JPH0445109B2 - - Google Patents
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- JPH0445109B2 JPH0445109B2 JP15862985A JP15862985A JPH0445109B2 JP H0445109 B2 JPH0445109 B2 JP H0445109B2 JP 15862985 A JP15862985 A JP 15862985A JP 15862985 A JP15862985 A JP 15862985A JP H0445109 B2 JPH0445109 B2 JP H0445109B2
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 16
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- RRLHMJHRFMHVNM-BQVXCWBNSA-N [(2s,3r,6r)-6-[5-[5-hydroxy-3-(4-hydroxyphenyl)-4-oxochromen-7-yl]oxypentoxy]-2-methyl-3,6-dihydro-2h-pyran-3-yl] acetate Chemical compound C1=C[C@@H](OC(C)=O)[C@H](C)O[C@H]1OCCCCCOC1=CC(O)=C2C(=O)C(C=3C=CC(O)=CC=3)=COC2=C1 RRLHMJHRFMHVNM-BQVXCWBNSA-N 0.000 description 8
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Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
本発明は、電気雑音の計測・再生装置に係り、
特に、実使用環境条件下、例えば車両に搭載され
た状態で各種のノイズ発生源から放出され、電子
機器に印加される電気雑音を計測し、その耐雑音
性能を解析する際に用いるのに好適な、電子機器
に印加される電気雑音を計測し、再生するための
電気雑音の計測・再生装置に関する。
特に、実使用環境条件下、例えば車両に搭載され
た状態で各種のノイズ発生源から放出され、電子
機器に印加される電気雑音を計測し、その耐雑音
性能を解析する際に用いるのに好適な、電子機器
に印加される電気雑音を計測し、再生するための
電気雑音の計測・再生装置に関する。
従来、電子機器に印加される電気雑音は、オシ
ロスコープを用いて計測するのが一般的である。
又、電子機器の耐雑音性能を把握するために、ノ
イズシミユレータを用いて、モデル化された波形
の試験電圧を印加することにより、電子機器の破
損や誤作動の有無を調査する方法が知られてい
る。
ロスコープを用いて計測するのが一般的である。
又、電子機器の耐雑音性能を把握するために、ノ
イズシミユレータを用いて、モデル化された波形
の試験電圧を印加することにより、電子機器の破
損や誤作動の有無を調査する方法が知られてい
る。
しかしながら、一般に各種の雑音源から発生す
る電気雑音、例えば、インダクタンスや静電容量
をスイツチングする時に発生する電気雑音は、ノ
イズシミユレータから発生されるモデル化された
波形とは異なり、複雑且つ不定形な波形を有して
いる。一方、電子機器が電気雑音によつて受ける
影響は、その周波数、波高値、雑音の持続時間等
によつて異なる。このため、電子機器の耐雑音性
能を評価する場合、ノイズシミユレータを用いて
モデル化された条件下での性能を調査するか、又
は、種々のノイズ発生源を実際に用いて試験する
従来の方法では、再現性が悪く、電子機器の耐雑
音性能を正確に解析することが困難であるという
問題点を有していた。 このような問題点を解決するものとして、出願
人は既に特願昭60−96267で、電子機器に印加さ
れる電気雑音を計測し、再生するに際して、前記
電気雑音の包絡線を検波し、その出力を高速でア
ナログ−デジタル変換して記憶すると共に、記憶
値に所定の演算をなした結果を高速でデジタル−
アナログ変換して、前記包絡線に対応する波形を
アナログ信号に再生し、前記電気雑音の中心周波
数を有するキヤリア信号を前記アナログ信号によ
り振幅変調して電力増幅するようにした電気雑音
の計測・再生装置を提案している。 しかしながら、この特願昭60−96267で提案し
た装置においては、電気雑音の基本周波数成分を
他の計測器を用いて測定する必要があり、計測や
再生が必ずしも容易ではなかつた。
る電気雑音、例えば、インダクタンスや静電容量
をスイツチングする時に発生する電気雑音は、ノ
イズシミユレータから発生されるモデル化された
波形とは異なり、複雑且つ不定形な波形を有して
いる。一方、電子機器が電気雑音によつて受ける
影響は、その周波数、波高値、雑音の持続時間等
によつて異なる。このため、電子機器の耐雑音性
能を評価する場合、ノイズシミユレータを用いて
モデル化された条件下での性能を調査するか、又
は、種々のノイズ発生源を実際に用いて試験する
従来の方法では、再現性が悪く、電子機器の耐雑
音性能を正確に解析することが困難であるという
問題点を有していた。 このような問題点を解決するものとして、出願
人は既に特願昭60−96267で、電子機器に印加さ
れる電気雑音を計測し、再生するに際して、前記
電気雑音の包絡線を検波し、その出力を高速でア
ナログ−デジタル変換して記憶すると共に、記憶
値に所定の演算をなした結果を高速でデジタル−
アナログ変換して、前記包絡線に対応する波形を
アナログ信号に再生し、前記電気雑音の中心周波
数を有するキヤリア信号を前記アナログ信号によ
り振幅変調して電力増幅するようにした電気雑音
の計測・再生装置を提案している。 しかしながら、この特願昭60−96267で提案し
た装置においては、電気雑音の基本周波数成分を
他の計測器を用いて測定する必要があり、計測や
再生が必ずしも容易ではなかつた。
本発明は、前記従来の問題点を解消するべくな
されたもので、実使用環境下条件、例えば車両に
搭載された状態で各種のイイズ発生源から放出さ
れ、電子機器に印加される電気雑音を、その基本
周波数成分を別途計測することなく、正確且つ容
易に計測し、再生することができ、従つて、電子
機器の耐雑音性能を正確且つ容易に解析すること
ができる電気雑音の計測・再生装置を提供するこ
とを目的とする。
されたもので、実使用環境下条件、例えば車両に
搭載された状態で各種のイイズ発生源から放出さ
れ、電子機器に印加される電気雑音を、その基本
周波数成分を別途計測することなく、正確且つ容
易に計測し、再生することができ、従つて、電子
機器の耐雑音性能を正確且つ容易に解析すること
ができる電気雑音の計測・再生装置を提供するこ
とを目的とする。
本発明は、電子機器に印加される電気雑音を計
測し、再生するための電気雑音の計測・再生装置
において、前記電気雑音の包絡線を検波する包絡
線検波手段と、該包絡線検波手段の出力を高速で
アナログ−デジタル変換するアナログ−デジタル
変換手段と、前記電気雑音の繰返し周波数を計数
する計数手段と、アナログ−デジタル変換された
前記包絡線波形のデータ及び前記周波数のデータ
を記憶する記憶手段と、記憶した前記包絡線波形
のデータに所定の演算をなした結果を高速でデジ
タル−アナログ変換して、前記包絡線に対応する
波形をアナログ信号に再生する包絡線波形再生手
段と、記憶した前記周波数のデータを繰返し周波
数とするキヤリア信号を発生するキヤリア信号発
生手段と、該キヤリア信号を前記アナログ信号に
より振幅変調して出力する出力手段ととを備える
ことにより、前記目的を達成したのである。 又、本発明の実施態様は、前記包絡線波形再生
手段に、再生する包絡線波形を任意に変換する機
能を含めたものである。
測し、再生するための電気雑音の計測・再生装置
において、前記電気雑音の包絡線を検波する包絡
線検波手段と、該包絡線検波手段の出力を高速で
アナログ−デジタル変換するアナログ−デジタル
変換手段と、前記電気雑音の繰返し周波数を計数
する計数手段と、アナログ−デジタル変換された
前記包絡線波形のデータ及び前記周波数のデータ
を記憶する記憶手段と、記憶した前記包絡線波形
のデータに所定の演算をなした結果を高速でデジ
タル−アナログ変換して、前記包絡線に対応する
波形をアナログ信号に再生する包絡線波形再生手
段と、記憶した前記周波数のデータを繰返し周波
数とするキヤリア信号を発生するキヤリア信号発
生手段と、該キヤリア信号を前記アナログ信号に
より振幅変調して出力する出力手段ととを備える
ことにより、前記目的を達成したのである。 又、本発明の実施態様は、前記包絡線波形再生
手段に、再生する包絡線波形を任意に変換する機
能を含めたものである。
本発明は、電子機器に印加される電気雑音を計
測し、再生するに際して、前記電気雑音の包絡線
を検波し、その出力を高速でアナログ−デジタル
変換して記憶するだけでなく、前記電気雑音の繰
返し周波数を計数して記憶するようにしている。
従つて、実使用環境条件下、例えば車両に搭載さ
れた状態で各種のノイズ発生源から放出され、電
子機器に印加される電気雑音を、正確に計測・記
憶することができる。更に、電気雑音の基本周波
数成分が他の計測器を併用することなく計測で
き、計測が容易である。 又、記憶した包絡線波形のデータに所定の演算
をなした結果を高速でアナログ−デジタル変換し
て、前記包絡線に対応する波形をアナログ信号に
再生すると共に、同じく記憶した周波数のデータ
を繰返し周波数とするキヤリア信号を前記アナロ
グ信号により振幅変調して出力するようにしてい
る。従つて、定量化された模擬的雑音を正確且つ
容易に再生することができ、この再生した雑音を
電子機器に印加することによつて、該電子機器の
耐雑音性能の限界値を求めて、計測値との差か
ら、ノイズマージンの解析が可能となる。 又、包絡線波形再生手段に、再生する包絡線波
形を任意に変換する機能を含めた場合には、任意
の雑音波形を発生させることができる。
測し、再生するに際して、前記電気雑音の包絡線
を検波し、その出力を高速でアナログ−デジタル
変換して記憶するだけでなく、前記電気雑音の繰
返し周波数を計数して記憶するようにしている。
従つて、実使用環境条件下、例えば車両に搭載さ
れた状態で各種のノイズ発生源から放出され、電
子機器に印加される電気雑音を、正確に計測・記
憶することができる。更に、電気雑音の基本周波
数成分が他の計測器を併用することなく計測で
き、計測が容易である。 又、記憶した包絡線波形のデータに所定の演算
をなした結果を高速でアナログ−デジタル変換し
て、前記包絡線に対応する波形をアナログ信号に
再生すると共に、同じく記憶した周波数のデータ
を繰返し周波数とするキヤリア信号を前記アナロ
グ信号により振幅変調して出力するようにしてい
る。従つて、定量化された模擬的雑音を正確且つ
容易に再生することができ、この再生した雑音を
電子機器に印加することによつて、該電子機器の
耐雑音性能の限界値を求めて、計測値との差か
ら、ノイズマージンの解析が可能となる。 又、包絡線波形再生手段に、再生する包絡線波
形を任意に変換する機能を含めた場合には、任意
の雑音波形を発生させることができる。
以下図面を参照して、本発明の実施例を詳細に
説明する。 本実施例は、第１図に示す如く、ノイズ発生源
（図示省略）から入力される電気雑音の入力レベ
ルを調整するための減衰器１０、増幅器１２及び
切換スイツチ１４と、前記減衰器１０又は増幅器
１２でレベル調整された電気雑音の包絡線を検波
する包絡線検波回路１６と、該包絡線検波回路１
６の出力を高速でアナログ−デジタル変換（以下
Ａ／Ｄ変換と称する）するＡ／Ｄ変換器１８と、
該Ａ／Ｄ変換器１８の出力を包絡線波形データと
して記憶するランダムアクセスメモリ（以下
RAMと称する）２０と、該RAM２０に記憶し
た前記包絡線波形データに所定の演算をなした結
果を高速でデジタル−アナログ変換（以下Ｄ／Ａ
変換と称する）して、前記包絡線に対応する波形
をアナログ電圧信号に再生するＤ／Ａ変換器２２
と、前記減衰器１０又は増幅器１２でレベル調整
された電気雑音の繰返し周波数を所定のゲート時
間Ｔの間計数する周波数カウンタ２４と、該周波
数カウンタ２４の出力を周波数データとして記憶
するRAM２６と、該RAM２６に記憶した前記
周波数データを繰返し周波数とするキヤリア信号
を発生するシンセサイザ２８と、前記包絡線検波
回路１６の出力レベルが設定値以上となつた時
に、前記Ａ／Ｄ変換器１８び周波数カウンタ２４
を起動し、前記RAM２０及び２６に設定時間が
経過するまでの包絡線波形データ及び周波数デー
タをそれぞれ記憶させると共に、外部から入力さ
れるノイズ波形再生命令により前記Ｄ／Ａ変換器
２２及びシンセサイザ２８を作動させるコントロ
ーラ３０と、該コントローラ３０に管理されて、
前記包絡線波形状報及び周波数情報を表示する表
示器３２と、前記Ｄ／Ａ変換器２２の出力を増幅
する、増幅率可変の増幅器３４と、前記シンセサ
イザ２８から入力されるキヤリア信号を前記アナ
ログ電圧信号により振幅変調（以下AM変調と称
する）して出力するAM変調器３６とから構成さ
れている。 前記包絡線検波回路１６は、第２図に詳細に示
す如く、ノイズ入力を増幅する増幅器１６Ａと、
該増幅器１６Ａの出力を半波整流して包絡線波形
に変換する検波回路１６Ｂと、該検波回路１６Ｂ
出力の包絡線波形信号を増幅して前記Ａ／Ｄ変換
器１８に入力する増幅器１６Ｃとから構成されて
いる。従つて、この包絡線検波回路１６の入出力
波形は、例えば第３図Ａ乃至Ｄに示す如くとな
る。 前記Ａ／Ｄ変換器１８、RAM２０、Ｄ／Ａ変
換器２２及びコントローラ３０は、具体的には、
第４図に詳細に示す如く構成されており、前記
Ａ／Ｄ変換器１８の出力側とRAM２０の間及び
該RAM２０とＤ／Ａ変換器２２の入力側の間に
は、共通のマルチプレクサ（以下MPXと称する）
３８が設けられている。 この第４図の装置において、Ａ／Ｄ変換を行う
際には、第５図に示す如く、コントローラ３０の
MPL出力はL0となり、MPX３８は、Ａ／Ｄ変換
器１８と、RAM０〜RAM５からなるRAM２０
とを接続している。この状態で、包絡線波形が予
め決められたレベル以上になると、コントローラ
３０がHOLD出力にHiを出力し、Ａ／Ｄ変換器
１８は包絡線をＡ／Ｄ変換する。これと同時にコ
ントローラ３０は、出力A0〜A9にアドレスを出
力し、RAM０〜RAM５をアクセスする。次の
タイミングにおいて、コントローラ３０は、
HOLD出力にL0を出力し、Ａ／Ｄ変換器１８は
Ａ／Ｄ変換を停止して、出力D0〜D5をホールド
する。これと同時にコントローラ３０は読出し／
書込み出力（以下Ｒ／Ｗ出力と称する）をL0と
し、ホールドされたＡ／Ｄ変換器１８のデータ
D0〜D5をRAM０〜RAM５に書込む。更に次の
タイミングで、コントローラ３０はHOLD出力
にHiを出力し、Ａ／Ｄ変換器１８を再び起動す
ると共に、次のアドレスをA0〜A9に出力し、次
のデータD0〜D5をRAM０〜RAM５に書込む操
作を行う。この繰返しによつて、包絡線波形は
Ａ／Ｄ変換され、RAM０〜RAM５にストアさ
れる。第５図は、データ（D0、D1、D2、D3、
D4、D5）が、それぞれ（０、０、１、１、１、
１）、（０、０、０、０、０、１）、（１、１、１、
１、１、１）、（１、０、０、０、１、１）、（０、
１、１、０、０、０）、（１、１、０、０、１、
０）、（０、１、０、１、０、１）、（１、０、０、
０、１、０）の場合を示している。 一方、第４図の装置がＤ／Ａ変換を行う際に
は、第６図に示す如く、コントローラ３０の
MPX出力がHiとなり、MPX３８はＤ／Ａ変換
器２２とRAM０〜RAM５を接続する。この状
態で外部からのノイズ波形再生命令が入力される
と、コントローラ３０はSTART出力をL0とし、
同時に、A0〜A9にアドレスを出力する。これに
よつて、RAM０〜RAM５は、アクセスされた
アドレスのデータをD0〜D5に出力する。このD0
〜D5の出力をＤ／Ａ変換器２２がＤ／Ａ変換し、
アナログ電圧を再生する。次のタイミングでコン
トローラ３０は、START出力をHiとし、Ｄ／
Ａ変換器２２は以前の出力をホールドする。次の
タイミングでコントローラ３０は、次のアドレス
をA0〜A9に出力し、START出力をA0とする。
この繰返しによつて、RAM０〜RAM５内のデ
ータはＤ／Ａ変換により再生され、元の包絡線波
形となる。第６図は、（D0、D1、D2、D3、D4、
D5）がそれぞれ（０、０、１、１、１、１）、
（０、０、０、０、０、１）、（１、１、１、１、
１、１）、（１、０、０、０、１、１）、（０、１、
１、０、０、０）、（１、１、０、０、１、０）、
（０、１、０、１、０、１）の場合を示している。 前記コントローラ３０は、包絡線波形が所定の
ゲート時間Ｔ持続しないときに前記周波数カウン
タ２４の計数値をキヤンセルし、ゲート時間Ｔが
長過ぎるという情報を表示器３２に表示する機能
を有する。 前記AM変調器３６は、第７図に詳細に示す如
く、前記Ｄ／Ａ変換器２２で再生された包絡線信
号（アナログ電圧信号）を増幅器３４で増幅した
信号によつて、前記シンセサイザ２８によつて発
生されたキヤリア信号にAM変調をかけ、元の雑
音波形を再生する。 以下実施例の作用を説明する。 今、ノイズの生波形が第８図Ａに示す如くであ
つたとすると、この生波形は、切換スイツチ１４
で適宜選択された減衰器１０又は増幅器１２によ
つて減衰又は増幅され、包絡線検波回路１６で包
絡線検波されて、第８図Ｃに示すような包絡線波
形となる。この包絡線波形が予め設定したレベル
以上となると、前記コントローラ３０がＡ／Ｄ変
換器１８及び周波数カウンタ２４を起動すると共
に、RAM２０及び２６をアクセスし、第８図Ｄ
に示すようなＡ／Ｄ変換波形がRAM２０にスト
アされる。コントローラ３０は、RAM２０の記
憶容量で決定される一定の回数、前記操作を繰返
し行い、これによつて、RAM２０には包絡線が
あるレベル以上となつてから一定時間後までのノ
イズの包絡線波形が記憶される。 一方、前記周波数カウンタ２４は、第８図Ａに
示すようなノイズ生波形の周波数を、例えば第８
図Ｂに示すような所定のゲート時間Ｔ計数し、そ
の結果をRAM２６に記憶する。なお、包絡線波
形が前記ゲート時間Ｔだけ持続しないときは、コ
ントローラ３０によつて周波数カウンタ２４の測
定値がキヤンセルされ、表示器３２にゲート時間
Ｔが長過ぎるという情報を表示する。 一方、ノイズ波形の再生に際しては、外部から
のノイズ波形再生命令によつてコントローラ３０
がRAM２０及び２６をアクセスすると共に、
Ｄ／Ａ変換器２２及びシンセサイザ２８を起動す
る。これによつて再生された包絡線波形は増幅器
３４によつて増幅され、この増幅波形により、記
憶した周波数データを繰返し周波数とするキヤリ
ヤ信号がAM変調され、第８図Ｅに示すようなノ
イズ波形が再生されて、雑音特性を試験すべき電
子機器に入力される。 本実施例においては、包絡線検波回路１６の入
力側に、減衰器１０及び増幅器１２を設けている
ので、該減衰器１０の減衰率又は増幅器１２の増
幅率を変化させることにより、Ａ／Ｄ変換器１８
のダイナミツクレンジに対して適当な包絡線波形
をＡ／Ｄ変換器１８に入力することができ、Ａ／
Ｄ変換を高精度で行うことができる。 又、本実施例においては、コントローラ２４に
より、包絡線検波回路１６出力のレベルが設定値
以上となつてから、設定時間が経過するまでの包
絡線波形をRAM２０に記憶するようにしている
ので、少ない記憶容量で包絡線波形を正確に記憶
することができる。 更に、本実施例においては、前記増幅器２６の
増幅率を可能としているので、電子機器の試験目
的に合わせて任意のレベルのノイズ波形を再生す
ることができる。
説明する。 本実施例は、第１図に示す如く、ノイズ発生源
（図示省略）から入力される電気雑音の入力レベ
ルを調整するための減衰器１０、増幅器１２及び
切換スイツチ１４と、前記減衰器１０又は増幅器
１２でレベル調整された電気雑音の包絡線を検波
する包絡線検波回路１６と、該包絡線検波回路１
６の出力を高速でアナログ−デジタル変換（以下
Ａ／Ｄ変換と称する）するＡ／Ｄ変換器１８と、
該Ａ／Ｄ変換器１８の出力を包絡線波形データと
して記憶するランダムアクセスメモリ（以下
RAMと称する）２０と、該RAM２０に記憶し
た前記包絡線波形データに所定の演算をなした結
果を高速でデジタル−アナログ変換（以下Ｄ／Ａ
変換と称する）して、前記包絡線に対応する波形
をアナログ電圧信号に再生するＤ／Ａ変換器２２
と、前記減衰器１０又は増幅器１２でレベル調整
された電気雑音の繰返し周波数を所定のゲート時
間Ｔの間計数する周波数カウンタ２４と、該周波
数カウンタ２４の出力を周波数データとして記憶
するRAM２６と、該RAM２６に記憶した前記
周波数データを繰返し周波数とするキヤリア信号
を発生するシンセサイザ２８と、前記包絡線検波
回路１６の出力レベルが設定値以上となつた時
に、前記Ａ／Ｄ変換器１８び周波数カウンタ２４
を起動し、前記RAM２０及び２６に設定時間が
経過するまでの包絡線波形データ及び周波数デー
タをそれぞれ記憶させると共に、外部から入力さ
れるノイズ波形再生命令により前記Ｄ／Ａ変換器
２２及びシンセサイザ２８を作動させるコントロ
ーラ３０と、該コントローラ３０に管理されて、
前記包絡線波形状報及び周波数情報を表示する表
示器３２と、前記Ｄ／Ａ変換器２２の出力を増幅
する、増幅率可変の増幅器３４と、前記シンセサ
イザ２８から入力されるキヤリア信号を前記アナ
ログ電圧信号により振幅変調（以下AM変調と称
する）して出力するAM変調器３６とから構成さ
れている。 前記包絡線検波回路１６は、第２図に詳細に示
す如く、ノイズ入力を増幅する増幅器１６Ａと、
該増幅器１６Ａの出力を半波整流して包絡線波形
に変換する検波回路１６Ｂと、該検波回路１６Ｂ
出力の包絡線波形信号を増幅して前記Ａ／Ｄ変換
器１８に入力する増幅器１６Ｃとから構成されて
いる。従つて、この包絡線検波回路１６の入出力
波形は、例えば第３図Ａ乃至Ｄに示す如くとな
る。 前記Ａ／Ｄ変換器１８、RAM２０、Ｄ／Ａ変
換器２２及びコントローラ３０は、具体的には、
第４図に詳細に示す如く構成されており、前記
Ａ／Ｄ変換器１８の出力側とRAM２０の間及び
該RAM２０とＤ／Ａ変換器２２の入力側の間に
は、共通のマルチプレクサ（以下MPXと称する）
３８が設けられている。 この第４図の装置において、Ａ／Ｄ変換を行う
際には、第５図に示す如く、コントローラ３０の
MPL出力はL0となり、MPX３８は、Ａ／Ｄ変換
器１８と、RAM０〜RAM５からなるRAM２０
とを接続している。この状態で、包絡線波形が予
め決められたレベル以上になると、コントローラ
３０がHOLD出力にHiを出力し、Ａ／Ｄ変換器
１８は包絡線をＡ／Ｄ変換する。これと同時にコ
ントローラ３０は、出力A0〜A9にアドレスを出
力し、RAM０〜RAM５をアクセスする。次の
タイミングにおいて、コントローラ３０は、
HOLD出力にL0を出力し、Ａ／Ｄ変換器１８は
Ａ／Ｄ変換を停止して、出力D0〜D5をホールド
する。これと同時にコントローラ３０は読出し／
書込み出力（以下Ｒ／Ｗ出力と称する）をL0と
し、ホールドされたＡ／Ｄ変換器１８のデータ
D0〜D5をRAM０〜RAM５に書込む。更に次の
タイミングで、コントローラ３０はHOLD出力
にHiを出力し、Ａ／Ｄ変換器１８を再び起動す
ると共に、次のアドレスをA0〜A9に出力し、次
のデータD0〜D5をRAM０〜RAM５に書込む操
作を行う。この繰返しによつて、包絡線波形は
Ａ／Ｄ変換され、RAM０〜RAM５にストアさ
れる。第５図は、データ（D0、D1、D2、D3、
D4、D5）が、それぞれ（０、０、１、１、１、
１）、（０、０、０、０、０、１）、（１、１、１、
１、１、１）、（１、０、０、０、１、１）、（０、
１、１、０、０、０）、（１、１、０、０、１、
０）、（０、１、０、１、０、１）、（１、０、０、
０、１、０）の場合を示している。 一方、第４図の装置がＤ／Ａ変換を行う際に
は、第６図に示す如く、コントローラ３０の
MPX出力がHiとなり、MPX３８はＤ／Ａ変換
器２２とRAM０〜RAM５を接続する。この状
態で外部からのノイズ波形再生命令が入力される
と、コントローラ３０はSTART出力をL0とし、
同時に、A0〜A9にアドレスを出力する。これに
よつて、RAM０〜RAM５は、アクセスされた
アドレスのデータをD0〜D5に出力する。このD0
〜D5の出力をＤ／Ａ変換器２２がＤ／Ａ変換し、
アナログ電圧を再生する。次のタイミングでコン
トローラ３０は、START出力をHiとし、Ｄ／
Ａ変換器２２は以前の出力をホールドする。次の
タイミングでコントローラ３０は、次のアドレス
をA0〜A9に出力し、START出力をA0とする。
この繰返しによつて、RAM０〜RAM５内のデ
ータはＤ／Ａ変換により再生され、元の包絡線波
形となる。第６図は、（D0、D1、D2、D3、D4、
D5）がそれぞれ（０、０、１、１、１、１）、
（０、０、０、０、０、１）、（１、１、１、１、
１、１）、（１、０、０、０、１、１）、（０、１、
１、０、０、０）、（１、１、０、０、１、０）、
（０、１、０、１、０、１）の場合を示している。 前記コントローラ３０は、包絡線波形が所定の
ゲート時間Ｔ持続しないときに前記周波数カウン
タ２４の計数値をキヤンセルし、ゲート時間Ｔが
長過ぎるという情報を表示器３２に表示する機能
を有する。 前記AM変調器３６は、第７図に詳細に示す如
く、前記Ｄ／Ａ変換器２２で再生された包絡線信
号（アナログ電圧信号）を増幅器３４で増幅した
信号によつて、前記シンセサイザ２８によつて発
生されたキヤリア信号にAM変調をかけ、元の雑
音波形を再生する。 以下実施例の作用を説明する。 今、ノイズの生波形が第８図Ａに示す如くであ
つたとすると、この生波形は、切換スイツチ１４
で適宜選択された減衰器１０又は増幅器１２によ
つて減衰又は増幅され、包絡線検波回路１６で包
絡線検波されて、第８図Ｃに示すような包絡線波
形となる。この包絡線波形が予め設定したレベル
以上となると、前記コントローラ３０がＡ／Ｄ変
換器１８及び周波数カウンタ２４を起動すると共
に、RAM２０及び２６をアクセスし、第８図Ｄ
に示すようなＡ／Ｄ変換波形がRAM２０にスト
アされる。コントローラ３０は、RAM２０の記
憶容量で決定される一定の回数、前記操作を繰返
し行い、これによつて、RAM２０には包絡線が
あるレベル以上となつてから一定時間後までのノ
イズの包絡線波形が記憶される。 一方、前記周波数カウンタ２４は、第８図Ａに
示すようなノイズ生波形の周波数を、例えば第８
図Ｂに示すような所定のゲート時間Ｔ計数し、そ
の結果をRAM２６に記憶する。なお、包絡線波
形が前記ゲート時間Ｔだけ持続しないときは、コ
ントローラ３０によつて周波数カウンタ２４の測
定値がキヤンセルされ、表示器３２にゲート時間
Ｔが長過ぎるという情報を表示する。 一方、ノイズ波形の再生に際しては、外部から
のノイズ波形再生命令によつてコントローラ３０
がRAM２０及び２６をアクセスすると共に、
Ｄ／Ａ変換器２２及びシンセサイザ２８を起動す
る。これによつて再生された包絡線波形は増幅器
３４によつて増幅され、この増幅波形により、記
憶した周波数データを繰返し周波数とするキヤリ
ヤ信号がAM変調され、第８図Ｅに示すようなノ
イズ波形が再生されて、雑音特性を試験すべき電
子機器に入力される。 本実施例においては、包絡線検波回路１６の入
力側に、減衰器１０及び増幅器１２を設けている
ので、該減衰器１０の減衰率又は増幅器１２の増
幅率を変化させることにより、Ａ／Ｄ変換器１８
のダイナミツクレンジに対して適当な包絡線波形
をＡ／Ｄ変換器１８に入力することができ、Ａ／
Ｄ変換を高精度で行うことができる。 又、本実施例においては、コントローラ２４に
より、包絡線検波回路１６出力のレベルが設定値
以上となつてから、設定時間が経過するまでの包
絡線波形をRAM２０に記憶するようにしている
ので、少ない記憶容量で包絡線波形を正確に記憶
することができる。 更に、本実施例においては、前記増幅器２６の
増幅率を可能としているので、電子機器の試験目
的に合わせて任意のレベルのノイズ波形を再生す
ることができる。
以上説明した通り、本発明によれば、電気雑音
の基本周波数成分を別途測定することなく、一般
の雑音源が発生する、複雑で再現性の低いノイズ
を正確且つ容易に計測・記憶することができる。
従つて、電子機器の耐雑音性能を定量的に把握す
ることができ、基本周波数成分の計測値により、
電子機器に、より適切なノイズフイルタを設定す
ることが可能となる。又、記憶された波形をもと
に定量化されたシミユレーシヨンノイズを忠実に
繰返して電子機器に注入することができ、電子機
器の耐雑音性能の限界値を求め、前記計測値との
差からノイズマージンの解析を行うことが可能と
なる。更に、記憶手段にデータを書込むことによ
り、任意のノイズ波形を発生することができる等
の優れた効果を有する。
の基本周波数成分を別途測定することなく、一般
の雑音源が発生する、複雑で再現性の低いノイズ
を正確且つ容易に計測・記憶することができる。
従つて、電子機器の耐雑音性能を定量的に把握す
ることができ、基本周波数成分の計測値により、
電子機器に、より適切なノイズフイルタを設定す
ることが可能となる。又、記憶された波形をもと
に定量化されたシミユレーシヨンノイズを忠実に
繰返して電子機器に注入することができ、電子機
器の耐雑音性能の限界値を求め、前記計測値との
差からノイズマージンの解析を行うことが可能と
なる。更に、記憶手段にデータを書込むことによ
り、任意のノイズ波形を発生することができる等
の優れた効果を有する。
第１図は、本発明に係る電気雑音の計測・再生
装置の実施例の全体構成を示すブロツク線図、第
２図は、前記実施例で用いられている包絡線検波
回路の構成を示す回路図、第３図Ａ乃至Ｄは、前
記包絡線検波回路の入出力波形の例を示す線図、
第４図は、前記実施例で用いられているＡ／Ｄ変
換器、RAM、Ｄ／Ａ変換器及びコントローラの
構成を示すブロツク線図、第５図は、前記実施例
におけるＡ／Ｄ変換の状態を示すタイムチヤー
ト、第６図は、同じくＤ／Ａ変換の状態を示すタ
イムチヤート、第７図は、前記実施例で用いられ
ているAM変調器の構成を示す回路図、第８図Ａ
乃至Ｅは、前記実施例の各部動作波形を示す線図
である。 １６……包絡線検波回路、１８……Ａ／Ｄ変換
器、２０，２６……RAM、２２……Ｄ／Ａ変換
器、２４……周波数カウンタ、２８……シンセサ
イザ、３０……コントローラ、３６……AM変調
器。
装置の実施例の全体構成を示すブロツク線図、第
２図は、前記実施例で用いられている包絡線検波
回路の構成を示す回路図、第３図Ａ乃至Ｄは、前
記包絡線検波回路の入出力波形の例を示す線図、
第４図は、前記実施例で用いられているＡ／Ｄ変
換器、RAM、Ｄ／Ａ変換器及びコントローラの
構成を示すブロツク線図、第５図は、前記実施例
におけるＡ／Ｄ変換の状態を示すタイムチヤー
ト、第６図は、同じくＤ／Ａ変換の状態を示すタ
イムチヤート、第７図は、前記実施例で用いられ
ているAM変調器の構成を示す回路図、第８図Ａ
乃至Ｅは、前記実施例の各部動作波形を示す線図
である。 １６……包絡線検波回路、１８……Ａ／Ｄ変換
器、２０，２６……RAM、２２……Ｄ／Ａ変換
器、２４……周波数カウンタ、２８……シンセサ
イザ、３０……コントローラ、３６……AM変調
器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 電子機器に印加される電気雑音を計測し、再
生するための電気雑音の計測・再生装置におい
て、 前記電気雑音の包絡線を検波する包絡線検波手
段と、 該包絡線検波手段の出力を高速でアナログ−デ
ジタル変換するアナログ−デジタル変換手段と、 前記電気雑音の繰返し周波数を計数する計数手
段と、 アナログ−デジタル変換された前記包絡線波形
のデータ及び前記周波数のデータを記憶する記憶
手段と、 記憶した前記包絡線波形のデータに所定の演算
をなした結果を高速でデジタル−アナログ変換し
て、前記包絡線に対応する波形をアナログ信号に
再生する包絡線波形再生手段と、 記憶した前記周波数のデータを繰返し周波数と
するキヤリア信号を発生するキヤリア信号発生手
段と、 該キヤリア信号を前記アナログ信号により振幅
変調して出力する出力手段と、 を備えたことを特徴とする電気雑音の計測・再生
装置。 ２ 前記包絡線波形再生手段が、再生する包絡線
波形を任意に変換する機能を有する特許請求の範
囲第１項記載の電気雑音の計測・再生装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15862985A JPS6219773A (ja) | 1985-07-18 | 1985-07-18 | 電気雑音の計測・再生装置 |
| US06/859,991 US4806845A (en) | 1985-05-07 | 1986-05-05 | System for measuring and generating electric noise |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15862985A JPS6219773A (ja) | 1985-07-18 | 1985-07-18 | 電気雑音の計測・再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6219773A JPS6219773A (ja) | 1987-01-28 |
| JPH0445109B2 true JPH0445109B2 (ja) | 1992-07-23 |
Family
ID=15675884
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15862985A Granted JPS6219773A (ja) | 1985-05-07 | 1985-07-18 | 電気雑音の計測・再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6219773A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5677066B2 (ja) * | 2010-12-13 | 2015-02-25 | 三菱電機株式会社 | ノイズ分布測定装置 |
| JP6288957B2 (ja) * | 2013-06-11 | 2018-03-07 | 三菱電機株式会社 | 電磁ノイズ検出装置 |
-
1985
- 1985-07-18 JP JP15862985A patent/JPS6219773A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6219773A (ja) | 1987-01-28 |
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