JPH0444246A - 半導体ウェハ搬送装置 - Google Patents
半導体ウェハ搬送装置Info
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- JPH0444246A JPH0444246A JP2149377A JP14937790A JPH0444246A JP H0444246 A JPH0444246 A JP H0444246A JP 2149377 A JP2149377 A JP 2149377A JP 14937790 A JP14937790 A JP 14937790A JP H0444246 A JPH0444246 A JP H0444246A
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- Japan
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- wafer
- light
- cassette
- sensor
- elevator
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 10
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims abstract description 83
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 39
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 22
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体ウェハーの搬送装置に関し、特にウェ
ハーカセットを上下動作させることの可能なエレベータ
機構部と、カセット内のウェハーを検出するための光セ
ンサを用いたウェハー検出機構部およびカセット内のウ
ェハーをカセット外部に取り出すことのできる搬送アー
ム機構部を有する半導体ウェハー搬送装置に関する。
ハーカセットを上下動作させることの可能なエレベータ
機構部と、カセット内のウェハーを検出するための光セ
ンサを用いたウェハー検出機構部およびカセット内のウ
ェハーをカセット外部に取り出すことのできる搬送アー
ム機構部を有する半導体ウェハー搬送装置に関する。
従来、この種の半導体ウェハー搬送装置は、エレベータ
機構部と発光側、受光側の1対の光センサを有するウェ
ハー検出機構部および搬送アーム機構部が独立に構成さ
れており、カセット内のウェハーを検出するとき、ウェ
ハー検出機構部の光センサまたは反射ミラー等が一旦、
検出位置まで移動し、ウェハーを検出した後、元の位置
に待避し、その後搬送アームがカセット内に挿入されウ
ェハーをカセット外に取り出す動作となっていた。
機構部と発光側、受光側の1対の光センサを有するウェ
ハー検出機構部および搬送アーム機構部が独立に構成さ
れており、カセット内のウェハーを検出するとき、ウェ
ハー検出機構部の光センサまたは反射ミラー等が一旦、
検出位置まで移動し、ウェハーを検出した後、元の位置
に待避し、その後搬送アームがカセット内に挿入されウ
ェハーをカセット外に取り出す動作となっていた。
第6図は、従来の半導体ウェハー搬送装置の斜視図であ
る。
る。
図において、エレベータ37はZ軸方向に上下動作する
機構になっている。
機構になっている。
カセット38は、エレベータ37の上に置かれ、カセッ
ト38のスロット溝39にウェハー40が収納されてい
る。光センサ発光素子41および反射ミラー42、光セ
ンサ受光素子43は、それぞれセンサ固定台45に取付
けられており、センサ固定台45は、上下用エアーシリ
ンダ44により上下動作する機構になっている。また、
光センサ発光素子41から出た光は、反射ミラー42に
より反射され光センサ受光素子43に導かれる様にそれ
ぞれ配置されている。搬送アーム46は、Y軸方向に前
後動作する機構となっており、先端にはウェハーを真空
吸着するためのバキュームホール47が設けられている
。
ト38のスロット溝39にウェハー40が収納されてい
る。光センサ発光素子41および反射ミラー42、光セ
ンサ受光素子43は、それぞれセンサ固定台45に取付
けられており、センサ固定台45は、上下用エアーシリ
ンダ44により上下動作する機構になっている。また、
光センサ発光素子41から出た光は、反射ミラー42に
より反射され光センサ受光素子43に導かれる様にそれ
ぞれ配置されている。搬送アーム46は、Y軸方向に前
後動作する機構となっており、先端にはウェハーを真空
吸着するためのバキュームホール47が設けられている
。
次にウェハー搬送の動作説明を行う。それぞれの機構部
は、制御部の信号によりシーケンス動作する。第7図(
a)、 (b)は1、第6図の左側面図である。第7図
(a)に示すようにウェハー検出前の動作ではまずエア
ーシリンダ44によりセンサ固定台が矢印■の方向に上
昇する。この時、光センサ発光素子41から出た光は、
センサ光路48を通り、反射ミラー42により、光セン
サ受光素子43へ入射している(センサ光路48上にウ
ェハーがないため)。次にカセット38が乗ったエレベ
ータ37が矢印■の方向へ下降するが、カセット38の
一番下段に収納されているウェハー40がセンサ光路4
8に通っている光を遮断した時点(位置)で下降動作を
停止する(ウェハー検出動作)。
は、制御部の信号によりシーケンス動作する。第7図(
a)、 (b)は1、第6図の左側面図である。第7図
(a)に示すようにウェハー検出前の動作ではまずエア
ーシリンダ44によりセンサ固定台が矢印■の方向に上
昇する。この時、光センサ発光素子41から出た光は、
センサ光路48を通り、反射ミラー42により、光セン
サ受光素子43へ入射している(センサ光路48上にウ
ェハーがないため)。次にカセット38が乗ったエレベ
ータ37が矢印■の方向へ下降するが、カセット38の
一番下段に収納されているウェハー40がセンサ光路4
8に通っている光を遮断した時点(位置)で下降動作を
停止する(ウェハー検出動作)。
ウェハー検出動作後、第7図(b)に示すようにエアー
シリンダ44によりセンサ固定台45は、矢印■の方向
に下降する。この後、搬送アーム46が矢印■の方向に
、斜線で示したウニノ・−40の底部まで移動しウニ・
・−40を真空吸着後矢印■の方向へ移動する。
シリンダ44によりセンサ固定台45は、矢印■の方向
に下降する。この後、搬送アーム46が矢印■の方向に
、斜線で示したウニノ・−40の底部まで移動しウニ・
・−40を真空吸着後矢印■の方向へ移動する。
以上の様にしてカセット38に収納されているウェハー
40をカセット38の外部へ取り出すようになっていた
。
40をカセット38の外部へ取り出すようになっていた
。
口発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のウニノ・−搬送装置は、エレベータ機構
部、ウニノ・−検出機構部、搬送アーム機構の3つの動
作をする機構部が必要なため装置の構造が複雑になり、
これらの制御および位置調整が難しくなる他、装置のコ
ストが高くなるという欠点がある。
部、ウニノ・−検出機構部、搬送アーム機構の3つの動
作をする機構部が必要なため装置の構造が複雑になり、
これらの制御および位置調整が難しくなる他、装置のコ
ストが高くなるという欠点がある。
また、ウェハー検出機構部において、カセ+7 )内部
のウェハーを検出する光センサが1対しかないため、カ
セット内のスロットにウニノー−が誤って斜めに挿入さ
れていた場合に、この誤りをアラームとして検出するこ
とができず正常動作を行ってしまう。そのため搬送アー
ムがカセット内に挿入された時に、ウェハーを破損して
しまうという欠点がある。
のウェハーを検出する光センサが1対しかないため、カ
セット内のスロットにウニノー−が誤って斜めに挿入さ
れていた場合に、この誤りをアラームとして検出するこ
とができず正常動作を行ってしまう。そのため搬送アー
ムがカセット内に挿入された時に、ウェハーを破損して
しまうという欠点がある。
本発明の半導体ウェハー搬送装置は、ウニ・・−検出用
の光センサ(発光側または受光側センサもしくはこの両
者共)または発光側から放出された光を受光側センサへ
導くための反射ミラーがウェハー側面方向に2個または
2対以上設置されたウェハー搬送アームを有している。
の光センサ(発光側または受光側センサもしくはこの両
者共)または発光側から放出された光を受光側センサへ
導くための反射ミラーがウェハー側面方向に2個または
2対以上設置されたウェハー搬送アームを有している。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の一実旅例を示す斜視図、第2図はその
左側面図である。
左側面図である。
図において、エレベータ1は制御部100の制御により
Z軸方向に上下移動する機構になっている。カセット2
は、エレベータlの上に置かれてし・る。またカセット
2のスロット溝3にウェハー4、ウェハー5、ウェハー
6が収納されている。
Z軸方向に上下移動する機構になっている。カセット2
は、エレベータlの上に置かれてし・る。またカセット
2のスロット溝3にウェハー4、ウェハー5、ウェハー
6が収納されている。
光センサ発光素子7、発光素子8は、X方向に並んでセ
ンサ固定台9に取付けられており、それぞれのスリブ)
10.スリブ)11を通し、光路12、光路13方向に
光を発する。搬送アーム14はX方向に前後移動する機
構となっており、2つのバキュームホール15、バキュ
ームホール16がおいている。光センサ受光素子17、
受光素子18は、搬送アーム14上にX方向に並んで取
付いている。受光素子17は、発光素子7から出た光を
光路12を通って受光する様な1対の光センサであり、
受光素子18は、発光素子8から出た光を光路13を通
って受光し、前者とは別の1対の光センサと構成する。
ンサ固定台9に取付けられており、それぞれのスリブ)
10.スリブ)11を通し、光路12、光路13方向に
光を発する。搬送アーム14はX方向に前後移動する機
構となっており、2つのバキュームホール15、バキュ
ームホール16がおいている。光センサ受光素子17、
受光素子18は、搬送アーム14上にX方向に並んで取
付いている。受光素子17は、発光素子7から出た光を
光路12を通って受光する様な1対の光センサであり、
受光素子18は、発光素子8から出た光を光路13を通
って受光し、前者とは別の1対の光センサと構成する。
以上の様な構成において、光センサ受光素子17゜18
の出力を制御部で検出しながら、エレベータlを徐々に
下降する。光センサ受光素子17.18の圧力が“H”
レベル(光センサ発光素子7,8からの光を受光してい
る)の間は、ウェハーが無いと判断しエレベータ1が下
降する。カセット2内のウェハー6が、光路12.13
の高さになった時、ウェハー6により光センサ発光素子
7,8の光が遮断され光センサ受光素子17.18の出
力がL”レベル(光を受光していない)になる。
の出力を制御部で検出しながら、エレベータlを徐々に
下降する。光センサ受光素子17.18の圧力が“H”
レベル(光センサ発光素子7,8からの光を受光してい
る)の間は、ウェハーが無いと判断しエレベータ1が下
降する。カセット2内のウェハー6が、光路12.13
の高さになった時、ウェハー6により光センサ発光素子
7,8の光が遮断され光センサ受光素子17.18の出
力がL”レベル(光を受光していない)になる。
この信号によりエレベータlの下降を適度な位置におい
て停止し、搬送アーム14をカセット2内に挿入する。
て停止し、搬送アーム14をカセット2内に挿入する。
次にバキュームホール15,16から空気を吸引しなが
ら、エレベータlを下降し、搬送アーム14にウェハー
6を真空吸着すると同時に、スロット溝3より、ウェハ
ー6を持ち上げ、チャックした状態でカセット2の外部
へウェハー6を取り圧す。
ら、エレベータlを下降し、搬送アーム14にウェハー
6を真空吸着すると同時に、スロット溝3より、ウェハ
ー6を持ち上げ、チャックした状態でカセット2の外部
へウェハー6を取り圧す。
この実施例では、ウェハー検出部の上下移動動作機構が
ないため、装置の構造が簡単でかつ装置コストが実測に
できるという利点がある。また、ウェハーを検出する際
において、例えば、第3図の様にカセット19にウェハ
ーC23が誤って斜め(左端と右端においてスロット溝
20の段数がずれている)に挿入さhていた場合、第4
A図に示す様に光センサ受光素子17と光センサ受光素
子18の検出時間にΔtだけのずれが生ずる。このため
、第4B図の様なEX−NORとRSフリップフロップ
からなるアラーム検出部200を光センサ受光素子17
,18の出力側に設けることで、第3図の様な誤りを制
御部100を介して装置のオペレータ等に知らせること
ができると同時に、制御部100を通してエレベータ機
構部や、搬送アーム機構にインターロックながけ動作を
停止させることができるという利点もある。
ないため、装置の構造が簡単でかつ装置コストが実測に
できるという利点がある。また、ウェハーを検出する際
において、例えば、第3図の様にカセット19にウェハ
ーC23が誤って斜め(左端と右端においてスロット溝
20の段数がずれている)に挿入さhていた場合、第4
A図に示す様に光センサ受光素子17と光センサ受光素
子18の検出時間にΔtだけのずれが生ずる。このため
、第4B図の様なEX−NORとRSフリップフロップ
からなるアラーム検出部200を光センサ受光素子17
,18の出力側に設けることで、第3図の様な誤りを制
御部100を介して装置のオペレータ等に知らせること
ができると同時に、制御部100を通してエレベータ機
構部や、搬送アーム機構にインターロックながけ動作を
停止させることができるという利点もある。
〔実施例2〕
第5図は1本発明の実施例2の平面図である。
エレベータ25は、紙面に対して垂直方向に移動する機
構となっている。カセット26はエレベータ25の上に
置かれ、カセット26内部には、ウェハー27が収納さ
れている。光センサ発光素子28.29はカセット26
の後部にX方向に並んで配置され、紙面に対して垂直方
向は、同じ高さになっている。また、搬送アーム32は
、カセット26の前方にありX方向に前後移動動作しウ
ェハー27をカセット26外部に搬送する機構となって
いる。反射ミラー33.34は、搬送アーム32の上部
に光路30,31に対しそれぞれ45°に傾いて取付け
られており、光センサ発光素子28.29から比だ光を
それぞれ90”に反射し光センサ受光素子35.36へ
導く役割をしている。光センサ受光素子35.36は、
P点の位置にX軸方向に並んで固定されている。
構となっている。カセット26はエレベータ25の上に
置かれ、カセット26内部には、ウェハー27が収納さ
れている。光センサ発光素子28.29はカセット26
の後部にX方向に並んで配置され、紙面に対して垂直方
向は、同じ高さになっている。また、搬送アーム32は
、カセット26の前方にありX方向に前後移動動作しウ
ェハー27をカセット26外部に搬送する機構となって
いる。反射ミラー33.34は、搬送アーム32の上部
に光路30,31に対しそれぞれ45°に傾いて取付け
られており、光センサ発光素子28.29から比だ光を
それぞれ90”に反射し光センサ受光素子35.36へ
導く役割をしている。光センサ受光素子35.36は、
P点の位置にX軸方向に並んで固定されている。
以上の第2の実施例の構成において、次にウェハー検量
動作を説明する。
動作を説明する。
まず、搬送アーム32がP点に移動した後、エレベータ
25が下降しウェハー27が光路30゜31上の光を遮
断した時点(光センサ受光素子35.361光センサ発
光素子28.29からの光が入射されない状態)で停止
する。ウェハー搬送動作は実施例1と同様である。
25が下降しウェハー27が光路30゜31上の光を遮
断した時点(光センサ受光素子35.361光センサ発
光素子28.29からの光が入射されない状態)で停止
する。ウェハー搬送動作は実施例1と同様である。
この実施例では、搬送アーム上に設置するものが反射ミ
ラーであるため、搬送アーム形状を小形化および簡単化
できるという利点がある。また、光センサを搬送アーム
上に設置しないため光センサの形状、大きさ等の選択も
容易になるという利点がある。
ラーであるため、搬送アーム形状を小形化および簡単化
できるという利点がある。また、光センサを搬送アーム
上に設置しないため光センサの形状、大きさ等の選択も
容易になるという利点がある。
以上説明したように本発明は、ウニノ・−検出用の光セ
ンサ(発光側または、受光側センサもしくは、この両者
共)または、発光側から放出された光を受光側センサへ
導くための反射ミラーをウェハー搬送アームに設置する
ことにより、ウェハー検出機構部がウェハーを検出した
後、搬送アームとの干渉を避けるための待避動作機能が
不用になり、裁置の構造および制御系、位置調整等が簡
略化できかつ、装置のコストが安価にできるという効果
がある。
ンサ(発光側または、受光側センサもしくは、この両者
共)または、発光側から放出された光を受光側センサへ
導くための反射ミラーをウェハー搬送アームに設置する
ことにより、ウェハー検出機構部がウェハーを検出した
後、搬送アームとの干渉を避けるための待避動作機能が
不用になり、裁置の構造および制御系、位置調整等が簡
略化できかつ、装置のコストが安価にできるという効果
がある。
また、ウェハー検出用の光センサが、ウェハー側面方向
に向って、2個または2対以上あるため、カセット内の
スロットにウェハーが誤って斜めに挿入されていた場合
に、個々のウェハー検出センサのウェハー検出信号のタ
イミングずれにより、これをアラームとして検出するこ
とが可能となる。
に向って、2個または2対以上あるため、カセット内の
スロットにウェハーが誤って斜めに挿入されていた場合
に、個々のウェハー検出センサのウェハー検出信号のタ
イミングずれにより、これをアラームとして検出するこ
とが可能となる。
したがって、カセット内に搬送アームが挿入される前段
階で装置の動作を停止させ、ウェハーを破損することな
く外部(装置オペレータ等)へウェハー挿入ミスを知ら
せることができる効果もある。
階で装置の動作を停止させ、ウェハーを破損することな
く外部(装置オペレータ等)へウェハー挿入ミスを知ら
せることができる効果もある。
第1図は本発明の一実施例の斜視図、第2図は、第1図
の左側面図、第3図はカセット内に誤ってウェハーが挿
入されている場合のカセットの正面図、第4A図は本発
明の装置により第3図のカセット内部のウェハーを検出
した場合のタイミングチャート、第4B図は、その場合
のアラーム検量回路の一例を示すブロック図、第5図は
本発明のもう一つの実施例の平面図、第6図は従来の半
導体ウェハー搬送装置の斜視図、第7図(a)、 (b
)は第6図の左側面図であり、(a)は、ウニノ・−検
出前の動作図、(b)はウェハー検出後の動作図である
。 l・・・・・・エレベータ、2・・・・・カセット、3
・・・・・・スロット溝、4,5.6・・・・・・ウェ
ハー 7・・・・・・光センサ発光素子、8・・・・・
・光センサ受光素子、9・・・・センサ固定台、10.
11・・・・・・スリブ)b、12・・・・・・光路、
13・・・・・・光路、14・・・・・・搬送アーム、
15.16・・・・・バキュームホール、17.18・
・・・・光センサ受光素子、19・・・・・カセッ)、
20・・・・・・スロッ)L 21,22,23.2
4・・川・ウェハー、25・・・・・エレベータ、26
・・・・・・カセット、27・・・・ウェハー、28.
29・・・・・・光センサ発光素子、30.31・・印
・光路、32・・印・搬送アーム、33.34・・・・
反射ミラー 35.36・・・・・光センサ受光素子、
37・・用エレベータ、38・・・用カセット、39・
・・・・・スロット溝、5o・・団・ウェハー41・・
・・光センサ発光素子、42・・・・・・反射ミラー4
3・・・・・光センサ受光素子、44・・・・・・エア
ーシリンダ、45・・・・・・センサ固定台、46・・
川・搬送アーム、47・・・・・・バキュームホール呟
48・旧・・センサ光路。 代理人 弁理士 内 原 晋 第 1 図 箒 圓 Aieフェ八−へ1の利1七−1d 芥4Δ回 箒 乙 ■
の左側面図、第3図はカセット内に誤ってウェハーが挿
入されている場合のカセットの正面図、第4A図は本発
明の装置により第3図のカセット内部のウェハーを検出
した場合のタイミングチャート、第4B図は、その場合
のアラーム検量回路の一例を示すブロック図、第5図は
本発明のもう一つの実施例の平面図、第6図は従来の半
導体ウェハー搬送装置の斜視図、第7図(a)、 (b
)は第6図の左側面図であり、(a)は、ウニノ・−検
出前の動作図、(b)はウェハー検出後の動作図である
。 l・・・・・・エレベータ、2・・・・・カセット、3
・・・・・・スロット溝、4,5.6・・・・・・ウェ
ハー 7・・・・・・光センサ発光素子、8・・・・・
・光センサ受光素子、9・・・・センサ固定台、10.
11・・・・・・スリブ)b、12・・・・・・光路、
13・・・・・・光路、14・・・・・・搬送アーム、
15.16・・・・・バキュームホール、17.18・
・・・・光センサ受光素子、19・・・・・カセッ)、
20・・・・・・スロッ)L 21,22,23.2
4・・川・ウェハー、25・・・・・エレベータ、26
・・・・・・カセット、27・・・・ウェハー、28.
29・・・・・・光センサ発光素子、30.31・・印
・光路、32・・印・搬送アーム、33.34・・・・
反射ミラー 35.36・・・・・光センサ受光素子、
37・・用エレベータ、38・・・用カセット、39・
・・・・・スロット溝、5o・・団・ウェハー41・・
・・光センサ発光素子、42・・・・・・反射ミラー4
3・・・・・光センサ受光素子、44・・・・・・エア
ーシリンダ、45・・・・・・センサ固定台、46・・
川・搬送アーム、47・・・・・・バキュームホール呟
48・旧・・センサ光路。 代理人 弁理士 内 原 晋 第 1 図 箒 圓 Aieフェ八−へ1の利1七−1d 芥4Δ回 箒 乙 ■
Claims (2)
- (1)半導体ウェハーを収納したカセットを上下移動動
作させるエレベータ機構部と、前記カセットに収納され
たウェハーの有無を1枚ずつ検出することのできる光セ
ンサを有するウェハー検出機構部と、前記カセットから
前記ウェハーを取り出すことのできる搬送アーム機構部
とを有するウェハー搬送装置において、 ウェハー検出用光センサ(発光側または受光側センサも
しくは発光側、受光側の両方のセンサ)または、発光側
から放出された光を受光側センサへ導くための反射ミラ
ーが前記ウェハー搬送アームにウェハー側面に向かって
2個または2対以上設置されていることを特徴とする半
導体ウェハーの搬送装置。 - (2)前記カセット内のウェハーによって前記発光側セ
ンサから前記受光側センサへの光路が遮断されたとき、
前記エレベータ機構部が停止し前記搬送アーム機構が前
記ウェハーを取り出すことを特徴とする特許請求の範囲
第(1)項記載の半導体ウェハーの搬送装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2149377A JPH0444246A (ja) | 1990-06-07 | 1990-06-07 | 半導体ウェハ搬送装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2149377A JPH0444246A (ja) | 1990-06-07 | 1990-06-07 | 半導体ウェハ搬送装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0444246A true JPH0444246A (ja) | 1992-02-14 |
Family
ID=15473805
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2149377A Pending JPH0444246A (ja) | 1990-06-07 | 1990-06-07 | 半導体ウェハ搬送装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0444246A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6648587B1 (en) * | 1999-08-25 | 2003-11-18 | Maxtor Corporation | Material delivery system for clean room-like environments |
| JP2010032242A (ja) * | 2008-07-25 | 2010-02-12 | Yamatake Corp | 基板検出装置 |
-
1990
- 1990-06-07 JP JP2149377A patent/JPH0444246A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP2010032242A (ja) * | 2008-07-25 | 2010-02-12 | Yamatake Corp | 基板検出装置 |
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