JPH0443207B2 - - Google Patents
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- JPH0443207B2 JPH0443207B2 JP60063220A JP6322085A JPH0443207B2 JP H0443207 B2 JPH0443207 B2 JP H0443207B2 JP 60063220 A JP60063220 A JP 60063220A JP 6322085 A JP6322085 A JP 6322085A JP H0443207 B2 JPH0443207 B2 JP H0443207B2
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- radiation
- scale
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
- G01B15/025—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、製鉄所等において、スラブ(偏平鋼
片)を圧延して厚板を造るための厚板圧延機(プ
レートミル)における板厚コントロール用の板厚
測定器として好適に用いられる放射線透過式の厚
さ計の改良に関するものである。
片)を圧延して厚板を造るための厚板圧延機(プ
レートミル)における板厚コントロール用の板厚
測定器として好適に用いられる放射線透過式の厚
さ計の改良に関するものである。
放射線透過式厚さ計とは、測定対象とする板材
などの一方から放射線を当て、該板材を透過した
放射線のエネルギーを測定することによりその板
厚寸法を求めるようにした測定器である。
などの一方から放射線を当て、該板材を透過した
放射線のエネルギーを測定することによりその板
厚寸法を求めるようにした測定器である。
かかる放射線透過式厚さ計は、放射線を発生す
る線源の崩壊に起因する経時的放射線強度の低
下、或いは透過放射線のエネルギーを検出するた
めの検出器の経時的劣化等々の理由により、その
厚さ寸法の指示精度(厚さ指示直線性又は目盛精
度とも云う)が経時的に劣化して行くという性質
がある。
る線源の崩壊に起因する経時的放射線強度の低
下、或いは透過放射線のエネルギーを検出するた
めの検出器の経時的劣化等々の理由により、その
厚さ寸法の指示精度(厚さ指示直線性又は目盛精
度とも云う)が経時的に劣化して行くという性質
がある。
それ故、放射線式厚さ計は、2週間乃至1ケ月
に1回程度の割合で、厚み寸法の既知な厚さ標準
ピースを対象とした測定を行なつてその指示目盛
の校正を行う必要がある。厚さ標準ピースとは、
一定材質で構成され、その厚さ寸法を正確に仕上
げて成る板材またはその複数枚の組合せである。
に1回程度の割合で、厚み寸法の既知な厚さ標準
ピースを対象とした測定を行なつてその指示目盛
の校正を行う必要がある。厚さ標準ピースとは、
一定材質で構成され、その厚さ寸法を正確に仕上
げて成る板材またはその複数枚の組合せである。
第5図は、従来の圧延コントロール用放射線透
過式厚さ計の稼動態様の説明図、第6図は、第5
図においてA−A方向から見た側面図、である。
過式厚さ計の稼動態様の説明図、第6図は、第5
図においてA−A方向から見た側面図、である。
これらの図において、1は線源容器、2は検出
器、3は被測定板材、4は厚さ標準ピース、5は
Cフレーム、6は車輪、7はCフレーム駆動用モ
ータ、8はドライブチエーン、9は搬送ロール、
10はサンプル台、11はレール、12は搬送ロ
ールのサポート、である。
器、3は被測定板材、4は厚さ標準ピース、5は
Cフレーム、6は車輪、7はCフレーム駆動用モ
ータ、8はドライブチエーン、9は搬送ロール、
10はサンプル台、11はレール、12は搬送ロ
ールのサポート、である。
第5図において、厚さ計がオンライン位置(右
の実線位置)にあるとき、被測定板材3に対する
厚さ測定を行なう。モータ7を駆動し、チエーン
8を介して車輪6を回転させることにより、厚さ
計はレール11上を移動してオフライン位置(左
の破線位置)に至り、ここで厚さ標準ピース4を
測定対象として厚さ目盛の校正を行なう。
の実線位置)にあるとき、被測定板材3に対する
厚さ測定を行なう。モータ7を駆動し、チエーン
8を介して車輪6を回転させることにより、厚さ
計はレール11上を移動してオフライン位置(左
の破線位置)に至り、ここで厚さ標準ピース4を
測定対象として厚さ目盛の校正を行なう。
所で、かかる放射線式厚さ計の日盛の指示精度
は、線源容器1、検出器2及び被測定板材3の間
の相対的位置関係が狂うと狂つてくることが知ら
れている。そのため従来の厚さ計は、第5図に見
られる如く、線源容器1と検出器2をC文字型の
フレーム5を用いて一体に保持する事により、線
源容器1及び検出器2をオフライン位置へ引出し
た場合でも、それらの間の相対的位置関係が狂わ
ないようにしている。
は、線源容器1、検出器2及び被測定板材3の間
の相対的位置関係が狂うと狂つてくることが知ら
れている。そのため従来の厚さ計は、第5図に見
られる如く、線源容器1と検出器2をC文字型の
フレーム5を用いて一体に保持する事により、線
源容器1及び検出器2をオフライン位置へ引出し
た場合でも、それらの間の相対的位置関係が狂わ
ないようにしている。
このように、線源容器1及び検出器2をオフラ
イン位置へ引出すのは、被測定板材3が通過する
のを妨げることなく、それと全く同じ位置(対応
した位置)に前記厚さ標準ピース4を置いて、そ
の目盛校正を、圧延操業を停止する事なく実施で
きるようにする為である。
イン位置へ引出すのは、被測定板材3が通過する
のを妨げることなく、それと全く同じ位置(対応
した位置)に前記厚さ標準ピース4を置いて、そ
の目盛校正を、圧延操業を停止する事なく実施で
きるようにする為である。
即ち第5図に見られる如く、Cフレーム5をオ
フライン位置(左の破線位置)へ引出し、サンプ
ル台10を組立て、サンプル台10の上に厚さ標
準ピース4を載せる事により、線源容器1、検出
器2、測定対象としての厚さ標準ピース4の間の
相対的位置関係を、オンライン位置にあつて板材
3を測定している場合と全く同じにしながら、ラ
インの圧延操業を停止する事なく、厚さ計の目盛
校正を行う事ができるようになつている。
フライン位置(左の破線位置)へ引出し、サンプ
ル台10を組立て、サンプル台10の上に厚さ標
準ピース4を載せる事により、線源容器1、検出
器2、測定対象としての厚さ標準ピース4の間の
相対的位置関係を、オンライン位置にあつて板材
3を測定している場合と全く同じにしながら、ラ
インの圧延操業を停止する事なく、厚さ計の目盛
校正を行う事ができるようになつている。
所で、厚板圧延機は、1個のスラブを一枚の板
に圧延して仕上げるためには、該圧延機を構成す
る二つの圧延ロール間に1度、スラブを通して圧
延したら、次に今度は今とは逆方向からロール間
に通して圧延し、以下このように、ロール間を数
十回にわたり往復動させて圧延することにより次
第に所定の厚み寸法をもつた板に仕上げてゆく。
に圧延して仕上げるためには、該圧延機を構成す
る二つの圧延ロール間に1度、スラブを通して圧
延したら、次に今度は今とは逆方向からロール間
に通して圧延し、以下このように、ロール間を数
十回にわたり往復動させて圧延することにより次
第に所定の厚み寸法をもつた板に仕上げてゆく。
従つて圧延の初期には、板厚が厚く、長さが短
いため、圧延機(ロール)を中心とする往復動の
距離が短く、圧延の終期には、板厚が薄くなつて
所定の厚み寸法に近ずくと共に、長さも長くなる
ので、圧延機(ロール)を中心とする往復動の距
離も長くなる。
いため、圧延機(ロール)を中心とする往復動の
距離が短く、圧延の終期には、板厚が薄くなつて
所定の厚み寸法に近ずくと共に、長さも長くなる
ので、圧延機(ロール)を中心とする往復動の距
離も長くなる。
そこで圧延の初期から板厚の厚さを測定し、そ
れに応じてロール間ギヤツプを調整する圧延コン
トロールを実施しようとすると、厚さ計をなるべ
く圧延機の近くに配置することが必要になる。厚
さ計を遠くに配置しておくと、圧延の回数が進ん
で板厚がかなり薄くなり、それに伴つて長さも長
くならないと、往復動の過程において、厚さ計に
よる板厚の測定を行なうことは出来ないので、板
厚の測定が可能になつた時点では、板厚の寸法が
所定の寸法より薄くなつていて、該厚板が不良品
になつてしまうという事態も起こり得る。
れに応じてロール間ギヤツプを調整する圧延コン
トロールを実施しようとすると、厚さ計をなるべ
く圧延機の近くに配置することが必要になる。厚
さ計を遠くに配置しておくと、圧延の回数が進ん
で板厚がかなり薄くなり、それに伴つて長さも長
くならないと、往復動の過程において、厚さ計に
よる板厚の測定を行なうことは出来ないので、板
厚の測定が可能になつた時点では、板厚の寸法が
所定の寸法より薄くなつていて、該厚板が不良品
になつてしまうという事態も起こり得る。
或いは、圧延動作に伴う往復動の過程において
ではなく、厚さも厚く、長さも短い圧延初期の厚
板を、わざわざ遠くの厚さ計設置位置まで移動さ
せて厚さを測定し、それによつてロール間ギヤツ
プを調整するようにすることも可能であるが、こ
の場合には、厚さ測定に要する時間が長くなるた
め、圧延機の等率が低下し、製品のコスト高につ
ながることになる。
ではなく、厚さも厚く、長さも短い圧延初期の厚
板を、わざわざ遠くの厚さ計設置位置まで移動さ
せて厚さを測定し、それによつてロール間ギヤツ
プを調整するようにすることも可能であるが、こ
の場合には、厚さ測定に要する時間が長くなるた
め、圧延機の等率が低下し、製品のコスト高につ
ながることになる。
このような事情で、厚さ計は出来る限り圧延機
の近くに設置することが望まれている。
の近くに設置することが望まれている。
所が実際には、製鉄所などにおいて、圧延機を
収容しているミルハウジングのある場所の近傍は
無論の事、圧延機の流れ方向に沿つた前後10m付
近までは、厚さ計を構成する前記Cフレーム5の
設置可能な場所が物理的に全くない。
収容しているミルハウジングのある場所の近傍は
無論の事、圧延機の流れ方向に沿つた前後10m付
近までは、厚さ計を構成する前記Cフレーム5の
設置可能な場所が物理的に全くない。
このため、従来の厚さ計としては、そのCフレ
ームを圧延機の設置場所から10m程度、或いはそ
れ以上も離れた遠い場所に設置するのが普通であ
つた。
ームを圧延機の設置場所から10m程度、或いはそ
れ以上も離れた遠い場所に設置するのが普通であ
つた。
第7図は、かかる事情を示すための圧延機付近
の配置を示す俯瞰図である。
の配置を示す俯瞰図である。
同図において、13は圧延機(ミル)を収容し
ているミルハウジング、14はミルドライブ用
軸、15はミルドライブ用モータ、である。
ているミルハウジング、14はミルドライブ用
軸、15はミルドライブ用モータ、である。
ミルハウジング13から見た上流と下流の配置
は対称的な同一配置となつている。16は旋回ロ
ール、17はサイドガイド、18は旋回ロールド
ライブ用モータ、19はサイドガイドドライブ機
構、20は搬送ロール駆動モータ、9は搬送ロー
ル、12は搬送ロールのサポート、2は検出器、
5はCフレーム、である。
は対称的な同一配置となつている。16は旋回ロ
ール、17はサイドガイド、18は旋回ロールド
ライブ用モータ、19はサイドガイドドライブ機
構、20は搬送ロール駆動モータ、9は搬送ロー
ル、12は搬送ロールのサポート、2は検出器、
5はCフレーム、である。
スラブは、圧延機(ハウジング13)を中心と
して、矢印Y(実線)で示す上流方向と矢印
Y′(破線)で示す下流方向に圧延パス上を往復動
しながら次第に圧延されてゆくことになる。
して、矢印Y(実線)で示す上流方向と矢印
Y′(破線)で示す下流方向に圧延パス上を往復動
しながら次第に圧延されてゆくことになる。
ここで、Cフレーム5は、ミルハウジング13
から10mほど下流の位置において、サイドガイド
17とサポート12の間に配置されていることが
認められるであろう。
から10mほど下流の位置において、サイドガイド
17とサポート12の間に配置されていることが
認められるであろう。
このように、厚さ計を圧延機から遠い場所に配
置せざるを得ないという製鉄所などにおける物理
的事情から発生する不都合はすでに説明した通り
であるが、このような不都合を解消せんとして、
ミルハウジング13内において、圧延機の近傍に
配置したのが厚板ミル直近厚さ計である。
置せざるを得ないという製鉄所などにおける物理
的事情から発生する不都合はすでに説明した通り
であるが、このような不都合を解消せんとして、
ミルハウジング13内において、圧延機の近傍に
配置したのが厚板ミル直近厚さ計である。
第8図は、かかる厚板ミル直近厚さ計の概念を
示す模式図、第9図は第8図において、A−A方
向から見た模式的側面図、である。
示す模式図、第9図は第8図において、A−A方
向から見た模式的側面図、である。
これらの図において、1は線源容器、21は圧
延機構造要素のうちの線源容器支持部、2は検出
器、22は圧延機構造要素のうちの検出器支持
部、23は圧延ロール、24はバツクアツプロー
ル、9は搬送ロール、25は圧延された板材が搬
送ロール9により搬送されるときに通過するパス
ライン(基準位置)、26はミルハウジング、で
ある。
延機構造要素のうちの線源容器支持部、2は検出
器、22は圧延機構造要素のうちの検出器支持
部、23は圧延ロール、24はバツクアツプロー
ル、9は搬送ロール、25は圧延された板材が搬
送ロール9により搬送されるときに通過するパス
ライン(基準位置)、26はミルハウジング、で
ある。
すなわち、第8図、第9図において、見られる
ように、ミルハウジング26の内部に、圧延機の
構造要素(21、22)を利用して線源容器1と検出
器2を、パスライン25をはさんで相対向するよ
うに取り付ける。この際、線源容器1と検出器2
は、どちらが上で、どちらが下であつても構わな
い。
ように、ミルハウジング26の内部に、圧延機の
構造要素(21、22)を利用して線源容器1と検出
器2を、パスライン25をはさんで相対向するよ
うに取り付ける。この際、線源容器1と検出器2
は、どちらが上で、どちらが下であつても構わな
い。
このように取り付ければ、線源容器1と検出器
2から成る厚さ計を圧延機(ミル)の直近位置に
設置することは出来る。
2から成る厚さ計を圧延機(ミル)の直近位置に
設置することは出来る。
しかし、この場合、厚さ計は、ミルの直近位置
に固定して取り付けるのが精いつぱいというよう
なミルハウジング内のスペース状況であるので、
第5図に示した如き、厚さ計をオンライン位置か
らオフライン位置へ引き出し可能な取付構造とす
ることができない。このため、厚さ計の指示目盛
の校正が容易には行なえないという問題を生じ
る。
に固定して取り付けるのが精いつぱいというよう
なミルハウジング内のスペース状況であるので、
第5図に示した如き、厚さ計をオンライン位置か
らオフライン位置へ引き出し可能な取付構造とす
ることができない。このため、厚さ計の指示目盛
の校正が容易には行なえないという問題を生じ
る。
すなわち、先にも説明した如く、線源容器、検
出器及び厚さ標準ピースという3者の相対的位置
関係を、圧延ライン稼動中の線源容器、検出器及
び被圧延材の間の相対的位置関係と同じにして、
厚さ計の目盛校正を行なおうとすると、この場
合、次の(イ)、(ロ)のいずれかの方法によらなければ
ならない。
出器及び厚さ標準ピースという3者の相対的位置
関係を、圧延ライン稼動中の線源容器、検出器及
び被圧延材の間の相対的位置関係と同じにして、
厚さ計の目盛校正を行なおうとすると、この場
合、次の(イ)、(ロ)のいずれかの方法によらなければ
ならない。
(イ) 圧延ラインの搬送ロール9上に、厚さ標準ピ
ースを置いて目盛校正を行う方法。
ースを置いて目盛校正を行う方法。
(ロ) 線源容器及び検出器を取り外し、ミルハウジ
ングの外部へ運び、ミルハウジング外部にてミ
ルハウジング内におけるのと同じ位置関係を再
現した後、厚さ標準ピースを用い、すでに説明
した通りの従来と同じ方法で目盛校正を行い、
目盛校正終了後、又もとのミルハウジング内に
両者を戻して設置し直す方法。
ングの外部へ運び、ミルハウジング外部にてミ
ルハウジング内におけるのと同じ位置関係を再
現した後、厚さ標準ピースを用い、すでに説明
した通りの従来と同じ方法で目盛校正を行い、
目盛校正終了後、又もとのミルハウジング内に
両者を戻して設置し直す方法。
そこで先ず、上記(ロ)の方法について検討する
と、線源容器が数百Kgの重量である事、検出器も
またコリメータを含めると数百Kgの重量である事
及びミルハウジング内がスペース的に極めて狭隘
である事、等々の理由により、上記(ロ)の方法は実
施が非常に困難な方法であると云える。
と、線源容器が数百Kgの重量である事、検出器も
またコリメータを含めると数百Kgの重量である事
及びミルハウジング内がスペース的に極めて狭隘
である事、等々の理由により、上記(ロ)の方法は実
施が非常に困難な方法であると云える。
次に上記(イ)の方法について検討すると、この方
法は次のような欠点を有していることが判る。
法は次のような欠点を有していることが判る。
第1の欠点は、圧延機の熱容量が極めて大きい
為、圧延稼動を停止させたとしても、その停止
後、24時間程度以上、時間が経過して周囲温度が
下がらないうちは人間が厚さ計設置場所へ近づく
事ができず、従つて目盛校正もできない。すなわ
ち目盛校正に必要な所要時間は(24時間+実際の
校正所要時間30分乃至2〜3時間程度)になるの
で、2週間から1ケ月の間に1回の割合で目盛校
正を行うとすると、ラインの稼動率がかなり悪く
なり金額的な損失が大きくなつてしまう。
為、圧延稼動を停止させたとしても、その停止
後、24時間程度以上、時間が経過して周囲温度が
下がらないうちは人間が厚さ計設置場所へ近づく
事ができず、従つて目盛校正もできない。すなわ
ち目盛校正に必要な所要時間は(24時間+実際の
校正所要時間30分乃至2〜3時間程度)になるの
で、2週間から1ケ月の間に1回の割合で目盛校
正を行うとすると、ラインの稼動率がかなり悪く
なり金額的な損失が大きくなつてしまう。
第2の欠点は、ミルハウジング内は作業のため
の足場が悪く、且つスペース的に狭く、照明も無
いので暗い上に、環境が高温であるから、このよ
うな現場で数10Kgの重さの厚さ標準ピースを持つ
て出入りするのは、かなり大変な作業になるとい
う点である。
の足場が悪く、且つスペース的に狭く、照明も無
いので暗い上に、環境が高温であるから、このよ
うな現場で数10Kgの重さの厚さ標準ピースを持つ
て出入りするのは、かなり大変な作業になるとい
う点である。
標準ピースを持つて何度も出入りするのは、複
数の厚さについてそれぞれ目盛校正を行う必要が
ある為、標準ピースとなるサンプルを交換しなけ
ればならないことと、校正中は放射線を照射する
ので被曝を避ける為、標準ピースから離れている
必要があること、の為である。
数の厚さについてそれぞれ目盛校正を行う必要が
ある為、標準ピースとなるサンプルを交換しなけ
ればならないことと、校正中は放射線を照射する
ので被曝を避ける為、標準ピースから離れている
必要があること、の為である。
このように、上記(イ)の方法による目盛校正作業
は、作業者が疲労による判断ミスによつて被曝の
危険性にさらされる恐れもあり、従つて、このよ
うな作業を定期的、恒常的に行なうことは労働安
全管理上からも望ましくないと云える。
は、作業者が疲労による判断ミスによつて被曝の
危険性にさらされる恐れもあり、従つて、このよ
うな作業を定期的、恒常的に行なうことは労働安
全管理上からも望ましくないと云える。
本発明は、上述のような従来の技術的事情にか
んがみなされたものであり、従つて本発明が解決
しようとする問題点は、圧延コントロール用放射
線透過式厚さ計をミルハウジング内において圧延
機に隣接させてその直近位置に設置した上で、該
厚さ計をハウジング外に取り出すことを必要とせ
ず、また人間がハウジング内に入ることも必要と
しないで、簡易に前記厚さ計の目盛校正を実行可
能にすること、であると云える。
んがみなされたものであり、従つて本発明が解決
しようとする問題点は、圧延コントロール用放射
線透過式厚さ計をミルハウジング内において圧延
機に隣接させてその直近位置に設置した上で、該
厚さ計をハウジング外に取り出すことを必要とせ
ず、また人間がハウジング内に入ることも必要と
しないで、簡易に前記厚さ計の目盛校正を実行可
能にすること、であると云える。
従つて本発明は、上述のようなことを可能にす
る如く構成された圧延コントロール用放射線透過
式厚さ計の校正方法を提供することを目的とす
る。
る如く構成された圧延コントロール用放射線透過
式厚さ計の校正方法を提供することを目的とす
る。
上記目的を解決するために本発明においては、
厚板圧延機を収容するハウジング内にあつてこの
該圧延機に隣接した位置にあり、圧延機から出て
くる圧延された板材の搬送路を上下方向からはさ
んでその一方に配置された放射線源と他方に配置
された放射線検出器とからなる圧延コントロール
用放射線透過式厚さ計の厚さ目盛りを校正する方
法として、 放射線源から検出器に至る放射線ビームのパス
において、板材の搬送路と交叉する部分を除く他
の任意特定のパス位置に対し、複数の厚さサンプ
ルを順次位置決めする厚さサンプルの位置決め機
構を設け、 初めに厚さ既知の標準サンプルピースを放射線
ビームパスが板材の搬送路と交叉する部分に置
き、標準サンプルピースによる放射線透過量を測
定して、この放射線透過量に対する標準サンプル
ピースの厚さの関係から厚さ目盛を一次校正し、 この一次校正直後に、標準サンプルピースを放
射線ビームパスから移動するとともに、位置決め
機構により複数の厚さサンプルを順次位置決めし
各厚さサンプルごとに放射線透過量を測定して前
記一次校正目盛上における前記各厚さのサンプル
の一次校正厚さを求め、 以後は、板材搬送の合間等に随時、複数の厚さ
サンプルを順次位置決めして、各厚さサンプルご
とに放射線透過量を測定し、一次校正目盛による
各厚さサンプルの厚さの読取り値を当該各厚さサ
ンプルの一次校正厚さと比較して一次校正目盛を
二次校正するようにした。
厚板圧延機を収容するハウジング内にあつてこの
該圧延機に隣接した位置にあり、圧延機から出て
くる圧延された板材の搬送路を上下方向からはさ
んでその一方に配置された放射線源と他方に配置
された放射線検出器とからなる圧延コントロール
用放射線透過式厚さ計の厚さ目盛りを校正する方
法として、 放射線源から検出器に至る放射線ビームのパス
において、板材の搬送路と交叉する部分を除く他
の任意特定のパス位置に対し、複数の厚さサンプ
ルを順次位置決めする厚さサンプルの位置決め機
構を設け、 初めに厚さ既知の標準サンプルピースを放射線
ビームパスが板材の搬送路と交叉する部分に置
き、標準サンプルピースによる放射線透過量を測
定して、この放射線透過量に対する標準サンプル
ピースの厚さの関係から厚さ目盛を一次校正し、 この一次校正直後に、標準サンプルピースを放
射線ビームパスから移動するとともに、位置決め
機構により複数の厚さサンプルを順次位置決めし
各厚さサンプルごとに放射線透過量を測定して前
記一次校正目盛上における前記各厚さのサンプル
の一次校正厚さを求め、 以後は、板材搬送の合間等に随時、複数の厚さ
サンプルを順次位置決めして、各厚さサンプルご
とに放射線透過量を測定し、一次校正目盛による
各厚さサンプルの厚さの読取り値を当該各厚さサ
ンプルの一次校正厚さと比較して一次校正目盛を
二次校正するようにした。
上記の技術手段により、先ず初めに板材の搬送
路に配置された厚さ既知の厚さ標準サンプルピー
スによつて放射線厚さ計の目盛りを一次校正し、
この一次校正に続いて、板材の搬送路を外れた位
置上の(例えば放射線源容器に内蔵された)複数
の厚さサンプルの各々について、一次校正目盛上
における等価な厚さである一次校正厚さを求め、
これ以後は、板材搬送の合間等に随時、搬送路上
の各厚さサンプルの一次校正目盛による厚さの読
取り値を一次校正厚さと比較して、一次校正目盛
を二次校正することにより、搬送路を外れた位置
上の複数の厚さサンプルの実測による厚さ計の校
正が、常に搬送路上の厚さ標準ピースの実測によ
る校正と関係付けられ、搬送路上の厚さ標準サン
プルピースによる校正と同等の正確さを損なわな
いで、搬送路を外れた位置にある厚さサンプルに
より容易に二次校正が行える。
路に配置された厚さ既知の厚さ標準サンプルピー
スによつて放射線厚さ計の目盛りを一次校正し、
この一次校正に続いて、板材の搬送路を外れた位
置上の(例えば放射線源容器に内蔵された)複数
の厚さサンプルの各々について、一次校正目盛上
における等価な厚さである一次校正厚さを求め、
これ以後は、板材搬送の合間等に随時、搬送路上
の各厚さサンプルの一次校正目盛による厚さの読
取り値を一次校正厚さと比較して、一次校正目盛
を二次校正することにより、搬送路を外れた位置
上の複数の厚さサンプルの実測による厚さ計の校
正が、常に搬送路上の厚さ標準ピースの実測によ
る校正と関係付けられ、搬送路上の厚さ標準サン
プルピースによる校正と同等の正確さを損なわな
いで、搬送路を外れた位置にある厚さサンプルに
より容易に二次校正が行える。
さらに、上記のように、各厚さサンプルの一次
校正目盛上における等価な厚さを求めることによ
り、本発明の校正方法においては、標準サンプル
ピースと厚さサンプルによつて、標準サンプルピ
ースの放射線吸収係数および材質・密度と厚さサ
ンプルの放射線吸収係数および材質・密度が相違
していても、改めてその相違を補正する必要がな
い。
校正目盛上における等価な厚さを求めることによ
り、本発明の校正方法においては、標準サンプル
ピースと厚さサンプルによつて、標準サンプルピ
ースの放射線吸収係数および材質・密度と厚さサ
ンプルの放射線吸収係数および材質・密度が相違
していても、改めてその相違を補正する必要がな
い。
次に図を参照して本発明の実施例を説明する。
第1図は本発明による厚さ計の校正に用いられ
る線源容器の要部を示す断面図である。すなわ
ち、第8図、第9図に示した如き配置をとる線源
容器1の、本発明による場合の構造を示す縦断面
図である。
る線源容器の要部を示す断面図である。すなわ
ち、第8図、第9図に示した如き配置をとる線源
容器1の、本発明による場合の構造を示す縦断面
図である。
第2図は、第1図においてA−A方向から見た
平面図である。
平面図である。
これらの図において、27は線源カプセル、2
8はロータリー式線源シヤツタ、28aはシヤツ
タ開口部、30は回転板、29は回転板30の支
持台、31a〜31fはそれぞれ厚さサンプル、
32はコリメータ、33は厚さサンプル駆動用モ
ータ、34は減速機、35はウオームギヤ機構、
36はアーム、37a,37bはそれぞれアーム
36の移動に伴つてストライカ38a,38bに
より駆動されるリミツトスイツチ、38a,38
bはそれぞれアーム36に取り付けられたストラ
イカ(駆動子)、39a〜39dはそれぞれ回転
位置検出用リミツトスイツチ、40a〜40cは
それぞれストライカ、41は突起部、42は位置
機構、43は測定用開口部、47は押えネジ、で
ある。
8はロータリー式線源シヤツタ、28aはシヤツ
タ開口部、30は回転板、29は回転板30の支
持台、31a〜31fはそれぞれ厚さサンプル、
32はコリメータ、33は厚さサンプル駆動用モ
ータ、34は減速機、35はウオームギヤ機構、
36はアーム、37a,37bはそれぞれアーム
36の移動に伴つてストライカ38a,38bに
より駆動されるリミツトスイツチ、38a,38
bはそれぞれアーム36に取り付けられたストラ
イカ(駆動子)、39a〜39dはそれぞれ回転
位置検出用リミツトスイツチ、40a〜40cは
それぞれストライカ、41は突起部、42は位置
機構、43は測定用開口部、47は押えネジ、で
ある。
第1図において、線源カプセル27から照射さ
れた放射線はロータリー式のシヤツタ28の開口
部28aを通り、厚さサンプル31aを透過し、
更にコリメータ32の開口32aで絞られて、外
部にある検出器へ向けて照射される。
れた放射線はロータリー式のシヤツタ28の開口
部28aを通り、厚さサンプル31aを透過し、
更にコリメータ32の開口32aで絞られて、外
部にある検出器へ向けて照射される。
なお、ロータリー式シヤツタ28は、軸S1,
S2を中心として紙面に直交する方向に回転可能
に軸支されており、回転した場合には、開口部2
8aが紙面に直交する位置をとり、線源カプセル
27からの放射線はシヤツタ28により阻止され
て厚さサンプル31aに達することはない。
S2を中心として紙面に直交する方向に回転可能
に軸支されており、回転した場合には、開口部2
8aが紙面に直交する位置をとり、線源カプセル
27からの放射線はシヤツタ28により阻止され
て厚さサンプル31aに達することはない。
厚さサンプル31aは、軸S3を中心として回
転可能な回転板30上に載せられている。回転板
30上には他の位置に別の厚さサンプル31bも
載せられている。回転板30は、軸S3を中心と
する円板形の支持台29の上に載つており、後述
のように、モータ33で駆動されると、軸S3の
まわりに歩進的に回動するようになつている。
転可能な回転板30上に載せられている。回転板
30上には他の位置に別の厚さサンプル31bも
載せられている。回転板30は、軸S3を中心と
する円板形の支持台29の上に載つており、後述
のように、モータ33で駆動されると、軸S3の
まわりに歩進的に回動するようになつている。
すなわち、第1図では、厚さサンプル31aが
線源カプセル27からの放射線を透過させる位置
に配置されているが、モータ33で円板30を軸
S3のまわりに歩進的に回動させてやると、厚さ
サンプル31bが、31aに代つて、線源カプセ
ル27からの放射線を透過させる位置にくること
ができる。
線源カプセル27からの放射線を透過させる位置
に配置されているが、モータ33で円板30を軸
S3のまわりに歩進的に回動させてやると、厚さ
サンプル31bが、31aに代つて、線源カプセ
ル27からの放射線を透過させる位置にくること
ができる。
このことを第2図を参照して更に具体的に説明
する。第2図において、モータ33が回転する
と、その動きは減速機34を介してウオームギヤ
機構35に伝えられ、アーム36が矢印Y方向に
沿つて進むと、アーム先端36aが、円板30上
に植設されている突起41を押すようになつてい
る。
する。第2図において、モータ33が回転する
と、その動きは減速機34を介してウオームギヤ
機構35に伝えられ、アーム36が矢印Y方向に
沿つて進むと、アーム先端36aが、円板30上
に植設されている突起41を押すようになつてい
る。
このようにして進んだアーム36が伸びきる
と、該アーム36に一体に取り付けられているス
トライカ38bがアーム用リミツトスイツチ37
bに接触して動作させ、このリミツトスイツチ3
7bからの信号でモータ33の回転を止め、続い
てモータ33を逆転駆動する。これによつてアー
ム36は逆方向に戻り、所定の当初位置に戻る
と、今度はストライカ38bがアーム用リミツト
スイツチ37aに接触して動作させ、このリミツ
トスイツチ37aからの信号によりモータ33を
停止させる。以下、同じ事を何度でも繰り返すこ
とができる。
と、該アーム36に一体に取り付けられているス
トライカ38bがアーム用リミツトスイツチ37
bに接触して動作させ、このリミツトスイツチ3
7bからの信号でモータ33の回転を止め、続い
てモータ33を逆転駆動する。これによつてアー
ム36は逆方向に戻り、所定の当初位置に戻る
と、今度はストライカ38bがアーム用リミツト
スイツチ37aに接触して動作させ、このリミツ
トスイツチ37aからの信号によりモータ33を
停止させる。以下、同じ事を何度でも繰り返すこ
とができる。
回転板30には、軸S3を中心としてそのまわ
りに、6種類の厚さサンプル31a〜31fが配
置されており、又ゼロ厚さサンプル、即ち圧延ラ
イン稼動時に被圧延板材に照射する放射線を単に
通過させるだけの測定用の開口部43も用意され
ている。厚さサンプル31a〜31f及び43は
軸S3を中心とする円周上の7点の位置に等間隔
に配置されており、回転板30のアーム先端部3
6aによる駆動を受けるための突起部41も又軸
S3を中心とする円周上の7点の位置に等間隔に
配置されている。
りに、6種類の厚さサンプル31a〜31fが配
置されており、又ゼロ厚さサンプル、即ち圧延ラ
イン稼動時に被圧延板材に照射する放射線を単に
通過させるだけの測定用の開口部43も用意され
ている。厚さサンプル31a〜31f及び43は
軸S3を中心とする円周上の7点の位置に等間隔
に配置されており、回転板30のアーム先端部3
6aによる駆動を受けるための突起部41も又軸
S3を中心とする円周上の7点の位置に等間隔に
配置されている。
回転板30の回転位置(換言すると、線源カプ
セル27からの放射線を受けるべき位置にある厚
さサンプルはどれであるかということ)は回転板
30上に取り付けられ、回転板30と一体になつ
て移動するストライカ40a,40b,40c
が、回転板30の回転位置に応じて、回転位置検
出用リミツトスイツチ39a,39b,39c,
39dの何れかを駆動し動作させるので、各リミ
ツトスイツチのON−OFF出力の組合せから成る
コードによつて、遠隔外部からも知る事ができる
ようになつている。
セル27からの放射線を受けるべき位置にある厚
さサンプルはどれであるかということ)は回転板
30上に取り付けられ、回転板30と一体になつ
て移動するストライカ40a,40b,40c
が、回転板30の回転位置に応じて、回転位置検
出用リミツトスイツチ39a,39b,39c,
39dの何れかを駆動し動作させるので、各リミ
ツトスイツチのON−OFF出力の組合せから成る
コードによつて、遠隔外部からも知る事ができる
ようになつている。
なお、各厚さサンプル31a〜31f、測定用
開口部43は、先にも述べたように、アーム先端
部36aが突起41を1回押し進める毎に、軸S
3を中心とする円周上で歩進的に駆動される訳で
あるが、駆動された結果、正しく位置決めされな
いと(ずれていたりすると)、線源カプセル27
からの放射線を正しく透過させることができず、
校正結果が再現性のないものになる。従つて正し
く位置決めすることが必要であり、以下、そのた
めの位置決め機構42の詳細を説明する。
開口部43は、先にも述べたように、アーム先端
部36aが突起41を1回押し進める毎に、軸S
3を中心とする円周上で歩進的に駆動される訳で
あるが、駆動された結果、正しく位置決めされな
いと(ずれていたりすると)、線源カプセル27
からの放射線を正しく透過させることができず、
校正結果が再現性のないものになる。従つて正し
く位置決めすることが必要であり、以下、そのた
めの位置決め機構42の詳細を説明する。
第3A図は位置決め機構42が位置決め状態に
あるときの断面図、第3B図は位置決め機構42
が位置決め状態に至る途中の状態にあるときの断
面図、である。
あるときの断面図、第3B図は位置決め機構42
が位置決め状態に至る途中の状態にあるときの断
面図、である。
これらの図において、29は支持台、30はそ
の上に載せられている回転板、44はコイルスプ
リング、45は鋼球、46は支持台29に形成さ
れた円錐形の溝、47は押えネジであり、位置決
め機構42はこれらのものから構成されている。
の上に載せられている回転板、44はコイルスプ
リング、45は鋼球、46は支持台29に形成さ
れた円錐形の溝、47は押えネジであり、位置決
め機構42はこれらのものから構成されている。
すなわち、回転板30にあけた穴Mの中に鋼球
45及びコイルスプリング44を入れ、押えネジ
47をねじ込み、スプリング44の弾力で鋼球4
5を支持台29に押しつけている。円錐状の溝4
6は支持台29の上の位置決め機構42の移動軌
跡である軸S3を中心とする円周上の7個所に、
等間隔に配置してある。
45及びコイルスプリング44を入れ、押えネジ
47をねじ込み、スプリング44の弾力で鋼球4
5を支持台29に押しつけている。円錐状の溝4
6は支持台29の上の位置決め機構42の移動軌
跡である軸S3を中心とする円周上の7個所に、
等間隔に配置してある。
そして位置決め状態にあるときは、3組の位置
決め機構42における各鋼球45が、7個の溝4
6のうちの何れか3個に、第3A図に見られる如
く、スプリング44によつて押し込まれ、嵌合し
ていることになる。
決め機構42における各鋼球45が、7個の溝4
6のうちの何れか3個に、第3A図に見られる如
く、スプリング44によつて押し込まれ、嵌合し
ていることになる。
以上で、位置決め機構42の具体例が理解でき
たであろう。
たであろう。
所で先に次のようなことを述べた。すなわち、
放射線式厚さ計の目盛指示精度は、線源容器と検
出器と被測定板材との間の相対的位置関係が狂う
と狂つてくるので、目盛の校正時においても、線
源容器と検出器と厚さサンプルとの間の相対的位
置関係は、オンライン稼動時のそれと同じに保つ
ことが必要であると述べた。
放射線式厚さ計の目盛指示精度は、線源容器と検
出器と被測定板材との間の相対的位置関係が狂う
と狂つてくるので、目盛の校正時においても、線
源容器と検出器と厚さサンプルとの間の相対的位
置関係は、オンライン稼動時のそれと同じに保つ
ことが必要であると述べた。
この観点から第1図、第2図に示した線源容器
の要部を検討してみると、第1図において、厚さ
サンプル31a〜31fは線源容器1の中に納め
られているのに対し、圧延動作のオンライン稼動
時には、第8図に見られる如く、被測定板材は、
線源容器1の外を、搬送ロール9によつて搬送さ
れるものであるから、相対的位置関係を異にし、
厚さサンプルの実際の厚さそのもので目盛を校正
しても、その目盛は、そのままでは、圧延動作の
オンライン稼動時において、通用しないことが判
る。
の要部を検討してみると、第1図において、厚さ
サンプル31a〜31fは線源容器1の中に納め
られているのに対し、圧延動作のオンライン稼動
時には、第8図に見られる如く、被測定板材は、
線源容器1の外を、搬送ロール9によつて搬送さ
れるものであるから、相対的位置関係を異にし、
厚さサンプルの実際の厚さそのもので目盛を校正
しても、その目盛は、そのままでは、圧延動作の
オンライン稼動時において、通用しないことが判
る。
そこでこれの対策としては、次の如くにすれば
良い。要するに、第1図に31a〜31fとして
示した各厚さサンプルの厚さを、搬送ロール上の
等価な厚さ標準ピースの厚さに置き換えれば良い
わけであるから、厚さ計をミルハウジング内で圧
延機のすぐ近くに最初に設置したとき、そのとき
の圧延ラインの休止時を利用して、或いは検出器
を保守上の理由で交換するようなときがあれば、
その交換時における圧延ラインの休止時を利用し
て、第1図に31a〜31fとして示した厚さサ
ンプルとは別個の厚さ標準ピース、即ち第5図に
おいて4として示した厚さ標準ピースを、被測定
板材の搬送される搬送ロール上に置いたときの放
射線減衰量と、第1図において31a〜31fと
して示した線源容器内の厚さサンプルによる放射
線減衰量とを比較し、第1図に31a〜31fと
して示した厚さサンプルの目盛校正基準値として
の厚さを、搬送ロール上の放射線減衰量が等価な
厚さ標準ピース(第5図4)の厚さで置き換えて
目盛校正すれば、搬送ロール上の標準ピースで目
盛校正したのと全く同じ結果が得られる訳であ
る。
良い。要するに、第1図に31a〜31fとして
示した各厚さサンプルの厚さを、搬送ロール上の
等価な厚さ標準ピースの厚さに置き換えれば良い
わけであるから、厚さ計をミルハウジング内で圧
延機のすぐ近くに最初に設置したとき、そのとき
の圧延ラインの休止時を利用して、或いは検出器
を保守上の理由で交換するようなときがあれば、
その交換時における圧延ラインの休止時を利用し
て、第1図に31a〜31fとして示した厚さサ
ンプルとは別個の厚さ標準ピース、即ち第5図に
おいて4として示した厚さ標準ピースを、被測定
板材の搬送される搬送ロール上に置いたときの放
射線減衰量と、第1図において31a〜31fと
して示した線源容器内の厚さサンプルによる放射
線減衰量とを比較し、第1図に31a〜31fと
して示した厚さサンプルの目盛校正基準値として
の厚さを、搬送ロール上の放射線減衰量が等価な
厚さ標準ピース(第5図4)の厚さで置き換えて
目盛校正すれば、搬送ロール上の標準ピースで目
盛校正したのと全く同じ結果が得られる訳であ
る。
第4図は本発明による圧延コントロール用放射
線透過式厚さ計の使用態様の一例を示す模止図で
ある。
線透過式厚さ計の使用態様の一例を示す模止図で
ある。
同図において、1は線源容器、31は厚さサン
プル、2は検出器、50はシンチレーシヨンカウ
ンタ、51は押し釦スイツチ、48は厚さ計用コ
ンピユータ、49は厚さサンプルの回転駆動等を
制御するプログラマブルコントローラ、52は恒
温槽、53はポンプ、54は流体タンク、55は
ヒータ、56はクーラ、57はタンク内流体温度
のセンサ、58は厚さサンプルの温度を測定する
温度計、である。
プル、2は検出器、50はシンチレーシヨンカウ
ンタ、51は押し釦スイツチ、48は厚さ計用コ
ンピユータ、49は厚さサンプルの回転駆動等を
制御するプログラマブルコントローラ、52は恒
温槽、53はポンプ、54は流体タンク、55は
ヒータ、56はクーラ、57はタンク内流体温度
のセンサ、58は厚さサンプルの温度を測定する
温度計、である。
厚さ計の指示目盛校正時の動作について説明す
る。
る。
プログラマブルコントローラ49は厚さ計用コ
ンピユータ48の従属システムとして構成されて
いる。今、押し釦スイツチ51を操作すると、コ
ンピユータ48は、目盛校正のための動作をする
ようコントローラ49に指示する。
ンピユータ48の従属システムとして構成されて
いる。今、押し釦スイツチ51を操作すると、コ
ンピユータ48は、目盛校正のための動作をする
ようコントローラ49に指示する。
コントローラ49は、線源容器1と検出器2の
間に被圧延板材の存在しないタイミングを選ん
で、線源容器1に内蔵されている複数種の厚さサ
ンプルを次々に、放射線ビームのパス位置に対し
駆動して位置決めしてやる。すなわち、厚さ零の
サンプルから始まつて、第1の厚さをもつサンプ
ル、第2の厚さを持つサンプル、という具合に、
所定の順で(プログラムされたスケジユールに従
つて)、各厚さサンプルを駆動し位置決めしてや
る。
間に被圧延板材の存在しないタイミングを選ん
で、線源容器1に内蔵されている複数種の厚さサ
ンプルを次々に、放射線ビームのパス位置に対し
駆動して位置決めしてやる。すなわち、厚さ零の
サンプルから始まつて、第1の厚さをもつサンプ
ル、第2の厚さを持つサンプル、という具合に、
所定の順で(プログラムされたスケジユールに従
つて)、各厚さサンプルを駆動し位置決めしてや
る。
コントローラは、予め前記各サンプルの厚み寸
法を記憶しているので、上述のようにして位置決
めされた各サンプルについて、検出器2、カウン
タ50、コンピユータ48を介して実測したその
厚み寸法を、記憶していた寸法と次々に比較する
ことにより、自動的に多点目盛校正を実施するこ
とができる。
法を記憶しているので、上述のようにして位置決
めされた各サンプルについて、検出器2、カウン
タ50、コンピユータ48を介して実測したその
厚み寸法を、記憶していた寸法と次々に比較する
ことにより、自動的に多点目盛校正を実施するこ
とができる。
目盛校正が終了したらコントローラ49は、厚
さ零のサンプルを自動的にパス位置に戻し、被圧
延板材の板厚測定が可能な状態に戻し、そのこと
を外部へ表示或いは通知する。
さ零のサンプルを自動的にパス位置に戻し、被圧
延板材の板厚測定が可能な状態に戻し、そのこと
を外部へ表示或いは通知する。
なお、目盛校正時におけるサンプル厚実測に際
して生じる短周期ノイズは、測定に要する時間の
平方根に逆比例して減少するという公知の事実に
照らして、所要の目盛校正精度に見合うだけの所
要測定時間を、各厚さサンプル毎に予め決定し、
プログラム化して目盛校正を実施する事により、
必要な校正精度を確保しながら目盛校正に要する
所要時間の最短化を図ることができる。
して生じる短周期ノイズは、測定に要する時間の
平方根に逆比例して減少するという公知の事実に
照らして、所要の目盛校正精度に見合うだけの所
要測定時間を、各厚さサンプル毎に予め決定し、
プログラム化して目盛校正を実施する事により、
必要な校正精度を確保しながら目盛校正に要する
所要時間の最短化を図ることができる。
次に厚さサンプルの周囲温度による目盛の指示
誤差を検討する。
誤差を検討する。
今、一例として、50mmの板厚のサンプルが、
夏、冬或いは圧延ラインの熱により温度変化40℃
をもたらしたとした場合に、そのことによりどの
程度の指示誤差を生じるか概算してみると、冷寸
指示の厚さ計では次の如くである。
夏、冬或いは圧延ラインの熱により温度変化40℃
をもたらしたとした場合に、そのことによりどの
程度の指示誤差を生じるか概算してみると、冷寸
指示の厚さ計では次の如くである。
50mm×40℃×2[冷寸指示の係数、熱寸指示な
らば3になる]×線膨張係数1.5×10-5=0.06mm、
即ち約60μmの指示誤差が生じる事になる。
らば3になる]×線膨張係数1.5×10-5=0.06mm、
即ち約60μmの指示誤差が生じる事になる。
厚さ計の目盛校正の所要精度は10〜30μm程度
であるから、これは大いに問題になる数字であ
る。そこで第4図に示す如く、タンク54に温度
センサ57とヒータ55及びクーラ56を取付
け、恒温化した流体をポンプ53でサンプル部を
取り囲んだ恒温槽52の周囲に循環させ、このよ
うにして厚さサンプルの温度を恒温化して、目盛
校正の精度保持を図るようにするとよい。
であるから、これは大いに問題になる数字であ
る。そこで第4図に示す如く、タンク54に温度
センサ57とヒータ55及びクーラ56を取付
け、恒温化した流体をポンプ53でサンプル部を
取り囲んだ恒温槽52の周囲に循環させ、このよ
うにして厚さサンプルの温度を恒温化して、目盛
校正の精度保持を図るようにするとよい。
更に、第4図に見られる如く、厚さサンプルの
内蔵部に温度計58を配置して得た該サンプルの
温度情報をコンピユータ48に取り込み、サンプ
ルの温度変化による影響に精密に補償することも
できる。
内蔵部に温度計58を配置して得た該サンプルの
温度情報をコンピユータ48に取り込み、サンプ
ルの温度変化による影響に精密に補償することも
できる。
すなわち、厚さサンプルを収納した部分、又は
一つ一つのサンプル自体に温度計(温度測定セン
サー)を取付けておき、該温度センサーによつて
測定した温度を遠隔外部から知る事ができるよう
にしておき、予め、理論的又は実験的に「温度対
放射線量」又は「温度対厚さ指示」の関係を求め
ておく事により、上記測定温度における放射線量
又は厚さ指示を、目盛校正の基準温度の放射線量
又は厚さ指示に換算し、これにより、目盛校正時
において、内蔵サンプルの温度変化による厚さ指
示誤差の補償を可能にすることができるわけで、
これをコンピユータにやらせるわけである。
一つ一つのサンプル自体に温度計(温度測定セン
サー)を取付けておき、該温度センサーによつて
測定した温度を遠隔外部から知る事ができるよう
にしておき、予め、理論的又は実験的に「温度対
放射線量」又は「温度対厚さ指示」の関係を求め
ておく事により、上記測定温度における放射線量
又は厚さ指示を、目盛校正の基準温度の放射線量
又は厚さ指示に換算し、これにより、目盛校正時
において、内蔵サンプルの温度変化による厚さ指
示誤差の補償を可能にすることができるわけで、
これをコンピユータにやらせるわけである。
或いは、測定した温度情報を、遠隔外部のプロ
グラマブルコントローラ49に取込むようにし、
該コントローラは、コンピユータ48の従属シス
テムとして、構成されており、このコントローラ
に、予め所要のデータを記憶させておき、このデ
ータとコントローラに取込んだ温度情報とによ
り、所要の換算をコントローラが自動的に行な
い、それによつて精度の高い目盛校正を実現する
ようにしてもよい。
グラマブルコントローラ49に取込むようにし、
該コントローラは、コンピユータ48の従属シス
テムとして、構成されており、このコントローラ
に、予め所要のデータを記憶させておき、このデ
ータとコントローラに取込んだ温度情報とによ
り、所要の換算をコントローラが自動的に行な
い、それによつて精度の高い目盛校正を実現する
ようにしてもよい。
以上説明したように、本発明によれば、圧延コ
ントロール用放射線透過式厚さ計をミルハウジン
グ内において圧延機の直近位置に設置したまま、
該厚さ計をハウジング外に取り出すことを要せ
ず、また人間がハウジング内に入ることも必要と
しないで、遠隔の場所から自動的に簡易に、しか
も厚さ標準サンプルを板材の搬送路に設置して校
正する場合と同等の正確さで、該厚さ計の目盛校
正が実行できるという利点がある。
ントロール用放射線透過式厚さ計をミルハウジン
グ内において圧延機の直近位置に設置したまま、
該厚さ計をハウジング外に取り出すことを要せ
ず、また人間がハウジング内に入ることも必要と
しないで、遠隔の場所から自動的に簡易に、しか
も厚さ標準サンプルを板材の搬送路に設置して校
正する場合と同等の正確さで、該厚さ計の目盛校
正が実行できるという利点がある。
第1図は本発明による厚さ計の校正に用いられ
る線源容器の要部を示す断面図、第2図は第1図
においてA−A方向から見た平面図、第3A図は
位置決め機構が位置決め状態にあるときの断面
図、第3B図は位置桁め機構が位置決め状態に至
る途中の状態にあるときの断面図、第4図は本発
明による放射線透過式厚さ計の使用態様の一例を
示す模式図、第5図は従来の圧延コントロール用
放射線透過式厚さ計の稼働状態の説明図、第6図
は第5図においてA−A方向から見た側面図、第
7図は圧延機付近の従来の配置を示す俯瞰図、第
8図は従来の厚板ミル直近厚さ計の概念を示す模
式図、第9図は第8図においてA−A方向から見
た側面図、である。 符号説明、1……線源容器、2……検出器、3
……被測定板材、4……厚さ標準ピース、5……
Cフレーム、6……車輪、7……Cフレーム駆動
用モータ、8……ドライブチエーン、9……搬送
ロール、10……サンプル台、11……レール、
12……搬送ロールのサポート、13……ミルハ
ウジング、14……ミルドライブ用軸、15……
ミルドライブ用モータ、16……旋回ロール、1
7……サイドガイド、18……旋回ロールドライ
ブ用モータ、19……サイドガイドドライブ機
構、20……搬送ロール駆動モータ、21……線
源容器支持部、22……検出器支持部、23……
圧延ロール、24……バツクアツプロール、25
……パスライン、26……ミルハウジング、27
……線源カプセル、28……ロータリー式線源シ
ヤツタ、28a……シヤツタ開口部、29……回
転板の支持台、30……回転板、31a〜31f
……厚さサンプル、32……コリメータ、32a
……開口、33……厚さサンプル駆動用モータ、
34……減衰機、35……ウオームギヤ機構、3
6……アーム、36a……アーム先端部、37
a,37b……アーム用リミツトスイツチ、38
a,38b……ストライカ、39a〜39d……
回転位置検出用リミツトスイツチ、40a〜40
c……ストライカ、41……突起部、42……位
置決め機構、43……測定用開口部、44……コ
イルスプリング、45……鋼球、46……円錐形
の溝、47……押えネジ、48……コンピユー
タ、49……プログラマブルコントローラ、50
……シンチレーシヨンカウンタ、51……押し釦
スイツチ、52……恒温槽、53……ポンプ、5
4……タンク、55……ヒータ、56……クー
ラ、57……タンク内温度センサ、58……サン
プル温度計。
る線源容器の要部を示す断面図、第2図は第1図
においてA−A方向から見た平面図、第3A図は
位置決め機構が位置決め状態にあるときの断面
図、第3B図は位置桁め機構が位置決め状態に至
る途中の状態にあるときの断面図、第4図は本発
明による放射線透過式厚さ計の使用態様の一例を
示す模式図、第5図は従来の圧延コントロール用
放射線透過式厚さ計の稼働状態の説明図、第6図
は第5図においてA−A方向から見た側面図、第
7図は圧延機付近の従来の配置を示す俯瞰図、第
8図は従来の厚板ミル直近厚さ計の概念を示す模
式図、第9図は第8図においてA−A方向から見
た側面図、である。 符号説明、1……線源容器、2……検出器、3
……被測定板材、4……厚さ標準ピース、5……
Cフレーム、6……車輪、7……Cフレーム駆動
用モータ、8……ドライブチエーン、9……搬送
ロール、10……サンプル台、11……レール、
12……搬送ロールのサポート、13……ミルハ
ウジング、14……ミルドライブ用軸、15……
ミルドライブ用モータ、16……旋回ロール、1
7……サイドガイド、18……旋回ロールドライ
ブ用モータ、19……サイドガイドドライブ機
構、20……搬送ロール駆動モータ、21……線
源容器支持部、22……検出器支持部、23……
圧延ロール、24……バツクアツプロール、25
……パスライン、26……ミルハウジング、27
……線源カプセル、28……ロータリー式線源シ
ヤツタ、28a……シヤツタ開口部、29……回
転板の支持台、30……回転板、31a〜31f
……厚さサンプル、32……コリメータ、32a
……開口、33……厚さサンプル駆動用モータ、
34……減衰機、35……ウオームギヤ機構、3
6……アーム、36a……アーム先端部、37
a,37b……アーム用リミツトスイツチ、38
a,38b……ストライカ、39a〜39d……
回転位置検出用リミツトスイツチ、40a〜40
c……ストライカ、41……突起部、42……位
置決め機構、43……測定用開口部、44……コ
イルスプリング、45……鋼球、46……円錐形
の溝、47……押えネジ、48……コンピユー
タ、49……プログラマブルコントローラ、50
……シンチレーシヨンカウンタ、51……押し釦
スイツチ、52……恒温槽、53……ポンプ、5
4……タンク、55……ヒータ、56……クー
ラ、57……タンク内温度センサ、58……サン
プル温度計。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 厚板圧延機を収容するハウジング内にあつて
該圧延機に隣接した位置にあり、該圧延機から出
てくる圧延された板材の搬送路を上下方向からは
さんでその一方に配置された放射線源と他方に配
置された放射線検出器とからなる圧延コントロー
ル用放射線透過式厚さ計の厚さ目盛りを校正する
方法において、 前記線源から検出器に至る放射線ビームのパス
において、前記板材の搬送路と交叉する部分を除
く他の任意特定のパス位置に対し、複数の厚さサ
ンプルを順次位置決めする厚さサンプルの位置決
め機構を設け、 初めに、厚さ既知の標準サンプルピースを前記
放射線ビームパスが前記板材の搬送路と交叉する
部分に置き、前記標準サンプルピースによる放射
線透過量を測定して、この放射線透過量に対する
前記標準サンプルピースの厚さの関係から前記厚
さ目盛を一次校正し、 この一次校正直後に、前記標準サンプルピース
を前記放射線ビームパスから移動するとともに、
前記位置決め機構により前記複数の厚さサンプル
を順次位置決めし、各厚さサンプルごとに放射線
透過量を測定して前記一次校正目盛上における前
記各厚さのサンプルの一次校正厚さを求め、 以後随時、前記複数の厚さサンプルを順次位置
決めして、各厚さサンプルごとに放射線透過量を
測定し、前記一次校正目盛による各厚さサンプル
の厚さの読取り値を当該各厚さサンプルの前記一
次校正厚さと比較して前記一次校正目盛を二次校
正する、 ことを特徴とする圧延コントロール用放射線透過
式厚さ計の校正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60063220A JPS61223507A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 圧延コントロール用放射線透過式厚さ計の校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60063220A JPS61223507A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 圧延コントロール用放射線透過式厚さ計の校正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61223507A JPS61223507A (ja) | 1986-10-04 |
| JPH0443207B2 true JPH0443207B2 (ja) | 1992-07-15 |
Family
ID=13222906
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60063220A Granted JPS61223507A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 圧延コントロール用放射線透過式厚さ計の校正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61223507A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6437689U (ja) * | 1987-08-31 | 1989-03-07 | ||
| JP5760698B2 (ja) * | 2011-05-27 | 2015-08-12 | Jfeスチール株式会社 | バックリング検査装置の評価装置及びバックリング検査装置の評価方法 |
| DE102022119877A1 (de) * | 2022-08-08 | 2024-02-08 | Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik | Kalibriervorrichtung für ein Messgerät sowie Verfahren zur Kalibrierung eines Messgeräts |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53126960A (en) * | 1977-04-13 | 1978-11-06 | Hitachi Ltd | Radiation thickness gauge |
| JPS5450359A (en) * | 1977-09-29 | 1979-04-20 | Toshiba Corp | Radiation thickness gauge |
| JPS58158511A (ja) * | 1982-03-17 | 1983-09-20 | Toshiba Corp | 厚み校正装置 |
| JPS58193208U (ja) * | 1982-06-18 | 1983-12-22 | 株式会社日立製作所 | 放射線応用計器の温度調節装置 |
| JPS5919804A (ja) * | 1982-07-26 | 1984-02-01 | Hitachi Ltd | 放射線厚さ計のオンライン自動校正装置 |
| JPS5954913A (ja) * | 1982-09-22 | 1984-03-29 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 放射線厚み計の校正方法及びその治具 |
-
1985
- 1985-03-29 JP JP60063220A patent/JPS61223507A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61223507A (ja) | 1986-10-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |