JPH0442619A - Daコンバータ - Google Patents

Daコンバータ

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JPH0442619A
JPH0442619A JP15062190A JP15062190A JPH0442619A JP H0442619 A JPH0442619 A JP H0442619A JP 15062190 A JP15062190 A JP 15062190A JP 15062190 A JP15062190 A JP 15062190A JP H0442619 A JPH0442619 A JP H0442619A
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修 小林
Kunihiko Goto
邦彦 後藤
Yuji Sekido
関戸 裕治
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 本発明は、DAコンバータ、特に、DAコンバータに使
用される重み付け回路に関し、必要な面積の増加を抑制
しつつ、微分直線性を向上させることができるDAコン
バータを提供することを目的とし、 nビットのデジタル信号に対応する電流値にょってアナ
ログ信号を出力するDAコンバータであって、n個の電
流源トランジスタセルを含み、該nil電流源トランジ
スタセルのうち第m番目(1≦m≦n)のトランジスタ
セルから出力される電流値が、最下位ビットを形成する
トランジス夕から出力される電流値に対して2  倍で
示される重み付け回路を有し、前記電流源トランジスタ
セルのそれぞれは2  個の同一サイズのトランジスタ
で形成され、第m番目のトランジスタセルには、2  
個のトランジスタが直列に接続されて構成される。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、DAコンバータ、特に、DAコンバータに使
用される重み付け回路に関するものである。
近年、テレビ、VTR等に使用される高速DAコンバー
タにおいて、多ビット化、高精度化が要求されている。
DAコンバータにおいては、重み付け回路が使用されて
おり、該重み付け回路は、異なる電流値の複数の電流源
トランジスタセルを含む。そして、多ビット化すると、
該電流源トランジスタセル間の誤差が大きくなり、微分
直線性が悪化する。
そこで、電流源トランジスタセルを高精度化することに
より、電流源トランジスタセル間の誤差を減少させ、こ
の結果、微分直線性を向上させることが望まれている。
〔従来の技術〕
第4図には、従来の重み付け回路が示されている。
第4図において、重み付け回路は、4ビツトであり、4
個の電流源トランジスタセルT1〜T4を含む。ここで
、セルTI−T4のサイズW1〜W4の比は、1:2:
4:8であり、この結果、セル’r  −74からの電
流値の比は、1:2:4:8である。
次に、第5図には、上述したような従来の重み付け回路
を使用したDAコンバータが示されている。
第5図において、DAコンバータは、8ビツトタイプで
あり、このため、重み付け回路10は、8個の電流源ト
ランジスタセルTl〜T8を含む。
ここで、セルT −T8のサイズWl−W8の比は、1
:2:4:8:16:32:64:128であり、この
結果、セルTI−T8 の比は、1:2:4:8:16: 128である。なお、符号12は、 を示し、符号14は、負荷を示し、 電源電圧を示す。
からの電流値 32:64: バイアス回路 符号vdは、 (D  SD)、(D、D)は、入力信号であるデジタ
ル信号(これは8ビツトである)の各入力端子を示す。
例えば、デジタル信号のうち第lビット、第2ビツトが
rHJレベルであり、他の第3ビツト〜第8ビツトがr
LJレベルである場合には、入力端子D  SD2がr
HJレベルであり、入力端子D3〜D8がrHJレベル
であるので、電流源トランジスタセルT  ST  か
らの電流値の和が負荷14に供給される。このようにし
て、8ビツトの入力デジタル信号がアナログ信号に変換
される。
〔発明が解決しようとする課−題〕
上記のような重み付け回路において、高ビツト化すると
、電流源トランジスタセル間の誤差が大きくなり、微分
直線性が悪化する。ここで、微分直線性とは、各ビット
の平均電流に対する誤差をいう。
また、従来、第6図に示されるように、セグメント回路
を使用したDAコンバータがある。
第6図において、符号16は、セグメント回路を示し、
8ビツトタイプの場合、セグメント回路一 16は、255(=2  1)個の同一特性(同一の電
流値を出力する)の電流源トランジスタ(D  SD)
、(D  SD)は、トランジスFE     FE 
       FF     FFタセルI、!、、、
〜 I  、I  に対応する入I         
     FE     FF刃端子を示す。例えば、
8ビツトの入力デジタル信号のうち第2ビツトがrHJ
レベルであり、他のビットがrLJレベルである場合に
は、デコードされた値がr2Jであるので、2n−1個
の入力端子る。この結果、トランジスタセルI  、I
  からの電流値の和が負荷14に供給される。このよ
うにして、8ビツトの入力デジタル信号がアナログ信号
に変換される。
上記のようなセグメント回路においては、同一の電流値
を出力する複数の電流源トランジスタセルを使用してい
るので、高ビツト化した場合であっても、トランジスタ
セル間の誤差が小さい。従って、微分直線性が向上し、
高精度化が達成される。
しかしながら、セグメント回路においては、高ビツト化
に伴い、多数の電流源トランジスタセルが必要になり、
例えば、8ビツトの場合には、255(21)個のトラ
ンジスタセルが必要になる。この結果、セグメント回路
の面積が大きくなるという問題がある。
以上のように、DAコンバータにおいて、重み付け回路
を使用した場合には、高ビツト化に伴い、微分直線性が
悪化し、一方、セグメント回路を使用した場合には、高
ビツト化に伴い、該セグメント回路の面積が増加すると
いう問題がある。
本発明の目的は、必要な面積の増加を抑制しつつ、微分
直線性を向上させることができるDAコンバータを提供
することにある。
〔課題を解決するための手段〕
第1図には、請求項1記載の発明に係るDAコンバータ
が示されている。第1図において、重み付け回路は、例
えば、4ビツトであり、4個の電流源トランジスタセル
T1〜T4を含む。各セ4−1    ゛ ルTは、8(=2  )個の同一サイズのトランジスタ
t  1〜t sを備えている。そして、m番目(1≦
m≦4)のトランジスタセルT は、8個のトランジス
タt 〜t のうち2  個のトランジスタのみを使用
している。例えば、3番目のトランジスタセルT は、
4(=2   )個のトランジスタ1 −14のみを使
用している。
なお、第1図において、使用されないトランジスタt1
すなわち、トランジスタセルTlのトランジスタt  
1〜t  sFトランジスタセル2のトランジスタ1−
1.)ランジスタセルT3のトランジスター  −18
は、他の用途のために、例えば、他の重み付け回路の電
流源トランジスタセルのために、使用されてもよい。
また、請求項2記載の発明は、nビットのディジタル信
号に対応する電流値によってアナログ信号を出力するD
Aコンバータにおいて、前記nビットのうちの上位!ビ
ットをセグメント回路で構成し、下位n−lビットを重
み付け回路で構成し、前記セグメント回路および重み付
け回路の各電流源トランジスタセルのサイズを同一とし
たものである。
〔作用〕 第1図において、請求項1記載の発明によれば、電流源
トランジスタセルT1〜T4は、それぞれ、同一サイズ
のトランジスタtを1個、2n−1個、4個、8個含む
ので、該トランジスタセルTl−T4からの電流値の比
は、1:2:4・8である。そして、トランジスタt 
 ”1〜t sは、同一サイズであるので、トランジス
タセルT t ”” 74間の誤差は小さくなり、微分
直線性が向上する。
また、請求項2記載の発明によれば、重み付け回路また
は重み付け回路とセグメント回路を併用することによっ
て、セグメント回路のみを使用する場合と比較して、必
要な面積の増加が抑制される。
〔実施例〕
箪2図には、本発明の第1実施例による重み付け回路を
使用したDAコンバータが示されている。
第2図において、DAコンバータは、3ビツトタイプで
あり、このため、重み付け回路10は、3IIの電流源
トランジスタセルT 〜T3を含む。
ここで、各セルTは、4個の同一サイズのトランジスタ
t 〜t4を備えている。そして、セルT は、1個の
トランジスタt1のみを使用し、他のトランジスタt 
 ”””t4を接続していない。
また、セルT は、2n−1個のトランジスタt1、t
2のみを使用し、他のトランジスタt3、t4を接続し
ていない。また、セルT3は、4個の全てのトランジス
タt1〜t4を使用している。この結果、セルT 1T
2、T3からの電流値の比は、1:2:4である。
そして、トランジスタt  ”” t <は、同一サイ
ズであるので、トランジスタセルT  ST  。
13間の誤差が小さく、微分直線性が向上している。
(D、D)は、3ビツトの入力デジタル信号の各入力端
子を示し、例えば、デジタル信号のうち第lビット、第
2ビツトがrHJレベルであり、第3ビツトがrLJレ
ベルである場合には、入力端子D  、D  がrHJ
レベルであり、入力端子D2がrHJレベルであるので
、電流源トランジスタセルT  、T  からの電流値
の和が負荷14に供給される。このようにして、3ビツ
トの入力デジタル信号がアナログ信号に変換される。
また、バイアス回路12とのカレントミラーの精度を向
上させるために、バイアス回路12内のトランジスタセ
ルTbを前記トランジスタセルT  、T  、T  
と同様に(同一サイズの複数のトランジスタで)構成し
てもよい。
また、入力端子D  、D  SD  、D  、D2
.D に接続されたトランジスタセルT  −79は、
実施例では単独で示されているが、トランジスタセルT
  、T  、T  、及び、トランジスタセルT  
ST  、T  を前記トランジスタセルT1.T2、
T3と同様に(同一サイズの複数のトランジスタで)構
成してもよい。
次に、第3図には、本発明の第2実施例による重み付け
回路を使用したDAコンバータが示されている。
第3図において、DAコンバータは6ビツトタイブであ
り、重み付け回路10及びセグメント回路16を含む。
ここで、重み付け回路10は、6ビツトのうち下位2ビ
ツトを担当し、セグメント回路16は、6ビツトのうち
上位4ビツトを担当する。
重み付け回路10は、2n−1個の電流源トランジスタ
セルT、T、、を含み、各セルTは、4個の同一サイズ
のトランジスタt l”’1〜t 4を備えている。
そして、セルT は、1個のトランジスタtlのみを使
用し、他のトランジスタt2〜t4を接続していない。
また、セルT2は、2n−1個のトランジスター  S
12のみを使用し、他のトランジスタt3、t4を接続
していない。以上の構成により、セルT1は、下位2ビ
ツトのうち第lビットを担当し、セルT2は、下位2ビ
ツトのうち第2ビツトを担当する。
セグメント回路16は、4ビツトであるので、15(=
2  1)個の同一特性(同一の電流値を出力する)の
電流源トランジスタセル11、■ 〜■ 、■ を含む
。各電流源トランジスタセルIは、4個の同一サイズの
トランジスタt1〜t を備え、4個の全てのトランジ
スタt1〜t4を使用している。
そして、セグメント回路16内の電流源トランジスタセ
ルIのトランジスタt1〜t4は、重み付け回路10内
の電流源トランジスタセルTのトランジスタt1〜t4
と同一サイズであるので、上位4ビツトと下位2ビツト
との間の誤差が小さくなり、微分直線性が向上する。
なお、第1実施例と同様に、バイアス回路12内のトラ
ンジスタセルTbをトランジスタセルT  、T  、
トランジスタセル■と同様に(同一サイズの複数のトラ
ンジスタで)構成してもよい。
また、第2実施例においては、セグメント回路16が上
位4ビツトを担当し、重み付け回路10が下位2ビツト
を担当しており、セグメント回路16の担当するビット
数が少ない(4ビツト)ので、セグメント回路16内の
電流源トランジスタセル■の個数は少ない。それゆえ、
セグメント回路16に必要な面積が大幅に増加すること
がない。
また、第3図の第2実施例を一般的な形式で述べると、
次のようになる。
nビットのDAコンバータにおいて、nビットを上位!
ビット、下位n−lビットに分割する。
下位n−lビットは、重み付け方式により処理され、上
位iビットは、セグメント方式により処理される。すな
わち、下位n−lビットの重み付け方式においては、n
−1個の電流源が使用され、1番目の電流源は、2  
(1≦i≦n−1)の電流値を有する。ここで、下位n
−lビットのi番目のビットが「H」レベルであるかr
LJレベルであるかにより、i番目の電流源から電流値
2の電流が出力される。そして、全ての電流源からの電
流値の和が、重み付け方式による出力とされる。
上位!ビットのセグメント方式においては、2+1−A
’の電流値を有する同一の電流源を2′−1個使用する
。上位lビットは、デコードされ、該上位!ビットが示
す個数だけ電流源から電流が出力される。そして、出力
された電流値の和が、セグメント方式による出力とされ
る。
以上のようにして、重み付け方式による下位n−!ビッ
トの出力とセグメント方式による上位!ビットの出力と
の和が、DAコンバータの出力とされる。
なお、重み付け方式における電流源及びセグメント方式
による電流源は、2  個の同一サイズのトランジスタ
から構成されていてもよい。
この場合に、重み付け方式におけるi番目の電流源は、
2  個の同一サイズのトランジスタのうち2  (1
≦i≦n−1)個のトランジスタを使用している。また
、セグメント方式における各電流源は、2  個の同一
サイズのトランジスタを全て使用している。
〔発明の効果〕
以上説明したように、請求項1記載の発明によれば、各
電流源トランジスタセルを同一サイズの複数のトランジ
スタから構成し、複数のトランジスタのうち必要な個数
のトランジスタを使用しているので、電流源トランジス
タセルを高精度化することができる。従って、電流源ト
ランジスタセル間の誤差が小さくなり、微分直線性が向
上する。
また、請求項2記載の発明によれば、重み付け回路とセ
グメント回路を併用しているのでセグメント回路のみを
使用する場合と比較して、必要な面積の増加が抑制され
る。
バークの回路図である。
10・・・重み付け回路 12・・・バイアス回路 14・・・負荷 16・・・セグメント回路 T1〜T4・・・電流源トランジスタセル1 −18・
・・同一サイズのトランジスタ11〜■15・・・電流
源トランジスタセル
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の原理による重み付け回路の回路図、 策2図は、本発明の第1実施例による重み付け回路を使
用したDAコンバータの回路図、第3図は、本発明の第
2実施例による重み付け回路を使用したDAコンバータ
の回路図、第4図は、従来の重み付け回路の回路図、第
5図は、従来の重み付け回路を使用したDAコンバータ
の回路図、

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、nビットのデジタル信号に対応する電流値によって
    アナログ信号を出力するDAコンバータであつて、 n個の電流源トランジスタセル(T_1〜T_n)を含
    み、該n個電流源トランジスタセル(T_1〜T_n)
    のうち第m番目(1≦m≦n)のトランジスタセル(T
    _m)から出力される電流値が、最下位ビットを形成す
    るトランジスタから出力される電流値に対して2^m^
    −^1倍で示される重み付け回路を有し、 前記電流源トランジスタセル(T_1〜T_n)のそれ
    ぞれは2^n^−^1個の同一サイズのトランジスタ(
    t_1〜t_2n−1)で形成され、第m番目のトラン
    ジスタセル(T_m)には、2^m^−^1個のトラン
    ジスタ(T_1〜t_2n−1)が直列に接続されて構
    成されてなることを特徴とするDAコンバータ。 2、nビットのディジタル信号に対応する電流値によっ
    てアナログ信号を出力するDAコンバータにおいて、 前記nビットのうちの上位lビットをセグメント回路で
    構成し、下位n−lビットを重み付け回路で構成し、前
    記セグメント回路および重み付け回路の各電流源トラン
    ジスタセルのサイズを同一としたことを特徴とするDA
    コンバータ。
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Cited By (80)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6031366A (en) * 1997-08-21 2000-02-29 Nec Corporation Variable current source with deviation compensation
JP2000122608A (ja) * 1998-10-13 2000-04-28 Seiko Epson Corp 表示装置及び電子機器
JP2000276108A (ja) * 1999-03-24 2000-10-06 Sanyo Electric Co Ltd アクティブ型el表示装置
JP2002062845A (ja) * 2000-06-06 2002-02-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置
WO2003027998A1 (en) * 2001-09-25 2003-04-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. El display panel and el display apparatus comprising it
JP2003233347A (ja) * 2001-08-02 2003-08-22 Seiko Epson Corp 画素へのプログラミング電流の供給
JP2004503974A (ja) * 2000-06-09 2004-02-05 サンディスク コーポレイション 精度が改善された多出力電流ミラー
JP2004088158A (ja) * 2002-08-22 2004-03-18 Seiko Epson Corp 電子回路、電気光学装置及び電子機器
JP2004206045A (ja) * 2002-10-31 2004-07-22 Casio Comput Co Ltd 電流生成供給回路及びその制御方法並びに電流生成供給回路を備えた表示装置
JP2004246182A (ja) * 2003-02-14 2004-09-02 Mitsubishi Electric Corp 表示装置およびそれにおける表示方法
JP2004309924A (ja) * 2003-04-09 2004-11-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 表示装置、ソース駆動回路、及び表示パネル
JP2004348026A (ja) * 2003-05-26 2004-12-09 Casio Comput Co Ltd 電流生成供給回路及びその制御方法並びに電流生成供給回路を備えた表示装置
JP2005017979A (ja) * 2003-06-30 2005-01-20 Casio Comput Co Ltd 電流生成供給回路及びその制御方法並びに該電流生成供給回路を備えた表示装置
JP2005130469A (ja) * 2003-09-30 2005-05-19 Rohm Co Ltd D/a変換回路、有機el駆動回路および有機el表示装置
JPWO2003091977A1 (ja) * 2002-04-26 2005-09-02 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 El表示パネルのドライバ回路
US7068978B2 (en) 2003-04-22 2006-06-27 Oki Electric Industry Co., Ltd. Current cell type digital-to-analog converter
JP2007226258A (ja) * 2002-04-26 2007-09-06 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd El表示パネルのドライバ回路
JP2007233398A (ja) * 2002-04-26 2007-09-13 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd El表示パネルの駆動方法
JP2007256958A (ja) * 2002-04-26 2007-10-04 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd El表示パネルの駆動方法
JP2008072189A (ja) * 2006-09-12 2008-03-27 Denso Corp 電流加算型高分解能d/aコンバータ
JP2008139697A (ja) * 2006-12-04 2008-06-19 Nec Electronics Corp 容量性負荷駆動回路および容量性負荷駆動方法、液晶表示装置駆動方法
JP2008257258A (ja) * 2001-08-02 2008-10-23 Seiko Epson Corp 画素へのプログラミング電流の供給
JP2008299343A (ja) * 2008-07-24 2008-12-11 Casio Comput Co Ltd 表示装置
US7561147B2 (en) 2003-05-07 2009-07-14 Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. Current output type of semiconductor circuit, source driver for display drive, display device, and current output method
JP2009253952A (ja) * 2008-04-11 2009-10-29 Nec Corp 半導体装置及び半導体装置のインピーダンス調整方法
US7760161B2 (en) 2003-07-16 2010-07-20 Casio Computer Co., Ltd. Current generation supply circuit and display device
US7817149B2 (en) 2002-04-26 2010-10-19 Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. Semiconductor circuits for driving current-driven display and display
US7864167B2 (en) 2002-10-31 2011-01-04 Casio Computer Co., Ltd. Display device wherein drive currents are based on gradation currents and method for driving a display device
US7924248B2 (en) 2002-04-26 2011-04-12 Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. Drive method of EL display apparatus
JP4856250B2 (ja) * 2007-11-20 2012-01-18 株式会社アドバンテスト D/a変換器及び電子ビーム露光装置
US8289241B2 (en) 2000-06-06 2012-10-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
JPWO2014103265A1 (ja) * 2012-12-25 2017-01-12 パナソニック株式会社 電力増幅器
US9633597B2 (en) 2006-04-19 2017-04-25 Ignis Innovation Inc. Stable driving scheme for active matrix displays
US9640112B2 (en) 2011-05-26 2017-05-02 Ignis Innovation Inc. Adaptive feedback system for compensating for aging pixel areas with enhanced estimation speed
US9685114B2 (en) 2012-12-11 2017-06-20 Ignis Innovation Inc. Pixel circuits for AMOLED displays
US9721512B2 (en) 2013-03-15 2017-08-01 Ignis Innovation Inc. AMOLED displays with multiple readout circuits
US9741282B2 (en) 2013-12-06 2017-08-22 Ignis Innovation Inc. OLED display system and method
US9741279B2 (en) 2012-05-23 2017-08-22 Ignis Innovation Inc. Display systems with compensation for line propagation delay
US9747834B2 (en) 2012-05-11 2017-08-29 Ignis Innovation Inc. Pixel circuits including feedback capacitors and reset capacitors, and display systems therefore
US9761170B2 (en) 2013-12-06 2017-09-12 Ignis Innovation Inc. Correction for localized phenomena in an image array
US9773439B2 (en) 2011-05-27 2017-09-26 Ignis Innovation Inc. Systems and methods for aging compensation in AMOLED displays
US9773441B2 (en) 2010-02-04 2017-09-26 Ignis Innovation Inc. System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device
US9786209B2 (en) 2009-11-30 2017-10-10 Ignis Innovation Inc. System and methods for aging compensation in AMOLED displays
US9786223B2 (en) 2012-12-11 2017-10-10 Ignis Innovation Inc. Pixel circuits for AMOLED displays
US9792857B2 (en) 2012-02-03 2017-10-17 Ignis Innovation Inc. Driving system for active-matrix displays
US9799248B2 (en) 2011-05-20 2017-10-24 Ignis Innovation Inc. System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays
US9799246B2 (en) 2011-05-20 2017-10-24 Ignis Innovation Inc. System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays
US9818323B2 (en) 2013-03-14 2017-11-14 Ignis Innovation Inc. Re-interpolation with edge detection for extracting an aging pattern for AMOLED displays
US9830857B2 (en) 2013-01-14 2017-11-28 Ignis Innovation Inc. Cleaning common unwanted signals from pixel measurements in emissive displays
US9852689B2 (en) 2003-09-23 2017-12-26 Ignis Innovation Inc. Circuit and method for driving an array of light emitting pixels
US9881532B2 (en) 2010-02-04 2018-01-30 Ignis Innovation Inc. System and method for extracting correlation curves for an organic light emitting device
US9947293B2 (en) 2015-05-27 2018-04-17 Ignis Innovation Inc. Systems and methods of reduced memory bandwidth compensation
US9970964B2 (en) 2004-12-15 2018-05-15 Ignis Innovation Inc. Method and system for programming, calibrating and driving a light emitting device display
US9990882B2 (en) 2013-08-12 2018-06-05 Ignis Innovation Inc. Compensation accuracy
US9997110B2 (en) 2010-12-02 2018-06-12 Ignis Innovation Inc. System and methods for thermal compensation in AMOLED displays
US10012678B2 (en) 2004-12-15 2018-07-03 Ignis Innovation Inc. Method and system for programming, calibrating and/or compensating, and driving an LED display
US10013907B2 (en) 2004-12-15 2018-07-03 Ignis Innovation Inc. Method and system for programming, calibrating and/or compensating, and driving an LED display
US10019941B2 (en) 2005-09-13 2018-07-10 Ignis Innovation Inc. Compensation technique for luminance degradation in electro-luminance devices
US10078984B2 (en) 2005-02-10 2018-09-18 Ignis Innovation Inc. Driving circuit for current programmed organic light-emitting diode displays
US10089924B2 (en) 2011-11-29 2018-10-02 Ignis Innovation Inc. Structural and low-frequency non-uniformity compensation
US10089921B2 (en) 2010-02-04 2018-10-02 Ignis Innovation Inc. System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device
US10163401B2 (en) 2010-02-04 2018-12-25 Ignis Innovation Inc. System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device
US10176736B2 (en) 2010-02-04 2019-01-08 Ignis Innovation Inc. System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device
US10181282B2 (en) 2015-01-23 2019-01-15 Ignis Innovation Inc. Compensation for color variations in emissive devices
US10192479B2 (en) 2014-04-08 2019-01-29 Ignis Innovation Inc. Display system using system level resources to calculate compensation parameters for a display module in a portable device
USRE47257E1 (en) 2004-06-29 2019-02-26 Ignis Innovation Inc. Voltage-programming scheme for current-driven AMOLED displays
US10235933B2 (en) 2005-04-12 2019-03-19 Ignis Innovation Inc. System and method for compensation of non-uniformities in light emitting device displays
US10304390B2 (en) 2009-11-30 2019-05-28 Ignis Innovation Inc. System and methods for aging compensation in AMOLED displays
US10311780B2 (en) 2015-05-04 2019-06-04 Ignis Innovation Inc. Systems and methods of optical feedback
US10319307B2 (en) 2009-06-16 2019-06-11 Ignis Innovation Inc. Display system with compensation techniques and/or shared level resources
US10325554B2 (en) 2006-08-15 2019-06-18 Ignis Innovation Inc. OLED luminance degradation compensation
US10339860B2 (en) 2015-08-07 2019-07-02 Ignis Innovation, Inc. Systems and methods of pixel calibration based on improved reference values
US10388221B2 (en) 2005-06-08 2019-08-20 Ignis Innovation Inc. Method and system for driving a light emitting device display
US10439159B2 (en) 2013-12-25 2019-10-08 Ignis Innovation Inc. Electrode contacts
US10475379B2 (en) 2011-05-20 2019-11-12 Ignis Innovation Inc. Charged-based compensation and parameter extraction in AMOLED displays
US10553141B2 (en) 2009-06-16 2020-02-04 Ignis Innovation Inc. Compensation technique for color shift in displays
US10573231B2 (en) 2010-02-04 2020-02-25 Ignis Innovation Inc. System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device
US10699613B2 (en) 2009-11-30 2020-06-30 Ignis Innovation Inc. Resetting cycle for aging compensation in AMOLED displays
US10867536B2 (en) 2013-04-22 2020-12-15 Ignis Innovation Inc. Inspection system for OLED display panels
US10996258B2 (en) 2009-11-30 2021-05-04 Ignis Innovation Inc. Defect detection and correction of pixel circuits for AMOLED displays

Cited By (124)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6031366A (en) * 1997-08-21 2000-02-29 Nec Corporation Variable current source with deviation compensation
JP2000122608A (ja) * 1998-10-13 2000-04-28 Seiko Epson Corp 表示装置及び電子機器
JP2000276108A (ja) * 1999-03-24 2000-10-06 Sanyo Electric Co Ltd アクティブ型el表示装置
US8289241B2 (en) 2000-06-06 2012-10-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
JP2002062845A (ja) * 2000-06-06 2002-02-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置
US8659516B2 (en) 2000-06-06 2014-02-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
JP2004503974A (ja) * 2000-06-09 2004-02-05 サンディスク コーポレイション 精度が改善された多出力電流ミラー
JP2003233347A (ja) * 2001-08-02 2003-08-22 Seiko Epson Corp 画素へのプログラミング電流の供給
JP2008257258A (ja) * 2001-08-02 2008-10-23 Seiko Epson Corp 画素へのプログラミング電流の供給
US7489310B2 (en) 2001-08-02 2009-02-10 Seiko Epson Corporation Supply of a programming current to a pixel
WO2003027998A1 (en) * 2001-09-25 2003-04-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. El display panel and el display apparatus comprising it
EP1450341A4 (en) * 2001-09-25 2009-04-01 Panasonic Corp EL DISPLAY BOARD AND EL DISPLAY DEVICE THEREFOR
JPWO2003027998A1 (ja) * 2001-09-25 2005-01-13 松下電器産業株式会社 El表示装置
US7817149B2 (en) 2002-04-26 2010-10-19 Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. Semiconductor circuits for driving current-driven display and display
US7932880B2 (en) 2002-04-26 2011-04-26 Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. EL display panel driving method
JPWO2003091977A1 (ja) * 2002-04-26 2005-09-02 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 El表示パネルのドライバ回路
JPWO2003091978A1 (ja) * 2002-04-26 2005-09-02 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 El表示パネルの駆動方法
US7924248B2 (en) 2002-04-26 2011-04-12 Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. Drive method of EL display apparatus
JP2007226258A (ja) * 2002-04-26 2007-09-06 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd El表示パネルのドライバ回路
JP2007233398A (ja) * 2002-04-26 2007-09-13 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd El表示パネルの駆動方法
JP2007256958A (ja) * 2002-04-26 2007-10-04 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd El表示パネルの駆動方法
US7777698B2 (en) 2002-04-26 2010-08-17 Toshiba Matsushita Display Technology, Co., Ltd. Drive method of EL display panel
US8063855B2 (en) 2002-04-26 2011-11-22 Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. Drive method of EL display panel
JP2004088158A (ja) * 2002-08-22 2004-03-18 Seiko Epson Corp 電子回路、電気光学装置及び電子機器
JP2004206045A (ja) * 2002-10-31 2004-07-22 Casio Comput Co Ltd 電流生成供給回路及びその制御方法並びに電流生成供給回路を備えた表示装置
US7864167B2 (en) 2002-10-31 2011-01-04 Casio Computer Co., Ltd. Display device wherein drive currents are based on gradation currents and method for driving a display device
JP2004246182A (ja) * 2003-02-14 2004-09-02 Mitsubishi Electric Corp 表示装置およびそれにおける表示方法
US7304621B2 (en) 2003-04-09 2007-12-04 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Display apparatus, source driver and display panel
JP2004309924A (ja) * 2003-04-09 2004-11-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 表示装置、ソース駆動回路、及び表示パネル
US7864171B2 (en) 2003-04-09 2011-01-04 Panasonic Corporation Display apparatus, source driver and dispaly panel
US7068978B2 (en) 2003-04-22 2006-06-27 Oki Electric Industry Co., Ltd. Current cell type digital-to-analog converter
US7561147B2 (en) 2003-05-07 2009-07-14 Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. Current output type of semiconductor circuit, source driver for display drive, display device, and current output method
JP2004348026A (ja) * 2003-05-26 2004-12-09 Casio Comput Co Ltd 電流生成供給回路及びその制御方法並びに電流生成供給回路を備えた表示装置
US7580011B2 (en) 2003-06-30 2009-08-25 Casio Computer Co., Ltd. Current generation supply circuit and display device
JP2005017979A (ja) * 2003-06-30 2005-01-20 Casio Comput Co Ltd 電流生成供給回路及びその制御方法並びに該電流生成供給回路を備えた表示装置
US7760161B2 (en) 2003-07-16 2010-07-20 Casio Computer Co., Ltd. Current generation supply circuit and display device
US9852689B2 (en) 2003-09-23 2017-12-26 Ignis Innovation Inc. Circuit and method for driving an array of light emitting pixels
US10089929B2 (en) 2003-09-23 2018-10-02 Ignis Innovation Inc. Pixel driver circuit with load-balance in current mirror circuit
JP2005130469A (ja) * 2003-09-30 2005-05-19 Rohm Co Ltd D/a変換回路、有機el駆動回路および有機el表示装置
USRE47257E1 (en) 2004-06-29 2019-02-26 Ignis Innovation Inc. Voltage-programming scheme for current-driven AMOLED displays
US10013907B2 (en) 2004-12-15 2018-07-03 Ignis Innovation Inc. Method and system for programming, calibrating and/or compensating, and driving an LED display
US9970964B2 (en) 2004-12-15 2018-05-15 Ignis Innovation Inc. Method and system for programming, calibrating and driving a light emitting device display
US10012678B2 (en) 2004-12-15 2018-07-03 Ignis Innovation Inc. Method and system for programming, calibrating and/or compensating, and driving an LED display
US10699624B2 (en) 2004-12-15 2020-06-30 Ignis Innovation Inc. Method and system for programming, calibrating and/or compensating, and driving an LED display
US10078984B2 (en) 2005-02-10 2018-09-18 Ignis Innovation Inc. Driving circuit for current programmed organic light-emitting diode displays
US10235933B2 (en) 2005-04-12 2019-03-19 Ignis Innovation Inc. System and method for compensation of non-uniformities in light emitting device displays
US10388221B2 (en) 2005-06-08 2019-08-20 Ignis Innovation Inc. Method and system for driving a light emitting device display
US10019941B2 (en) 2005-09-13 2018-07-10 Ignis Innovation Inc. Compensation technique for luminance degradation in electro-luminance devices
US9633597B2 (en) 2006-04-19 2017-04-25 Ignis Innovation Inc. Stable driving scheme for active matrix displays
US9842544B2 (en) 2006-04-19 2017-12-12 Ignis Innovation Inc. Stable driving scheme for active matrix displays
US10127860B2 (en) 2006-04-19 2018-11-13 Ignis Innovation Inc. Stable driving scheme for active matrix displays
US10453397B2 (en) 2006-04-19 2019-10-22 Ignis Innovation Inc. Stable driving scheme for active matrix displays
US10325554B2 (en) 2006-08-15 2019-06-18 Ignis Innovation Inc. OLED luminance degradation compensation
JP2008072189A (ja) * 2006-09-12 2008-03-27 Denso Corp 電流加算型高分解能d/aコンバータ
JP2008139697A (ja) * 2006-12-04 2008-06-19 Nec Electronics Corp 容量性負荷駆動回路および容量性負荷駆動方法、液晶表示装置駆動方法
JP4856250B2 (ja) * 2007-11-20 2012-01-18 株式会社アドバンテスト D/a変換器及び電子ビーム露光装置
JP2009253952A (ja) * 2008-04-11 2009-10-29 Nec Corp 半導体装置及び半導体装置のインピーダンス調整方法
JP2008299343A (ja) * 2008-07-24 2008-12-11 Casio Comput Co Ltd 表示装置
US10319307B2 (en) 2009-06-16 2019-06-11 Ignis Innovation Inc. Display system with compensation techniques and/or shared level resources
US10553141B2 (en) 2009-06-16 2020-02-04 Ignis Innovation Inc. Compensation technique for color shift in displays
US9786209B2 (en) 2009-11-30 2017-10-10 Ignis Innovation Inc. System and methods for aging compensation in AMOLED displays
US10996258B2 (en) 2009-11-30 2021-05-04 Ignis Innovation Inc. Defect detection and correction of pixel circuits for AMOLED displays
US10679533B2 (en) 2009-11-30 2020-06-09 Ignis Innovation Inc. System and methods for aging compensation in AMOLED displays
US10699613B2 (en) 2009-11-30 2020-06-30 Ignis Innovation Inc. Resetting cycle for aging compensation in AMOLED displays
US10304390B2 (en) 2009-11-30 2019-05-28 Ignis Innovation Inc. System and methods for aging compensation in AMOLED displays
US9881532B2 (en) 2010-02-04 2018-01-30 Ignis Innovation Inc. System and method for extracting correlation curves for an organic light emitting device
US10971043B2 (en) 2010-02-04 2021-04-06 Ignis Innovation Inc. System and method for extracting correlation curves for an organic light emitting device
US10176736B2 (en) 2010-02-04 2019-01-08 Ignis Innovation Inc. System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device
US9773441B2 (en) 2010-02-04 2017-09-26 Ignis Innovation Inc. System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device
US10395574B2 (en) 2010-02-04 2019-08-27 Ignis Innovation Inc. System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device
US10573231B2 (en) 2010-02-04 2020-02-25 Ignis Innovation Inc. System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device
US10032399B2 (en) 2010-02-04 2018-07-24 Ignis Innovation Inc. System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device
US10163401B2 (en) 2010-02-04 2018-12-25 Ignis Innovation Inc. System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device
US10089921B2 (en) 2010-02-04 2018-10-02 Ignis Innovation Inc. System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device
US10460669B2 (en) 2010-12-02 2019-10-29 Ignis Innovation Inc. System and methods for thermal compensation in AMOLED displays
US9997110B2 (en) 2010-12-02 2018-06-12 Ignis Innovation Inc. System and methods for thermal compensation in AMOLED displays
US10580337B2 (en) 2011-05-20 2020-03-03 Ignis Innovation Inc. System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays
US9799246B2 (en) 2011-05-20 2017-10-24 Ignis Innovation Inc. System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays
US10325537B2 (en) 2011-05-20 2019-06-18 Ignis Innovation Inc. System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays
US10475379B2 (en) 2011-05-20 2019-11-12 Ignis Innovation Inc. Charged-based compensation and parameter extraction in AMOLED displays
US10127846B2 (en) 2011-05-20 2018-11-13 Ignis Innovation Inc. System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays
US9799248B2 (en) 2011-05-20 2017-10-24 Ignis Innovation Inc. System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays
US10032400B2 (en) 2011-05-20 2018-07-24 Ignis Innovation Inc. System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays
US9978297B2 (en) 2011-05-26 2018-05-22 Ignis Innovation Inc. Adaptive feedback system for compensating for aging pixel areas with enhanced estimation speed
US9640112B2 (en) 2011-05-26 2017-05-02 Ignis Innovation Inc. Adaptive feedback system for compensating for aging pixel areas with enhanced estimation speed
US10706754B2 (en) 2011-05-26 2020-07-07 Ignis Innovation Inc. Adaptive feedback system for compensating for aging pixel areas with enhanced estimation speed
US10417945B2 (en) 2011-05-27 2019-09-17 Ignis Innovation Inc. Systems and methods for aging compensation in AMOLED displays
US9773439B2 (en) 2011-05-27 2017-09-26 Ignis Innovation Inc. Systems and methods for aging compensation in AMOLED displays
US10380944B2 (en) 2011-11-29 2019-08-13 Ignis Innovation Inc. Structural and low-frequency non-uniformity compensation
US10089924B2 (en) 2011-11-29 2018-10-02 Ignis Innovation Inc. Structural and low-frequency non-uniformity compensation
US10453394B2 (en) 2012-02-03 2019-10-22 Ignis Innovation Inc. Driving system for active-matrix displays
US9792857B2 (en) 2012-02-03 2017-10-17 Ignis Innovation Inc. Driving system for active-matrix displays
US10043448B2 (en) 2012-02-03 2018-08-07 Ignis Innovation Inc. Driving system for active-matrix displays
US9747834B2 (en) 2012-05-11 2017-08-29 Ignis Innovation Inc. Pixel circuits including feedback capacitors and reset capacitors, and display systems therefore
US9741279B2 (en) 2012-05-23 2017-08-22 Ignis Innovation Inc. Display systems with compensation for line propagation delay
US10176738B2 (en) 2012-05-23 2019-01-08 Ignis Innovation Inc. Display systems with compensation for line propagation delay
US9940861B2 (en) 2012-05-23 2018-04-10 Ignis Innovation Inc. Display systems with compensation for line propagation delay
US9786223B2 (en) 2012-12-11 2017-10-10 Ignis Innovation Inc. Pixel circuits for AMOLED displays
US9685114B2 (en) 2012-12-11 2017-06-20 Ignis Innovation Inc. Pixel circuits for AMOLED displays
US10140925B2 (en) 2012-12-11 2018-11-27 Ignis Innovation Inc. Pixel circuits for AMOLED displays
US10311790B2 (en) 2012-12-11 2019-06-04 Ignis Innovation Inc. Pixel circuits for amoled displays
JPWO2014103265A1 (ja) * 2012-12-25 2017-01-12 パナソニック株式会社 電力増幅器
US10847087B2 (en) 2013-01-14 2020-11-24 Ignis Innovation Inc. Cleaning common unwanted signals from pixel measurements in emissive displays
US9830857B2 (en) 2013-01-14 2017-11-28 Ignis Innovation Inc. Cleaning common unwanted signals from pixel measurements in emissive displays
US11875744B2 (en) 2013-01-14 2024-01-16 Ignis Innovation Inc. Cleaning common unwanted signals from pixel measurements in emissive displays
US10198979B2 (en) 2013-03-14 2019-02-05 Ignis Innovation Inc. Re-interpolation with edge detection for extracting an aging pattern for AMOLED displays
US9818323B2 (en) 2013-03-14 2017-11-14 Ignis Innovation Inc. Re-interpolation with edge detection for extracting an aging pattern for AMOLED displays
US9721512B2 (en) 2013-03-15 2017-08-01 Ignis Innovation Inc. AMOLED displays with multiple readout circuits
US10460660B2 (en) 2013-03-15 2019-10-29 Ingis Innovation Inc. AMOLED displays with multiple readout circuits
US9997107B2 (en) 2013-03-15 2018-06-12 Ignis Innovation Inc. AMOLED displays with multiple readout circuits
US10867536B2 (en) 2013-04-22 2020-12-15 Ignis Innovation Inc. Inspection system for OLED display panels
US10600362B2 (en) 2013-08-12 2020-03-24 Ignis Innovation Inc. Compensation accuracy
US9990882B2 (en) 2013-08-12 2018-06-05 Ignis Innovation Inc. Compensation accuracy
US9761170B2 (en) 2013-12-06 2017-09-12 Ignis Innovation Inc. Correction for localized phenomena in an image array
US9741282B2 (en) 2013-12-06 2017-08-22 Ignis Innovation Inc. OLED display system and method
US10395585B2 (en) 2013-12-06 2019-08-27 Ignis Innovation Inc. OLED display system and method
US10186190B2 (en) 2013-12-06 2019-01-22 Ignis Innovation Inc. Correction for localized phenomena in an image array
US10439159B2 (en) 2013-12-25 2019-10-08 Ignis Innovation Inc. Electrode contacts
US10192479B2 (en) 2014-04-08 2019-01-29 Ignis Innovation Inc. Display system using system level resources to calculate compensation parameters for a display module in a portable device
US10181282B2 (en) 2015-01-23 2019-01-15 Ignis Innovation Inc. Compensation for color variations in emissive devices
US10311780B2 (en) 2015-05-04 2019-06-04 Ignis Innovation Inc. Systems and methods of optical feedback
US9947293B2 (en) 2015-05-27 2018-04-17 Ignis Innovation Inc. Systems and methods of reduced memory bandwidth compensation
US10403230B2 (en) 2015-05-27 2019-09-03 Ignis Innovation Inc. Systems and methods of reduced memory bandwidth compensation
US10339860B2 (en) 2015-08-07 2019-07-02 Ignis Innovation, Inc. Systems and methods of pixel calibration based on improved reference values

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