JPH0444311Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0444311Y2 JPH0444311Y2 JP16900887U JP16900887U JPH0444311Y2 JP H0444311 Y2 JPH0444311 Y2 JP H0444311Y2 JP 16900887 U JP16900887 U JP 16900887U JP 16900887 U JP16900887 U JP 16900887U JP H0444311 Y2 JPH0444311 Y2 JP H0444311Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solenoid valve
- welding torch
- shielding gas
- compressed air
- welding
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Arc Welding In General (AREA)
- Magnetically Actuated Valves (AREA)
- Pipeline Systems (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本考案は、アーク溶接トーチにシールドガスと
スパツタ付着防止用の圧縮エアとを切替えて供給
する切替機構に関し、とくにシールドガス中にエ
アが混入するのを防止するようにしたシールドガ
スの切替機構に関する。
スパツタ付着防止用の圧縮エアとを切替えて供給
する切替機構に関し、とくにシールドガス中にエ
アが混入するのを防止するようにしたシールドガ
スの切替機構に関する。
[従来の技術]
自動車の生産ライン等で使用されるアーク自動
溶接機には、溶接トーチ内に付着したスパツタを
エアブローによつて吹き飛ばすエア回路を備えた
ものがある。
溶接機には、溶接トーチ内に付着したスパツタを
エアブローによつて吹き飛ばすエア回路を備えた
ものがある。
第2図は、従来のアーク溶接機におけるシール
ドガス回路と溶接トーチ内に付着したスパツタを
除去するエア回路の切替機構を示している。第2
図において、1はシールドガス供給源を示してお
り、シールドガス供給源1には第1の電磁弁2が
接続されている。第1の電磁弁2の出口側はガス
通路3を介して溶接トーチ4に接続されている。
5は圧縮エア供給源を示しており、圧縮エア供給
源5には第2の電磁弁6が接続されている。第2
の電磁弁6の出口側は、ガス通路3に接続されて
いる。
ドガス回路と溶接トーチ内に付着したスパツタを
除去するエア回路の切替機構を示している。第2
図において、1はシールドガス供給源を示してお
り、シールドガス供給源1には第1の電磁弁2が
接続されている。第1の電磁弁2の出口側はガス
通路3を介して溶接トーチ4に接続されている。
5は圧縮エア供給源を示しており、圧縮エア供給
源5には第2の電磁弁6が接続されている。第2
の電磁弁6の出口側は、ガス通路3に接続されて
いる。
このようなシールドガスの切替機構において
は、溶接中は第1の電磁弁2のみが通電されて開
となり、シールドガスが溶接トーチ4に供給され
る。そして、溶接終了後は、第1の電磁弁2がオ
フになつた後、第2の電磁弁6が通電されて開と
なり、溶接トーチ4に圧縮エアが供給される。こ
れにより、溶接トーチ4内に付着したスパツタが
圧縮エアによつて吹き飛ばされ、溶接トーチの清
掃が行なわれる。なお、シールドガス圧力は通常
0.5〜2Kg/cm2に設定され、エア圧力は通常3〜
8Kg/cm2に設定されている。
は、溶接中は第1の電磁弁2のみが通電されて開
となり、シールドガスが溶接トーチ4に供給され
る。そして、溶接終了後は、第1の電磁弁2がオ
フになつた後、第2の電磁弁6が通電されて開と
なり、溶接トーチ4に圧縮エアが供給される。こ
れにより、溶接トーチ4内に付着したスパツタが
圧縮エアによつて吹き飛ばされ、溶接トーチの清
掃が行なわれる。なお、シールドガス圧力は通常
0.5〜2Kg/cm2に設定され、エア圧力は通常3〜
8Kg/cm2に設定されている。
[考案が解決しようとする問題点]
一般にシールドガス中に微量のエアが混入する
と、溶接部にブロホールが発生し、強度上の問題
や水漏れ等の問題が生ずる。第2図において、エ
アの流れを制御する第2の電磁弁6の内部のシー
ト面に隙間が生じていると、その部分を介してシ
ールドガス中にエアが混入してしまうおそれがあ
る。つまり、第2の電磁弁6のシート面がゴミ等
の異物の侵入によつて傷つけられた場合は、その
部分から漏れたエアがシールドガスとともに溶接
トーチに流れてしまう。
と、溶接部にブロホールが発生し、強度上の問題
や水漏れ等の問題が生ずる。第2図において、エ
アの流れを制御する第2の電磁弁6の内部のシー
ト面に隙間が生じていると、その部分を介してシ
ールドガス中にエアが混入してしまうおそれがあ
る。つまり、第2の電磁弁6のシート面がゴミ等
の異物の侵入によつて傷つけられた場合は、その
部分から漏れたエアがシールドガスとともに溶接
トーチに流れてしまう。
また、シールドガスの流れを制御する第1の電
磁弁2に漏れがある場合は、たとえば、エアブロ
ー時に溶接トーチ4内のガス流路がスパツタ等に
よつて詰まりガス通路3の圧力が高くなると、エ
アがシールドガス供給源1側に流れ込むという問
題が生じる。
磁弁2に漏れがある場合は、たとえば、エアブロ
ー時に溶接トーチ4内のガス流路がスパツタ等に
よつて詰まりガス通路3の圧力が高くなると、エ
アがシールドガス供給源1側に流れ込むという問
題が生じる。
本考案は、上記の問題に着目し、各電磁弁に漏
れが生じてもシールドガス中へのエアの混入を防
止でき、ブローホールのない高品質の溶接ビード
を得ることのできるシールドガスの切替機構を提
供することを目的とする。
れが生じてもシールドガス中へのエアの混入を防
止でき、ブローホールのない高品質の溶接ビード
を得ることのできるシールドガスの切替機構を提
供することを目的とする。
[問題点を解決するための手段]
この目的に沿う本考案のアーク溶接におけるシ
ールドガスの切替機構は、上流側がシールドガス
供給源に接続され溶接時にシールドガスを溶接ト
ーチに供給する第1の電磁弁と、該第1の電磁弁
と前記溶接トーチとの間に設けられ第1の電磁弁
から溶接トーチへのみシールドガスの流れを許す
第1のチエツク弁と、上流側が圧縮エア供給源に
接続され溶接終了後にスパツタを除去する圧縮エ
アを前記溶接トーチに供給する第2の電磁弁と、
該第2の電磁弁と溶接トーチとの間に設けられ大
気に開放するポートを有する第3の電磁弁と、該
第3の電磁弁と溶接トーチとの間に設けられ第3
の電磁弁から溶接トーチへのみ圧縮エアの流れを
許す第2のチエツク弁とから成る。
ールドガスの切替機構は、上流側がシールドガス
供給源に接続され溶接時にシールドガスを溶接ト
ーチに供給する第1の電磁弁と、該第1の電磁弁
と前記溶接トーチとの間に設けられ第1の電磁弁
から溶接トーチへのみシールドガスの流れを許す
第1のチエツク弁と、上流側が圧縮エア供給源に
接続され溶接終了後にスパツタを除去する圧縮エ
アを前記溶接トーチに供給する第2の電磁弁と、
該第2の電磁弁と溶接トーチとの間に設けられ大
気に開放するポートを有する第3の電磁弁と、該
第3の電磁弁と溶接トーチとの間に設けられ第3
の電磁弁から溶接トーチへのみ圧縮エアの流れを
許す第2のチエツク弁とから成る。
[作用]
このように構成されたアーク溶接におけるシー
ルドガスの切替機構においては、溶接時には第1
の電磁弁のみが通電されて開となり、第1の電磁
弁から流出したシールドガスは、第1のチエツク
弁を介して溶接トーチに供給される。この場合、
第2の電磁弁と第3の電磁弁はオフの状態となつ
ている。そして、第2の電磁弁は第3の電磁弁を
介して溶接トーチ側と接続されるので、たとえ第
2の電磁弁に漏れが発生しても、この状態では、
その漏れたエアは第3の電磁弁の大気に開放する
ポートを介して大気に排出される。また、第3の
電磁弁と溶接トーチとの間には、第2のチエツク
弁が設けられているので、シールドガスが第3の
電磁弁に流入することは防止される。
ルドガスの切替機構においては、溶接時には第1
の電磁弁のみが通電されて開となり、第1の電磁
弁から流出したシールドガスは、第1のチエツク
弁を介して溶接トーチに供給される。この場合、
第2の電磁弁と第3の電磁弁はオフの状態となつ
ている。そして、第2の電磁弁は第3の電磁弁を
介して溶接トーチ側と接続されるので、たとえ第
2の電磁弁に漏れが発生しても、この状態では、
その漏れたエアは第3の電磁弁の大気に開放する
ポートを介して大気に排出される。また、第3の
電磁弁と溶接トーチとの間には、第2のチエツク
弁が設けられているので、シールドガスが第3の
電磁弁に流入することは防止される。
溶接が終了すると、第1の電磁弁が閉じられ、
第2の電磁弁および第3の電磁弁の両方に電圧が
印加され、両弁は開の状態となる。これにより、
圧縮エア供給源から、第2の電磁弁、第3の電磁
弁、第2のチエツク弁を介して圧縮エアが溶接ト
ーチに供給される。この場合、シールドガスの流
れを制御する第1の電磁弁に漏れが生じていて
も、第1の電磁弁と溶接トーチとの間に第1チエ
ツク弁が設けられているので、この第1チエツク
弁により、圧縮エアのシールドガス側への逆流は
阻止される。
第2の電磁弁および第3の電磁弁の両方に電圧が
印加され、両弁は開の状態となる。これにより、
圧縮エア供給源から、第2の電磁弁、第3の電磁
弁、第2のチエツク弁を介して圧縮エアが溶接ト
ーチに供給される。この場合、シールドガスの流
れを制御する第1の電磁弁に漏れが生じていて
も、第1の電磁弁と溶接トーチとの間に第1チエ
ツク弁が設けられているので、この第1チエツク
弁により、圧縮エアのシールドガス側への逆流は
阻止される。
したがつて、溶接時および溶接後のいずれも、
シールドガスへの圧縮エアの混入が防止され、高
品質の溶接ビードが得られる。
シールドガスへの圧縮エアの混入が防止され、高
品質の溶接ビードが得られる。
[実施例]
以下に、本考案に係るアーク溶接におけるシー
ルドガスの切替機構の望ましい実施例を、図面を
参照して説明する。
ルドガスの切替機構の望ましい実施例を、図面を
参照して説明する。
第1図は、本考案の一実施例を示している。図
中、11はシールドガスの切替機構を示してお
り、12はシールドガス供給源、13は圧縮エア
供給源を示している。シールドガス供給源12に
は、2ポート2位置タイプの第1の電磁弁14が
接続されている。第1の電磁弁14の出口側は、
通路15を介して第1のチエツク弁16と接続さ
れている。さらに、第1チエツク弁16は、通路
17を介して溶接トーチ18に接続されている。
第1のチエツク弁16は、第1の電磁弁14から
溶接トーチ18へのみシールドガスの流れを許す
ように配置されている。第1の電磁弁14は通電
時に開となり、非通電時は内蔵されたスプリング
によつて閉の状態となつている。したがつて、シ
ールドガスは、第1の電磁弁14の通電時のみ溶
接トーチ18に供給される。
中、11はシールドガスの切替機構を示してお
り、12はシールドガス供給源、13は圧縮エア
供給源を示している。シールドガス供給源12に
は、2ポート2位置タイプの第1の電磁弁14が
接続されている。第1の電磁弁14の出口側は、
通路15を介して第1のチエツク弁16と接続さ
れている。さらに、第1チエツク弁16は、通路
17を介して溶接トーチ18に接続されている。
第1のチエツク弁16は、第1の電磁弁14から
溶接トーチ18へのみシールドガスの流れを許す
ように配置されている。第1の電磁弁14は通電
時に開となり、非通電時は内蔵されたスプリング
によつて閉の状態となつている。したがつて、シ
ールドガスは、第1の電磁弁14の通電時のみ溶
接トーチ18に供給される。
圧縮エア供給源13には、2ポート2位置タイ
プの第2の電磁弁20が接続されている。第2の
電磁弁20の出口側は、通路21を開して第3の
電磁弁22に接続されている。第3の電磁弁22
は、3ポート2位置タイプの電磁弁であり、非通
電時には通路21が大気側に開放されるようにな
つている。第3の電磁弁22の出口側は、通路2
3を介して第2のチエツク弁24と接続されてい
る。さらに、第2のチエツク弁24は、通路25
を介してシールドガスの通路17と接続されてい
る。第2のチエツク弁24は、第3の電磁弁22
から溶接トーチ18へのみ圧縮エアの流れを許す
ように配置されている。第2の電磁弁20と第3
の電磁弁22は、同時に通電され、共に通電時に
開となるように構成されている。そして非通電時
には各電磁弁に内蔵されたスプリングによつて共
に閉の状態となる。したがつて、圧縮エアは、第
1の電磁弁20と第2の電磁弁22が共に通電さ
れた場合のみ溶接トーチ18に供給される。
プの第2の電磁弁20が接続されている。第2の
電磁弁20の出口側は、通路21を開して第3の
電磁弁22に接続されている。第3の電磁弁22
は、3ポート2位置タイプの電磁弁であり、非通
電時には通路21が大気側に開放されるようにな
つている。第3の電磁弁22の出口側は、通路2
3を介して第2のチエツク弁24と接続されてい
る。さらに、第2のチエツク弁24は、通路25
を介してシールドガスの通路17と接続されてい
る。第2のチエツク弁24は、第3の電磁弁22
から溶接トーチ18へのみ圧縮エアの流れを許す
ように配置されている。第2の電磁弁20と第3
の電磁弁22は、同時に通電され、共に通電時に
開となるように構成されている。そして非通電時
には各電磁弁に内蔵されたスプリングによつて共
に閉の状態となる。したがつて、圧縮エアは、第
1の電磁弁20と第2の電磁弁22が共に通電さ
れた場合のみ溶接トーチ18に供給される。
つぎに、上記のシールドガスの切替機構におけ
る作用について説明する。
る作用について説明する。
まず、溶接時には、第1の電磁弁14が通電に
よつて励磁され、第1の磁弁14は開の状態とな
る。そのため、シールドガスは、第1の電磁弁1
4の出力ポートから流出し、通路15、第1チエ
ツク弁16、通路17を介して溶接トーチ18に
供給される。この場合、第2の電磁弁20と第3
の電磁弁22は非通電状態であるので、圧縮エア
は溶接トーチには供給されない。ここで、仮に第
2の電磁弁20の内部に漏れがあり、第2の電磁
弁20の出口ポートから圧縮エアが流出した場合
でも、第2の電磁弁20の出口ポートは、第3の
電磁弁22を介して大気側に開放されているの
で、漏れ出た圧縮エアは大気に放出され、シール
ドガス側へ混入されることはなくなる。また、溶
接トーチ18と第3の電磁弁22との間の通路2
5には、第2のチエツク弁24が位置しているの
で、シールドガスが圧縮エア側に流入することも
防止される。
よつて励磁され、第1の磁弁14は開の状態とな
る。そのため、シールドガスは、第1の電磁弁1
4の出力ポートから流出し、通路15、第1チエ
ツク弁16、通路17を介して溶接トーチ18に
供給される。この場合、第2の電磁弁20と第3
の電磁弁22は非通電状態であるので、圧縮エア
は溶接トーチには供給されない。ここで、仮に第
2の電磁弁20の内部に漏れがあり、第2の電磁
弁20の出口ポートから圧縮エアが流出した場合
でも、第2の電磁弁20の出口ポートは、第3の
電磁弁22を介して大気側に開放されているの
で、漏れ出た圧縮エアは大気に放出され、シール
ドガス側へ混入されることはなくなる。また、溶
接トーチ18と第3の電磁弁22との間の通路2
5には、第2のチエツク弁24が位置しているの
で、シールドガスが圧縮エア側に流入することも
防止される。
溶接が終了すると、第1の電磁弁14への通電
が停止され、第1の電磁弁14は閉となる。その
後、第2の電磁弁20と第3の電磁弁22とが同
時に通電され、圧縮エアが溶接トーチ18に供給
される。溶接トーチ18の先端内部には、溶接時
に発生するスパツタが付着しており、この付着し
ているスパツタは圧送された圧縮エアによつて吹
き飛ばされ、溶接トーチ18の先端内部が清掃さ
れる。
が停止され、第1の電磁弁14は閉となる。その
後、第2の電磁弁20と第3の電磁弁22とが同
時に通電され、圧縮エアが溶接トーチ18に供給
される。溶接トーチ18の先端内部には、溶接時
に発生するスパツタが付着しており、この付着し
ているスパツタは圧送された圧縮エアによつて吹
き飛ばされ、溶接トーチ18の先端内部が清掃さ
れる。
ここで、仮に第1の電磁弁14に漏れが有り、
かつ溶接トーチ18内のガス流路が詰まつた場合
は、通路17の圧力が上昇し、シールドガスより
も圧力が高く設定されている圧縮エアがシールド
ガス供給源12側に流入するおそれが生じるが、
第1の電磁弁14と溶接トーチ18との間に設け
られた第1のチエツク弁16は、溶接トーチ18
側から第1の電磁弁14方向への流れは許さない
構造となつているので、圧縮エアのシールドガス
側への逆流は確実に防止される。
かつ溶接トーチ18内のガス流路が詰まつた場合
は、通路17の圧力が上昇し、シールドガスより
も圧力が高く設定されている圧縮エアがシールド
ガス供給源12側に流入するおそれが生じるが、
第1の電磁弁14と溶接トーチ18との間に設け
られた第1のチエツク弁16は、溶接トーチ18
側から第1の電磁弁14方向への流れは許さない
構造となつているので、圧縮エアのシールドガス
側への逆流は確実に防止される。
このように、第1の電磁弁14および第2の電
磁弁20に漏れが生じた場合でも、シールドガス
中に圧縮エアが混入するという事態は確実に防止
され、溶接部には純粋なシールドガスのみが供給
される。
磁弁20に漏れが生じた場合でも、シールドガス
中に圧縮エアが混入するという事態は確実に防止
され、溶接部には純粋なシールドガスのみが供給
される。
[考案の効果]
以上説明したように、本考案のアーク溶接にお
けるシールドガスの切替機構によるときは、溶接
中に第2の電磁弁からエアが漏れた場合でも、漏
れた圧縮エアを第3の電磁弁を介して大気に放出
するようにしているので、シールドガスへの圧縮
エアの混入が防止される。また、第1の電磁弁と
溶接トーチとの間に第1チエツク弁を設けるよう
にしたので、エアブロー中におけるシールドガス
供給側への圧縮エアの逆流が防止され、同様にシ
ールドガスへの圧縮エアの混入が防止される。し
たがつて、シールドガス中へのエアの混入が皆無
となり、ブローホールのない高品質の溶接ビード
を得ることができる。
けるシールドガスの切替機構によるときは、溶接
中に第2の電磁弁からエアが漏れた場合でも、漏
れた圧縮エアを第3の電磁弁を介して大気に放出
するようにしているので、シールドガスへの圧縮
エアの混入が防止される。また、第1の電磁弁と
溶接トーチとの間に第1チエツク弁を設けるよう
にしたので、エアブロー中におけるシールドガス
供給側への圧縮エアの逆流が防止され、同様にシ
ールドガスへの圧縮エアの混入が防止される。し
たがつて、シールドガス中へのエアの混入が皆無
となり、ブローホールのない高品質の溶接ビード
を得ることができる。
第1図は本考案の一実施例に係るアーク溶接に
おけるシールドガスの切替機構の概略構成図、第
2図は従来のアーク溶接におけるシールドガスの
切替機構の概略構成図、である。 12……シールドガス供給源、13……圧縮エ
ア供給源、14……第1の電磁弁、16……第1
のチエツク弁、18……溶接トーチ、20……第
2の電磁弁、22……第3の電磁弁、24……第
2のチエツク弁。
おけるシールドガスの切替機構の概略構成図、第
2図は従来のアーク溶接におけるシールドガスの
切替機構の概略構成図、である。 12……シールドガス供給源、13……圧縮エ
ア供給源、14……第1の電磁弁、16……第1
のチエツク弁、18……溶接トーチ、20……第
2の電磁弁、22……第3の電磁弁、24……第
2のチエツク弁。
Claims (1)
- 上流側がシールドガス供給源に接続され溶接時
にシールドガスを溶接トーチに供給する第1の電
磁弁と、該第1の電磁弁と前記溶接トーチとの間
に設けられ第1の電磁弁から溶接トーチへのみシ
ールドガスの流れを許す第1のチエツク弁と、上
流側が圧縮エア供給源に接続され溶接終了後にス
パツタを除去する圧縮エアを前記溶接トーチに供
給する第2の電磁弁と、該第2の電磁弁と溶接ト
ーチとの間に設けられ大気に開放するポートを有
する第3の電磁弁と、該第3の電磁弁と溶接トー
チとの間に設けられ第3の電磁弁から溶接トーチ
へのみ圧縮エアの流れを許す第2のチエツク弁と
から成るアーク溶接におけるシールドガスの切替
機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16900887U JPH0444311Y2 (ja) | 1987-11-06 | 1987-11-06 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16900887U JPH0444311Y2 (ja) | 1987-11-06 | 1987-11-06 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0172978U JPH0172978U (ja) | 1989-05-17 |
| JPH0444311Y2 true JPH0444311Y2 (ja) | 1992-10-19 |
Family
ID=31458692
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16900887U Expired JPH0444311Y2 (ja) | 1987-11-06 | 1987-11-06 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0444311Y2 (ja) |
-
1987
- 1987-11-06 JP JP16900887U patent/JPH0444311Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0172978U (ja) | 1989-05-17 |
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