while being adhesively fixed on the expandable tape 1, Since the irradiation area of ultraviolet rays is limited and the adhesive strength of the entire adhesive area where the semiconductor chip 2 is fixed is not reduced, the semiconductor chip 2 left on the expandable tape 1
It has a strong enough adhesive force to preserve the material and can be re-preserved with the adhesive fixed.

次に、第4図及び第5図を参照しつつ、上述した実施例
と異なる本発明の第2の実施例について説明する。
Next, a second embodiment of the present invention, which is different from the embodiments described above, will be described with reference to FIGS. 4 and 5.

第1図〜第3図に示した上述の実施例では、紫外線が照
射された部分と対角側の突き上げビン3aの先端が、エ
キスパンドテープ1から離れた構成となっているが、こ
の代わりに、第4図に示したように、紫外線が照射され
た部分に固定されている半導体チップ2の角部に対応し
た位置に設けられている突き上げビン3dの先端が、他
の突き上げビン3a〜3Cの先端よりもエキスパンドテ
ープから離れている。この場合におけるエキスパンドテ
ープ1の剥離の様子を第5図に示す。まず、突き上げビ
ン38〜3Cがエキスパンドテープ1に当接し半導体チ
ップ2が突き上げられると、エキスパンドテープ1は、
突き上げビンが当接しておらず、しかも紫外線が照射さ
れ粘着力の低下している部分から剥離し始め、半導体チ
ップ2の中央部までこの剥離が進行する。そして、コレ
ット5により半導体チップ2が吸着保持され、半導体チ
ップ2はエキスパンドテープ1から引き剥がされピック
アップされる。なお、この場合には、図示したように。
In the above-described embodiment shown in FIGS. 1 to 3, the tip of the push-up bottle 3a on the diagonal side of the part irradiated with ultraviolet rays is separated from the expandable tape 1, but instead of this, As shown in FIG. 4, the tip of the push-up bin 3d provided at a position corresponding to the corner of the semiconductor chip 2 fixed to the part irradiated with ultraviolet rays is connected to the other push-up bins 3a to 3C. is further away from the expanding tape than the tip of the FIG. 5 shows how the expanded tape 1 is peeled off in this case. First, when the push-up bottles 38 to 3C come into contact with the expanding tape 1 and the semiconductor chip 2 is pushed up, the expanding tape 1
Peeling begins from the portion where the push-up bottle is not in contact and where the adhesive strength has decreased due to irradiation with ultraviolet rays, and this peeling progresses to the center of the semiconductor chip 2. Then, the semiconductor chip 2 is attracted and held by the collet 5, and the semiconductor chip 2 is peeled off from the expanded tape 1 and picked up. In this case, as shown.

半導体チップ2が傾くことがないので、コレット5によ
り半導体チップ2を容易に吸着保持することができ、好
ましい。
Since the semiconductor chip 2 does not tilt, the collet 5 can easily attract and hold the semiconductor chip 2, which is preferable.

次に、本発明を5龍角の半導体チップのピックアップに
適用した実験結果について説明する。
Next, the results of an experiment in which the present invention was applied to picking up a 5-dragon semiconductor chip will be described.

各半導体チップの粘着固定力が紫外線照射前では約30
0gであり、半導体チップの角部が固定されている部分
に紫外線を照射した後の粘着固定力は250gであった
。この場合に、上述したピックアップを行ったところ、
突き上げ時に生じる半導体チップの割れ等の不良の発生
頻度は、粘着領域全面に紫外線を照射し粘着・力を10
0gまで低下させる従来の場合と遜色なかった9、また
、紫外線が照射され、粘着力が低下させられる部分が限
定されているため、エキスバンドテープ1上に残された
半導体チップ2を再保存に十分な粘着力をもって再保存
することができた。
The adhesive fixing force of each semiconductor chip is approximately 30% before UV irradiation.
0 g, and the adhesive fixing force after irradiating ultraviolet rays to the portion where the corner of the semiconductor chip was fixed was 250 g. In this case, when I performed the pickup mentioned above,
The frequency of defects such as cracks in semiconductor chips that occur during push-up can be reduced by irradiating the entire adhesive area with ultraviolet rays to increase the adhesive strength by 10%.
It was comparable to the conventional case where the adhesive strength was reduced to 0g9.Also, since the area where the adhesive strength is reduced by being irradiated with ultraviolet rays is limited, the semiconductor chip 2 left on the expandable tape 1 can be re-preserved. It had sufficient adhesive strength and could be re-stored.

ところで、上述した紫外線の照射自体は、紫外線源6か
ら出射される紫外線を集光して、これをライトガイド等
により導き、各半導体チップ2の角部に対して紫外線の
スポット光を各半導体チ・ノブ毎に順に照射することと
してもよい。しかし、上述の実施例のように、各半導体
チ・ツブ2の角部が固定されている部分に対して、マス
ク7を用いて紫外線照射を一括して行ってしまえば、そ
の後は、突き上げ手段による突き上げ工程とコレ・ット
によるビックアップ工程の2工程だけで半導体チップを
ピックアップすることができるので、1回のピックアッ
プ動作当たりの所要時間(タクトタイム)の短縮が可能
である。
Incidentally, the above-mentioned ultraviolet ray irradiation itself involves condensing the ultraviolet rays emitted from the ultraviolet source 6 and guiding the ultraviolet rays by a light guide or the like to direct a spot light of the ultraviolet rays onto the corners of each semiconductor chip 2. - It is also possible to irradiate each knob in turn. However, as in the above-mentioned embodiment, if the UV rays are irradiated all at once using the mask 7 on the portions where the corners of each semiconductor chip 2 are fixed, then the push-up means Since a semiconductor chip can be picked up with only two steps: a push-up step using a push-up step and a back-up step using a collet, it is possible to shorten the time required for one pick-up operation (takt time).

なお、本発明は上述した実施例に限られず、種々の変形
が可能である。
Note that the present invention is not limited to the embodiments described above, and various modifications are possible.

例えば、上述の実施例において、突き上げピン3a及び
3dの先端を共に、突き上げピン3b及び3cよりもエ
キスバンドテープ1から離しておいてもよい。
For example, in the above-described embodiment, the tips of the push-up pins 3a and 3d may be placed further away from the stretch band tape 1 than the push-up pins 3b and 3c.

また、上述の実施例では、エキスバンドテープ1上に粘
着固定されている半導体チップ1のピックアップに本発
明を適用した例を示しているが、これに限られることな
く、エキスバンドテープ等の粘着テープに粘着固定され
ているチップコンデンサーやチップ抵抗等のチップ状部
品のピックアップにも本発明は適用可能である。
Further, in the above-mentioned embodiment, an example is shown in which the present invention is applied to the pickup of the semiconductor chip 1 adhesively fixed on the expanded band tape 1, but the present invention is not limited to this, and the adhesive of the expanded band tape etc. The present invention is also applicable to picking up chip-shaped components such as chip capacitors and chip resistors that are adhesively fixed to tape.

更に、上述した実施例においては、エネルギー線として
紫外線を用いているが、エキスパンドテープ等の粘着テ
ープに用いられる粘着材に応じてその粘着力を効率良く
低下させることができるエネルギー線用いることが好ま
しく、例えば、赤外線の照射により粘着力が効率良く低
下する粘着材が塗布されている粘着テープに対しては、
赤外線をエネルギー線として用いることが好ましい。
Further, in the above embodiments, ultraviolet rays are used as the energy rays, but it is preferable to use energy rays that can efficiently reduce the adhesive force depending on the adhesive material used in the adhesive tape such as expanded tape. For example, for adhesive tape coated with an adhesive whose adhesive strength is effectively reduced by infrared irradiation,
It is preferable to use infrared rays as the energy beam.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明によれば、チップ状部品の
突き上げ時にチップ状部品に生ずる応力の集中が防止さ
れ、突き上げに伴うチップ状部品の割れ等の不良発生頻
度が低減され、歩留まりが向上する。
As explained above, according to the present invention, the concentration of stress that occurs in chip-shaped parts when pushing up the chip-shaped parts is prevented, the frequency of occurrence of defects such as cracks in the chip-shaped parts due to pushing up is reduced, and the yield is improved. do.

また、紫外線が照射され粘着力が低下している部分に固
定されているチップ状部品の角から粘着テープの剥離が
起こり、これをきっかけに、粘着テープがチップ状部品
の底面全体から円滑に剥離される。したがって、チップ
状部品が粘着固定されている粘着領域全体の粘着力を低
下させなくとも円滑なピックアップが可能であり、紫外
線を一括照射した場合であっても、粘着テープ上に残さ
れたチップ状部品を保存に十分な強い粘着力をもって粘
着テープ上に固定したまま再保存することが可能である
In addition, the adhesive tape peels off from the corner of the chip-shaped component fixed to the part where the adhesive strength has decreased due to UV irradiation, and this causes the adhesive tape to peel off smoothly from the entire bottom surface of the chip-shaped component. be done. Therefore, it is possible to pick up chips smoothly without reducing the adhesive strength of the entire adhesive area where chip-shaped parts are adhesively fixed, and even when UV rays are irradiated all at once, the chip-shaped parts left on the adhesive tape can be picked up easily. It is possible to re-save the parts while fixed on the adhesive tape with a strong enough adhesive force for storage.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明が適用されるピックアップ装置の特徴部
分を概略的に示した図、第2図は突き上げピンの配置を
半導体チップ底面と関係付けて示した図、第3図は半導
体チップからエキスバンドテープが剥離する様子を示し
た図、第4図は第2図とは違う突き上げピンの配置を示
した図、第5図は第3図と同様にエキスバンドテープの
剥離の様子を示した図である。 1・・・エキスパンドテープ、2・・・半導体チップ、
3a、3b、3c、3d・・・突き上げピン、5・・・
コレット、6・・・紫外線源、7・・・マスク。
FIG. 1 is a diagram schematically showing the characteristic parts of a pickup device to which the present invention is applied, FIG. 2 is a diagram showing the arrangement of push-up pins in relation to the bottom surface of a semiconductor chip, and FIG. Figure 4 shows the arrangement of the push-up pins, which is different from Figure 2. Figure 5 shows how the expandable tape peels off, similar to Figure 3. This is a diagram. 1... Expanded tape, 2... Semiconductor chip,
3a, 3b, 3c, 3d... push-up pin, 5...
Collet, 6...UV source, 7...Mask.

Claims (1)

【特許請求の範囲】  エネルギー線の照射により粘着力が低下する粘着テー
プの粘着面に方形底面にて粘着固定された複数のチップ
状部品を、コレットにより保持し粘着テープから引き剥
がしてピックアップする装置であって、 前記粘着面の各チップ状部品が粘着固定されている部分
のうち、各チップ状部品の一の角部が固定されている部
分にエネルギー線を照射する手段と、 前記チップ状部品の各角部に対応した位置に配置され、
先端部にて前記粘着面と反対側から前記粘着テープに当
接し前記チップ状部品を突き上げる複数の突き上げピン
とを備え、前記複数の突き上げピンのうち、前記エネル
ギー線が照射された部分に固定されているチップ状部品
の角部若しくはその対角部に対応して位置する突き上げ
ピンの少なくとも一方の先端が、これら以外の突き上げ
ピンの先端よりも前記粘着テープから離れていることを
特徴とするチップ状部品のピックアップ装置。
[Scope of Claims] A device for holding a plurality of chip-shaped parts adhesively fixed at a rectangular bottom surface on the adhesive surface of an adhesive tape whose adhesive strength is reduced by irradiation with energy rays using a collet, peeling them off from the adhesive tape, and picking them up. means for irradiating an energy beam to a portion of the adhesive surface to which one corner of each chip-like component is fixed, out of a portion of the adhesive surface where each chip-like component is adhesively fixed; and the chip-like component. are placed at positions corresponding to each corner of the
a plurality of push-up pins that come into contact with the adhesive tape from the side opposite to the adhesive surface at a tip end and push up the chip-like component; At least one tip of the push-up pin located corresponding to a corner or a diagonal corner thereof of the chip-shaped part is further away from the adhesive tape than the tips of other push-up pins. Parts pickup device.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006093592A (en) * 2004-09-27 2006-04-06 Shibaura Mechatronics Corp Semiconductor chip pickup device, pickup method and mounting device
WO2008004270A1 (en) * 2006-07-03 2008-01-10 Canon Machinery Inc. Method of pickup and pickup apparatus
JP2009295741A (en) * 2008-06-04 2009-12-17 Yamaha Motor Co Ltd Method and apparatus for transferring components

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