JPH0442710B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、たとえば、IC部品を回路基板に
搭載するときに必要となる、撮像装置から得られ
る画像パターン中に存在する特定パターンの位置
を高速に検出する、２次元位置検出方法に使用す
るパターンマツチング方法に関するものである。

従来の技術 従来のパターンマツチングによる位置検出方法
を大別すると、 １ 撮像装置から得た画像パターン１フレーム分
を半導体メモリなどの画像パターン記憶装置に
格納した後、標準パターンとの照合処理を行う
方法。

と、 ２ 撮像装置が走査している位置の座標を発生す
る装置と、標準パターンとの照合処理に必要な
最少限度の容量を持つた、半導体メモリなどの
画像パターン記憶装置によつて、標準パターン
との照合処理を画像パターンを取り込みながら
行う方法。

の２つに分類できる。

そこでこれら２つのパターンマツチング方法に
ついて、処理速度、処理の拡張性、コストの３項
目について検討してみる。

まず、処理速度であるが、第１の方法は画像パ
ターン１フレーム分を記憶装置に取り込んだ後で
照合処理を行うため、一般的に処理時間を要しリ
アルタイム処理には向いていない。画像パターン
１フレーム分を記憶装置に取り込むのに要する時
間をT_i、記憶装置に取り込んだ１フレーム分の画
像パターンと標準パターンとの照合処理に要する
時間をT_pとすると、第１の方法によるパターン
マツチングに要する時間T_n1は、T_iとT_pの和によ
つて(1)式の T_n1＝T_i＋T_p ……(1) ように表わされる。第２の方法は画像パターンを
取り込みながら照合処理を行うため、処理時間は
短くリアルタイム処理に向いている。第２の方法
によるパターンマツチングに要する時間T_n2は、
T_iに等しく(2)式のように表わされる。

T_n2＝T_i ……(2) 第１の方法では高速化を図るために、画像パター
ン上に数画素毎に照合基準点を粗く設けておい
て、まず１画面分の照合を行う、次にそれらの照
合結果より得られる一致度が充分高い照合基準点
を基にして、探索手法を用いた詳しい照合を行つ
て認識点を捜すという階層構造を持つたパターン
マツチング方法が採用されることが多い。

次に処理の拡張性について述べる。第１の方法
は撮像装置より得た画像パターンを記憶装置に保
持しているため、標準パターンとの照合処理の前
処理であるフイルタリングなどの処理において演
算子の重みづけを自由に設定したり、照合処理の
終了後その結果によつて画像パターンの特定領域
をもう一度取り出して確認処理を施すといつたこ
とが選択的にできる。また照合処理を行う際にも
照合の基準となる画像パターンと標準パターンの
位置合せ点（以下照合基準点と呼ぶ）を、撮像装
置の走査する方向と直角の方向に走査させること
も可能である。第２の方法においてもフイルタリ
ングなどの前処理や照合処理後の確認処理は可能
ではあるが、前処理に関しては固定でフイルタリ
ング処理時の演算子の重みなどを容易に変換する
ことはできないし、また照合処理後の確認処理も
照合結果を得た同一画面に対して行うことはでき
ない。

最後にこれら２つの方法によつてパターンマツ
チング装置を実現した時の価格について述べる。
第１の方法は画像パターンを１フレーム分記憶す
るために、第２の方法に比べて半導体ICメモリ
などの記憶素子を多く必要とし、第２の方法では
リアルタイムで送られてくる画像パターンを標準
パターンと照合処理するため、第１の方法に比べ
て論理ICを多く必要とする。従来、半導体ICメ
モリが高価であり、第１の方法を安価に実現する
ことは難しかつたが、近年半導体ICメモリの集
積度が急速に高まり、単位記憶容量あたりの価格
は低下して、第２の方法を実現するための論理
ICの価格よりも安価になつてきている。したが
つて現在では、第１の方法を採用した方が、安価
にパターンマツチング装置を実現できる。

以上のことから、第１の方法を採用すれば処理
時間はかかる拡張性のある機能を持つた装置を安
価に実現することができ、第２の方法を採用すれ
ば機能は限定されコストもやや高くなるが高速処
理が可能な装置を実現することができるといえ
る。

本発明は上記の第１の方法によつて、２次元の
位置検出をリアルタイムで行うためのパターンマ
ツチング方法に関するものである。高速処理に不
向きな第１の方法をあえて採用したのは、上述し
たようにパターンマツチング処理の拡張性が高く
柔軟な処理ができることと、第２の方法より安価
に実現できることによる。また本発明は、上述し
た粗い照合処理と詳しい照合処理による階層化パ
ターンマツチング方法という高速処理手法を取り
入れることを前提としている。

従来、粗い照合処理と詳しい照合処理を組み合
わせてパターンマツチング処理の高速化を図る階
層化パターンマツチング方法においては、画像パ
ターン上に数画素毎に粗く設けられた第１の照合
基準点の全てにおいて標準パターンと第１の照合
処理を行い、その結果得られる第１の一致度の全
てをあらかじめ定められた基準値である第１の合
格基準値と比較し、第１の一致度が第１の合格基
準値以上の値になつたＰ個の第１の照合基準点の
座標を保持しておいて、これらＰ個の第１の照合
基準点の近傍に設定された小領域に対しあらため
て詳しい照合処理である第２の照合処理を行つて
その結果得られる第２の一致度の中で最大となつ
た一致度を与えた第２の照合基準点を認識点とし
ている。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、たとえ
ば、IC部品を回路基板に搭載するときに要求さ
れる処理時間内で、IC部品の複数個の位置検出
を高速かつ正確に行うことは難しい。

第２図は、大きさがＭ×Ｍの標準パターン３１
と標準パターン３１の照合基準点３２およびＮ×
Ｎの大きさを持つた画像パターン３３と画像パタ
ーン３３上にｎ画素毎に設けられた第１の照合基
準点３４を示している。粗い照合処理である第１
の照合処理は、標準パターン３１の照合基準点３
２を画像パターン３３の第１の照合基準点３４に
位置合せをして２つのパターンの照合を行うこと
によつてなされる。従来、この第１の照合処理は
第１の照合基準点３４の全てにおいて実施され、
その後第１の照合処理で第１の合格基準値以上の
一致度を与えた第１の照合基準点のそれぞれに対
して、詳しい照合処理である第２の照合処理が行
われていた。しかし、第１の照合基準点の数は膨
大であり、全ての第１の照合基準点における標準
パターンとの照合処理だけで画像パターンの取り
込み時間の数倍以上の処理時間を要することにな
る。第２図の例では、画像パターン３３上に存在
する第１の照合基準点の数は次の(3)式で与えられ
る。

〔Ｎ−Ｍ／ｎ＋１〕² ……(3) 記号〔ａ〕は、ガウスの記号でａを越えない最大
の整数を表している。この第１の照合基準点の数
は、たとえば、Ｎ＝512，Ｍ＝16，ｎ＝４とすれ
ば、約15600もの値となる。

そこでこれら多数の第１の照合基準点における
第１の照合処理に要する時間を短縮するために、
第１の照合処理に合格した時にはただちに第２の
照合処理を行つて認識点の検出を行い、あらかじ
め定められた点数の認識点が得られた時点で処理
を終了させることにする。しかし、上述したよう
に第１の照合処理と第２の照合処理をおりまぜな
がら認識点の検出を行おうとすると認識点の位置
を正確に検出できないという問題が新たに発生す
る。

第３図は３つの第１の照合基準点３５，３６，
３７、各基準点における第２の照合処理領域３
８，３９，４０、図の領域付近で一致度が最大と
なる照合基準点４１、第２の合格基準値を越える
一致度を与える照合基準点が存在する領域４２、
その領域中で一致度が２番目に大きい照合基準点
４３を示している。図から明らかなように第２の
照合処理を行う領域３８，３９，４０は、隣り合
う領域が互いに少し重なり合うように設定され
る。この第２の照合処理を行う３つの領域３８，
３９，４０において標準パターンとの照合処理を
行うと、いずれの領域においても照合基準点４３
における一致度が最大となる。照合基準点４３
は、第２の合格基準値を越える一致度を与える照
合基準点の存在領域４２に含まれるため、第２の
照合処理を行う３つの領域３８，３９，４０にお
ける照合処理のいずれにおいても、昇合基準点４
３が認識点として検出される。ところが実際には
照合基準点４３の右下により高い一致度を持つ真
の認識点が存在している。したがつて、３つの第
１の照合基準点３５，３６，３７から検出された
認識点４３は、誤認識点なのである。

これは、第２の照合の合格基準がある基準値以
上と幅を持たせて設定されているために、極大値
でなくても合格して認識点になる可能性を持つて
いることが原因している。

本発明は上記問題点に鑑み、画像パターン中に
存在する複数の認識点を高速かつ正確に検出する
ことを目的とした階層的パターンマツチング方法
を提供するものである。

問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するため、本発明のパターン
マツチング方法は、撮像手段より得た映像をデジ
タル化した画像パターンとして記憶手段に保持し
ておき、上記画像パターンの特徴的な部分領域を
標準パターンとしてあらかじめ上記記憶手段とは
別の記憶手段に保持しておいて、上記画像パター
ンと上記標準パターンの照合を行うパターンマツ
チング処理において、上記画像パターンと上記標
準パターンの位置合せ点である照合基準点を上記
画像パターン上に第１の間隔で第１の照合基準点
として設定し、上記第１の照合基準点において上
記画像パターンと上記標準パターンとの第１の照
合処理を行つて、上記第１の照合処理の結果得ら
れる第１の一致度があらかじめ与えられた第１の
基準値よりも大きくなつた場合に、上記第１の照
合基準点の近傍に第２の照合基準点を複数個、上
記第１の間隔より狭い第２の間隔で発生させ、上
記複数個設けた第２の照合基準点の全てにおいて
上記標準パターンと第２の照合処理を行い、上記
第２の照合の結果得られる複数個の第２の一致度
のうち一致度が最大となる第２の照合基準点が、
上記複数個設けた第２の照合基準点が存在する領
域の中で、上記画像パターンの照合をまだ行つて
いない領域との境界に面した領域に存在しておら
ず、あらかじめ与えられた第２の基準値よりも大
きくなつた場合に限り、上記第２の一致度が最大
となつた第２の照合基準を有効とすることによつ
て、上記画像パターン上に複数個存在する認識点
を検出する構成を有する。

作 用 まず簡略化のために画像パターンと標準パター
ンは、“Ｏ”か“１”の２値パターンで“Ｏ”が
黒“１”が白を表わすものとし、この技術的手段
による作用を図面を参照しながら説明する。

第４図は従来の階層化パターンマツチング方法
のフローチヤートを示している。まず、与えられ
た画像パターンに対し全ての第１の照合基準点に
おける照合処理５１を行い、次に第１の照合処理
において一致度が第１の合格基準値以上になつた
合格点を検出５２し、検出された合格点に対し第
２の照合処理５３を行う。そしてその結果、認識
点が検出されれば認識点データを格納５４する。
第４図に示された４つの処理の中で最も処理時間
を要するのは、最初の、全ての第１の照合基準点
における照合処理５１、である。しかもこの処理
方法では、全ての第１の照合基準点における照合
処理５１、に要する時間が固定となつて全て減じ
ることができない。そこで本発明の階層化パター
ンマツチング方法では、第５図に示したフローチ
ヤートに基づいて、第１の照合処理を全ての第１
の照合基準点に対して必ずしも行わないようにし
て、処理の高速化を図つている。第５図において
まず、第１の照合基準点における照合処理５５が
行われ、即座に第１の合格基準値と比較すること
によつて第１の照合処理の不合格判定５６が行わ
れる。そして不合格となつた場合には処理は何も
行われず、画像パターン上に存在する最後の第１
の照合基準点に達したかどうかの判定５７を行つ
て、全ての第１の照合基準点に対する処理が終わ
るまでこの処理を続ける。第１の照合基準点にお
ける照合処理５５に合格した場合には、その第１
の照合基準位置から第２の照合処理５８が行わ
れ、第２の照合処理で得られる一致度の最大の値
が第２の合格基準点と比較５９され、不合格の場
合には最後の第１の照合基準点に達したかどうか
の判定５７を行う。第２の照合処理５８に合格し
た場合は認識点データの格納６０を行つた後、あ
らかじめ定められた認識点数だけ検出されたかど
うかの判定６１を行つて、もしそうであれば全て
の処理を終了し、そうでなければ最後の第１の照
合基準点に達したかどうかの判定５７を行う。こ
のように本発明では、あらかじめ定められた認識
点数だけ検出された場合には、その時点で処理を
中止することによつて、第１の照合処理の回数を
減じ処理を高速化している また、ｎ画素おきに設けられた第１の照合基準
点における照合処理は、認識点がその付近に存在
する可能性があるかどうかを判定するための、ど
ちらかといえば大ざつぱな処理であるので、標準
パターンの全域に対して画像パターンと照合しな
くてもよく、第６図に示すように標準パターン６
２の一部分６３とそれに対応する画像パターンと
の照合だけで充分である。このように、第１の照
合基準点における照合処理を標準パターン６２の
一部領域６３だけに限定していることも処理の高
速化に役立つている。

次に本発明では誤認識を避けるために、第２の
照合処理で得られた一致度が最も高くなつた照合
基準点が、照合処理を行つていない領域に面して
いる場合には、さらに高い一致度を示す照合基準
点が以後出現する可能性があると考えて、この照
合基準点における一致度を無効とする。第７図は
このような例を示した図で、第１の照合基準点６
４における照合が合格となり、第２の照合処理を
小領域６５に対して行う。その結果、第２の照合
基準点６６において一致度が最大となるが、実は
この付近において一致度が最大となるのは照合基
準点６７においてであつて、この照合基準点６７
は、次の第１の照合基準点６８から定められる第
２の照合処理を行う領域６９に含まれている。そ
こで第８図に示すように、第１の照合基準点７０
が移動してきた方向υ_x７１，υ_y７２に対応して、
第２の照合を行う小領域７３の中で、未照合領域
に面した領域７４を無効領域と定める。そうする
と第１の照合基準点７０から定められた第２の照
合処理を行う領域７３の中で一致度が最大になつ
た照合基準点７５は、この無効領域７４上の点と
なつてしまい、このような場合には一致度が最大
となつた照合基準点７５は選ばれない。そして第
９図に示すように、次の第１の照合基準点７６か
ら定められた第２の照合を行う領域７７に存在す
る一致度が最大となる照合基準点７８が認識点と
して選ばれる。この認識点７８は、先ほどの誤認
識点となりかけた照合基準点７９の隣に位置して
おり、この時の無効領域８０には含まれていな
い。このように第２の照合を行う小領域中で、未
照合領域に面した領域を無効領域として、この中
に一致度が最大となる照合基準点が存在する場合
には、この照合基準点を取り上げないようにする
ことによつて正確な認識が行われるようにした。

実施例 以下本発明の一実施例のパターンマツチング方
法について、図面を参照しながら説明する。第１
図は本発明の一実施例であるパターンマツチング
方法のブロツク図を示すものである。第１図にお
いて、テレビカメラなどの撮像手段１より得た映
像信号２は、２値化手段３によつて２値され画像
パターン４となつて画像パターン記憶手段５に格
納される。画像パターン記憶手段５は画像パター
ン制御手段６によつて制御されており、画像パタ
ーンの入出力は、中央処理手段７からの命令８に
よつて行われる。一方標準パターン９は、パター
ンマツチング処理に先立つて、教示時に画像パタ
ーン記憶手段５中より切り出され、標準パターン
記憶手段１０中に保持される。標準パターン記憶
手段１０は標準パターン制御手段１１によつて制
御されており、標準パターンの入出は中央処理手
段７からの命令１２によつて行われる。中央処理
手段７は、また、画像パターンと標準パターンの
照合処理を行う際に照合の対象となるパターンデ
ータ１３，１４がそれぞれ画像パターン記憶手段
５と標準パターン記憶手段１０から読み出され、
論理演算手段１５に入力されるように画像パター
ン制御手段６に対して命令８を、標準パターン制
御手段に対し命令１０を送信する役割や、第１図
の各ブロツクを制御する役割を持つ。論理演算手
段１５に入力された２つのパターンデータ１３，
１４は、そこで排他的論理和の否定をとることに
よつて照合が行われ、２つのパターンデータで対
応する画素が一致する場合には照合結果が“１”
にそうでない場合には“０”になる。標準パター
ンがM_x×M_y画素で構成されている時には、この
論理演算は１度にM_x画素分に対して行われ、論
理演算の結果得られたM_x個の“０”・“１”デー
タ１６が一致度算出手段１７に送られてそこで
“１”の数が計算される。

M_x×M_y画素で構成される標準パターンに対して
は、以上の処理をM_y回繰返すことによつて標準
パターン全域に対する照合処理が終了するが、一
致度算出手段１７では各回ごとに送られてくる
M_x個の“０”・“１”データ１６の“１”の数を
計算しながら累積加算も行つている。第１の照合
処理の場合には、計算された一致度１８が中央処
理手段７に送信され、そこで第１の合格基準値と
比較される。第２の照合処理の場合、例えば第２
の照合処理の対象となる領域が５×５個の第２の
照合基準点より成る時には、25個の照合基準点に
おいて標準パターンとの照合処理が連続して行わ
れ、一致度算出手段１７で計算された一致度１９
は全て最大一致度記憶手段２０へ送られてそこで
最大一致度と比較され、最大一致度が記憶され
る。一致度計算に続いて最大一致度との比較が25
回行われると、その時点で最大一致度記憶手段２
０に保持されている最大一致度２１は、無効領域
判定手段２２に送られる。無効領域判定手段２２
では最大一致度を示した照合基準点が無効領域に
存在しているかどうかの判定を行つて、無効領域
に含まれる場合には一致度を０にリセツトする。
そして第２の照合処理の結果得られる最大一致度
２３は中央処理手段７に送られて、そこで認識点
として充分の一致度が得られているかどうかの判
定が行われる。そして認識点となつた場合には、
一致度と照合基準点のｘ座標、ｙ座標から成る認
識点データ２４が検出位置記憶手段２５に記憶さ
れ、全ての処理が終了した段階で検出位置記憶手
段２５に記憶されている全ての検出位置データ２
６が上位コントローラ２７に送信される。

以上のように構成されたパターンマツチング方
法について、以下第１０図を用いてその動作概要
を説明する。第１０図においてＭ×Ｍ画素の大き
さを持つ標準パターン９０にはあらかじめＮ×Ｎ
画素の大きさを持つ画像パターン９１中の特徴的
な部分が与えられている。画像パターン９１上に
はｎ画素毎に第１の照合点９２が設定されてお
り、第１の照合処理は始点である照合基準点９３
から終点である照合基準点９４に向つて、水平方
向に左から右へ移動しながら全体的に上から下へ
と進んで行く。第１図の照合処理では、各照合基
準点において標準パターン９０と画像パターン９
１の照合が行われるが、その時標準パターンの部
分領域９５に対してのみ照合を行うことによつ
て、処理の高速化を図つている。第１０図には十
字記号によつて２つの認識点９６，９７が示され
ているが、これらの認識点はそれぞれ第１の照合
基準点９８，９９から検出される。求めたい認識
点の数が２点である場合には、第１の照合基準点
９９から認識点９７が検出さた段階で処理を終了
することになる。したがつて、画像パターン９１
中に多数存在する第１の照合基準点９２に対して
は、黒く塗りつぶされた全体の約半数の第１の照
合基準点に対してのみ第１の照合処理を行うこと
になり、第１の照合処理に要する時間は画面全体
を処理対象とした場合のおよそ半分に減じること
ができ、パターンマツチング処理は高速化され
る。

次に第１１図を用いて第１の照合処理に合格し
てから認識点が検出されるようすを示す。第１の
照合処理で合格となつた照合基準点１１０を中心
として、５×５画素から成る小領域１０１を設定
する。この領域が第２の照合処理を行う領域とな
る。第２の照合処理ではこの25個の点を全て第２
の照合基準点として、標準パターン１０２との照
合を行う。この時、第１の照合処理とは異なり標
準パターン１０２の全領域が照合の対象領域とな
る。第２の照合処理の結果、照合基準点１０３に
おいて最大一致度が得られるが、この照合基準点
１０３は無効領域１０４の外に存在しているの
で、この時の一致度がそのまま最大一致度とな
り、第２の合格基準値と比較されて認識点とな
る。第２の照合処理が終了すれば処理は再び第１
の照合処理に戻るが、この時の第１の照合処理の
再開点は前の第１の照合基準点１００の次の第１
の照合基準点１０５になる。

以上のように本実施例によれば、第１の照合処
理においては標準パターンの部分領域に対しての
みの照合で、あらかじめ定められた点数の認識点
が検出できればその時点で処理を中断することに
より、パターンマツチング処理の高速化が図ら
れ、また、小領域に限定された照合処理では無効
領域の設定によつて一致度の極大点を正確に抽出
し、誤認識を少くすることができる。

なお、本発明の実施例では第１の照合処理と第
２の照合処理の２段階の処理で誤認識の検出を行
うとしたが、画像パターン・標準パターンの大き
さや認識対象パターンの複雑さによつては、第１
の照合基準点の設定間隔を大きくとつて、照合基
準点を１画素ごとに設定する最終照合まで、いく
つかの照合を入れて２段階以上の処理にしてもよ
い。第１２図は、３段階の照合の例を示してい
る。４画素毎に設けられた第１の照合基準点１１
０に対して次々と標準パターンの部分領域１１１
で照合を行い、照合基準位置１１２で合格になつ
たとする。次に合格となつた第１の照合基準点１
１３を基準にして第２の照合基準点１１４を２画
素ごとに３×３個設定する。９個の照合基準点に
対しては標準パターンの部分領域１１５で照合を
行う。９回の照合処理の結果一致度が最大になつ
た照合基準点１１６が無効領域１１７に含まれて
いなければ、この最大の一致度が第２の合格基準
値と比較され、その値以上であれば合格となる。
最終段階の照合処理である第３の照合処理では、
第２の照合処理の合格点１１８が中心となるよう
に、３×３個の照合基準点１１９を１画素毎に設
ける。９個の照合基準点に対しては標準パターン
の部分領域１２０で照合を行い、９回の照合処理
の結果得られる一致度が最大になつた照合基準点
１２１は、その一致度が第３の合格基準値以上に
なつた時に認識点となる 発明の効果 以上のように本発明は、複数の照合基準点より
成る画像パターン中の小領域に対して照合を行つ
て上記小領域中で一致度が最大となる照合基準点
を求める時に、上記小領域が画像パターンの未照
合領域と接する部分を無効領域として、最大一致
度を示す照合基準点がこの無効領域に存在した時
にはその照合基準点を無効にすることによつて、
一致度が極大となる領域を抽出し正確な位置検出
を可能にしている。また、照合基準点を設定する
間隔によつて画像パターンと照合する標準パター
ンの照合対象領域の大きさを定めることと、あら
かじめ定められた点数の認識点が得られた場合に
は、その時点を処理を中断し終了させることによ
つて高速位置認識が可能となつた。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例であるパターンマツ
チング方法の構成を示すブロツク図、第２図は標
準パターンと画像パターンの大きさおよび画像パ
ターン上にｎ画素毎に設けられた第１の照合基準
点を示す図、第３図は第１の照合基準点を基準と
して設定される第２の照合処理を行う領域と誤認
識点・真の認識点を示す図、第４図は従来の階層
化されたパターンマツチングのアルゴリズムを示
すフローチヤート図、第５図は本発明による階層
化されたパターンマツチングのアルゴリズムを示
すフローチヤート図、第６図は標準パターン中で
照合の対象となる部分領域を示す図、第７図は第
２の照合処理において一致度が最大になつた照合
基準点が必ずしも極大点でないことを示す図、第
８図は第２の照合処理領域と無効領域を示す図、
第９図は第２の照合処理において一致度が極大に
なる照合基準点が検出されることを示す図、第１
０図はあらかじめ定められた点数の認識点が求ま
つた場合には処理を中断し終了させることを示す
図、第１１図は２段階の照合で認識点が検出され
ることを示す図、第１２図は３段階の照合で認識
点が検出されることを示す図である。 ５……画像パターン記憶手段、７……中央処理
手段、１０……標準パターン記憶手段、１５……
論理演算手段、１７……一致度算出手段、２０…
…最大一致度記憶手段、２２……無効領域判定手
段、３２……標準パターン側照合基準点、３４…
…画像パターン側照合基準点、４１……認識すべ
き点、４２……認識点として充分高い一致度が得
られる領域、４３……誤認識点、６３……標準パ
ターン部分領域、７４……無効領域。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 撮像手段より得た映像をデジタル化した画像
   パターンとして記憶手段に保持しておき、上記画
   像パターンの特徴的な部分領域を標準パターンと
   してあらかじめ上記記憶手段とは別の記憶手段に
   保持しておいて、上記画像パターンと上記標準パ
   ターンの照合を行うパターンマツチング処理にお
   いて、上記画像パターンと上記標準パターンの位
   置合せ点である照合基準点を上記画像パターン上
   に第１の間隔で第１の照合基準点として設定し、
   上記第１の照合基準点において上記画像パターン
   と上記標準パターンとの第１の照合処理を行つ
   て、上記第１の照合処理の結果得られる第１の一
   致度があらかじめ与えられた第１の基準値よりも
   大きくなった場合に、上記第１の照合基準点の近
   傍に第２の照合基準点を複数個、上記第１の間隔
   より狭い第２の間隔で発生させ、上記複数個設け
   た第２の照合基準点の全てにおいて上記標準パタ
   ーンと第２の照合処理を行い、上記第２の照合の
   結果得られる複数個の第２の一致度のうち一致度
   が最大となる第２の照合基準点が、上記複数個設
   けた第２の照合基準点が存在する領域の中で、上
   記画像パターンの照合をまだ行つていない領域と
   の境界に面した領域に存在しておらず、あらかじ
   め与えられた第２の基準値よりも大きくなつた場
   合に限り、上記第２の一致度が最大となつた第２
   の照合基準を有効とすることによつて、上記画像
   パターン上に複数個存在する認識点を検出するこ
   とを特徴とするパターンマツチング方法。 ２ 画像パターンと標準パターンとの照合は、前
   記照合基準点の設定間隔が１画素以上の場合に
   は、前記標準パターンの一部の領域のみを照合対
   象とする特許請求の範囲第１項記載のパターンマ
   ツチング方法。