JPH11204623A - 基板検出装置 - Google Patents

基板検出装置

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JPH11204623A
JPH11204623A JP2021198A JP2021198A JPH11204623A JP H11204623 A JPH11204623 A JP H11204623A JP 2021198 A JP2021198 A JP 2021198A JP 2021198 A JP2021198 A JP 2021198A JP H11204623 A JPH11204623 A JP H11204623A
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JP
Japan
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wafer
sensor
substrate
light
detecting
Prior art date
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Pending
Application number
JP2021198A
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English (en)
Inventor
Tsutomu Takeuchi
努 武内
Hitoshi Nakagawa
均 中川
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Kokusai Denki Electric Inc
Original Assignee
Kokusai Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Kokusai Electric Co Ltd filed Critical Kokusai Electric Co Ltd
Priority to JP2021198A priority Critical patent/JPH11204623A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】構造が簡潔且調整が容易であり、ウェーハ等基
板の検出が正確に行える基板検出装置を提供する。 【解決手段】基板搬送プレート16に受載される基板5
に対峙させて静電容量式センサ32を設け、該静電容量
式センサが静電容量の変化量を検出することにより前記
基板搬送プレート上の基板の有無を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造装置に
於いてウェーハ等被処理基板を移載する基板移載機に具
備される基板検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体製造装置内部での被処理基板の移
載は基板移載機によって行われる。該基板移載機では一
度に複数の被処理基板の移載ができる様に基板搬送プレ
ートが複数段設けられ、該基板搬送プレート上の被処理
基板の有無を検出する目的で各基板搬送プレートに対し
て基板検出装置が設けられている。
【0003】先ず、図3に於いて、ウェーハ移載機を具
備する半導体製造装置の概略を説明する。
【0004】筐体1内の後方上部位置には反応炉2が設
けられ、該反応炉2の内部には反応管3が設けられてい
る。前記反応炉2の下方にはボートエレベータ4が設け
られ、該ボートエレベータ4により被処理基板であるウ
ェーハ5が装填されたボート6が前記反応管3内部に装
入、引出し可能となっている。
【0005】前記筐体1の前部にはウェーハカセット授
受部(図示せず)が設けられ、該ウェーハカセット授受
部の後方にはカセット搬送機7が設けられ、該カセット
搬送機7の後方には上からバッファカセット棚8、カセ
ット棚9が2段で設けられている。前記反応炉2と前記
バッファカセット棚8の間には第1エアクリーンユニッ
ト10が設けられ、該第1エアクリーンユニット10の
下方には第2エアクリーンユニット11が設けられてい
る。前記カセット棚9と前記ボートエレベータ4の間に
はウェーハ移載機12が設けられている。
【0006】前記ウェーハ5はウェーハカセット13に
装填された状態で半導体製造装置と外部との間の搬送が
行われる。前記ウェーハカセット13は前記ウェーハカ
セット授受部(図示せず)で中継され、前記カセット搬
送機7により前記バッファカセット棚8、カセット棚9
に収納される。前記ウェーハ移載機12は前記カセット
棚9に収納された前記ウェーハカセット13と下降状態
にある前記ボート6間で前記ウェーハ5の移載をする。
前記ボートエレベータ4は前記ボート6を前記反応管3
内に装入し、前記ウェーハ5への成膜が完了すると前記
ボート6を前記反応管3より引出す。
【0007】処理後の前記ウェーハ5は半導体製造装置
外部から前記ボート6への移載の手順の逆を行うこと
で、前記ボート6から前記カセット棚9の前記ウェーハ
カセット13への移載が行われ、更に、ウェーハカセッ
ト13は半導体製造装置外部に搬出される。
【0008】次に、図3〜図6に於いて、従来の基板検
出装置を具備した前記ウェーハ移載機12を説明する。
【0009】該ウェーハ移載機12は昇降可能且回転可
能な進退機構部14を有し、該進退機構部14には水平
方向に進退可能にチャッキングヘッド15が設けられて
いる。該チャッキングヘッド15の正面にはウェーハ搬
送プレート16が鉛直方向に所要段(図示では5段)取
付けられている。
【0010】該ウェーハ搬送プレート16は先端が凹形
状をした短冊状を成し、該ウェーハ搬送プレート16の
上面には前記ウェーハ5が嵌込まれる凹部17が形成さ
れている。
【0011】前記チャッキングヘッド15の正面には前
記ウェーハ搬送プレート16の長手方向と平行に支持ア
ーム18が突設されている。該支持アーム18の先端に
は載置される前記ウェーハ5の接線方向にへの字状に屈
曲したセンサホルダ19が固着されている。該センサホ
ルダ19には棒状の投光用センサ20と受光用センサ2
1で一対を成すウェーハ検出センサ、図では透過型ファ
イバーセンサがそれぞれ前記ウェーハ搬送プレート16
を挟んで上下に平行に所要対(図示では5対)設けられ
ている。前記投光用センサ20、受光用センサ21は相
互の干渉を避ける為、上段側のセンサ対に対して下段側
のセンサ対を水平方向に平行にずらした配列となってい
る。前記各投光用センサ20の先端部にはそれぞれ投光
器22が内設され、前記各受光用センサ21の先端部に
はそれぞれ受光器23が内設され、各対を成す前記投光
器22と受光器23のそれぞれの光軸24は合致してい
る。
【0012】又、前記投光用センサ20、受光用センサ
21の軸心は前記ウェーハ搬送プレート16に受載され
た前記ウェーハ5の中心を指し、先端は前記ウェーハ搬
送プレート16の側縁より離反して位置し、更に、前記
光軸24は前記ウェーハ搬送プレート16に受載される
前記ウェーハ5の外形線より内側に位置している。
【0013】前記ウェーハ搬送プレート16が5段設け
られている場合、図5に示す様に、最上段のウェーハ5
検出用の投光用センサ20aが最上段のセンサホルダ1
9に設けられ、上から2段目のセンサホルダ19には前
記最上段のウェーハ5検出用の受光用センサ21aと上
から2段目のウェーハ5検出用の投光用センサ20b、
上から3段目のウェーハホルダ19には前記上から2段
目のウェーハ5検出用の受光用センサ21bと上から3
段目のウェーハ5検出用の投光用センサ20c、上から
4段目のウェーハホルダ19には前記上から3段目のウ
ェーハ5検出用の受光用センサ21cと上から4段目の
ウェーハ5検出用の投光用センサ20d、上から5段目
のウェーハホルダ19には前記上から4段目のウェーハ
5検出用の受光用センサ21dと最下段のウェーハ5検
出用の投光用センサ20e、最下段のウェーハホルダ1
9には前記最下段のウェーハ5検出用の受光用センサ2
1eがそれぞれ設けられている。
【0014】以下、前記ウェーハ5の移載作業、例え
ば、該ウェーハ5を水平姿勢で多段に装填した前記ウェ
ーハカセット13から前記ウェーハ5を抜取る場合につ
いて説明する。
【0015】前記ウェーハ移載機12を前記ウェーハカ
セット13に対峙させ、前記チャッキングヘッド15を
前進させ、前記ウェーハ搬送プレート16を前記ウェー
ハカセット13内に装入し、前記ウェーハ5を前記ウェ
ーハ搬送プレート16の前記凹部17上に受載する。前
記ウェーハ5の検知は前記ウェーハ搬送プレート16に
前記ウェーハ5が受載された状態で行われる。
【0016】前記ウェーハ搬送プレート16上の前記ウ
ェーハ5の有無は前記投光器22から射出された検出光
が前記ウェーハ5に遮られたかどうかにより判断され
る。即ち、検出光が前記受光器23に検出されなければ
前記ウェーハ5有りの判定がなされ、検出光が前記受光
器23に検出されれば前記ウェーハ5無しの判定がなさ
れる。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来の基板検
出装置では、前記投光用センサ20と受光用センサ21
とで1対を成し、前記投光器22と受光器23の光軸2
4を合致させる必要がある為、前記投光用センサ20、
受光用センサ21の配設位置等の調整が難しく、調整に
長時間を要していた。
【0018】又、前記投光用センサ20、受光用センサ
21は相互の干渉を避ける為、上段側のセンサ対に対し
て下段側のセンサ対を水平方向に平行にずらした配列と
する必要がある。従って、前記センサホルダ19の構造
が複雑となり、又、形状が大きくなる為、該センサホル
ダ19が前記ウェーハカセット13に干渉する虞れがあ
る。
【0019】更に、1段の前記ウェーハ搬送プレート1
6に対して上下に1対の前記投光用センサ20と受光用
センサ21が必要な為、前記ウェーハカセット13の天
板25の形状によっては前記最上段の投光器22からの
検出光が前記天板25に遮られ、前記ウェーハ5の検出
が行えない虞れがある。
【0020】更に又、上記問題を解決する為、1枚の前
記ウェーハ搬送プレート16に対し1個の反射型センサ
を前記ウェーハ搬送プレート16に受載される前記ウェ
ーハ5の下方直近に配設することがある。前記反射型セ
ンサは1個のセンサに前記投光器22と受光器23が共
に内設されたものであり、前記投光器22からの検出光
が前記受光器23に検出されれば、検出光が前記ウェー
ハ5に反射して前記受光器23に入射されたとみなして
ウェーハ有りの判定をし、検出光が前記受光器23に検
出されなければウェーハ無しの判定を行う。
【0021】ところが斯かる場合には、前記ウェーハ搬
送プレート16に前記ウェーハ5が受載されていても、
該ウェーハ5の表面状態によっては、検出光が前記受光
器23に入射せず、誤ってウェーハ無しの判定がなされ
る虞れがあるといった問題があった。
【0022】本発明は斯かる実情に鑑み、構造が簡潔且
調整が容易であり、ウェーハ等基板の検出が正確に行え
る基板検出装置を提供するものである。
【0023】
【課題を解決するための手段】本発明は、基板搬送プレ
ートに受載される基板と対峙させて静電容量式センサを
設けた基板検出装置に係り、前記静電容量式センサが静
電容量の変化量を検出することにより前記基板搬送プレ
ート上の基板の有無を検出する。
【0024】
【発明の実施の形態】以下、図1、図2を参照しつつ本
発明の実施の形態を説明する。尚、従来と同等のものに
は同符号を付し説明は省略する。
【0025】複数段のウェーハ搬送プレート16の基端
部の一幅端面には、該各ウェーハ搬送プレート16の長
手方向と直角を成す様にそれぞれセンサホルダ31が水
平に突設されている。
【0026】該センサホルダ31にはそれぞれ静電容量
式センサ32が着脱可能に挾持され、該静電容量式セン
サ32は前記ウェーハ搬送プレート16の長手方向と平
行を成している。前記静電容量式センサ32の先端部は
該ウェーハ搬送プレート16に受載されるウェーハ5の
下方直近に位置すると共に前記先端部の所要長さ分は前
記ウェーハ5と重合する様になっている。前記静電容量
式センサ32の厚みは1mm程度であり、主要部分は金属
汚染のない材質、例えばアルミナ製であり、耐熱性を有
している。又、前記静電容量式センサ32は図示しない
電源装置により正又は負の電荷に帯電されている。
【0027】前記ウェーハ搬送プレート16が5段設け
られている場合、前記センサホルダ31には図2に示す
様に、上から順に最上段のウェーハ5検出用の静電容量
式センサ32a、上から2段目のウェーハ5検出用の静
電容量式センサ32b、上から3段目のウェーハ5検出
用の静電容量式センサ32c、上から4段目のウェーハ
5検出用の静電容量式センサ32d、最下段のウェーハ
5検出用の静電容量式センサ32eがそれぞれ設けられ
ている。
【0028】以下、前記静電容量式センサ32の作動を
説明する。
【0029】前記ウェーハ搬送プレート16上のウェー
ハ5の有無は、前記各静電容量式センサ32a,32
b,32c,32d,32eが静電容量の変化量を検出
することにより判断される。即ち、前記静電容量式セン
サ32の検出する静電容量が所定値を越えた場合には、
ウェーハ有りの判定がなされ、前記静電容量式センサ3
2の検出する静電容量が所定値以下となった場合には、
ウェーハ無しの判定がなされる。
【0030】ウェーハの有無に対応する静電容量の変化
の値は前記静電容量式センサ32の先端部とウェーハ5
との重合長さにより主に決定される。従って、静電容量
の変化の値は前記静電容量式センサ32自体の姿勢等に
は大きく影響を受けることはなく、又、位置合せのバラ
ツキに起因する静電容量の変化も、ウェーハの有無に起
因する変化に比べれば充分小さいので、該静電容量式セ
ンサ32の先端の位置合せも、光学式センサに於ける光
軸合せの調整に比べれば容易である。
【0031】尚、上記実施の形態に於いては、前記静電
容量式センサ32を前記センサホルダ31を介して前記
ウェーハ搬送プレート16に固定させているが、前記静
電容量式センサ32を前記ウェーハ搬送プレート16に
直接埋設してもよい。
【0032】
【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、検出媒
体として光を使用することがないのでセンサも対で有る
必要がなく、透過型センサの様に基板を挟んで上下に設
ける必要がない為、基板検出で基板カセットの天板が障
害になることがない。又、センサの位置決めは検出する
基板に対して行えばよく、更に静電容量の変化を検出す
るので、光学的センサに比べラフでよく、位置合せ作業
は著しく簡単である。更に、センサを基板搬送プレート
の板厚の範囲で設けることができると共に上下で水平方
向にずらした配列とする必要もないので、設置空間の大
幅な節約が可能となる等種々の優れた効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態を示す平面図である。
【図2】図1のA−A矢視図である。
【図3】半導体製造装置の概略を示す説明図である。
【図4】従来例を示す平面図である。
【図5】図4のB−B矢視図である。
【図6】図4のC−C矢視図である。
【符号の説明】
12 ウェーハ移載機 16 ウェーハ搬送プレート 31 センサホルダ 32 静電容量式センサ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板搬送プレートに受載される基板に対
    峙させて静電容量式センサを設けたことを特徴とする基
    板検出装置。
JP2021198A 1998-01-16 1998-01-16 基板検出装置 Pending JPH11204623A (ja)

Priority Applications (1)

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JP2021198A JPH11204623A (ja) 1998-01-16 1998-01-16 基板検出装置

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JP2021198A JPH11204623A (ja) 1998-01-16 1998-01-16 基板検出装置

Publications (1)

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JPH11204623A true JPH11204623A (ja) 1999-07-30

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ID=12020841

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JP2021198A Pending JPH11204623A (ja) 1998-01-16 1998-01-16 基板検出装置

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JP (1) JPH11204623A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7193423B1 (en) 2005-12-12 2007-03-20 International Business Machines Corporation Wafer-to-wafer alignments
JP2025150048A (ja) * 2024-03-27 2025-10-09 株式会社Kokusai Electric 移載機、基板処理装置、基板処理方法、半導体装置の製造方法およびプログラム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7193423B1 (en) 2005-12-12 2007-03-20 International Business Machines Corporation Wafer-to-wafer alignments
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