JPH044355Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH044355Y2 JPH044355Y2 JP1986048231U JP4823186U JPH044355Y2 JP H044355 Y2 JPH044355 Y2 JP H044355Y2 JP 1986048231 U JP1986048231 U JP 1986048231U JP 4823186 U JP4823186 U JP 4823186U JP H044355 Y2 JPH044355 Y2 JP H044355Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inner electrode
- electrode
- charged particles
- outer electrode
- energy analyzer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本考案は、ESCAやオージエ電子分光等の分析
に使用して好適な静電半球形エネルギーアナライ
ザに関する。
に使用して好適な静電半球形エネルギーアナライ
ザに関する。
(ロ) 従来技術とその問題点
従来のこの種の分散形エネルギーアナライザに
は、第3図に示すものがある。この静電半球形エ
ネルギーアナライザaは、半球形の内側電極pと
外側電極qとが一点を中心oとして同心に配置さ
れており、これらの電極p,qが外部磁界の影響
を防ぐためにμメタルなどの高透磁率材料ででき
た磁気シールドmで覆われている。そして、両電
極p,q間に所定の電圧Vが印加される。
は、第3図に示すものがある。この静電半球形エ
ネルギーアナライザaは、半球形の内側電極pと
外側電極qとが一点を中心oとして同心に配置さ
れており、これらの電極p,qが外部磁界の影響
を防ぐためにμメタルなどの高透磁率材料ででき
た磁気シールドmで覆われている。そして、両電
極p,q間に所定の電圧Vが印加される。
したがつて、試料sからX線や電子線などによ
つて励起、放射された電子、イオンなどの荷電粒
子はレンズ系lで収束された後、入射スリツトi
を通過して両電極p,q間に形成された電場内に
導かれる。電場内の荷電粒子は、両電極p,qに
より吸引、反発を受けながらその軌道が変えら
れ、両電極p,q間に通つた荷電粒子が出射スリ
ツトjを通過した後、検出器dで検出される。そ
して、両電極に印加する電圧Vを走査することに
よつて、あるエネルギー幅の荷電粒子が順次取り
出されるので、これによつて試料sから放出され
る荷電粒子のエネルギースペクトルが測定され
る。
つて励起、放射された電子、イオンなどの荷電粒
子はレンズ系lで収束された後、入射スリツトi
を通過して両電極p,q間に形成された電場内に
導かれる。電場内の荷電粒子は、両電極p,qに
より吸引、反発を受けながらその軌道が変えら
れ、両電極p,q間に通つた荷電粒子が出射スリ
ツトjを通過した後、検出器dで検出される。そ
して、両電極に印加する電圧Vを走査することに
よつて、あるエネルギー幅の荷電粒子が順次取り
出されるので、これによつて試料sから放出され
る荷電粒子のエネルギースペクトルが測定され
る。
ところで、このような構成を有する従来例の場
合は、内側電極と外側電極とを素材から切り出し
てNC研削機などで加工するので、加工に手数を
要し量産性に欠けるとともに、コストアツプとな
る。また、内側電極と外側電極とを同心に配置す
るための位置決めが難しく、調整に長時間を要す
る。しかも、内側電極pと外側電極qとを磁気シ
ールドmで覆つているので、真空ハウジングの容
積もこれに伴なつて大きくなり、装置全体が大型
化するとともに、真空引きにも時間がかかること
になつて分析が手間取る。さらに、荷電粒子の通
過路となる内側電極と外側電極の間の空間部は入
射、出射スリツトi,j側で解放された構造とな
つているため、外部磁界を遮へいする効果が未だ
不十分である等の問題がある。
合は、内側電極と外側電極とを素材から切り出し
てNC研削機などで加工するので、加工に手数を
要し量産性に欠けるとともに、コストアツプとな
る。また、内側電極と外側電極とを同心に配置す
るための位置決めが難しく、調整に長時間を要す
る。しかも、内側電極pと外側電極qとを磁気シ
ールドmで覆つているので、真空ハウジングの容
積もこれに伴なつて大きくなり、装置全体が大型
化するとともに、真空引きにも時間がかかること
になつて分析が手間取る。さらに、荷電粒子の通
過路となる内側電極と外側電極の間の空間部は入
射、出射スリツトi,j側で解放された構造とな
つているため、外部磁界を遮へいする効果が未だ
不十分である等の問題がある。
本考案は、従来のこのような不都合を解消し、
簡単かつ低コストに製作でき、また、内側電極と
外側電極との位置決め調整も容易で、しかも、装
置全体がコンパクトな形状となるようにすること
を目的とする。
簡単かつ低コストに製作でき、また、内側電極と
外側電極との位置決め調整も容易で、しかも、装
置全体がコンパクトな形状となるようにすること
を目的とする。
(ハ) 問題点を解決するための手段
本考案のエネルギーアナライザは、上記の目的
を達成するために、板材を半球形に成型してなる
内側電極と外側電極とを同心に配置し、両電極の
外周縁部にフランジ部を形成し、内側電極のフラ
ンジ部に荷電粒子の入出射用の透孔を設ける一
方、両フランジ部を入射スリツト、出射スリツト
および絶縁スペーサを挟んで互いに固定してい
る。
を達成するために、板材を半球形に成型してなる
内側電極と外側電極とを同心に配置し、両電極の
外周縁部にフランジ部を形成し、内側電極のフラ
ンジ部に荷電粒子の入出射用の透孔を設ける一
方、両フランジ部を入射スリツト、出射スリツト
および絶縁スペーサを挟んで互いに固定してい
る。
(ニ) 実施例
第1図は、本考案の実施例に係る静電半球形エ
ネルギーアナライザの縦断面図である。この実施
例の静電半球形エネルギーアナライザ1は、半球
形の内側電極2と外側電極4とを備える。両電極
2,4は、共にμメタル、パーマロイ、Co−
Netic等の磁気シールド用の高透磁率材料の板材
を素材として絞り加工、プレス加工、水中放電成
型加工等によつて形成したもので、互いに一点O
を中心として同心に配置されている。
ネルギーアナライザの縦断面図である。この実施
例の静電半球形エネルギーアナライザ1は、半球
形の内側電極2と外側電極4とを備える。両電極
2,4は、共にμメタル、パーマロイ、Co−
Netic等の磁気シールド用の高透磁率材料の板材
を素材として絞り加工、プレス加工、水中放電成
型加工等によつて形成したもので、互いに一点O
を中心として同心に配置されている。
また、内側電極2と外側電極4は、その各外周
縁部にフランジ部6,8が形成されている。そし
て、各フランジ部6,8の外周縁は折り返されて
軸合わせ調整部10,12が形成され、また、内
側電極2のフランジ部6には荷電粒子の入出射用
の透孔14、14が設けられている。この各透孔
14,14は、荷電粒子の入出射の障害とならな
いようにその直径が設定される。さらに、内側電
極2と外側電極4の各フランジ部6,8は、荷電
粒子の入射側で入射スリツト16と絶縁スペーサ
18,20を挟んで、また、荷電粒子の出射側で
は出射スリツト22と絶縁スペーサ18,20を
挟んで互いにボルト24、ナツト26で固定され
ている。そして、入射スリツト16と出射スリツ
ト22とは、その荷電粒子通過面が互いに内側電
極と外側電極の共通する軸心Oに一致するように
設定されている。
縁部にフランジ部6,8が形成されている。そし
て、各フランジ部6,8の外周縁は折り返されて
軸合わせ調整部10,12が形成され、また、内
側電極2のフランジ部6には荷電粒子の入出射用
の透孔14、14が設けられている。この各透孔
14,14は、荷電粒子の入出射の障害とならな
いようにその直径が設定される。さらに、内側電
極2と外側電極4の各フランジ部6,8は、荷電
粒子の入射側で入射スリツト16と絶縁スペーサ
18,20を挟んで、また、荷電粒子の出射側で
は出射スリツト22と絶縁スペーサ18,20を
挟んで互いにボルト24、ナツト26で固定され
ている。そして、入射スリツト16と出射スリツ
ト22とは、その荷電粒子通過面が互いに内側電
極と外側電極の共通する軸心Oに一致するように
設定されている。
なお、30は分析対象となる試料、32は試料
30から放出された荷電粒子を両電極2,4間で
形成される電場内に導くための収束レンズ系、3
2は両電極2,4間を通過した荷電粒子を検出す
るエルクトロンマルチプライヤ等の検出器、34
は内側電極2と外側電極4とに印加される電圧走
査用の電源である。
30から放出された荷電粒子を両電極2,4間で
形成される電場内に導くための収束レンズ系、3
2は両電極2,4間を通過した荷電粒子を検出す
るエルクトロンマルチプライヤ等の検出器、34
は内側電極2と外側電極4とに印加される電圧走
査用の電源である。
したがつて、この静電半球形エネルギーアナラ
イザ1では、内側電極2と外側電極4とが共に板
材の絞り加工やプレス加工等で成型されるもの
で、製作加工が従来よりも容易である。また、そ
の組み立てに際しては、内側電極2と外側電極4
を同心に配置する必要があるが、そのための図中
上下方向の位置調整は、絶縁スペーサ18,20
の厚さΔtを変えることにより、また、図中水平
方向の位置調整は、内側電極2と外側電極4の各
軸合わせ調整部10,12の間隔Δlが周方向に沿
つて一定となるようにそれぞれ行なうことができ
る。位置調整後は、両フランジ部6,8をボルト
24、ナツト26で固定する。こうして組み立て
られた静電半球形エネルギーアナライザ1は、荷
電粒子の通過路となる内側電極2と外側電極4の
間の空間部の入射、出射端が内側電極2のフラン
ジ部6で覆われるので、従来に比べて外部磁界か
らの影響を一層受けにくくなる。
イザ1では、内側電極2と外側電極4とが共に板
材の絞り加工やプレス加工等で成型されるもの
で、製作加工が従来よりも容易である。また、そ
の組み立てに際しては、内側電極2と外側電極4
を同心に配置する必要があるが、そのための図中
上下方向の位置調整は、絶縁スペーサ18,20
の厚さΔtを変えることにより、また、図中水平
方向の位置調整は、内側電極2と外側電極4の各
軸合わせ調整部10,12の間隔Δlが周方向に沿
つて一定となるようにそれぞれ行なうことができ
る。位置調整後は、両フランジ部6,8をボルト
24、ナツト26で固定する。こうして組み立て
られた静電半球形エネルギーアナライザ1は、荷
電粒子の通過路となる内側電極2と外側電極4の
間の空間部の入射、出射端が内側電極2のフラン
ジ部6で覆われるので、従来に比べて外部磁界か
らの影響を一層受けにくくなる。
(ホ) 効果
以上のように本考案によれば、内側電極と外側
電極が共に板材を絞り加工やプレス加工等で成型
しているので、低コストで製作することができ、
かつ、量産化が可能となる。また、内側電極と外
側電極とに形成したフランジ部の重ね合わせ位置
と絶縁スペーサの厚さとを調整することによつ
て、内側電極と外側電極の軸心を精度良く一致さ
せることができる。また、荷電粒子の通過路とな
る内側電極と外側電極の間の空間は荷電粒子の入
射、出射端において内側電極のフランジ部で覆わ
れた構造となるため、従来よりも外部磁界の影響
を受けにくくなる等の優れた効果が発揮される。
電極が共に板材を絞り加工やプレス加工等で成型
しているので、低コストで製作することができ、
かつ、量産化が可能となる。また、内側電極と外
側電極とに形成したフランジ部の重ね合わせ位置
と絶縁スペーサの厚さとを調整することによつ
て、内側電極と外側電極の軸心を精度良く一致さ
せることができる。また、荷電粒子の通過路とな
る内側電極と外側電極の間の空間は荷電粒子の入
射、出射端において内側電極のフランジ部で覆わ
れた構造となるため、従来よりも外部磁界の影響
を受けにくくなる等の優れた効果が発揮される。
第1図は本考案の実施例の静電半球形エネルギ
ーアナライザの縦断面図、第2図は第1図の内側
電極と外側電極の各フランジ部を拡大して示す断
面図、第3図は従来の静電半球形エネルギーアナ
ライザの縦断面図である。 1……静電半球形エネルギーアナライザ、2…
…内側電極、4……外側電極、6……メツシユ電
極。
ーアナライザの縦断面図、第2図は第1図の内側
電極と外側電極の各フランジ部を拡大して示す断
面図、第3図は従来の静電半球形エネルギーアナ
ライザの縦断面図である。 1……静電半球形エネルギーアナライザ、2…
…内側電極、4……外側電極、6……メツシユ電
極。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 板材を半球形に成型してなる内側電極と外側
電極とを同心に配置し、前記両電極の外周縁部
にフランジ部を形成し、内側電極のフランジ部
に荷電粒子の入出射用の透孔を設ける一方、両
フランジ部を入射スリツト、出射スリツトおよ
び絶縁スペーサを挟んで互いに固定したことを
特徴とする静電半球形エネルギーアナライザ。 (2) 内側電極と外側電極とは共に磁気シールド用
の高透磁率材料でできたものである実用新案登
録請求の範囲第1項に記載の静電半球形エネル
ギーアナライザ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986048231U JPH044355Y2 (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986048231U JPH044355Y2 (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62160457U JPS62160457U (ja) | 1987-10-12 |
| JPH044355Y2 true JPH044355Y2 (ja) | 1992-02-07 |
Family
ID=30869568
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986048231U Expired JPH044355Y2 (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH044355Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8322017D0 (en) * | 1983-08-16 | 1983-09-21 | Vg Instr Ltd | Charged particle energy spectrometer |
-
1986
- 1986-03-31 JP JP1986048231U patent/JPH044355Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62160457U (ja) | 1987-10-12 |
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